JP2004241978A - 撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】低コストでかつ操作性が良好な欠陥画素に対応する画素値を補正する機能を有する撮像装置を提供する。
【解決手段】A/D変換部40から入力される画像データに対して、第1補正部510において、欠陥画素アドレス記憶部512に記憶された欠陥画素に関する情報に基づいた第1欠陥画素補正を行う。そして、第2補正部520が能動状態の場合は第2補正部520において第1補正部510から入力される画像信号に基づいて欠陥画素を検出して対応する画素値を補正する第2欠陥画素補正を行い、第2補正部520が非能動状態の場合は第2欠陥画素補正は行わない。第2補正部520の能動/非能動状態の切替えは、制御部100の制御下で、夜景モード等を含む撮影モードやシャッター速度等といった撮影条件に基づいて切替部530によって行われる。
【選択図】 図3
【解決手段】A/D変換部40から入力される画像データに対して、第1補正部510において、欠陥画素アドレス記憶部512に記憶された欠陥画素に関する情報に基づいた第1欠陥画素補正を行う。そして、第2補正部520が能動状態の場合は第2補正部520において第1補正部510から入力される画像信号に基づいて欠陥画素を検出して対応する画素値を補正する第2欠陥画素補正を行い、第2補正部520が非能動状態の場合は第2欠陥画素補正は行わない。第2補正部520の能動/非能動状態の切替えは、制御部100の制御下で、夜景モード等を含む撮影モードやシャッター速度等といった撮影条件に基づいて切替部530によって行われる。
【選択図】 図3
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像装置における欠陥画素等に起因する特異な画素値の補正技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体基板上に形成されたCCD(Charge Coupled Device)等の固体撮像素子では、半導体基板上の局所的な結晶欠陥等により欠陥画素が発生することがある。この欠陥画素からの信号出力レベルは入射光量に依存しない特異なものとなり、撮影画像の画質の劣化を招く。このため、撮像装置の工場出荷前等において欠陥画素を検出して欠陥画素情報として不揮発性メモリに予め記憶し、その情報に基づいて欠陥画素に対応する信号レベル(画素値)を補正する手法が古くからとられてきた。
【0003】
しかし、撮像装置への組み込み後、種々の使用状態や環境的要素等により撮像素子の欠陥画素は後発的に増加する傾向にある。また、夜景撮影等の長時間露光が必要な撮影時には、熱雑音等の影響により入射光量に依存しない特異な信号出力レベルを呈する画素が出現し、後発的な欠陥画素の増加と類似した現象(以下、「擬似的な欠陥画素の増加」とも表現する)が発生する。このような後発的・擬似的な欠陥画素の増加に対しては、上述した予め欠陥画素情報を記憶する手法では対応することができない。
【0004】
このような問題に対して、撮像装置の電源投入時に欠陥画素を検出してメモリーに記憶する手法が考えられる。
【0005】
また、撮影直後に、シャッターを閉じた状態で撮影と同様な動作を行って画像(以下、「ダーク画像」と称する)を取得し、撮影画像の画素値からダーク画像の画素値を減ずることによって、特異な信号出力レベルを補正する手法が一般的な撮像装置において採用されている。
【0006】
さらに、撮影毎に所定の画素の信号出力レベルと周辺の画素の信号出力レベルとの差分に基づいて欠陥画素を検出し、欠陥画素に対応する信号出力レベルを補正する手法が提案されている(例えば、特許文献1)。
【0007】
このような技術に関する先行技術文献としては、以下のようなものがある。
【0008】
【特許文献1】
特開2002−223391号公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、長時間露光により発生する擬似的な欠陥画素の数は多いため、上述した電源投入時に欠陥画素を検出してメモリーに記憶する手法では、大容量のメモリが必要となり、コストの上昇を招く。また、電源投入時における欠陥画素の検出動作により電源投入後間もなくの撮影を阻害し、撮像装置の操作性の低下を招く。
【0010】
また、上述したダーク画像を取得する手法では、1回の撮影において、撮影動作とダーク画像の取得動作により通常の撮影の約2倍の撮影時間を要し、連写等の撮影動作が阻害され、撮像装置の操作性の低下を招く。
【0011】
さらに、上述した撮影毎に欠陥画素を検出する手法では、擬似的な欠陥画素が増加しない短時間露光の撮影時等においても欠陥画素の検出動作を行うため、無駄な検出動作に時間を要し、連写等の撮影動作の阻害による操作性の低下を招く。
【0012】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、低コストでかつ操作性が良好な欠陥画素に対応する画素値を補正する機能を有する撮像装置を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、請求項1の発明は、撮像素子の欠陥画素に対応する画素値の補正機能を有する撮像装置であって、前記撮像素子の第1の欠陥画素に関する情報を記憶する記憶手段と、前記情報に基づいて前記第1の欠陥画素に対応する画素値を補正する第1の補正手段と、前記撮像素子から入力される画像信号に基づいて第2の欠陥画素を検出して、当該第2の欠陥画素に対応する画素値を補正する第2の補正手段と、前記第1および第2の補正手段のうち少なくとも前記第2の補正手段の能動状態と非能動状態とを切替え制御する制御手段とを備えることを特徴とする。
【0014】
また、請求項2の発明は、請求項1に記載の撮像装置であって、前記制御手段が、撮影条件に基づいて、前記第1および第2の補正手段のうち少なくとも前記第2の補正手段の能動状態と非能動状態とを切替え制御することを特徴とする。
【0015】
また、請求項3の発明は、請求項2に記載の撮像装置であって、前記撮影条件が、撮影モード、シャッター速度、および被写体輝度に関する情報のうち少なくとも一つの情報を含むことを特徴とする。
【0016】
また、請求項4の発明は、請求項2または請求項3に記載の撮像装置であって、前記第2の補正手段が、所定の検出条件にしたがって前記第2の欠陥画素を検出し、前記撮影条件に基づいて前記所定の検出条件を変更する変更手段をさらに備えることを特徴とする。
【0017】
また、請求項5の発明は、請求項1から請求項3のいずれかに記載の撮像装置であって、前記第2の補正手段が、所定の画素と当該所定の画素の周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、前記所定の画素を第2の欠陥画素として検出し、シャッター速度値が所定の値未満の露光時間を示す場合よりも前記所定の値以上の露光時間を示す場合において、前記所定の閾値をより小さな値に設定する設定手段、をさらに備えることを特徴とする。
【0018】
なお、本明細書では、同義である「露光時間が短い」と「シャッター速度が速い(高速)」とを、また、「露光時間が長い」と「シャッター速度が遅い(低速)」とを、夫々適宜使い分ける。また、シャッター速度を時間的な定量値として表す文言として「シャッター速度値」を用いる。即ち、シャッター速度値が大である、とは露光時間が長い(シャッター速度が遅い)ことを意味する。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【0020】
<撮像装置の内部構成>
図1は、本発明の実施形態に係る撮像装置(デジタルカメラ)1の内部構成を示すブロック図である。図1に示すように、撮像装置1は、主に撮影機能部3、制御部100、および操作部200を備える。
【0021】
まず、撮影機能部3内の各部について説明する。
【0022】
レンズ部10は、被写体に係る光学像を撮影素子(ここでは、CCD)20上に結像させるものである。
【0023】
撮像素子(CCD)20は、レンズ部10によってCCD20の撮像面上に結像された光学像を電気信号に光電変換し、電荷を蓄積するものである。
【0024】
絞り11は、レンズ部10によって結像される光学像の光路を段階的に遮ることで、CCD20への露光量を調整するものである。絞り11は、制御部100の制御下で、被写体が明るく光量が過大な場合は絞り込まれ、被写体が暗く光量が過小な場合は開放されるように制御される。
【0025】
シャッター12は、CCD20での電荷蓄積が開始された後にレンズ部10からCCD20への光路を遮断することで、被写体に係る光学像がCCD20上に結像される時間(露光時間)を調整するものである。シャッター12は、制御部100の制御下で、被写体が明るく光量が過大な場合は光路の開放時間(露光時間)が短縮され、被写体が暗く光量が過小な場合は光路の開放時間が延長されるように制御される。そして、夜景撮影等において暗い被写体を撮影する際には、露光時間が長くなるため、CCD20において熱雑音等の影響により暗電流が生じ、入射光量に依存しない特異な信号出力レベル(画素値)を呈する画素が増加する現象が発生する。CCD20の電荷蓄積開始からシャッターにより光路が遮られるまでの時間をシャッター速度値と表現する。
【0026】
CCD20では多数の画素が格子状に配列されており、カラーCCDの場合は各画素毎にカラーフィルターが配置されている。図2は、CCD20の画素配列21と画素信号出力を説明するための図であり、方向関係を明確にするために互いに直交する垂直方向の軸(V軸)および水平方向の軸(H軸)を付している。図2では縦16個×横16個の画素にRGBの原色フィルターが配列される所謂ベイヤー配列と称される画素配列21を例示している。なお、以下では、R(Red)のフィルターが付された画素をR画素とも称し、G(Green)のフィルターが付された画素をG画素とも称し、B(Blue)のフィルターが付された画素をB画素とも称する。
【0027】
図2では、図示の関係上、縦16個×横16個で合計256個の画素からなる画素配列21を例示しているが、これに限られず、例えば、200万個を超える画素数を有するものでも良い。このように多数の画素を有するCCDでは、各画素を完全に均一化することは極めて困難であり、欠陥画素がある程度内在する。なお、欠陥画素には、▲1▼当初から常時発生する明らかな欠陥と見なせるもの、▲2▼長時間露光において現出するもの(擬似的な欠陥画素)、▲3▼使用している間に生じる後発的なものの3つが存在する。
【0028】
また、CCD20は、各画素において入射された光量に応じた電荷が蓄積され、その電荷量に比例する電気信号を順次出力して、増幅部30に転送する。例えば、撮影時には、図2に示すように、最も−V方向に位置する水平方向の画素列L1について+Hから−H方向に向けて各画素に対応する電気信号を出力することによって、信号列HL1を出力し、続いて一段上側に位置する水平方向の画素列L2について+Hから−H方向に向けて各画素に対応する電気信号を出力することによって、信号列HL2を出力する。このようにして、順次、水平方向の画素列についての電気信号を出力することにより、全画素について電気信号を出力する。なお、撮影前の撮影待機状態では、ライブビュー画像の生成および露光制御等のために、1/30秒毎にCCD20の全画素のうち垂直および水平方向に1/8間引きした画素から電気信号が出力される。ここでは、CCD20から出力された順番に電気信号が増幅部30に転送され、その後、出力順に信号処理が施される。
【0029】
増幅部30は、CCD20から出力された電気信号(画像信号)を制御部100によって設定される増幅率に従って増幅するものである。ここでは、被写体の明るさに応じて増幅率が設定され、画像信号を最適なレベルに調整する。
【0030】
A/D変換部40は、CCD20から出力されて増幅部30で増幅されたアナログの画像信号を各画素毎にデジタル画像データ(画素値)に変換するものである。アナログの画像信号をデジタル画像データ化することにより、種々の画像処理を精度良く実現することが可能となる。
【0031】
欠陥画素補正部50は、CCD20の欠陥画素を判別・検出し、判別・検出された欠陥画素に対応する画素値をその周辺の画素に対応する画素値に基づいて補正するものである。上述したように、CCD20の画素の中には、他の正常な画素と比較して顕著に画素値が相違する画素(欠陥画素)が存在し、均一な画像中において点状の固定ノイズを発生させ画質の低下を招く。そこで、欠陥画素補正部50において、欠陥画素に対応する画素値を補正し、画質の向上を図る。欠陥画素補正部50によって欠陥画素に対応する画素値が補正された画像データは第1画像処理部60に転送される。
【0032】
また、欠陥画素補正部50は、後述する2つの補正部(第1および第2補正部510,520)を有し、制御部100の制御下で、撮影条件に基づいて2つの補正部について、能動化した状態(能動状態)と能動化していない状態(非能動状態)とを切替える。この欠陥画素補正部50については後程さらに詳述する。
【0033】
第1画像処理部60は、欠陥画素補正部50から入力された画像データに対してγ変換や色補間等の画像処理を施すものであり、画像処理が施された画像データが画像メモリ70に転送される。
【0034】
画像メモリ70は、第1画像処理部60で処理された画像データを一時的に記憶するものである。画像メモリ70に一時的に記憶された画像データは、表示部80および第2画像処理部90に出力される。なお、撮影前の撮影待機状態においては、例えば、1/30秒毎にCCD20の全画素のうち垂直および水平方向に1/8間引きした画素に対応する画像データが画像メモリ70に入力される。
【0035】
表示部80は、LCD等を備えて構成され、画像メモリ70に記憶されている画像データに基づいた画像を表示するものである。
【0036】
第2画像処理部90は、撮影時において、画像メモリ70に記憶される画像データを画像ファイル形式に変換して記録メディア95に記録するものである。なお、第2画像処理部90では、画像ファイル形式に合わせて、タグ情報やサムネイル画像の生成・付加、および画像データの圧縮処理を行う。
【0037】
記録メディア95は、第2画像処理部90で生成された画像ファイルを記憶するものである。記録メディア95は、例えば、メモリカード等のように撮像装置1に対して着脱可能に構成される。また、アダプタ等を介してパーソナルコンピュータに画像ファイルをコピーすることができるものもある。
【0038】
操作部200は、図示を省略するが撮影モード切替スイッチやレリーズボタン等の各種スイッチやボタン等を備えて構成される。例えば、撮影モード切替スイッチは、ユーザーの操作に基づいて、「夜景モード」や「ポートレートモード」等、被写体や撮影環境等に適合した撮影モードを切替設定することができるものである。そして、ユーザーによる操作部200の操作に基づいて電気信号が操作部200から制御部100に送信され、制御部100の制御下で、各種撮影モードの設定や撮影動作等が実行される。なお、夜景モードに設定された場合には、撮影機能部3において夜景を撮影することを前提とした補正が行われる。
【0039】
制御部100は、撮影機能部3等の撮像装置1の各部の動作を統括制御するものであり、主に、CPU、ROM、およびRAM等を備えて構成される。制御部100では、ROM内に格納されるプログラムがCPUに読み込まれることによって各種機能を具体的に実行する。
【0040】
また、制御部100は、撮影時における露光レベルを調整するための自動露光(AE)制御機能110を有している。AE制御機能110は、ユーザーによってレリーズボタンが押下されると、撮影直前において画像メモリ70に記憶される画像データを読み取り、全画素についての画素値の平均値を算出して被写体の輝度(被写体輝度)を求め、その輝度に基づいて露光レベルが最適となるように、絞り値、シャッター速度値、および増幅率といった各パラメータを決定する。そして、絞り11、シャッター12、および増幅部30を制御する。
【0041】
具体的には、画像メモリ70に記憶される画像データが最適な輝度に達していない場合(被写体輝度が低い場合)は、絞り値を減少させ(絞り11は開く方向)、シャッター速度を低速化し、増幅率を上昇させる方向に制御する。逆に、最適な輝度を超えている場合(被写体輝度が高い場合)は、絞り値を増大させ(絞り11は絞る方向)、シャッター速度を高速化し、増幅率を減少させる方向に設定する。絞り値、シャッター速度値、および増幅率の3つのパラメータをどのように制御するかについては、ROM内に格納されるプログラムによって設定される。
【0042】
また、制御部100は、シャッター速度や撮影モード等に関する情報を含む撮影条件に基づいて、欠陥画素補正部50における補正方法およびパラメータの設定を変更するように制御する。
【0043】
<欠陥画素補正>
図3は、欠陥画素に対応する画素値の補正(以下、「欠陥画素補正」と称する)を説明するための図である。図3に示すように、欠陥画素補正部50は、第1補正部510、第2補正部520、切替部530、欠陥画素アドレス記憶部512、およびδ値変更部522を備えて構成されている。そして、欠陥画素補正部50は、第1補正部510と欠陥画素アドレス記憶部512とによる欠陥画素に対応する画素値の補正(以下、「第1欠陥画素補正」と称する)、および第2補正部520およびδ値変更部522による欠陥画素に対応する画素値の補正(以下、「第2欠陥画素補正」と称する)を行う機能を有する。つまり、欠陥画素補正部50は、第1および第2欠陥画素補正の2種類の欠陥画素補正を実施することができる。また、切替部530による第1および第2補正部510,520の能動/非能動状態を切替える機能(以下、「切替機能」と称する)を有する。以下、第1および第2欠陥画素補正、ならびに切替機能について説明する。
【0044】
<第1欠陥画素補正>
欠陥画素アドレス記憶部512は、撮像装置1の工場出荷前において予め検出されたCCD20の欠陥画素(「第1の欠陥画素」とも称する)のアドレス(位置)を記憶している。換言すれば、欠陥画素アドレス記憶部512が、CCD20の第1の欠陥画素に関する情報を記憶している。
【0045】
第1補正部510は、主に欠陥画素判別/補正部511、およびアドレスカウンター513を備えている。
【0046】
アドレスカウンター513は、対象画素のアドレスを順次カウントし、欠陥画素判別/補正部511に出力する。
【0047】
欠陥画素判別/補正部511は、欠陥画素アドレス記憶部512に記憶された欠陥画素のアドレス(Adress(N))と、アドレスカウンター513から入力される対象画素のアドレス(Adress(n))とを比較し、アドレスが一致するか否かによって対象画素が第1の欠陥画素であるか否かを判別する。そして、対象画素が第1の欠陥画素であると判別された場合は、その対象画素に対応する画素値を補正する。つまり、第1補正部510は、欠陥画素アドレス記憶部512に記憶される情報に基づいて第1の欠陥画素に対応する画素値を補正する。
【0048】
欠陥画素判別/補正部511における判別と補正について以下、具体例を挙げて説明する。
【0049】
図3では、CCD20においてG画素とB画素が配列される水平方向の画素列に対応する画像データが第1補正部510に入力され、対象画素が画素Gmである状態を例示している。なお、図3中で、GおよびB画素の右下方に付される小文字はGおよびB画素の水平方向のアドレスを示すものであり、mは整数である。
【0050】
図3に示す状態においては、欠陥画素判別/補正部511は、アドレスカウンターから出力される対象画素Gmのアドレス(Adress(n))と欠陥画素アドレス記憶部512に記憶された欠陥画素のアドレス(Adress(N))とを比較し、Adress(n)とAdress(N)とが等しい場合は対象画素Gmを欠陥画素と判別する。そして、対象画素Gmに対応する画素値を対象画素Gmの前後に位置する2つのG画素(Gm−1およびGm+1)の平均値に置き換えることにより、対象画素Gmに対応する画素値を補正する。一方、Adress(n)とAdress(N)とが異なる場合は対象画素Gmを欠陥画素とは判別せず、対象画素Gmに対応する画素値の補正は実施しない。
【0051】
なお、上記ではG画素についての欠陥画素の判別と画素値の補正について説明したが、B画素についても同様な判別および補正が行われる。例えば、対象画素Bmが欠陥画素として判別された場合は、対象画素Bmに対応する画素値を対象画素Bmの前後に位置する2画素(Bm−1およびBm+1)の平均値に置き換えることにより、対象画素Bmに対応する画素値を補正する。また、第1補正部510では、G画素とR画素が配列される水平方向の画素列に対しても同様に欠陥画素の判別および画素値の補正が行われる。
【0052】
そして、第1補正部510において判別および補正が行われたデータは順次切替部530へ伝送される。
【0053】
<第2欠陥画素補正>
第2補正部520は、欠陥画素検出/補正部521を備えて構成されている。
【0054】
欠陥画素検出/補正部521は、対象画素とその周辺の画素との画素値を比較することで、その時点における欠陥画素(「第2の欠陥画素」とも称する)を検出する。そして、対象画素が第2の欠陥画素であると検出された場合は、その対象画素に対応する画素値を補正する。なお、ここでは、第2の欠陥画素として検出される画素は、後発的・擬似的な欠陥画素に相当する。
【0055】
欠陥画素検出/補正部521における検出と補正について以下、具体例を挙げて説明する。
【0056】
図3では、CCD20においてG画素とB画素が配列される水平方向の画素列に対応する画像データが第2補正部520に入力され、対象画素が画素Gmである状態を例示している。
【0057】
図3に示す状態において、欠陥画素検出/補正部521は、対象画素Gmに対応する画素値と、対象画素Gmの前後に位置する2つのG画素(Gm−1およびGm+1)に対応する画素値の平均値との差分ΔGを算出し、差分ΔGが所定の閾値δよりも大きければ対象画素Gmを欠陥画素と検出する。つまり、第2補正部520が、所定の対象画素と所定の対象画素の周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値δよりも大きければ、所定の対象画素を第2の欠陥画素として検出する。そして、対象画素Gmに対応する画素値を対象画素Gmの前後に位置する2画素(Gm−1およびGm+1)に対応する画素値の平均値に置き換えることにより、対象画素Gmに対応する画素値を補正する。すなわち、第2補正部520が、CCD20から入力される画像信号に基づいて第2の欠陥画素を検出して、当該第2の欠陥画素に対応する画素値を補正する。一方、差分ΔGが所定の閾値δよりも小さければ対象画素Gmを欠陥画素とは検出せず、対象画素Gmに対応する画素値の補正は実施しない。
【0058】
なお、上記ではG画素についての欠陥画素の検出と画素値の補正について説明したが、B画素についても同様な検出および補正が行われる。例えば、対象画素Bmが欠陥画素として検出された場合は、対象画素Bmに対応する画素値を対象画素Bmの前後に位置する2画素(Bm−1およびBm+1)に対応する画素値の平均値に置き換えることにより、対象画素Bmに対応する画素値を補正する。また、第2補正部520では、G画素とR画素が配列される水平方向の画素列に対しても同様に欠陥画素の検出および画素値の補正が行われる。
【0059】
そして、第2補正部520において検出および補正が行われたデータは順次切替部530へ伝送される。
【0060】
δ値変更部522は、制御部100の制御下で、撮影条件に基づいて所定の検出条件とも言える閾値δをa,b(なお、a<bの関係にある)の2段階に変更するものである。つまり、第2補正部520は、所定の検出条件である可変的な閾値δにしたがって第2の欠陥画素を検出する。閾値δの変更の詳細な制御については後述する。
【0061】
<切替機能>
切替部530は、図3に示すように、第1および第2スイッチ部531,532を備えて構成され、第1および第2スイッチ部531,532は、それぞれ3つの接点O,A,Bを有する。
【0062】
第1スイッチ部531では、接点Oが第1補正部510と、接点Bが第2補正部520と、接点Aが第2スイッチ部532の接点Aとデータ伝送可能に接続されている。また、第2スイッチ部532では、接点Oが第1画像処理部60と、接点Bが第2補正部520とデータ伝送可能に接続されている。そして、第1および第2スイッチ部531,532は、制御部100からの制御信号に基づいて、接点Oと接点Aとがデータ伝送可能に接続される状態と、接点Oと接点Bとがデータ伝送可能に接続される状態とを切替えることができる。なお、以下では、接点Oと接点Aとがデータ転送可能に接続される状態に設定することを「切替部530をA側に設定する」と称し、接点Oと接点Bとがデータ転送可能に接続される状態に設定することを「切替部530をB側に設定する」と表現する。
【0063】
例えば、切替部530がA側に設定されると、第1補正部510から出力した画像データは第2補正部520を介することなく第1画像処理部60に出力される。一方、B側に設定されると、第1補正部510から出力した画像データは第2補正部520を介して第1画像処理部60に出力される。つまり、切替部530は、制御部100の制御下で、第1欠陥画素補正のみからなる欠陥画素補正を行う状態と、第1および第2欠陥画素補正の双方の欠陥画素補正を行う状態とを切替えることができる。
【0064】
したがって、切替部530が、制御部100の制御下で、第2欠陥画素補正を行う状態と第2欠陥画素補正を行わない状態とを切替える。すなわち、制御部100が、第1補正部510を定常的に能動状態とするとともに、第2補正部520の能動/非能動状態を切替え制御する。
【0065】
上述したように、制御部100が、切替部530による切替機能、およびδ値変更部522による閾値δの切替を制御するため、これらの制御をまとめて、「補正切替制御」と称し、以下、この補正切替制御について説明する。
【0066】
<補正切替制御>
図4は、補正切替制御の制御フローを示すフローチャートである。以下、図4に示すフローチャートに沿って補正切替制御について説明する。
【0067】
まず、撮影待機状態において、ユーザーによってレリーズボタンが押下されると、露光レベルが最適となるように、絞り値、シャッター速度値、および増幅率の3つのパラメータが決定され、補正切替制御が開始してステップS1に進む。
【0068】
ステップS1では、夜景モードに設定されているか否かを判別する。ここでは、夜景モードに設定されている場合はステップS8に進み、設定されていない場合はステップS2に進む。
【0069】
ステップS2では、シャッター速度値(露光時間)が0.5秒以上であるか否か判別する。ここでは、直近に決定されたシャッター速度値が0.5秒以上である場合はステップS4に進み、0.5秒未満である場合はステップS3に進む。
【0070】
ステップS3では、切替部530をA側に設定し、第2補正部520を非能動状態とし、補正切替制御を終了する。ここでは、夜景モードに設定されておらず、シャッター速度が比較的高速であるため、長時間露光による擬似的な欠陥画素が発生し難い撮影条件となっている。したがって、第1欠陥画素補正のみを行い、第2欠陥画素補正は行わないようにする。
【0071】
ステップS4では、切替部530をB側に設定し、第2補正部520を能動状態とし、ステップS5に進む。ここでは、夜景モードに設定されていないが、シャッター速度が比較的低速であるため、長時間露光による擬似的な欠陥画素が発生し易い撮影条件となっている。したがって、第1欠陥画素補正だけでなく、第2欠陥画素補正も行うようにする。
【0072】
ステップS5では、シャッター速度値が5秒以上であるか否かを判別する。ここでは、直近に決定されたシャッター速度値が5秒以上である場合はステップS7に進み、5秒未満である場合はステップS6に進む。
【0073】
ステップS6では、閾値δ=bに設定し、補正切替制御を終了する。ここでは、シャッター速度値が0.5秒以上で5秒未満であるため、被写体は日中よりは比較的暗い夕景等であると考えられる。
【0074】
ステップS7では、閾値δ=aに設定し、補正切替制御を終了する。ここでは、夜景モードに設定されていないが、シャッター速度値が5秒以上と非常に長いため、被写体がかなり暗い夜景等であると考えられる。
【0075】
上述したように、ステップS6では、閾値δをステップS7における閾値δ=aよりも大きな値bに設定する。例えば、夕景等では、山の稜線付近で、夕焼け空と非常に暗い山とが接する部分で大きなコントラストを有する。このような被写体については、閾値δが小さければ、第2補正部520において、コントラストの大きな部分に位置する画素は欠陥画素として検出され、画素値を補正されてしまう。その結果、夕景ならではのグラデーションを損なう結果となってしまう可能性が高い。そこで、本実施形態では、被写体が夜景程でないが比較的暗い場合には、比較的大きな閾値δを設定することにより、夕景等のグラデーションを損なうことなく撮影を実施することができる。
【0076】
ステップS8では、切替部530をB側に設定し、第2補正部520を能動状態とし、ステップS9に進む。
【0077】
ステップS9では、ステップS7と同様に、閾値δ=aに設定し、補正切替制御を終了する。
【0078】
夜景モードに設定されている場合や、シャッター速度値が5秒以上と非常に長い場合は、被写体が、真っ暗な部分に点光源等の明かりが混在した夜景等であると考えられる。夜景等が被写体の場合は被写体の輝度が低いため、露光時間が非常に長くなり、熱雑音に起因する擬似的な欠陥画素が生じ易い状態となる。その結果、真っ暗な部分に現実には存在しない高輝度の画素(点状のノイズ)が多数発生する傾向にある。また、夜景中の真っ暗な部分における欠陥画素は目立ちやすい。すなわち、一般的に、夜景に係る画像は、真っ暗な部分に星が多数点在するような所謂”ざらつき感”のある画像となる傾向にある。
【0079】
そこで、本実施形態では、夜景モードに設定されている場合や、シャッター速度値が5秒以上と非常に長い場合は、被写体が夜景等であるものとして、閾値δを比較的小さく設定する。つまり、δ値変更部522が、シャッター速度値が所定の値(5秒)未満の場合よりも所定の値(5秒)以上の場合において、所定の閾値δをより小さな値aに設定する。
【0080】
その結果、第2補正部520が、より多くの画素を欠陥画素として検出し、画素値を補正するため、ざらつき感を抑制し、画質の向上を図ることができる。つまり、第2補正部520において、シャッター速度が比較的低速の方が所定の閾値δがより小さな値となるように設定するため、画質の向上を図ることができる。また、ここでは、夜景モード等の撮影モードの設定やシャッター速度等の撮影条件に基づいて、第2補正部520における欠陥画素の検出条件を変更するため、欠陥画素に対応する画素値の補正を最適化することができる。
【0081】
なお、近年の撮像素子は数百万画素と非常に多くの画素を有しているため、夜景中の点光源が1画素分のみに対応するということは非常に稀であり、点光源は少なくとも数画素分以上に対応する。よって、閾値δを小さくしたからといって撮影画像上において点光源が消失するような不都合は生じ難いものと考えられる。
【0082】
以上のように、本発明の実施形態に係る撮像装置1では、欠陥画素アドレス記憶部512に記憶された欠陥画素に関する情報に基づいた第1欠陥画素補正と、CCD20から入力される画像信号に基づいて欠陥画素を検出して対応する画素値を補正する第2欠陥画素補正とを含む欠陥画素補正を実施可能である。そして、第1補正部510を定常的に能動状態とするとともに、夜景モード等を含む撮影モードやシャッター速度等といった撮影条件に基づいて、第2補正部520の能動/非能動状態を切替える。その結果、欠陥画素アドレス記憶部512等に用いられるメモリの容量の増強を回避しつつ、長時間露光による擬似的な欠陥画素が発生し易い場合等、必要な時だけ欠陥画素の検出動作を行うため、対応する画素値を適正に補正することができる。すなわち、低コストでかつ操作性が良好な欠陥画素に対応する画素値を補正する機能を有する撮像装置を提供することができる。
【0083】
<変形例>
以上、この発明の実施形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。
【0084】
◎例えば、上記実施形態では、夜景モードに設定された場合は、閾値δ=aに設定されたが、これに限られるものではなく、夜景モードに設定されている場合であっても、シャッター速度等の撮影条件に基づいて閾値δを変更するようなものであっても良い。例えば、夜景モードに設定されている場合であって、シャッター速度が比較的低速の方が閾値δが小さくなるように変更するようにしても良い。
【0085】
◎また、上記実施形態では、第1補正部510を常に能動状態としたが、これに限られるものではなく、撮影条件に基づいて第1および第2補正部510,520のうち少なくとも第2補正部520の能動/非能動状態を切替え制御するようなものであれば良い。よって、例えば、長時間露光の撮影の際(夜景モード設定時や低速シャッター速度設定時)には第2補正部520のみを能動化するようにしても良い。このような構成であっても、メモリの容量の増強を回避しつつ、長時間露光による擬似的な欠陥画素が発生し易い場合等、必要な時だけ第2補正部520による欠陥画素の検出や対応する画素値の補正を行うことができる。すなわち、低コストで操作性が良好な欠陥画素補正機能を有する撮像装置を提供することができる。なお、この場合は、第2補正部520が第1の欠陥画素についても第2の欠陥画素として検出することとなる。
【0086】
◎また、上記実施形態では、撮影モードやシャッター速度等の撮影条件に基づいて、第1および第2補正部510,520の能動/非能動状態を切替えたが、これに限られるものではなく、ユーザーが操作部200に含まれるボタンを操作することによって、手動で任意に切替え可能なものとしても良い。例えば、ユーザーがライブビュー表示や撮影画像を見て欠陥画素が多いと感じた際に、第2補正部520を常に能動状態に設定するようにしても良い。このような構成とすることで、後発的・擬似的な欠陥画素に対応する画素値を適切に補正することができる。
【0087】
◎また、上記実施形態では、閾値δについてa<bの関係となっていたが、これに限られるものではなく、b<aの関係となるようにすることもできる。このような構成にすれば、長時間露光の撮影において、必要以上に欠陥画素を鋭敏に検出して過度な補正をすることがないようにすることができる。
【0088】
◎また、上記実施形態では、撮影モードやシャッター速度といった撮影条件に基づいて、第1および第2補正部510,520の能動/非能動状態、および閾値δを切替えたが、これに限られるものではなく、被写体輝度等の撮影条件に基づいて切替えるようにしても良い。
【0089】
例えば、被写体輝度について2つの閾値S,T(S<T)を設定し、被写体輝度が閾値T以上である場合は第1補正部510のみを能動状態とし、被写体輝度が閾値S以上で閾値T未満である場合(被写体が夕景等である場合)は第1および第2補正部510,520の双方を能動状態として閾値δ=bとし、被写体輝度が閾値S未満である場合(被写体が夜景等である場合)は第1および第2補正部510,520の双方を能動状態として閾値δ=aとするように切替えるようにしても良い。つまり、ここでは、δ値変更部522が、被写体輝度が所定の輝度以上の場合よりも所定の輝度未満の場合において、所定の閾値δをより小さな値aに設定する。この結果、被写体輝度が比較的小さな方が所定の閾値をより小さな値に変更するため、画質の向上を図ることができる。
【0090】
◎また、上記実施形態では、欠陥画素に対応する画素値を水平方向について前後に位置する2画素の平均値に置き換えることによって、画素値の補正を行ったが、これに限られるものではなく、例えば、垂直方向について上下に位置する2画素の平均値に置き換えたり、水平および垂直方向について周辺に位置する複数の画素の平均値に置き換えることによって画素値の補正を行っても良い。
【0091】
◎上記実施形態のシャッター速度値はCCDの電荷蓄積開始からシャッター閉じまでの時間に相当する値であるが、電荷蓄積中にシャッターを開閉して露光を行うものであればシャッターの開放時間がシャッター速度値に相当する。また、CCDの電子シャッター機能のみによって電荷蓄積を制御するものであれば、電子シャッター機能による電荷蓄積の開始から終了までがシャッター速度値に相当する。
【0092】
◎上述した具体的実施形態には以下の構成を有する発明が含まれている。
【0093】
(1)請求項1から請求項3のいずれかに記載の撮像装置であって、前記第2の補正手段が、所定の画素と当該所定の画素の周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、前記所定の画素を第2の欠陥画素として検出し、被写体輝度が所定の輝度以上の場合よりも前記所定の輝度未満の場合において、前記所定の閾値をより小さな値に設定する設定手段、をさらに備えることを特徴とする撮像装置。
【0094】
(1)の発明によれば、所定の画素とその周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、所定の画素を欠陥画素として検出し、被写体輝度が比較的小さな方が所定の閾値をより小さな値に変更するため、画質の向上を図ることができる。
【0095】
(2)請求項1から請求項5、および(1)のいずれかに記載の撮像装置であって、前記制御手段が、前記第1の補正手段を定常的に能動状態とするとともに、前記第2の補正手段の能動状態と非能動状態とを切替え制御することを特徴とする撮像装置。
【0096】
(2)の発明によれば、記憶された欠陥画素に関する情報に基づいた欠陥画素に対応する画素値の補正を行う第1欠陥画素補正を定常的に能動化するとともに、撮像素子から入力される画像信号に基づいて検出された欠陥画素に対応する画素値の補正を行う第2欠陥画素補正の能動/非能動状態を切替えるため、必要な時だけ第2欠陥画素補正による欠陥画素の検出や対応する画素値の補正を行うことができる。
【0097】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1に記載の発明によれば、記憶された欠陥画素に関する情報に基づいた欠陥画素に対応する画素値の補正を行う第1欠陥画素補正、および撮像素子から入力される画像信号に基づいて検出された欠陥画素に対応する画素値の補正を行う第2欠陥画素補正のうち少なくとも第2欠陥画素補正の能動化と非能動化とを切替えるため、低コストでかつ操作性が良好な欠陥画素に対応する画素値を補正する機能を有する撮像装置を提供することができる。
【0098】
また、請求項2に記載の発明によれば、撮影条件に基づいて、第1欠陥画素補正および第2欠陥画素補正のうち少なくとも第2欠陥画素補正の能動化と非能動化とを切替えるため、必要な時だけ第2欠陥画素補正による欠陥画素の検出や対応する画素値の補正を行うことができる。
【0099】
また、請求項3に記載の発明によれば、撮影モードやシャッター速度や被写体輝度等に基づいて、第1欠陥画素補正および第2欠陥画素補正のうち少なくとも第2欠陥画素補正の能動化と非能動化とを切替えるため、欠陥画素に対応する画素値を適正に補正することができる。
【0100】
また、請求項4に記載の発明によれば、撮影条件に基づいて、第2欠陥画素補正における欠陥画素の検出条件を変更するため、欠陥画素に対応する画素値の補正を最適化することができる。
【0101】
また、請求項5に記載の発明によれば、所定の画素とその周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、所定の画素を欠陥画素として検出し、シャッター速度が比較的低速の方が所定の閾値がより小さな値となるように変更するため、画質の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る撮像装置の内部構成を示すブロック図である。
【図2】撮像素子の画素配列と画素信号出力を説明するための図である。
【図3】欠陥画素に対応する画素値の補正を説明するための図である。
【図4】補正切替制御の制御フローを示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 撮像装置
50 欠陥画素補正部
100 制御部(制御手段)
510 第1補正部(第1の補正手段)
512 欠陥画素アドレス記憶部(記憶手段)
520 第2補正部(第2の補正手段)
522 δ値変更部(変更手段、設定手段)
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像装置における欠陥画素等に起因する特異な画素値の補正技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体基板上に形成されたCCD(Charge Coupled Device)等の固体撮像素子では、半導体基板上の局所的な結晶欠陥等により欠陥画素が発生することがある。この欠陥画素からの信号出力レベルは入射光量に依存しない特異なものとなり、撮影画像の画質の劣化を招く。このため、撮像装置の工場出荷前等において欠陥画素を検出して欠陥画素情報として不揮発性メモリに予め記憶し、その情報に基づいて欠陥画素に対応する信号レベル(画素値)を補正する手法が古くからとられてきた。
【0003】
しかし、撮像装置への組み込み後、種々の使用状態や環境的要素等により撮像素子の欠陥画素は後発的に増加する傾向にある。また、夜景撮影等の長時間露光が必要な撮影時には、熱雑音等の影響により入射光量に依存しない特異な信号出力レベルを呈する画素が出現し、後発的な欠陥画素の増加と類似した現象(以下、「擬似的な欠陥画素の増加」とも表現する)が発生する。このような後発的・擬似的な欠陥画素の増加に対しては、上述した予め欠陥画素情報を記憶する手法では対応することができない。
【0004】
このような問題に対して、撮像装置の電源投入時に欠陥画素を検出してメモリーに記憶する手法が考えられる。
【0005】
また、撮影直後に、シャッターを閉じた状態で撮影と同様な動作を行って画像(以下、「ダーク画像」と称する)を取得し、撮影画像の画素値からダーク画像の画素値を減ずることによって、特異な信号出力レベルを補正する手法が一般的な撮像装置において採用されている。
【0006】
さらに、撮影毎に所定の画素の信号出力レベルと周辺の画素の信号出力レベルとの差分に基づいて欠陥画素を検出し、欠陥画素に対応する信号出力レベルを補正する手法が提案されている(例えば、特許文献1)。
【0007】
このような技術に関する先行技術文献としては、以下のようなものがある。
【0008】
【特許文献1】
特開2002−223391号公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、長時間露光により発生する擬似的な欠陥画素の数は多いため、上述した電源投入時に欠陥画素を検出してメモリーに記憶する手法では、大容量のメモリが必要となり、コストの上昇を招く。また、電源投入時における欠陥画素の検出動作により電源投入後間もなくの撮影を阻害し、撮像装置の操作性の低下を招く。
【0010】
また、上述したダーク画像を取得する手法では、1回の撮影において、撮影動作とダーク画像の取得動作により通常の撮影の約2倍の撮影時間を要し、連写等の撮影動作が阻害され、撮像装置の操作性の低下を招く。
【0011】
さらに、上述した撮影毎に欠陥画素を検出する手法では、擬似的な欠陥画素が増加しない短時間露光の撮影時等においても欠陥画素の検出動作を行うため、無駄な検出動作に時間を要し、連写等の撮影動作の阻害による操作性の低下を招く。
【0012】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、低コストでかつ操作性が良好な欠陥画素に対応する画素値を補正する機能を有する撮像装置を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、請求項1の発明は、撮像素子の欠陥画素に対応する画素値の補正機能を有する撮像装置であって、前記撮像素子の第1の欠陥画素に関する情報を記憶する記憶手段と、前記情報に基づいて前記第1の欠陥画素に対応する画素値を補正する第1の補正手段と、前記撮像素子から入力される画像信号に基づいて第2の欠陥画素を検出して、当該第2の欠陥画素に対応する画素値を補正する第2の補正手段と、前記第1および第2の補正手段のうち少なくとも前記第2の補正手段の能動状態と非能動状態とを切替え制御する制御手段とを備えることを特徴とする。
【0014】
また、請求項2の発明は、請求項1に記載の撮像装置であって、前記制御手段が、撮影条件に基づいて、前記第1および第2の補正手段のうち少なくとも前記第2の補正手段の能動状態と非能動状態とを切替え制御することを特徴とする。
【0015】
また、請求項3の発明は、請求項2に記載の撮像装置であって、前記撮影条件が、撮影モード、シャッター速度、および被写体輝度に関する情報のうち少なくとも一つの情報を含むことを特徴とする。
【0016】
また、請求項4の発明は、請求項2または請求項3に記載の撮像装置であって、前記第2の補正手段が、所定の検出条件にしたがって前記第2の欠陥画素を検出し、前記撮影条件に基づいて前記所定の検出条件を変更する変更手段をさらに備えることを特徴とする。
【0017】
また、請求項5の発明は、請求項1から請求項3のいずれかに記載の撮像装置であって、前記第2の補正手段が、所定の画素と当該所定の画素の周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、前記所定の画素を第2の欠陥画素として検出し、シャッター速度値が所定の値未満の露光時間を示す場合よりも前記所定の値以上の露光時間を示す場合において、前記所定の閾値をより小さな値に設定する設定手段、をさらに備えることを特徴とする。
【0018】
なお、本明細書では、同義である「露光時間が短い」と「シャッター速度が速い(高速)」とを、また、「露光時間が長い」と「シャッター速度が遅い(低速)」とを、夫々適宜使い分ける。また、シャッター速度を時間的な定量値として表す文言として「シャッター速度値」を用いる。即ち、シャッター速度値が大である、とは露光時間が長い(シャッター速度が遅い)ことを意味する。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【0020】
<撮像装置の内部構成>
図1は、本発明の実施形態に係る撮像装置(デジタルカメラ)1の内部構成を示すブロック図である。図1に示すように、撮像装置1は、主に撮影機能部3、制御部100、および操作部200を備える。
【0021】
まず、撮影機能部3内の各部について説明する。
【0022】
レンズ部10は、被写体に係る光学像を撮影素子(ここでは、CCD)20上に結像させるものである。
【0023】
撮像素子(CCD)20は、レンズ部10によってCCD20の撮像面上に結像された光学像を電気信号に光電変換し、電荷を蓄積するものである。
【0024】
絞り11は、レンズ部10によって結像される光学像の光路を段階的に遮ることで、CCD20への露光量を調整するものである。絞り11は、制御部100の制御下で、被写体が明るく光量が過大な場合は絞り込まれ、被写体が暗く光量が過小な場合は開放されるように制御される。
【0025】
シャッター12は、CCD20での電荷蓄積が開始された後にレンズ部10からCCD20への光路を遮断することで、被写体に係る光学像がCCD20上に結像される時間(露光時間)を調整するものである。シャッター12は、制御部100の制御下で、被写体が明るく光量が過大な場合は光路の開放時間(露光時間)が短縮され、被写体が暗く光量が過小な場合は光路の開放時間が延長されるように制御される。そして、夜景撮影等において暗い被写体を撮影する際には、露光時間が長くなるため、CCD20において熱雑音等の影響により暗電流が生じ、入射光量に依存しない特異な信号出力レベル(画素値)を呈する画素が増加する現象が発生する。CCD20の電荷蓄積開始からシャッターにより光路が遮られるまでの時間をシャッター速度値と表現する。
【0026】
CCD20では多数の画素が格子状に配列されており、カラーCCDの場合は各画素毎にカラーフィルターが配置されている。図2は、CCD20の画素配列21と画素信号出力を説明するための図であり、方向関係を明確にするために互いに直交する垂直方向の軸(V軸)および水平方向の軸(H軸)を付している。図2では縦16個×横16個の画素にRGBの原色フィルターが配列される所謂ベイヤー配列と称される画素配列21を例示している。なお、以下では、R(Red)のフィルターが付された画素をR画素とも称し、G(Green)のフィルターが付された画素をG画素とも称し、B(Blue)のフィルターが付された画素をB画素とも称する。
【0027】
図2では、図示の関係上、縦16個×横16個で合計256個の画素からなる画素配列21を例示しているが、これに限られず、例えば、200万個を超える画素数を有するものでも良い。このように多数の画素を有するCCDでは、各画素を完全に均一化することは極めて困難であり、欠陥画素がある程度内在する。なお、欠陥画素には、▲1▼当初から常時発生する明らかな欠陥と見なせるもの、▲2▼長時間露光において現出するもの(擬似的な欠陥画素)、▲3▼使用している間に生じる後発的なものの3つが存在する。
【0028】
また、CCD20は、各画素において入射された光量に応じた電荷が蓄積され、その電荷量に比例する電気信号を順次出力して、増幅部30に転送する。例えば、撮影時には、図2に示すように、最も−V方向に位置する水平方向の画素列L1について+Hから−H方向に向けて各画素に対応する電気信号を出力することによって、信号列HL1を出力し、続いて一段上側に位置する水平方向の画素列L2について+Hから−H方向に向けて各画素に対応する電気信号を出力することによって、信号列HL2を出力する。このようにして、順次、水平方向の画素列についての電気信号を出力することにより、全画素について電気信号を出力する。なお、撮影前の撮影待機状態では、ライブビュー画像の生成および露光制御等のために、1/30秒毎にCCD20の全画素のうち垂直および水平方向に1/8間引きした画素から電気信号が出力される。ここでは、CCD20から出力された順番に電気信号が増幅部30に転送され、その後、出力順に信号処理が施される。
【0029】
増幅部30は、CCD20から出力された電気信号(画像信号)を制御部100によって設定される増幅率に従って増幅するものである。ここでは、被写体の明るさに応じて増幅率が設定され、画像信号を最適なレベルに調整する。
【0030】
A/D変換部40は、CCD20から出力されて増幅部30で増幅されたアナログの画像信号を各画素毎にデジタル画像データ(画素値)に変換するものである。アナログの画像信号をデジタル画像データ化することにより、種々の画像処理を精度良く実現することが可能となる。
【0031】
欠陥画素補正部50は、CCD20の欠陥画素を判別・検出し、判別・検出された欠陥画素に対応する画素値をその周辺の画素に対応する画素値に基づいて補正するものである。上述したように、CCD20の画素の中には、他の正常な画素と比較して顕著に画素値が相違する画素(欠陥画素)が存在し、均一な画像中において点状の固定ノイズを発生させ画質の低下を招く。そこで、欠陥画素補正部50において、欠陥画素に対応する画素値を補正し、画質の向上を図る。欠陥画素補正部50によって欠陥画素に対応する画素値が補正された画像データは第1画像処理部60に転送される。
【0032】
また、欠陥画素補正部50は、後述する2つの補正部(第1および第2補正部510,520)を有し、制御部100の制御下で、撮影条件に基づいて2つの補正部について、能動化した状態(能動状態)と能動化していない状態(非能動状態)とを切替える。この欠陥画素補正部50については後程さらに詳述する。
【0033】
第1画像処理部60は、欠陥画素補正部50から入力された画像データに対してγ変換や色補間等の画像処理を施すものであり、画像処理が施された画像データが画像メモリ70に転送される。
【0034】
画像メモリ70は、第1画像処理部60で処理された画像データを一時的に記憶するものである。画像メモリ70に一時的に記憶された画像データは、表示部80および第2画像処理部90に出力される。なお、撮影前の撮影待機状態においては、例えば、1/30秒毎にCCD20の全画素のうち垂直および水平方向に1/8間引きした画素に対応する画像データが画像メモリ70に入力される。
【0035】
表示部80は、LCD等を備えて構成され、画像メモリ70に記憶されている画像データに基づいた画像を表示するものである。
【0036】
第2画像処理部90は、撮影時において、画像メモリ70に記憶される画像データを画像ファイル形式に変換して記録メディア95に記録するものである。なお、第2画像処理部90では、画像ファイル形式に合わせて、タグ情報やサムネイル画像の生成・付加、および画像データの圧縮処理を行う。
【0037】
記録メディア95は、第2画像処理部90で生成された画像ファイルを記憶するものである。記録メディア95は、例えば、メモリカード等のように撮像装置1に対して着脱可能に構成される。また、アダプタ等を介してパーソナルコンピュータに画像ファイルをコピーすることができるものもある。
【0038】
操作部200は、図示を省略するが撮影モード切替スイッチやレリーズボタン等の各種スイッチやボタン等を備えて構成される。例えば、撮影モード切替スイッチは、ユーザーの操作に基づいて、「夜景モード」や「ポートレートモード」等、被写体や撮影環境等に適合した撮影モードを切替設定することができるものである。そして、ユーザーによる操作部200の操作に基づいて電気信号が操作部200から制御部100に送信され、制御部100の制御下で、各種撮影モードの設定や撮影動作等が実行される。なお、夜景モードに設定された場合には、撮影機能部3において夜景を撮影することを前提とした補正が行われる。
【0039】
制御部100は、撮影機能部3等の撮像装置1の各部の動作を統括制御するものであり、主に、CPU、ROM、およびRAM等を備えて構成される。制御部100では、ROM内に格納されるプログラムがCPUに読み込まれることによって各種機能を具体的に実行する。
【0040】
また、制御部100は、撮影時における露光レベルを調整するための自動露光(AE)制御機能110を有している。AE制御機能110は、ユーザーによってレリーズボタンが押下されると、撮影直前において画像メモリ70に記憶される画像データを読み取り、全画素についての画素値の平均値を算出して被写体の輝度(被写体輝度)を求め、その輝度に基づいて露光レベルが最適となるように、絞り値、シャッター速度値、および増幅率といった各パラメータを決定する。そして、絞り11、シャッター12、および増幅部30を制御する。
【0041】
具体的には、画像メモリ70に記憶される画像データが最適な輝度に達していない場合(被写体輝度が低い場合)は、絞り値を減少させ(絞り11は開く方向)、シャッター速度を低速化し、増幅率を上昇させる方向に制御する。逆に、最適な輝度を超えている場合(被写体輝度が高い場合)は、絞り値を増大させ(絞り11は絞る方向)、シャッター速度を高速化し、増幅率を減少させる方向に設定する。絞り値、シャッター速度値、および増幅率の3つのパラメータをどのように制御するかについては、ROM内に格納されるプログラムによって設定される。
【0042】
また、制御部100は、シャッター速度や撮影モード等に関する情報を含む撮影条件に基づいて、欠陥画素補正部50における補正方法およびパラメータの設定を変更するように制御する。
【0043】
<欠陥画素補正>
図3は、欠陥画素に対応する画素値の補正(以下、「欠陥画素補正」と称する)を説明するための図である。図3に示すように、欠陥画素補正部50は、第1補正部510、第2補正部520、切替部530、欠陥画素アドレス記憶部512、およびδ値変更部522を備えて構成されている。そして、欠陥画素補正部50は、第1補正部510と欠陥画素アドレス記憶部512とによる欠陥画素に対応する画素値の補正(以下、「第1欠陥画素補正」と称する)、および第2補正部520およびδ値変更部522による欠陥画素に対応する画素値の補正(以下、「第2欠陥画素補正」と称する)を行う機能を有する。つまり、欠陥画素補正部50は、第1および第2欠陥画素補正の2種類の欠陥画素補正を実施することができる。また、切替部530による第1および第2補正部510,520の能動/非能動状態を切替える機能(以下、「切替機能」と称する)を有する。以下、第1および第2欠陥画素補正、ならびに切替機能について説明する。
【0044】
<第1欠陥画素補正>
欠陥画素アドレス記憶部512は、撮像装置1の工場出荷前において予め検出されたCCD20の欠陥画素(「第1の欠陥画素」とも称する)のアドレス(位置)を記憶している。換言すれば、欠陥画素アドレス記憶部512が、CCD20の第1の欠陥画素に関する情報を記憶している。
【0045】
第1補正部510は、主に欠陥画素判別/補正部511、およびアドレスカウンター513を備えている。
【0046】
アドレスカウンター513は、対象画素のアドレスを順次カウントし、欠陥画素判別/補正部511に出力する。
【0047】
欠陥画素判別/補正部511は、欠陥画素アドレス記憶部512に記憶された欠陥画素のアドレス(Adress(N))と、アドレスカウンター513から入力される対象画素のアドレス(Adress(n))とを比較し、アドレスが一致するか否かによって対象画素が第1の欠陥画素であるか否かを判別する。そして、対象画素が第1の欠陥画素であると判別された場合は、その対象画素に対応する画素値を補正する。つまり、第1補正部510は、欠陥画素アドレス記憶部512に記憶される情報に基づいて第1の欠陥画素に対応する画素値を補正する。
【0048】
欠陥画素判別/補正部511における判別と補正について以下、具体例を挙げて説明する。
【0049】
図3では、CCD20においてG画素とB画素が配列される水平方向の画素列に対応する画像データが第1補正部510に入力され、対象画素が画素Gmである状態を例示している。なお、図3中で、GおよびB画素の右下方に付される小文字はGおよびB画素の水平方向のアドレスを示すものであり、mは整数である。
【0050】
図3に示す状態においては、欠陥画素判別/補正部511は、アドレスカウンターから出力される対象画素Gmのアドレス(Adress(n))と欠陥画素アドレス記憶部512に記憶された欠陥画素のアドレス(Adress(N))とを比較し、Adress(n)とAdress(N)とが等しい場合は対象画素Gmを欠陥画素と判別する。そして、対象画素Gmに対応する画素値を対象画素Gmの前後に位置する2つのG画素(Gm−1およびGm+1)の平均値に置き換えることにより、対象画素Gmに対応する画素値を補正する。一方、Adress(n)とAdress(N)とが異なる場合は対象画素Gmを欠陥画素とは判別せず、対象画素Gmに対応する画素値の補正は実施しない。
【0051】
なお、上記ではG画素についての欠陥画素の判別と画素値の補正について説明したが、B画素についても同様な判別および補正が行われる。例えば、対象画素Bmが欠陥画素として判別された場合は、対象画素Bmに対応する画素値を対象画素Bmの前後に位置する2画素(Bm−1およびBm+1)の平均値に置き換えることにより、対象画素Bmに対応する画素値を補正する。また、第1補正部510では、G画素とR画素が配列される水平方向の画素列に対しても同様に欠陥画素の判別および画素値の補正が行われる。
【0052】
そして、第1補正部510において判別および補正が行われたデータは順次切替部530へ伝送される。
【0053】
<第2欠陥画素補正>
第2補正部520は、欠陥画素検出/補正部521を備えて構成されている。
【0054】
欠陥画素検出/補正部521は、対象画素とその周辺の画素との画素値を比較することで、その時点における欠陥画素(「第2の欠陥画素」とも称する)を検出する。そして、対象画素が第2の欠陥画素であると検出された場合は、その対象画素に対応する画素値を補正する。なお、ここでは、第2の欠陥画素として検出される画素は、後発的・擬似的な欠陥画素に相当する。
【0055】
欠陥画素検出/補正部521における検出と補正について以下、具体例を挙げて説明する。
【0056】
図3では、CCD20においてG画素とB画素が配列される水平方向の画素列に対応する画像データが第2補正部520に入力され、対象画素が画素Gmである状態を例示している。
【0057】
図3に示す状態において、欠陥画素検出/補正部521は、対象画素Gmに対応する画素値と、対象画素Gmの前後に位置する2つのG画素(Gm−1およびGm+1)に対応する画素値の平均値との差分ΔGを算出し、差分ΔGが所定の閾値δよりも大きければ対象画素Gmを欠陥画素と検出する。つまり、第2補正部520が、所定の対象画素と所定の対象画素の周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値δよりも大きければ、所定の対象画素を第2の欠陥画素として検出する。そして、対象画素Gmに対応する画素値を対象画素Gmの前後に位置する2画素(Gm−1およびGm+1)に対応する画素値の平均値に置き換えることにより、対象画素Gmに対応する画素値を補正する。すなわち、第2補正部520が、CCD20から入力される画像信号に基づいて第2の欠陥画素を検出して、当該第2の欠陥画素に対応する画素値を補正する。一方、差分ΔGが所定の閾値δよりも小さければ対象画素Gmを欠陥画素とは検出せず、対象画素Gmに対応する画素値の補正は実施しない。
【0058】
なお、上記ではG画素についての欠陥画素の検出と画素値の補正について説明したが、B画素についても同様な検出および補正が行われる。例えば、対象画素Bmが欠陥画素として検出された場合は、対象画素Bmに対応する画素値を対象画素Bmの前後に位置する2画素(Bm−1およびBm+1)に対応する画素値の平均値に置き換えることにより、対象画素Bmに対応する画素値を補正する。また、第2補正部520では、G画素とR画素が配列される水平方向の画素列に対しても同様に欠陥画素の検出および画素値の補正が行われる。
【0059】
そして、第2補正部520において検出および補正が行われたデータは順次切替部530へ伝送される。
【0060】
δ値変更部522は、制御部100の制御下で、撮影条件に基づいて所定の検出条件とも言える閾値δをa,b(なお、a<bの関係にある)の2段階に変更するものである。つまり、第2補正部520は、所定の検出条件である可変的な閾値δにしたがって第2の欠陥画素を検出する。閾値δの変更の詳細な制御については後述する。
【0061】
<切替機能>
切替部530は、図3に示すように、第1および第2スイッチ部531,532を備えて構成され、第1および第2スイッチ部531,532は、それぞれ3つの接点O,A,Bを有する。
【0062】
第1スイッチ部531では、接点Oが第1補正部510と、接点Bが第2補正部520と、接点Aが第2スイッチ部532の接点Aとデータ伝送可能に接続されている。また、第2スイッチ部532では、接点Oが第1画像処理部60と、接点Bが第2補正部520とデータ伝送可能に接続されている。そして、第1および第2スイッチ部531,532は、制御部100からの制御信号に基づいて、接点Oと接点Aとがデータ伝送可能に接続される状態と、接点Oと接点Bとがデータ伝送可能に接続される状態とを切替えることができる。なお、以下では、接点Oと接点Aとがデータ転送可能に接続される状態に設定することを「切替部530をA側に設定する」と称し、接点Oと接点Bとがデータ転送可能に接続される状態に設定することを「切替部530をB側に設定する」と表現する。
【0063】
例えば、切替部530がA側に設定されると、第1補正部510から出力した画像データは第2補正部520を介することなく第1画像処理部60に出力される。一方、B側に設定されると、第1補正部510から出力した画像データは第2補正部520を介して第1画像処理部60に出力される。つまり、切替部530は、制御部100の制御下で、第1欠陥画素補正のみからなる欠陥画素補正を行う状態と、第1および第2欠陥画素補正の双方の欠陥画素補正を行う状態とを切替えることができる。
【0064】
したがって、切替部530が、制御部100の制御下で、第2欠陥画素補正を行う状態と第2欠陥画素補正を行わない状態とを切替える。すなわち、制御部100が、第1補正部510を定常的に能動状態とするとともに、第2補正部520の能動/非能動状態を切替え制御する。
【0065】
上述したように、制御部100が、切替部530による切替機能、およびδ値変更部522による閾値δの切替を制御するため、これらの制御をまとめて、「補正切替制御」と称し、以下、この補正切替制御について説明する。
【0066】
<補正切替制御>
図4は、補正切替制御の制御フローを示すフローチャートである。以下、図4に示すフローチャートに沿って補正切替制御について説明する。
【0067】
まず、撮影待機状態において、ユーザーによってレリーズボタンが押下されると、露光レベルが最適となるように、絞り値、シャッター速度値、および増幅率の3つのパラメータが決定され、補正切替制御が開始してステップS1に進む。
【0068】
ステップS1では、夜景モードに設定されているか否かを判別する。ここでは、夜景モードに設定されている場合はステップS8に進み、設定されていない場合はステップS2に進む。
【0069】
ステップS2では、シャッター速度値(露光時間)が0.5秒以上であるか否か判別する。ここでは、直近に決定されたシャッター速度値が0.5秒以上である場合はステップS4に進み、0.5秒未満である場合はステップS3に進む。
【0070】
ステップS3では、切替部530をA側に設定し、第2補正部520を非能動状態とし、補正切替制御を終了する。ここでは、夜景モードに設定されておらず、シャッター速度が比較的高速であるため、長時間露光による擬似的な欠陥画素が発生し難い撮影条件となっている。したがって、第1欠陥画素補正のみを行い、第2欠陥画素補正は行わないようにする。
【0071】
ステップS4では、切替部530をB側に設定し、第2補正部520を能動状態とし、ステップS5に進む。ここでは、夜景モードに設定されていないが、シャッター速度が比較的低速であるため、長時間露光による擬似的な欠陥画素が発生し易い撮影条件となっている。したがって、第1欠陥画素補正だけでなく、第2欠陥画素補正も行うようにする。
【0072】
ステップS5では、シャッター速度値が5秒以上であるか否かを判別する。ここでは、直近に決定されたシャッター速度値が5秒以上である場合はステップS7に進み、5秒未満である場合はステップS6に進む。
【0073】
ステップS6では、閾値δ=bに設定し、補正切替制御を終了する。ここでは、シャッター速度値が0.5秒以上で5秒未満であるため、被写体は日中よりは比較的暗い夕景等であると考えられる。
【0074】
ステップS7では、閾値δ=aに設定し、補正切替制御を終了する。ここでは、夜景モードに設定されていないが、シャッター速度値が5秒以上と非常に長いため、被写体がかなり暗い夜景等であると考えられる。
【0075】
上述したように、ステップS6では、閾値δをステップS7における閾値δ=aよりも大きな値bに設定する。例えば、夕景等では、山の稜線付近で、夕焼け空と非常に暗い山とが接する部分で大きなコントラストを有する。このような被写体については、閾値δが小さければ、第2補正部520において、コントラストの大きな部分に位置する画素は欠陥画素として検出され、画素値を補正されてしまう。その結果、夕景ならではのグラデーションを損なう結果となってしまう可能性が高い。そこで、本実施形態では、被写体が夜景程でないが比較的暗い場合には、比較的大きな閾値δを設定することにより、夕景等のグラデーションを損なうことなく撮影を実施することができる。
【0076】
ステップS8では、切替部530をB側に設定し、第2補正部520を能動状態とし、ステップS9に進む。
【0077】
ステップS9では、ステップS7と同様に、閾値δ=aに設定し、補正切替制御を終了する。
【0078】
夜景モードに設定されている場合や、シャッター速度値が5秒以上と非常に長い場合は、被写体が、真っ暗な部分に点光源等の明かりが混在した夜景等であると考えられる。夜景等が被写体の場合は被写体の輝度が低いため、露光時間が非常に長くなり、熱雑音に起因する擬似的な欠陥画素が生じ易い状態となる。その結果、真っ暗な部分に現実には存在しない高輝度の画素(点状のノイズ)が多数発生する傾向にある。また、夜景中の真っ暗な部分における欠陥画素は目立ちやすい。すなわち、一般的に、夜景に係る画像は、真っ暗な部分に星が多数点在するような所謂”ざらつき感”のある画像となる傾向にある。
【0079】
そこで、本実施形態では、夜景モードに設定されている場合や、シャッター速度値が5秒以上と非常に長い場合は、被写体が夜景等であるものとして、閾値δを比較的小さく設定する。つまり、δ値変更部522が、シャッター速度値が所定の値(5秒)未満の場合よりも所定の値(5秒)以上の場合において、所定の閾値δをより小さな値aに設定する。
【0080】
その結果、第2補正部520が、より多くの画素を欠陥画素として検出し、画素値を補正するため、ざらつき感を抑制し、画質の向上を図ることができる。つまり、第2補正部520において、シャッター速度が比較的低速の方が所定の閾値δがより小さな値となるように設定するため、画質の向上を図ることができる。また、ここでは、夜景モード等の撮影モードの設定やシャッター速度等の撮影条件に基づいて、第2補正部520における欠陥画素の検出条件を変更するため、欠陥画素に対応する画素値の補正を最適化することができる。
【0081】
なお、近年の撮像素子は数百万画素と非常に多くの画素を有しているため、夜景中の点光源が1画素分のみに対応するということは非常に稀であり、点光源は少なくとも数画素分以上に対応する。よって、閾値δを小さくしたからといって撮影画像上において点光源が消失するような不都合は生じ難いものと考えられる。
【0082】
以上のように、本発明の実施形態に係る撮像装置1では、欠陥画素アドレス記憶部512に記憶された欠陥画素に関する情報に基づいた第1欠陥画素補正と、CCD20から入力される画像信号に基づいて欠陥画素を検出して対応する画素値を補正する第2欠陥画素補正とを含む欠陥画素補正を実施可能である。そして、第1補正部510を定常的に能動状態とするとともに、夜景モード等を含む撮影モードやシャッター速度等といった撮影条件に基づいて、第2補正部520の能動/非能動状態を切替える。その結果、欠陥画素アドレス記憶部512等に用いられるメモリの容量の増強を回避しつつ、長時間露光による擬似的な欠陥画素が発生し易い場合等、必要な時だけ欠陥画素の検出動作を行うため、対応する画素値を適正に補正することができる。すなわち、低コストでかつ操作性が良好な欠陥画素に対応する画素値を補正する機能を有する撮像装置を提供することができる。
【0083】
<変形例>
以上、この発明の実施形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。
【0084】
◎例えば、上記実施形態では、夜景モードに設定された場合は、閾値δ=aに設定されたが、これに限られるものではなく、夜景モードに設定されている場合であっても、シャッター速度等の撮影条件に基づいて閾値δを変更するようなものであっても良い。例えば、夜景モードに設定されている場合であって、シャッター速度が比較的低速の方が閾値δが小さくなるように変更するようにしても良い。
【0085】
◎また、上記実施形態では、第1補正部510を常に能動状態としたが、これに限られるものではなく、撮影条件に基づいて第1および第2補正部510,520のうち少なくとも第2補正部520の能動/非能動状態を切替え制御するようなものであれば良い。よって、例えば、長時間露光の撮影の際(夜景モード設定時や低速シャッター速度設定時)には第2補正部520のみを能動化するようにしても良い。このような構成であっても、メモリの容量の増強を回避しつつ、長時間露光による擬似的な欠陥画素が発生し易い場合等、必要な時だけ第2補正部520による欠陥画素の検出や対応する画素値の補正を行うことができる。すなわち、低コストで操作性が良好な欠陥画素補正機能を有する撮像装置を提供することができる。なお、この場合は、第2補正部520が第1の欠陥画素についても第2の欠陥画素として検出することとなる。
【0086】
◎また、上記実施形態では、撮影モードやシャッター速度等の撮影条件に基づいて、第1および第2補正部510,520の能動/非能動状態を切替えたが、これに限られるものではなく、ユーザーが操作部200に含まれるボタンを操作することによって、手動で任意に切替え可能なものとしても良い。例えば、ユーザーがライブビュー表示や撮影画像を見て欠陥画素が多いと感じた際に、第2補正部520を常に能動状態に設定するようにしても良い。このような構成とすることで、後発的・擬似的な欠陥画素に対応する画素値を適切に補正することができる。
【0087】
◎また、上記実施形態では、閾値δについてa<bの関係となっていたが、これに限られるものではなく、b<aの関係となるようにすることもできる。このような構成にすれば、長時間露光の撮影において、必要以上に欠陥画素を鋭敏に検出して過度な補正をすることがないようにすることができる。
【0088】
◎また、上記実施形態では、撮影モードやシャッター速度といった撮影条件に基づいて、第1および第2補正部510,520の能動/非能動状態、および閾値δを切替えたが、これに限られるものではなく、被写体輝度等の撮影条件に基づいて切替えるようにしても良い。
【0089】
例えば、被写体輝度について2つの閾値S,T(S<T)を設定し、被写体輝度が閾値T以上である場合は第1補正部510のみを能動状態とし、被写体輝度が閾値S以上で閾値T未満である場合(被写体が夕景等である場合)は第1および第2補正部510,520の双方を能動状態として閾値δ=bとし、被写体輝度が閾値S未満である場合(被写体が夜景等である場合)は第1および第2補正部510,520の双方を能動状態として閾値δ=aとするように切替えるようにしても良い。つまり、ここでは、δ値変更部522が、被写体輝度が所定の輝度以上の場合よりも所定の輝度未満の場合において、所定の閾値δをより小さな値aに設定する。この結果、被写体輝度が比較的小さな方が所定の閾値をより小さな値に変更するため、画質の向上を図ることができる。
【0090】
◎また、上記実施形態では、欠陥画素に対応する画素値を水平方向について前後に位置する2画素の平均値に置き換えることによって、画素値の補正を行ったが、これに限られるものではなく、例えば、垂直方向について上下に位置する2画素の平均値に置き換えたり、水平および垂直方向について周辺に位置する複数の画素の平均値に置き換えることによって画素値の補正を行っても良い。
【0091】
◎上記実施形態のシャッター速度値はCCDの電荷蓄積開始からシャッター閉じまでの時間に相当する値であるが、電荷蓄積中にシャッターを開閉して露光を行うものであればシャッターの開放時間がシャッター速度値に相当する。また、CCDの電子シャッター機能のみによって電荷蓄積を制御するものであれば、電子シャッター機能による電荷蓄積の開始から終了までがシャッター速度値に相当する。
【0092】
◎上述した具体的実施形態には以下の構成を有する発明が含まれている。
【0093】
(1)請求項1から請求項3のいずれかに記載の撮像装置であって、前記第2の補正手段が、所定の画素と当該所定の画素の周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、前記所定の画素を第2の欠陥画素として検出し、被写体輝度が所定の輝度以上の場合よりも前記所定の輝度未満の場合において、前記所定の閾値をより小さな値に設定する設定手段、をさらに備えることを特徴とする撮像装置。
【0094】
(1)の発明によれば、所定の画素とその周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、所定の画素を欠陥画素として検出し、被写体輝度が比較的小さな方が所定の閾値をより小さな値に変更するため、画質の向上を図ることができる。
【0095】
(2)請求項1から請求項5、および(1)のいずれかに記載の撮像装置であって、前記制御手段が、前記第1の補正手段を定常的に能動状態とするとともに、前記第2の補正手段の能動状態と非能動状態とを切替え制御することを特徴とする撮像装置。
【0096】
(2)の発明によれば、記憶された欠陥画素に関する情報に基づいた欠陥画素に対応する画素値の補正を行う第1欠陥画素補正を定常的に能動化するとともに、撮像素子から入力される画像信号に基づいて検出された欠陥画素に対応する画素値の補正を行う第2欠陥画素補正の能動/非能動状態を切替えるため、必要な時だけ第2欠陥画素補正による欠陥画素の検出や対応する画素値の補正を行うことができる。
【0097】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1に記載の発明によれば、記憶された欠陥画素に関する情報に基づいた欠陥画素に対応する画素値の補正を行う第1欠陥画素補正、および撮像素子から入力される画像信号に基づいて検出された欠陥画素に対応する画素値の補正を行う第2欠陥画素補正のうち少なくとも第2欠陥画素補正の能動化と非能動化とを切替えるため、低コストでかつ操作性が良好な欠陥画素に対応する画素値を補正する機能を有する撮像装置を提供することができる。
【0098】
また、請求項2に記載の発明によれば、撮影条件に基づいて、第1欠陥画素補正および第2欠陥画素補正のうち少なくとも第2欠陥画素補正の能動化と非能動化とを切替えるため、必要な時だけ第2欠陥画素補正による欠陥画素の検出や対応する画素値の補正を行うことができる。
【0099】
また、請求項3に記載の発明によれば、撮影モードやシャッター速度や被写体輝度等に基づいて、第1欠陥画素補正および第2欠陥画素補正のうち少なくとも第2欠陥画素補正の能動化と非能動化とを切替えるため、欠陥画素に対応する画素値を適正に補正することができる。
【0100】
また、請求項4に記載の発明によれば、撮影条件に基づいて、第2欠陥画素補正における欠陥画素の検出条件を変更するため、欠陥画素に対応する画素値の補正を最適化することができる。
【0101】
また、請求項5に記載の発明によれば、所定の画素とその周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、所定の画素を欠陥画素として検出し、シャッター速度が比較的低速の方が所定の閾値がより小さな値となるように変更するため、画質の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る撮像装置の内部構成を示すブロック図である。
【図2】撮像素子の画素配列と画素信号出力を説明するための図である。
【図3】欠陥画素に対応する画素値の補正を説明するための図である。
【図4】補正切替制御の制御フローを示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 撮像装置
50 欠陥画素補正部
100 制御部(制御手段)
510 第1補正部(第1の補正手段)
512 欠陥画素アドレス記憶部(記憶手段)
520 第2補正部(第2の補正手段)
522 δ値変更部(変更手段、設定手段)
Claims (5)
- 撮像素子の欠陥画素に対応する画素値の補正機能を有する撮像装置であって、
前記撮像素子の第1の欠陥画素に関する情報を記憶する記憶手段と、
前記情報に基づいて前記第1の欠陥画素に対応する画素値を補正する第1の補正手段と、
前記撮像素子から入力される画像信号に基づいて第2の欠陥画素を検出して、当該第2の欠陥画素に対応する画素値を補正する第2の補正手段と、
前記第1および第2の補正手段のうち少なくとも前記第2の補正手段の能動状態と非能動状態とを切替え制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1に記載の撮像装置であって、
前記制御手段が、
撮影条件に基づいて、前記第1および第2の補正手段のうち少なくとも前記第2の補正手段の能動状態と非能動状態とを切替え制御することを特徴とする撮像装置。 - 請求項2に記載の撮像装置であって、
前記撮影条件が、
撮影モード、シャッター速度、および被写体輝度に関する情報のうち少なくとも一つの情報を含むことを特徴とする撮像装置。 - 請求項2または請求項3に記載の撮像装置であって、
前記第2の補正手段が、
所定の検出条件にしたがって前記第2の欠陥画素を検出し、
前記撮影条件に基づいて前記所定の検出条件を変更する変更手段、
をさらに備えることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載の撮像装置であって、
前記第2の補正手段が、
所定の画素と当該所定の画素の周辺の複数の画素との画素値の差が所定の閾値よりも大きければ、前記所定の画素を第2の欠陥画素として検出し、
シャッター速度値が所定の値未満の露光時間を示す場合よりも前記所定の値以上の露光時間を示す場合において、前記所定の閾値をより小さな値に設定する設定手段、
をさらに備えることを特徴とする撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003028216A JP2004241978A (ja) | 2003-02-05 | 2003-02-05 | 撮像装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009164913A (ja) * | 2008-01-07 | 2009-07-23 | Canon Inc | 撮像システム、及び撮像システムの制御方法 |
JP2013509092A (ja) * | 2009-10-20 | 2013-03-07 | アップル インコーポレイテッド | 撮像素子における欠陥画素の検出及び補正のためのシステム及び方法 |
-
2003
- 2003-02-05 JP JP2003028216A patent/JP2004241978A/ja active Pending
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