JP2004258032A - 測定機器及びそれに用いる方法 - Google Patents
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- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/28—Circuits for simultaneous or sequential presentation of more than one variable
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Abstract
【解決手段】取り込み装置110の各々では、取り込みユニット113で被試験信号を取り込み、処理及び表示ユニット114で処理して表示する。取り込み装置の1つを主要取り込み装置とし、残りを非主要取り込み装置とする。主要取り込み装置は、それ自体が取り込んだ被試験信号の波形を第1表示ウィンドウに割り当て、残りの非主要取り込み装置が取り込んだ被試験信号の波形を受信して、透明の第2表示ウィンドウに割り当てる。これら第1及び第2表示ウィンドウを重ねることにより、第1波形及び第2波形を1つの表示スクリーン上で重ねて表示する。
【選択図】図1
Description
また、本発明の測定機器は、少なくとも第1被試験信号(SUT2)を取り込む信号取り込みモジュール(113)と、取込んだ第1被試験信号の波形を表すデータをコミュニケーション・リンクに供給するコミュニケーション・モジュール(118)とを有する第1信号取り込み装置(1101)と;少なくとも第2被試験信号(SUT2)を取り込む信号取り込みモジュールと、コミュニケーション・リンクからの取り込んだ第1被試験信号の波形を表すデータを受けるコミュニケーション・モジュールと、少なくとも取り込んだ第1被試験信号及び少なくとも取り込んだ第2被試験信号の波形を表すデータを含む表示信号を発生する表示モジュール(114)とを有する第2信号取り込み装置(1101)とを具えている。
さらに、本発明の測定機器は、第1被試験信号(SUT1)を取り込んで第1サンプル・ストリームを発生する取り込みモジュール(113)と;第1サンプル・ストリームに関連したタイミング・パラメータ及び振幅パラメータの少なくとも1つを変更して、第1サンプル・ストリームの波形を表すデータを発生する処理モジュール(115)と;コミュニケーション・リンクから第2サンプル・ストリームの波形を表すデータを受けるコミュニケーション・モジュール(118)と;表示装置に表示された際に第1及び第2サンプル・ストリームの重なった波形を含むイメージを発生する表示信号を発生する表示モジュール(114)とを具えている。
110 取り込み装置
113 取り込みユニット(信号取り込みモジュール)
114 処理及び表示ユニット(表示モジュール)
115 制御器(処理モジュール)
116 入力ユニット
118 インタフェース装置(コミュニケーション・モジュール)
120 トリガ制御器
130 ネットワーク
200 制御器
210 入力/出力回路
220 補助回路
230 プロセッサ
240 メモリ
242 オペレーティング・システム
244 プログラム
246 データ
400 測定機器
410 取り込み装置
415 表示領域
417 取り込み及び処理回路
420 トリガ制御器
610 アプリケーションのグラティキュール(第1表示ウィンドウ)
620 透明ウィンドウ(第2表示ウィンドウ)
Claims (3)
- 測定機器に用いる方法であって、
局所で取込んだ被試験信号から導出した第1波形データを第1表示ウィンドウに関連させ、
遠隔で取込んだ被試験信号から導出した第2波形データを、透明な背景表示特性を有する第2表示ウィンドウに関連させ、
表示装置の使用に適合するイメージ信号を発生して上記第1表示ウィンドウに重なった上記第2表示ウィンドウから成るイメージを発生する
測定機器に用いる方法。 - 少なくとも第1被試験信号を取り込む信号取り込みモジュールと、取込んだ上記第1被試験信号の波形を表すデータをコミュニケーション・リンクに供給するコミュニケーション・モジュールとを有する第1信号取り込み装置と、
少なくとも第2被試験信号を取り込む信号取り込みモジュールと、上記コミュニケーション・リンクからの上記取り込んだ第1被試験信号の波形を表すデータを受けるコミュニケーション・モジュールと、上記少なくとも取り込んだ第1被試験信号及び上記少なくとも取り込んだ第2被試験信号の波形を表すデータを含む表示信号を発生する表示モジュールとを有する第2信号取り込み装置と
を具えた測定機器。 - 第1被試験信号を取り込んで第1サンプル・ストリームを発生する取り込みモジュールと、
上記第1サンプル・ストリームに関連したタイミング・パラメータ及び振幅パラメータの少なくとも1つを変更して、上記第1サンプル・ストリームの波形を表すデータを発生する処理モジュールと、
コミュニケーション・リンクから第2サンプル・ストリームの波形を表すデータを受けるコミュニケーション・モジュールと、
表示装置に表示された際に上記第1及び第2サンプル・ストリームの重なった波形を含むイメージを発生する表示信号を発生する表示モジュールと
を具えた測定機器。
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Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7285948B2 (en) * | 2002-12-17 | 2007-10-23 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus providing single cable bi-directional triggering between instruments |
US7236900B2 (en) * | 2004-04-20 | 2007-06-26 | Tektronix, Inc. | Three dimensional correlated data display |
US7657333B2 (en) * | 2007-09-27 | 2010-02-02 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Adjustment of data collection rate based on anomaly detection |
CN101839932B (zh) * | 2009-03-19 | 2014-06-25 | 北京普源精电科技有限公司 | 测量设备 |
US8917272B2 (en) * | 2009-09-30 | 2014-12-23 | Mckesson Financial Holdings | Methods, apparatuses, and computer program products for facilitating visualization and analysis of medical data |
US9804200B2 (en) * | 2012-02-15 | 2017-10-31 | Keysight Technologies, Inc. | Digital oscilloscope comprising multiple data acquisition pathways |
CN104020330B (zh) * | 2014-05-14 | 2016-08-24 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种提高信号分析仪频谱测量准确度的方法 |
US20180025704A1 (en) * | 2016-07-21 | 2018-01-25 | Tektronix, Inc. | Composite user interface |
US11231444B1 (en) * | 2018-06-06 | 2022-01-25 | Tektronix, Inc. | Acquiring and displaying multiple waveforms in a test and measurement instrument |
WO2022113315A1 (ja) * | 2020-11-27 | 2022-06-02 | 日本電信電話株式会社 | ユーザインタフェース拡張システム、ユーザインタフェース拡張方法及びユーザインタフェース拡張プログラム |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01117568U (ja) * | 1988-02-03 | 1989-08-08 | ||
JPH04256870A (ja) * | 1991-02-08 | 1992-09-11 | Nec Corp | ロジックアナライザ |
JPH0625762U (ja) * | 1992-08-28 | 1994-04-08 | 横河電機株式会社 | デジタルオシロスコープ |
JPH1082803A (ja) * | 1996-09-09 | 1998-03-31 | Hitachi Denshi Ltd | ディジタルストレージオシロスコープ |
JPH10187138A (ja) * | 1996-03-27 | 1998-07-14 | Fluke Corp | 表示画像を効率的に構築する方法および表示プロセッサシステム |
JP2003254996A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4812996A (en) * | 1986-11-26 | 1989-03-14 | Tektronix, Inc. | Signal viewing instrumentation control system |
US5081592A (en) * | 1987-08-05 | 1992-01-14 | Tektronix, Inc. | Test system for acquiring, calculating and displaying representations of data sequences |
JPH05242232A (ja) * | 1992-02-28 | 1993-09-21 | Hitachi Ltd | 情報処理装置及び映像表示装置 |
US5530373A (en) * | 1995-01-20 | 1996-06-25 | Fluke Corporation | Method and apparatus for determining and selectively displaying valid measurement information |
JP3410267B2 (ja) * | 1995-09-07 | 2003-05-26 | 横河電機株式会社 | 記録システム |
US5953009A (en) * | 1997-05-27 | 1999-09-14 | Hewlett-Packard Company | Graphical system and method for invoking measurements in a signal measurement system |
US5939877A (en) * | 1997-05-27 | 1999-08-17 | Hewlett-Packard Company | Graphical system and method for automatically scaling waveforms in a signal measurement system |
US6570592B1 (en) * | 1999-10-29 | 2003-05-27 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for specifying trigger conditions of a signal measurement system using graphical elements on a graphical user interface |
US6690398B1 (en) * | 2000-01-27 | 2004-02-10 | Agilent Technologies, Inc. | Logic analyzer with mixed textual and graphical trigger specification |
US20020188428A1 (en) * | 2001-06-07 | 2002-12-12 | Faust Paul G. | Delivery and display of measurement instrument data via a network |
US6917889B2 (en) * | 2002-02-26 | 2005-07-12 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for visually time-correlating waveform measurements to a source waveform |
US7285948B2 (en) * | 2002-12-17 | 2007-10-23 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus providing single cable bi-directional triggering between instruments |
US7398175B2 (en) * | 2002-12-18 | 2008-07-08 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus providing multiple channel multiple instrument triggering |
-
2003
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-
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01117568U (ja) * | 1988-02-03 | 1989-08-08 | ||
JPH04256870A (ja) * | 1991-02-08 | 1992-09-11 | Nec Corp | ロジックアナライザ |
JPH0625762U (ja) * | 1992-08-28 | 1994-04-08 | 横河電機株式会社 | デジタルオシロスコープ |
JPH10187138A (ja) * | 1996-03-27 | 1998-07-14 | Fluke Corp | 表示画像を効率的に構築する方法および表示プロセッサシステム |
JPH1082803A (ja) * | 1996-09-09 | 1998-03-31 | Hitachi Denshi Ltd | ディジタルストレージオシロスコープ |
JP2003254996A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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