JP2005044836A - 基板処理装置 - Google Patents

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茂宏 後藤
Hiroshi Kobayashi
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Abstract

【課題】処理液を精度良く温調することができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【解決手段】各温調板36は、ノズルの処理液だまり部22に当接する狭持板36aと、熱電冷却効果により狭持板36aを所定の温度に設定するペルチェ素子36bと、ペルチェ素子36bからの発熱分を除去するための冷却水が通る冷却水配管36Aを有した冷却水循環部材36cとを備えている。この冷却水配管36Aを、冷却水循環部材36の外部に延在させて構成するとともに、ノズルを挟み込む各温調板36の冷却水循環部材36cに冷却水を並列に供給するように分岐点aにおいて2本に分岐させて構成することで、各温調板36の冷却水循環部材36cに冷却水を並列に供給し、各温調板36を構成する各部材36a〜36cに同じ条件で熱的な影響を与えることになる。その結果、各温調板36間での温度差を低減させることができ、温調板36によって処理液を精度良く温調することができる。
【選択図】 図5

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体基板、液晶表示器のガラス基板、フォトマスク用のガラス基板、光ディスク用の基板(以下、単に基板と称する)に対して基板処理を行う基板処理装置に係り、特に、吐出口から処理液を吐出して基板に供給する処理液供給ノズル内の処理液を温調する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、処理液供給ノズル内の処理液を温調する技術として、ノズルに接続される処理液配管を取り囲むように温調配管を配設した2重管構造のものがあり、処理液配管内の処理液は温調配管内の恒温水によって温調されてノズルから吐出するようにしている(例えば、特許文献1参照。)。
また、故障などによって処理液配管を交換することを鑑みて、処理液配管が掃抜可能に挿通される温調配管を温調室に備え、温調室の内壁と温調配管の外壁とで形成された密閉空間内に恒温水を流通しているものもある(例えば、特許文献2参照。)。
【0003】
【特許文献1】
特開平6−291027号公報(第4−5頁、図3)
【0004】
【特許文献2】
特開平7−263326号公報(第3頁、図1)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような2重管構造を有する場合には、温調配管が大口径となり、ノズル移動時の処理液配管の曲率が大きくとれない。従って、基板の鉛直方向である上下方向の空間が必要になり、装置を上下方向に小型化することができないという問題がある。
【0006】
かかる問題を解決するために、図18に示すような技術が提案されている。すなわち、平板状の液だまり部101を有するノズル102を、2つの温調板103が水平方向から挟み込んでノズル102内の処理液を温調する。これによって装置の小型化を実現している。各温調板103は、熱電冷却素子としてのペルチェ素子や、ペルチェ素子からの発熱分を除去する冷却水を供給する冷却水循環部材(いずれも図示省略)などを備えている。冷却水循環部材の内部には、冷却水を通す冷却水配管を有しており、この冷却水配管は外部にまで延在して、同じく外部に設けられた冷却水供給装置に接続されている。冷却水配管は、冷却水供給装置,温調部103の冷却水循環部材を介して循環して構成されている。
【0007】
しかし、冷却水が循環して流れることで、上手側と下手側との温調板103の間に温度差が生じてしまう。すなわち、冷却水は上手側にあるペルチェ素子などの影響により温度が変化し、その温度が変化した状態で下手側の冷却水循環部材に供給されるので、上手側と下手側との間で冷却水によるペルチェ素子の温度差が生じ、さらには温調板103でも温度差が生じる。また、上手側から下手側に流れている間にも冷却水の温度が変化することで、同じく温調板103で温度差が生じる。その結果、処理液を精度良く温調することが困難となる。
【0008】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、処理液を精度良く温調することができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板に処理液を供給して基板の処理を行う基板処理装置であって、基板に処理液を供給する処理液供給ノズルと、前記処理液供給ノズルを挟み込んで、ノズル内の処理液を温調する複数個の温調部とを備え、前記各温調部は、ノズルに近接あるいは当接する温調部材と、熱電冷却効果により前記温調部材を所定の温度に設定する熱電冷却素子と、前記熱電冷却素子からの発熱分を除去するための冷媒が通る冷媒流路を有した冷却部材とを備え、前記各温調部の冷却部材に冷媒を並列に供給することを特徴とするものである。
【0010】
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記処理液供給ノズルを挟み込む一対の前記温調部を複数対に備え、前記複数対の各温調部の前記冷却部材に冷媒を並列に供給することを特徴とするものである。
【0011】
また、請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記載の基板処理装置において、前記冷媒を所定の温度に設定する恒温調節手段を備えることを特徴とするものである。
【0012】
また、請求項4に記載の発明は、請求項1から請求項3のいずれかに記載の基板処理装置において、前記冷媒流路内を通る冷媒の流量を検出する流量検出手段と、前記冷媒の流量を調節する流量調節手段とを備えることを特徴とするものである。
【0013】
【作用】
請求項1に記載の発明によれば、温調部は、処理液供給ノズルに近接あるいは当接する温調部材と、熱電冷却効果により温調部材を所定の温度に設定する熱電冷却素子と、熱電冷却素子からの発熱分を除去するための冷媒が通る冷媒流路を有した冷却部材とを備えている。各温調部の冷却部材に冷媒を並列に供給することで、各温調部の冷却部材や熱電冷却素子や温調部材に同じ条件で熱的な影響を与えることになる。その結果、各温調部間での温度差を低減させることができ、温調部によって処理液を精度良く温調することができる。
【0014】
また、請求項2に記載の発明によれば、処理液供給ノズルを挟み込む一対の温調部を複数対に備え、複数対の各温調部の冷却部材に冷媒を並列に供給することで、各温調部の冷却部材や熱電冷却素子や温調部材に同じ条件で熱的な影響を与えることになる。その結果、複数対の各温調部間での温度差を低減させることができ、複数対の各温調部間でも温調部によって処理液を精度良く温調することができる。
【0015】
また、請求項3に記載の発明によれば、冷媒を所定の温度に設定する恒温調節手段を備えることで、冷媒の温度変動を低減させることができる。その結果、冷媒の温度変動による各温調部間での温度差を低減させることができ、温調部によって処理液をより精度良く温調することができる。
【0016】
また、請求項4に記載の発明によれば、冷媒流路内を通る冷媒の流量を検出する流量検出手段と、冷媒の流量を調節する流量調節手段とを備えることで、流量検出手段による流量の検出結果に基づいて流量調節手段が冷媒の流量を、各温調部間での温度差に影響を及ぼさない程度に調節することができる。その結果、冷媒流路内を通る冷媒の流量による各温調部間での温度差を低減させることができ、温調部によって処理液をより精度良く温調することができる。
【0017】
なお、本明細書は、上記課題を解決するために、次のような基板処理装置に係る発明も開示している。
【0018】
すなわち、処理液を精度良く温調することが困難となっているのは、温調部を介して冷却水などに代表される冷媒を循環させる要素のみならず、他の要素も起因することが考えられる。そこで、本発明者等は、他の要素についても着眼してみた。冷媒として冷却水を例に採って説明する。
【0019】
(A)冷却水として主に用いられているのは工場冷却水であって、昼夜・季節等により、この工場冷却水の温度は10℃以上変動することがある。そこで、処理液の温度が温調部の熱電冷却素子(ペルチェ素子)から影響されるのみならず、熱電冷却素子から発熱分を除去する冷却水からも影響されているとして、温度差が生じる原因の1つが、この工場冷却水の温度変動であるとの仮定の下で実験を行って、確認してみた。図19は、実験によって得られたデータである。
【0020】
図19(a)は、処理液の目標温度が20.0℃のとき、図19(b)は、処理液の目標温度が26.0℃のときであって、各図は、実験結果を処理液の実際の温度と冷却水の温度との関係で表したものである。目標温度が20.0℃のときには、図19(a)に示すように、冷却水の温度が15℃から20℃までは処理液の実際の温度は約19.98℃で(20+0.1)℃〜(20−0.1)℃の範囲内に収まっているが、20℃を超えると冷却水の温度が上昇するのに伴って処理液の実際の温度が上昇するのが確認された。同様に、目標温度が26.0℃のときにも、図19(b)に示すように、処理液の実際の温度は(26+0.1)℃〜(26−0.1)℃までの範囲内に収まっているが、冷却水の温度が上昇するのに伴って処理液の実際の温度が上昇するのが確認された。これらの実験結果により、温度差が生じる原因の1つが、この工場冷却水の温度変動であることが分かった。してみれば、冷却水に代表される冷媒の温度を調節するようにすればよい。
【0021】
(B)また、冷却水の流量が少なければ温度差は顕著に現れ、流量が多ければ温度差が低減することも確認された。してみれば、冷却水に代表される冷媒の流量を検出して、その検出結果に応じて冷媒の流量を調節すればよい。
【0022】
(A)の知見に基づいて創作されたこの発明は、次のような構成をとる。
(1) 基板の処理を行う基板処理装置であって、
吐出口から処理液を吐出して基板に供給する処理液供給ノズルと、
前記処理液供給ノズルを挟み込んで、ノズル内の処理液を温調する温調部と、
媒体を所定の温度に設定する恒温調節手段とを備えるとともに、
前記温調部は、
ノズルに近接あるいは当接する温調部材と、
熱電冷却効果により前記温調部材を所定の温度に設定する熱電冷却素子と、
前記熱電冷却素子からの発熱分を除去するための冷媒が通る冷媒流路を有した冷却部材とを備え、
前記恒温調節手段は、前記冷媒を所定の温度に設定することを特徴とする基板処理装置。
【0023】
前記(1)に記載の発明によれば、媒体を所定の温度に設定する恒温調節手段を備え、この恒温調節手段が冷媒を所定の温度に設定することで、冷媒の温度変動を低減させることができる。その結果、冷媒の温度変動による各温調部間での温度差を低減させることができ、温調部によって処理液を精度良く温調することができる。
【0024】
また、(B)の知見に基づいて創作されたこの発明は、次のような構成をとる。
(2) 基板の処理を行う基板処理装置であって、
吐出口から処理液を吐出して基板に供給する処理液供給ノズルと、
前記処理液供給ノズルを挟み込んで、ノズル内の処理液を温調する温調部と、
流量を検出する流量検出手段と、
流量を調節する流量調節手段とを備えるとともに、
前記温調部は、
ノズルに近接あるいは当接する温調部材と、
熱電冷却効果により前記温調部材を所定の温度に設定する熱電冷却素子と、
前記熱電冷却素子からの発熱分を除去するための冷媒が通る冷媒流路を有した冷却部材とを備え、
前記流量検出手段は、前記冷媒流路内を通る冷媒の流量を検出し、
前記流量調節手段は、前記冷媒の流量を調節することを特徴とする基板処理装置。
【0025】
前記(2)に記載の発明によれば、流量を検出する流量検出手段と、流量を調節する流量調節手段とを備え、この流量検出手段が冷媒流路内を通る冷媒の流量を検出し、流量調節手段が冷媒の流量を調節することで、流量検出手段による流量の検出結果に基づいて流量調節手段が冷媒の流量を、各温調部間での温度差に影響を及ぼさない程度に調節することができる。その結果、冷媒流路内を通る冷媒の流量による各温調部間での温度差を低減させることができ、温調部によって処理液を精度良く温調することができる。なお、温度差を低減できる流量は、0.1リットル/分〜2.0リットル/分の範囲、好ましくは0.3リットル/分〜1.0リットル/分の範囲である。
【0026】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を、図面を参照しながら説明する。
<第1実施例>
図1は本発明の基板処理装置の第1実施例に係る回転式塗布装置の概略構成を示す平面図であり、図2は、その側面図である。
【0027】
なお、この第1実施例では、基板処理装置としての回転式塗布装置、つまり、半導体ウエハ(以下、単に「基板」と呼ぶ)に処理液であるレジスト液を吐出して基板にレジスト処理を施す回転式塗布装置を例に採って説明する。
【0028】
図1に示すように、この回転式塗布装置は、基板Wに処理液を供給して回転塗布する回転処理部10と、処理液を吐出するノズル20を把持するノズル把持部30と、このノズル把持部30を鉛直方向(Z軸方向)に移動させる垂直移動部40(図2参照)と、ノズル把持部30をY軸方向に移動させるY軸水平移動部50と、ノズル把持部30をX軸方向に移動させるX軸水平移動部60と、複数個(この第1実施例では、例えば6個)のノズル20を収納する待機部70とを備えている。
【0029】
回転処理部10は、基板Wを水平姿勢で保持して回転駆動する回転保持部11と、この回転保持部11の周囲を取り囲み、基板Wから飛散される処理液が外方へ拡散するのを防止する中空の飛散防止カップ12とを備えている。飛散防止カップ12は、図示しない昇降機構によって昇降可能に構成されていて、基板Wが回転駆動される際に上昇して、基板W上に吐出された処理液がこの飛散防止カップ12の外側の周囲に飛散するのを防止する。このとき、飛散防止カップ12内に飛び散った処理液は、この飛散防止カップ12に設けられている図示しない廃液回収構造によって回収される。
【0030】
図1,2に示すように、基板Wに異なる種類の処理液を吐出するための複数個(例えば6個)のノズル20が、待機部70にそれぞれ待機収納されている。使用時には、選択されたノズル20が待機部70から回転処理部10内の基板W上の所定位置に移動され、ノズル20の先端の吐出口から基板Wに向けて処理液を吐出するようになっている。
【0031】
ここで、このノズル20について、図3および図4を用いて詳細に説明する。なお、図3(a)はノズル20の外観を示す概略斜視図であり、図3(b)はノズル20の温調面を示す概略斜視図である。図4(a)はノズル20の縦断面図であり、図4(b)はノズル20の側面図であり、図4(c)はノズル20の底面図であり、図4(d)は図4(a)に示したノズル20のB−B線断面図である。
【0032】
図3(a)に示すように、ノズル20は、その先端部に、処理液配管21を通じて供給されてきた処理液を所定量貯める処理液だまり部22を備えている。処理液だまり部22は、次期吐出相当量の処理液を少なくとも貯めることができる程度の大きさとなっている。つまり、これから基板Wに吐出すべきワンショット分(例えば、1〜10cm)の処理液が処理液だまり部22に貯留されていて、処理液だまり部22に貯留された処理液が先端の吐出口25aから基板Wに向けて吐出されるようになっている。
【0033】
具体的には、図3(b)に示すように、ノズル20の処理液だまり部22は、例えば、熱伝導部材と断熱部材とからなる平板型のハウジング23を備えている。ハウジング23の正面板23aおよび背面板23bは熱伝導部材で形成されており、ハウジング23の上面板23c、底面板23d、左側面板23eおよび右側面板23fは断熱部材で形成されている。熱伝導部材としては、例えば、アルミニウムや銅やステンレスやカーボンなどが挙げられる。なお、熱伝導部材としてアルミニウムや銅を採用した場合には、このアルミニウムや銅の処理液との接液部分に、耐薬性の高い素材で被覆(フッ素樹脂コーティング)を施す。また、熱伝導部材としてカーボンを採用した場合には、このカーボンの処理液との接液部分に、耐薬性の高い素材で被覆(ダイヤモンドコーティング)を施す。
【0034】
図4(a)〜(c)に示すように、ノズル20の処理液だまり部22は、上述の平板型のハウジング23で覆われている。図4(a)に示すように、処理液だまり部22は、体積当りの表面積が大きくなるようにするために、蛇行形状配管24で構成されており、曲がりくねった処理液流路を形成している。この蛇行形状配管24中に処理液を貯めることで、少なくとも次期吐出相当量の処理液が貯留されるようになっている。この処理液だまり部22の下端には、蛇行形状配管24に接続された突出部25が形成されており、この突出部25の先端には処理液を吐出するための吐出口25aが形成されている。また、図4(d)に示すように、ハウジング23と蛇行形状配管24との間には、熱伝導性の高い材料である高熱伝導充填材26が充填されている。ノズル20は、本発明における処理液供給ノズルに相当する。
【0035】
ここで、ノズル把持部30について、図5を用いて詳細に説明する。なお、図5はノズル把持部30の概略構成を示す平面図である。ノズル把持部30は、ノズル20の処理液だまり部22を把持する一対の把持アーム31,31を備えている。各把持アーム31,31は、ベース部材32の上面に敷設されたレール33に沿ってY軸方向の互いに反対向きにスライド移動可能に取り付けられている。
【0036】
一対の把持アーム31,31の基端側には、この一対の把持アーム31,31を互いに反対方向に水平移動させるリンク機構34と、このリンク機構34を駆動する駆動シリンダ35とが備えられている。リンク機構34は4節リンク構造を有し、リンク34aの一端とリンク34bの一端とが回動自在に連結され、リンク34cとリンク34dとの連結部が駆動シリンダ35のロッドに連結されている。さらに、リンク34bとリンク34dとの連結部およびリンク34aとリンク34cとの連結部がそれぞれ把持アーム31,31に取り付けられている。そして、駆動シリンダ35のロッドを伸長させると、一対の把持アーム31,31が互いに離反してノズル20を開放し、駆動シリンダ35のロッドを後退させると、一対の把持アーム31,31が互いに接近してノズル20の処理液だまり部22を把持する。
【0037】
一方の把持アーム31,31には、処理液だまり部22を挟み込んで処理液だまり部22内の処理液を熱交換して温調する温調板36をそれぞれ備えている。温調板36は、例えば、処理液だまり部22の熱交換部(正面板23aおよび背面板23b)と同等の大きさとしている。なお、温調板36を処理液だまり部22の熱交換部よりも大きくしてもよいし、処理液だまり部22の温調に問題がなければ、温調板36を熱交換部よりも小さくしてもよい。温調板36は、本発明における温調部に相当する。
【0038】
一対の温調板36,36の挟持面側には、処理液だまり部22に当接される挟持板36aが取り付けられている。また、挟持板36aの挟持面側とは反対側の表面には、熱電冷却素子としてのペルチェ素子36bが取り付けられている。ペルチェ素子36bは、熱電冷却効果により、挟持板36aを短時間で所定の温度に設定することができる。また、ペルチェ素子36bの挟持板36aとは反対側の表面には、ペルチェ素子36bからの発熱分を除去する冷却水を供給する冷却水循環部材36cが配設されている。
【0039】
各冷却水循環部材36cには、冷却水を通す冷却水配管36Aを有しており、この冷却水配管36Aは、冷却水循環部材36cの外部に延在して構成されているとともに、外部において2本に分岐して構成されている。このように構成することで、一対の温調板36の冷却水循環部材36cに冷却水を並列に供給する。また、冷却水配管36Aは、一対の温調板36の冷却水循環部材36cにそれぞれ供給された各冷却水が冷却水循環部材36cから排出されて、外部においてそれぞれが合流するように構成されている。外部にまで延在したこの冷却水配管36Aは、同じく外部に設けられた冷却水供給装置37に接続されている。
【0040】
分岐点を符号aとし、一方の冷却水循環部材36cへの冷却水の供給入口を符号bとし、冷却水の排出出口を符号cとし、他方の冷却水循環部材36cへの供給入口を符号dとし、冷却水の排出出口を符号eとし、合流点を符号fとすると、冷却水配管36Aを通る冷却水は、以下のように流れる。すなわち、冷却水供給装置37→分岐点aの順に流れた冷却水は分岐点aにおいて分岐され、一方は供給入口b→一方の冷却水循環部材36c→排出出口c→合流点fの順に流れるとともに、他方は供給入口d→一方の冷却水循環部材36c→排出出口e→合流点fの順に流れる。合流点fにおいてそれぞれが合流した冷却水は合流点f→冷却供給装置37の順に流れる。このように冷却水は冷却水循環部材36cと冷却供給装置37との間を循環する。挟持板36aは、本発明における温調部材に相当し、ペルチェ素子36bは、本発明における熱電冷却素子に相当し、冷却水循環部材36cは、本発明における冷却部材に相当し、冷却水配管36Aは、本発明における冷媒流路に相当する。
【0041】
なお、冷却水循環部材36cやペルチェ素子36bや挟持板36aに同じ条件で熱的な影響を与えることを考慮すれば、分岐点aと一方の供給入口bとの距離は、分岐点aと他方の供給入口dとの距離にほぼ等しくなるように冷却水配管36Aを構成するのが好ましい。また、冷却水循環部材36cやペルチェ素子36bや挟持板36aに同じ条件で熱的な影響を与えること、および後述する冷却水の温度調節を考慮すれば、一方の排出出口cと合流点fとの距離は、他方の排出出口eと合流点fとの距離にほぼ等しくなるように冷却水配管36Aを構成するのが好ましい。
【0042】
また、冷却水供給装置37と分岐点aとの間には恒温層38が配設されている。恒温層38は、冷却水を所定の温度に設定するためのものであって、後述する制御部88(図2参照)から温度の設定を制御する。本実施例では処理液の目標温度を(20+0.03)℃〜(20−0.03)℃の範囲内に設定する場合には、15℃〜23℃の範囲で冷却水の温度を設定し、目標温度を(26+0.03)℃〜(26−0.03)℃の範囲内に設定する場合には、19℃〜30℃の範囲で冷却水の温度を設定するのが好ましい(図19参照)。恒温層38は、本発明における恒温調節手段に相当する。
【0043】
また、分岐点aと供給入口b,dとの間には、分岐点a側から順に流量計39a,開閉バルブ39bがそれぞれ配設されている。流量計39aは、冷却水の流量を検出するものであって、流量の検出結果は制御部88に送られるようになっている。制御部88は、その流量の検出結果を開閉バルブ39bに送り、流量の検出結果に基づいて冷却水の流量を開閉バルブ39bが調節するように制御する。なお、各温調板36間での温度差を低減することを鑑みれば、冷却水の流量を、0.1リットル/分〜2.0リットル/分の範囲、好ましくは0.3リットル/分〜1.0リットル/分の範囲になるように制御する。流量計39aは、本発明における流量検出手段に相当し、開閉バルブ39bは、本発明における流量調節手段に相当する。
【0044】
温調板36の説明に戻る。一対の温調板36,36によりノズル20を挟み込んで保持する際に、図6に示すように、ノズル20の処理液だまり部22の熱交換部(正面板23aおよび背面板23b)をノズル把持部30の一対の把持アーム31,31で把持して、処理液だまり部22内の処理液を熱交換して温調するようになっている。
【0045】
また、図2に示すように、回転塗布処理装置の所定位置には、ペルチェ素子36b(図5参照)を駆動制御するための制御部88と、この制御部88に電源電圧を供給するための電源部89とが備えられている。処理液だまり部22(図5参照)内の処理液の温度が温度センサ(例えば熱電対)から制御部88に送られるようになっている。制御部88は、処理液が所定の温度に温調されるように温調板36のペルチェ素子36bへの電源電圧の供給を制御する。
【0046】
温調動作時には、ノズル20が収納された状態で、このノズル20の処理液だまり部22を一対の温調板36,36で所定の押圧力で挟み込んで、つまり、処理液だまり部22の正面板23aおよび背面板23bと温調板36との接触圧を高めて当接させて、処理液だまり部22内の処理液を熱交換して温調する。
【0047】
続いて、垂直移動部40,Y軸水平移動部50,およびX軸水平移動部60について、図1および図2を用いて詳細に説明する。図1,図2に示すように、ノズル把持部30は、このノズル把持部30を鉛直方向(Z軸方向)に移動させる垂直移動部40に取り付けられている。垂直移動部40は、ノズル把持部30を支持する支持部材41と、この支持部材41を昇降移動させる昇降駆動部42とを備えている。
【0048】
また、昇降駆動部42は、ノズル把持部30をY軸方向に移動させるY軸水平移動部50の水平移動部材51に接続されている。水平移動部材51の一端は、Y軸方向に延びる回動ねじ52に係合している。回動ねじ52は駆動モータ(図示省略)により回動される。これにより、回動ねじ52に係合した水平移動部材51がY軸方向に往復移動し、それによって垂直移動部40およびノズル把持部30がY軸方向に往復移動する。
【0049】
さらに、Y軸水平移動部50のスライド板61の一端は、X軸方向に延びるX軸水平移動部60の回動ねじ62に係合している。回動ねじ62は駆動モータ(図示省略)により回動される。回動ねじ62の回動により、スライド板61がガイド63に沿ってX軸方向に往復移動し、それによってY軸水平移動部50、垂直移動部40およびノズル把持部30がX軸方向に往復移動する。
【0050】
図1に示すように、待機部70には、例えば6個の後述する収納ポット71がY軸方向に並設されており、異なる種類の処理液を供給する処理液供給源(図示省略)に処理液配管21を介して接続された6個のノズル20をそれぞれの収納ポット71に収納している。なお、処理液配管21の処理液供給源(図示省略)側には、電磁弁およびポンプ(図示省略)が接続されており、所定量の処理液が処理液配管21を介してノズル20に供給されるようになっている。
【0051】
続いて、収納ポット71について、図7および図8を用いて詳細に説明する。なお、図7は収納ポット71の概略構成を示す概略斜視図である。図8(a)は図1に示した収納ポット71のA−A線断面図であり、図8(b)はノズル20の収納ポット71への収納状態でこのノズル20の突出部25が待機ポット90内に挿入されることを説明するための図である。
【0052】
図7,図8(a)に示すように、収納ポット71は、ノズル20を立設して収納する立設ポット80と、ノズル20の突出部25を溶剤雰囲気中に収納するための待機ポット90とを備えている。収納ポット71は、待機ポット90上に立設ポット80を積み上げた2段構造になっている。
【0053】
まず、立設ポット80について説明する。図7に示すように、立設ポット80は、ノズル20を収納するための立設容器本体81を備えている。立設容器本体81の天部および底部は開口されており、立設容器本体81の天部の開口からノズル20が挿入されるようになっている。
【0054】
続いて、立設ポット80の下側に位置する待機ポット90について説明する。待機ポット90は、ノズル20の突出部25が挿入される挿入孔91を上面側に形成した待機容器本体92を備え、待機中のノズル20の突出部25を溶剤雰囲気中に収納する。待機容器本体92の中央下部には溶剤を保持する溶剤貯留部93が形成され、その上方には溶剤空間94が形成されている。溶剤空間94には、溶剤を供給するための溶剤供給管95が接続されている。また、待機容器本体92におけるノズル20の突出部25の下方位置には、ノズル20から滴下する処理液を外方へ排出するための排出管96が接続されている。
【0055】
なお、ノズル20が収納ポット71から取り出された状態において、待機ポット90の挿入孔91から立設ポット80への溶剤雰囲気の流入を防止するために、この挿入孔91を適宜に閉塞するようにしてもよい。よって、立設ポット80の下側の待機ポット90では、その挿入孔91にノズル20の突出部25が挿入されており、ノズル20の突出部25を溶剤雰囲気中に収納している。
【0056】
次に、この第1実施例の回転式塗布装置の動作について説明する。図1に示すように、待機部70には、異なる種類の処理液を供給する処理液供給源(図示省略)に処理液配管21を介して接続された複数個(第1実施例では6個)のノズル20が収納ポット71に収納された状態で収納され、各ノズル20が待機状態にある。
【0057】
図7に示すように、収納ポット71に収納された各ノズル20は、処理液供給源(図示省略)から処理液配管21を通じて処理液が供給されており、所定量の処理液が処理液だまり部22内に貯められた状態となっている。
【0058】
回転式塗布装置は、予め定められた処理条件に従って基板Wに供給する処理液を選択し、これに対応したノズル20を選択する。ノズル20が選択されると、垂直移動部40、Y軸水平移動部50およびX軸水平移動部60が駆動され、ノズル把持部30が一対の把持アーム31,31を開いた状態でノズル20に接近する。一対の把持アーム31,31が開くことに伴って、それに備えられた一対の温調板36,36も開いた状態でノズル20に接近する。
【0059】
一対の把持アーム31,31の温調板36,36が処理液だまり部22を挟み込むことで、ノズル20を把持して温調を行う。そして、垂直移動部40を駆動させて、把持したノズル20を上方に持ち上げ、Y軸水平移動部50およびX軸水平移動部60を駆動させて、ノズル20を回転処理部10の基板W上の所定位置、例えば基板Wの中央上方の位置に移動する。
【0060】
制御部88は、処理液だまり部22内の処理液の温度を、温調板36に設けられ、例えば熱電対で構成された温度センサ(図示省略)で測定し、この測定結果に応じて温調板36のペルチェ素子36bを駆動し、処理液だまり部22の処理液を所定温度に温調する。
【0061】
温調時について具体的に説明すると、制御部88は恒温層38内の冷却水の温度を所定の温度に設定するように恒温層38を制御する。その一方で、冷却水供給装置37から冷却水配管36A内を流れる冷却水を、分岐点aにおいて分流させて各冷却水循環部材36cの供給入口b,dに並列に供給する。冷却水循環部材36c内の冷却水配管36Aを流れる冷却水を排出出口c,eにて排出させて、合流点においてそれぞれを合流させて、冷却水供給装置37に循環させる。
【0062】
恒温層38によって冷却水の温度が所定の温度に安定し、この循環によって冷却水配管36Aを流れる冷却水の流量が一定になったら、流量計39aで冷却水の流量を検出し、その流量の検出結果を制御部88に送り、制御部88は、その流量の検出結果を開閉バルブ39bに送り、流量の検出結果に基づいて冷却水の流量を調節するように開閉バルブ39bを制御する。
【0063】
開閉バルブ39bによって冷却水の流量が所定の流量に安定したら、上述したようにペルチェ素子36bを駆動して温調を行う。ペルチェ素子36bは、熱電冷却効果により狭持板36aを短時間で所定の温度に設定することができるが、そのときに反対側の表面側(すなわち冷却循環部材36c側)に発熱が生じるので、その発熱分を、冷却水循環部材36c内の冷却水配管36Aを流れる冷却水によって除去する。なお、温調のタイミングは、上述した移動時に限らず、ノズル20を把持して待機しているときであってもよい。
【0064】
基板W上の所定位置に移動したノズル20は、所定の温度に調整された処理液だまり部22内の処理液を基板Wの表面に吐出する。その後、基板Wが回転され、これによって基板Wの表面に処理液が回転塗布される。処理液の温度は所定の値に調整されているので、不適当な処理液の温度による薄膜の膜厚ばらつきを抑制することができる。
【0065】
上述したように第1実施例の回転式塗布装置によれば、各温調板36は、ノズル20の処理液だまり部22に当接する狭持板36aと、熱電冷却効果により狭持板36aを所定の温度に設定するペルチェ素子36bと、ペルチェ素子36bからの発熱分を除去するための冷却水が通る冷却水配管36Aを有した冷却水循環部材36cとを備えている。各温調板36の冷却水循環部材36cに冷却水を並列に供給することで、各温調板36の冷却水循環部材36cやペルチェ素子36bや狭持板36aに同じ条件で熱的な影響を与えることになる。その結果、各温調板36間での温度差を低減させることができ、温調板36によって処理液を精度良く温調することができる。
【0066】
また、第1実施例では、冷却水を所定の温度に設定する恒温槽38を備えることで、冷却水の温度変動を低減させることができる。その結果、冷却水の温度変動による各温調板36間での温度差を低減させることができ、温調板36によって処理液をより精度良く温調することができる。
【0067】
また、第1実施例では、冷却水配管36Aを通る冷却水の流量を検出する流量計39aと、冷却水の流量を調節する開閉バルブ39bとを備えることで、流量センサ39aによる流量の検出結果に基づいて開閉バルブ39bが冷却水の流量を、各温調板36間での温度差に影響を及ぼさない程度(0.1リットル/分〜2.0リットル/分の範囲、好ましくは0.3リットル/分〜1.0リットル/分の範囲)に調節することができる。その結果、冷却水配管36A内を通る冷却水の流量による各温調板36間での温度差を低減させることができ、温調板36によって処理液をより一層精度良く温調することができる。
【0068】
<第2実施例>
図9,図10を参照して第2実施例について説明する。図9は、本発明の基板処理装置の第2実施例に係るノズル20の外観を示す概略斜視図であり、図10は、第2実施例に係る収納ポット71の概略構成を示す概略斜視図である。
【0069】
なお、上述した第1実施例では、図6に示す温調板36をノズル把持部30の一対の把持アーム31,31にそれぞれ備え、把持アーム31,31でノズル20を挟み込んで移動しながら、または待機しながら温調を行っているが、第2実施例では、図7,図8に示す立設ポット80内に、第1実施例と同じ構造をもつ一対の温調板82,82を設けて、収納ポット71で収納されている間に温調を行う。以下、この第2実施例および後述する第3実施例では、この立設ポット80を「温調ポット80」として説明を行う。また、上述した第1実施例と同じ構成には同じ符号を付すことで詳細な説明については省略する。
【0070】
なお、第2実施例の場合には、収納ポット71で収納されている間に温調を行うので、一対の把持アーム31,31の温調板36,36が処理液だまり部22を挟み込んで、ノズル20を把持しながら温調を行う必要はない。従って、一対の把持アーム31,31は、第1実施例のようにノズル20の処理液だまり部22を把持するのでなく、図9に示すように、ノズル20の基端部、つまり、処理液だまり部22の上方位置に備えられた被把持部27を一対の把持アーム31,31が把持する。ノズル20の被把持部27は、断熱部材で形成されている。ノズル把持部30がノズル20の被把持部27を把持して移動することにより、ノズル20が移動される。
【0071】
第2実施例の温調ポット80は、第1実施例の立設ポット80と相違し、温調する機能を備えている。すなわち、図10に示すように、収納ポット71は、ノズル20の処理液だまり部22を温調するための温調ポット80と、第1実施例と同様の待機ポット90とを備えている。
【0072】
温調ポット80は、ノズル20を収納するための温調容器本体81と、この温調容器本体81内に配設された、ノズル20の処理液だまり部22を挟み込む一対の温調板82,82とを備えている。温調容器本体81の天部および底部は開口されており、温調容器本体81の天部の開口からノズル20が挿入されるようになっている。一対の温調板82,82は、温調動作時には、処理液だまり部22を挟み込むように互いに接近移動し、ノズル20の挿抜時などには、処理液だまり部22の挟み込みを解除するように互いに離反移動するようになっている。温調板82は、第1実施例の温調板36と同じ構造を有している。
【0073】
第1実施例の場合には、把持アーム31の移動に伴って温調板36が移動するので、それに合わせて冷却水配管36Aを移動させるか、待機時のみ温調を行って移動時には冷却水配管36Aを冷却水循環部材36cから取り外す場合が発生するが、第2実施例の場合には、互いに離反移動あるいは接近移動する以外では温調板82は収納ポット71の温調ポット80内で固定であるので、第1実施例のように冷却水配管36Aを移動させたり、冷却水配管36Aを冷却水循環部材36cから取り外したりしなくてもよい。
【0074】
上述したように、収納ポット71で収納されている間に温調を行うので、一対の把持アーム31,31で把持しながら温調を行う必要はないが、把持中においても温調を行うように、第1実施例と同様に一対の把持アーム31,31にも温調板36をそれぞれ備え、温調板36が処理液だまり部22を挟み込んで温調を行ってもよい。
【0075】
第2実施例に係る回転塗布処理装置によれば、第1実施例と同様に、各温調板36の冷却水循環部材36cに冷却水を並列に供給することで、各温調板36を構成する各部材36a〜36cに同じ条件で熱的な影響を与えることになる。その結果、各温調板82間での温度差を低減させることができ、温調板82によって処理液を精度良く温調することができる。
【0076】
<第3実施例>
図11を参照して第3実施例について説明する。図11は、本発明の基板処理装置の第3実施例に係る回転式塗布装置の概略構成を示す平面図である。
【0077】
なお、上述した第2実施例では、温調ポット80と待機ポット90とを上下2段に構成した6個の収納ポット71を待機部70に設けているが、第3実施例では、待機部70に6個の待機ポット90のみを設け、この待機ポット90とは別の位置に、単一の温調ポット80を設ける。また、上述した第1,第2実施例と同じ構成には同じ符号を付すことで詳細な説明については省略する。
【0078】
この第3実施例の回転式塗布装置では、6個の待機ポット90と、単一の温調ポット80とを分離独立して配置しているところに1つの特徴点がある。
【0079】
次に、この第3実施例の回転式塗布装置の動作について説明する。待機部70には、異なる種類の処理液を供給する処理液供給源(図示省略)に処理液配管21を介して接続された6個のノズル20の突出部25がそれぞれの待機ポット90の挿入孔91に挿入された状態で収納され、各ノズル20が待機状態にある。
【0080】
図11に示すように、待機部70の待機状態にある6個のノズル20の中から選択された1個のノズル20をノズル把持部30で把持して単一の温調ポット80に移動させて収納する。温調ポット80は、収納されたノズル20の処理液だまり部22内の処理液を温調する。温調ポット80による処理液だまり部22内の処理液の温調後、温調ポット80に収納されたノズル20をノズル把持部30で把持して回転処理部10の基板W上の所定位置に移動し、温調された処理液を基板Wに吐出する。温調された処理液を基板Wに吐出した後にノズル20はノズル把持部30で待機部70の対応する待機ポット90に移動され、基板Wは温調された処理液により所定の処理が施される。
【0081】
上述したように第3実施例の回転式塗布装置によれば、待機ポット90にてノズル20の吐出口25aを所定雰囲気中で待機させることができ、これから使用すべきノズル20を待機ポット90から温調ポット80に移動させて収納し、温調ポット80で処理液だまり部22内の処理液を温調することができるので、待機ポット90の数だけ温調ポット80を設ける必要がなく、少なくとも1個の温調ポット80があればよいことから、待機ポット90と同数の温調ポット80を設けることに伴う装置の複雑化が低減できる。
【0082】
なお、本発明は以下のように変形実施することも可能である。
【0083】
(1)上述した各実施例装置では、恒温層38などに代表される本発明における恒温調節手段や、流量計39などに代表される本発明における流量検出手段や、開閉バルブ39bなどに代表される本発明における流量調節手段を備えたが、これらの手段を必ずしも備える必要はない。
【0084】
逆に、処理液を精度良く温調することを鑑みれば、各実施例のように冷却水配管36Aなどに代表される本発明における冷媒流路を、冷却水循環部材36cなどに代表される冷却部材に冷媒(各実施例では冷却水)を並列に供給するように外部において複数(各実施例では2本)に分岐させて構成する必要はなく、恒温調節手段、および流量検出手段と流量調節手段の少なくともいずれか一方の手段を備えればよい。
【0085】
(2)上述した各実施例装置では、冷却水が循環するように冷却水配管36Aを構成していたが、図12に示すように、冷却水を各冷却水循環部材36cに並列に供給した後は、その下手側において排出管に連通させて排出するように冷却水配管36Aを構成してもよい。
【0086】
(3)上述した各実施例装置では、一対の温調板36のみ備えたが、図13に示すように、複数対の温調板36を備えてもよい。例えば、一対の温調板36ごとに回転塗布ユニットUとして装置を区画し、そのユニットUを複数に備えることで、複数対の温調板36を備えるように構成する。もちろん、1つのユニットに複数対の温調板36を備えてもよい。
【0087】
回転塗布ユニットUを複数に備えた場合には、次のような効果をも奏する。すなわち、ノズル20を挟み込む一対の温調板36,36を複数対に備え、冷却水配管36Aを、複数対の各温調板36,36の冷却水循環部材36(図5参照)に冷却水を並列に供給するように分岐させて構成する。このように構成することで、各温調板36の冷却水循環部材36cに冷却水を並列に供給し、このように並列に供給することで、各温調板36を構成する各部材36a〜36c(図5参照)に同じ条件で熱的な影響を与えることになる。その結果、複数対の各温調板36間での温度差を低減させることができ、複数対の各温調部36間でも温調板36によって処理液を精度良く温調することができる。
【0088】
なお、温調板は、第1実施例のようにノズル把持部30の一対の把持アーム31,31にそれぞれ備えられた温調板36(図6参照)で移動または待機しながら温調を行うタイプであってもよいし、第2,第3実施例のように温調ポット82内に備えられた温調板82(図10参照)が収納ポット71内で収納中に温調を行うタイプであってもよい。
【0089】
(4)上述した各実施例装置では、基板Wが位置固定でノズル20が移動する構成であったが、逆に基板Wが移動する構成であっても本発明を適用可能である。また、ノズル20および基板Wがともに移動する構成であっても本発明を適用可能である。
【0090】
(5)上述した各実施例装置では、待機部70に6個の待機ポット90を備え、ノズル20を6個としているが、1個または6個以外の複数個のノズル20を設けるようにしてもよい。
【0091】
(6)上述した各実施例装置では、図5に示すように、温調板36のペルチェ素子36bからの発熱分を除去するために、冷却水を供給する冷却水循環部材36cをペルチェ素子36bに隣接配設しているが、冷却水を供給する冷却水循環部材36cに替えて、冷却気体を供給する冷却気体循環手段などを備えるようにしてもよい。
【0092】
このように、各実施例のように冷却する手段(冷媒)は冷却水に限定されず、気体の場合にはフロンやメチルクロライドやアンモニアなど、液体の場合には液化ガス(例えば液体窒素)などのように、冷媒流路を通る冷媒であればよい。
【0093】
(7)上述した各実施例装置では、図5に示すように、温調板36を直接にノズル20の温調面(正面板23aおよび背面板23b)に当接させているが、温調板36とノズル20の温調面とが接触若しくは近接する界面に、熱伝導率の高いゲル状の物質や、磁性流体を介在させ、接触熱抵抗を低減し、熱交換速度を促進するようにしてもよい。
【0094】
(8)上述した各実施例装置では、図4に示すように、ノズル20の処理液だまり部22として平板型のものを採用しているが、図14(a),(b)に示すように、円管型の処理液だまり部22Aを採用してもよい。この処理液だまり部22Aは円筒形状となっている。さらに、図14(c),(d)に示すように、二重円管型の処理液だまり部22Bを採用してもよい。この処理液だまり部22Bは、内部に入子28を配設し、体積当りの表面積を大きくするとともに、外側に近い位置に処理液を貯めるようにしている。こうすることで、処理液だまり部22Bの処理液をより効果的に熱交換できる。また、図14(e),(f)に示すように、コイル型の処理液だまり部22Cを採用してもよい。この処理液だまり部22Cは、螺旋形状配管29を有しており、体積当りの表面積が大きくなっており、処理液だまり部22Cの処理液を効果的に熱交換できる。
【0095】
(9)上述した各実施例装置の処理液だまり部22では、図4(a),(d)に示すように、ハウジング23と、断面が円形である蛇行形状配管24との間に高熱伝導充填材26を充填しているが、図15に示すように、断面が四角形である蛇行形状配管24Aを採用することで、ハウジング23と内部配管との間のスペース、つまり、高熱伝導充填材26を充填するスペースを無くすようにしてもよい。
【0096】
(10)上述した各実施例装置では、図4(a)に示すように、処理液だまり部22の蛇行形状配管24として、蛇行しながら上から下に向かう処理液流路を採用しているが、図16に示すように、処理液だまり部22は、処理液を下方位置に導いた後にこの下方位置よりも高い上方位置に導いてから再び下方に導いて吐出口から吐出させる流路24Aを備えたものとしてもよい。
【0097】
図16に示す場合では、一度、蛇行形状配管24の下部にまで通路を落とし、そこから上方から処理液を通すような流路とすることで、蛇行形状配管24内にエアを噛みこむことを確実に防止しつつ安定した処理液の供給が可能となる。
【0098】
(11)上述した各実施例では回転式塗布装置を例に採って説明したが、本発明はこのような装置に限定されるものではなく、非回転式塗布装置にも適用可能であるし、基板の処理面に適宜の処理液(例えば、現像液、リンス液等)を吐出して、基板に処理(現像処理、洗浄処理等)を行う種々の基板処理装置に広く適用することができる。
【0099】
(12)上述した各実施例では、ペルチェ素子を用いて温調板を構成していたが、例えばそれに代えて温調水を温調板に引き回すように構成することもできる。
【0100】
(13)また、第3実施例においては、ノズル20の処理液だまり部22を温調ポット80に移動させる構成を採用していたが、逆に、温調ポット80を次に使用するノズル20の処理液だまり部22が待機する場所まで移動して温調を行うようにしてもよい。
【0101】
(14)上述した各実施例装置の温調板は水平方向からノズル20を挟み込んだが、上下方向や斜め方向からも温調板はノズル20を挟み込むような形態であってもよい。
【0102】
また、ノズル20を挟み込む温調板も各実施例のように2つに限定されない。例えば、図17に示すように、2つの温調板36が水平方向からノズル20を挟み込むとともに、残りの2つの温調板36が上方向からノズル20を挟み込むように構成してもよい。なお、上方向から挟み込む各温調板36は、図17に示すように複数の部材により構成してもよく、また、一体部材として構成してもよい。
【0103】
この場合には、4つの温調板36がノズル20を挟み込んで温調を行うので、温調板36の各冷却水循環部材36c(図5参照)に冷却水を並列に供給するように冷却水配管36Aを4本に分岐させるように構成する。このように、冷却水配管36Aなどに代表される冷媒流路を分岐させる数も、各実施例のように2本に限定されない。
【0104】
また、冷却水を並列に供給するために、冷却水配管36Aを複数本に分岐させて構成したが、冷却水供給装置37から複数本の冷却水配管36Aを各々の冷却水循環部材36cに接続して構成することで、冷却水を並列に供給してもよい。
【0105】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、各温調部の冷却部材に冷媒を並列に供給することで、各温調部の冷却部材や熱電冷却素子や温調部材に同じ条件で熱的な影響を与えることになる。その結果、各温調部間での温度差を低減させることができ、温調部によって処理液を精度良く温調することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基板処理装置の第1実施例に係る回転式塗布装置の概略構成を示す平面図である。
【図2】図1に示した基板処理装置の側面図である。
【図3】(a)はノズルの外観を示す概略斜視図であり、(b)はノズルの温調面を示す概略斜視図である。
【図4】(a)はノズルの縦断面図であり、(b)はその側面図であり、(c)はその底面図であり、(d)は(a)に示したノズルのB−B線断面図である。
【図5】ノズル把持部の概略構成を示す平面図である。
【図6】図5に示したノズル把持部の把持動作を説明するための図である。
【図7】収納ポットの概略構成を示す概略斜視図である。
【図8】(a)は図1に示した収納ポットのA−A線断面図であり、(b)はノズルの収納ポットへの収納状態でこのノズルの突出部が待機ポット内に挿入されることを説明するための図である。
【図9】本発明の基板処理装置の第2実施例に係るノズルの外観を示す概略斜視図である。
【図10】第2実施例に係る収納ポットの概略構成を示す概略斜視図である。
【図11】本発明の基板処理装置の第3実施例に係る回転式塗布装置の概略構成を示す平面図である。
【図12】本実施例とは別の実施例のノズル把持部の概略構成を示す平面図である。
【図13】本実施例とは別の実施例に係る回転塗布装置の概略構成を示す平面図である。
【図14】(a)〜(f)は本実施例とは別の実施例のノズルの処理液だまり部を示す断面図並びに底面図である。
【図15】本実施例とは別の実施例の処理液だまり部を示す断面図である。
【図16】本実施例とは別の実施例の処理液だまり部を示す断面図である。
【図17】本実施例とは別の実施例の温調板および冷却水配管の概略構成を示す図である
【図18】従来のノズルおよび温調板の概略構成を示す概略斜視図である。
【図19】実験結果を処理液の実際の温度と冷却水の温度との関係で表したものであって、(a)は処理液の目標温度が20.0℃のとき、(b)は処理液の目標温度が26.0℃のときの実験データである。
【符号の説明】
20 … ノズル
36 … 温調板
36a … 挟持板
36b … ペルチェ素子
36c … 冷却水循環部材
36A … 冷却水配管
38 … 恒温層
39a … 流量計
39b … 開閉バルブ
W … 基板

Claims (4)

  1. 基板に処理液を供給して基板の処理を行う基板処理装置であって、
    基板に処理液を供給する処理液供給ノズルと、
    前記処理液供給ノズルを挟み込んで、ノズル内の処理液を温調する複数個の温調部とを備え、
    前記各温調部は、
    ノズルに近接あるいは当接する温調部材と、
    熱電冷却効果により前記温調部材を所定の温度に設定する熱電冷却素子と、
    前記熱電冷却素子からの発熱分を除去するための冷媒が通る冷媒流路を有した冷却部材とを備え、
    前記各温調部の冷却部材に冷媒を並列に供給することを特徴とする基板処理装置。
  2. 請求項1に記載の基板処理装置において、
    前記処理液供給ノズルを挟み込む一対の前記温調部を複数対に備え、
    前記複数対の各温調部の前記冷却部材に冷媒を並列に供給することを特徴とする基板処理装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の基板処理装置において、
    前記冷媒を所定の温度に設定する恒温調節手段を備えることを特徴とする基板処理装置。
  4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載の基板処理装置において、
    前記冷媒流路内を通る冷媒の流量を検出する流量検出手段と、
    前記冷媒の流量を調節する流量調節手段とを備えることを特徴とする基板処理装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103084290A (zh) * 2011-10-31 2013-05-08 细美事有限公司 喷嘴单元、基板处理装置和基板处理方法
TWI558466B (zh) * 2015-03-18 2016-11-21 Toshiba Kk 噴嘴及液體供給裝置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103084290A (zh) * 2011-10-31 2013-05-08 细美事有限公司 喷嘴单元、基板处理装置和基板处理方法
JP2013098569A (ja) * 2011-10-31 2013-05-20 Semes Co Ltd ノズルユニット、基板処理装置、及び基板処理方法
TWI558466B (zh) * 2015-03-18 2016-11-21 Toshiba Kk 噴嘴及液體供給裝置
KR20170116115A (ko) 2015-03-18 2017-10-18 가부시끼가이샤 도시바 노즐 및 액체 공급 장치

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