CN102822893A - 光盘装置 - Google Patents

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CN102822893A
CN102822893A CN201180016207.2A CN201180016207A CN102822893A CN 102822893 A CN102822893 A CN 102822893A CN 201180016207 A CN201180016207 A CN 201180016207A CN 102822893 A CN102822893 A CN 102822893A
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近藤健二
藤畝健司
山元猛晴
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

本发明提供能够实现稳定的聚焦控制或者追踪控制的光盘装置。第一检测器(110)接收来自物镜光学系统(107)的反射光，第二检测器(112)接收来自指定的信息层的反射光，位置偏差检测部(121)基于来自第二检测器(112)的信号，检测光束的焦点与记录或再生指定的信息层中的信息的点的位置偏差，杂散光检测部(122)基于来自第一检测器(110)的信号，检测来自位置偏差检测部(121)的信号中所包含的来自光盘(108)表面的反射光即表面杂散光成分，杂散光修正部(117)基于检测出的表面杂散光成分，修正从位置偏差检测部(121)输出的信号。

Description

光盘装置
技术领域
本发明涉及一种利用从来自激光器等光源的光束生成的近场光(near-field light)再生光盘(包括再生专用以及记录再生用等各种光盘)中的信息、或者在光盘上记录信息的光盘装置，尤其涉及对具有覆盖层的光盘修正杂散光(stray light)的光盘装置。
背景技术
以往，CD、DVD或BD(Blu-ray光盘)等光盘广泛用于影像信号以及音响信号的记录以及再生。在对光盘记录以及再生信息的光盘装置中，读出写在光盘信息层中的信息的处理通过由利用拾光器而汇聚于信息层的微小光点扫描细微的轨道来进行。在此情况下，为了正确并且连续地读出光盘中写入的信息，使光点追踪轨道的伺服技术是不可或缺的。
因此，在光盘装置中，一般基于表示光点与光盘信息层的位置偏差的聚焦误差信号(以下称为FE信号)进行使光点追踪信息层的聚焦控制。此外，还基于表示光点与轨道中心的位置偏差的追踪误差信号(以下称为TE信号)进行使光点追踪轨道的追踪控制。
另外，一般而言，即使在光盘的反射率发生变化、或者记录或再生时光束照射功率发生变化的情况下，上述FE信号以及TE信号的检测增益也能通过利用返回光的光量对FE信号以及TE信号进行标准化的AGC(Automatic Gain Control，自动增益控制)电路而保持恒定。其结果是，能够实现稳定的聚焦控制以及追踪控制。
但是，在利用这种光盘装置对具有覆盖层以及多层信息层的光盘记录或再生信息的情况下，会产生如下问题。
例如，在具有覆盖层以及多层信息层的光盘中，为了再生信息而将光束照射于指定信息层后，检测出的光束的返回光中不仅包含来自指定信息层的反射光，还包含来自光盘表面以及其他信息层的反射光(其他层杂散光)。因此，检测出的返回光的量是来自指定信息层的反射光与其他层杂散光的和，无法检测出正确的返回光的量。此处，在光盘具有覆盖层以及一层信息层的情况下，其他层杂散光是来自覆盖层表面(光盘表面)的反射光，来自覆盖层表面的反射光的量取决于表面反射率以及覆盖层厚度。即，表面反射率越大则反射光越大，覆盖层厚度越小则反射光越大。
其结果是，在AGC电路中，用于修正光盘的指定信息层内的反射率变化的标准化、用于修正记录或再生时的光束照射功率变化的标准化无法正确进行，得不到具有适当的检测增益的FE信号以及TE信号。因此，来自覆盖层表面的反射光会造成聚焦控制以及追踪控制的不稳定，导致光盘装置的记录性能以及再生性能的降低。
为了解决该问题，提出了一种拾光器，设置用于检测其他层杂散光的专用检测器，从返回光的检测光量中减去其他层杂散光的检测光量，并将其结果用于AGC电路，由此修正返回光的量，生成减少了其他层杂散光的影响的误差信号的(例如参照专利文献1)。
另一方面，近年来正在进行实现光盘的进一步大容量化的方法以及装置的开发。在光盘装置中，信息的记录密度取决于汇聚于记录介质的光点的大小。因此，光盘的大容量化能够通过减小由拾光器照射的光点来实现。
该光点的大小与物镜的数值孔径成比例，与照射的光的波长成反比。因此，为了得到更小的光点，可以使所利用的光的波长更短，或者使物镜的数值孔径更大。但是，在迄今为止得到实用化的光学信息记录再生装置中，光盘与物镜之间的间隔与光的波长相比相差很大，若物镜的数值孔径超过1，则从物镜射出的光被透镜出射面全反射，因此无法提高记录密度。
对此，作为利用数值孔径超过1的物镜的光记录再生方法，开发了利用SIL(SolidImmersion Lens，固体浸没透镜)的近场光记录再生方法。设介质的折射率为n，光束在介质中相对于光轴的最大角度为θ，则数值孔径NA用NA＝n·sinθ来定义。通常，若数值孔径超过1，则角度θ达到临界角以上，因此该区域的光被物镜的出射端面全反射。该全反射的光作为瞬逝光(evanescent light)从出射端面透出。近场光记录再生方法能够将该瞬逝光从透镜传播到光盘。为此，将物镜的出射端面与光盘表面的间隔(空隙)维持为光束波长的1/4以下的距离、即比瞬逝光的衰减距离短的距离，从而使数值孔径超过1的范围的光从物镜透过至光盘。
在使用这种SIL的光盘装置中，以往，采用对在表面设置信息层的光盘记录或再生信息的结构。但是，从保护信息层的观点出发，较为理想的是，采用对如现有光盘那样设置了覆盖层的光盘记录或再生信息的结构。
但是，在使用SIL的光盘装置中对具有覆盖层的光盘记录或再生信息的情况下，会产生如下问题。
图17是表示在以往的光盘装置中，近场的空隙(air gap)与表面反射光的大小(level)的关系的图。在图17中，横轴Gap是空隙，纵轴Ref是反射率。此处，反射率表示表面反射光大小相对于射入物镜的光束的光量的比例。
如图17所示，在光束的波长为405nm的情况下，在空隙为约100nm以下的区域，表面反射率根据空隙急剧地发生变化，表面反射率最大达到约37％。另一方面，在现有的光盘装置中，表面反射率为8％左右，与空隙无关而保持恒定。
此外，在使用SIL的光盘装置中，光盘的覆盖层厚度需要为数μm左右。另一方面，在现有的光盘装置中，具有最薄的覆盖层的BD的覆盖层厚度为100μm。
根据以上所述，在使用SIL的光盘装置的情况下，与现有光盘装置、也就是使用远场光记录再生方法的光盘装置相比，表面杂散光(表面反射光)的影响增大。例如，在考虑了数值孔径为1.78、SIL以及覆盖层的折射率n为2、覆盖层厚度为1.2μm左右的光盘装置的情况下，来自信息层的反射光与来自覆盖层表面的杂散光的比例达到约2∶1。因此，来自覆盖层表面的杂散光的影响非常大。
但是，关于这种使用SIL的光盘装置的检测表面杂散光的方法，在以往技术中并未公开。
专利文献1：日本专利公开公报特开2005-346882号
发明内容
本发明为了解决上述问题，其目的在于提供能够实现稳定的聚焦控制或追踪控制的光盘装置。
本发明所涉及的光盘装置包括：光源，射出光束；聚光光学系统，接近信息载体的表面配置，将由所述光源射出的光束生成的近场光聚光于所述信息载体；聚焦部，使所述光束聚焦于所述信息载体的指定的信息层；第一受光部，接收由所述聚光光学系统的出射端面反射的反射光；间隙控制部，基于来自所述第一受光部的信号，控制所述聚光光学系统与所述信息载体的表面之间的距离；第二受光部，用被分割为多个的受光区域接收来自所述指定的信息层的反射光；位置偏差检测部，基于来自所述第二受光部的信号，检测所述光束的焦点与记录或再生所述指定的信息层中的信息的点的位置偏差；以及杂散光检测部，基于来自所述第一受光部的信号，检测来自所述位置偏差检测部的信号中所包含的、作为来自所述信息载体表面的反射光的表面杂散光成分，其中，所述位置偏差检测部具有基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正从所述位置偏差检测部输出的信号的杂散光修正部。
根据该结构，光源射出光束。聚光光学系统接近信息载体的表面配置，将从由光源射出的光束生成的近场光聚光于信息载体。聚焦部使光束聚焦于信息载体的指定信息层。第一受光部接收由聚光光学系统的出射端面反射的反射光。间隙控制部基于来自第一受光部的信号，控制聚光光学系统与信息载体的表面之间的距离。第二受光部被分割为多个的受光区域接收来自指定的信息层的反射光。位置偏差检测部基于来自第二受光部的信号，检测光束的焦点与记录或再生指定的信息层中的信息的点的位置偏差。杂散光检测部基于来自第一受光部的信号，检测来自位置偏差检测部的信号中所包含的、来自信息载体表面的反射光即表面杂散光成分。杂散光检测部基于来自第一受光部的信号检测表面杂散光成分。位置偏差检测部的杂散光修正部基于由杂散光检测部检测出的表面杂散光成分，修正从位置偏差检测部输出的信号。
根据本发明，由于基于表面杂散光成分修正从位置偏差检测部输出的信号，利用修正后的信号控制光束的焦点与记录或再生指定的信息层的信息的点的位置，因此，即使存在信息层的反射率变化、以及记录或再生时的光束照射功率变化，检测增益也能保持恒定，从而能够实现稳定的聚焦控制或者追踪控制。
本发明的目的、特征以及优点通过以下的详细说明与附图变得更加清楚。
附图说明
图1是表示本发明实施方式1的光盘装置的结构的方框图。
图2是表示图1中的拾光器的结构的方框图。
图3是表示图1中的运算部的结构的方框图。
图4是表示图1中的杂散光检测部以及杂散光修正部的结构的方框图。
图5是表示本发明实施方式1中的第二检测器的结构的俯视图。
图6是表示本发明实施方式1中的、GE信号输出与物镜光学系统和光盘表面之间的空隙的关系的图。
图7是表示本发明实施方式1中的、GE信号输出与物镜光学系统和光盘表面之间的空隙的关系以及表面反射光大小与空隙的关系的图。
图8是表示本发明实施方式1的变形例的光盘装置的结构的方框图。
图9是表示图8中的杂散光检测部以及杂散光修正部的结构的方框图。
图10是表示本发明实施方式2的光盘装置的结构的方框图。
图11是表示图10中的拾光器的结构的方框图。
图12是表示图10中的运算部的结构的方框图。
图13是表示图10中的杂散光检测部以及杂散光修正部的结构的方框图。
图14是表示本发明实施方式2中的第一检测器的结构的俯视图。
图15是表示本发明实施方式2的变形例的光盘装置的结构的方框图。
图16是表示图15中的杂散光检测部以及杂散光修正部的结构的方框图。
图17是表示以往的光盘装置中近场中的空隙与表面反射光的大小的关系的图。
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明的实施方式。此外，以下的实施方式是使本发明具体化的一例，不具有限定本发明的技术范围的性质。
(实施方式1)
图1是表示实施方式1的光盘装置的结构的方框图。图2是表示图1中的拾光器100的结构的方框图。图3是表示图1中的运算部116的结构的方框图。图4是表示图1中的杂散光检测部122以及杂散光修正部117的结构的方框图。
如图1所示，实施方式1的光盘装置包括：拾光器100、间隙控制部114、间隙驱动部115、位置偏差检测部121、杂散光检测部122、聚焦控制部119、以及聚焦驱动部120。位置偏差检测部121包括运算部116、杂散光修正部117、以及AGC(Automatic GainControl，自动增益控制)部118。
如图2所示，实施方式1中的拾光器100包括：光源101、准直透镜102、分束器103、偏振分束器104、1/4波长板105、扩束器106、物镜光学系统107、第一检测透镜109、第一检测器110、第二检测透镜111、第二检测器112、以及间隙制动器113。
另外，物镜光学系统107包括透镜107a和SIL(Solid Immersion Lens，固体浸没透镜)107b。
另外，如图3所示，运算部116包括加法器116a、加法器116b、加法器116c、以及减法器116d。加法部131由加法器116a、加法器116b、以及加法器116c构成。位置偏差信号生成部132由加法器116a、加法器116b、以及减法器116d构成。
另外，如图4所示，杂散光检测部122包括增益乘法部122a、偏置输出部122b、以及加法器122c，杂散光修正部117包括减法器117a。
光源101射出光束。物镜光学系统107接近光盘108的表面配置，将从由光源101射出的光束生成的近场光聚光于光盘108。扩束器106使光束聚焦于光盘108的指定信息层。第一检测器110接收由物镜光学系统107的出射端面反射的反射光。第二检测器112用被分割为多个的受光区域接收来自光盘108的指定信息层的反射光。
间隙控制部114基于来自第一检测器110的信号，控制物镜光学系统107与光盘108的表面之间的距离。位置偏差检测部121基于来自第二检测器112的信号，检测光束的焦点与记录或再生指定信息层中的信息的点的位置偏差。
杂散光检测部122基于来自第一检测器110的信号，检测来自位置偏差检测部121的信号中所包含的、来自光盘108表面的反射光即表面杂散光成分。
杂散光修正部117基于由杂散光检测部122检测出的表面杂散光成分，修正从位置偏差检测部121输出的信号。
运算部116对从第二检测器112输出的多个信号实施运算处理。加法部131将来自第二检测器112的多个信号进行加法运算。位置偏差信号生成部132对来自第二检测器112的多个信号进行运算，生成焦点方向位置偏差信号(聚焦误差信号)或者轨道方向位置偏差信号(追踪误差信号)。AGC部118通过将来自位置偏差信号生成部132的焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号除以来自杂散光修正部117的信号，生成标准化信号。另外，杂散光修正部117基于由杂散光检测部122检测出的表面杂散光成分，修正来自加法部131的信号，并将修正后的信号向AGC部118输出。
此外，在本实施方式1中，物镜光学系统107相当于聚光光学系统的一例，扩束器106相当于聚焦部的一例，第一检测器110相当于第一受光部的一例，间隙控制部114相当于间隙控制部的一例，第二检测器112相当于第二受光部的一例，位置偏差检测部121相当于位置偏差检测部的一例，杂散光检测部122相当于杂散光检测部的一例，杂散光修正部117相当于杂散光修正部的一例，加法部131相当于加法部的一例，位置偏差信号生成部132相当于位置偏差信号生成部的一例，AGC部118相当于标准化部的一例，光盘108相当于信息载体的一例。
对如上所述构成的光盘装置的动作进行说明。
从光源101射出的直线偏振的光束射入准直透镜102，通过准直透镜102而成为平行光。通过准直透镜102而变为平行光的光束透过分束器103和偏振分束器104射入1/4波长板105。射入1/4波长板的直线偏振的光束被转换为圆偏振的光束。由1/4波长板105转换为圆偏振的光束射入扩束器106。射入扩束器106的光束成为平行光和少量的发射光或汇聚光。由扩束器106变为平行光和少量的发射光或汇聚光的光束射入物镜光学系统107。
此处，物镜光学系统107包括透镜107a和SIL107b。通过使SIL107b的出射端面和与出射端面相对置的光盘108表面之间存在的空隙比作为短于光束波长的距离的瞬逝衰减长度短，进行基于瞬逝光的光传播。因此，在射入物镜光学系统107的光束中，临界角以下的光与通常一样传播到光盘108，临界角以上的光作为瞬逝光传播到光盘108。传播到光盘108的光束透过光盘108的覆盖层，汇聚于信息层。
汇聚于光盘108的信息层的光束由信息层反射以及衍射，经过物镜光学系统107、扩束器106、以及1/4波长板105射入偏振分束器104。射入偏振分束器104的光束中，具有与从光源101射出的光束平行的偏振面的成分透过，具有与从光源101射出的光束垂直的偏振面的成分被反射。
透过偏振分束器104的光束被分束器103反射，由第一检测透镜109转换为汇聚光，并由第一检测器110接收。第一检测器110将接收到的光束转换为电信号，生成表示SIL107b的出射端面与光盘108的表面的间隔的空隙的间隙信号(以下称为GE信号)，向间隙控制部114以及杂散光检测部122输出。
间隙控制部114具备例如由基于数字信号处理器(以下称为DSP)的数字滤波器构成的相位补偿电路以及低域补偿电路，通过对输入的GE信号实施相位补偿处理以及低域补偿处理，作为间隙驱动信号输出到间隙驱动部115。间隙驱动部115对输入的间隙驱动信号进行放大，并输出到间隙致动器113。间隙致动器113根据间隙驱动信号使物镜光学系统107移动。
通过以上动作，利用GE信号实现间隙控制，使物镜光学系统107的SIL107b的出射端面与光盘108表面之间的空隙保持恒定。
另一方面，被偏振分束器104反射的光束在由第二检测透镜111转换为汇聚光的同时被赋予球面像差，并由第二检测器112接收。
此处，图5中示出第二检测器112的俯视图。图5是表示本发明实施方式1中的第二检测器112的结构的俯视图。在图5中，纸面的上下方向是光盘108的径向(以下称为追踪方向)，纸面的左右方向是轨道长度方向。如图5所示，第二检测器112被四分割，具有四个受光区域112a、112b、112c、以及112d。受光区域112a、112b、112c、以及112d分别输出信号SA、SB、SC、以及SD。
第二检测器112将接收到的光束转换为电信号，将信号SA～SD输出到运算部116。运算部116的加法器116a通过将输入的信号SA与输入的信号SC相加，生成信号FEP，并输出到加法器116c以及减法器116d。运算部116的加法器116b通过将输入的信号SB与输入的信号SD相加，生成信号FEN，并输出到加法器116c以及减法器116d。加法器116c将输入的信号FEP与输入的信号FEN相加，生成表示来自光盘108的返回光的量的聚焦相加信号(以下称为FS信号)，并输出到杂散光修正部117。减法器116d通过从输入的信号FEP中减去输入的信号FEN，生成表示光盘108的信息层上的光点与信息层的位置关系的FE信号(聚焦误差信号)，并向AGC部118输出。
杂散光检测部122的增益乘法部122a将指定的增益值乘以输入的GE信号，并输出到加法器122c。偏置输出部122b将指定的偏置值输出到加法器122c。加法器122c通过将输入的来自增益乘法部122a的输出信号与来自偏置输出部122b的输出信号相加，生成作为FS信号中包含的杂散光成分(表面杂散光成分)的杂散光信号，并输出到杂散光修正部117的减法器117a。减法器117a通过从输入的FS信号中减去输入的杂散光信号，生成作为除去了杂散光成分的FS信号的修正FS信号，并输出到AGC部118。
AGC部118将输入的FE信号除以输入的修正FS信号，由此生成根据来自光盘108的信息层的光束的返回光的量对FE信号进行了标准化的FE_AGC信号，并输出到聚焦控制部119。聚焦控制部119与间隙控制部114同样，具备例如由基于DSP的数字滤波器构成的相位补偿电路以及低域补偿电路，聚焦控制部119对输入的FE_AGC信号实施相位补偿处理以及低域补偿处理，作为聚焦驱动信号输出到聚焦驱动部120。聚焦驱动部120对输入的聚焦驱动信号进行放大，并输出到扩束器106。扩束器106根据聚焦驱动信号在光轴方向上移动。
通过以上动作，根据利用除去了杂散光成分的修正FS信号被标准化的FE_AGC信号实现聚焦控制，使得光束的焦点正确地位于光盘108的信息层上。
如上所述，本实施方式1的杂散光检测部122基于来自第一检测器110的信号(GE信号)，检测来自位置偏差检测部121的信号(FS信号)中包含的杂散光成分。另外，本实施方式1的杂散光修正部117基于来自杂散光检测部122的信号，通过从FS信号中除去杂散光成分修正FS信号。
此外，本实施方式1的加法部131(加法器116a、加法器116b以及加法器116c)将来自第二检测器112的多个信号SA、SB、SC、SD相加。而且，本实施方式1的位置偏差检测部121包括对来自第二检测器112的多个信号SA、SB、SC、SD进行运算，生成焦点方向位置偏差信号(FE信号)或者轨道方向位置偏差信号的位置偏差信号生成部132。此外，在本实施方式1中，位置偏差信号生成部132生成焦点方向位置偏差信号(FE信号)，但本发明并不特别限定于此，也可以生成轨道方向位置偏差信号(TE信号)。
另外，本实施方式1的AGC部118通过将来自位置偏差信号生成部132的信号(FE信号)除以来自杂散光修正部117的信号(修正FS信号)，生成标准化信号(FE_AGC信号)。另外，杂散光修正部117基于来自杂散光检测部122的信号(杂散光成分)，修正来自加法部131的信号(FS信号)。
此处，说明本实施方式1中的杂散光成分的计算和FS信号的修正。
首先，对GE信号进行说明。
图6是表示本发明实施方式1中的、GE信号输出与物镜光学系统107和光盘108表面之间的空隙的关系的图。在图6中，横轴Gap为物镜光学系统107的SIL107b的光出射端面与光盘108表面之间的空隙，纵轴Ref为反射率。此处，反射率表示GE信号输出大小(level)相对于射入物镜光学系统107的光束的光量的比例。
GE信号是通过检测由物镜光学系统107的SIL107b的端面全反射的返回光的量，检测SIL107b的端面与光盘108表面之间的空隙长度的信号。在SIL107b与光盘108表面的空隙充分大的情况下，成为远场状态，以在SIL107b的端面全反射的角度入射的光被SIL107b的端面全反射。但是，若空隙达到光束波长的1/4左右以下而成为近场状态，则一部分全反射的返回光成分通过与光盘108的近场结合而作为瞬逝光透过至光盘108侧，因此全反射的返回光的量减少。并且，若SIL107b的端面与光盘108的表面完全接触、即空隙成为零，则在SIL107b端面全反射的返回光成分全部作为瞬逝光(evanescent light)透过至光盘108侧，因此全反射的返回光成分的量成为零。因此，空隙与全反射的返回光的量之间的关系为图6所示的特性。
接着，对作为杂散光成分的表面反射光进行说明。
图7是表示本发明实施方式1中的、GE信号输出与物镜光学系统107和光盘108表面之间的空隙的关系以及表面反射光大小(level)与空隙的关系的图。在图7中，横轴Gap与图6同样为空隙，纵轴Ref为反射率。此处，反射率是GE信号输出大小以及表面反射光大小相对于射入物镜光学系统107的光束光量的比例。另外，在图7中，实线表示GE信号，虚线表示表面反射光。
如图7所示，表面反射光大小以及GE信号输出大小随着空隙从波长的1/4左右向0减少而减小，若物镜光学系统107与光盘108表面接触，则两者均成为0。在本实施方式1中，利用表面反射光与GE信号在近场状态下相对于空隙具有定性的大致相同的特性，基于GE信号计算表面反射光、即FS信号中所包含的杂散光成分。
例如，在间隙控制的目标空隙为25nm的情况下，目标空隙附近的表面反射光与空隙的关系以及目标空隙附近的GE信号输出与空隙的关系如图7所示分别能够用一次函数f(Gap)以及一次函数g(Gap)近似。根据如上所述进行近似的一次函数f(Gap)以及一次函数g(Gap)，能够将表面反射光表示为GE信号的一次函数。
因此，通过利用增益乘法部122a对GE信号乘以增益值，用加法器122c将乘法结果与来自偏置输出部122b的偏置值相加，由此能够计算表面反射光、即FS信号中所包含的杂散光成分。
如上所述，本实施方式1的杂散光检测部122可以将杂散光成分作为来自第一检测器110的信号(GE信号)输出的函数(例如一次函数)来计算。即，杂散光检测部122将来自第一检测器110的输出信号输入至指定的函数，由此计算表面杂散光成分。指定的函数是将来自第一检测器110的信号输出近似为表面杂散光成分的一次函数。
此处，在本实施方式1中，表面反射光与空隙的关系以及GE信号输出与空隙的关系利用使用了设想的光学系统的参数的光学仿真结果进行计算。因此，增益乘法部122a的增益值和来自偏置输出部122b的偏置值是根据光学仿真结果求出的固定值。
另外，通过用减法器117a从FS信号中减去作为FS信号中所包含的杂散光成分的加法器122c的输出，能够从FS信号中除去杂散光成分，从而修正FS信号。
如以上所说明的那样，在本实施方式1中，利用第一检测器110、增益乘法部122a、偏置输出部122b、以及加法器122c，计算作为FS信号中所包含的杂散光成分的表面反射光的大小，并利用减法器117a从FS信号中除去杂散光成分。
因此，在使用SIL的光盘装置中，在光盘108存在覆盖层的情况下，通过从FS信号中除去杂散光成分来修正FS信号，能够利用修正FS信号正确地对FE信号进行标准化，从而利用标准化后的FE信号(FE_AGC信号)进行聚焦控制。因此，即使存在信息层的反射率变化、以及记录或再生时的光束照射功率变化，检测增益也能保持恒定，能够进行稳定的聚焦控制，其结果是能够实现光盘装置的记录性能以及再生性能的提高。
此外，在本实施方式1中，作为FS信号中所包含的杂散光成分的表面反射光大小用将GE信号近似为杂散光成分的一次函数来表示，但也可以用二次以上的函数表示。
通过采用以上结构，能够提高基于GE信号检测FS信号中所包含的杂散光成分的检测精度。
此外，在本实施方式1中，基于GE信号计算作为FS信号中所包含的杂散光成分的表面反射光时的增益值以及偏置值采用基于光学仿真结果的固定值，但本发明并不特别限定于此。即，在本实施方式1的变形例中的光盘装置中，也可以在光盘108的信息层上设置杂散光成分检测用区域，利用光束通过杂散光成分检测用区域时的FS信号以及GE信号，决定增益乘法部122a的增益值以及偏置输出部122b的偏置值。
以下，使用图8以及图9来说明本实施方式1的变形例中的光盘装置的动作。
图8是表示本发明实施方式1的变形例中的光盘装置的结构的方框图。图9是表示图8中的杂散光检测部222以及杂散光修正部117的结构的方框图。在图8以及图9中，对与图1～图5的结构要素相同的结构要素标注相同的符号，并省略说明。
图8所示的光盘装置包括：拾光器100、间隙控制部114、间隙驱动部115、位置偏差检测部121、杂散光检测部222、聚焦控制部119、聚焦驱动部120、以及微计算机201。位置偏差检测部121包括运算部116、杂散光修正部117、以及AGC部118。
另外，如图9所示，杂散光检测部222包括增益乘法部222a、偏置输出部222b、以及加法器122c。杂散光修正部117包括减法器117a。
光盘108的信息层具有不反射照射于信息层的光束的透过区域。该透过区域是在形成信息层时，通过在信息层的一部分设置不形成信息层的区域而生成的。
微计算机201推定将来自第一检测器110的GE信号输出近似为表面杂散光成分的指定的函数。微计算机201设定多个作为间隙控制部114的控制目标的间隙大小(level)，基于在设定各间隙大小时光束通过透过区域时所得到的来自加法部131的信号大小和设定的各间隙大小，推定指定的函数。
此外，在本实施方式1的变形例中，杂散光检测部222相当于杂散光检测部的一例，微计算机201相当于函数推定部的一例。
对如上所述构成的本实施方式1的变形例中的光盘装置的动作进行说明。
光盘108的信息层具有不反射照射到信息层上的光束的区域(杂散光成分检测用区域)。第一检测器110将接收到的光束转换为电信号，生成GE信号，并向间隙控制部114、杂散光检测部222、以及微计算机201输出。运算部116中的加法器116c通过将输入的信号FEP与输入的信号FEN相加，生成FS信号，并输出到杂散光修正部117以及微计算机201。
微计算机201将作为间隙控制的控制目标的目标间隙值向间隙控制部114输出，设定目标间隙值。微计算机201将多个目标间隙值作为控制目标，设定到间隙控制部114中。间隙控制部114使用设定的各目标间隙值进行间隙控制。在以设定的各目标间隙值进行间隙控制的状态下，检测FS信号大小与GE信号大小。微计算机201利用在以各目标间隙值进行间隙控制的状态下检测出的各FS信号大小与各GE信号大小的关系，计算用于根据GE信号计算作为FS信号中所包含的杂散光成分的杂散光信号的增益值和偏置值。微计算机201将计算结果的增益值设定到增益乘法部222a中，并且将计算结果的偏置值设定到偏置输出部222b中。
通过以上动作，根据利用从FS信号中除去了杂散光成分的修正FS信号而被标准化的FE信号(FE_AGC信号)实现聚焦控制，使光束的焦点正确地位于光盘108的信息层上。
此处，说明在本实施方式1的变形例的结构中由微计算机201执行的增益乘法部222a的增益值和偏置输出部222b的偏置值的运算。
考虑光点在光盘108信息层上的不反射光束的区域中进行聚焦控制的状态。此时，由于来自信息层的返回光的量为0，因此检测出的FS信号的信号大小是作为杂散光成分的表面反射光大小。因此，通过检测此时的GE信号大小与FS信号大小，能够取得将间隙控制目标设定为某空隙长度时的GE信号大小与作为杂散光成分的表面反射光大小的关系。
此处，在如本结构这样用GE信号的一次函数来表示作为FS信号中所包含的杂散光成分的杂散光信号的情况下，可以以如下方式决定该一次函数的增益值和偏置值。即，在光点在光盘108信息层上的不反射光束的区域中进行聚焦控制的状态下，微计算机201设定作为间隙控制目标的至少两个目标间隙值，检测各目标间隙值时的GE信号大小和FS信号大小。微计算机201根据在各目标间隙值时检测出的GE信号大小以及FS信号大小的结果，计算增益乘法部222a的增益值和偏置输出部222b的偏置值。
如上所述，本实施方式1的变形例的微计算机201可以设定多个作为间隙控制部114的控制目标的间隙大小(目标间隙值)，基于在设定各间隙大小时光束通过杂散光成分检测用区域时所得到的来自加法部131的信号(FS信号)大小和设定的各间隙大小(GE信号大小)，推定指定的函数。
通过采用以上结构，拾光器100所使用的部件的偏差、拾光器100的调整步骤的偏差、以及光盘108的覆盖层所使用的材质的偏差等用于决定FS信号中所包含的杂散光成分的光学参数即使相对于设计值发生变化，也能够利用设置于光盘108的信息层的杂散光成分检测用区域，由微计算机201计算用于杂散光成分运算的最适合的增益值以及偏置值，因而能够精度较好地计算杂散光成分。
此外，在本实施方式1中，通过利用由修正FS信号进行了标准化的FE-AGC信号，能够实现稳定的聚焦控制，而对追踪控制也能够得到相同的效果。即，可以采用对来自第二检测器112的输出信号SA～SD，利用推挽法生成TE(追踪误差)信号，利用由修正FS信号对生成的TE信号进行了标准化的TE_AGC信号实施追踪控制的结构。
通过采用以上结构，在使用SIL的光盘装置中，在光盘108存在覆盖层的情况下，通过从FS信号中除去杂散光成分来修正FS信号，能够利用修正FS信号正确地对TE信号进行标准化，从而利用标准化后的TE信号(TE_AGC信号)进行追踪控制。因此，即使存在信息层的反射率变化、以及记录或再生时的光束照射功率变化，检测增益也能保持恒定，能够进行稳定的追踪控制，其结果是能够实现光盘装置的记录性能以及再生性能的提高。
(实施方式2)
图10是表示本发明实施方式2的光盘装置的结构的方框图。图11是表示图10中的拾光器200的结构的方框图。图12是表示图10中的运算部123的结构的方框图。图13是表示图10中的杂散光检测部322以及杂散光修正部217的结构的方框图。此外，对与实施方式1相同的部分标注相同的编号，并省略其说明。
如图10所示，实施方式2的光盘装置包括：拾光器200、间隙控制部114、间隙驱动部115、位置偏差检测部221、杂散光检测部322、聚焦控制部119、聚焦驱动部120、以及运算部123。位置偏差检测部221包括运算部216和杂散光修正部217。
如图11所示，实施方式2中的拾光器200包括：光源101、准直透镜102、分束器103、偏振分束器104、1/4波长板105、扩束器106、物镜光学系统107、第一检测透镜109、第一检测器210、第二检测透镜111、第二检测器112、以及间隙制动器113。
另外，如图12所示，运算部123包括加法器123a、加法器123b、加法器123c、以及减法器123d。
另外，如图13所示，杂散光检测部322包括增益乘法部322a，杂散光修正部217包括减法器217a。
第一检测器210与第二检测器112相同具有被分割为多个的受光区域。位置偏差检测部221具有对来自第二检测器112的多个信号进行运算，生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号的位置偏差信号生成部132。
运算部123对来自第一检测器210的多个信号，进行与位置偏差信号生成部132相同的运算。杂散光检测部322基于来自运算部123的信号检测表面杂散光成分。杂散光修正部217基于由杂散光检测部322检测出的表面杂散光成分，修正从位置偏差信号生成部132输出的信号。
运算部216包括位置偏差信号生成部132。如后所述，本实施方式2的位置偏差信号生成部132对来自第二检测器112的多个信号进行运算，生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号。
另外，如后所述，本实施方式2的运算部123对来自第一检测器210的多个信号，进行与运算部116的位置偏差信号生成部132相同的运算。
此外，在本实施方式2中，第一检测器210相当于第一受光部的一例，位置偏差信号生成部132相当于位置偏差信号生成部的一例，运算部123相当于运算部的一例，杂散光检测部322相当于杂散光检测部的一例，杂散光修正部217相当于杂散光修正部的一例。
对如上所述构成的光盘装置的动作进行说明。
透过偏振分束器104的光束被分束器103反射，由第一检测透镜109转换为汇聚光，并由第一检测器210接收。
此处，图14示出第一检测器210的俯视图。图14是表示本发明实施方式2中的第一检测器210的结构的俯视图。在图14中，纸面的上下方向是光盘108的追踪方向，纸面的左右方向是轨道长度方向。如图14所示，第一检测器210与第二检测器112同样被四分割，具有四个受光区域210a、210b、210c、以及210d。即，本实施方式2的第一检测器210与第二检测器112相同具有被分割为多个的受光区域210a、210b、210c、以及210d。受光区域210a、210b、210c、以及210d分别输出信号SGA、SGB、SGC、以及SGD。
第一检测器210将接收到的光束转换为电信号，将信号SGA～SGD输出到运算部123。运算部123的加法器123a通过将输入的信号SGA与输入的信号SGC相加，生成信号GE_FEP，并输出到加法器123c以及减法器123d。运算部123的加法器123b将输入的信号SGB与输入的信号SGD相加，生成信号GE_FEN，并输出到加法器123c以及减法器123d。加法器123c通过将输入的信号GE_FEP与输入的信号GE_FEN相加，生成GE信号，并输出到间隙控制部114。减法器123d从输入的信号GE_FEP中减去输入的信号GE_FEN，由此生成进行了与FE信号相同运算的信号GE_FE，并向杂散光修正部217输出。运算部216的减法器116d从输入的信号FEP中减去输入的信号FEN，由此生成FE信号，并向杂散光修正部117输出。
杂散光检测部322的增益乘法部322a通过对输入的信号GE_FE乘以指定的增益值，生成作为FS信号中包含的杂散光成分的杂散光信号，并输出到杂散光修正部217的减法器217a。减法器217a从输入的FE信号中减去输入的杂散光信号，由此生成作为修正了杂散光成分的FE信号的修正FE信号，并输出到聚焦控制部119。聚焦控制部119通过对输入的修正FE信号实施相位补偿处理以及低域补偿处理，作为聚焦驱动信号而被输出到聚焦驱动部120。
通过以上动作，利用除去了杂散光成分的修正FE信号实现聚焦控制，使得光束的焦点正确地位于光盘108的信息层上。
此处，说明本实施方式2中的杂散光成分的计算和FE信号的修正。
首先，对FE信号中包含的杂散光成分进行说明。
在物镜光学系统107的SIL107b的端面相对于光盘108的表面发生倾斜的情况下，空隙长度根据SIL107b端面上的位置不同而异。根据图7，作为第二检测器112接收的返回光中包含的杂散光成分的表面反射光的光量根据空隙长度而发生变化。因此，由第二检测器112检测出的返回光的量中包含的表面反射光的量因受光区域而异。若作为杂散光成分的表面反射光的量因第二检测器112的受光区域而异，则作为生成了FE信号的结果，FE信号由于杂散光成分而产生偏置。
接着，说明FE信号中包含的杂散光成分的计算和FE信号的修正。
根据图7，作为第二检测器112接收的返回光中包含的杂散光成分的表面反射光相对于空隙的特性与来自SIL107b端面的返回光的特性定性地大致一致。另外，由第一检测器210检测出的返回光的量与由实施方式1中的第一检测器110检测出的返回光的量相同。因此，用于生成GE信号的第一检测器210检测出的返回光的量因受光区域而异，由第一检测器210检测出的返回光的量的分布与由第二检测器112检测出的表面反射光的量的分布大致一致。
即，对作为来自第一检测器210的输出信号的信号SGA～SGD进行与生成FE信号时相同的运算而得到的GE_FE信号与由于FE信号中包含的杂散光成分而产生的偏置相应。
另外，根据图7，空隙为25nm附近时的第一检测器210的表面反射光的量以及返回光的量分别能够用一次函数f(Gap)以及一次函数g(Gap)近似。因此，若将间隙控制的目标间隙值为25nm时光量f(25)与光量g(25)的比f(25)/g(25)设定为增益乘法部322a中相乘的增益值，则来自增益乘法部322a的输出信号成为表示由FE信号中包含的杂散光成分产生的偏置的信号。
通过利用减法器217a从FE信号中减去表示由FE信号中包含的杂散光成分产生的偏置的信号，能够除去由FE信号中包含的杂散光成分产生的偏置，从而修正FE信号。
如上所述，在本实施方式2的光盘装置中，基于来自运算部123的信号检测杂散光成分。另外，杂散光修正部217基于来自杂散光检测部322的信号，除去来自位置偏差信号生成部132的信号中包含的杂散光成分。
此时，杂散光检测部322可以将杂散光成分作为来自运算部123的信号输出的函数(例如一次函数)来计算。即，杂散光检测部322通过将来自运算部123的信号输出输入指定的函数，计算表面杂散光成分。指定的函数是将来自运算部123的信号输出近似为表面杂散光成分的一次函数。
如以上所说明的那样，在本实施方式2中，利用第一检测器210、运算部123、以及增益乘法部322a，计算作为FS信号中所包含的杂散光成分的表面反射光所产生的偏置，并利用减法器217a从FE信号中除去由杂散光成分产生的偏置。
因此，在使用SIL的光盘装置中，在光盘108存在覆盖层的情况下，通过从FE信号中除去由杂散光成分产生的偏置来修正FE信号，能够利用修正后的FE信号进行聚焦控制。因此，能够精度较好地进行稳定的聚焦控制，其结果是，能够实现光盘装置的记录性能以及再生性能的提高。
此外，在本实施方式2中，由FE信号中包含的杂散光成分产生的偏置用将GE_FE信号近似为杂散光成分的一次函数来表示，但也可以用二次以上的函数表示。
通过采用以上结构，能够提高基于GE_FE信号计算的、由FE信号中包含的杂散光成分产生的偏置的检测精度。
此外，在本实施方式2中，基于GE_FE信号计算由FE信号中包含的杂散光成分产生的偏置时的增益值采用基于光学仿真结果的固定值，但本发明并不特别限定于此。即，在本实施方式2的变形例的光盘装置中，也可以利用表示再生记录于光盘108中的信息时的再生信号质量的指标，学习增益乘法部322a的增益值。
以下，用图15以及图16来说明本实施方式2的变形例中的光盘装置的动作。
图15是表示本发明实施方式2的变形例中的光盘装置的结构的方框图。图16是表示图15中的杂散光检测部422以及杂散光修正部217的结构的方框图。在图15以及图16中，对与图10～图14的结构要素相同的结构要素标注相同的符号，并省略说明。
图15所示的光盘装置包括：拾光器200、间隙控制部114、间隙驱动部115、位置偏差检测部321、杂散光检测部422、聚焦控制部119、聚焦驱动部120、运算部123、调制度测定部124、以及微计算机201。位置偏差检测部121包括运算部116和杂散光修正部217。
另外，如图16所示，杂散光检测部422包括增益乘法部422a。杂散光修正部217包括减法器217a。
调制度测定部124测定记录于再生信息层中的信息的再生信号的信号质量。微计算机201推定一次函数中对于来自运算部123的信号输出的系数。微计算机201将作为系数候选的多个候选系数设定到杂散光检测部422，基于设定的各候选系数与设定各候选系数时得到的来自调制度测定部124的测定结果的组合，计算最适合的系数。即，微计算机201例如用二次函数近似设定的各候选系数与设定各候选系数时得到的来自调制度测定部124的信号质量的多个组合，计算信号质量达到极值的系数作为最优系数。
此外，在本实施方式2的变形例中，调制度测定部124相当于再生信号质量测定部的一例，位置偏差检测部321相当于位置偏差检测部的一例，杂散光检测部422相当于杂散光检测部的一例，微计算机201相当于系数推定部的一例。
对如上所述构成的本实施方式2的变形例中的光盘装置的动作进行说明。
微计算机201设定杂散光检测部422的增益乘法部422a的增益值。杂散光检测部422的增益乘法部422a通过对输入的GE_FE信号乘以由微计算机201设定的增益值，生成作为FE信号中包含的杂散光成分的杂散光信号，并输出到杂散光修正部217的减法器217a。
运算部116的加法器116c(参照图3)通过将输入的信号FEP与输入的信号FEN相加，生成RF信号(再生信号)，并向调制度测定部124输出。
调制度测定部124测定输入的RF信号的调制度，将作为测定结果的调制度向微计算机201输出。
微计算机201设定多个增益乘法部422a的增益值，保持设定的各增益值与在设定各增益值状态下得到的由调制度测定部124测定的调制度的组合。
微计算机201从保持的增益值与调制度的组合中，计算调制度达到最大的最优增益值。微计算机201例如用二次函数对保持的增益值与调制度的多个组合进行近似，计算调制度达到最大的增益值作为最优增益值。
微计算机201将计算出的最优增益值设定为增益乘法部422a的增益值。
通过以上动作，利用作为再生记录于光盘108中的信息时的再生信号质量指标的调制度，能够学习增益乘法部422a的最优增益值。
如上所述，本实施方式2的变形例的光盘装置包括基于来自加法部131(加法器116a、加法器116b、以及加法器116c)的信号(RF信号)，测定再生记录于信息层中的信息时的信号质量(例如调制度)的再生信号质量测定部(调制度测定部124)。另外，本实施方式2的变形例的光盘装置包括推定一次函数中来自运算部123的信号输出的系数(增益乘法部422a的增益值)的系数推定部(微计算机201)。此时，系数推定部(微计算机201)将作为系数候选的多个候选系数设定到增益乘法部422a，基于设定的各候选系数与设定各候选系数时得到的来自再生信号质量测定部(调制度测定部124)的测定结果的组合，计算最适合的系数(最优增益值)。
通过采用以上结构，拾光器200所使用的部件的偏差、拾光器200的调整步骤的偏差、以及光盘108的覆盖层所使用的材质的偏差等用于决定FE信号中所包含的杂散光成分的光学参数即使相对于设计值发生变化，也能够利用作为再生记录于光盘108的信息层中的信息时的信号质量的调制度，由微计算机201计算用于杂散光成分运算的最适合的增益值，因而能够精度较好地计算杂散光成分。
此外，在本实施方式2的变形例中，采用作为再生信号质量指标使用RF信号的调制度的结构，但在微计算机201计算最优增益值时，再生信号质量指标并不限定于调制度。
此外，在本实施方式2以及本实施方式2的变形例中，将利用与生成FE信号时相同的运算得到的GE_FE信号用于FE信号的修正，由此能够精度较好地实现稳定的聚焦控制，而对追踪控制也能得到相同的效果。
即，可以采用对来自第二检测器112的输出信号SA～SD，利用推挽法生成TE信号，对来自第一检测器210的输出信号SGA～SGD，利用与生成TE信号时相同的运算生成GE_TE信号，将生成的GE_TE信号作为TE信号中包含的杂散光成分用于TE信号的修正以生成修正TE信号，利用修正TE信号实施追踪控制的结构。
通过采用以上结构，在使用SIL的光盘装置中，在光盘108存在覆盖层的情况下，通过从TE信号中除去由杂散光成分产生的偏置来修正TE信号，能够利用修正TE信号进行追踪控制。因此，能够精度较好地进行稳定的追踪控制，其结果是，能够实现光盘装置的记录性能以及再生性能的提高。
此外，在实施方式1以及2的光盘装置中，可以利用从SIL射出的光在光盘108中记录及/或再生信息。
或者，上述实施方式1及2的光盘装置可以适用于包括记录再生部的记录/再生装置，该记录再生部具备用于在光盘上记录及/或再生信息的近场光产生元件。
该近场光产生元件例如可以是整体比汇聚光的光点大，并且具有细长地形成的结构的金属板。金属板例如是具有开于金属板内部的一部分处的微小孔和该孔的一部分变尖形成的突起部的形状。作为金属板的材料，较为理想的是，选择与所使用的光束的波长相配合地与金属板进行等离子共振的材料。金属板的材料例如可以是金(Au)等。
光束聚光于近场光产生元件后，通过等离子共振产生近场光。并且，将该近场光照射于光盘，由此能够在光盘上记录及/或再生信息。
在这种包括具有近场光产生元件的记录再生部，利用记录再生部记录及/或再生信息的记录/再生装置中，为了进行间隙控制、追踪控制或者聚焦控制，可以另外使用上述实施方式1及2的光盘装置。
由此，能够利用修正了杂散光的修正控制信号进行信息层上的光点的位置控制。因此，能够提高控制的稳定性，实现具有近场光产生元件的记录再生部的记录性能以及再生性能的提高。
此外，上述的具体实施方式中主要包含具有以下结构的发明。
本发明所涉及的光盘装置包括：光源，射出光束；聚光光学系统，接近信息载体的表面配置，将由所述光源射出的光束生成的近场光聚光于所述信息载体；聚焦部，使所述光束聚焦于所述信息载体的指定的信息层；第一受光部，接收由所述聚光光学系统的出射端面反射的反射光；间隙控制部，基于来自所述第一受光部的信号，控制所述聚光光学系统与所述信息载体的表面之间的距离；第二受光部，由被分割为多个的受光区域接收来自所述指定的信息层的反射光；位置偏差检测部，基于来自所述第二受光部的信号，检测所述光束的焦点与记录或再生所述指定的信息层中的信息的点的位置偏差；以及杂散光检测部，基于来自所述第一受光部的信号，检测来自所述位置偏差检测部的信号中所包含的、作为来自所述信息载体表面的反射光的表面杂散光成分，其中，所述位置偏差检测部具有基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正从所述位置偏差检测部输出的信号的杂散光修正部。
根据该结构，光源射出光束。聚光光学系统接近信息载体的表面配置，将从由光源射出的光束生成的近场光聚光于信息载体。聚焦部使光束聚焦于信息载体的指定信息层。第一受光部接收由聚光光学系统的出射端面反射的反射光。间隙控制部基于来自第一受光部的信号控制聚光光学系统与信息载体的表面之间的距离。第二受光部用被分割为多个的受光区域接收来自指定的信息层的反射光。位置偏差检测部基于来自第二受光部的信号，检测光束的焦点与记录或再生指定的信息层中的信息的点的位置偏差。杂散光检测部基于来自第一受光部的信号，检测来自位置偏差检测部的信号中所包含的、来自信息载体表面的反射光即表面杂散光成分。杂散光检测部基于来自第一受光部的信号检测表面杂散光成分。位置偏差检测部的杂散光修正部基于由杂散光检测部检测出的表面杂散光成分，修正从位置偏差检测部输出的信号。
因此，基于表面杂散光成分，从位置偏差检测部输出的信号得以修正，由于利用修正后的信号控制光束的焦点与记录或再生指定的信息层中的信息的点的位置，因而即使存在信息层的反射率变化、以及记录或再生时的光束照射功率变化，检测增益也能保持恒定，能够实现稳定的聚焦控制或者追踪控制。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述位置偏差检测部还具有：将来自所述第二受光部的多个信号相加的加法部；对来自所述第二受光部的多个信号进行运算以生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号的位置偏差信号生成部；通过将来自所述位置偏差信号生成部的焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号除以来自所述杂散光修正部的信号，生成标准化信号的以及标准化部，所述杂散光修正部基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正来自所述加法部的信号，并将修正后的信号向所述标准化部输出。
根据该结构，加法部将来自第二受光部的多个信号相加。位置偏差信号生成部对来自第二受光部的多个信号进行运算，以生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号。标准化部通过将来自位置偏差信号生成部的焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号除以来自杂散光修正部的信号，生成标准化信号。杂散光修正部基于由杂散光检测部检测出的表面杂散光成分修正来自加法部的信号，并将修正后的信号向标准化部输出。
因此，能够基于由杂散光检测部检测出的表面杂散光成分，修正来自加法部的信号，通过将焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号除以修正后的信号，进行标准化而得到标准化信号，利用该标准化信号进行聚焦控制或者追踪控制。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述杂散光检测部通过将来自所述第一受光部的信号输出输入指定的函数，计算所述表面杂散光成分。
根据该结构，由于通过将来自第一受光部的信号输出输入指定的函数，来计算表面杂散光成分，因而能够容易地计算表面杂散光成分。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述指定的函数是将来自所述第一受光部的信号输出近似为所述表面杂散光成分的一次函数。
根据该结构，由于指定的函数是将来自第一受光部的信号输出近似为表面杂散光成分的一次函数，因而通过将来自第一受光部的信号输出乘以指定的增益值，并且加上指定的偏置值，能够容易地计算表面杂散光成分。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述信息载体的信息层具有不反射照射于信息层的光束的透过区域，所述光盘装置还包括推定所述指定的函数的函数推定部，所述函数推定部设定多个作为所述间隙控制部的控制目标的间隙大小，基于在设定各间隙大小时光束通过所述透过区域时所得到的来自所述加法部的信号大小和所述设定的各间隙大小，推定所述指定的函数。
根据该结构，信息载体的信息层具有不反射照射于信息层的光束的透过区域。函数推定部设定多个作为间隙控制部的控制目标的间隙大小，基于在设定各间隙大小时光束通过透过区域时所得到的来自加法部的信号大小和设定的各间隙大小，推定指定的函数。
因此，光盘装置所使用的部件的偏差、光盘装置的调整步骤的偏差、以及信息载体的覆盖层所使用的材质的偏差等，用于决定表面杂散光成分的光学参数即使相对于设计值发生变化，也能够利用信息载体的信息层中设置的透过区域，推定用于计算表面杂散光成分的最适合的函数，因而能够精度较好地计算表面杂散光成分。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述第一受光部具有与所述第二受光部同样被分割为多个的受光区域，所述位置偏差检测部还具有对来自所述第二受光部的多个信号进行运算，以生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号的位置偏差信号生成部，所述光盘装置还包括对来自所述第一受光部的多个信号进行与所述位置偏差信号生成部相同的运算的运算部，所述杂散光检测部基于来自所述运算部的信号检测所述表面杂散光成分，所述杂散光修正部基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正从所述位置偏差信号生成部输出的信号。
根据该结构，第一受光部具有与第二受光部同样被分割为多个的受光区域。位置偏差检测部的位置偏差信号生成部对来自第二受光部的多个信号进行运算，以生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号。运算部对来自所述第一受光部的多个信号进行与位置偏差信号生成部相同的运算。杂散光检测部基于来自运算部的信号检测表面杂散光成分。杂散光修正部基于由杂散光检测部检测出的表面杂散光成分，修正从位置偏差信号生成部输出的信号。
因此，由运算部对来自第一受光部的多个信号进行与位置偏差信号生成部相同的运算，基于来自运算部的信号检测表面杂散光成分，基于检测出的表面杂散光成分修正从位置偏差信号生成部输出的信号，因而利用基于杂散光成分修正后的信号，控制光束的焦点与记录或再生指定的信息层中的信息的点的位置，因此，即使存在信息层的反射率变化、以及记录或再生时的光束照射功率变化，检测增益也能保持恒定，能够实现稳定的聚焦控制或者追踪控制。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述杂散光检测部通过将来自所述运算部的信号输出输入指定的函数，计算所述表面杂散光成分。
根据该结构，通过将来自运算部的信号输出输入指定的函数，由此计算表面杂散光成分，因而能够容易地计算表面杂散光成分。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述指定的函数是将来自所述运算部的信号输出近似为所述表面杂散光成分的一次函数。
根据该结构，指定的函数是将来自运算部的信号输出近似为表面杂散光成分的一次函数，因而通过将来自运算部的信号输出乘以指定的增益值，并且加上指定的偏置值，能够容易地计算表面杂散光成分。
另外，在上述光盘装置中，较为理想的是，所述光盘装置还包括：再生信号质量测定部，测定再生纪录于所述信息层的信息的再生信号的信号质量；以及系数推定部，推定所述一次函数中对于来自所述运算部的信号输出的系数，其中，所述系数推定部将作为所述系数的候选的多个候选系数设定到所述杂散光检测部，基于设定的各候选系数与设定各候选系数时所得到的来自所述再生信号质量测定部的测定结果的组合，计算最适合的所述系数。
根据该结构，再生信号质量测定部测定再生信息层中记录的信息的再生信号的信号质量。系数推定部推定一次函数中对于来自运算部的信号输出的系数。系数推定部将作为系数的候选的多个候选系数设定到杂散光检测部，基于设定的各候选系数与设定各候选系数时得到的来自再生信号质量测定部的测定结果的组合，计算最适合的系数。
因此，光盘装置所使用的部件的偏差、光盘装置的调整步骤的偏差、以及信息载体的覆盖层所使用的材质的偏差等，用于决定表面杂散光成分的光学参数即使相对于设计值发生变化，也能够利用再生信息载体的信息层中记录的信息时再生信号的信号质量的测定结果，推定用于计算表面杂散光成分的最适合的系数，因而能够精度较好地计算表面杂散光成分。
此外，在用于实施发明的方式的项目中描述的具体实施方式或实施例只是为了明确本发明的技术内容，不应仅限定于这样的具体例而狭义解释，在本发明的精神和权利要求项的范围内，能够进行各种变更并实施。
产业上的可利用性
本发明所涉及的光盘装置、尤其是使用数值孔径超过1的SIL对具有覆盖层的光盘记录或再生信息的光盘装置，由于利用修正了杂散光的信号对聚焦误差信号或者追踪误差信号正确地进行标准化，并利用标准化后的聚焦误差信号或者追踪误差信号进行聚焦控制或者追踪控制，因而具有稳定的聚焦性能或者追踪性能，对于大容量的光盘刻录机或者计算机用存储器装置等是有用的。

Claims (9)

1.一种光盘装置，其特征在于包括：
光源，射出光束；
聚光光学系统，接近信息载体的表面配置，将由所述光源射出的光束生成的近场光聚光于所述信息载体；
聚焦部，使所述光束聚焦于所述信息载体的指定的信息层；
第一受光部，接收由所述聚光光学系统的出射端面反射的反射光；
间隙控制部，基于来自所述第一受光部的信号，控制所述聚光光学系统与所述信息载体的表面之间的距离；
第二受光部，用被分割为多个的受光区域接收来自所述指定的信息层的反射光；
位置偏差检测部，基于来自所述第二受光部的信号，检测所述光束的焦点与记录或再生所述指定的信息层中的信息的点的位置偏差；以及
杂散光检测部，基于来自所述第一受光部的信号，检测来自所述位置偏差检测部的信号中所包含的、作为来自所述信息载体表面的反射光的表面杂散光成分，其中，
所述位置偏差检测部，具有基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正从所述位置偏差检测部输出的信号的杂散光修正部。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，
所述位置偏差检测部还具有：
将来自所述第二受光部的多个信号相加的加法部；
对来自所述第二受光部的多个信号进行运算以生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号的位置偏差信号生成部；以及
通过将来自所述位置偏差信号生成部的焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号除以来自所述杂散光修正部的信号，生成标准化信号的标准化部，其中，
所述杂散光修正部，基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正来自所述加法部的信号，并将修正后的信号向所述标准化部输出。
3.根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于：所述杂散光检测部，通过将来自所述第一受光部的信号输出输入指定的函数，计算所述表面杂散光成分。
4.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：所述指定的函数，是将来自所述第一受光部的信号输出近似为所述表面杂散光成分的一次函数。
5.根据权利要求3或4所述的光盘装置，其特征在于：
所述信息载体的信息层，具有不反射照射于信息层的光束的透过区域，
所述光盘装置还包括推定所述指定的函数的函数推定部，其中，
所述函数推定部，设定多个作为所述间隙控制部的控制目标的间隙大小，基于在设定各间隙大小时光束通过所述透过区域时所得到的来自所述加法部的信号大小和所述设定的各间隙大小，推定所述指定的函数。
6.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：
所述第一受光部，具有与所述第二受光部同样被分割为多个的受光区域，
所述位置偏差检测部，还具有对来自所述第二受光部的多个信号进行运算，生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号的位置偏差信号生成部，
所述光盘装置还包括对来自所述第一受光部的多个信号进行与所述位置偏差信号生成部相同的运算的运算部，
所述杂散光检测部，基于来自所述运算部的信号检测所述表面杂散光成分，
所述杂散光修正部，基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正从所述位置偏差信号生成部输出的信号。
7.根据权利要求6所述的光盘装置，其特征在于：所述杂散光检测部，通过将来自所述运算部的信号输出输入指定的函数，计算所述表面杂散光成分。
8.根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于：所述指定的函数，是将来自所述运算部的信号输出近似为所述表面杂散光成分的一次函数。
9.根据权利要求8所述的光盘装置，其特征在于，所述光盘装置还包括：
再生信号质量测定部，测定再生记录于所述信息层的信息的再生信号的信号质量；以及
系数推定部，推定所述一次函数中对于来自所述运算部的信号输出的系数，其中，
所述系数推定部，将作为所述系数的候选的多个候选系数设定到所述杂散光检测部，基于设定的各候选系数与设定各候选系数时所得到的来自所述再生信号质量测定部的测定结果的组合，计算最适合的所述系数。
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PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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