JP2004528565A

JP2004528565A - 未装着アンテナの非接触テストのための方法および装置

Info

Publication number: JP2004528565A
Application number: JP2002586010A
Authority: JP
Inventors: ブロッドフォルカー
Original assignee: ミュールバウアーエーゲー
Priority date: 2001-04-26
Filing date: 2002-04-23
Publication date: 2004-09-16
Also published as: WO2002088762A2; ATE414910T1; AU2002302561A1; DE10120625A1; EP1381874A2; KR100581410B1; WO2002088762A3; DE50213028D1; KR20040015164A; EP1381874B1

Abstract

本発明は、チップ装着時に識別システム用トランスポンダを構成するようにしたアンテナの電磁特性の非接触テストを測定装置の補助により実施する方法および測定装置に関する。本方法は、測定装置の送信アンテナによって所定周波数の測定電磁場を送信し、測定電磁場に配置したアンテナを所定周波数でテストし、アンテナのテスト結果を参照値と比較することによって評価する、各工程からなる。本発明によれば、アンテナは未装着状態で測定される。
【選択図】図１

Description

【技術分野】
【０００１】
本発明は、請求項１のプリアンブルに係る測定装置の補助によるアンテナの電磁特性の非接触テスト方法および請求項７のプリアンブルに係る測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
非接触の識別システムは、製品や商品の流れの監視・制御に広く利用されている。バーコードシステム以外では、トランスポンダ対応のシステムが重要性を増している。トランスポンダは、通常、アンテナまたはコイル形状のカップリング・エレメントおよび電子マイクロチップから構成されている。周波やデータのみならず、トランスポンダの動作に必要なエネルギーもトランスポンダのアンテナに非接触で送信される。
【０００３】
図５は、アンテナ５１、このアンテナに接続されたチップ５２、およびトランスポンダが配置される薄板５３を含むトランスポンダを示す。この例では、アンテナは、薄板上に実装された６本の導電路によって形成されている。薄板上のこのようなフレキシブルアンテナは、特に製造時に欠陥が発生しやすいため、チップを装着する前にテストを行わなければならない。
【０００４】
トランスポンダを構成するチップに未だ接続されていないアンテナをテストするためには、通常、アンテナに接触しなければならない。そのようなテスト・システムは、例えば、特許文献１に記載されている。また、特許文献２では、アンテナの電磁特性を測定するために、まずアンテナを測定装置に接続する。
【０００５】
特許文献３には、無線周波数識別（ＲＦＩＤ）システム用トランスポンダの非接触テスト方法が記載されている。ここでは、欠陥のあるトランスポンダを排除するために、トランスポンダは、完全に装着され動作するような状態で個々にテストされる。
【特許文献１】
US 4,884,078
【特許文献２】
JP 05157782 A
【特許文献３】
US 6,104,291
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、この方法は、欠陥アンテナの場合、そのアンテナに接続された動作する高価なチップも排除されなければならないため、資源が不必要に廃棄されるという欠点がある。
【０００７】
本発明の目的は、できるだけ効率的に信頼性の高い方法で欠陥アンテナを排除するアンテナテストのための方法および装置を提供することである。
【０００８】
この目的は、請求項１記載の特徴に係る方法によって、また請求項７記載の特徴を具備する測定装置によって達成される。従属の請求項には、本発明の好ましい実施の形態が記述されている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
チップが装着され、識別システム用トランスポンダを構成するようにしたアンテナの電磁特性を、測定装置の補助によって非接触テストする方法は、以下の工程によって実施される。測定装置の送信アンテナにより所定周波数の測定電磁場を送信し、所定周波数で測定電磁場用にアレンジされたアンテナをテストし、アンテナのテスト結果を参照値と比較することによって評価する、各工程である。この方法の各工程は、未装着状態のアンテナで実行される。
【００１０】
本発明は、トランスポンダのアンテナの製造過程のごく初期の段階で、そのアンテナの動作を既にチェックしておくことの考慮すべき利点を見出したことに基づくものである。アンテナに予め接触しなければならない方法は、生産数が多い場合の工程上の不確実さにより、適当ではないため、テスト方法を非接触で実行できれば重要な利点となる。さらに、本発明による方法は、完全に装着されたトランスポンダをチェックする場合の、動作する電子部品も排除されるという従来技術の欠点を回避するものである。本発明によれば、特にフレキシブルアンテナの製造では欠陥が発生しやすく、したがって製造プロセスのごく初期段階でテスト動作を実行すべきということがわかった。
【００１１】
この方法の好ましい変形例によれば、測定電磁場の周波数は、送信される間に所定の周波数範囲内で変化する。その結果、測定電磁場に及ぼすアンテナの影響の測定をより容易にできる一方、被測定アンテナの品質をより高い精度で評価することが可能になる。
【００１２】
未装着アンテナの測定電磁場に及ぼす最大の影響の標準的な範囲を、この方法において参照値として用いることは、特に好都合である。これにより、測定の許容度およびアンテナの品質からの許容偏差を考慮することができる。
【００１３】
そのようなアンテナの電磁特性をテストするための測定装置は、所定周波数の交流電圧を発生する電圧源と、所定周波数で測定電場を送信するようにした送信アンテナと、所定周波数でアンテナに対する値を測定する測定部と、測定部で測定した値を標準アンテナ用の参照値と比較するようにした評価部とを具備する。本発明によれば、電圧源、送信アンテナ、測定部、および評価部は、未装着状態のアンテナを測定するのに十分な感度を持つように構成される。その結果、未装着状態のアンテナは、接触されなくても、その電磁特性をテストされることができる。
【００１４】
測定装置の好ましいデザインによれば、測定装置は、少なくとも評価部および電圧源を制御する制御部をさらに具備する。所定の周波数範囲を制御部によって自動的に調整する（振らす）ことができる。
【００１５】
さらなるアンテナの測定電磁場に及ぼす影響は、適切な遮蔽手段によって回避される。これにより、密着して配列した多数のアンテナの測定が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
本発明の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１７】
図１は、送信アンテナ１２および中央回路１１を搭載した測定装置１０を、測定対象の非接触アンテナと共に示す。アンテナ２０の固有容量を表す容量２１、すなわち実際には存在しない要素をアンテナ２０に対して破線で示す。また、前記容量は、アンテナのパラシティック・ワインディング・キャパシタンス（parasitic winding capacitance）として設定される。図１における前記容量の図示は、アンテナ２０が送信アンテナ１２の測定電磁場によって励振し得る共鳴回路となり、この共鳴回路の固有の共鳴周波数を有することを意味する。
【００１８】
測定装置１０の送信アンテナ１２によって、所定の周波数範囲で測定電磁場が送信された後、この測定電磁場に及ぼすアンテナ２０の影響を典型的な電力曲線の電磁カップリングによって測定することができる。ここで、測定電磁場の周波数は、所定の周波数範囲内で自動的に調整される（振らされる）。
【００１９】
図２は、図１に記載した方法によりテストされる、複数のアンテナ２０に対する測定の設定を示す模式図である。送信アンテナ１２を搭載した測定装置１０は、アンテナ２０に対して適切に配置され、測定を実行する。送信アンテナ１２の測定電磁場に及ぼす、測定済みのアンテナの影響および未だ測定されているアンテナの影響は、適切な手段によって遮断され、測定されるアンテナ２０の影響のみが測定装置１０に対して有効である。スクリーン１３は、対応して配置された金属板によって実現可能である。
【００２０】
図３は、測定レベルを送信測定電磁場の周波数に対してプロットした測定曲線３０を示す。測定曲線３０は、最高レベルの周波数である平均周波数３３を有する標準アンテナの曲線である。最高レベルの周囲に下限３４ａおよび上限３４ｂが示されているが、アンテナが良い品質として分類され得るためには、アンテナの測定レベルは、前記領域Ａの範囲内でなければならない。平均周波数３３の周囲には、低周波数３５ａから高周波数３５ｂまでの領域Ｂが示されているが、高品質として分類され得るためには、被測定アンテナの平均周波数は、この領域内でなければならない。
【００２１】
図４は、中央回路１１に配置した各部の模式図である。図４によれば、図示しない送信アンテナとは別に、測定装置は、所定周波数の交流電圧を生成する電圧源４３を具備している。さらに、電圧源４３の測定電磁場を送信するのに必要な電力に基づいて、所定周波数で測定されるアンテナの測定電磁場に及ぼす影響を測定する測定部４２が示されている。
【００２２】
評価部４１は、測定部４２で測定した値と標準アンテナ用参照値とを比較する。前記参照値は、参照値記憶部４４に格納できる。評価結果は、被測定アンテナに割り当てられた結果記憶部４５に格納できる。例えば、使用を継続すべき「良いアンテナ」または排除されるべき「不良アンテナ」という質的分類を結果として格納することができる。
【００２３】
評価部４１の一部を構成する制御部は、電圧源４３の所定周波数の変化を制御する。例えばコンピュータなどの評価部４１、制御装置、もしくは記憶装置４４、４５は、測定装置の中央回路１１の外部に配置されてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】測定装置および未装着アンテナの模式図
【図２】多数の未装着アンテナをテストする測定装置の模式図
【図３】周波数に応じて測定した、測定電磁場に及ぼすアンテナの影響を示す図
【図４】図１または図２の測定装置における各装置の模式図
【図５】アンテナおよびチップを搭載したトランスポンダを示す図

Claims

チップを装着する時に識別システム用トランスポンダを構成するようにしたアンテナの電磁特性を測定装置の補助によって非接触テストする方法であって、
所定周波数の測定電磁場を測定装置の送信アンテナによって送信する工程と、
測定電磁場に配置されたアンテナを所定周波数でテストする工程と、
アンテナのテスト結果を参照値との比較によって評価する工程と、を具備する方法において、
送信、テスト、および評価の各工程を有する方法は、未装着状態のアンテナで実行することを特徴とする。
請求項１記載の方法であって、送信の間、測定電磁場の周波数が所定の周波数範囲で変化することを特徴とする。
請求項１または請求項２記載の方法であって、アンテナの測定電磁場に及ぼす影響は、測定電磁場の送信に必要な電力を基にして測定することを特徴とする。
請求項１から請求項３のいずれかに記載の方法であって、参照値は、未装着アンテナに対する測定レベルに対する標準範囲からなることを特徴とする。
請求項２から請求項４のいずれかに記載の方法であって、参照値は、未装着アンテナの最大有効レベルの周波数が存在する標準周波数範囲からなることを特徴とする。
チップを装着する時に識別システム用トランスポンダを構成するようにしたアンテナの電磁特性をテストする測定装置であって、
所定周波数の交流電圧を生成する電圧源(４３)と、
所定周波数で測定電場を送信するようにした送信アンテナ(１２)と、
所定周波数でアンテナの値を測定する測定部(４２)と、
測定部による測定値と標準アンテナ用参照値とを比較するようにした評価部(４１)と、を具備する測定装置において、
電圧源、送信アンテナ、測定部、および評価部は、未装着状態のアンテナを測定するようにしたことを特徴とする。
請求項６記載の測定装置であって、測定部(４２)は、測定電磁場の送信に必要な電力を基にアンテナの測定電磁場に及ぼす影響を測定することを特徴とする。
請求項６または請求項７記載の測定装置であって、少なくとも電圧源（４３）における所定周波数の変化を制御する制御部を特徴とする。
請求項６から請求項８のいずれかに記載の測定装置であって、アンテナ(２１、２２)の測定電磁場に及ぼす影響を回避するようにしたスクリーン(１３)を特徴とする。
請求項６から請求項９のいずれかに記載の測定装置であって、アンテナに割り当てられた評価結果を格納する評価部（４１）に接続された結果記憶部（４５）を特徴とする。