JP2005005236A - プラズマ発生装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】プラズマ放電の安定化等を実現するプラズマ発生装置を提供する。
【解決手段】放電室内に、カソード16、アノード21A,21B、筒状のシールド体22が設けられている。カソード16とアノード21A,21Bとの間に放電電圧を印加するための放電電源18、放電室内に放電用ガスを供給するための手段を備えており、放電室内で形成されたプラズマ中の電子をアノード21A,21Bの開口部内側にあるシールド体22の一部を通して放電室外の真空容器中に照射させるように構成されている。カソード16に加熱電流を供給する電極棒31A,31Bは、空間をおいてカバー碍子34A,34Bで覆われている。
【選択図】 図4
【解決手段】放電室内に、カソード16、アノード21A,21B、筒状のシールド体22が設けられている。カソード16とアノード21A,21Bとの間に放電電圧を印加するための放電電源18、放電室内に放電用ガスを供給するための手段を備えており、放電室内で形成されたプラズマ中の電子をアノード21A,21Bの開口部内側にあるシールド体22の一部を通して放電室外の真空容器中に照射させるように構成されている。カソード16に加熱電流を供給する電極棒31A,31Bは、空間をおいてカバー碍子34A,34Bで覆われている。
【選択図】 図4
Description
【0001】
【発明の属する分野】
本発明は、内部で発生させたプラズマから電子を外部に導くように成したプラズマ発生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
イオンプレーティング装置やプラズマCVD装置等の薄膜形成装置にプラズマ発生装置が利用されている。
【0003】
図1は、プラズマ発生装置を備えたイオンプレーティング装置の概略を示し、図2はプラズマ発生装置の詳細を示している。図中1はイオンプレーティング装置の真空容器で、この真空容器の底部には、被蒸発材料2を収容した坩堝3、該被蒸発材料に電子ビームを照射するための電子銃4が設けられている。一方、真空容器の上部には、基板電源5から負の電圧が印加されている基板6が取り付けられている。図中7は真空容器の底部に支持台8により支持されたプラズマ発生装置で、その詳細は後述するが、該プラズマ発生装置からの電子ビームが、前記基板6と坩堝3の間に照射されるように成している。図中9は真空ポンプ、10はバルブ、11は反応ガスボンベ、12はバルブ、13は放電ガスボンベ、14はバルブである。
【0004】
図2は前記プラズマ発生装置の概略を示しており、15は放電室を形成するケースである。該ケース内にはカソード16が配置されており、該カソードは加熱電源17に接続されていると共に、放電電源18にも接続されている。該ケースには放電ガス供給管19が設けられており、前記放電ガスボンベ13から該放電ガス供給管19を介してArガスの如き不活性ガスがケース内に導入される。該ケースの一方の端部には、ケース15に碍子20を介してリング状の第1アノード21Aが設けられている。この第1アノードは、例えばステンレスなどで形成され、且つ環状に形成されており、第1アノード21Aを含め放電室の他の部品の熱に依る損傷を防止する為に、該第1アノード内には冷却水が流されている。又、この第1アノードの反カソード側には高融点材料(例えば、モリブデン)製でリング状の第2アノード21Bが接続されている。この第1カソード21Aと第2アノード21Bの接続は、互いの間の熱抵抗が大きくなるように、互いの一部分同士が繋がれることにより行われている。又、各アノードの内側には、前記カソード16からの電子が該各アノードに直接照射されないようにシールド電極22が配置されている。尚、このシールド電極22の先端部は電子ビームを通過させるオリフィスを成している。前記ケース15は抵抗R1を介して前記放電電源18に接続され、前記アノード21A,21Bは抵抗R2を介して放電電源18に接続されている。更に、前記真空容器1は抵抗R3を介して放電電源18接続されている。尚、これらの抵抗の抵抗値は、通常、R1≫R3>R2とされており、前記放電電源18に流れる電流の大部分は、アノード21A,21Bとカソード16との間で放電電流となる。図中23はケース内の放電電流を整形するための電磁石を構成するコイルで、ケースの外側に設けられている。
【0005】
この様な構成のイオンプレーティング装置において、先ず、バルブ10を開き、真空容器1とケース15内を真空ポンプ9により所定の圧力になるまで排気する。そして、バルブ14を開き、ケース15内に放電ガス供給管19を介して放電ガスボンベ13から放電ガス(例えば、Arガス)を所定量導入し、ケース15内の圧力を高め、カソード16を加熱電源17により熱電子放出可能な温度にまで加熱する。
【0006】
次に、コイル23に所定の電流を流し、プラズマの点火と安定なプラズマを維持するのに必要な磁場を電子ビームの軸方向に発生させる。この状態において、カソード16と第1及び第2アノード21A,21Bに放電電源18から所定の電圧を印加すると、カソード16とケース15との間で初期放電が発生する。この初期放電がトリガとなってケース15内にプラズマが発生する。この放電プラズマ中の電子は、前記コイル23が形成する磁場の影響で、電子ビームの軸方向に集束を受け、シールド電極22の第2アノード21Bに近い側の先端近傍に発生する加速電界により真空容器1内へと引き出される。
【0007】
一方、真空容器1の内部においては、被蒸発材料2に向けて電子銃4からの電子ビームが照射され、該被蒸発材料は加熱されて蒸発させられる。又、真空容器1内には、バルブ12が開かれることにより、反応ガスボンベ11から反応ガス(例えば、酸素ガス)が導入される。前記プラズマ発生装置7から引き出された電子ビームは、前記真空容器1内に導入された反応ガスや蒸発粒子と衝突し、それらを励起、イオン化させて真空容器1内にプラズマPを形成する。該プラズマ中のイオン化された蒸発粒子と反応ガスは、基板6に引き寄せられて付着或いはイオン衝撃を行い、該基板上には蒸発粒子の成膜が成される。
【0008】
尚、プラズマ発生装置7から真空容器1内に引き出された電子及びプラズマP中の電子は、真空容器1や第1及び第2アノード21A,21Bに流れ込み、安定な放電が維持される。又、プラズマPの強さは、放電ガスの流量やカソード16の加熱温度によって制御することが出来る。又、抵抗R2とR3について、これらの抵抗値の関係を、R3>R2としたが、この抵抗値の関係を、 R3=R2、R3>R2、R3<R2、R3≪R2と任意に変えることにより、アノード21A,21Bと真空容器1に流れる電流量を自由に選択することが出来る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
図3は、前記カソード16と、該カソードに加熱電源17からの電流を供給するリード線近傍の概略を示している。
【0010】
前記カソード16は、例えば、1mm径のタングステン線から成り、熱電子を放出するためにその表面温度は、例えば、2200°C程度に加熱される。
【0011】
この様な高い温度に加熱するので、カソード16へ供給される電流は、例えば、50A程度の大電流となり、その為に、カソード16と加熱電源17を結ぶリード線は、固有抵抗が低く、熱伝導率の高い鋼材を棒状に成したもの31A,31B(以後、電極棒と称す)が使用される。
【0012】
図中32A,32Bはカソードを固定している直方体状のカソードホルダーで、例えば、モリブデンなどの高融点金属で作られている。
【0013】
尚、33はケース15と電極棒31A,31Bとの間を絶縁する環状の碍子である。
【0014】
さて、前に述べた様に、プラズマ発生装置7から真空容器1内に引き出された電子及びプラズマP中の電子は、真空容器1や第1及び第2アノード21A,21Bに流れ込み、安定な放電が維持される。即ち、カソード16から熱電子が放出される方向と逆の方向に、プラズマ電流がカソード16に流れ込む。
【0015】
この時、カソード16に電流を供給している電極棒31A,31Bやカソードホルダー32A,32Bもプラズマに曝されているため、カソード16と同電位にある電極棒31A,31Bやカソードホルダー32A,32Bにプラズマ中の正イオンが衝突し、電極棒31A,31Bやカソードホルダー32A,32Bから二次電子が放出されるようになる。
【0016】
この二次電子の量に比例して、カソード16だけではなく、電極棒31A,31Bやカソードホルダー32A,32Bにもプラズマ電流が流れるが、特に、銅を使用している電極棒31は、モリブデンを使用しているカソードホルダー32A,32Bより二次電子の放出量が多い。
【0017】
従って、プラズマ中の正イオンは電極棒31A,31Bに集中し、電極棒31A,31Bが極めて高温に加熱されてしまうので、電極棒31A,31Bを、例えば、冷却水で冷却しなければならならず、プラズマ発生装置の構成が複雑となるばかりか、装置全体が大きくなる。
【0018】
又、プラズマ中の正イオンが電極棒31に集中することから、電極棒31A,31Bが正イオンによりスパッタされ、スパッタ粒子が碍子33に付着してしまう。絶縁性材料で作られている碍子33にスパッタ粒子(銅粒子)が付着すると、碍子33の電気的絶縁性が劣化し、プラズマ発生装置の動作に支障を来す。
【0019】
又、電極棒31A,31Bが正イオンによりスパッタされたり、電極棒31A,31Bが高温に加熱されることにより吸着していたガスを盛んに放出することにより、スパッタされた箇所やガス放出した箇所にプラズマ電流が集中して流れ、その箇所が溶断してしまうことがある。
【0020】
本発明は、この様な問題点を解決する為になされたもので、新規なプラズマ発生装置を提供することを目的とするものである。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明のプラズマ発生装置は、放電室と、該放電室内に配置されたカソードと、該放電室の端部に配置されたアノードと、前記カソードに対して少なくとも前記アノードを囲うように前記放電室内に取り付けられた筒状のシールド体と、前記カソードに加熱用電源からの電流を送るための電流供給部材と、前記カソードと前記アノードとの間に放電電圧を印加するための放電電源と、前記放電室内に放電用ガスを供給するための手段を備え、前記電流供給部材と放電室壁の間に絶縁部材が設けられており、前記放電室内で形成されたプラズマ中の電子を前記アノードの開口部内側にある前記シールド体の一部を通して前記放電室外の真空容器中に照射させるように構成したプラズマ発生装置において、前記電流供給部材を絶縁性材料で覆ったことを特徴とする。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【0023】
図4は本発明のプラズマ発生装置の主要部(カソードと、該カソードに加熱電源17からの電流を供給する電極棒周辺部)の一例を示している。又、図5はその斜視図である(尚、この図ではケース15を示さなかった)。尚、図中、前記図3にて使用した番号と同一番号の付されたものは同一構成要素である。
【0024】
図4及び図5に示された装置が、図3で示された装置と構成上で異なるところは次の通りである。
【0025】
図4及び図5で示された装置においては、直方体状のカソードホルダー32A′,32B′の碍子33に対向する部分に環状の穴Ha,Hbが形成されており、この穴の中に、カソード16に繋がるように電極棒31A,31Bが挿入されている。又、この電極棒31A,31B各々の周囲を、例えば、窒化珪素の如き熱衝撃に強い電気絶縁性材料から形成された環状のカバー碍子34A,34Bが電極棒31A,31Bとの間に空間をおいて覆っている。尚、カバー碍子34A,34Bの先端部は、少なくとも穴Ha,Hbの一部に入り込むように取り付けられている。
【0026】
この様な構成のプラズマ発生装置を、例えば、図1に示す如きイオンプレーティング装置に応用した場合、次のように動作する。
【0027】
先ず、バルブ10を開き、真空容器1とケース15内を真空ポンプ9により所定の圧力になるまで排気する。そして、バルブ14を開き、ケース15内に放電ガス供給管19を介して放電ガスボンベ13から放電ガス(例えば、Arガス)を所定量導入し、ケース15内の圧力を高め、カソード16を加熱電源17により熱電子放出可能な温度にまで加熱する。
【0028】
次に、コイル23に所定の電流を流し、プラズマの点火と安定なプラズマを維持するのに必要な磁場を電子ビームの軸方向に発生させる。この状態において、カソード16と第1,第2アノード21A,21Bに放電電源18から所定の電圧を印加すると、カソード16とケース15との間で初期放電が発生する。この初期放電がトリガとなってケース15内にプラズマが発生する。この放電プラズマ中の電子は、前記コイル23が形成する磁場の影響で、電子ビームの軸方向に集束を受け、シールド電極22の第2アノード21Bに近い側の先端近傍に発生する加速電界により真空容器1内へと引き出される。尚、カソード16からの熱電子は、シールド電極22により、直接第1アノード21Aに照射されることはない。
【0029】
一方、真空容器1の内部においては、被蒸発材料2に向けて電子銃4からの電子ビームが照射され、該被蒸発材料は加熱されて蒸発させられる。又、真空容器1内には、バルブ12が開かれることにより、反応ガスボンベ11から反応ガス(例えば、酸素ガス)が導入される。前記プラズマ発生装置7から引き出された電子ビームは、前記真空容器1内に導入された反応ガスや蒸発粒子と衝突し、それらを励起、イオン化させて真空容器1内にプラズマPを形成する。該プラズマ中のイオン化された蒸発粒子と反応ガスは、基板6に引き寄せられて付着或いはイオン衝撃を行い、該基板上には蒸発粒子の成膜が成される。
【0030】
さて、プラズマ発生装置7から真空容器1内に引き出された電子及びプラズマP中の電子は、真空容器1や第1及び第2アノード21A,21Bに流れ込み、安定な放電が維持される。即ち、カソード16から熱電子が放出される方向と逆の方向に、プラズマ電流がカソード16に流れ込む。
【0031】
この時、電極棒31A,31Bを空間をおいて覆っているカバー碍子34A,34Bがプラズマに曝されるが、カバー碍子34A,34Bは絶縁材料で形成されているため、負のフローテイングバイアスがかかる程度で、カソードの電位より可成り低く、正イオンによるスパッタをあまり受けない。従って、カバー碍子によって電極棒31A,31Bには殆どプラズマ電流は流れず、電極棒31A,31Bは高温に加熱されることがないので、積極的に冷却水などによる冷却を行う必要がない。
【0032】
又、仮に、カバー碍子34A,34Bが多少正イオンによるスパッタを受けて、少量のスパッタ粒子が碍子33に付着したとしても、スパッタ粒子は絶縁性物質であるために、碍子33の電気的絶縁性に何ら影響を与えない。
【0033】
又、カバー碍子34A,34Bには殆どプラズマ電流が流れないので、プラズマ電流の集中による溶断等の発生はない。
【図面の簡単な説明】
【図1】プラズマ発生装置を備えたイオンプレーティング装置の概略を示している。
【図2】従来のプラズマ発生装置の概略を示している。
【図3】従来のプラズマ発生装置の主要部の一例を示している。
【図4】本発明のプラズマ発生装置の主要部の一例を示している。
【図5】本発明のプラズマ発生装置の主要部の斜視図である。
【符号の説明】
1…真空容器
2…被蒸発材料
3…坩堝
4…電子銃
5…基板電源
6…基板
7…プラズマ発生装置
8…支持台
9…真空ポンプ
10…バルブ
11…反応ガスボンベ
12…バルブ
13…放電ガスボンベ
14…バルブ
15…ケース
16…カソード
17…加熱電源
18…放電電源
19…放電ガス供給管
20…碍子
22…シールド電極
21A…第1アノード
21B…第2アノード
31A,31B…電極棒
32A,32B,32A′,32B′…カソードホルダー
Ha,Hb…孔
33…碍子
34A,34B…カバー碍子
【発明の属する分野】
本発明は、内部で発生させたプラズマから電子を外部に導くように成したプラズマ発生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
イオンプレーティング装置やプラズマCVD装置等の薄膜形成装置にプラズマ発生装置が利用されている。
【0003】
図1は、プラズマ発生装置を備えたイオンプレーティング装置の概略を示し、図2はプラズマ発生装置の詳細を示している。図中1はイオンプレーティング装置の真空容器で、この真空容器の底部には、被蒸発材料2を収容した坩堝3、該被蒸発材料に電子ビームを照射するための電子銃4が設けられている。一方、真空容器の上部には、基板電源5から負の電圧が印加されている基板6が取り付けられている。図中7は真空容器の底部に支持台8により支持されたプラズマ発生装置で、その詳細は後述するが、該プラズマ発生装置からの電子ビームが、前記基板6と坩堝3の間に照射されるように成している。図中9は真空ポンプ、10はバルブ、11は反応ガスボンベ、12はバルブ、13は放電ガスボンベ、14はバルブである。
【0004】
図2は前記プラズマ発生装置の概略を示しており、15は放電室を形成するケースである。該ケース内にはカソード16が配置されており、該カソードは加熱電源17に接続されていると共に、放電電源18にも接続されている。該ケースには放電ガス供給管19が設けられており、前記放電ガスボンベ13から該放電ガス供給管19を介してArガスの如き不活性ガスがケース内に導入される。該ケースの一方の端部には、ケース15に碍子20を介してリング状の第1アノード21Aが設けられている。この第1アノードは、例えばステンレスなどで形成され、且つ環状に形成されており、第1アノード21Aを含め放電室の他の部品の熱に依る損傷を防止する為に、該第1アノード内には冷却水が流されている。又、この第1アノードの反カソード側には高融点材料(例えば、モリブデン)製でリング状の第2アノード21Bが接続されている。この第1カソード21Aと第2アノード21Bの接続は、互いの間の熱抵抗が大きくなるように、互いの一部分同士が繋がれることにより行われている。又、各アノードの内側には、前記カソード16からの電子が該各アノードに直接照射されないようにシールド電極22が配置されている。尚、このシールド電極22の先端部は電子ビームを通過させるオリフィスを成している。前記ケース15は抵抗R1を介して前記放電電源18に接続され、前記アノード21A,21Bは抵抗R2を介して放電電源18に接続されている。更に、前記真空容器1は抵抗R3を介して放電電源18接続されている。尚、これらの抵抗の抵抗値は、通常、R1≫R3>R2とされており、前記放電電源18に流れる電流の大部分は、アノード21A,21Bとカソード16との間で放電電流となる。図中23はケース内の放電電流を整形するための電磁石を構成するコイルで、ケースの外側に設けられている。
【0005】
この様な構成のイオンプレーティング装置において、先ず、バルブ10を開き、真空容器1とケース15内を真空ポンプ9により所定の圧力になるまで排気する。そして、バルブ14を開き、ケース15内に放電ガス供給管19を介して放電ガスボンベ13から放電ガス(例えば、Arガス)を所定量導入し、ケース15内の圧力を高め、カソード16を加熱電源17により熱電子放出可能な温度にまで加熱する。
【0006】
次に、コイル23に所定の電流を流し、プラズマの点火と安定なプラズマを維持するのに必要な磁場を電子ビームの軸方向に発生させる。この状態において、カソード16と第1及び第2アノード21A,21Bに放電電源18から所定の電圧を印加すると、カソード16とケース15との間で初期放電が発生する。この初期放電がトリガとなってケース15内にプラズマが発生する。この放電プラズマ中の電子は、前記コイル23が形成する磁場の影響で、電子ビームの軸方向に集束を受け、シールド電極22の第2アノード21Bに近い側の先端近傍に発生する加速電界により真空容器1内へと引き出される。
【0007】
一方、真空容器1の内部においては、被蒸発材料2に向けて電子銃4からの電子ビームが照射され、該被蒸発材料は加熱されて蒸発させられる。又、真空容器1内には、バルブ12が開かれることにより、反応ガスボンベ11から反応ガス(例えば、酸素ガス)が導入される。前記プラズマ発生装置7から引き出された電子ビームは、前記真空容器1内に導入された反応ガスや蒸発粒子と衝突し、それらを励起、イオン化させて真空容器1内にプラズマPを形成する。該プラズマ中のイオン化された蒸発粒子と反応ガスは、基板6に引き寄せられて付着或いはイオン衝撃を行い、該基板上には蒸発粒子の成膜が成される。
【0008】
尚、プラズマ発生装置7から真空容器1内に引き出された電子及びプラズマP中の電子は、真空容器1や第1及び第2アノード21A,21Bに流れ込み、安定な放電が維持される。又、プラズマPの強さは、放電ガスの流量やカソード16の加熱温度によって制御することが出来る。又、抵抗R2とR3について、これらの抵抗値の関係を、R3>R2としたが、この抵抗値の関係を、 R3=R2、R3>R2、R3<R2、R3≪R2と任意に変えることにより、アノード21A,21Bと真空容器1に流れる電流量を自由に選択することが出来る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
図3は、前記カソード16と、該カソードに加熱電源17からの電流を供給するリード線近傍の概略を示している。
【0010】
前記カソード16は、例えば、1mm径のタングステン線から成り、熱電子を放出するためにその表面温度は、例えば、2200°C程度に加熱される。
【0011】
この様な高い温度に加熱するので、カソード16へ供給される電流は、例えば、50A程度の大電流となり、その為に、カソード16と加熱電源17を結ぶリード線は、固有抵抗が低く、熱伝導率の高い鋼材を棒状に成したもの31A,31B(以後、電極棒と称す)が使用される。
【0012】
図中32A,32Bはカソードを固定している直方体状のカソードホルダーで、例えば、モリブデンなどの高融点金属で作られている。
【0013】
尚、33はケース15と電極棒31A,31Bとの間を絶縁する環状の碍子である。
【0014】
さて、前に述べた様に、プラズマ発生装置7から真空容器1内に引き出された電子及びプラズマP中の電子は、真空容器1や第1及び第2アノード21A,21Bに流れ込み、安定な放電が維持される。即ち、カソード16から熱電子が放出される方向と逆の方向に、プラズマ電流がカソード16に流れ込む。
【0015】
この時、カソード16に電流を供給している電極棒31A,31Bやカソードホルダー32A,32Bもプラズマに曝されているため、カソード16と同電位にある電極棒31A,31Bやカソードホルダー32A,32Bにプラズマ中の正イオンが衝突し、電極棒31A,31Bやカソードホルダー32A,32Bから二次電子が放出されるようになる。
【0016】
この二次電子の量に比例して、カソード16だけではなく、電極棒31A,31Bやカソードホルダー32A,32Bにもプラズマ電流が流れるが、特に、銅を使用している電極棒31は、モリブデンを使用しているカソードホルダー32A,32Bより二次電子の放出量が多い。
【0017】
従って、プラズマ中の正イオンは電極棒31A,31Bに集中し、電極棒31A,31Bが極めて高温に加熱されてしまうので、電極棒31A,31Bを、例えば、冷却水で冷却しなければならならず、プラズマ発生装置の構成が複雑となるばかりか、装置全体が大きくなる。
【0018】
又、プラズマ中の正イオンが電極棒31に集中することから、電極棒31A,31Bが正イオンによりスパッタされ、スパッタ粒子が碍子33に付着してしまう。絶縁性材料で作られている碍子33にスパッタ粒子(銅粒子)が付着すると、碍子33の電気的絶縁性が劣化し、プラズマ発生装置の動作に支障を来す。
【0019】
又、電極棒31A,31Bが正イオンによりスパッタされたり、電極棒31A,31Bが高温に加熱されることにより吸着していたガスを盛んに放出することにより、スパッタされた箇所やガス放出した箇所にプラズマ電流が集中して流れ、その箇所が溶断してしまうことがある。
【0020】
本発明は、この様な問題点を解決する為になされたもので、新規なプラズマ発生装置を提供することを目的とするものである。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明のプラズマ発生装置は、放電室と、該放電室内に配置されたカソードと、該放電室の端部に配置されたアノードと、前記カソードに対して少なくとも前記アノードを囲うように前記放電室内に取り付けられた筒状のシールド体と、前記カソードに加熱用電源からの電流を送るための電流供給部材と、前記カソードと前記アノードとの間に放電電圧を印加するための放電電源と、前記放電室内に放電用ガスを供給するための手段を備え、前記電流供給部材と放電室壁の間に絶縁部材が設けられており、前記放電室内で形成されたプラズマ中の電子を前記アノードの開口部内側にある前記シールド体の一部を通して前記放電室外の真空容器中に照射させるように構成したプラズマ発生装置において、前記電流供給部材を絶縁性材料で覆ったことを特徴とする。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【0023】
図4は本発明のプラズマ発生装置の主要部(カソードと、該カソードに加熱電源17からの電流を供給する電極棒周辺部)の一例を示している。又、図5はその斜視図である(尚、この図ではケース15を示さなかった)。尚、図中、前記図3にて使用した番号と同一番号の付されたものは同一構成要素である。
【0024】
図4及び図5に示された装置が、図3で示された装置と構成上で異なるところは次の通りである。
【0025】
図4及び図5で示された装置においては、直方体状のカソードホルダー32A′,32B′の碍子33に対向する部分に環状の穴Ha,Hbが形成されており、この穴の中に、カソード16に繋がるように電極棒31A,31Bが挿入されている。又、この電極棒31A,31B各々の周囲を、例えば、窒化珪素の如き熱衝撃に強い電気絶縁性材料から形成された環状のカバー碍子34A,34Bが電極棒31A,31Bとの間に空間をおいて覆っている。尚、カバー碍子34A,34Bの先端部は、少なくとも穴Ha,Hbの一部に入り込むように取り付けられている。
【0026】
この様な構成のプラズマ発生装置を、例えば、図1に示す如きイオンプレーティング装置に応用した場合、次のように動作する。
【0027】
先ず、バルブ10を開き、真空容器1とケース15内を真空ポンプ9により所定の圧力になるまで排気する。そして、バルブ14を開き、ケース15内に放電ガス供給管19を介して放電ガスボンベ13から放電ガス(例えば、Arガス)を所定量導入し、ケース15内の圧力を高め、カソード16を加熱電源17により熱電子放出可能な温度にまで加熱する。
【0028】
次に、コイル23に所定の電流を流し、プラズマの点火と安定なプラズマを維持するのに必要な磁場を電子ビームの軸方向に発生させる。この状態において、カソード16と第1,第2アノード21A,21Bに放電電源18から所定の電圧を印加すると、カソード16とケース15との間で初期放電が発生する。この初期放電がトリガとなってケース15内にプラズマが発生する。この放電プラズマ中の電子は、前記コイル23が形成する磁場の影響で、電子ビームの軸方向に集束を受け、シールド電極22の第2アノード21Bに近い側の先端近傍に発生する加速電界により真空容器1内へと引き出される。尚、カソード16からの熱電子は、シールド電極22により、直接第1アノード21Aに照射されることはない。
【0029】
一方、真空容器1の内部においては、被蒸発材料2に向けて電子銃4からの電子ビームが照射され、該被蒸発材料は加熱されて蒸発させられる。又、真空容器1内には、バルブ12が開かれることにより、反応ガスボンベ11から反応ガス(例えば、酸素ガス)が導入される。前記プラズマ発生装置7から引き出された電子ビームは、前記真空容器1内に導入された反応ガスや蒸発粒子と衝突し、それらを励起、イオン化させて真空容器1内にプラズマPを形成する。該プラズマ中のイオン化された蒸発粒子と反応ガスは、基板6に引き寄せられて付着或いはイオン衝撃を行い、該基板上には蒸発粒子の成膜が成される。
【0030】
さて、プラズマ発生装置7から真空容器1内に引き出された電子及びプラズマP中の電子は、真空容器1や第1及び第2アノード21A,21Bに流れ込み、安定な放電が維持される。即ち、カソード16から熱電子が放出される方向と逆の方向に、プラズマ電流がカソード16に流れ込む。
【0031】
この時、電極棒31A,31Bを空間をおいて覆っているカバー碍子34A,34Bがプラズマに曝されるが、カバー碍子34A,34Bは絶縁材料で形成されているため、負のフローテイングバイアスがかかる程度で、カソードの電位より可成り低く、正イオンによるスパッタをあまり受けない。従って、カバー碍子によって電極棒31A,31Bには殆どプラズマ電流は流れず、電極棒31A,31Bは高温に加熱されることがないので、積極的に冷却水などによる冷却を行う必要がない。
【0032】
又、仮に、カバー碍子34A,34Bが多少正イオンによるスパッタを受けて、少量のスパッタ粒子が碍子33に付着したとしても、スパッタ粒子は絶縁性物質であるために、碍子33の電気的絶縁性に何ら影響を与えない。
【0033】
又、カバー碍子34A,34Bには殆どプラズマ電流が流れないので、プラズマ電流の集中による溶断等の発生はない。
【図面の簡単な説明】
【図1】プラズマ発生装置を備えたイオンプレーティング装置の概略を示している。
【図2】従来のプラズマ発生装置の概略を示している。
【図3】従来のプラズマ発生装置の主要部の一例を示している。
【図4】本発明のプラズマ発生装置の主要部の一例を示している。
【図5】本発明のプラズマ発生装置の主要部の斜視図である。
【符号の説明】
1…真空容器
2…被蒸発材料
3…坩堝
4…電子銃
5…基板電源
6…基板
7…プラズマ発生装置
8…支持台
9…真空ポンプ
10…バルブ
11…反応ガスボンベ
12…バルブ
13…放電ガスボンベ
14…バルブ
15…ケース
16…カソード
17…加熱電源
18…放電電源
19…放電ガス供給管
20…碍子
22…シールド電極
21A…第1アノード
21B…第2アノード
31A,31B…電極棒
32A,32B,32A′,32B′…カソードホルダー
Ha,Hb…孔
33…碍子
34A,34B…カバー碍子
Claims (4)
- 放電室と、該放電室内に配置されたカソードと、該放電室の端部に配置されたアノードと、前記カソードに対して少なくとも前記アノードを囲うように前記放電室内に取り付けられた筒状のシールド体と、前記カソードに加熱用電源からの電流を送るための電流供給部材と、前記カソードと前記アノードとの間に放電電圧を印加するための放電電源と、前記放電室内に放電用ガスを供給するための手段を備え、前記電流供給部材と放電室壁の間に絶縁部材が設けられており、前記放電室内で形成されたプラズマ中の電子を前記アノードの開口部内側にある前記シールド体の一部を通して前記放電室外の真空容器中に照射させるように構成したプラズマ発生装置において、前記電流供給部材を絶縁性材料で覆ったことを特徴とするプラズマ発生装置。
- 前記電流供給部材を空間をおいて絶縁性材料で覆った請求項1に記載のプラズマ発生装置。
- 前記カソードをカソードホルダーにて支持するように成し、このカソードホルダー内にて前記電流供給部材とカソードの繋ぎを行うように成した請求項1に記載のプラズマ発生装置。
- 前記カソードホルダー内部に穴を開け、少なくともその穴の一部まで、前記電流供給部材を覆った絶縁性材料が挿入されるように成した請求項2に記載のプラズマ発生装置。
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- 2003-06-16 JP JP2003170535A patent/JP2005005236A/ja not_active Withdrawn
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