JP2004344774A - 基板処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ノズル20の処理液だまり部22を挟み込んで処理液だまり部22内の処理液を温調する一対の温調板36,36の挟持面側には、凹部36dが形成されており、温調板36によって熱交換されるノズル20の正面板23aおよび背面板23bには、凹部36dを嵌合する凸部23gが形成されている。一対の温調板36,36が処理液だまり部22を挟み込む際には、この凹部36dと凸部23gとで、ノズル20および温調板36を互いに嵌合させる。この嵌合によって、ノズル20および温調板36の相対位置の位置ズレを低減させることができる。従って、熱交換の効率や温調の精度を改善することができ、基板Wに所望の温度に設定された処理液を供給することができ、基板処理を精度良く行うことができる。
【選択図】 図6
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体基板、液晶表示器のガラス基板、フォトマスク用のガラス基板、光ディスク用の基板(以下、単に基板と称する)に対して基板処理を行う基板処理装置に係り、特に、吐出口から処理液を吐出して基板に供給する処理液供給ノズル内の処理液を温調する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、処理液供給ノズル内の処理液を温調する技術として、ノズルに接続される処理液配管を取り囲むように温調配管を配設した2重管構造のものがあり、処理液配管内の処理液は温調配管内の恒温水によって温調されてノズルから吐出するようにしている(例えば、特許文献1参照。)。
また、故障などによって処理液配管を交換することを鑑みて、処理液配管が掃抜可能に挿通される温調配管を温調室に備え、温調室の内壁と温調配管の外壁とで形成された密閉空間内に恒温水を流通しているものもある(例えば、特許文献2参照。)。
【0003】
【特許文献1】
特開平6−291027号公報(第4−5頁、図3)
【0004】
【特許文献2】
特開平7−263326号公報(第3頁、図1)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような2重管構造を有する場合には、温調配管が大口径となり、ノズル移動時の処理液配管の曲率が大きくとれない。従って、基板の鉛直方向である上下方向の空間が必要になり、装置を上下方向に小型化することができないという問題がある。
【0006】
かかる問題を解決するために、図16に示すような技術が提案されている。すなわち、平板状の液だまり部101を有するノズル102を、2つの温調板103が水平方向から挟み込んでノズル102内の処理液を温調する。これによって装置の小型化を実現している。しかし、温調板103がノズル102を挟み込む際に、ノズル102と温調板103との相対位置がずれると、温調板103によって熱交換できるノズル102の面積が小さくなって、熱交換の効率が悪くなる。また、ノズル102や温調板103には温度センサが設けられているが、上述した相対位置がずれることで、温調の精度も悪くなる。ひいては、熱交換の効率が悪くなり、温調の精度も悪くなることで、基板に所望の温度に設定された処理液が供給されずに基板処理を精度良く行うことができない。
【0007】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、基板処理を精度良く行うことができる基板処理装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板の処理を行う基板処理装置であって、吐出口から処理液を吐出して基板に供給する処理液供給ノズルと、処理液供給ノズルを挟み込んで、ノズル内の処理液を温調する温調部と、処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置を決める位置決め機構とを備えることを特徴とするものである。
【0009】
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記位置決め機構を、前記処理液供給ノズルおよび温調部を互いに嵌合させる嵌合部で構成し、この嵌合部を、処理液供給ノズルまたは温調部のいずれか一方に凹部、他方に凸部を形成して構成することを特徴とするものである。
【0010】
また、請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記位置決め機構を、磁気吸引力を有する2つの部材で構成し、一方の部材を前記処理液供給ノズルに、他方の部材を前記温調部に配設することを特徴とするものである。
【0011】
また、請求項4に記載の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記処理液供給ノズルと温調部との鉛直方向に沿った接触面よりも下方に張り出し部を配設し、前記位置決め機構をこの張り出し部で構成することを特徴とするものである。
【0012】
【作用】
請求項1に記載の発明によれば、処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置を決める位置決め機構を備えることで、処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置の位置ズレを低減させることができる。従って、熱交換の効率や温調の精度を改善することができ、基板に所望の温度に設定された処理液を供給することができ、基板処理を精度良く行うことができる。
【0013】
また、請求項2に記載の発明によれば、位置決め機構を、処理液供給ノズルおよび温調部を互いに嵌合させる嵌合部で構成し、この嵌合部を、処理液供給ノズルまたは温調部のいずれか一方に凹部、他方に凸部を形成して構成する。嵌合部によって処理液供給ノズルおよび温調部を互いに嵌合させることで、処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置が決まる。
【0014】
また、請求項3に記載の発明によれば、位置決め機構を、磁気吸引力を有する2つの部材で構成し、一方の部材を処理液供給ノズルに、他方の部材を温調部に配設する。処理液供給ノズルを温調部が挟み込む際に、一方の部材と他方の部材とが磁気吸引力によって密着し、これによって処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置が決まる。
【0015】
ここで、『磁気吸引力を有する部材を配設する』とは、処理液供給ノズルまたは温調部に磁気吸引力を有する部材を設けることのみならず、処理液供給ノズルまたは温調部と、磁気吸引力を有する部材とを一体に形成する、すなわち、磁気吸引力を有する部材で、処理液供給ノズルまたは温調部の一部を構成することも含む。なお、『磁気吸引力を有する部材』は、一方の部材が鉄などに代表される磁性体で、他方の部材が磁石であってもよいし、両部材ともに磁石であってもよい。
【0016】
また、請求項4に記載の発明によれば、処理液供給ノズルと温調部との鉛直方向に沿った接触面よりも下方に張り出し部を配設し、位置決め機構をこの張り出し部で構成する。この張り出し部で処理液供給ノズルまたは温調部を下方から支えて、処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置が決まる。この張り出し部を、処理液供給ノズルまたは温調部のいずれかに配設すればよい。張り出し部を処理液供給ノズルに配設する場合には、張り出し部で温調板を下方から支え、張り出し部を温調板に配設する場合には、張り出し部で処理液供給ノズルを下方から支えることで、相対位置が決まる。
【0017】
また、張り出し部を配設しているので、上述した接触面から発塵した塵埃を張り出し部が受ける。塵埃を張り出し部が受けることで、基板などに付着する塵埃を低減させることができ、その塵埃の低減によって基板処理を精度良く行うことができるという効果をも奏する。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を、図面を参照しながら説明する。
<第1実施例>
図1は本発明の基板処理装置の第1実施例に係る回転式塗布装置の概略構成を示す平面図であり、図2は、その側面図である。
【0019】
なお、この第1実施例では、基板処理装置としての回転式塗布装置、つまり、半導体ウエハ(以下、単に「基板」と呼ぶ)に処理液であるレジスト液を吐出して基板にレジスト処理を施す回転式塗布装置を例に採って説明する。
【0020】
図1に示すように、この回転式塗布装置は、基板Wに処理液を供給して回転塗布する回転処理部10と、処理液を吐出するノズル20を把持するノズル把持部30と、このノズル把持部30を鉛直方向(Z軸方向)に移動させる垂直移動部40と、ノズル把持部30をY軸方向に移動させるY軸水平移動部50と、ノズル把持部30をX軸方向に移動させるX軸水平移動部60と、複数個(この第1実施例では、例えば6個)のノズル20を収納する待機部70とを備えている。
【0021】
回転処理部10は、基板Wを水平姿勢で保持して回転駆動する回転保持部11と、この回転保持部11の周囲を取り囲み、基板Wから飛散される処理液が外方へ拡散するのを防止する中空の飛散防止カップ12とを備えている。飛散防止カップ12は、図示しない昇降機構によって昇降可能に構成されていて、基板Wが回転駆動される際に上昇して、基板W上に吐出された処理液がこの飛散防止カップ12の外側の周囲に飛散するのを防止する。このとき、飛散防止カップ12内に飛び散った処理液は、この飛散防止カップ12に設けられている図示しない廃液回収構造によって回収される。
【0022】
図1,2に示すように、基板Wに異なる種類の処理液を吐出するための複数個(例えば6個)のノズル20が、待機部70にそれぞれ待機収納されている。使用時には、選択されたノズル20が待機部70から回転処理部10内の基板W上の所定位置に移動され、ノズル20の先端の吐出口から基板Wに向けて処理液を吐出するようになっている。
【0023】
ここで、このノズル20について、図3および図4を用いて詳細に説明する。なお、図3(a)はノズル20の外観を示す概略斜視図であり、図3(b)はノズル20の温調面を示す概略斜視図である。図4(a)はノズル20の縦断面図であり、図4(b)はノズル20の側面図であり、図4(c)はノズル20の底面図であり、図4(d)は図4(a)に示したノズル20のB−B線断面図である。
【0024】
図3(a)に示すように、ノズル20は、その先端部に、処理液配管21を通じて供給されてきた処理液を所定量貯める処理液だまり部22を備えている。処理液だまり部22は、次期吐出相当量の処理液を少なくとも貯めることができる程度の大きさとなっている。つまり、これから基板Wに吐出すべきワンショット分(例えば、1〜10cm3 )の処理液が処理液だまり部22に貯留されていて、処理液だまり部22に貯留された処理液が先端の吐出口25aから基板Wに向けて吐出されるようになっている。
【0025】
具体的には、図3(b)に示すように、ノズル20の処理液だまり部22は、例えば、熱伝導部材と断熱部材とからなる平板型のハウジング23を備えている。ハウジング23の正面板23aおよび背面板23bは熱伝導部材で形成されており、ハウジング23の上面板23c、底面板23d、左側面板23eおよび右側面板23fは断熱部材で形成されている。熱伝導部材としては、例えば、アルミニウムや銅やステンレスやカーボンなどが挙げられる。なお、熱伝導部材としてアルミニウムや銅を採用した場合には、このアルミニウムや銅の処理液との接液部分に、耐薬性の高い素材で被覆(フッ素樹脂コーティング)を施す。また、熱伝導部材としてカーボンを採用した場合には、このカーボンの処理液との接液部分に、耐薬性の高い素材で被覆(ダイヤモンドコーティング)を施す。
【0026】
図4(a)〜(c)に示すように、ノズル20の処理液だまり部22は、上述の平板型のハウジング23で覆われている。図4(a)に示すように、処理液だまり部22は、体積当りの表面積が大きくなるようにするために、蛇行形状配管24で構成されており、曲がりくねった処理液流路を形成している。この蛇行形状配管24中に処理液を貯めることで、少なくとも次期吐出相当量の処理液が貯留されるようになっている。この処理液だまり部22の下端には、蛇行形状配管24に接続された突出部25が形成されており、この突出部25の先端には処理液を吐出するための吐出口25aが形成されている。また、図4(d)に示すように、ハウジング23と蛇行形状配管24との間には、熱伝導性の高い材料である高熱伝導充填材26が充填されている。ノズル20は、本発明における処理液供給ノズルに相当する。
【0027】
ここで、ノズル把持部30について、図5を用いて詳細に説明する。なお、図5はノズル把持部30の概略構成を示す平面図である。ノズル把持部30は、ノズル20の処理液だまり部22を把持する一対の把持アーム31,31を備えている。各把持アーム31,31は、ベース部材32の上面に敷設されたレール33,33に沿ってY軸方向の互いに反対向きにスライド移動可能に取り付けられている。
【0028】
一対の把持アーム31,31の基端側には、この一対の把持アーム31,31を互いに反対方向に水平移動させるリンク機構34と、このリンク機構34を駆動する駆動シリンダ35とが備えられている。リンク機構34は4節リンク構造を有し、リンク34aの一端とリンク34bの一端とが回動自在に連結され、リンク34cとリンク34dとの連結部が駆動シリンダ35のロッドに連結されている。さらに、リンク34bとリンク34dとの連結部およびリンク34aとリンク34cとの連結部がそれぞれ把持アーム31,31に取り付けられている。そして、駆動シリンダ35のロッドを伸長させると、一対の把持アーム31,31が互いに離反してノズル20を開放し、駆動シリンダ35のロッドを後退させると、一対の把持アーム31,31が互いに接近してノズル20の処理液だまり部22を把持する。
【0029】
一方の把持アーム31,31には、処理液だまり部22を挟み込んで処理液だまり部22内の処理液を熱交換して温調する温調板36をそれぞれ備えている。温調板36は、例えば、処理液だまり部22の熱交換部(正面板23aおよび背面板23b)と同等の大きさとしている。なお、温調板36を処理液だまり部22の熱交換部よりも大きくしてもよいし、処理液だまり部22の温調に問題がなければ、温調板36を熱交換部よりも小さくしてもよい。温調板36は、本発明における温調部に相当する。
【0030】
一対の温調板36,36の挟持面側には、処理液だまり部22に当接される挟持板36aが取り付けられている。また、挟持板36aの挟持面側とは反対側の表面には、熱電冷却素子としてのペルチェ素子36bが取り付けられている。ペルチェ素子36bは、熱電冷却効果により、挟持板36aを短時間で所定の温度に設定することができる。また、ペルチェ素子36bの挟持板36aとは反対側の表面には、ペルチェ素子36bからの発熱分を除去する冷却水を供給する冷却水循環部材36cが配設されている。冷却水循環部材36cの一端には、内部に冷却水を送り込むための冷却水供給管36Aおよび冷却水を外方に取り出すための冷却水排出管36Bが接続されている。この冷却水供給管36Aおよび冷却水排出管36Bは外部に設けられた冷却水供給装置(図示省略)に接続されている。
【0031】
ここで、第1実施例の特徴部分でもある温調板36の構造について、図6を用いて詳細に説明する。なお、図6(a)は、温調板36の具体的構造を示す斜視図であり、図6(b)は温調板36がノズル20の処理液だまり部22を挟み込む前の側面図であり、図6(c)は温調板36がノズル20の処理液だまり部22を挟み込んだ状態の側面図である。一対の温調板36,36の挟持面側には、すなわち挟持板36aには凹部36dが2箇所に形成されている(図5,図6参照)。温調板36に挟み込まれる処理液だまり部22の熱交換部(正面板23aおよび背面板23b)には、ノズル20の処理液だまり部22を挟み込んだ状態において凹部36dが形成された位置に一致する位置に、凸部23gが2箇所ずつ形成されている(図4,図6参照)。
【0032】
この凹部36dと凸部23gとで、ノズル20および温調板36を互いに嵌合させる本発明における嵌合部を構成している。図6(c)に示すように、この嵌合部によってノズル20および温調板36を互いに嵌合させることで、ノズル20および温調板36の相対位置が決まる。従って、この凹部36dと凸部23gとは、本発明における位置決め機構にも相当する。
【0033】
また、図2に示すように、回転塗布処理装置の所定位置には、ペルチェ素子36b(図5参照)を駆動制御するための制御部88と、この制御部88に電源電圧を供給するための電源部89とが備えられている。処理液だまり部22(図5参照)内の処理液の温度が温度センサ(例えば熱電対)から制御部88に送られるようになっている。制御部88は、処理液が所定の温度に温調されるように温調板36のペルチェ素子36bへの電源電圧の供給を制御する。
【0034】
温調動作時には、ノズル20が収納された状態で、このノズル20の処理液だまり部22を一対の温調板36,36で所定の押圧力で挟み込んで、つまり、処理液だまり部22の正面板23aおよび背面板23bと温調板36との接触圧を高めて当接させて、処理液だまり部22内の処理液を熱交換して温調する。
【0035】
続いて、垂直移動部40,Y軸水平移動部50,およびX軸水平移動部60について、図1および図2を用いて詳細に説明する。図1,図2に示すように、ノズル把持部30は、このノズル把持部30を鉛直方向(Z軸方向)に移動させる垂直移動部40に取り付けられている。垂直移動部40は、ノズル把持部30を支持する支持部材41と、この支持部材41を昇降移動させる昇降駆動部42とを備えている。
【0036】
また、昇降駆動部42は、ノズル把持部30をY軸方向に移動させるY軸水平移動部50の水平移動部材51に接続されている。水平移動部材51の一端は、Y軸方向に延びる回動ねじ52に係合している。回動ねじ52は駆動モータ(図示省略)により回動される。これにより、回動ねじ52に係合した水平移動部材51がY軸方向に往復移動し、それによって垂直移動部40およびノズル把持部30がY軸方向に往復移動する。
【0037】
さらに、Y軸水平移動部50のスライド板61の一端は、X軸方向に延びるX軸水平移動部60の回動ねじ62に係合している。回動ねじ62は駆動モータ(図示省略)により回動される。回動ねじ62の回動により、スライド板61がガイド63に沿ってX軸方向に往復移動し、それによってY軸水平移動部50、垂直移動部40およびノズル把持部30がX軸方向に往復移動する。
【0038】
図1に示すように、待機部70には、例えば6個の後述する収納ポット71がY軸方向に並設されており、異なる種類の処理液を供給する処理液供給源(図示省略)に処理液配管21を介して接続された6個のノズル20をそれぞれの収納ポット71に収納している。なお、処理液配管21の処理液供給源(図示省略)側には、電磁弁およびポンプ(図示省略)が接続されており、所定量の処理液が処理液配管21を介してノズル20に供給されるようになっている。
【0039】
続いて、収納ポット71について、図7および図8を用いて詳細に説明する。なお、図7は収納ポット71の概略構成を示す概略斜視図である。図8(a)は図1に示した収納ポット71のA−A線断面図であり、図8(b)はノズル20の収納ポット71への収納状態でこのノズル20の突出部25が待機ポット90内に挿入されることを説明するための図である。
【0040】
図7,図8(a)に示すように、収納ポット71は、ノズル20を立設して収納する立設ポット80と、ノズル20の突出部25を溶剤雰囲気中に収納するための待機ポット90とを備えている。収納ポット71は、待機ポット90上に立設ポット80を積み上げた2段構造になっている。
【0041】
まず、立設ポット80について説明する。図7に示すように、立設ポット80は、ノズル20を収納するための立設容器本体81を備えている。立設容器本体81の天部および底部は開口されており、立設容器本体81の天部の開口からノズル20が挿入されるようになっている。
【0042】
続いて、立設ポット80の下側に位置する待機ポット90について説明する。待機ポット90は、ノズル20の突出部25が挿入される挿入孔91を上面側に形成した待機容器本体92を備え、待機中のノズル20の突出部25を溶剤雰囲気中に収納する。待機容器本体92の中央下部には溶剤を保持する溶剤貯留部93が形成され、その上方には溶剤空間94が形成されている。溶剤空間94には、溶剤を供給するための溶剤供給管95が接続されている。また、待機容器本体92におけるノズル20の突出部25の下方位置には、ノズル20から滴下する処理液を外方へ排出するための排出管96が接続されている。
【0043】
なお、ノズル20が収納ポット71から取り出された状態において、待機ポット90の挿入孔91から立設ポット80への溶剤雰囲気の流入を防止するために、この挿入孔91を適宜に閉塞するようにしてもよい。よって、立設ポット80の下側の待機ポット90では、その挿入孔91にノズル20の突出部25が挿入されており、ノズル20の突出部25を溶剤雰囲気中に収納している。
【0044】
次に、この第1実施例の回転式塗布装置の動作について説明する。図1に示すように、待機部70には、異なる種類の処理液を供給する処理液供給源(図示省略)に処理液配管21を介して接続された複数個(第1実施例では6個)のノズル20が収納ポット71に収納された状態で収納され、各ノズル20が待機状態にある。
【0045】
図7に示すように、収納ポット71に収納された各ノズル20は、処理液供給源(図示省略)から処理液配管21を通じて処理液が供給されており、所定量の処理液が処理液だまり部22内に貯められた状態となっている。
【0046】
回転式塗布装置は、予め定められた処理条件に従って基板Wに供給する処理液を選択し、これに対応したノズル20を選択する。ノズル20が選択されると、垂直移動部40、Y軸水平移動部50およびX軸水平移動部60が駆動され、ノズル把持部30が一対の把持アーム31,31を開いた状態でノズル20に接近する。一対の把持アーム31,31が開くことに伴って、それに備えられた一対の温調板36,36も開いた状態でノズル20に接近する。
【0047】
一対の把持アーム31,31の温調板36,36が処理液だまり部22を挟み込むことで、ノズル20を把持して温調を行う。そして、垂直移動部40を駆動させて、把持したノズル20を上方に持ち上げ、Y軸水平移動部50およびX軸水平移動部60を駆動させて、ノズル20を回転処理部10の基板W上の所定位置、例えば基板Wの中央上方の位置に移動する。
【0048】
制御部88は、処理液だまり部22内の処理液の温度を、温調板36に設けられ、例えば熱電対で構成された温度センサ(図示省略)で測定し、この測定結果に応じて温調板36のペルチェ素子36bを駆動し、処理液だまり部22の処理液を所定温度に温調する。温調のタイミングは、上述した移動時に限らず、ノズル20を把持して待機しているときであってもよい。
【0049】
基板W上の所定位置に移動したノズル20は、所定の温度に調整された処理液だまり部22内の処理液を基板Wの表面に吐出する。その後、基板Wが回転され、これによって基板Wの表面に処理液が回転塗布される。処理液の温度は所定の値に調整されているので、不適当な処理液の温度による薄膜の膜厚ばらつきを抑制することができる。
【0050】
上述したように第1実施例の回転式塗布装置によれば、ノズル20および温調板36の相対位置を決める本発明における位置決め機構として、挟持板36aに凹部36dを、正面板23aおよび背面板23bに凸部23gをそれぞれ備えることで、ノズル20および温調板36の相対位置の位置ズレを低減させることができる。従って、熱交換の効率や温調の精度を改善することができ、基板Wに所望の温度に設定された処理液を供給することができ、基板処理を精度良く行うことができる。
【0051】
また、第1実施例では、本発明における位置決め機構を、ノズル20および温調板36を互いに嵌合させる嵌合部で構成し、この嵌合部を、挟持板36aに凹部36dを、正面板23aおよび背面板23bに凸部23gをそれぞれ形成して構成している。この嵌合部によってノズル20および温調板36を互いに嵌合させることで、ノズル20および温調板36の相対位置が決まる。
【0052】
<第2実施例>
図9,図10を参照して第2実施例について説明する。図9は、本発明の基板処理装置の第2実施例に係るノズル20の外観を示す概略斜視図であり、図10は、第2実施例に係る収納ポット71の概略構成を示す概略斜視図である。
【0053】
なお、上述した第1実施例では、図6に示す温調板36をノズル把持部30の一対の把持アーム31,31にそれぞれ備え、把持アーム31,31でノズル20を挟み込んで移動しながら、または待機しながら温調を行っているが、第2実施例では、図7,図8に示す立設ポット80内に、第1実施例と同じ構造をもつ一対の温調板82,82を設けて、収納ポット71で収納されている間に温調を行う。以下、この第2実施例および後述する第3実施例では、この立設ポット80を「温調ポット80」として説明を行う。また、上述した第1実施例と同じ構成には同じ符号を付すことで詳細な説明については省略する。
【0054】
なお、第2実施例の場合には、収納ポット71で収納されている間に温調を行うので、一対の把持アーム31,31の温調板36,36が処理液だまり部22を挟み込んで、ノズル20を把持しながら温調を行う必要はない。従って、一対の把持アーム31,31は、第1実施例のようにノズル20の処理液だまり部22を把持するのでなく、図9に示すように、ノズル20の基端部、つまり、処理液だまり部22の上方位置に備えられた被把持部27を一対の把持アーム31,31が把持する。ノズル20の被把持部27は、断熱部材で形成されている。ノズル把持部30がノズル20の被把持部27を把持して移動することにより、ノズル20が移動される。
【0055】
第2実施例の温調ポット80は、第1実施例の立設ポット80と相違し、温調する機能を備えている。すなわち、図10に示すように、収納ポット71は、ノズル20の処理液だまり部22を温調するための温調ポット80と、第1実施例と同様の待機ポット90とを備えている。
【0056】
温調ポット80は、ノズル20を収納するための温調容器本体81と、この温調容器本体81内に配設された、ノズル20の処理液だまり部22を挟み込む一対の温調板82,82とを備えている。温調容器本体81の天部および底部は開口されており、温調容器本体81の天部の開口からノズル20が挿入されるようになっている。一対の温調板82,82は、温調動作時には、処理液だまり部22を挟み込むように互いに接近移動し、ノズル20の挿抜時などには、処理液だまり部22の挟み込みを解除するように互いに離反移動するようになっている。温調板82は、第1実施例の温調板36と同じ構造を有している。
【0057】
図10に示すように、第1実施例と同様の凹部82dが温調板82,82に形成され、凸部23gがノズル20に形成されている。挟み込みの状態においては、この凹部82dと凸部23gとが互いに嵌合される位置にそれぞれが形成されている。
【0058】
上述したように、収納ポット71で収納されている間に温調を行うので、一対の把持アーム31,31で把持しながら温調を行う必要はないが、把持中においても温調を行うように、第1実施例と同様に一対の把持アーム31,31にも温調板36をそれぞれ備え、温調板36が処理液だまり部22を挟み込んで温調を行ってもよい。
【0059】
第2実施例に係る回転塗布処理装置によれば、第1実施例と同様に、ノズル20および温調板82の相対位置を決める本発明における位置決め機構を備えることで、相対位置の位置ズレを低減させることができる。従って、熱交換の効率や温調の精度を改善することができ、基板Wに所望の温度に設定された処理液を供給することができ、基板処理を精度良く行うことができる。
【0060】
<第3実施例>
図11を参照して第3実施例について説明する。図11は、本発明の基板処理装置の第3実施例に係る回転式塗布装置の概略構成を示す平面図である。
【0061】
なお、上述した第2実施例では、温調ポット80と待機ポット90とを上下2段に構成した6個の収納ポット71を待機部70に設けているが、第3実施例では、待機部70に6個の待機ポット90のみを設け、この待機ポット90とは別の位置に、単一の温調ポット80を設ける。また、上述した第1,第2実施例と同じ構成には同じ符号を付すことで詳細な説明については省略する。
【0062】
この第3実施例の回転式塗布装置では、6個の待機ポット90と、単一の温調ポット80とを分離独立して配置しているところに1つの特徴点がある。
【0063】
次に、この第3実施例の回転式塗布装置の動作について説明する。待機部70には、異なる種類の処理液を供給する処理液供給源(図示省略)に処理液配管21を介して接続された6個のノズル20の突出部25がそれぞれの待機ポット90の挿入孔91に挿入された状態で収納され、各ノズル20が待機状態にある。
【0064】
図11に示すように、待機部70の待機状態にある6個のノズル20の中から選択された1個のノズル20をノズル把持部30で把持して単一の温調ポット80に移動させて収納する。温調ポット80は、収納されたノズル20の処理液だまり部22内の処理液を温調する。温調ポット80による処理液だまり部22内の処理液の温調後、温調ポット80に収納されたノズル20をノズル把持部30で把持して回転処理部10の基板W上の所定位置に移動し、温調された処理液を基板Wに吐出する。温調された処理液を基板Wに吐出した後にノズル20はノズル把持部30で待機部70の対応する待機ポット90に移動され、基板Wは温調された処理液により所定の処理が施される。
【0065】
上述したように第3実施例の回転式塗布装置によれば、待機ポット90にてノズル20の吐出口25aを所定雰囲気中で待機させることができ、これから使用すべきノズル20を待機ポット90から温調ポット80に移動させて収納し、温調ポット80で処理液だまり部22内の処理液を温調することができるので、待機ポット90の数だけ温調ポット80を設ける必要がなく、少なくとも1個の温調ポット80があればよいことから、待機ポット90と同数の温調ポット80を設けることに伴う装置の複雑化が低減できる。
【0066】
なお、本発明は以下のように変形実施することも可能である。
【0067】
(1)上述した各実施例装置では、図6(b),図6(c)に示すように、凸部は突起状であって、凹部はこれに嵌合される形状であったが、図12(a)に示すように、凸部は突出した平板状であって、凹部はこれに嵌合される形状であってもよい。また、ノズル20側(ノズル20の正面板23aおよび背面板23b)に凸部23gを、温調板36側(挟持板36a)に凹部36dをそれぞれ形成したが、図12(b)に示すように、ノズル20側に凹部を、温調板36側に凸部をそれぞれ形成してもよい。つまり、ノズル20または温調板36のいずれか一方に凹部を、他方に凸部を形成するのであれば、特に限定されない。また、凹部および凸部を形成する個数は特に限定されないし、形成する箇所についても特に限定されない。
【0068】
(2)本発明における位置決め機構は、嵌合部に限定されない。例えば、図12(c)に示すように、ノズル20側(ノズル20の正面板23aおよび背面板23b)および温調板36側(挟持板36a)の双方に、平板状の磁石37を配設してもよい。ノズル20を一対の温調板36,36が挟み込む際に、ノズル20側の磁石37と温調板36側の磁石37とが磁気吸引力によって密着し、これによってノズル20および温調板36の相対位置が決まる。なお、温調される処理液は、磁気吸引力によって影響を受けないものであるのが好ましい。磁石37は、本発明における磁気吸引力を有する部材に相当する。
【0069】
また、ノズル20側および温調板36側の双方が磁石37で構成されるのに限定されずに、磁気吸引力を有する2つの部材であれば、一方の部材が鉄などに代表される磁性体で、他方の部材が磁石であってもよい。
【0070】
また、ノズル20側に磁気吸引力を有する部材を配設し、温調板36と磁気吸引力を有する部材とを一体に形成してもよいし、ノズル20と磁気吸引力を有する部材とを一体に形成し、温調板36側に磁気吸引力を有する部材を配設してもよいし、ノズル20と磁気吸引力を有する部材とを一体に形成するとともに、温調板36と磁気吸引力を有する部材とを一体に形成してもよい。ここで、『一体に形成する』とは、磁気吸引力を有する部材で、ノズル20または温調板36の一部を構成することを指す。もちろん、磁気吸引力によって処理液が影響を受けないのであれば、磁気吸引力を有する部材で、ノズル20全体または温調板36全体を構成してもよい。
【0071】
(3)また、本発明における位置決め機構は、嵌合部や磁性体に限定されない。図12(d)に示すように、一方の温調板36を『L字形』に屈曲させて、屈曲された下方位置の水平部分を張り出し部として構成し、位置決め機構をこの張り出し部38で構成してもよい。この張り出し部38でノズル20を下方から支えて、ノズル20および温調板36の相対位置が決まる。なお、張り出し部38を、温調板36の一部で構成してもよいし、温調板36と張り出し部38とをそれぞれ別の部材で構成し、互いに接触させてもよい。また、両方の温調板36を『L字形』に屈曲させて、両方の張り出し部38でノズル20を下方から支えてもよい。
【0072】
また、図12(e)に示すように、ノズル20を『逆T字形』に屈曲させて、屈曲された下方位置の水平部分を張り出し部38として構成してもよい。この場合には、この張り出し部38で一対の温調板36,36を下方から支えて、ノズル20および温調板36の相対位置が決まる。なお、張り出し部38を、ノズル20の一部で構成してもよいし、ノズル20と張り出し部38とをそれぞれ別の部材で構成し、互いに接触させてもよい。このように、張り出し部38を、ノズル20または温調板36のいずれかに配設すればよい。
【0073】
また、張り出し部38を配設しているので、ノズル20および温調板36の当接面から発塵した塵埃を張り出し部38が受ける。塵埃を張り出し部38が受けることで、基板Wなどに付着する塵埃を低減させることができ、その塵埃の低減によって基板処理を精度良く行うことができるという効果をも奏する。
【0074】
(4)上述した各実施例装置では、基板Wが固定位置でノズル20が移動する構成であったが、逆に基板Wが移動する構成であっても本発明を適用可能である。また、ノズル20および基板Wがともに移動する構成であっても本発明を適用可能である。
【0075】
(5)上述した各実施例装置では、待機部70に6個の待機ポット90を備え、ノズル20を6個としているが、1個または6個以外の複数個のノズル20を設けるようにしてもよい。
【0076】
(6)上述した各実施例装置では、図4に示すように、ノズル20の処理液だまり部22として平板型のものを採用しているが、図13(a),(b)に示すように、円管型の処理液だまり部22Aを採用してもよい。この処理液だまり部22Aは円筒形状となっている。さらに、図13(c),(d)に示すように、二重円管型の処理液だまり部22Bを採用してもよい。この処理液だまり部22Bは、内部に入子28を配設し、体積当りの表面積を大きくするとともに、外側に近い位置に処理液を貯めるようにしている。こうすることで、処理液だまり部22Bの処理液をより効果的に熱交換できる。また、図13(e),(f)に示すように、コイル型の処理液だまり部22Cを採用してもよい。この処理液だまり部22Cは、螺旋形状配管29を有しており、体積当りの表面積が大きくなっており、処理液だまり部22Cの処理液を効果的に熱交換できる。
【0077】
(7)上述した各実施例装置の処理液だまり部22では、図4(a),(d)に示すように、ハウジング23と、断面が円形である蛇行形状配管24との間に高熱伝導充填材26を充填しているが、図14に示すように、断面が四角形である蛇行形状配管24Aを採用することで、ハウジング23と内部配管との間のスペース、つまり、高熱伝導充填材26を充填するスペースを無くすようにしてもよい。
【0078】
(8)上述した各実施例装置では、図4(a)に示すように、処理液だまり部22の蛇行形状配管24として、蛇行しながら上から下に向かう処理液流路を採用しているが、図15に示すように、処理液だまり部22は、処理液を下方位置に導いた後にこの下方位置よりも高い上方位置に導いてから再び下方に導いて吐出口から吐出させる流路24Aを備えたものとしてもよい。
【0079】
(9)上述した各実施例では回転式塗布装置を例に採って説明したが、本発明はこのような装置に限定されるものではなく、非回転式塗布装置にも適用可能であるし、基板の処理面に適宜の処理液(例えば、現像液、リンス液等)を吐出して、基板に処理(現像処理、洗浄処理等)を行う種々の基板処理装置に広く適用することができる。
【0080】
(10)上述した各実施例では、ペルチェ素子を用いて温調板を構成していたが、例えばそれに代えて温調水を温調板に引き回すように構成することもできる。
【0081】
(11)また、第3実施例においては、ノズル20の処理液だまり部22を温調ポット80に移動させる構成を採用していたが、逆に、温調ポット80を次に使用するノズル20の処理液だまり部22が待機する場所まで移動して温調を行うようにしてもよい。
【0082】
(12)上述した各実施例装置の温調板は水平方向からノズル20を挟み込んだが、上下方向や斜め方向からも温調板はノズル20を挟み込むような形態であってもよい。
【0083】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置を決める位置決め機構を備えることで、処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置の位置ズレを低減させることができる。従って、熱交換の効率や温調の精度を改善することができ、基板に所望の温度に設定された処理液を供給することができ、基板処理を精度良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基板処理装置の第1実施例に係る回転式塗布装置の概略構成を示す平面図である。
【図2】図1に示した基板処理装置の側面図である。
【図3】(a)はノズルの外観を示す概略斜視図であり、(b)はノズルの温調面を示す概略斜視図である。
【図4】(a)はノズルの縦断面図であり、(b)はその側面図であり、(c)はその底面図であり、(d)は(a)に示したノズルのB−B線断面図である。
【図5】ノズル把持部の概略構成を示す平面図である。
【図6】(a)は温調板の具体的構造を示す斜視図であり、(b)は温調板がノズルの処理液だまり部を挟み込む前の側面図であり、(c)は温調板がノズルの処理液だまり部を挟み込んだ状態の側面図である。
【図7】収納ポットの概略構成を示す概略斜視図である。
【図8】(a)は図1に示した収納ポットのA−A線断面図であり、(b)はノズルの収納ポットへの収納状態でこのノズルの突出部が待機ポット内に挿入されることを説明するための図である。
【図9】本発明の基板処理装置の第2実施例に係るノズルの外観を示す概略斜視図である。
【図10】第2実施例に係る収納ポットの概略構成を示す概略斜視図である。
【図11】本発明の基板処理装置の第3実施例に係る回転式塗布装置の概略構成を示す平面図である。
【図12】(a)〜(e)は本実施例とは別の実施例のノズル,温調板,および位置決め機構を示す断面図である。
【図13】(a)〜(f)は本実施例とは別の実施例のノズルの処理液だまり部を示す断面図並びに底面図である。
【図14】本実施例とは別の実施例の処理液だまり部を示す断面図である。
【図15】本実施例とは別の実施例の処理液だまり部を示す断面図である。
【図16】従来のノズルおよび温調板の概略構成を示す概略斜視図である。
【符号の説明】
20 … ノズル
23g … 凸部
36 … 温調板
36d … 凹部
W … 基板
Claims (4)
- 基板の処理を行う基板処理装置であって、
吐出口から処理液を吐出して基板に供給する処理液供給ノズルと、
処理液供給ノズルを挟み込んで、ノズル内の処理液を温調する温調部と、
処理液供給ノズルおよび温調部の相対位置を決める位置決め機構とを備えることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置において、
前記位置決め機構を、前記処理液供給ノズルおよび温調部を互いに嵌合させる嵌合部で構成し、
この嵌合部を、処理液供給ノズルまたは温調部のいずれか一方に凹部、他方に凸部を形成して構成することを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置において、
前記位置決め機構を、磁気吸引力を有する2つの部材で構成し、
一方の部材を前記処理液供給ノズルに、他方の部材を前記温調部に配設することを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置において、
前記処理液供給ノズルと温調部との鉛直方向に沿った接触面よりも下方に張り出し部を配設し、
前記位置決め機構をこの張り出し部で構成することを特徴とする基板処理装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003144725A JP2004344774A (ja) | 2003-05-22 | 2003-05-22 | 基板処理装置 |
US10/836,146 US7267723B2 (en) | 2003-05-13 | 2004-04-30 | Treating solution supply nozzle, a substrate treating apparatus having this nozzle, and a method of manufacturing a treating solution supply nozzle |
US11/472,612 US7628862B2 (en) | 2003-05-13 | 2006-06-22 | Treating solution supply nozzle, a substrate treating apparatus having this nozzle, and a method of manufacturing a treating solution supply nozzle |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003144725A JP2004344774A (ja) | 2003-05-22 | 2003-05-22 | 基板処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004344774A true JP2004344774A (ja) | 2004-12-09 |
Family
ID=33532105
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003144725A Pending JP2004344774A (ja) | 2003-05-13 | 2003-05-22 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004344774A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101377657B1 (ko) | 2013-03-22 | 2014-03-25 | 코리아테크노(주) | 기판 처리용 공급노즐 |
KR20190003134A (ko) * | 2017-06-30 | 2019-01-09 | 참엔지니어링(주) | 패턴 형성장치 |
TWI695740B (zh) * | 2018-07-13 | 2020-06-11 | 日商斯庫林集團股份有限公司 | 塗佈處理裝置及塗佈處理方法 |
-
2003
- 2003-05-22 JP JP2003144725A patent/JP2004344774A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101377657B1 (ko) | 2013-03-22 | 2014-03-25 | 코리아테크노(주) | 기판 처리용 공급노즐 |
KR20190003134A (ko) * | 2017-06-30 | 2019-01-09 | 참엔지니어링(주) | 패턴 형성장치 |
CN109216231A (zh) * | 2017-06-30 | 2019-01-15 | 灿美工程股份有限公司 | 用于形成图案的设备 |
KR101950441B1 (ko) * | 2017-06-30 | 2019-02-20 | 참엔지니어링(주) | 패턴 형성장치 |
CN109216231B (zh) * | 2017-06-30 | 2021-12-21 | 灿美工程股份有限公司 | 用于形成图案的设备 |
TWI695740B (zh) * | 2018-07-13 | 2020-06-11 | 日商斯庫林集團股份有限公司 | 塗佈處理裝置及塗佈處理方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20051129 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080806 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080812 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20081010 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20081118 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |