JP2005017165A - ダミー検定試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ダミー検定試験装置1は、ペンデュラム10と回動装置20とを備える。回動装置20は、モータ22と変速装置23と回動部24とからなり、回動部24は回転部26と持上げレバー部27とを備える。モータ22の駆動力は、変速装置23で所定の回転数に変換され回動部26を回転させる。持上げレバー部27が回転部26の回動に伴ってペンデュラム10を所定位置まで持上げる。ペンデュラム10を落下させる場合、変速装置23で持上げレバー部27がペンデュラム10から瞬間的に離れ、離れたままの状態を保ちながら回転するようにモータ22の回転数を変換する。ペンデュラム10の持上げ時にはペンデュラム10が持上げレバー部27に支えられているため、ペンデュラム10が不意に自由落下してしまうことを防ぎ、更に回動装置20を小型・一体構成にすることができるので、ダミー検定試験装置1の全体の小型化を図ることができる。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば自動車の衝突試験用ダミー(Crash Test Dummy:以下、「CTD」と呼ぶ。)が所定の品質に達しているか否かを検定するダミー検定試験装置に関し、特に簡単な構成で誤差の少ない検定を行うことができるダミー検定試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
自動車の衝突試験などに人間の代わりとして用いられるCTDは、主に合成樹脂などから構成されているが、衝突試験の結果得られるデータは非常に重要であり且つ正確でなければならないことから、衝撃や荷重に対する変形特性などを人体に限りなく近づけて構成する必要がある。このため、CTDにおいては、主に頭部、腰部及び脚部などが所定の基準に適合するものであるか否かの検定試験が行われている。
【0003】
図8は、CTDの首部特性試験装置の一部側面図、図9は、この試験装置の一部正面図である。
首部特性試験装置100は、支持鉄骨101に連結軸111を介して回動可能に吊設されたネックペンデュラム102及びこのネックペンデュラム102を回動させるためのペンデュラムガイド103を備えて構成されており、ネックペンデュラム102の下方にダミーネック110を介してダミーヘッド109が取り付けられている。ネックペンデュラム102とペンデュラムガイド103とは、ネックペンデュラム102の下部近傍に設けられた吸着用プレート106にペンデュラムガイド103の下部近傍に設けられた電磁石105を吸着させることにより、連動可能に結合されている。また、ネックペンデュラム102の下部近傍には、衝突用プレート113及び加速度計108が設けられ、ペンデュラムガイド103には、電磁石105の磁力が弱まって吸着用プレート106から電磁石105が離れた場合に、ネックペンデュラム102が独自に回動してしまうことを防止する安全ストッパ112が備えられている。なお、ペンデュラムガイド103には、図示しない引上げワイヤを引掛けてペンデュラムガイド103と共にネックペンデュラム102を連結軸111を中心として所定位置まで引上げるように回動させるための引上げワイヤフック104が備えられている。
【0004】
このように構成された首部特性試験装置100では、引上げワイヤフック104に引上げワイヤを引掛けてネックペンデュラム102を所定位置まで回動させた後に、安全ストッパ112を外して電磁石105と吸着用プレート106との結合状態を解除し、ネックペンデュラム102を自由落下させて検定試験を行う。また、図10に示すように、他の首部特性試験装置100´としては、上記引上げワイヤフック104、電磁石105、吸着用プレート106及び安全ストッパ112などを備える代わりに、連結軸111と同軸にクラッチ機構120を介して回転軸121を配置したモータ122を備え、モータ122の駆動力によりネックペンデュラム102を所定位置まで回動させた後にクラッチ機構120のクラッチを滑らせてネックペンデュラム102を自由落下させて検定試験を行うものもある。なお、出願人は、先行技術文献情報の調査を行ったが、特許を受けようとする本発明に関連すると思われる適切な先行技術文献情報が見当たらなかったため、先行技術文献情報を記載することはできなかった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、例えば上述した首部特性試験装置100では、電磁石105と吸着用プレート106との吸着によるネックペンデュラム102とペンデュラムガイド103との結合状態を解除してから、ネックペンデュラム102を自由落下させて検定試験を行う必要があるため、ネックペンデュラム102をペンデュラムガイド103から引き離す際にネックペンデュラム102が揺れて検定結果に影響を与え、正確性を欠いてしまう場合がある。また、停電等により電磁石105の磁力がなくなりネックペンデュラム102がペンデュラムガイド103から離れて不意に自由落下することを防止するため、安全ストッパ112を必ず設けなければならないと共に、ネックペンデュラム102の回動高さを検知するためのセンサ等も必要であるため、首部特性試験装置100を構成する部品を減らし小型化を図ることが非常に困難であるという問題がある。
【0006】
更に、例えば上述した首部特性試験装置100´では、クラッチ機構120が必要となりモータ122周りの小型化が困難であると共に、ネックペンデュラム102の回動高さをモータ122の回転数から計算するためのロータリーエンコーダ等の部品が必要となるため、やはり首部特性試験装置100´の小型化を図ることが困難であるという問題がある。
【0007】
この発明は、このような問題点に鑑みてなされたもので、安全性を向上させると共に小型化を図ることができるダミー検定試験装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この発明に係るダミー検定試験装置は、CTDに衝撃子を衝突させ前記CTDの変形特性を検定するダミー検定試験装置であって、前記CTDを取付固定する取付台と、この取付台を上下に昇降させる昇降機構と、この昇降機構を介して前記取付台を支持する基台と、この基台から立設された支持フレームと、この支持フレームに設けられた支持部材と、この支持部材に一端が回動可能に連結され他端に前記衝撃子が取り付けられた、前記支持部材に吊設されたペンデュラムと、前記支持部材に配設された、前記ペンデュラムを回動させる回動機構とを備え、前記回動機構は、前記ペンデュラムを回動させる駆動力を発生させるモータと、このモータの回転数を変換して伝達する変速装置と、この変速装置を介して前記モータに接続された、前記ペンデュラムの前記支持部材との連結軸と同軸に配置された回転軸を有する回転部と、この回転部と接続された、前記回転軸と非同軸上に配置され前記ペンデュラムの長手方向と交差する方向に延びる、前記ペンデュラムと当接して前記ペンデュラムをその回動方向に沿って持上げるように回動させる持上げレバー部とを備えた回動部とを備えたことを特徴とする。
【0009】
この発明によれば、支持部材に吊設されたペンデュラムを回動させる回動機構が、モータと変速装置と回動部とから構成され、回動部がペンデュラムと当接してペンデュラムをその回動方向に沿って持上げるように回動させる持上げレバー部を備えているため、別途引上げワイヤや引上げワイヤフック、電磁石及びペンデュラムガイドなどの部品が不要となり、ダミー検定試験装置全体の小型化を図ることが可能となる。また、回動部の持上げレバー部がペンデュラムを回動方向に対して下から支えて回動させるため、停電等によりモータの回転が停止した場合においても別途安全ストッパなどを設けなくてもペンデュラムの自由落下を防止することができ、ダミー検定試験装置の小型化のみならず安全性の向上も図ることができる。
【0010】
なお、この発明のダミー検定試験装置における回動機構は、例えばモータにより回動部の回転部を所定方向に第1の速度で回動させてペンデュラムを連結軸を中心として衝撃子が所定位置まで持上げられるように回動部の持上げレバー部で回動させると共に、モータにより回動部の回転部を所定方向と反対方向に第1の速度よりも速い第2の速度で回動させて回動部の持上げレバー部をペンデュラムから引き離しペンデュラムを連結軸を中心として自由落下させ衝撃子が所定の衝突速度でCTDと衝突するように回動させるものであると良い。
【0011】
また、回動機構の回動部は、例えば回転部と持上げレバー部との間に両者を連結する、持上げレバー部がペンデュラムの一端から所定量離れた位置に当接するようにペンデュラムの長手方向にほぼ沿って延びる連結アーム部を更に備えたものであると良い。
【0012】
なお、この発明のダミー検定試験装置は、例えば衝撃子のCTDへの衝突速度を測定するセンサ部を更に備えて構成されていると良い。この場合、センサ部は、例えば支持フレームの衝撃子が通過する位置と対応する位置に備えられることが考えられる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、添付の図面を参照して、この発明の好ましい実施の形態を説明する。
図1は、この発明の一実施形態に係るダミー検定試験装置を示す全体側面図、図2は、このダミー検定試験装置を示す全体背面図である。
図1及び図2に示すように、ダミー検定試験装置1は、例えばCTDの脚部90を取付固定するための取付台としてのダミー取付台2と、このダミー取付台2を図1中矢印Aで示す上下の方向(A方向)に昇降させるリンク機構からなる昇降機構としての昇降装置3と、この昇降装置3を介してダミー取付台2を支持する支持台4と、この支持台4を支えるレール状の架台4aと、この架台4aを介して支持台4が載置され固定されたベース板5と、このベース板5から立設された複数の支持フレーム7(7a,7b)と、これら支持フレーム7a,7bの上端部近傍に架設された、ペンデュラム10を支持する支持部材としてのペンデュラム支持部8と、このペンデュラム支持部8に一端が回動可能に連結され他端に衝撃子としてのインパクタ9が取り付けられた、ペンデュラム支持部8に吊設されたペンデュラム10と、このペンデュラム10を図1中矢印Bで示す方向(B方向)に回動させてインパクタ9を図1中矢印Cで示す方向(C方向)に所定位置まで持上げるように回動させるための、ペンデュラム支持部8に配設された回動機構としての回動装置20とから構成されている。
【0014】
なお、このダミー検定試験装置1では、支持台4と架台4aとベース板5とでダミー検定試験装置1の基台6を構成している。また、昇降装置3のリンク機構は、例えばいわゆるXリンク機構からなり、回転ハンドル状の昇降操作部3aを回転操作することによりダミー取付台2が支持台4などに対してA方向に上下に昇降する構造となっている。また、例えば複数の支持フレーム7のうちの一方の支持フレーム7aの所定位置には、回動装置20を含むダミー検定試験装置1の動作を制御するためのコントロールBOX21が配設され、容易にアクセスしてダミー検定試験装置1を制御することができる構造となっている。
【0015】
図3は、この回動装置20を示すダミー検定試験装置1の一部拡大正面図、図4は、この回動装置20を示すダミー検定試験装置1の一部拡大側面図である。
回動装置20は、図3及び図4に示すように、例えばペンデュラム支持部8に吊設されたペンデュラム10を、図1及び図4に示すB方向に回動させるための駆動力を発生させるパルスモータなどからなるモータ22と、このモータ22の回転数を所定の回転数に変換して伝達するための変速装置23と、この変速装置23を介してモータ22に接続された、ペンデュラム10をB方向に回動させる回動部24とから構成されている。なお、図4に示すように、モータ22と変速装置23とは、カップリング29を介して接続され、例えば変速装置23には、モータ22の回転数を100分の1の回転数に変換する図示しないギア機構が備えられている。
【0016】
回動装置20の一部を構成する回動部24は、このダミー検定試験装置1の回動装置20では、ペンデュラム支持部8とペンデュラム10との連結軸11と同軸に配置された回転軸25を有する回転部26と、この回転部26の円盤状部26aの外周部近傍面から回転軸25と非同軸上に配置され、ペンデュラム10の長手方向と交差する方向に延びた棒状の持上げレバー部27とから構成されている。この持上げレバー部27は、回転部26がB方向に回動するに伴い、ペンデュラム10と当接してペンデュラム10をB方向に沿って下から持上げるようにして回動させるものである。
【0017】
なお、ペンデュラム10のB方向への回動に伴ってC方向の所定位置に持上げられるインパクタ9の側端部には、図2〜図4に示すように、ダミー取付台2に取付固定された衝突試験用ダミーの脚部90(図1参照)へのインパクタ9の衝突速度を測定するための計測フィン28が設けられており、図2に示すように、例えば支持フレーム7aのインパクタ9が通過する位置と対応する位置には、衝突速度を測定するためのセンサ部30が設けられている。このセンサ部30は、例えば発光素子31と受光素子32(図2参照)とを備えるフォトセンサからなり、計測フィン28は、図5に示すように、上方から見てコの字状に形成されている。このため、このダミー検定試験装置1では、発光素子31から出射された光が受光素子32で受光されている状態において、この計測フィン28が通過することによりその光を遮る時間を、計測フィン28のセンサ部30への一度の通過で2度計測することが可能であり、このようにして計測した時間や回動装置20のモータ22の回転数などから得られたインパクタ9の自由落下前の高さ位置などに基づきコントロールBOX21内の図示しない処理回路等で所定の演算処理をすることにより衝突速度を算出している。
【0018】
このように構成されたダミー検定試験装置1では、例えばペンデュラム10を持上げる場合、回動装置20のモータ22の正転回転時の回転数を変速装置23で、回動部24がゆっくり回転する回転数に変換し、回動部24をその回転数で回動させる。すると回動部24の回転部26がゆっくりと回転し、回動部24の持上げレバー部27がペンデュラム10をインパクタ9が所定位置まで持上がるようにゆっくりと持上げる。このとき、例えば停電等によりモータ22の動きが止まったとしても、回動部24の持上げレバー部27がペンデュラム10を下から支えているため、ペンデュラム10が自由落下して事故などに繋がる事態を未然に防ぐことが可能となり、ダミー検定試験装置1の安全性を向上させることができる。
【0019】
一方、インパクタ9を所定位置まで持上げた後に検定試験を開始する場合、回動装置20のモータ22の逆転回転時の回転数を変速装置23で、持上げレバー部27がペンデュラム10から離れてペンデュラム10と再接触しないように素早くB方向に移動するように、即ちペンデュラム10の自由落下よりも速く回動部24が回転する回転数に変換して回動部24に伝達する。すると、回動部24の回転部26が素早く回転し、それに伴って回動部24の持上げレバー部27がペンデュラム10から瞬間的に離れ、離れたままの状態を保ちながら素早く回転する。従って、ペンデュラム10はダミー取付台2の方へ自由落下する。このように、このダミー検定試験装置1では、ペンデュラム10の自由落下において、従来のダミー検定試験装置のように引上げワイヤなどでペンデュラムを引き上げ、電磁石の吸着力をなくしてペンデュラムを自由落下させていた場合に比べ、正確性を阻害する他の要因が皆無であるため、検定試験結果も極めて正確なものを得ることが可能となる。
【0020】
また、このダミー検定試験装置1ではペンデュラム10を回動させ安全性を向上させるために、モータ22、変速装置23及び回動部24からなるコンパクトな回動装置20のみを採用すれば足りるため、従来のものよりもダミー検定試験装置全体の部品を削減して、コストダウンや小型化を図ることが可能となる。
【0021】
図6は、他の回動装置20´を示すダミー検定試験装置1の一部拡大正面図、図7は、この回動装置20´を示すダミー検定試験装置1の一部拡大側面図である。なお、以降において、既に説明した部分と重複する説明は割愛する。
図6及び図7に示すように、この回動装置20´は、回動部24の回転部26と持上げレバー部27との間に、ペンデュラム10の長手方向にほぼ沿って延びる連結アーム部40を備え、この連結アーム部40が回動部24と回転部26の円盤状部26aとを接続すると共に持上げレバー部27をペンデュラム10の両端部間の所定位置に当接させる点及び持上げレバー部27のペンデュラム10との接触面積が広くなっている点が、先の例の回動装置20と相違している。この回動装置20´によれば、ペンデュラム10を持上げる力が、先の例のものよりも少なくてすむため、検定試験における省電力化を図ることができる。
【0022】
【発明の効果】
以上述べたように、この発明によれば、支持部材に吊設されたペンデュラムを回動させる回動機構が、モータと変速装置と回動部とから構成され、回動部がペンデュラムと当接してペンデュラムをその回動方向に沿って持上げるように回動させる持上げレバー部を備えているため、別途引上げワイヤや引上げワイヤフック、電磁石及びペンデュラムガイドなどの部品が不要となり、ダミー検定試験装置全体の小型化を図ることが可能となる。また、回動部の持上げレバー部がペンデュラムを回動方向に対して下から支えて回動させるため、停電等によりモータの回転が停止した場合においても別途安全ストッパなどを設けなくてもペンデュラムの自由落下を防止することができ、ダミー検定試験装置の小型化のみならず安全性の向上も図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態に係るダミー検定試験装置を示す全体側面図である。
【図2】同検定試験装置を示す全体背面図である。
【図3】同検定試験装置の回動装置を示す同検定試験装置の一部拡大正面図である。
【図4】同回動装置を示す同検定試験装置の一部拡大側面図である。
【図5】同検定試験装置のインパクタを示す上面図である。
【図6】他の回動装置を示す同検定試験装置の一部拡大正面図である。
【図7】同他の回動装置を示す同検定試験装置の一部拡大側面図である。
【図8】従来のCTDの首部特性試験装置の一部側面図である。
【図9】同特性試験装置の一部正面図である。
【図10】従来の他のCTDの首部特性試験装置の一部正面図である。
【符号の説明】1…ダミー検定試験装置、2…ダミー取付台、3…昇降装置、4…支持台、4a…架台、5…ベース板、6…基台、7…支持フレーム、8…ペンデュラム支持部、9…インパクタ、10…ペンデュラム、11…、20,20´…回動装置、21…コントロールBOX、22…モータ、23…変速装置、24…回動部、25…回転軸、26…回転部、26a…円盤状部、27…持上げレバー部、28…計測フィン、29…カップリング、30…センサ部、31…発光素子、32…受光素子、40…連結アーム部、90…脚部。
Claims (5)
- 衝突試験用ダミーに衝撃子を衝突させ前記衝突試験用ダミーの変形特性を検定するダミー検定試験装置であって、
前記衝突試験用ダミーを取付固定する取付台と、
この取付台を上下に昇降させる昇降機構と、
この昇降機構を介して前記取付台を支持する基台と、
この基台から立設された支持フレームと、
この支持フレームに設けられた支持部材と、
この支持部材に一端が回動可能に連結され他端に前記衝撃子が取り付けられた、前記支持部材に吊設されたペンデュラムと、
前記支持部材に配設された、前記ペンデュラムを回動させる回動機構とを備え、
前記回動機構は、
前記ペンデュラムを回動させる駆動力を発生させるモータと、
このモータの回転数を変換して伝達する変速装置と、
この変速装置を介して前記モータに接続された、前記ペンデュラムの前記支持部材との連結軸と同軸に配置された回転軸を有する回転部と、この回転部と接続された、前記回転軸と非同軸上に配置され前記ペンデュラムの長手方向と交差する方向に延びる、前記ペンデュラムと当接して前記ペンデュラムをその回動方向に沿って持上げるように回動させる持上げレバー部とを備えた回動部とを備えた
ことを特徴とするダミー検定試験装置。 - 前記回動機構は、
前記モータにより前記回動部の回転部を所定方向に第1の速度で回動させて前記ペンデュラムを前記連結軸を中心として前記衝撃子が所定位置まで持上げられるように前記回動部の持上げレバー部で回動させると共に、前記モータにより前記回動部の回転部を前記所定方向と反対方向に前記第1の速度よりも速い第2の速度で回動させて前記回動部の持上げレバー部を前記ペンデュラムから引き離し前記ペンデュラムを前記連結軸を中心として自由落下させ前記衝撃子が所定の衝突速度で前記衝突試験用ダミーと衝突するように回動させるものである
ことを特徴とする請求項1記載のダミー検定試験装置。 - 前記回動機構の回動部は、前記回転部と前記持上げレバー部との間に両者を連結する、前記持上げレバー部が前記ペンデュラムの一端から所定量離れた位置に当接するように前記ペンデュラムの長手方向にほぼ沿って延びる連結アーム部を更に備えたものである
ことを特徴とする請求項1又は2記載のダミー検定試験装置。 - 前記衝撃子の前記衝突試験用ダミーへの衝突速度を測定するセンサ部を更に備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載のダミー検定試験装置。
- 前記センサ部は、前記支持フレームの前記衝撃子が通過する位置と対応する位置に備えられたものであることを特徴とする請求項4記載のダミー検定試験装置。
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