CN1942951A - 光学数据存储系统和光学记录和/或读取的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明描述了一种用于使用具有波长λ的辐射光束进行记录和/或读取的光学数据存储系统。辐射光束被会聚到光学数据存储介质的数据存储层上。所述介质具有对于会聚辐射光束是透明的覆盖层。所述覆盖层的厚度h小于5μm。厚度变化基本上小于焦距50nm的覆盖层摒除了对物镜进行动态聚焦控制的需要，否则，除了间隙伺服之外，还需要动态聚焦控制。另外还描述了一种使用这种光学数据存储系统进行光学记录的方法，通过所述方法实现了静态聚焦控制和球面象差校正以适应介质与介质的变化。例如可通过优化来自导入轨迹的已知信号的调制深度来实现静态聚焦控制。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于使用会聚到光学数据存储介质的数据存储层上的具有波长λ的辐射光束进行记录和/或读取的光学数据存储系统，所述系统包括：
-具有对于会聚辐射光束是透明的覆盖层的介质，所述覆盖层的厚度h小于5μm；
-光学头，包括具有数值孔径NA的物镜，所述物镜包括一个固态浸没透镜，所述固态浸没透镜适用于呈现在距离所述介质的最外表面小于λ/10的自由工作距离处并被布置在所述光学数据存储介质的覆盖层侧，并且在记录/读取期间会聚辐射光束通过倏逝波耦合而从所述固态浸没透镜耦合到光学数据存储介质的覆盖层中。
本发明还涉及一种使用这种系统进行光学记录和/或读取的方法。
技术背景
对于光学记录系统中的会聚光斑大小或光学分辨率的典型量度由r＝λ(2NA)给出，其中λ是空气中的波长，并且透镜的数值孔径被定义为NA＝sinθ，参见图1。在图1A中，绘制出了空气入射构型，其中数据存储层在数据存储介质的表面处，即所谓的第一表面数据存储。在图1B中，折射率为n0的覆盖层保护数据存储层免受刮擦和灰尘等破坏。
从这些图中推断出：如果将覆盖层施加在数据存储层的顶部，则光学分辨率不会发生变化，另一方面，在覆盖层中，内部开度角θ′较小，并因此内部数值孔径NA′得以减小，而且介质的波长λ′也缩短相同的因数n0。期望具有高的光学分辨率，因为光学分辨率越高，在介质的相同区域上能够存储的数据越多。提高光学分辨率的直接方法包括以透镜复杂性为代价换来会聚光束开度角的加宽、缩窄可允许的盘倾斜容限等、或者减小在空气中的波长，即改变扫描激光的颜色。
减小光盘系统中的会聚光斑尺寸的另一种提议方法包括使用固态浸没透镜(SIL)，参见图2。按照其最简单的形式，SIL是中心在数据存储层上的半球，参见图2A，从而会聚光斑在SIL和数据层之间的界面上。与相同折射率n0′＝nSIL的覆盖层结合使用，SIL是一个球体的切向切割部分，所述切割部分被放置在覆盖层上，其(虚拟)中心也被放置在存储层上，参见图2B。SIL的工作原理是它在存储层处将波长减小一个因数nSIL，即SIL的折射率，而没有改变开度角θ。其原因是在SIL处不会出现光折射，因为所有光都是以与SIL的表面成直角进入的(比较图1B和图2A)。
非常重要但到此为止还未提及的是在SIL和记录介质之间存在非常薄的空气间隙。这将允许记录盘关于记录器物镜(透镜加SIL)自由旋转。该空气间隙应该远小于光学波长，典型的它应该小于λ/10，使得SIL中的光到盘的覆盖层的所谓倏逝耦合仍是可能的。这一事件发生的范围被称作近场时段(regime)。在该时段外侧，在较大的空气间隙上内部全反射将捕获(trap)SIL内部的光并将它发送回到激光器。注意在如图2B中所示具有覆盖层的结构的情况下，为了进行适当的耦合，覆盖层的折射率应该至少等于SIL的折射率，对于进一步的细节可参见图3。
低于临界角的波通过空气间隙没有衰减的传播，而高于临界角的那些波在空气间隙中变成是倏逝的，并且随间隙宽度显示出指数衰减。在临界角处NA＝1。对于较大的间隙宽度，高于临界角的所有光通过内部全反射(TIR)而从SIL的近表面反射。
对于405nm的波长(其是用于蓝光光盘(BD)的波长)，最大空气间隙近似为40nm，与传统的光学记录相比，这是非常小的自由工作距离(FWD)。数据层和固态浸没透镜(SIL)之间的近场空气间隙在5nm或更小的范围内应该保持恒定，以便获得充分稳定的倏逝耦合。在硬盘记录中，使用依赖于被动空气轴承的基于滑块的解决方案来保持该较小的空气间隙。在必须从驱动器移除记录介质的光学记录中，盘的污染水平较大，并且将需要有效的、基于致动器的解决方案来控制空气间隙。为此，必须优选地从已经从光学介质反射的光学数据信号提取间隙误差信号。可找出这种信号，并且在图4中给出了典型的间隙误差信号。注意在使用近场SIL的情况下通常的实践是将数值孔径定义为NA＝nSILsinθ，数值孔径可大于1。
图4表示取自参考文献[1]的相对于线性偏振准直输入光束的平行和垂直偏振状态从折射率为1.48的扁平和透明光学表面(“介质”)反射的光量的测量值。这些测量值与理论完全一致。倏逝耦合变成明显低于200nm：光在“盘”中突然消失，总反射率在接触的地方几乎线性的降低至最小值。可将该线性信号用作空气间隙的闭环伺服系统的误差信号。水平偏振中的振动是由于伴随着间隙厚度的下降而使边纹(fringes)数减小到NA＝1之内造成的。
关于典型的近场光盘系统的更多细节可参见参考文献[2]。
具有较小的工作距离(典型的小于50μm)的基于滑块或基于致动器的光学记录器物镜的根本问题是会在最靠近存储介质的光学表面上发生污染。这是由水的凝结引发的，而水是由于较高的表面温度(典型的，对于磁光(MO)记录为250℃，而对于相变(PC)记录为650℃)而从存储介质释放的，而这是由于在数据记录层中写入数据甚或从数据记录层读取数据都需要高的激光功率和温度。由于例如聚焦和跟踪系统的伺服控制信号的失控，污染最终会导致光学数据存储系统发生故障。该问题如参考文献[3]-[5]中给出的申请和专利所述。
所述问题对于下列情况变得更加严重：高湿度、高激光功率、存储介质的低光学反射率、存储介质的低导热性、小的工作距离和高的表面温度。
该问题的已知解决方案是通过存储介质上的绝热覆盖层而避免数据层接近记录器物镜的光学表面。基于这种认识的发明例如在参考文献[4]中给出了。
显而易见，在近场光学存储介质上放置覆盖层的额外优点是灰尘和刮擦不再直接影响数据层。
然而，通过在近场光学系统中放置覆盖层引入了新的问题，这导致要采取新的措施。
通常，数据层和固态浸没透镜(SIL)之间的近场空气间隙或自由工作距离的精度应在5nm或者更小的范围内保持恒定以便获得充分稳定的倏逝耦合。在使用覆盖层的情况下，空气间隙在覆盖层和SIL之间，参见图2B。再者，空气间隙应在5nm的范围内保持恒定。无疑，SIL焦距应具有一个偏移以补偿覆盖层厚度，以便保证数据层在所有时间都是焦点对准的。注意如果覆盖层的折射率低于SIL的折射率，则它就会确定所述系统的最大可能数值孔径。
为了获得充分的热绝缘，介电覆盖层厚度应该约大于0.5μm，但优选的是在2-10μm的数量级。
发明内容
本发明的目的是提供一种开头段落中所述类型的用于记录和读取的光学数据存储系统，其中使用近场固态浸没透镜结合覆盖层实现了可靠的数据记录和读出。另一个目的是提供一种用于这种系统的光学记录和读取的方法。
所述第一目的是根据本发明通过一种光学数据存储系统实现的，其特征在于整个介质上的覆盖层的厚度变化Δh小于50nm。优选地，Δh小于20nm。仅通过控制空气间隙的自由工作距离或宽度，覆盖层的厚度变化Δh应该(远)小于焦深Δf＝λ(2NA2)以便保证数据层处于焦点对准状态：Δh＜Δf，参见图5。对于波长λ＝405nm和数值孔径NA＝1.45，发现Δf≈50nm。对于几个微米厚度的旋涂层，这意味着小于盘的整个数据区上的厚度变化的百分比，其看起来像是具有挑战的精度。然而，已经令人惊讶的发现能够以所要求的规格制造旋涂层：几微米的厚度和小于30nm的厚度变化，参见例如图6和参考文献[6]和[7]。该结果是显著的，因为不能将液体施予到盘的中心(因为有孔)，而是施予到18.9mm的半径处。通常这导致非常不均匀的结果，边缘处的覆盖层厚度远大于中间。然而，在该情况下，热梯度作为盘半径的函数在旋转工艺期间被用于调整液体粘性。
因此第一新的认识为可制造具有覆盖层的近场光学存储盘，所述覆盖层具有充分小的厚度变化Δh。
在一个实施例中，所述光学头包括：
-第一可调光学元件，其与固态浸没透镜对应；
-用于轴向移动第一光学元件以便将覆盖层和固态浸没透镜之间的自由工作距离动态地保持恒定的装置；
-第二可调光学元件；
-用于调整第二光学元件以便按照低带宽改变会聚辐射光束的焦点相对于固态浸没透镜的出射表面的位置的装置。焦深的低带宽调节主要被执行用于例如通过温度变化补偿漂移和克服例如不同盘之间的制造公差和盘的覆盖层的较小径向厚度变化。调整典型地是以秒为时间量度进行的，而不是以微秒进行的，正如同在用于轴向移动第一光学元件的装置中所使用的伺服的情况。因此，低带宽指的是典型以秒为单位的时间量度，而高带宽指的是典型以微秒或更小为单位的时间量度。
第二新的认识为如果覆盖层确实具有充分小的厚度变化Δh，也就是说其厚度变化小于20-50nm，则除了动态空气间隙(即自由工作距离)校正之外，我们还提出对焦距进行静态校正以补偿覆盖层厚度变化。
其目的是数据存储层处于焦点对准状态，并且与此同时SIL和覆盖层之间的空气间隙保持恒定以便保证适当的倏逝耦合。应该根据间隙误差信号调整光学物镜的位置以在小于5nm或者优选地小于2nm的范围内将间隙宽度保持为恒定。
厚度变化基本上小于焦深的覆盖层不需要对物镜进行动态聚焦控制，否则除了间隙伺服之外还需要动态聚焦控制。只要求静态聚焦控制和球面象差校正来适应盘与盘之间的可能不同。此外由于机械震动或温度影响引起的任何预设焦距的漂移也可以这种方式得到补偿。例如通过最佳化例如来自导入轨迹的已知信号的调制深度来实现焦距调节。
在参考文献[8]中描述了一种用于DVD聚焦最佳化的类似过程。
无疑，在光学数据存储介质上具有非常平坦的覆盖层是非常有利的。
在一个实施例中，第二光学元件存在于物镜中。
在另一个实施例中，第二光学元件存在于物镜的外部。
第二光学元件例如相对于第一光学元件进行轴向移动。可替换地，第二光学元件的焦距例如通过湿电或电影响液晶材料的取向而进行电调整。
所述另一个目的是根据本发明通过使用如权利要求3中所述的系统进行光学记录和/或读取的方法实现的，其中：
-通过使用第一、高带宽伺服环路基于例如从固态浸没透镜和覆盖层之间的倏逝耦合量获得的间隙误差信号而将自由工作距离保持恒定；
-基于第一伺服环路致动第一光学元件；
-基于从记录在数据存储层中的调制信号的调制深度获得的聚焦控制信号激活第二、低带宽伺服环路；
-基于第二伺服环路调整第二光学元件以便得到最佳调制信号。低带宽的含义如上所述。
在一个实施例中，振荡被叠加在第二光学元件的调节上，并且其中额外从第二光学元件的振荡方向获得聚焦控制信号。
在另一个实施例中，调制的信号被记录作为光学数据存储介质中(例如，光学数据存储介质的导入区中)的记录数据。
在另一个实施例中，调制的信号被记录作为光学数据存储介质的摆动轨迹。
所述光学物镜应包含至少两个可调整的光学元件。
例如，物镜包括两个元件，它们可被轴向移动以在基本没有改变空气间隙的情况下调整所述元件对的焦距。然后可通过作为一个整体移动物镜来调整空气间隙(图7)。通常，确定量的球面象差将得以保持。在一些情况下，透镜系统与覆盖层组合的最佳设计将满足系统要求，在其它情况下将需要球面象差的有效调节并将必须采取进一步的措施。
其主要优点是比较简单。整个双透镜致动器(图7)中的第二光学元件(即透镜)所需的位置调整较小，并且在较低的带宽下小于由本申请人同时提交的文献号为PHNL040461的欧洲专利申请中所提出的解决方案的情况。事实上，可将透镜以这样一种方式悬挂在致动器中，即其轴向运动被超临界衰减。
在一个优选实施例中，调制信号可以来自已知的摆动信号，在一个可替换实施例中，它可以来自于已知的预记录数据，或者在ROM系统的情况下，它甚至可以是导入轨迹上的专用数据，或者甚至是用户数据。参见参考文献[8]。
附图说明
现在将参照附图更详细地说明本发明，其中：
图1A和1B示出了标准远场光学记录物镜和分别不带有覆盖层和带有覆盖层的数据存储盘；
图2A和2B示出了近场光学记录物镜和分别不带有覆盖层和带有覆盖层的数据存储盘；
图3示出了如果空气间隙太宽则对于NA＞1会发生内部全反射；
图4示出了对于平行和垂直于辐射光束的偏振状态的偏振状态的全反射光总量的测量值和二者的和；
图5示出了覆盖层的厚度变化可以大于或小于焦深；
图6示出了旋涂层：UV固化硅树脂硬涂层的厚度分布的例子；
图7A、7B和7C示出了双致动器在盘与盘的覆盖层厚度不同的情况下的操作原理；
图8示出了在双透镜致动器中驱动所述透镜所需的静态聚焦控制系统的方框图；
图9示出了对于近场的双透镜致动器的可能实施例的剖面图；
图10示出了可使用聚焦控制(FC)通过相对于SIL移动透镜获得散焦。空气间隙使用间隙控制(GC)而被保持恒定；
图11示出了通过相对于物镜移动激光准直透镜也可获得散焦；
图12示出了双透镜致动器的实施例，其中可使用基于湿电(EW)或液晶(LC)材料的可切换光学元件来调整光学系统的焦距；和
图13示出了如图12中的另一个实施例，其中可切换的光学元件被放置在第一透镜和SIL之间。
具体实施方式
在图1A和1B中，分别示出了没有覆盖层和有覆盖层的标准远场光学记录物镜和数据存储盘。
在图2A和2B中，分别示出了没有覆盖层和有覆盖层的近场光学记录物镜和数据存储盘。有效波长被减至λ′＝λ/nSIL。有效波长被减小至λ′＝λ/n0′。空气间隙的宽度典型的为25-40nm(但至少要小于100nm)，并且不是按比例对其进行绘制的。覆盖层的厚度典型的为几个微米，但也不是按比例对其进行绘制的。
在图3中示出了如果空气间隙太宽，则对于NA＞1会发生内部全反射。如果空气间隙足够薄，则倏逝波使其能够到达另一侧并且在透明盘中再次变成是传播的。注意如果透明盘的折射率小于数值孔径，n0′＜NA，则一些波保持是倏逝的，并且有效地得到NA＝n0′。
在图4中，示出了对于平行和垂直于辐射光束的偏振状态的偏振状态的反射光总量的测量值和二者的和。垂直偏振状态适用于近场光学记录系统的空气间隙误差信号。
在图5中，示出了覆盖层的厚度变化可以大于或小于焦深。仅通过控制空气间隙的自由工作距离或宽度，覆盖层的厚度变化Δh应该(远)小于焦深Δf＝λ/(2NA2)以便保证数据层保持焦点对准状态：Δh＜Δf，参见图5。如果我们采用波长λ＝405nm和数值孔径NA＝1.45，则我们发现Δf≈50nm。对于几个微米厚度的旋涂层，这意味着小于盘的整个数据区域上的厚度变化的百分数，其看起来像是挑战性的精度。然而，已经令人惊讶地发现能够以所要求的规范制造旋涂层：几微米的厚度和小于30nm的厚度变化，参见例如图6和参考文献[6]和[7]。该结果是显著的，因为不能将液体施予到盘的中心(因为有孔)，而是施予到18.9mm的半径处。通常这导致非常不均匀的结果，边缘处的覆盖层厚度远大于中间。然而，在该情况下，热梯度作为盘半径的函数在旋转处理期间被用于调整液体粘性。
在图6中，示出了旋涂层、UV固化硅树脂硬涂层的例子。覆盖层在外部的28mm上非常平坦，其已经代表了数据区的80％。
在图7A、7B和7C中，示出了双致动器在盘与盘之间的覆盖层厚度不同的情况下的工作原理。在图7A中，对于具有确定覆盖层厚度的第一盘，存储层保持焦点对准状态并且空气间隙保持恒定。在图7B中对于另一个盘，覆盖层厚度是不同的，并且数据存储层处于焦点未对准的状态。在图7C中，该问题被校正，其中第一透镜被移动以将焦点重新保持在存储层上。
在图8中，示出了在双透镜致动器中驱动第一透镜所需的静态聚焦控制系统的方框图。该间隙致动器装配有一个较小的聚焦致动器(FA)，使用所述聚焦致动器用于偏移焦点位置。间隙致动器由PID控制器使用标准化的间隙误差信号(GEN)作为输入来驱动。该标准化的间隙误差信号通过除法器来产生，所述除法器用中心孔径(CA)信号或来自前向检测二极管的信号的低频分量除间隙误差信号(GES)。通过中心微处理器(μProc1)将控制器设置点和空气间隙推进过程馈送到所述控制器中。
调整透镜(即，第二光学元件)相对于SIL(即，第一光学元件)的位置使得预记录数据图案或摆动信号的CA信号调制是最大的。通过模数转换器(ADC)对CA信号进行取样然后将其馈送到一个微处理器(μProc2)中，在初始化阶段所述微处理器运行程序以通过试验找出最佳焦点偏移信号和误差：改变聚焦位置以便获得一个最佳信号。为了保持透镜和SIL之间的距离恒定，在初始化阶段之后，在间隙致动器加速期间，将与间隙致动器误差信号成比例的信号加入到偏移信号中，使用电流放大器对其进行放大，然后将其馈送给过临界衰减聚焦致动器。
需要两个控制信号：
-使用从SIL和覆盖层之间的倏逝耦合的量获得的误差信号来控制空气间隙的宽度。在图4中，示出了典型的间隙误差信号(GES)。
-从例如包含一些已知信号的盘上的导入轨迹的调制深度获得聚焦控制信号(FCS)。
在图9中，示出了对于近场的双透镜致动器的可能实施例的剖面图。
在图10中，示出了使用辐射光束(例如，具有波长λ＝405nm的激光束)进行记录和/或读取的光学数据存储系统。辐射光束被会聚到光学数据存储介质的数据存储层上。所述系统包括：
-具有对于会聚辐射光束是透明的覆盖层的介质(覆盖层、存储层和基底)，所述覆盖层的厚度h小于5μm，例如3μm。
-光学头，包括具有数值孔径NA的物镜(双透镜致动器)，所述物镜包括一个固态浸没透镜(SIL)，所述固态浸没透镜适用于呈现在距离所述介质的最外表面小于λ/10的自由工作距离处并被布置在所述光学数据存储介质的覆盖层侧，并且在记录/读取期间会聚辐射光束通过倏逝波耦合而从所述固态浸没透镜耦合到光学数据存储介质的覆盖层中。整个介质上的覆盖层的厚度变化Δh为30nm，其小于50nm。所述光学头包括：
-第一可调光学元件：固态浸没透镜(SIL)；
-用于轴向移动第一光学元件以便将覆盖层和固态浸没透镜之间的距离动态地保持恒定的装置；
-第二可调光学元件：透镜；
-用于调整第二光学元件以便按照低带宽改变会聚辐射光束的焦点相对于固态浸没透镜的出射表面的位置的装置，参见图9中的线圈。因为覆盖层的厚度变化Δh低于50nm，所以对于空气间隙只需要一个伺服环路，这使得光学物镜的近表面跟随覆盖层的表面，并且对于焦距来说需要一个静态最佳化环路，其通过改变光学物镜的焦距而将数据层保持在焦深的范围内。可通过使用聚焦控制(FC)相对于SIL移动透镜来获得散焦。使用间隙控制(GC)将空气间隙保持恒定。
在图11中示出了通过相对于物镜移动激光准直透镜也可获得散焦。
在图12中示出了可用于调整光学系统的焦距的基于湿电(EW)或液晶(LC)材料的可切换光学元件。还可以以这种方式同时补偿确定量的球面象差。
在图13中，示出了可用于调整光学系统的焦距的基于湿电(EW)或液晶材料的可切换光学元件。这里所述元件被放置在透镜和SIL之间。还可以以这种方式同时补偿确定量的球面象差。
本发明的光学部件的实施例与由本申请人同时提交的文献号为PHNL040461的欧洲专利申请中所述的那些部件实施例相同。
已经设计出一种双透镜致动器，其具有调整记录器物镜内的两个透镜之间的距离的洛仑兹仪马达。作为一个整体的透镜组件装配在CDM12致动器内。双透镜致动器由两个以相反方向卷绕的线圈和两个径向磁化的磁体组成。所述线圈绕物镜支架卷绕并且该支架悬挂在两个板簧上。流过线圈的电流结合两个磁体的杂散场将产生垂直力，该力将移动第一物镜朝向或远离SIL。近场设计可能看起来像图9。在该设计中，线圈和磁体之间的铁磁流体(一种磁性油)用于衰减第一透镜的运动使得共振被完全抑制，参见参考文献[9]。
在图7和9中示出了具有可变焦点位置的光学物镜的第一实施例，并且它被重复在图10中。改变系统焦点位置的可替换实施例例如包括激光准直透镜的调整，参见图11，或者基于湿电或液晶材料的可切换光学元件，参见图12和13以及参考文献[9]。当然，也可同时考虑这些措施。
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Claims (12)
1.一种用于使用会聚到光学数据存储介质的数据存储层上的具有波长λ的辐射光束进行记录和/或读取的光学数据存储系统，所述系统包括：
-具有对于会聚辐射光束是透明的覆盖层的介质，所述覆盖层的厚度h小于5μm，
-光学头，包括具有数值孔径NA的物镜，所述物镜包括一个固态浸没透镜，所述固态浸没透镜适于呈现在距离所述介质的最外表面小于λ/10的自由工作距离处并被布置在所述光学数据存储介质的覆盖层侧，并且在记录/读取期间会聚辐射光束通过倏逝波耦合而从所述固态浸没透镜耦合到光学数据存储介质的覆盖层中，
其特征在于整个介质上的覆盖层的厚度变化Δh小于50nm。
2.如权利要求1所述的光学数据存储系统，其中Δh小于20nm。
3.如权利要求1或2中的任何一个所述的光学数据存储系统，其中所述光学头包括：
-第一可调光学元件，其与固态浸没透镜对应；
-用于轴向移动第一光学元件以便将覆盖层和固态浸没透镜之间的距离动态地保持恒定的装置；
-第二可调光学元件；
-用于调整第二光学元件以便按照低带宽改变会聚辐射光束的焦点相对于固态浸没透镜的出射表面的位置的装置。
4.如权利要求3所述的光学数据存储系统，其中第二光学元件存在于物镜中。
5.如权利要求3所述的光学数据存储系统，其中第二光学元件存在于物镜的外部。
6.如权利要求4或5所述的光学数据存储系统，其中第二光学元件可相对于第一光学元件进行轴向移动。
7.如权利要求4或5中的任何一个所述的光学数据存储系统，其中第二光学元件具有一个焦距，该焦距例如通过湿电或电影响液晶材料的取向而进行电调整。
8.一种使用如权利要求3所述的系统进行光学记录和/或读取的方法，其中：
-通过使用第一、高带宽伺服环路基于例如从固态浸没透镜和覆盖层之间的倏逝耦合量获得的间隙误差信号而将自由工作距离保持恒定；
-基于第一伺服环路致动第一光学元件；
-基于从记录在数据存储层中的调制信号的调制深度获得的聚焦控制信号，激活第二、低带宽伺服环路；
-基于第二伺服环路调整第二光学元件以便得到最佳调制信号。
9.如权利要求8所述的方法，其中振荡被叠加在第二光学元件的调节上，并且其中额外从第二光学元件的振荡方向获得聚焦控制信号。
10.如权利要求8所述的方法，其中调制的信号被记录作为光学数据存储介质中的记录数据。
11.如权利要求8所述的方法，其中调制的信号被记录在光学数据存储介质的导入区中。
12.如权利要求8所述的方法，其中调制的信号被记录作为光学数据存储介质的摆动轨迹。
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| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
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