JP2004138031A - 内燃機関の排気浄化装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】NOセンサ出力に基づいてNO吸蔵還元触媒の劣化程度を正確に判定する。
【解決手段】機関1の排気通路3に配置したNO吸蔵還元触媒7の劣化程度を、触媒7下流側に配置したNOセンサ9の出力に基づいて判定する。機関の電子制御ユニット(ECU)30は、機関運転条件に基づいて機関1の単位時間当たりのNO発生量を算出し、NO発生量に基づいて触媒7に吸蔵されたNOの量を推定する。また、ECUはNO吸蔵量が一定の基準値に到達する毎にリッチスパイク操作を行い触媒7に吸蔵されたNOを還元浄化する。NOセンサを用いて劣化判定を行う時には、ECUは基準値を増大させてリッチスパイク時に触媒7に通常より多量のNOが吸蔵されているようにする。これにより、NOセンサの検出精度が上がるNO濃度領域で判定を行うことが可能となる。
【選択図】   図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、内燃機関の排気浄化装置に関し、詳細には流入する排気の空燃比がリーンのときに排気中のNOを吸着、吸収またはその両方にて選択的に吸蔵し、流入する排気の空燃比が理論空燃比またはリッチ空燃比となったときに、吸蔵したNOを排気中の還元成分を用いて還元浄化するNO吸蔵還元触媒を用いて排気浄化を行うとともに、このNO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定する手段を備えた内燃機関の排気浄化装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
流入する排気の空燃比がリーンのときに排気中のNOを吸着、吸収またはその両方にて選択的に吸蔵し、流入する排気の空燃比が理論空燃比またはリッチ空燃比となったときに、吸蔵したNOを排気中の還元成分を用いて還元浄化するNO吸蔵還元触媒により、排気中のNOを浄化する排気浄化装置が知られている。
【0003】
ところが、NO吸蔵還元触媒は種々の原因で劣化を生じ、排気中のNOの浄化能力が低下する。例えば、内燃機関の燃料に硫黄分が含まれているような場合には、NO吸蔵還元触媒は燃料中の硫黄分の燃焼により発生する排気中の硫黄酸化物を、NOと同様に吸蔵してしまう。NO吸蔵還元触媒に吸蔵された硫黄酸化物(SO)の量が増大すると、吸蔵されたSOの量だけNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵能力が低下し、機関のリーン空燃比運転中に吸蔵されずにNO吸蔵還元触媒を通過してしまうNOの量が増大する。
【0004】
NO吸蔵還元触媒に吸蔵されたNOは、機関を一時的にリッチ空燃比で運転してリッチ空燃比の排気を触媒に供給するリッチスパイク操作によりNO吸蔵還元触媒から排出し還元浄化することが可能である。
しかし、NO吸蔵還元触媒に吸蔵されたSOはNOの還元浄化のためのリッチスパイク操作ではNO吸蔵還元触媒から排出されないため、リーン空燃比運転が続くとNO吸蔵還元触媒に吸蔵されたSO量は徐々に増大し、NO吸蔵還元触媒のNO浄化能力が徐々に低下する、いわゆる硫黄被毒、またはS被毒が生じる。
【0005】
また、例えばNO吸蔵還元触媒は長期間の使用や高温環境での作動などによっても劣化し、NO吸蔵能力が低下する。
S被毒は、例えば通常のリッチスパイク操作より高温のリッチ空燃比排気をNO吸蔵還元触媒に供給して、吸蔵したSOをNO吸蔵還元触媒から排出させる被毒解消操作を行うことにより解消することができる。
【0006】
また、S被毒以外のNO吸蔵還元触媒の劣化には回復できないものもあり、劣化が生じた場合には触媒の交換等が必要となる場合がある。
しかし、上記のようにS被毒の解消や触媒の交換を適切に行うためにはNO吸蔵還元触媒が被毒解消操作や交換を必要とする程度まで劣化したことを正確に判断する必要がある。
【0007】
NO吸蔵還元触媒の劣化の程度を判定するために、NO吸蔵還元触媒下流側の排気通路に排気中のNO濃度を検出するNOセンサを配置し、このNOセンサの出力に基づいてNO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定する技術が知られている。
この種の劣化判定を行う排気浄化装置の例としては、例えば特許文献1と特許文献2とに記載されたものがある。
【0008】
特許文献1の装置は、リッチスパイク終了後にNO吸蔵還元触媒下流側に配置したNOセンサで検出した排気NO濃度が、所定値まで上昇するのに要する時間が予め定めた時間以下である場合にNO吸蔵還元触媒が劣化したと判定することを開示している。
NO吸蔵還元触媒は、NOの吸蔵量が増大するにつれてNO吸蔵能力が低下し、触媒に流入する排気中のNOのうち吸蔵されずにNO吸蔵還元触媒を通過してしまうNOの量が増大する。NO吸蔵量の増大により低下した吸蔵能力は、通常であればリッチスパイク操作を行い吸蔵したNOを還元浄化することにより回復する。ところが、NO吸蔵還元触媒に吸蔵されたSOは通常のリッチスパイク操作によっては触媒から排出されないため、触媒にS被毒が発生するとリッチスパイク後も触媒内にはSOが残留し、NO吸蔵還元触媒に吸蔵されたSO量に相当する分だけNO吸蔵能力が低下したままになる。
【0009】
また、他の原因による触媒劣化が生じた場合も同様に、リッチスパイク後にも完全にNO吸蔵能力が回復しなくなる。すなわち、劣化が生じるとリッチスパイク後もNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵能力は完全には回復しない。このため、S被毒が生じるとリッチスパイク後比較的少量のNOを吸収しただけで触媒のNO吸蔵能力が大きく低下してしまい、吸蔵されずに触媒を通過するNO量が短時間で増大するようになる。
【0010】
特許文献1では、NOセンサでリッチスパイク後の触媒下流側排気NO濃度を計測し、NO濃度が所定値まで上昇する時間が予め定めた時間より短い場合にはリッチスパイク後も充分にNO吸蔵能力が回復していない、すなわちNO吸蔵還元触媒に劣化が生じていると判定するようにしたものである。
また、特許文献2は機関運転状態に基づいて機関のNO排出量を求め、このNO排出量に機関運転状態に応じて定まるNO吸蔵還元触媒のNO吸収効率を乗じた値と、触媒下流側のNOセンサで検出した実際のNO濃度とを比較することにより、NO吸蔵還元触媒の劣化の有無を判定する技術を開示している。
【0011】
すなわち、特許文献2では機関で発生するNOのうちNO吸蔵還元触媒が正常であった場合にNO吸蔵還元触媒に吸収されずに下流側に通過するであろうNO量(基準濃度)を機関のNO排出量と触媒のNO吸収効率との積として求め、実際に触媒を下流側に通過したNO量(濃度)がこの基準濃度より大きい場合には、触媒が劣化していると判定するようにしたものである。
【0012】
【特許文献1】
特開平7−208151号公報
【特許文献2】
特開2000−130212号公報(段落第[0030])
【特許文献3】
特開平11−229853号公報
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
上記特許文献では、いずれもNOセンサで検出した排気NO濃度に基づいて触媒劣化を判定しているが、両者ともNOセンサ出力の信頼性(検出精度)について考慮していないため誤判定が生じる可能性がある。
【0014】
一般に、NOセンサのNO検出精度、すなわちNOセンサ出力の信頼性はNO濃度が低い領域では非常に悪くなる。一方、特許文献1および2の方法でNO吸蔵還元触媒の劣化の有無を判定する際には劣化の有無を判定するためのNO濃度判定値を比較的低濃度側に設定する必要がある。
例えば、NO排出レベルの上限濃度を40PPM以下に維持する必要があると仮定すると、NO吸蔵還元触媒の劣化が進行して下流側の排気NO濃度(排出NO濃度)が実際に上記の上限濃度40PPMに到達してしまってから劣化が生じたと判定したのでは不十分であり、もっと早い時点で劣化の進行を判定しS被毒の解消などの劣化対策を実施する必要がある。
【0015】
例えば、定期的にリッチスパイク操作を行うような場合にNO吸蔵還元触媒の劣化判定を行うような運転条件下で、リッチスパイク操作時に下流側排気NO濃度が40ppmに到達しているようであれば、もっとNO排出量が多い運転条件下(例えば加速時)などには排出NO濃度は上限濃度をはるかに越えてしまう。
【0016】
このため、常に排出NO濃度を上限値以下に維持するためには、劣化判定時にリッチスパイク直前(すなわち、リッチスパイク操作開始時)の下流側排気NO濃度がもっと低い値(例えば10ppm程度)に到達した時点で、NO吸蔵還元触媒の劣化が進行したと判定してS被毒の解消操作などの劣化対策を行う必要がある。
従って、特許文献1および特許文献2の方法では早期に劣化の判定を行うためには、いずれも劣化判定濃度を低く設定する必要がある。ところが、上述したようにNOセンサの検出精度は低濃度側では大幅に低下してしまうため、劣化判定濃度を低くすると劣化判定の信頼性そのものが低下してしまう。
【0017】
このため、上記従来技術ではNO吸蔵還元触媒の劣化を正確に判定することができず、機関のNO排出量が増大するような運転条件では、排出NO濃度が上限値を越えてしまう問題が生じる。
本発明は上記従来技術の問題に鑑み、NO吸蔵還元触媒の下流側に配置したNOセンサを用いてNO吸蔵還元触媒の劣化判定を行う場合に、簡易かつ正確に劣化を判定することが可能な内燃機関の排気浄化装置を提供することを目的としている。
【0018】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明によれば、内燃機関の排気通路に配置され、流入する排気の空燃比がリーンのときに排気中のNOを吸着、吸収またはその両方にて選択的に吸蔵し、流入する排気の空燃比が理論空燃比またはリッチ空燃比となったときに、吸蔵したNOを排気中の還元成分を用いて還元浄化するNO吸蔵還元触媒を備え、前記機関をリーン空燃比で運転中に、前記NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵状態が所定のリッチスパイク条件になる毎に、一時的に機関をリッチ空燃比運転するリッチスパイク操作を行い、NO吸蔵還元触媒にリッチ空燃比の排気を供給しNO吸蔵還元触媒に吸蔵されたNOを還元浄化する内燃機関の排気浄化装置において、前記NO吸蔵還元触媒の下流側の排気通路に配置され、排気中のNO成分濃度を検出するNOセンサと、リーン空燃比運転中の予め定めた判定期間中に検出した前記NOセンサ出力を所定の判定値と比較することにより、前記NO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定する判定手段を備え、前記判定期間中には、リッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量が判定期間以外におけるリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量より大きくなるように、前記リッチスパイク条件を変更する、内燃機関の排気浄化装置が提供される。
【0019】
すなわち、請求項1の発明では、NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵状態が所定のリッチスパイク条件を満たす状態になる毎にリッチスパイク操作が行われ、NO吸蔵還元触媒にリッチ空燃比の排気が供給される。ここで、NO吸蔵状態とは、NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量に関係する状態を示す量であり、例えば、後述するNO吸蔵量を表すNOカウンタの値、前回のリッチスパイク操作実行後の経過時間や走行距離、機関の積算回転数などのように、NO吸蔵還元触媒中に吸蔵されたNOの量を代表する値を意味している。
【0020】
本発明では、劣化判定を行う期間以外の通常のリーン空燃比運転時は上記のNO吸蔵状態が所定のリッチスパイク条件に到達する毎に(例えば、NO吸蔵量が所定値に到達する毎に、或いは前回リッチスパイク終了後の経過時間や走行距離、機関回転数積算値などが所定の値に到達する毎に)リッチスパイク操作を行う。これにより、NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量はある一定値以上増大することがないため、下流側の排気NO濃度(排出NO濃度)も常に比較的低い値に維持される。
【0021】
一方、本発明ではNO吸蔵還元触媒の劣化判定を行う際には、リッチスパイク開始条件が変更され、NO吸蔵還元触媒に吸蔵されたNO量が通常のリーン空燃比運転時にリッチスパイク操作を開始する量より大きな値にならないとリッチスパイクが開始されないようにする。例えばリッチスパイク開始を通常より遅らせることにより、リッチスパイク開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を通常より増大させることができる。
【0022】
これにより、判定期間中にはNO吸蔵還元触媒には通常のリーン空燃比運転時では到達しない比較的多量のNOが吸蔵されるようになり、これに応じて下流側の排出NO濃度も通常のリーン空燃比運転時より増大する。
例えば、通常のリーン空燃比運転ではNO吸蔵還元触媒にAmgのNOが吸蔵される毎にリッチスパイク操作を行う設定がされている場合に、リッチスパイク直前(すなわち吸蔵量がAmgの状態)で触媒の排出NO濃度が10ppmになったときに触媒が劣化したと判定する必要があったとする。
【0023】
この場合には、下流側のNOセンサは10ppm程度の低い濃度領域でも正確な濃度検出を行うことができる必要があるが、実際には低NO濃度領域でのNOセンサの検出精度は大幅に低下してしまうため、この領域では正確なNO濃度の検出を行うことはできず、従ってNO吸蔵還元触媒の劣化判定を正確に行うことができない。
【0024】
本発明では、NO吸蔵還元触媒の劣化判定を行う場合のみ、一時的にNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量がAmgより大きい量(例えばAmgの1.5倍)に到達するまでリッチスパイクを遅らせるようにする。
この場合、リッチスパイクが開始される直前ではNO吸蔵還元触媒に1.5AmgのNOが吸蔵されることとなる。NO吸蔵還元触媒の吸蔵NO量が増大すると、それに応じて排出の量も増大し、NO吸蔵還元触媒の種類等によっても変わってくるが、例えばAmgのNOを吸蔵した状態で排出NO量が10ppmとなる劣化状態のNO吸蔵還元触媒では、吸蔵量が1.5Amgになると、排出NO濃度は約20ppmになる。
【0025】
NO濃度が20ppm程度の領域ではNOセンサの検出精度は良好になるため、この領域ではNO吸蔵還元触媒の下流側に配置したNOセンサの出力を用いて極めて正確にNO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定することが可能となる。すなわち、本発明では通常のリーン空燃比運転時では到達しない大きな吸蔵量までNO吸蔵還元触媒にNOを吸蔵させることにより、劣化判定の際の判定NO排出濃度を増大させ簡易かつ正確にNO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定することを可能としているのである。
【0026】
請求項2に記載の発明によれば、前記NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵状態としてNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を使用し、前記リッチスパイク条件として前記NO吸蔵量が所定の基準吸蔵量に到達したことを使用し、前記判定期間中における前記基準吸蔵量を判定期間以外における前記基準吸蔵量より大きな値に設定することにより、判定期間におけるリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を判定期間以外におけるリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量より増大させる、請求項1に記載の内燃機関の排気浄化装置。
【0027】
すなわち、請求項2の発明では例えば通常運転時にはNO吸蔵還元触媒に吸蔵されたNO量が所定の基準量に到達する毎にリッチスパイク操作を行う場合に、劣化判定時には上記基準量を増大させる。これにより、劣化判定時にはリッチスパイク操作が行われるまでにNO吸蔵還元触媒に吸蔵されるNO量が通常時より増大し、通常のリーン空燃比運転時よりNO吸蔵量が増大した状態でNOセンサ出力に基づいて劣化判定が行われる。これにより、NOセンサ出力の信頼性が向上し簡易かつ正確にNO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定することが可能となる。
【0028】
請求項3に記載の発明によれば、前記NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵状態として前回のリッチスパイク操作終了時からの経過時間を使用し、前記リッチスパイク条件として前記経過時間が所定の基準時間に到達したことを使用し、前記判定期間中における前記基準時間を判定期間以外における前記基準時間より長く設定することにより、判定期間におけるリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を判定期間以外におるけリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量より増大させる、請求項1に記載の内燃機関の排気浄化装置が提供される。
【0029】
すなわち、請求項3の発明では通常のリーン空燃比運転時に所定時間毎にリッチスパイク操作を行うNO吸蔵還元触媒に対して、劣化判定時にはリッチスパイク実行間隔を通常のリーン空燃比運転時より長く設定することにより、通常のリーン空燃比運転時よりNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を増大した状態で判定を行う。これにより劣化判定の際の判定NO排出濃度を増大させNOセンサ出力に基づいて簡易かつ正確にNO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定することが可能となる。
【0030】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を用いて本発明の実施形態について説明する。
図1は、本発明を自動車用内燃機関に適用した実施形態の概略構成を模式的に示す図である。
図1において、1は内燃機関本体、3は機関1の排気が流れる排気管、31は排気管3を機関1の各気筒の排気ポートに接続する排気マニホルドを、それぞれ示している。
【0031】
本実施形態では、排気通路3にはNO吸蔵還元触媒7が配置されている。
NO吸蔵還元触媒7は、流入する排気の空燃比がリーンのときに排気中のNOを吸着、吸収またはその両方にて選択的に吸蔵保持し、流入する排気の空燃比が理論空燃比またはリッチ空燃比となったときに、吸蔵したNOを排気中のHC、CO等の成分を用いて還元浄化するものである。
【0032】
本実施形態の機関1は、運転条件に応じてリーン空燃比の運転を行うことができる、いわゆるリーンバーンエンジンとされている。このため、機関1がリーン空燃比で運転されると、機関1の排気中のNO成分はNO吸蔵還元触媒7に吸蔵され、外部に排出されることが防止される。
また、本実施形態では、NO吸蔵還元触媒7下流側の排気通路には後述するNOセンサ9が配置されている。NOセンサ9は排気中のNO成分濃度に応じた電圧信号を発生するセンサである。
【0033】
図1に30で示すのは、機関1の燃料噴射制御、点火時期制御等の基本制御を行う電子制御ユニット(ECU)である。ECU30は、ランダムアクセスメモリ(RAM)、リードオンリメモリ(ROM)、中央演算装置(CPU)を双方向性バスで互いに接続した公知の形式のマイクロコンピュータとして構成され、本実施形態では上記基本制御の他に、機関のリーン空燃比運転中にNO吸蔵還元触媒に吸蔵されたNO量を推定し、吸蔵NO量が予め定めた基準量に到達する毎に短時間機関をリッチ空燃比で運転して、NO吸蔵還元触媒の吸蔵したNOを還元浄化するリッチスパイク操作を行う。
【0034】
また、本実施形態のECU30は、上記の操作の他NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵能力の低下を検出し、触媒の劣化の程度を判定する、後述の劣化判定操作を行う。
これらの制御のため、ECU30の入力ポートには機関1の吸入空気量、運転者のアクセルペダル踏み込み量(アクセル開度)、回転数、冷却水温度、等の運転状態を表すパラメータがそれぞれ図示しないセンサから入力されている他、NOセンサ9の出力が図示しないAD変換器を介して入力されている。また、ECU30の出力ポートは燃料噴射弁や点火プラグ(図示せず)に接続され、機関の燃料噴射量や点火時期を運転状態に応じて制御している。
【0035】
次に、上記実施形態で使用するNOセンサ9について説明する。
図2は、NOセンサの一般的な構造を模式的に示す断面図である。
図2において、NOセンサ9は、ジルコニア(ZrO)等の固体電界質331から構成され、固体電解質内には、拡散律速部335を介して排気通路に連通する第1反応室340、第1反応室340と拡散律速部337を介して連通する第2反応室350及び、標準気体としての大気が導入される大気室360を備えている。拡散律速部335、337はそれぞれ第1反応室340、第2反応室350への酸素成分の拡散による流入を抑制し、排気通路内の排気と第1反応室、第1反応室と第2反応室との間の酸素濃度差を維持可能とするものである。
【0036】
図2に341で示すのは第1反応室340内に配置された白金電極(陰極)、342で示すのは陰極341と固体電解質331を挟んでセンサ9外部に設けられた同様な白金電極(陽極)である。また、第2反応室350内には同様な白金電極350とNO検出用のロジウム(Rh)電極353が、大気室360内には参照用の白金電極361が、それぞれ配置されている。図に370で示すのは固体電解質加熱用の電気ヒータである。
【0037】
第1反応室340の電極341と外部電極342、及び第2反応室の電極351と外部電極342とは、それぞれ第1反応室340と第2反応室350内の排気中の酸素を外部に排出する酸素ポンプとして機能する。固体電解質331が一定の温度以上のときに電極341と342、及び電極351と342との間に電圧を印加すると陰極341、351上では排気中の酸素分子がイオン化され、イオン化した酸素分子が固体電解質331内を陽極342に向かって移動して陽極342上で再び酸素分子になる。このため、第1反応室340、第2反応室350内の排気中の酸素が外部に排出される。また、酸素イオンの移動に伴って、電極342と341及び351との間には単位時間に移動した酸素分子の量に比例する電流が流れる。このため、この電流を制御することにより各反応室から排出される酸素量を制御することができる。
【0038】
また、本実施形態では大気室360の電極361と各反応室内の電極341、351との間には酸素電池が形成される。第1と第2反応室内の排気は酸素濃度が大気に較べて低いため、大気室360内の大気と各反応室内の排気との間には酸素の濃度差が生じている。大気室360と各反応室340、350とを隔てる固体電解質の温度がある温度以上になると、外部から電極間に電圧を印加しない状態では酸素濃度差により大気室360内から固体電解質331を通って反応室340、350に酸素が移動するようになる。
【0039】
すなわち、大気室360内の大気中の酸素分子は電極361上でイオン化し、固体電解質331内を移動して酸素濃度の低い反応室340、350の電極341、351上で再び酸素分子になる。このため、電極361と各電極341、351との間には大気の酸素濃度と各反応室内の酸素濃度との差に応じた電圧が発生する。大気の酸素濃度は一定であるため、電極361と各電極341、351との電位差V0、V1(図2)はそれぞれ第1反応室340と第2反応室351内の排気の酸素濃度を表すようになる。
【0040】
本実施形態では、前述したように、各反応室から酸素を外部に排出する酸素ポンプ(電極341と342、電極351と342)が備えられており、それぞれの酸素ポンプの酸素排出速度はそれぞれの電極間のポンプ電流Ip0、Ip1(図2)を調節することにより、各反応室内の排気の酸素濃度(すなわち、電圧V0、V1)が所定の一定値になるように制御される。本実施形態では第1反応室340内の酸素濃度は例えば1ppm程度に、また、第2の反応室350内の酸素濃度は例えば0.01ppm程度になるようにポンプ電流Ip0、Ip1が制御されている。
【0041】
このため、第2反応室350内は極めて酸素濃度の低い還元雰囲気に維持される。一方、排気中のNO(NO、NO)は酸素ポンプによっては外部に排出されないため第1、第2反応室中の排気のNO濃度は外部の排気と同一に維持される。ところが、第2反応室のNO検出電極353はロジウム(Rh)であるため還元触媒として機能し、還元雰囲気下でNO(NO、NO)を還元する。また、大気室360の参照電極361とNO検出用電極353との間には電圧が印加されているため、NO検出用電極353上では、NO→(1/2)N+(1/2)O、またはNO→(1/2)N+Oの反応が生じNOの還元により酸素が発生するようになる。この酸素は、電極353上でイオン化して大気室360の参照電極361に向かって固体電解質331中を移動し、参照電極361上で酸素分子を形成する。
【0042】
第2反応室350内の酸素濃度は極めて低いため、参照電極361に向かって固体電解質中を流れる酸素イオンはその全量が排気中のNOの還元により生じたことになる。すなわち、固体電解質中を単位時間あたりに流れる酸素イオンの量は、第2反応室内のNO濃度(排気通路内の排気のNO濃度)に応じた量になる。従って、この酸素イオンの移動に伴って発生する電流値(図2、Ip2)を計測することにより排気通路内の排気のNO濃度を検出することができる。本実施形態のNOセンサ9は、上記電流値Ip2を電圧信号に変換し、排気中のNO濃度に応じた電圧信号を出力するものである。
【0043】
本実施形態では、後述するようにNOセンサ9の出力に基づいてNO吸蔵還元触媒7が劣化したか否かの判断を行う。
ところが、NOセンサ9のNO検出精度はNO濃度に応じて変化し、特にNO濃度が低い領域(例えば10ppm程度以下の領域)では急激に検出精度が低下する。このため、NOセンサを使用して精度良くNO吸蔵還元触媒7の劣化判定を行うためには、NOセンサ9の検出結果の信頼性が高くなる領域(例えば、NO濃度で20ppm程度以上の領域)で使用する必要がある。
【0044】
このため、本実施形態では、NO吸蔵還元触媒が劣化したと判定する場合には、NOセンサ9の検出結果の信頼性の高い領域での検出結果に基づいて判定を行うようにしている。NO吸蔵還元触媒の劣化判定操作については後に詳述する。
次に、本実施形態のリッチスパイク操作について説明する。
【0045】
本実施形態では、ECU30はNO吸蔵還元触媒7に吸蔵されたNO量を機関運転状態に基づいて推定し、推定NO吸蔵量が予め定めた所定量に到達したときに、機関1を短時間リッチ空燃比で運転してリッチ空燃比の排気をNO吸蔵還元触媒7に供給する。これにより、NO吸蔵還元触媒7に吸蔵されたNOは排気中のHC、CO成分等により還元浄化され、NO吸蔵還元触媒7のNO吸蔵量は低下して吸蔵能力が回復する。
【0046】
図3は、リーン空燃比運転中のNO吸蔵還元触媒7のNO吸蔵量と触媒7下流側の排気NO濃度(排出NO濃度)の変化を示している。
図3において、(A)はNO吸蔵還元触媒7に流入する排気空燃比(すなわち機関1の運転空燃比)、(B)はNO吸蔵還元触媒7に吸蔵されたNO量(推定値)の変化、(C)は触媒下流側の排気NO濃度の変化をそれぞれ示している。
【0047】
図3(A)に区間Lで示すように機関のリーン空燃比運転が継続すると、排気中のNOがNO吸蔵還元触媒7に吸蔵されるため、NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量は増大する。本実施形態では、後述するように、機関の運転状態に基づいて機関のNO排出量を算出し、そのうちの所定の割合のNOがNO吸蔵還元触媒7に吸蔵されると推定し、NO吸蔵量を表すNOカウンタを用いてリッチスパイク操作開始のタイミングを決定している。
【0048】
図3(B)はこのNOカウンタCNXの値を示している。図3(B)に示すようにNOカウンタCNXの値は、リーン空燃比運転中増大される。本実施形態では、このNOカウンタCNXの値が予め定めた基準値R1(図3(B))に到達したときに、リッチスパイク操作をおこなう。
図3(A)に符号RSで示すのは本実施形態におけるリッチスパイク操作である。リッチスパイク操作RSでは、機関空燃比は所定の短時間リッチに変更され、リッチスパイク操作終了時にNOカウンタCNXの値はゼロにリセットされる(図3(B)参照)。
【0049】
図3(C)は、上記のようにリッチスパイク操作が実行される場合の、NO吸蔵還元触媒7下流側における排気NO濃度(排出NO濃度)の変化を示している。
図3(C)にN1で示すのは劣化していない正常なNO吸蔵還元触媒の場合の排出NO濃度の変化である。リーン空燃比運転中、NO吸蔵還元触媒7のNO吸蔵量が増大するにつれて触媒7のNO吸蔵能力が低下するため、吸蔵されずに触媒7を通過して下流側に到達するNOの量が増大する。このため、排出NO濃度は、カーブN1に示すように徐々に増大し、リッチスパイクRSが実施されるとNO吸蔵能力の回復により再度ゼロ付近まで低下する。図3(C)のA1はリッチスパイク操作が開始される直前の排出NO濃度を示す。すなわち、正常なNO吸蔵還元触媒では排出NO濃度はA1以上には増大しない。
【0050】
一方、NO吸蔵還元触媒7にS被毒が生じた場合や他の原因での劣化が生じた場合には、リッチスパイクを実行してもNO吸蔵還元触媒7のNO吸蔵能力は完全には回復しなくなるため、リッチスパイク後も排出NO濃度も比較的高い値となる。図3(C)のN2はこのように劣化したNO吸蔵還元触媒の場合の排出NO濃度の変化を示している。劣化したNO吸蔵還元触媒では、このようにリッチスパイク終了後も比較的排出NO濃度が高い状態からNOの吸蔵を開始するため、排出NO濃度は正常な触媒(N1)に較べて全体的に高くなり、リッチスパイクが行われる直前の排出NO濃度は正常な触媒の場合のA1より高いA2に到達する。
【0051】
すなわち、触媒の劣化が進行するにつれてリッチスパイク操作開始直前の排出NO濃度が上昇するため、リッチスパイク操作開始直前の排出NO濃度(A1、A2)をNOセンサ9で検出することにより触媒の劣化程度を判定することができる。
ところが、触媒が劣化したと判定する排出NO濃度をNO判定値をA2とすると、前述したように判定値A2は種々の条件下で排出NO濃度が許容上限値を越えないように設定する必要があり、A2は排出NO濃度の許容上限値に較べてかなり小さな値になる。このため、判定値A2がNOセンサ9の検出値の信頼性が大幅に低下する低濃度領域に設定される場合があり、NOセンサ出力に基づいて正確にNO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定することができなくなる。
【0052】
本実施形態では、NO吸蔵還元触媒9の劣化判定を行う場合には一時的にリッチスパイク操作の開始を遅延させてリッチスパイク開始直前のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量が大きな値になるようにすることにより上記の問題を防止している。
すなわち、本実施形態では劣化判定時にはNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量(NOカウンタ)が通常のリッチスパイク開始条件の値R1(図3(B))に到達してもリッチスパイク操作を行わず、R1より大きい値R2(例えばR1の1.5倍程度の値)に到達したときにリッチスパイク操作を行う。これにより、図3(B)に一点鎖線CNX′で示すように、リッチスパイクのタイミングが図3(A)にRS′で示す位置まで遅延し、それに応じて触媒7のNO吸蔵量も増大する。
【0053】
このため、劣化した触媒(図3(C)、N2)では、排出NO濃度がA2を越えて増大を続け(図3(C)、N3)、リッチスパイクRS′の直前ではC1まで増大する。
図3(C)に示すように排出NO濃度の変化は下に凸な曲線となっており、リッチスパイク後の経過時間が長くなるほど傾斜が急になっている。このため、例えばリッチスパイク実行のNOカウンタ値を1.5倍に設定した場合、NO吸蔵量C1はA2の1.5倍より大きな値となり、例えばA2を10ppm程度に設定しなければならない場合にも、C1は20ppm程度の大きな値となり、下流側のNOセンサ9で精度の高い検出が可能となる。
【0054】
すなわち、本実施形態では劣化判定時に通常であれば時間Lが経過した時点で排出NO濃度がA2を越えたか否かを判定すべき所を、リッチスパイク操作を時間Tが経過するまで遅延させて(図3(A))、時点Tで排出NO濃度が通常のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量より大きな値C1を越えたか否かを判定することにより、実質的に同一の劣化判定を行うようにしているのである。
【0055】
図4は、本実施形態における上記劣化判定操作を具体的に説明するフローチャートである。本操作はECU30により一定時間毎に実行されるルーチンとして行われる。
図4の操作では、まずステップ401で現在劣化判定実行条件が成立しているか否かが判定される。ステップ401における劣化判定実行条件は、例えば、現在リーン空燃比運転中であること、及び前回劣化判定を実行してから所定の時間が経過していること、等である。前者の条件は、本劣化判定操作はリーン空燃比運転中でなければ実施できないため、また、後者の条件は、本操作では一時的にリッチスパイク操作実行間隔を延長してNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量をを通常より増大させるため一時的に排出NO量が増大することになり、劣化判定操作の実行頻度を高くするとNO排出量が全体として増大する可能性があるためである。
【0056】
ステップ401の条件の全部が成立した場合には、次にステップ403が実行されるが、ステップ401の判定条件のいずれか1つ以上が成立しなかった場合には、ステップ403以下は実行されず本操作は直ちに終了する。
ステップ403ではフラグEXの値が0にセットされているか否かが判定される。ここで、EXはステップ401で実行条件成立後に次のステップ405と407とを1回だけ実行させるためのフラグであり、ステップ407でEX=1に、判定終了後にステップ423でEX=1にセットされる。
【0057】
ステップ403でEX=0である場合には、ステップ405でNOカウンタCNXの値が通常時のリッチスパイク実行基準値R1(図3(B)参照)の2分の1以上になっているか否かが判定され、CNX≧(1/2)×R1であった場合にはステップ407でNOカウンタCNXの値をゼロにセットし、フラグEXの値を1にセットする。フラグEXの値を1にセットしたことにより、次回の操作実行時からはステップ405とステップ407とはスキップされ、ステップ403の次にステップ409が実行されるようになる。
【0058】
すなわち、ステップ403から407はNOカウンタCNXの値がリッチスパイク実行基準値R1の1/2に増大するのを待ってからCNXの値を0にリセットする操作をステップ401の劣化判定操作実行条件成立後に1回だけ実行するようにする操作である。
CNXは、前述したようにNO吸蔵還元触媒7に吸蔵されたNOの量を表すカウンタであり、図5に示す操作により設定される。
【0059】
図5は、NOカウンタCNXの設定操作を説明するフローチャートである。本操作はECU30により一定時間毎に実行されるルーチンとして行われる。
図5の操作では、機関がリーン空燃比運転されているときに(ステップ501)、機関のアクセル開度ACCPと回転数NEとを読み込み(ステップ503)、これらに基づいて予め作成した数値テーブルから機関の単位時間当たりのNO発生量NRを算出する(ステップ505)。
【0060】
機関の単位時間あたりNO発生量は機関運転条件(燃料量、空気量)によって定まる。本実施形態では、実際に機関を運転条件を変えて運転し単位時間当たりの機関NO発生量を予め計測して、燃料量、空気量を表す機関運転パラメータとしてACCPとNEとを用いた数値テーブルの形でECU30のROMに格納してある。リーン空燃比運転中の機関の単位時間当たりのNO発生量NRはアクセル開度ACCPと回転数NEとからこの数値テーブルを用いて算出される。
【0061】
また、NO吸蔵還元触媒7には機関の発生したNO量NRのうち所定の割合(吸蔵率γ)のNOが吸蔵されると考えられるため、単位時間(例えば、図5の操作の実行間隔)当たりのNO吸蔵還元触媒の吸蔵したNO量の増大量ΔCNXは、ΔCNX=γ×NRとして算出される(ステップ507)。
なお、NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵率γは、触媒条件(排気の空間速度、温度、NO吸蔵量)などによっても変化する。本実施形態では、NO吸蔵率として一定値を使用しているが、機関運転条件(排気流量、温度)とNO吸蔵量(NOカウンタCNXの値)に応じて吸蔵率γを設定するようにすれば、NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を更に正確に算出することが可能となる。
【0062】
NOカウンタCNXの値は、図5の操作実行毎に、上記により算出した単位時間当たりにNO吸蔵還元触媒7に吸蔵されるNO量に相当する値ΔCNXをだけ増大される(ステップ509)。これにより、NOカウンタCNXの値は、現在NO吸蔵還元触媒7が吸蔵したNO量に対応した値となる。
本実施形態では、NOカウンタCNXの値がリッチスパイク基準値R1に到達する毎に(ステップ511)、リッチスパイクフラグRSXの値を1にセットする(ステップ513)とともに、NOカウンタCNXの値を0にリセットする(ステップ515)。
【0063】
リッチスパイクフラッグRSXの値が1にセットされると、ECU30により別途実行される図示しない操作により、機関1は所定の短い時間リッチ空燃比で運転されNO吸蔵還元触媒に吸蔵されたNOは還元浄化されてNO吸蔵量は略ゼロになる。なお、リッチスパイク終了後、別途実行される図示しない操作によりRSXの値は0にリセットされる。
前述した図4のステップ403から407の操作では、劣化判定操作時には上記により設定されるCNXの値が(1/2)×R1まで増大するのを待ってゼロにリセットする操作を行う。これにより、図5の操作ではCNXの値は再度0から増大することになる。このため、図5ステップ511でリッチスパイク操作が実行されるとき(CNX≧R1)には、本来CNXの値は1.5×R1になっているはずであったことになる。すなわち、ステップ403から405の操作により、劣化判定操作時にはリッチスパイクはNOカウンタCNXの値が通常のリッチスパイク基準値R1の1.5倍(図3(B)R2)になるまで実行されなくなる。
【0064】
図4に戻ると、上記のようにリッチスパイクを実行するNO吸蔵量基準値を通常の値R1の1.5倍に設定した後、ステップ409では現在のNOカウンタCNXの値がリッチスパイクを実行する直前(R1−α)(αは適宜な小さい値)になっているか否かを判定し、直前になっている場合にはステップ411でNOセンサ9出力VNXを読み込む。これにより、VNXはNO吸蔵還元触媒7のNO吸蔵量を通常の最大吸蔵量の1.5倍まで増大したときの排出NO濃度となる。このため、比較的排気NO濃度が高い領域でNOセンサ9による検出を行うことが可能となり、検出精度の低下が防止される。
【0065】
次いで、ステップ413から421では、読み込んだNOセンサ出力VNXの値に基づいてNO吸蔵還元触媒の劣化程度が判定される。
本実施形態では、NO吸蔵還元触媒7の劣化程度をVNXの値、すなわち通常のリーン空燃比運転時の1.5倍のNO吸蔵量(図3において、R2=1.5×R1)における排出NO量に応じて以下の3種類に分類している。
【0066】
(1)VNX<(1/2)×βのとき:正常
(2)(1/2)×β≦VNX<βのとき:低レベルの劣化
(3)VNX≧βのとき:高レベルの劣化
ここで、βは通常運転時の排出NO量の許容上限値であり、例えば40ppm程度の値とされる。
【0067】
すなわち、本実施形態では通常の1.5倍の量のNOを吸蔵した場合でも排出NO濃度が許容上限値の1/2(例えば20ppm)に到達しない場合にはNO吸蔵還元触媒が正常であると判定する(上記(1))。
この場合には、図4の操作(ステップ413、417)では触媒7の劣化レベルを表すパラメータFLVの値が1に設定され、機関では通常のリーン空燃比運転が実行される。
【0068】
また、通常の1.5倍の量のNOを吸蔵した状態で排出NO濃度が許容上限値の1/2以上となるが、許容上限値(例えば40ppm)には到達していない場合には、NO吸蔵還元触媒は低レベルの劣化を生じていると判定される(上記(2))。
この場合には、機関のNO排出量が比較的少ない運転状態では排出NOレベルは上限値以下に維持されるものの、加速時、負荷増大時などのように機関のNO排出量が増大する条件下では排出NO量が許容上限値になるおそれがある。そこで、この場合には、加速運転等のように負荷が増大する条件(すなわち機関のNO排出量が増大する場合)にはリーン空燃比運転を中止して理論空燃比運転を行い、機関のNO発生量を低減することにより排出NO量の増大を防止するようにしている。図4の操作では低レベルの劣化が判定されるとパラメータFLVの値は2にセットされる(図4、ステップ415、419)。
【0069】
また、通常の1.5倍の量のNOを吸蔵した状態で排出NO濃度が許容上限値(例えば40ppm)を越えている場合には、かなり劣化進んでいるため高レベルの劣化と判定され(上記(3))、パラメータFLVの値は3にセットされる(図4、ステップ415、421)。
この場合には、例えばS被毒が進行してNO吸収剤が劣化した場合を考慮して、直ちに機関排気温度を上昇させたリッチ空燃比(または理論空燃比)で一定の時間機関を運転するS被毒解消操作が別途行われる。
【0070】
本実施形態では、上述のように通常の1.5倍の量のNOをNO吸蔵還元触媒に吸蔵させ、下流側に排出されるNOの量が増大した状態でNOセンサにより排気濃度を検出している。例えば、仮に通常の量のNOを吸蔵した状態で排出NO量に基づいてNO吸蔵還元触媒の劣化を判定しようとすると、例えば低レベルの劣化(上記(1))を判定するためには、10ppm低度のNO濃度を正確に判定する必要が生る。このため、NOセンサの検出精度が低い領域での判定を行うことになり、劣化判定の信頼性が大幅に低下してしまう。
【0071】
これに対して、本実施形態では、リッチスパイク操作実施直前のNO吸蔵量を、例えば通常の1.5倍低度に増大させたことにより、上記の場合の2倍(20ppm低度)のNO濃度領域で低レベルの劣化の判定を行うことが可能となっている。このため、NOセンサの検出精度が大幅に向上し判定そのものの信頼性を向上させることが可能となっている。
【0072】
なお、本実施形態では、劣化判定時に通常の1.5倍にNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を増大させているが、どの程度までNO吸蔵量を増大させるかは触媒の種類により異なる。また、劣化判定時には実際に排出NO濃度が増大することになるため、どの程度まで劣化判定時のNO吸蔵量を増大させるかは、実際の触媒を用いた実験により定めることが好ましい。
【0073】
なお、本実施形態ではNOセンサ出力値VNXから直接NO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定しているが、VNXを直接判定に用いる代わりにリッチスパイク開始直前までのVNXの平均値または積算値を用いて劣化判定を行う場合にも、劣化判定時のNO吸蔵量を増大させることにより信頼性の高い判定を行うこどが可能となる。
【0074】
図6は、上記触媒の劣化判定結果に基づく機関の制御操作を説明するフローチャートである。本操作はECU30により一定時間毎に実行されるルーチンとして行われる。
本操作では、前述の(1)〜(3)に説明した劣化レベルに応じた操作を行う。すなわち、ステップ601、605では図4の操作で設定した劣化パラメータFLVの値に基づいてNO吸蔵還元触媒7の現在の劣化レベルが判定され、触媒7が正常な場合(FLV=1)には通常のリーン空燃比運転が実施される(ステップ603)。
【0075】
一方、触媒7に低レベルの劣化を生じている場合(FLV=2)には、ステップ605の次にステップ607が実行され、現在の機関回転数に基づいてリッチ空燃比運転に切り換えるべき機関トルク(例えばアクセル開度または燃料噴射量)の判定値KLQSを設定する。KLQSは現在の機関回転数において、触媒7下流側でのNO濃度が許容値を越える程度まで機関のNO発生量が増大する出力トルクであり、詳細には実際の機関を用いた実験により設定される。
【0076】
次いで、ステップ609では、現在の機関出力トルク(アクセル開度または燃料噴射量)KLQがステップ607で算出した判定値KLQSより大きい場合には、ステップ611に進みリッチフラグXRの値を1に設定する。
フラグXRの値が1にセットされると、ECU30により別途実行される操作では、機関1の運転空燃比が理論空燃比に切り換えられる。これにより、加速時、負荷増大時などのNO発生量が増大する運転状態では機関が理論空燃比で運転されるようになり、NO発生量が低下するため低レベルの劣化を生じたNO吸蔵還元触媒であっても排出NO量が許容値を越えることが防止される。
【0077】
なお、ステップ609で現在の出力トルクが判定値KLQSより小さい場合には、リッチフラグXRの値は0にセットされ、機関のリーン空燃比運転が継続される。
一方、ステップ605でFLV≠2であった場合には、現在の触媒劣化状態がFLV=3、すなわち高レベルの劣化に相当することになる。そこで、この場合には直ちにリーン空燃比運転を中止し、NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵能力を回復させるためにステップ615でS被毒解消操作を行う。
【0078】
S被毒解消操作では、機関はリッチ空燃比または理論空燃比で排気温度が上昇する条件で運転される。これにより、NO吸蔵還元触媒には高温のリッチ空燃比または理論空燃比の排気が供給され、吸蔵されたSOがNO吸蔵還元触媒から排出され、NO吸蔵能力が回復する。
なお、触媒が高レベルの劣化を生じていると判定された場合には、S被毒解消操作を実行するのと同時に、運転席の警告灯を点灯して運転者に触媒の劣化が生じたことを報知するようにしても良い。
【0079】
上述のように、本実施形態では劣化判定時にリッチスパイクを実行する基準NO吸蔵量(NOカウンタ値)を通常運転時より大きく設定することによりNOセンサを用いた正確な劣化判定を行うことを可能としているが、例えばNOカウンタを使用せずに、一定時間毎、または一定走行距離や機関回転数積算値毎にリッチスパイクを実行している場合には、例えばリッチスパイク間隔(或いはリッチスパイクを実行する走行距離や回転数積算値)を増大させることにより、同様にNOセンサを用いた精度の高い劣化判定を行うことが可能となる。
【0080】
【発明の効果】
各請求項に記載の発明によれば、NO吸蔵還元触媒の下流側に配置したNOセンサを用いてNO吸蔵還元触媒の劣化判定を行う場合に、簡易かつ正確に劣化を判定することが可能となるという共通の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を自動車用内燃機関に適用した場合の実施形態の概略構成を説明する図である。
【図2】NOセンサのNO検出原理を説明する図である。
【図3】NO吸蔵還元触媒のリッチスパイク間におけるNO吸蔵量と触媒下流側における排出NO濃度の変化を示す図である。
【図4】劣化判定操作の一例を説明するフローチャートである。
【図5】NOカウンタの設定操作を示すフローチャートである。
【図6】劣化判定に基づく機関制御操作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
1…内燃機関本体
3…排気通路
7…NO吸蔵還元触媒
9…NOセンサ
30…電子制御ユニット(ECU)

Claims (3)

  1. 内燃機関の排気通路に配置され、流入する排気の空燃比がリーンのときに排気中のNOを吸着、吸収またはその両方にて選択的に吸蔵し、流入する排気の空燃比が理論空燃比またはリッチ空燃比となったときに、吸蔵したNOを排気中の還元成分を用いて還元浄化するNO吸蔵還元触媒を備え、
    前記機関をリーン空燃比で運転中に、前記NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵状態が所定のリッチスパイク条件になる毎に、一時的に機関をリッチ空燃比運転するリッチスパイク操作を行い、NO吸蔵還元触媒にリッチ空燃比の排気を供給しNO吸蔵還元触媒に吸蔵されたNOを還元浄化する内燃機関の排気浄化装置において、
    前記NO吸蔵還元触媒の下流側の排気通路に配置され、排気中のNO成分濃度を検出するNOセンサと、
    リーン空燃比運転中の予め定めた判定期間中に検出した前記NOセンサ出力を所定の判定値と比較することにより、前記NO吸蔵還元触媒の劣化程度を判定する判定手段を備え、
    前記判定期間中には、リッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量が判定期間以外におけるリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量より大きくなるように、前記リッチスパイク条件を変更する、内燃機関の排気浄化装置。
  2. 前記NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵状態としてNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を使用し、前記リッチスパイク条件として前記NO吸蔵量が所定の基準吸蔵量に到達したことを使用し、前記判定期間中における前記基準吸蔵量を判定期間以外における前記基準吸蔵量より大きな値に設定することにより、判定期間におけるリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を判定期間以外におけるリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量より増大させる、請求項1に記載の内燃機関の排気浄化装置。
  3. 前記NO吸蔵還元触媒のNO吸蔵状態として前回のリッチスパイク操作終了時からの経過時間を使用し、前記リッチスパイク条件として前記経過時間が所定の基準時間に到達したことを使用し、前記判定期間中における前記基準時間を判定期間以外における前記基準時間より長く設定することにより、判定期間におけるリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量を判定期間以外におるけリッチスパイク操作開始時のNO吸蔵還元触媒のNO吸蔵量より増大させる、請求項1に記載の内燃機関の排気浄化装置。
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