JP2004152375A

JP2004152375A - 光ディスクドライブ装置

Info

Publication number: JP2004152375A
Application number: JP2002315298A
Authority: JP
Inventors: Koichi Sho; 宏一庄
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2002-10-30
Filing date: 2002-10-30
Publication date: 2004-05-27

Abstract

【課題】半導体レーザ素子への定格電流以上の電流の供給の防止し半導体レーザ素子の保護を図る。
【解決手段】異常検出回路２４において、光検出回路１５に供給している電源電圧Ｖｃｃを２分圧して電圧と、差動検出信号の各信号どうしの中間電圧Ｖｄｍを生成し、この中間電圧Ｖｄｍと電源電圧Ｖｃｃの２分圧を比較し、光ビックアップ１１とメイン回路基板１６か電気的に接続された状態では両電圧が等しく、非接続状態では等しくないことを利用し、非接続状態が検出された場合は、レーザ制御回路１７の電流出力アンプ１の動作を停止させ、レーザ光を発生しないようにする。
【選択図】図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、半導体レーザを保護する動作を行う光ディスクドライブ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の半導体レーザへの過電流の供給を防止する技術は、レーザ光量に応じて変化する光検出器の出力が所定値より大きい場合を過電流があると判断している。（例えば、特許文献１）
【０００３】
【特許文献１】
特開２００１−２４３６４９号公報（第５，６頁、図１）
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記した特許文献１の技術は、動作中に光ディスクドライブ装置自身に振動などの衝撃が加わった場合、光ビックアップとメイン回路基板間を電気的に接続するためのフレキシブル回路基板とコネクタ間の接続が、断線あるはコネクタの外れ等により非接続状態になる可能性がある。この状態では光検出回路の検出電圧が正常に制御回路へ伝達できなくなり、最悪の場合制御ループがオープンとなる可能性があった。また、制御ループがオープンとなる状態では半導体レーザ制御回路自身が持つ基準電圧と等しい検出電圧が得られるまで半導体レーザの駆動電流を増加させてしまうため、半導体レーザ自身の定格電流を越える状態もしくは半導体レーザを破壊する可能性がある、という問題があった。
【０００５】
この発明の目的は、光ピックアップとメイン回路基板間が電気的に非接触状態になることによって半導体レーザ素子の定格電流を越えたり、半導体レーザ素子の破壊を防止する機能を備えた光ディスクドライブ装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記した課題を解決するために、この発明の光ディスクドライブ装置は、レーザ光を発生させて光ディスクに対して情報の記録および再生を行うためのものにあって、駆動電流に基づいてレーザ光を発生させ前記光ディスクの記録あるいは読み出しを行う半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ素子が発生したレーザ光の一部から該レーザ光の光量を検出する第１の検出手段と、前記第１の検出手段の検出結果に基づいて差動検出信号を出力する手段と、前記差動検出信号が所定値にあるかどうかを検出する第２の検出手段と、前記第２の検出手段の検出結果に基づいて前記半導体レーザ素子の光量制御を行う手段とからなることを特徴とする。
【０００７】
この手段では、差動検出信号が予め設定した所定値にあるかどうかを検出し所定値にない場合には半導体レーザ素子を制御することで、所定値にないときの半導体レーザ素子に掛かる定格以上の電流の供給を防止することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、この発明の一実施の形態について説明するための光検出回路の出力に差動信号出力を持つ記録型光ディスク装置のレーザ駆動装置の構成図である。
図１において、１１は光ビックアップであり、この光ピックアップ１１には、レーザ駆動回路１２、レーザ光発生部１３、ビームスプリッタ１４、光検出回路１５等が搭載されている。１６はメイン回路基板であり、レーザ制御回路１７、電源部１８等が搭載されている。
【０００９】
光ビックアップ１１とメイン回路基板１６は、レーザ駆動回路１２への制御信号と光検出回路１５からの差動検出信号を接続するためのフレキシブル回路基板１９を用いてコネクタ１９ａ，１９ｂにより電気的に接続している。
【００１０】
レーザ駆動回路１２は、電流出力アンプ３で構成し、その電流出力を、カソードが接地されたレーザ光発生部１３であるレーザダイオード２０のアノードに供給し、出力電流の値に基づいたレーザ光を得ている。レーザダイオード２０より出力されるレーザ光は、ビームスプリッタ１４を介して直進と反射に分光し、直進光は光ディスク２１に集光して照射し、反射された分光は光検出回路１５のフォトディテクタ２２に照射し、ここで光−電気変換を行う。
【００１１】
フォトディテクタ２２の出力は、差動電圧出力アンプ２の入力に供給する。差動電圧出力アンプ２は、メイン回路基板１６側の電源部１８の電源Ｖｃｃをフレキシブル回路基板１９の一方のコネクタ１９ａから他方のコネクタ１９ｂを介して供給される。差動電圧出力アンプ２の出力は、光検出回路１５の差動検出信号として出力する。
【００１２】
差動電圧出力アンプ２より出力される差動検出信号は、それぞれフレキシブル回路基板１９を介してレーザ制御回路１７に供給する。差動電圧出力アンプ２の正極性出力Ｖ＋は加算器２３の一方の入力に、負極性出力Ｖ−は電流出力アンプ１の負入力にそれぞれ供給する。基準電圧Ｖｒｅｆは、加算器２３の他方の入力に供給し、加算器２３の出力は電流出力アンプ１の正入力に供給する。
【００１３】
レーザ制御回路１７の出力である電流出力アンプ１の出力は、フレキシブル回路基板１９を介してレーザ駆動回路１２の入力である電流出力アンプ３の入力に供給する。
【００１４】
ここで、差動電圧出力アンプ２より出力される差動検出信号は、次式のように、電源電圧Ｖｃｃを２分圧した電圧を基準に正極性側と負極性側にそれぞれ出力する。だだし、Ｖｍはフォトディテクタ２３で光−電気変換した信号レベルである。
【００１５】
【数１】

【００１６】
【数２】

【００１７】
次に、レーザ制御回路１７は光検出回路１５からの正極性出力Ｖ＋と負極性出力Ｖ−の差動電圧差と基準電圧Ｖｒｅｆとを電流出力アンプ１で比較し、その誤差に応じた電流をレーザ駆動回路１２へ伝送している。
【００１８】
そしてレーザ駆動回路１２は、電流出力アンプ１の電流出力を電流出力アンプ３で増幅し、レーザダイオード２０を駆動している。
これらの光検出回路１５、レーザ制御回路１７、レーザ駆動回路１２により基準電圧Ｖｒｅｆに応じた安定したレーザパワーを得ることができる。また、レーザパワーは、基準電圧Ｖｒｅｆの値を変化させることで、変化させることが可能となる。
【００１９】
ところで、２４は、差動電圧出力アンプ２の差動出力信号の断線状態を検出するためのメイン回路基板１６上に設置した異常検出回路である。差動出力信号を電流出力アンプ１に入力すると同時に、異常検出回路２４にも入力する。
【００２０】
異常検出回路２４は、レーザ制御回路１７と同じように光検出回路１５の差動検出信号の供給を受けている。異常検出回路２４では、光検出回路１５に供給している電源電圧Ｖｃｃを２分圧した電圧と、差動出力信号の各信号どうしの中間電圧Ｖｄｍを生成し、これらの電圧を比較することにより光検出回路１５とレーザ制御回路１７を繋ぐ差動電圧信号の断線状態を検出している。
【００２１】
通常の接続状態では、光検出回路１５に供給している電源電圧Ｖｃｃを２分圧した電圧は、Ｖｃｃ／２であり、各差動検出信号の中間電圧Ｖｄｍは、上記した式（１），（２）から
【００２２】
【数３】

【００２３】
となり、［各差動出力信号＝電源電圧Ｖｃｃの２分圧］となる。しかし、断線状態の場合は、［各差動出力信号≠電源電圧Ｖｃｃの２分圧］となる。
そこで、異常検出回路２４では、各差動出力信号の中間電圧Ｖｄｍと光検出回路１５の電源電圧Ｖｃｃの２分圧を比較し、接続状態では両電圧が等しく、断線状態では両電圧が等しくないことを利用し、断線状態が検出された場合は、電流出力アンプ１とレーザ駆動回路１２を繋ぐ制御信号を遮断し、レーザ発光しないようにする。
【００２４】
これにより、断線あるいはコネクタの外れ等によるレーザダイオードの定格電流以上の電流の供給を防止でき、レーザダイオードの破壊を防止することが可能となる。
【００２５】
図２は、この発明の第２の実施の形態について説明するための回路構成図である。この実施の形態は、異常検出回路２４の出力で電流出力アンプ１の出力に接続した遮断器２５を駆動するようにした構成部分が図１と異なり、図１と同一の構成部分には同一の符号を付し、ここでは異なる部分について説明する。
【００２６】
すなわち、断線状態が検出された場合は、異常検出回路２４の出力により遮断器２５を駆動して電流出力アンプ１の出力が電流出力アンプ３に供給されないように遮断してレーザ発光しないようにする。
【００２７】
この実施の形態の場合も、図１の実施の形態と同じようにレーザダイオードへの定格電流以上の電流の供給を防止してレーザダイオードの破壊を防止することが可能となる。
【００２８】
図３は、この発明の第３の実施の形態について説明するための回路構成図であり、図１と同一構成部分には同一の符号を付し、ここでは異なる部分について説明する。
【００２９】
この実施の形態は、異常検出回路２４が断線状態を検出した場合に、レーザ制御回路１７の電流出力アンプ１の動作を停止させるように構成した部分が図１の構成と異なる。
【００３０】
ところで、フレキシブル回路基板１９とコネクタ１９ａ，１９ｂの接触不良は、光ディスク装置に加わる振動により発生することがその原因として考えられる。この場合は、不意に接触状態が正常に接続された状態に復帰することが考えられる。
【００３１】
このような状態の差動検出信号の異常を検出した場合、異常検出回路２４では、差動電圧出力アンプ１の動作を停止させることによって、レーザダイオード２０の発光動作を停止させているため、レーザ駆動回路１２へ伝送している制御電流も最小の構成となる。
【００３２】
従って、フレキシブル回路基板１９とコネクタ１９ａ，１９ｂの接続状態が正常な状態に復帰し、異常検出回路２４から電流出力アンプ１の動作停止が解除されたとしても、復帰直後のレーザ光量は、消灯レベルの０レベルから目標とする基準電圧Ｖｒｅｆに応じた光量へと変化する発光動作が得られる。目標とする光量に安定するまでの復帰時間は、電流出力アンプ１の制御領域で決定される一定の時間だけになり、一定時間で復帰させることが可能となる。
【００３３】
この実施の形態では、上記した各実施の形態のもつ効果に加え、光ビックアップとメイン回路基板との電気的接続が、非接続状態から接続状態になった場合に一定時間内に復帰させることが可能となる。
【００３４】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明の光ディスクドライブ装置によれば、メイン回路基板と光ピックアップとの間で電気的な接続が断線した状態を検出したことで、半導体レーザ素子へ定格電流以上の電流が供給されることや半導体レーザ素子の破壊等を防止することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の第１の実施の形態について説明するための回路構成図。
【図２】この発明の第２の実施の形態について説明するための回路構成図。
【図３】この発明の第３の実施の形態について説明するための回路構成図。
【符号の説明】
１１…光ピックアップ
１２…レーザ駆動回路
１３…レーザ発生部
１６…メイン回路基板
１７…レーザ制御回路
１８…電源部
１９…フレキシブル回路基板
１９ａ，１９ｂ…コネクタ

Claims

レーザ光を発生させて光ディスクに対して情報の記録および再生を行うための光ディスクドライブ装置において、
駆動電流に基づいてレーザ光を発生させ前記光ディスクの記録あるいは読み出しを行う半導体レーザ素子と、
前記半導体レーザ素子が発生したレーザ光の一部から該レーザ光の光量を検出する第１の検出手段と、
前記第１の検出手段の検出結果に基づいて差動検出信号を出力する手段と、
前記差動検出信号が所定値にあるかどうかを検出する第２の検出手段と、
前記第２の検出手段の検出結果に基づいて前記半導体レーザ素子の光量制御を行う手段とからなることを特徴とする光ディスクドライブ装置。
前記第１の検出手段は、該検出手段の電源電圧を２分圧した電圧を基準に正極性側および負極性側への出力を有する差動電圧出力アンプから構成したことを特徴とする請求項１記載の光ディスクドライブ装置。
前記第２の検出手段の検出結果に基づく前記半導体レーザ素子の制御は、前記出力手段の差動検出信号の中間電圧が電源電圧Ｖｃｃに対して［Ｖｃｃ／２］の関係にあるか否かに基づいて行うことを特徴とする請求項１記載の光ディスクドライブ装置。
前記差動検出信号を出力する手段と前記第２の検出手段は、フレキシブル回路基板により接続されることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光ディスクドライブ装置。