JP2004336071A - 部品実装ツールとこれを用いた部品実装方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 部品と実装対象物とにそれぞれ形成された金属接合部の間を超音波接合するとき、実装ツールと部品との間に滑りによる障害が生じないようにする。
【解決手段】 吸着ノズル14の部品を吸着する吸着面14aが樹脂材料14bによって形成される。吸着面14aに部品3を吸着し、部品の金属接合部5と実装対象物4の金属接合部6とを当接させ加圧した状態にして、吸着ノズル14にホーン17から超音波振動を加え、振動摩擦により金属接合部5、6間を接合する。樹脂材料14bは硬度が低く、吸着面14aを所定の粗面に形成することにより、部品3に対する摩擦力が大きくなり、部品3との間に滑りが抑制され、振動を効率よく部品に伝達するので、安定した接合ができる。
【選択図】 図2
【解決手段】 吸着ノズル14の部品を吸着する吸着面14aが樹脂材料14bによって形成される。吸着面14aに部品3を吸着し、部品の金属接合部5と実装対象物4の金属接合部6とを当接させ加圧した状態にして、吸着ノズル14にホーン17から超音波振動を加え、振動摩擦により金属接合部5、6間を接合する。樹脂材料14bは硬度が低く、吸着面14aを所定の粗面に形成することにより、部品3に対する摩擦力が大きくなり、部品3との間に滑りが抑制され、振動を効率よく部品に伝達するので、安定した接合ができる。
【選択図】 図2
Description
本発明は、部品を実装対象物に超音波接合する技術に関し、主として電子部品の電極を回路基板の導体ランドに超音波接合することにより電子部品を回路基板に実装するもので、このような超音波接合に用いる部品実装ツールとこれを用いた部品実装方法及び装置に関するものである。
集積回路部品の一例であるベアICチップは、リードやモールド被覆もないので極めて小型に形成でき、実装密度の高い回路基板を構成するのに有効であるが、リードがないためその電極と回路基板上の導体ランドとの電気的接続は容易でなく、回路基板上に固定するために接着も必要となる。そこで本願出願人は超音波接合により電気的接続と固定とを同時に行う実装方法を先に提案した。この実装方法は、ベアICチップの電極にバンプを形成し、このベアICチップを吸着ノズルによって吸着保持し、回路基板上に形成された導体ランドにバンプを押し当てた状態にして、前記吸着ノズルに超音波振動を加えると、導体ランドとバンプとの間は摩擦により溶融接合し、確実な電気的接続と同時にベアICチップは充分な実装強度で固定される。
前記吸着ノズルはステンレス鋼によって形成することにより振動特性がよく、その吸着面は所定の面粗度を持つ粗面に形成することにより、超音波振動を加えた際に部品との間の滑りが抑えられ、振動の伝導性がよくなり作業効率と接合品質とを向上させることができる。
しかし、吸着ノズルの吸着面は超音波振動が加わった状態での部品との接触によって磨耗し、所定の面粗度に形成された吸着面は荒れ、面粗度が変化し平面性が低下する。また、吸着する部品の硬度が高い場合には、吸着面の荒れは著しくなる。この吸着面の磨耗に対処するため、本願発明者らは吸着面に硬化処理層を設けた部品実装ツールを特願平10−254963号として提案した。
しかしながら、SiやGaAsを用いて形成されたICチップなどの部品を、ステンレス鋼やそれに硬化処理層を設けて吸着面の硬度を高くした吸着ノズルによって超音波接合するとき、吸着面と部品との間に滑りが生じると、部品の表面が吸着面によって削られ、その削り粉が吸着面に付着する状態が発生する。この吸着面に付着した削り粉は、生産が継続される間に飛散し、接合部分に付着すると製品不良を発生させる問題点があった。また、吸着面に付着した削り粉は、吸着面に凸部を形成するので、凸部に加圧が集中して部品に割れを発生させる問題点があった。
本発明が目的とするところは、吸着面の部品に対する摩擦力を向上させることによって滑りを抑制し、部品の硬度が低い場合にも部品に損傷を与えない部品実装ツールとこれを用いた部品実装方法及び装置を提供することにある。
上記目的を達成するための本願の第1発明は、一面側に金属接合部が形成され他面側が平滑面に形成された部品の他面側を吸着ノズルの吸着面によって吸着保持し、前記金属接合部を実装対象物上に形成された金属接合部に当接加圧した状態にして、前記吸着ノズルに超音波振動を加えることにより両金属接合部間を超音波接合し、部品を実装対象物に実装する部品実装ツールにおいて、吸着ノズルの吸着面が、前記部品より硬度が低い耐熱性樹脂材料によって形成され、かつその表面が所定の面粗度を持つ粗面に形成されてなることを特徴とする。
この構成によれば、吸着ノズルの吸着面を部品より硬度が低い樹脂材料によって形成し、かつその表面を所定の面粗度を持つ粗面に形成することにより、超音波振動により摩擦が生じたときにも吸着面が部品の表面を削ることがない。また、部品との摩擦力が大きくなり、部品との間に滑りが生じ難くなり、滑りによる前記削りの発生がなく、振動の伝導 性もよく安定した超音波接合を可能とする。しかも前記樹脂材料は耐熱性樹脂で形成されているので、摩擦による熱に耐える構造とすることができる。
前記樹脂材料は弾性樹脂で形成することにより、部品との摩擦力が大きくなり、滑りを抑制し、振動の伝導性を向上させることができる。
本願の第2発明に係る部品実装方法は、吸着面が後記部品より硬度が低い耐熱性樹脂材料によって形成され、その表面が所定の面粗度を持つ粗面とした吸着ノズルを用いて、この吸着ノズルの吸着面で吸着保持した部品を、実装対象物に対して互いの金属接合部を当接加圧した状態にして吸着ノズルに超音波振動を加え、この振動により金属接合部間を超音波接合して部品を実装対象物に実装することを特徴とする。
この部品実装方法によれば、吸着ノズルの吸着面が部品より硬度が低い耐熱性樹脂材料によって形成され、かつその表面が所定の面粗度を持つ粗面に形成されていることにより、実装する部品との摩擦力が大きく、吸着ノズルに加えられる超音波振動に対して追従性よく部品に伝わり、安定した接合がなされる。
本願の第3発明に係る部品実装装置は、部品を所定位置に供給する部品供給手段と、実装対象物を所定位置に位置決めする実装対象物供給手段と、吸着面が樹脂材料によって形成され、その表面が所定の面粗度を持つ粗面とした吸着ノズルにより前記吸着面で部品を吸着保持し、前記実装対象物に対して互いの金属接合部を当接加圧した状態にして吸着ノズルに超音波振動を加え、この振動により金属接合部間を超音波接合して部品を実装対象物に実装する部品実装ツールとを備えてなることを特徴とする。
上記部品実装装置によれば、部品が供給され、実装対象物が所定位置に位置決めされるので、部品実装ツールは部品供給部から部品を取り出し、これを実装対象物に実装する動作を繰り返し行い、実装対象物に部品を実装した製品の生産を効率よく行うことができる。
以上の説明の通り本発明によれば、吸着ノズルの吸着面と部品との間に滑りが生じることが抑制され、安定した超音波接合が可能となる。また、樹脂材料の硬度が低いため、摩擦によって部品を削ることがなく、削り粉の付着による障害の発生が防止される。
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について説明し、本発明の理解に供する。尚、以下に示す実施形態は本発明を具体化した一例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
図1は、本実施形態に係る部品実装装置の構成を示すもので、ベアICチップ(部品)を回路基板(実装対象物)に超音波接合して実装するもので、ベアICチップ3を所定の部品供給位置Aに供給する部品供給部21と、ローダ33から搬入された回路基板4を部品実装位置B2のボンディングステージ35上に位置決めし、実装終了した回路基板4をアンローダ34によって搬出する基板供給部(実装対象物供給手段)30と、前記部品供給部21からベアICチップ3を取り出して回路基板4上に実装する部品実装部23と、吸着ノズル14の吸着面を所定の面粗度に再生させる再生部31とを備えて構成されている。
前記部品供給部21は、ダイシングシート2上で個々のベアICチップ3にダイシングされた半導体ウエハ1をベアICチップ3の種類別にストックする部品マガジン38と、これを昇降させるマガジンリフタ41と、所要の部品マガジン38から引き出した半導体ウエハ1から1個づつICチップ3を供給するエキスパンド台37とを備えている。
実装する対象となるベアICチップ3は、これがストックされた部品マガジン38をマガジンリフタ41によって所定高さ位置に移動させ、ダイシングシート2上に配列された状態にしてエキスパンド台37に引き出される。エキスパンド台37はX方向テーブル42とY方向テーブル43とによりX−Y方向に移動され、ダイシングシート2上のベアICチップ3の供給するものをダイシングシート2の下方から突き上げる突き上げ棒44がある部品供給位置Aに位置決めする。突き上げ棒44はダイシングシート2を突き上げることによりエキスパンドし、列設するベアICチップ3の間隔を広げて供給するベアICチップ3のみがピックアップされやすくする。
また、前記基板供給部30は、ローダ33からアンローダ34にX軸方向に続くレール32を備え、ローダ33の下流端に続く基板受け渡し位置B1に位置する移動レール32aは、ローダ33から回路基板4が搬入されてくると、回路基板4を搭載してY軸方向に移動して回路基板4を部品実装位置B2に搬送する。図8に示すように、移動レール32aの下方にはボンディングステージ35が配設されており、移動レール32a上に移動してきた回路基板4はストッパ30aにより所定位置に受け止められ、押圧子30bによりレール32aの一方に押圧して位置規制され、その後にボンディングステージ35によって吸着保持される。回路基板4を保持したボンディングステージ35はY方向テーブル36によって部品実装位置B2に移動し、位置決めして部品実装に供される。実装が終了した回路基板4は、移動レール32aが部品実装位置B2から基板受け渡し位置B1に移動することによりアンローダ34に接続されるので、アンローダ34から装置外に搬出される。
また、前記部品実装部23は、図7に示す部品反転ツール23a及び図5に示す部品実装ツール23bを備えて構成されている。前述したように、部品供給位置Aに位置決めされた半導体ウエハ1は、突き上げ棒44によりダイシングシート2が突き上げられることによって所要のベアICチップ3のみがピックアップされやすい状態となっている。この状態にあるベアICチップ3を部品反転ツール23aは吸着保持して天地方向を反転させる。前記ダイシングシート2上にある半導体ウエハ1は、回路基板4への接合面が上向きになった状態にあり、回路基板4に実装するには、接合面を下向きにする必要があり、この部品反転ツール23aが設けられている。図7に示すように、エアシリンダ55に接続された吸着ノズル45は、基台57に回転自在に支持された横軸52に固定された反転ヘッド54上に取り付けられ、モータ51によって回転軸Cを中心に旋回駆動される。前記基台57は、図1に示すように、X方向テーブル56上を部品供給位置Aと部品受け渡し位置Dとの間を移動する。部品供給位置AにおいてベアICチップ3の接合面を吸着ノズル45によって吸着保持し、反転ヘッド54が反転することにより、図7に示すように、吸着ノズル45の吸着面45aは上向きとなり、ベアICチップ3の接合面は下向き、裏面の平滑な面が上向きとなる。
前記部品実装ツール23bは、図5に示すように、X軸テーブル58上に部品受け渡し位置Dと部品実装位置B2との間に移動できるように搭載され、部品受け渡し位置Dにおいて、前記部品反転ツール23aによって天地反転したベアICチップ3を吸着ノズル14によって吸着保持し、部品実装位置B2において、保持したベアICチップ3を回路基板4上に実装する。回路基板4は前述したようにボンディングステージ35によりY軸方向に移動でき、ベアICチップ3は部品実装ツール23bがX軸方向に移動できることから、回路基板4上の任意位置にベアICチップ3を実装することができる。
部品実装ツール23bは、吸着ノズル14を昇降移動させるボイスコイルモータ15と、吸着ノズル14に超音波振動を加える超音波振動手段24とを備えている。超音波振動手段24は、図5及び図6に示すように、圧電素子16により発生させた超音波をホーン17から吸着ノズル14を加振する。吸着ノズル14は、図3に拡大図示するように、ステンレス鋼によって中空構造に形成され、下方端に樹脂部14bで被覆された吸着面14aが形成され、上方端は弾性チューブ82を介して支持軸81に接続されている。前記吸着面14aから支持軸81に通じる中空部分には支持軸81側から吸引作用が加えられるので、吸着面14aによってベアICチップ3を吸着保持することができる。また、吸着ノズル14には前記ホーン17から超音波が加えられるので、吸着ノズル14は前記弾性チューブ82が接続された上方端を揺動支点Qとして超音波振動する。また、前記樹脂部14bの吸着面14aは、図3(b)に示すように、所定面粗度の粗面に仕上げられている。
前記吸着ノズル14は、図4に示すように、ステンレス鋼によって中空構造に形成されたパイプ14dの先端に、樹脂によって形成された樹脂トップ14cを取り付けて構成することもできる。この樹脂トップ14cの吸着面14aも先と同様に粗面に仕上げられる。この構成は小型の部品を吸着するのに適している。
上記構成になる部品実装ツール23bによりベアICチップ3を回路基板4に実装する方法を図2を参照して説明する。
図2に示すように、ベアICチップ3の接合面3aには、電極7上にバンプ(金属接合部)8を形成した金属接合部5が設けられる。このベアICチップ3を部品受け渡し位置Dで部品反転ツール23aから受け渡されて吸着ノズル14に吸着した部品実装ツール23bは、部品実装位置B2に移動し、ボイスコイルモータ15によって吸着ノズル14を所定位置に位置決めされた回路基板4に向けて下降させ、ベアICチップ3のバンプ8を回路基板4上に形成された導体ランド(金属接合部)6上に当接させる。吸着ノズル14は前記ボイスコイルモータ15による下降駆動により荷重500g〜5Kg程度の加圧でバンプ8を導体ランド6に当接させると共に、前記ホーン17から加振される振動数60KHz、振幅1〜2μm程度の超音波振動をベアICチップ3に印加する。圧接された状態で超音波振動が加えられることにより、バンプ8と導体ランド6とは摩擦により溶融して当接間が接合される。
吸着ノズル14の吸着面14aは、前述したように樹脂部14bで形成され、所定の面粗度を持つ粗面に形成されているので、SiやGaAsベアICチップ3と吸着面14aとの間の摩擦力は大きく、超音波振動により滑りが発生することが効果的に抑制される。滑りの抑制は吸着ノズル14によるベアICチップ3の加振にロス発生が少なく、安定した接合が可能となる。また、滑りにより吸着面14aが磨耗することも抑制される。
前記樹脂部14b及び樹脂トップ14cは、ポリイミド等の耐熱性樹脂によって形成することにより、超音波振動による発熱によって軟化したり溶融することが防止できる。また、ウレタン樹脂等の弾性樹脂によって形成すると、ベアICチップ3との摩擦力はより大きくなり効率のよい接合を行うことができる。但し、弾力が大きい樹脂材料を用いると超音波振動が吸収されてしまうので、適度な弾性を有する樹脂材料を選択する必要があり、前記ウレタン樹脂が適したものとなる。
また、吸着面14aを樹脂材料によって形成することにより、ベアICチップ3や実装対象とする部品を構成するSiやGaAsとの硬度差が大きく、ステンレス鋼を吸着面14aとした場合に、摩擦により吸着面14aがSiやGaAsを削り、その削り粉が飛散することによる製品不良の発生は防止される。
回路基板4上に接合されたベアICチップ3は、図2に示すように、封止材11によって接合面側が封止される。この封止材11は、回路基板4上に予め仮想線で示すように山状に供与しておき、これを25℃程度に加熱しておくと、吸着ノズル14によって回路基板4に下降してくるベアICチップ3の接合面3aにより押し広げられ、図示するような状態に充填された封止状態となる。前記加熱は、ローダ33に設けられた予備加熱部33a、ボンディングステージ35に設けられた本加熱部35a(図8参照)によって封止材11を25℃程度に加熱する。
以上説明した部品実装ツール23bによる実装動作が繰り返されると、吸着ノズル14の吸着面14aは徐々に磨耗し、表面の粗度が変化するので、所定の面粗度に再生させることを要する。吸着面14aの粗度が許容範囲を越えるまでに低下する実装回数は予め知ることができるので、部品実装の回数をカウントして所定回数を越える所定の時期に部品実装ツール23bを再生部31に移動させて吸着面の再生動作を行う。部品実装装置の制御手段25は、プログラム26に書き込まれた吸着面14aを再生動作に移行させる実装回数になると実装動作を一次停止して再生動作を開始させる。
また、図2に示すように、滑り検出手段115によって吸着面14aの磨耗の程度を知ることもできる。吸着面14aとベアICチップ3との間の摩擦が大きいほどホーン17の超音波振動は大きく、摩擦が小さいほど超音波振動が小さくなるので、滑り検出手段115はホーン17の振動状態を検出して、所定値からの変化から滑りを検出することができる。この場合には、制御手段25は滑り検出手段115から許容値を越える滑りが検出されたとき、実装動作を停止して部品実装ツール23bを再生動作に移行させるように制御する。この滑り検出による制御では、必要の都度対応できるので、再生処理の遅れによる接合品質の低下や早すぎた再生処理による寿命の低下が防止できる。
再生部31は、図9に示すように、(a)研磨手段104、(b)洗浄手段114、(c)乾燥手段113を備え、あるいはそれぞれを単独に備えて構成することができる。研磨手段104によって吸着面14aを研磨した後は、研磨滓が吸着面14aに付着しているので、洗浄液によって洗浄し、洗浄液を乾燥除去すめことによって吸着面14aは所定の面粗度に再生され、清浄な状態になって再び接合動作を開始することができる。また、吸着面14aは摩擦による削り粉や塵埃が付着するので、必要に応じて洗浄、乾燥の工程のみを実施することもできる。
前記研磨手段104は、図9(a)及び図10に示すように、研磨材101を支持し案内する支持面106aの水平状態を調整する水平調整手段105を備えて構成されている。水平調整手段105はステンレス鋼よりなる定盤106をスタンド109によって支持し、定盤106はその途中部分に周りからくびれ部による首振り部106bを有し、首振り部106bで上下に2分された支持面106aをもった上部盤106cが下部盤106dに対し首振り部106bを中心に若干首振りでき、首振りの向き及び量によって支持面106aの水平調整ができる。下部盤106dに下方から螺合させ、上部盤106cに下方から当接させた調整ボルト107を首振り部106bの周り4か所に設け、各調整ボルト107螺入量を調整することによって、支持面106aが吸着ノズル14の軸線に対して直角となる水平状態が得られるように水平調整することができる。また、上部盤106cの上にガラス板108を配設し、ガラス板108の表面で支持面106aを形成することにより、金属部材の場合のように弾性変形による逃げが生じないので好適である。
この研磨手段104の研磨材101上に、図9(a)に示すように、吸着面14aが接触するように部品実装ツール23bを移動させ、吸着ノズル14に超音波振動を加えると、吸着面14aは研磨材101との摩擦により所定の面粗度に研磨することができる。研磨材101は図10に示すように、供給ローラ102と巻き取りローラ103とを備えた送り手段111によって必要な研磨回数毎に支持面106a上に送り出され、研磨面を順次更新させることができる。
研磨の後、部品実装ツール23bを洗浄槽114上に移動させ、吸着ノズル14の下降により吸着面14aが洗浄液112中に侵漬させた状態にして超音波振動を加えると、研磨によって吸着面14aに付着した研磨滓を除去することができる。前述したように、研磨の工程を経ることなく、この洗浄の工程を実施してもよく、この場合には接合の繰り返しにより吸着面14aに付着した削り粉や塵埃を除去することができる。この洗浄を行った後は、吸着面14aに付着した洗浄液112をブロアー113からの空気の吹きつけにより乾燥させると、素早い乾燥がなされて、再び部品接合の動作を開始させるまでの時間短縮がなされ、生産効率を高めることができる。
以上説明した実施形態は、ベアICチップ3を回路基板4に実装する例を示したが、このような集積回路部品だけでなく、SAWフィルタや水晶発信子などの部品を機器のパーツ上に実装するのに用いることもできる。
3 ベアICチップ(部品)
4 回路基板(実装対象物)
5 金属接合部
6 導体ランド(金属接合部)
7 電極
8 バンプ(金属接合部)
14 吸着ノズル
14a 吸着面
14b 樹脂部
14c 樹脂トップ
21 部品供給部
23 部品実装部
23b 部品実装ツール
30 基板供給部(実装対象物供給部)
31 再生部
4 回路基板(実装対象物)
5 金属接合部
6 導体ランド(金属接合部)
7 電極
8 バンプ(金属接合部)
14 吸着ノズル
14a 吸着面
14b 樹脂部
14c 樹脂トップ
21 部品供給部
23 部品実装部
23b 部品実装ツール
30 基板供給部(実装対象物供給部)
31 再生部
Claims (3)
- 一面側に金属接合部が形成され他面側が平滑面に形成された部品の他面側を吸着ノズルの吸着面によって吸着保持し、前記金属接合部を実装対象物上に形成された金属接合部に当接加圧した状態にして、前記吸着ノズルに超音波振動を加えることにより両金属接合部間を超音波接合し、部品を実装対象物に実装する部品実装ツールにおいて、
吸着ノズルの吸着面が、前記部品より硬度が低い耐熱性樹脂材料によって形成され、かつその表面が所定の面粗度を持つ粗面に形成されてなることを特徴とする部品実装ツール。 - 吸着面が後記部品より硬度が低い耐熱性樹脂材料によって形成され、その表面が所定の面粗度を持つ粗面とした吸着ノズルを用いて、この吸着ノズルの吸着面で吸着保持した部品を、実装対象物に対して互いの金属接合部を当接加圧した状態にして吸着ノズルに超音波振動を加え、この振動により金属接合部間を超音波接合して部品を実装対象物に実装することを特徴とする部品実装方法。
- 部品を所定位置に供給する部品供給手段と、実装対象物を所定位置に位置決めする実装対象物供給手段と、吸着面が後記部品より硬度が低い耐熱性樹脂材料によって形成され、その表面が所定の面粗度を持つ粗面とした吸着ノズルにより前記吸着面で部品を吸着保持し、前記実装対象物に対して互いの金属接合部を当接加圧した状態にして吸着ノズルに超音波振動を加え、この振動により金属接合部間を超音波接合して部品を実装対象物に実装する部品実装ツールとを備えてなることを特徴とする部品実装装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004205052A JP2004336071A (ja) | 2004-07-12 | 2004-07-12 | 部品実装ツールとこれを用いた部品実装方法及び装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004336071A true JP2004336071A (ja) | 2004-11-25 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004205052A Pending JP2004336071A (ja) | 2004-07-12 | 2004-07-12 | 部品実装ツールとこれを用いた部品実装方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005322770A (ja) * | 2004-05-10 | 2005-11-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品装着装置および電子部品装着方法 |
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-
2004
- 2004-07-12 JP JP2004205052A patent/JP2004336071A/ja active Pending
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