JP2004512628A

JP2004512628A - 光走査デバイス

Info

Publication number: JP2004512628A
Application number: JP2002538430A
Authority: JP
Inventors: マルティノフ，ユウリ　フェー; ヘンドリクス，ベルナルドゥス　ハー　ウェー
Original assignee: Koninklijke Philips Electronics NV
Current assignee: Koninklijke Philips NV
Priority date: 2000-10-27
Filing date: 2001-10-16
Publication date: 2004-04-22
Also published as: US7236443B2; ATE395695T1; WO2002035536A1; CN1406376A; CN1252704C; DE60134033D1; EP1332496A1; KR100804071B1; KR20020071001A; US20080037386A1; US20030058777A1; EP1332496B1

Abstract

光記録担体１を読み取るための複合対物レンズ１０及び放射検出器３１を組込む光走査デバイスを記載し、ここで光記録担体１には透明層２が提供される。透明層２の厚さ及び検出器３１の有効半径は、デバイスの信号対雑音比を著しく改善する、及び／又は、エアスライダーより下の空気間隔の局部加熱を減少させるように適合される。スライダー光学ヘッド４０の使用を容易にするために、光記録担体には潤滑剤が提供される。

Description

【０００１】
この発明は、少なくとも一つの情報層を含む光ディスクのような光記録担体を走査するための光走査デバイスに関する。デバイスは、放射ビームを発生させる放射源、情報層上のスポットへ放射ビームを収束させるための、放射源と記録担体との間の光路に設置される複合対物レンズ系、及び放射源からの放射を透過させるための光学的に透明な部分を有するスライダーを含む。また本発明は、このような光走査デバイスにおける使用のための光記録担体に関する。
【０００２】
高い容量の記録担体を読み取ることが可能な光走査デバイスの生産に対する要望がある。例えば、単一のディスクに多数の情報層を有する高い容量の光ディスクが考案されてきた。さらに、ディスク上のデータマーキングの大きさを減少させることにより、このようなディスクに蓄積されたデータの量を増加させることもまた可能である。このようなデータを正確に読み取るために、比較的短い波長及び高い開口数（ＮＡ）、例えばＮＡ＞１、の対物レンズ系を使用する光走査デバイスが望ましい。
【０００３】
ＮＡ＞１を達成するための一つの解決方法において、複合レンズ系は、マルチレンズ対物を含み、ここでレンズ素子の一つは、ディスクの表面の波長λ内での高さでレンズが飛行することを可能にするスライダーに置かれた第二の実質的に平凸のレンズであり、放射に第２のレンズとディスクとの間のエバネッセントカップリング、いわゆる近距離場の配置を提供する。レンズは、典型的に１／５λ（一般に０．１μｍ未満）の高さで飛行する。このようなレンズは、ここでは固体浸漬レンズ（ＳＩＬ）と呼ばれる。マルチレンズ対物は、収差に対して良好に補正された単一のレンズのようなさらなるレンズ素子を含むことになる。例えば、ＥＰ−Ａ−０，８６７，８７３及びＪＰ−Ａ−０９１６１３１１を参照のこと。
【０００４】
ＥＰ−Ａ−０，８６７，８７３の場合において、記録担体は、情報層を覆うために３及び１７７μｍの間の厚さを有する透明層を使用し、ここでその厚さは、光ディスクの記憶容量における増加を援助するために選択される。エバネッセントカップリングは、放射を記録担体へ連結するためには使用されない。つまり、記録担体は、遠距離場の配置で使用される。
【０００５】
上述の系では、放射を光ディスクの情報層に集し、反射された放射は、光信号が光ディスク上の情報層に蓄積されるデータを表す電気信号に変換される適切な検出系に向って、複合対物レンズ系を透過して戻る。この系に伴う問題は、検出器における迷光が信号対雑音比を減少させるということである。
【０００６】
磁気光学系中におけるさらなる問題は、ディスクの情報層に対する磁気コイルの位置決めに関する。すなわち、記録の間の情報層における十分な磁気変調を可能にし、所望のデータ走査速度を可能にするために、コイルを情報層に十分接近して置かなければならない。この問題は、対物レンズ系のより低い面とディスクの最上面との間にエバネッセントカップリングがない、いわゆる遠距離場の配置において起こる。
【０００７】
ＥＰ−Ａ−０，８７８，７９３において、磁気コイルがディスクの対物レンズ系と同じ側に置かれると共にディスク上の情報層が、０及び１００μｍの厚さの保護透明層の後ろに置かれる磁気光学系が記載されている。磁気コイルと光ディスクとの間の距離は、好ましくは、少なくとも２０μｍに設定される。
【０００８】
本発明の態様によれば、デバイスにおける走査位置に設置されるとき、光記録担体を走査するために使用されるように適合された光走査デバイスが提供され、光記録担体は、データを蓄積するための情報層、及び情報層に到達するように放射が通過する透明層を含み、デバイスは、放射ビームの発生させるための放射源、光記録担体との放射ビームのエバネッセントカップリングを提供するために、放射源から光記録担体の走査位置までの放射ビームの経路に設置される対物レンズ系、及び光記録担体によって反射された放射を検出するための放射検出器を含み、ここで、情報層によって反射された実質的にすべての放射が前記検出器の有効な部分の内部に届くと同時に、走査の間にかなりの割合の反射された迷光が検出器の有効な部分の外部に届くように、検出器は、透明層の厚さと組み合わせて形成される。
【０００９】
先行技術の系において、光ディスクに向って放射源から透過する放射の一部分は、光ディスクの情報層に到達することなく、空気間隔から反射されて光路中に戻る。空気間隔が小さいと、空気間隔から反射される放射は、光ディスクの情報層から反映される放射と実質的に同じ経路を経て進むことになり、このようにして、複合対物レンズ系を透過して戻り、検出系に届くことになる。これは、光走査系の信号対雑音比（ＳＮＲ）に悪影響を及ぼすことになり、ディスク上に蓄積された情報の乏しい再生に導くことになる。
【００１０】
本発明は、検出器の有効な側面に当たる、その間隔から反射された迷光放射を予防することによって、デバイスを使用する光記録担体の走査の間にＳＮＲにおける著しい改良を提供することが可能である。
【００１１】
用語“かなりの割合”は、迷光放射における比較的少量の減少（例えば１０％以上）を提供する配置を含むことが意図される一方で、より大きな減少、約５０が好ましい。事実、以下でさらに詳細に記載するような、迷光放射の量を９０％以上減少させることは可能である。同時に、保証することは可能である。“実質的にすべて”の望まれる放射は、それが検出器の有効部分に当たるような経路を経て進む。望まれる放射のいくらかの損失が、例えば吸収、反射、及び検出器効率における制限によって、光学系において避けられない一方、この損失は、本発明の実施例において最適化されたままであってもよい、検出器と望まれる放射の経路との位置関係にほとんどよらない。
【００１２】
この発明は、近距離場及び遠距離場の配置の両方の場合において適用可能である。しかしながら、本発明は、近距離場の配置の場合に特に適用可能である。この場合に、近距離場カップリングの効率におけるどんな減少も、例えば飛行する高さの変動によって、界面における合計の内部反射を引き起こすことができ、それによってかなりの量の迷光を発生し得る。
【００１３】
先行技術の系において、信号層と空気間隔から反射された放射との間のコヒーレントなクロストークは、信号対雑音比とサーボ信号における著しい劣化を引き起こし得る。また本発明は、近距離場及び遠距離場の両方の場合において、このようなコヒーレントなクロストークを減少させることが可能である。空気間隔からの低いコヒーレントなクロストークを有するために、
【００１４】
【数６】

の値より上の透明層の厚さを有することが好ましく、ここで、λは、放射の波長であり、ｎ_ｃｏｖは、カバー層とも呼ばれる透明層の屈折率であり、ＮＡは、ディスクの系の開口数である。
【００１５】
本発明のさらなる態様によって、デバイスにおける走査位置に設置されるとき、光記録担体を走査するために使用されるように適合させた光走査デバイスが提供され、光記録担体は、データを蓄積するための情報層、及び情報層に到達するように放射が通過する２及び５０μｍの間の厚さを有する透明層を含み、デバイスは、放射ビームの発生させるための放射源、放射源と光記録担体の走査位置との間の光路に設置される対物レンズ系、光記録担体上の２０μｍ未満の高さで飛行すると共に前記放射ビームを透過させるための透明な部分を有するスライダー、並びに光記録担体によって反射される放射を検出するための放射検出器を含む。
【００１６】
２及び５０μｍの厚さの透明層の利点は、それを記録担体の入口面、つまり放射が記録担体に入る表面、においてレーザービームの加熱効果を減少させるために使用することができるということである。入口面における加熱は、スライダーの望まれない飛行する高さの不安定、及び表面の潤滑剤が記録担体上で使用されるとすれば、その潤滑剤の望まれない局部加熱、を引き起こす場合もある。放射ビームにおけるパワーが比較的高いとき、加熱の減少は、記録担体上にデータを書き込む間、特に重要である。レーザービームが、それが記録担体の表面を通過するできる限り小さな直径ほど近くはなく、それによって入口面でのその加熱効果の強度を減少させるように、透明層は、レーザービームの焦点から離れた少なくとも一つの焦点深度（λ／ＮＡ^２）に入口面を置く。
【００１７】
このように、記録担体の表面上で１０−２０μｍまでの高さで飛行するスライダーを、また、遠距離場の配置で、特に磁気光学系で、使用してもよい。また、これは、高いデータ走査速度を達成するために、磁気コイルをディスク面に対して十分近くに保持することを可能にするが、エバネッセントカップリングのために要求されるものほど狭くはない、狭い間隔である。
【００１８】
本発明のさらなる態様によれば、本発明による光走査デバイスを伴う使用のための光記録担体が提供され、光記録担体は、予め決められた波長の放射及び予め決められた開口数の対物レンズ系を伴う使用に対して適合され、ここで
光記録担体は、データを蓄積するための情報層、及び情報層に到達するように放射が通過する透明層を含み、透明層の外側の表面は、スライダーで走査されるとき走査特性を改善するための潤滑剤コーティングを有し、透明層の厚さは、少なくとも
【００１９】
【数７】

であり、ここでｄは、透明層の厚さであり、λは、放射の波長であり、ｎ_ｃｏｖは、透明層の屈折率であり、ＮＡ_ＮＦは、対物レンズ系の開口数である。
【００２０】
本発明のさらなる特徴及び利点は、添付する図面を参照して、例のみによって与えられる本発明の好適な実施例の以下の記載から明白になると思われる。
【００２１】
図１は、少なくとも一つの情報層３をカバーする外側の透明層２６を含む、本発明によるディスクの形態にある光記録担体１の実施例の断面を示す。多層の光ディスクの場合において、二又はそれ以上の情報層が、ディスク内の異なる深さで、透明層２６の後ろに配置される。透明層から離れて面する、情報層３の側面、又は多層ディスクの場合には、透明層２６からより遠くに離れた層の側面は、保護層４によって環境の影響から保護される。デバイスに面する透明層の側面は、ディスクの入口面５である。
【００２２】
情報を、図１に示してない実質的に平行な、同心円の、又は螺旋のトラックに配置される光検出可能なマークの形態で、情報層３又は、光ディスク１の層に蓄積してもよい。マークは、どんな光学的に読み取り可能な形態、例えば、ピット若しくはそれらの周囲と異なる反射係数をもつ領域、又は磁気光学的な形態であってもよい。
【００２３】
光走査デバイスは、発散する放射ビーム７を放出する放射源６、例えば半導体レーザー、を含む。光路は、コリメーターレンズ１２、並びに後側レンズ素子１３及び前側レンズ素子１４を含む複合対物レンズ系１０を含む。前側レンズ素子１４は、平−凸のＳＩＬである。コリメーターレンズ１２及び後側レンズ素子１３の各々を、凸面レンズとして図１に示しているが、しかしながら、また平−凸、凸−凹、又は凹−凸のレンズのような他のレンズタイプを使用してもよい。以下に記載するように、図２に示す配置を特別に参照する。
【００２４】
コリメーターレンズ１２は、発散する放射ビーム７をおおよそ平行なビーム１６に変換する。コリメートされるで、系の光軸と実質的に平行なビームを意味する。コリメーター１２の位置は、この実施例において、固定されるが、コリメーターは、また、所望の情報層の位置におけるビームスポットの集束を維持するための焦点サーボの動作によって、軸方向に移動可能であり得る。
【００２５】
第２のレンズ素子は、ビーム１６を、後側レンズ素子１３と前側レンズ素子１４との間の収束ビーム１７に変換する。後側レンズ素子１３は、この実施例においては、所望の情報層の位置におけるビームスポットの集束を維持するための焦点サーボの動作によって軸方向に移動可能であるが、また、前側レンズ１４に関して固定することもできる。ＳＩＬである前側レンズ素子１４の効果は、球面収差を導入することなく、又は望まれない球面収差を減少させて、系の開口数をさらに増加させることであり、ビームがディスクの入口面５に入るとき、それによって、ＳＩＬの存在なしで達成される効果と比較して、透明層２の内部におけるビームの収束を増加させる。従って、ビームは、複合対物レンズ１０によって、光ディスク１内の情報層３上の点に集束される。
【００２６】
反射されたビームは、対応する反対のステージで、複合対物レンズ１０によって、前側レンズ素子１４と後側レンズ素子１３との間の大いに発散するビーム２０から、後側レンズ素子１３とコリメーターレンズ１２との間の平行なビーム２１へ、検出器系２４上に入射する収束する反射されたビーム２２に変換される。
【００２７】
検出器系２４は、放射を取得し、それを電気信号に変換する。これらの信号の一つは、情報信号であり、その値は、光ディスク１の情報層３から読み取られたデータを表す。
【００２８】
対物レンズは、適切な寸法の空気軸受けスライダー（示してない）によって、放射の１波長内で、おおよそ１μｍ内で、上側のディスクの入口面近くで保持される。界面の摩擦学を改善するために、潤滑剤２７を透明層２６上にコートする。ここで、ディスクの入口面は、前側レンズ素子１４に面する潤滑剤コーティングの表面によって形成される。潤滑剤を、Ｆｏｍｂｌｉｎ^ＴＭ及びＺｄｏｌ^ＴＭとして既知であるようなポリフルオロポリエーテルから形成してもよい。潤滑剤は、潤滑剤の溶液中でディスクをディップコートすることにより形成される、典型的に１ｎｍ未満の厚さの均一な層を形成する。透明層の最上面を、潤滑剤の塗布を改善するために、潤滑剤の塗布の前に、ダイヤモンドライクカーボンのハードコーティングで処理してもよい。
【００２９】
図２は、上述のような二つのレンズの対物レンズ系１０を含む光走査デバイスを示す。コリメーターレンズ素子１２は、凸レンズである。後側レンズ素子１３は、凸レンズである。前側レンズ素子１４は、球面の平−凸のＳＥＬである。ＳＥＬ１４及び潤滑剤をコートした透明層２６の位置は、共に空気間隔３０を定義する。
【００３０】
図２における放射ビーム７の模範的な外側の光線８は、対物レンズ系１０に入り、コリメーターレンズ素子１２に入射し、点Ａで光軸へ向って屈折される。
次に、光線は、第一のレンズ素子１３に入射し、さらに第一のレンズ素子によって点Ｂで光軸へ向って屈折される。光線は、第二のレンズ素子を出て、点ＣでＳＥＬ１４の入口面に入射する。この実施例では、光線は、ＳＥＬ１４、空気間隔３０、又は透明層２６の入口で実質的な程度まで屈折されない。当技術において既知であるように、追加の焦点合わせを提供するＳＥＬの代替配置は、また現在の発明の枠組内で適用可能であることを加えるべきである。
対物レンズ系に入る放射は、レンズ１２、１３、１４によって、点１９、即ち光ディスク１の情報層３に集束される。次に、光線は、光ディスク１によって反射される。
【００３１】
レンズ１２、１３、１４は、その有効部分３１が遠近法によって示される検出器へ向って、対応する反対のステージで、反射された光線を変換し、ここで、放射は、取得されると共に光ディスク１の情報層上のデータに対応する電気信号に変換される。
【００３２】
放射ビームがＳＥＬ１４を通過するとき、前述したように、入射する放射の一部分は、空気間隔３０によって光路中へ、よって検出器の有効部分３１へ、反射して戻されることになる。しかしながら、透明層２の適切な厚さ及び検出器３１の大きさを選択することによって、空気間隔によって反映された光線の、少なくともかなりの割合、好ましくは、実質的にすべてが、検出器３１に入射しないように、光ディスク１の情報層３によって反射された光線に対する、空気間隔３０によって反射された光線のデフォーカスに到達することは可能である。
【００３３】
空気間隔３０をもつ界面でのＳＩＬにおける放射ビーム７の光線の反射は、増加するＮＡと共に増加する。ＮＡ＞１を有する光線は、合計の内部反射によって界面で反射される。ビーム部分３２と呼ばれる、界面によって反射される放射ビームの一部分は、あや目引きした領域によって図２に示す。ビーム部分３２は、ＳＩＬ１４内の焦点Ｆに収束し、次にＳＥＬ１４及び第二のレンズ素子１３によってデフォーカスされ、続いて、検出器３１の後ろの点Ｇで第一のレンズ素子１２によって焦点へ導かれる。検出器の平面において、ビーム部分３２は、（それは、それが電気的な検出器信号に寄与しない放射に対して感度がない部分のような、検出器の一部に当たる場合もあるが、）検出器の半径ｒ_ｄを有する有効部分３１に当たらない。このように、検出器３１は、空気間隔３０によって反射された光線ではなく、情報層３によって反射された放射ビームの光線のみを検出する。これは、検出器信号の信号対雑音比を改善する。
【００３４】
この結果を、有効検出器半径ｒ_ｄ及び透明層２６の厚さを適切に配置することにより達成してもよい。すなわち、透明層２６の厚さは、ある一定の範囲内に置かれるように選択されるべきであり、検出器の大きさは、制限されるべきである。これらのパラメーターの値を、ＮＡ及びλのように、系のパラメーターの正確な選択に依存する形態で、あらゆる光記録系に対して表現することができる。
【００３５】
透明層２６の最小の厚さ及び検出器３１の半径を、光線追跡の計算に基づいて次のように評価することができる。
【００３６】
図２における光線を考える。系は、ＮＡ_ＮＦ＞１に等しい合計の開口数を有するとする。このような配置が、情報担体から、及び空気間隔から反射された光線の間における最良の選択度を保証するので、反射された光線は、回折限界の像で検出器上に集束される。信号の劣化を回避するために、検出器の大きさは、検出器３１上のスポットの大きさよりも実質的に大きくあるべきである。検出器に光線を集束させるレンズがＮＡ_ｄｅｔの開口数を有するとすれば、好適な検出器の半径ｒ_ｄを、
【００３７】
【数８】

として評価することができる。
【００３８】
ディスク上に集束されたそれらの光線は、空気間隔におけるその入射角θがｌ１＜（ｎｓｉｎθ）＜ＮＡ_ＮＦによって定義される環内にあり、より高い反射係数をもつ空気間隔から反射されることになり、信号対雑音比の劣化の視点から比較的より有害である。‘ｎ’は、角度θが決定される材料の屈折率である。ビーム部分３２の光線が検出器をちょうどはずれるために、これらの光線は、検出器の表面の後ろΔｌの距離にある点Ｇで収束するべきであり、ここで、
【００３９】
【数９】

である。
【００４０】
（Ａ）から代入して、
【００４１】
【数１０】

である。
【００４２】
透明層２６が、一般にはＳＩＬ１４の屈折率ｎ_ＳＩＬと等しくない、屈折率ｎ_ｃｏｖを有すると仮定すれば、空気間隔３０から反射された虚像の源は、
【００４３】
【数１１】

の値によって、情報層３上のスポットに関して変位することになり、ここで、ｄは、透明層２６の厚さである。
【００４４】
ＳＩＬの存在は、
【００４５】
【数１２】

によって、スポットが検出器側で表示されることを引き起こすことになる。
【００４６】
Δｌのこの値を式（Ｃ）へ代入するとすれば、透明層２６の最小の厚さに対する値
【００４７】
【数１３】

が得られる。
【００４８】
検出器上のデフォーカスの値、（Ｚｅｒｎｉｋｅ係数による）Ａ_２０は、
【００４９】
【数１４】

によって与えられるので、上式（Ｂ）で与えられたΔｌを代入して、
【００５０】
【数１５】

であり、上式（Ａ）で与えられたｒ_ｄを代入して、
Ａ_２０〜２．５・λ・ＮＡ_ＮＦ
である。
【００５１】
例えば、ＮＡ_ＮＦ＝１．４に対しては
Ａ_２０〜３．５λ
である。
【００５２】
この近軸分析の成果は、回析の数値的なモデリングによってさらに確認される。図３ａは、光ディスク１の情報層３から反射された、及び検出器に集束されたビームの光強度を示す。図３ｂは、同じ検出器に集束された３λのデフォーカス（Ａ_２０）の値と共に環１＜（ｎｓｉｎθ）＜ＮＡ_ＮＦに対応する光強度を示す。このように、３λのデフォーカスで、検出器は、光ディスク１の情報層３によって反射されてきた光線のみを集めるために、図３ａに示すスポットよりも大きいが空気間隔３０によって反射されると共に図３ｂにおいて環として示す光の環よりも小さい大きさを有することができる。このように、空気間隔３０によって反射された迷光のビームは、検出器３１からはずれる。
【００５３】
上述の環の強度分布よりもむしろサブ波長の空気間隔から反射された光線の強度における実際の分布を使用してより詳細な分析を実行してきた。空気間隔３０から反射された放射の強度分布を使用して、検出器によって集められる放射の合計の強度を、三つの異なる厚さの空気間隔に対して計算してきた。検出器によって検出される信号のデフォーカス、Ａ_２０に対する依存性を、４０、１００及び４００ｎｍの空気間隔に対して、図４におけるグラフによって示す。検出器の大きさは、上式（Ａ）によって与えられ、ここで、ＮＡ_ｄｅｔの値を計算においては０．１として選択した。Ａ_２０の値が０であるとすれば、それぞれの空気間隔によって反射される９０及び９５％の間の迷光は、検出器に届くと共に信号対雑音比を減少させることになることを理解することができる。４０及び４００ｎｍの間におけるこれらの空気間隔によって反射された光のおよそ１０％のみが、検出器上でに届くことを保証するために、７．５λのデフォーカスの値（Ａ_２０）が要求される。このより詳細な分析に基づいて、透明層の厚さｄに対する基準は、
【００５４】
【数１６】

である。
【００５５】
透明層の最大の厚さは、光走査デバイスにおけるＳＩＬ１４及び光ディスク１のそれぞれの幾何学によって制限される。この最大値を、次のように評価することができる。
【００５６】
使用において、ＳＩＬ１４は、図６における４０で概略的に示される空気軸受けスライダーに置かれる。また、スライダーは、光走査デバイスが磁気光学走査デバイスである一つの実施例において、磁気コイル（示してない）を含む。ディスク上における透明層２６の存在のために、スライダーの出口面におけるスポットの直径はＤである。走査光学デバイスの動作中に、スライダー４０は、通常“ピッチ”−光ディスク表面に対する傾斜を有する。ピッチの典型的な値は、０．１５乃至０．２ｍｒａｄである。結果として、スポットの前側及び後側での周縁ビームに対する空気間隔の厚さが異なり、近距離場カップリングの効率における差を引き起こす。
【００５７】
１５ｎｍの許容可能な空気間隔の厚さの差を仮定すると、Ｄは、その１００μｍより少なくなければならない。系がＭａｇｎｅｔｏ　Ｏｐｔｉｃ（ＭＯ）の呼び出しに使用され得ると共に、スライダー４０の底における薄膜のコイル（示してない）を運ぶとすれば、この表面でのビームの直径は、コイルの穴径によって制限されると共に、５０μｍ未満であるべきである。これは、（その屈折率に依存して）透明層２６の厚さを１５乃至２０μｍに制限する。
【００５８】
透明層の厚さ及び検出器の大きさの賢明な選択は、かなりの割合の、空気間隔によって反射された放射が、検出器３１の有効部分の外部に届くことを、引き起こすことができることを認識すると思われる。かなりの割合は、走査光学デバイスのデータ収集の性能を改善するような量であると考えられる。例えば、空気間隔によって反射された放射の少なくとも５０％が、検出器の有効部分の外部に届くとすれば、これは、走査デバイスのデータ検出能力を改善するかもしれず、よって、信号対雑音比を改善するかもしれない。好ましくは、透明層の厚さ及び検出器の大きさの値は、空気間隔によって反射された放射の９０％が検出器３１の有効な領域の外部に届くように選択される。
【００５９】
前述したように、このような光走査デバイスのさらなる問題は、信号層と空気間隔によって反射された光との間のコヒーレントなクロストークである。このクロストークが検出器の大きさに実質的に依存しないことが発見されていた。上で定義されるような半径を有する検出器における、また４０、１００及び４００ｎｍの三つの空気間隔から反射された光のデフォーカス（Ａ_２０）の関数としての透明層からのコヒーレントなクロストークの値を計算してきたが、その結果を図５に示す。
【００６０】
図５は、（上述の様式で図４から得られる）２．５λ、３．５λ、及び７．５λのデフォーカスの値（Ａ_２０）、よって（上で計算される）それぞれ１．６μｍ、２．３μｍ及び４．６μｍの透明層２６の厚さに対して、コヒーレントなクロストークを著しく減少させることを示す。
【００６１】
空気間隔からの低いコヒーレントなクロストークを有するために、
【００６２】
【数１７】

の値より上の透明層の厚さを有することが好ましい。
【００６３】
コヒーレントなクロストークをさらに減少させるために、反射防止膜を透明層の最上に塗布することができる。
【００６４】
これまでは、検出器上のスポットの回折限界の結像のみを、それが最小の検出器の使用を、よって信号対雑音比における最良の改良を達成することを可能にするので、考慮してきた。しかしながら、本発明は、この場合に制限されない。光学系において典型的には、検出器上のスポットは、回折限界でなく、より大きな大きさを有する。系は、非点収差サーボレンズ、Ｆｏｃａｕｌｔ、又はスポットサイズ焦点エラー検出スキームと組み合わせた四分円検出器を有してもよい。次に、スポットの大きさ、及びよって検出器の大きさは、特別の系に対してなされた選択によって、例えば、非点収差焦点エラー検出の場合における最小錯乱円の大きさによって、又はスポットサイズ検出スキームの場合におけるデフォーカスされたスポットの大きさによって、決定される。本発明によれば、空気間隔からの反射によるスポットは、検出器の大きさより十分大きくなければならない。特に、この光の９０％が検出器をはずすために、その典型的な寸法Ｄ_ｄは、次の関係
【００６５】
【数１８】

又は
【００６６】
【数１９】

を満たさなければならない。
【００６７】
例えば、本光学ヘッドに使用される典型的な検出器の大きさＤ_ｄ＝１２０μｍ及びＮＡ_ｄｅｔ＝０．１、ＮＡ_ＮＦ＝１．４、ｎ_ｃｏｖ＝１．８に対して、透明層の厚さは、
【００６８】
【数２０】

であるべきである。
【００６９】
信号対雑音比の劣化に加えて、このような系における空気間隔からの反射は、焦点誤差信号のｓ−カーブの明らかなシフトを引き起こす場合もある。本発明の別の態様におけるそれを予防するために、検出器上でさらなる組みのセグメントを使用することを提案する。多層光ディスクと共に作動することが意図されたこのような検出器のいくつかの実施例は、ＥＰ０７７７２１７Ａ２に記載されている。
【００７０】
上の実施例において、スライダーは、エバネッセントカップリングを可能にするために十分に小さい空気間隔を提供するために使用される。別に実施例において、スライダーは、磁気光学記録可能ディスクに関して、磁場変調システムにおける磁気コイルに対して低い飛行の高さを提供するために使用される。その場合には、スライダーは、２０μｍ未満の高さ、好ましくは１０μｍ未満の高さで飛行する。より好ましくは、空気間隔は、１−２μｍの領域にある。透明層の欠除において、ディスクの最上面及び空気間隔の空気膜を、局部的に加熱することになり、もしかするとスライダーの飛行の不安定を導くかもしれない。潤滑剤をディスク表面上に塗布するとすれば、それもまた加熱することになり、そのことは、その劣化を導き得る。しかしながら、本発明により、適切な厚さのディスクに透明層を提供することによって、局部加熱の効果は減少させることができる。次に、ディスクの最上面を通過するところのビームが、その最小の直径にはないように、透明層は、厚さにおいてビームの焦点深度より大きくあるべきである。上述したように、空気軸受けスライダーとの界面の摩擦学を改善するために、潤滑剤のコーティングもまた加えてもよい。
【００７１】
スライダーの実施例では、透明層の厚さを、約２μｍから５０μｍまでの広い範囲で選ぶことができる。読み出し中におけるこの層の最上での反射からのコヒーレントな光学的なクロストークを回避するために、それを十分に厚くすることは、さらに都合がよい。遠距離場の場合において、もしも７及び５０μｍの間における厚さを選択することは好ましい。具体例として、λ＝４０５ｎｍ及び（光ディスク表面で）ＮＡ＝０．８５に対して、それは、約２０−３０μｍである。λ＝４０５ｎｍ及び（光ディスク表面で）ＮＡ＝１．４に対して、それは、約７−１５μｍである。
【００７２】
また、ディスク上の透明層の使用による局部加熱における減少は、上述した近距離場の場合にも有用である。この場合には、透明層の厚さは、好ましくは２及び１５μｍである。
【００７３】
上述の実施例で使用される空気軸受けスライダーは、少なくとも半透明であり、放射ビームの特性は、ビームがそれを通過すると、変えられる。スライダーは、上述のような平−凸レンズを運んでもよい。代わりに、スライダーは、より高い開口数を達成するために使用してもよいマルチレンズ対物の二又はそれ以上のレンズを運んでもよい。
【００７４】
上述のような透明層２６を、例えば、ＵＶ硬化性樹脂のスピンコーティングを使用して、又は、幾分高い屈折の材料、例えばＳｉＯ_２／Ｓｉ_３Ｎ_４の、スパッタリングによって製造することができる。
【００７５】
スピンコーティングは、１．５２程度の低い屈折率を有する滑らかな層を生成する。これは、開口数ＮＡを最大１．３５乃至１．４に制限するのに対して、１．６又はそれ以上が近距離場の適用に対しては好ましい。さらに、スピンコーティングを使用するとすれば、追加のハードコーティングが好適である。
【００７６】
スパッタコーティングは、十分に硬質である、より高い屈折率をもつ透明層を生成することができる。
【００７７】
適切な透明層を製造するために他の適切な材料又は工程を使用してもよいことは認識されると思われる。
【００７８】
添付する請求項で定義される本発明の範囲を逸脱することなく、上述の実施例に関して様々な修飾及び変形を用いてもよいことは予見される。
【図面の簡単な説明】
【図１】
本発明の実施例に従って使用される光走査デバイスの一般的なレイアウトの概略的な実例である。
【図２】
本発明に従って使用される検出器及び透明層を含む複合対物レンズ系の断面図である。
【図３ａ】
図２の対物レンズ系を使用して光ディスクの情報層からの放射の反射によって発生する検出系へ向って反射される放射を示す。
【図３ｂ】
図２の対物レンズ系を使用してＳＩＬと光ディスクとの間の空気間隔からの放射の反射によって発生する検出系へ向って反射される放射のシミュレーションである。
【図４】
検出器及び多くの異なる厚さの空気間隔に対するデフォーカス（Ａ_２０）の関数としての検出器信号の依存性を示す。
【図５】
比較的大きな検出器上の迷光放射のデフォーカス（Ａ_２０）の関数として三つの異なる厚さの空気間隔に対するクロストークの値を示す。
【図６】
本発明の実施例に従って光走査デバイスに実装される複合対物レンズ系の概略の側面図を示す。

Claims

光走査デバイスであって、
前記デバイスにおける走査位置に設置されるときに記録担体を走査することに使用されるように適合され、
前記光記録担体は、データを蓄積する情報層、及び放射が通過して前記情報層に到達する透明層を含み、
前記デバイスは、放射ビームを発生する放射源、前記光記録担体との前記放射ビームのエバネッセントカップリングを提供する、前記放射源から前記光記録担体の前記走査位置までの前記放射ビームの経路に設置された対物レンズ系、及び前記光記録担体によって反射された放射を検出する放射検出器を含み、
前記検出器は、前記情報層によって反射された実質的にすべての放射が前記検出器の前記有効部分の内部に届く一方、かなりの割合の迷光の反射光が走査中に前記検出器の有効部分の外部に届くように、前記透明層の厚さと組み合わせて形成される光走査デバイス。
前記間隔によって反射された前記放射の少なくとも５０％は、前記検出器の前記有効部分の外部に届く請求項１記載の光走査デバイス。
前記間隔によって反射された前記放射の少なくとも９０％は、前記検出器の前記有効部分の外部に届く経路を経て進む請求項２記載の光走査デバイス。
前記検出器の位置及び寸法は、前記特性を提供するように形成される請求項１、２、又は３記載の光走査デバイス。
前記迷光は、前記対物レンズ系及び空気間隔の間の界面によって反射され、ＮＡ＞１である請求項１乃至４いずれか１項記載の光走査デバイス。
前記光記録担体は、記録可能な光記録担体である請求項１乃至５いずれか１項記載の光走査デバイス。
前記透明層の厚さは、少なくとも

であり、
ｄは、前記透明層の厚さであり、
λは、前記放射の波長であり、
ｎ_ｃｏｖは、前記透明層の屈折率であり、
ＮＡ_ＮＦは、前記対物の開口数である請求項１乃至６いずれか１項記載の光走査デバイス。
前記透明層の厚さは、少なくとも

である請求項１乃至７いずれか１項記載の光走査デバイス。
前記透明層の厚さは、少なくとも１．６μｍである請求項１乃至８いずれか１項記載の光走査デバイス。
前記透明層の厚さは、少なくとも２．３μｍである請求項９記載の光走査デバイス。
前記透明層の厚さは、少なくとも４．６μｍである請求項９又は１０記載の光走査デバイス。
前記対応する検出器の大きさは、

未満である請求項１乃至１１いずれか１項記載の光走査デバイス。
前記透明層の厚さは、２０μｍ未満である請求項１乃至１２いずれか１項記載の光走査デバイス。
前記対物レンズ系は、固体浸漬レンズを含む請求項１乃至１３いずれか１項記載の光走査デバイス。
前記固体浸漬レンズは、部分的に球面であり、実質的に等しい半径及び厚さを有する請求項１４記載の光走査デバイス。
前記透明層の屈折率は、前記固体浸漬レンズの屈折率と異なる請求項１４又は１５記載の光走査デバイス。
前記対物レンズ系の開口数は、１より大きい請求項１乃至１６いずれか１項記載の光走査デバイス。
光走査デバイスであって、
前記デバイスにおける走査位置に設置されるときに記録担体を走査することに使用されるように適合され、
前記光記録担体は、データを蓄積する情報層、及び放射が通過して前記情報層に到達する２及び５０μｍの間の厚さを有する透明層を含み、
前記デバイスは、放射ビームを発生する放射源、前記放射源及び前記光記録担体の前記走査位置の間の光路に設置された対物レンズ系、前記光記録担体より上に２０μｍ未満の高さで飛行し、前記放射ビームを透過させる透明部分を有するスライダー、並びに前記光記録担体によって反射された放射を検出する放射検出器を含む光走査デバイス。
前記厚さは、約２０−３０μｍである請求項１８記載の光走査デバイス。
前記厚さは、約７−１５μｍである請求項１８記載の光走査デバイス。
前記スライダーは、約１乃至２μｍの飛行の高さで動作するように適合され、
前記厚さは、７及び５０μｍの間である請求項１８記載の光走査デバイス。
請求項１乃至２１いずれか１項記載の光走査デバイスと使用する光記録担体であって、
前記光記録担体は、予め決められた波長の放射及び予め決められた開口数の対物レンズ系との使用に適合され、
前記光記録担体は、データを蓄積する情報層、及び放射が通過して前記情報層に到達する透明層を含み、
前記透明層の外側の表面は、スライダーで走査されるとき、前記走査特性を改善する潤滑剤コーティングを有し、
前記透明層の厚さは、少なくとも

であり、
ｄは、前記透明層の厚さであり、
λは、前記放射の波長であり、
ｎ_ｃｏｖは、前記透明層の屈折率であり、
ＮＡ_ＮＦは、前記対物レンズ系の開口数である光記録担体。
前記透明層の厚さは、少なくとも

である請求項２２記載の光記録担体。
前記透明層の厚さは、少なくとも１．６μｍである請求項２２記載の光記録担体。
前記透明層の厚さは、２及び５０μｍの間である請求項２４記載の光記録担体。