JP2004058296A - Apparatus and method for simulation of printing inspection - Google Patents

Apparatus and method for simulation of printing inspection Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and a method for simulation of printing inspections, which can properly estimate a required time for the printing inspections for being carried out in diverse inspection forms. <P>SOLUTION: In the simulation of the printing inspections for performing a simulation operation for estimating the required time for carrying out the printing inspections before the execution of the printing inspections for inspecting the printed state of a cream solder, element shape/position data, which represent the shape and position of an element printing part for being printed on an electrode for joining an electronic component, provided on a circuit forming surface of a substrate, are divided into respective imaging fields for the inspections; and inspection data with priorities, which are created by setting the priorities according to inspection priority conditions, are prestored. The simulation operation for cumulatively adding the required time in each of the imaging fields is performed according to the inspection data with the priorities and operating time data. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板に印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査の実行に先だって所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行う印刷検査のシミュレーション装置およびシミュレーション方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電子部品の実装においては、基板への電子部品の搭載に先立って基板の表面にクリーム半田が塗布される。クリーム半田塗布の方法としてはスクリーン印刷による方法が広く用いられており、印刷工程の後にはクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査が行われる。この印刷検査は、スクリーン印刷後の基板をカメラにより撮像し、撮像結果を画像処理することにより印刷部位に正しくクリーム半田が印刷されているか否かを判定するものである。
【0003】
ところで基板に実装される電子部品の特性は多種多様であり、上記の半田印刷工程においても印刷後に搭載される電子部品によって検査精度が異なる。すなわち、価格が高くしかも高信頼性が求められ、良好な印刷精度を要する電子部品が搭載される印刷部位については、印刷精度が確実に保証されるような方法で検査を行う必要がある。
【0004】
これに対し、半田接合が容易で印刷精度がさほど重要視されないような電子部品が搭載される印刷部位については、極力短時間で検査が完了するようにしなければならない。このため、印刷検査においては、対象となる基板に搭載される電子部品の特性および半田印刷工程において許容される検査時間に応じて、フレキシブルな検査形態が可能であることが望ましい。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら従来の半田印刷では、印刷作業を実行する現場において印刷検査に必要とされる時間を正確に予測することが難しく、印刷精度を確保するために必要な印刷検査対象範囲を、許容される検査時間との関連でバランスよく決定することができなかった。そして予測時間が実際の所要時間よりも短めの場合には印刷検査に予定以上の時間を費やして生産性を低下させたり、また反対に実際の所要時間よりも長めに予測した場合には、本来検査可能な範囲を検査対象から除外することによって精度レベルを不必要に低下させることとなっていた。
【0006】
そこで本発明は、多様な検査形態で実行される印刷検査の所要時間を適正に予測することができる印刷検査のシミュレーション装置およびシミュレーション方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の印刷検査のシミュレーション装置は、基板に印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査の実行に先だって印刷検査実行の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行う印刷検査のシミュレーション装置であって、前記基板の回路形成面に設けられた電子部品接合用の電極に印刷される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査用撮像視野毎に括るとともに検査優先順位条件に従って優先順位付けして作成された優先順位付き検査用データを記憶する検査用データ記憶手段と、前記シミュレーション演算に必要な動作時間データを記憶する動作時間ライブラリと、前記優先順位付き検査用データと前記動作時間データとに基づいて前記シミュレーション演算を行う演算手段と、シミュレーション演算結果を表示する表示手段とを備えた。
【0008】
請求項2記載の印刷検査のシミュレーション装置は、請求項1記載の印刷検査のシミュレーション装置であって、前記検査優先順位条件は、前記基板の印刷面において指定された幾何学的範囲に基づいて決定される。
【0009】
請求項3記載の印刷検査のシミュレーション装置は、請求項1記載の印刷検査のシミュレーション装置であって、前記検査優先順位条件は、前記電子部品の属性に基づいて決定される。
【0010】
請求項4記載の印刷検査のシミュレーション装置は、請求項1乃至3のいずれかに記載の印刷検査のシミュレーション装置であって、前記シミュレーション演算を検査優先順位に従って反復実行することによって得られた演算結果を検査実行許容時間と比較することにより、実際の印刷検査における最適な実行用データを作成する最適検査用データ作成手段を備えた。
【0011】
請求項5記載の印刷検査のシミュレーション方法は、基板に印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査の実行に先だって印刷検査実行の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行う印刷検査のシミュレーション方法であって、前記基板の回路形成面に設けられた電子部品接合用の電極に印刷される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査用撮像視野毎に括るとともに検査優先順位条件に従ってって優先順位付けして作成された優先順位付き検査用データを記憶する検査用データ記憶工程と、前記優先順位付き検査用データと動作時間ライブラリに記憶された前記シミュレーション演算に必要な動作時間データとに基づいて前記シミュレーション演算を行う演算工程とを含む。
【0012】
請求項6記載の印刷検査のシミュレーション方法は、請求項5記載の印刷検査のシミュレーション方法であって、前記検査優先順位条件は、前記基板の印刷面において指定された幾何学的範囲に基づいて決定される。
【0013】
請求項7記載の印刷検査のシミュレーション方法は、請求項5記載の印刷検査のシミュレーション装置であって、前記検査優先順位条件は、前記電子部品の属性に基づいて決定される。
【0014】
請求項8記載の印刷検査のシミュレーション方法は、請求項5乃至7のいずれかに記載の印刷検査のシミュレーション方法であって、前記シミュレーション演算を検査優先順位に従って反復実行することによって得られた演算結果を検査実行許容時間と比較することにより、実際の印刷検査における最適な実行用データを作成する。
【0015】
本発明によれば、電子部品接合用の電極に印刷される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査優先順位条件に従って検査用撮像視野毎に括って作成された優先順位付き検査用データを記憶させておき、この優先順位付き検査用データと動作時間ライブラリに記憶された動作時間データとに基づいて、印刷検査の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行うことにより、印刷検査の所要時間を多様な検査形態で適正に予測することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の正面図、図2は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の側面図、図3は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の平面図、図4は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置による基板印刷面の平面図、図5は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の制御系の構成を示すブロック図、図6は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置のプログラム記憶部およびデータ記憶部の記憶内容を示す図、図7は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の要素半田印刷部の要素形状・位置データの説明図、図8は本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の実装データおよびマスク開口パターンの説明図、図9は本発明の一実施の形態の印刷検査用データ作成処理のフロー図、図10,図11,図12,図14、図15は本発明の一実施の形態の印刷検査のシミュレーション装置の表示画面を示す図、図13は本発明の一実施の形態の印刷検査のシミュレーション方法を示すフロー図である。
【0017】
まず図1、図2および図3を参照してスクリーン印刷装置の構造を説明する。このスクリーン印刷装置は、電子部品が実装される基板にクリーム半田を印刷する印刷機構のみならず、後述するように、印刷状態の良否を判定する印刷検査装置としての機能およびこの印刷検査において用いられる印刷検査用データを作成するとともに印刷検査実行の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行う印刷検査のシミュレーション装置としての機能をも併せ持った構成となっている。
【0018】
図1、図2において、基板位置決め部1は、X軸テーブル2およびY軸テーブル3よりなる移動テーブル上にθ軸テーブル4を段積みし、さらにその上にZ軸テーブル5を配設して構成されており、Z軸テーブル5上にはクランパ8によって挟み込まれた基板6を下方から保持する基板保持部7が設けられている。印刷対象の基板6は、図1,図3に示す搬入コンベア14によって基板位置決め部1に搬入される。基板位置決め部1を駆動することにより、基板6はXY方向に移動し、後述する印刷位置、基板認識位置に位置決めされる。印刷後の基板6は、搬出コンベア15によって搬出される。
【0019】
基板位置決め部1の上方には、スクリーンマスク10が配設されており、スクリーンマスク10はホルダ11にマスクプレート12を装着して構成されている。基板6は基板位置決め部1によってマスクプレート12に対して位置合わせされ下方から当接する。基板6の回路形成面の半田印刷範囲6a内には、図4(a)に示すように種類の異なる電子部品P1,P2,P3,P4を接合するための電極6b、6c、6d、6eが設けられている。
【0020】
スクリーンマスク10上には、スキージヘッド13が水平方向に往復動自在に配設されている。基板6がマスクプレート12の下面に当接した状態で、マスクプレート12上にクリーム半田9を供給し、スキージヘッド13のスキージ13aをマスクプレート12の表面に当接させて摺動させることにより、基板6の印刷面にはマスクプレート12に設けられたパターン孔16を介してクリーム半田9が印刷される。これにより、図4(b)に示すように、電極6b、6c、6d、6e上にはそれぞれ要素半田印刷部S1,S2,S3,S4が形成される。
【0021】
スクリーンマスク10の上方には、撮像手段であるカメラ20が設けられている。図3に示すように、カメラ20はX軸テーブル21およびY軸テーブル22によってXY方向に水平移動する。X軸テーブル21およびY軸テーブル22は、カメラ20を移動させるカメラ移動手段となっている。カメラ20をカメラ移動手段によってマスクプレート12に対して移動させることにより、カメラ20はマスクプレート12の任意の位置を撮像する。
【0022】
基板位置決め部1は、図2に示すようにY軸テーブル3によってスクリーンマスク10の下方からY方向に移動して保持した基板6を基板認識位置まで移動させることができるようになっており、この状態でカメラ20を基板位置決め部1上の基板6に移動させることにより、カメラ20によって基板6の任意の位置を撮像することができる。
【0023】
次に、図5を参照してスクリーン印刷装置の制御系の構成について説明する。図5において、演算部25はCPUであり、プログラム記憶部26に記憶された各種プログラムを実行することにより、後述する各種演算・処理を行う。これらの演算・処理においては、データ記憶部27に記憶された各種のデータが用いられる。
【0024】
操作・入力部28は、キーボードやマウスなどの入力手段であり、各種の制御コマンドやデータの入力を行う。通信部29はスクリーン印刷装置とともに電子部品実装ラインを構成する他装置との間でデータの授受を行う。画像処理部30は、カメラ20による撮像データを画像処理することにより、後述するように、印刷検査のための半田印刷部の認識や、印刷検査データ作成のためのマスク開口検出を行う。
【0025】
機構制御部31は、カメラ20を移動させるカメラ移動手段や、スキージヘッド13を移動させるスキージ移動手段を制御する。表示部32はディスプレイ装置であり、カメラ20によって取得された画像のほか、後述する印刷検査用データ作成処置における操作画面や、印刷検査の判定結果、後述するシミュレーション演算結果などの表示を行う表示手段となっている。
【0026】
次に図6を参照して、プログラム記憶部26およびデータ記憶部27にそれぞれ記憶されるプログラムおよびデータについて説明する。プログラム記憶部26には、印刷動作プログラム26a、画像処理プログラム26b、印刷良否判定プログラム26c、グループ化処理プログラム26d、シミュレーション実行プログラム26e,最適化演算プログラム26fが記憶されている。
【0027】
印刷動作プログラム26aは、基板位置決め部1およびスキージヘッド13の動作を制御して基板6へのクリーム半田9の印刷を行う印刷動作のためのプログラムである。画像処理プログラム26bは、画像処理部30がカメラ20の撮像結果に基づき、以下に説明する2種類の処理を行うためのプログラムである。
【0028】
まず、印刷後の基板6を撮像した撮像結果を認識処理することにより、基板6の各電極に形成された要素半田印刷部(図4(b)参照)を検出し、各要素半田印刷部の面積を算出する。また、マスクプレート12を撮像した撮像結果を認識処理することにより、マスクプレート12に設けられた各パターン孔16の位置と形状を示すマスク開口データを求める処理を行う。このマスク開口データは、印刷検査のための検査用データとして用いられる。
【0029】
印刷良否判定プログラム26cは、画像処理部30によって算出された要素半田印刷部の面積を予め記憶された検査しきい値と比較することによって、要素半田印刷部毎に印刷状態の良否判定を行う。すなわち、画像処理部30および演算部25が印刷良否判定プログラム26cを実行することにより実現される機能は、基板の撮像結果と印刷検査実行に必要な検査用データとに基づいて印刷状態の良否判定を行う印刷判定手段を構成する。
【0030】
グループ化処理プログラム26dは、印刷検査に用いられる検査用データの作成において、各要素半田印刷部の位置と形状を示す個別の要素位置・形状データを、特定のグループ化条件に従ってグループ化する処理を行うためのプログラムである。すなわち、演算部25がグループ化処理プログラム26dを実行することにより実現される機能は、要素形状・位置データをグループ化条件に従って括ることによってデータ群に分類して各データ群を特定するグループ化手段となっている。
【0031】
シミュレーション実行プログラム26eは、基板6に印刷されたクリーム半田9の印刷状態を検査する印刷検査の実行に先だって、印刷検査実行の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行うプログラムである。演算部25がシミュレーション実行プログラム26eを実行することにより実現される機能は、シミュレーション演算を行う演算手段となっている。
【0032】
最適化演算プログラム26fは、上述のシミュレーション演算を検査優先順位に従って反復実行することによって得られた演算結果を、所与の検査実行許容時間と比較することにより、実際の印刷検査における最適な実行用データを作成するためのプログラムである。演算部25が最適化演算プログラム26fを実行することによって実現される機能は、最適検査用データ作成手段を構成する。
【0033】
データ記憶部27には、実装データ27a、部品データライブラリ27b、マスク開口データライブラリ27c、動作時間ライブラリ27d、優先順位付き検査用データ27eおよび実行用データ27fが記憶されている。これらのデータのうち、実装データ27a、部品データライブラリ27b、マスク開口データライブラリ27c、動作時間ライブラリ27dは、通信部29を介してデータ管理用のコンピュータなどの他装置から転送され記憶される。
【0034】
実装データ27aは、クリーム半田印刷後の基板に対して電子部品を実装する実装動作において用いられるデータ、すなわち実装される電子部品の種類を基板上における実装位置座標と関連させたデータである。部品データライブラリ27bは、基板に実装される個々の電子部品に関するデータであり、電子部品の部品コード、実装動作における必要精度や半田接合のための半田印刷における難易度などを示す属性データとともに、部品形状・サイズや、半田接合時の要素半田印刷部の配置を示す部品別開口パターン(図8に示す33A,33B,33C,33D参照)を数値表現した数値データを含んでいる。
【0035】
実装データ27aと部品データライブラリ27bにより、マスクプレート12の個々のパターン孔16とこれらのパターン孔を介して印刷された半田印刷部に対応した電子部品とをデータ上で関連づけることができ、後述するように印刷検査用データ作成において、多種類のデータを相互にリンクさせてデータ作成処理の効率化を可能としている。
【0036】
マスク開口データライブラリ27cは、印刷に使用されるマスクプレート12のパターン孔16の開口位置やサイズを示す数値データを多種類の品種について記憶したものであり、個々のマスクプレートに付随したマスク開口データとして予め与えられる。すなわち、図7に示すマスクプレート12の例では、各パターン孔16a〜16dについてのデータが与えられ、例えばパターン孔16cについては、パターン孔サイズを示す寸法a、bや、基準原点に対する各パターン孔16cの位置座標値x1,x2,x3・・・、y1,y2,・・・が、数値データの形で与えられる。他のパターン孔についても同様である。
【0037】
後述するように、このマスク開口データは、印刷検査において図4(b)に示す要素半田印刷部(S1〜S4)の位置・形状を示す要素位置・形状データとして用いられる。したがって、マスク開口データライブラリ27cを含んだデータ記憶部27は、要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを提供するデータ提供手段となっている。
【0038】
なお前述のように、マスクプレート12をカメラ20で撮像することによっても、パターン孔の開口位置や開口サイズを示すデータを取得することができることから、所要のマスク開口データがマスク開口データライブラリ27cに含まれていない場合には、現物のマスクプレート12を用いて図7に示すデータと同様のデータを取得することができる。この場合には、カメラ20および画像処理部30が、スクリーン印刷に用いられるマスクプレート12から検出されたマスク開口データに基づいて取得された要素形状・位置データを提供するデータ提供手段となる。
【0039】
さらには、要素形状・位置データを求める方法として、実装データ27a、部品データライブラリ27bに含まれるデータを組み合わせる方法を採用してもよい。すなわち、図8に示すように、実装データ27aから、電子部品P1,P2,P3,P4の実装位置を示す実装点M1,M2A,M2B,M3,M4を求め、これらの実装点に、部品データライブラリ27bの部品別開口パターン33A,33B,33C,33Dを重ね合わせることにより、マスク開口データと等価の数値データを得ることができる。
【0040】
動作時間ライブラリ27dは、シミュレーション演算の基礎となる要素動作時間についてのデータを提供する。すなわち、1つの撮像視野における撮像および画像認識に要する時間(認識所要時間)と、1つの撮像視野から次の撮像視野への移動に要する時間(移動時間)を算出するためのライブラリデータが記憶されており、シミュレーション演算においては、これらの要素動作時間を個別の撮像視野毎に加算することにより、印刷検査実行の所要時間が算出される。
【0041】
優先順位付き検査用データ27eは、図4に示す要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査用撮像視野毎に括るとともに、検査優先順位条件に従って優先順位付けして作成された検査用データである。印刷検査の実行時には、原則として優先順位付き検査用データ27eに示される優先順位に従って検査が実行される。データ記憶部27は、優先順位付き検査用データを記憶する検査用データ記憶手段となっている。
【0042】
実行用データ27fは、半田印刷に引き続いて実行される印刷後検査において実際に用いられる検査用データであり、後述するようにシミュレーション演算の結果によって検査対象となる範囲が特定されることにより、これらの検査範囲に対応した検査データがデータ記憶部27に実行用データ27fとして記憶される。
【0043】
このスクリーン印刷装置は上記のように構成されており、次に印刷検査用データ作成処理について、図9のフローに沿って各図を参照して説明する。このデータ作成処理は、スクリーン印刷後の基板のクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査装置に用いられ、印刷面にクリーム半田を印刷することにより形成された半田印刷部の形状および位置を示す形状・位置データを含む検査用データを作成するものである。
【0044】
まず図9において、マスク開口データの読み込みが行われる(ST1)。これにより、表示部32に表示されるデータ作成処理用の操作画面40には、マスクプレート12の印刷範囲12a内における開口部の配置を示す開口パターンが表示される。これらの開口部は、回路形成面の各電極に形成された要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データに対応している。
【0045】
ここで、マスク開口データとしては、対象となるマスクプレート12に対応したマスク開口データがデータ記憶部27のマスク開口データライブラリ27cに記憶されている場合には、このライブラリデータが用いられる。そしてこのライブラリデータが未入手である場合には、実装データ27aと部品データライブラリ27bから等価のマスク開口データを作成する処理が行われる。さらに、これらの実装データ27aと部品データライブラリ27bが未入手であれば、前述のようにマスクプレート12を撮像して得られた画像データから開口部を検出して、要素形状・位置データとするデータ生成処理が行われる。
【0046】
次に表示された各パターン孔に対応したこれらの要素形状・位置データを、グループ化条件に従って括ることによってデータ群に分類して、各データ群を特定するグループ化処理が行われる(ST2)。このグループ化処理は、操作画面40上に表示された開口部を予め定められたグループ化条件に従って関連づけることによって、個々の要素形状・位置データをデータ群に括るものであり、グループ化処理プログラムによって自動的に行われる。
【0047】
ここでは、図11に示す操作画面40上に表示されるグループ条件選択ウイザード41によって、3つのグループ化条件、すなわち部品単位42a、属性指定42b、範囲指定42cによるグループ化条件のいずれかを選択することができるようになっている。この選択は、各選択肢のそれぞれに設けられたチェック枠43によって行われる。
【0048】
部品単位42aを選択すると、基板6に実装される電子部品のそれぞれを1つのグループとするようにグループ化条件が決定される。すなわち、図12(a)に示すように、4つの電子部品P1,P2,P3、P4を半田接合するために設けられた電極(図4参照)にそれぞれ対応したパターン孔16a、16b、16c、16dが、グループ化枠45a、45b、45c、45dによって囲まれ、これにより、個別のパターン孔に対応した要素形状・位置データは、各電子部品単位に括られてデータ群に分類され、これらのデータ群は各電子部品(P1,P2・・)によって特定される。
【0049】
また属性指定42bを選択すると、電子部品の属性に基づいてグループ化条件が決定される。すなわち、実装される全ての電子部品のうち、指定入力枠44に入力されることによって特定された属性を有する電子部品のみが、グループ化の対象となる。また範囲指定42cを選択すると、操作画面上において指定された基板の印刷面における幾何学的範囲に基づいてグループ化条件が決定される。属性指定、範囲指定については後述する。
【0050】
このようにして、グループ化処理が完了したならば、検査用撮像視野設定が行われる(ST3)。ここでは、グループ化処理によって部品単位で分類された場合の検査用撮像視野設定について説明する。すなわち、パターン孔が各電子部品(P1,P2・・)毎にグループ化された画面上において、図12(b)に示すように、グループ化枠45a、45b、45c、45dをそれぞれ囲む位置に検査用撮像視野46a,46b、46c、46dを設定する。このとき、グループ化枠のサイズによっては、複数のグループ化枠を1つの検査用撮像視野で囲むようにしても良い。
【0051】
次いで、検査実行における優先順位付けが行われる(ST4)。すなわち、設定された各検査用撮像視野について電子部品の特性を考慮して検査実行の優先度を判断し、相対順位を設定する。そして、図12(c)に示すように、グループ化枠45a、45b、45c、45dに優先順位を付与する。ここでは、グループ化枠45d−45c−45a−45bの順に、優先順位[1][2][3][4]が付与された例を示している。そしてこのようにして作成された優先順位付き検査用データ27eは、データ記憶部27に記憶される(検査用データ記憶工程)。
【0052】
次に、優先順位付き検査用データ27eと動作時間ライブラリ27dに基づいて、検査実行の所要時間を算出するシミュレーション演算が行われる(演算工程)。シミュレーションの演算内容について、図13のフローを参照して説明する。まず、検査実行許容時間が入力される(ST11)。これにより、電子部品実装ラインにおいて、印刷後の基板1枚当たりに検査のために許容される時間が決定される。
【0053】
次いで、優先順位付き検査用データ27eが、データ記憶部27から読み込まれる(ST12)。この後、第1優先順位の撮像視野についての認識所要時間が算出される(ST13)。図12に示す例では、まず検査用撮像視野46dを対象として、動作時間ライブラリ27dを参照して認識所要時間が算出され、次いで算出された時間の累積時間が許容時間を超えていないか否かが判断される(ST14)。
【0054】
ここで、累積時間が許容時間を超えていないならば、次の優先順位の撮像視野についての認識所要時間および前撮像視野からの移動時間を算出し(ST15)、累積時間に加算する(ST16)。この後再び(ST14)に戻って、累積時間が許容時間を超えていないか否かが判断され、以下同様の演算が反復される。そして、(ST14)にて累積時間が許容時間を超えたと判断されたならば、シミュレーション結果を表示する(ST17)。
【0055】
すなわち、図14に示すように、操作画面40にはパターン孔が電子部品単位で括られた画面が表示される。この表示画面上においては、シミュレーションの結果、許容時間内で検査が実行可能と判断されたグループ(電子部品P1,P3、P4に対応したグループ)のみが検査実行対象として反転表示され、反転表示されないグループ(電子部品P2に対応したグループ)は、許容時間の制約から検査実行対象から除外されたことを示している。これらの検査対象範囲に関する表示とともに、シミュレーションによって求められた予測タクトタイムが表示欄47に表示される。
【0056】
そしてこのシミュレーション結果を確認して問題がなければ、確定スイッチ48を操作する。これにより、検査実行対象とされたグループに属するデータ群が実行用データとして確定され、データ記憶部27に転送され実行用データ27fとして記憶される。すなわち、上記シミュレーション処理においては、シミュレーション演算を検査優先順位に従って反復実行することによって得られた演算結果を検査実行許容時間と比較することにより、実際の印刷検査における最適な実行用データを作成する形態となっている。
【0057】
なおシミュレーション結果について疑問があり、条件を変更して再度実行したい場合には、再実行スイッチ49を操作する。この再実行に際しては、許容時間変更50と、優先順位変更51が選択可能となっている。すなわち、予め入力された許容時間をわずかに超過することによって検査実行対象から除外されるデータ群が存在する場合には、その超過分だけ許容時間を延長した条件で、再シミュレーションを行う。また優先順位を部分的に変更することにより、より好ましい検査形態が実現できると判断された場合には、優先順位の部分的入れ替えを行った上で、再シミュレーションを行う。
【0058】
なお、図9の検査用データ作成において、予め優先的に検査を実行したい電子部品の種類が特定されている場合や、基板内における特定範囲のみを対象として検査を実行したい場合には、グループ化処理(ST2)において、属性指定42b、範囲指定42cを選択する。この場合のシミュレーションの目的は、予測タクトタイムを求めることであるから、検査実行許容時間は単なる目安時間であり、シミュレーションにおいては予め余裕を見込んだ時間を入力する。
【0059】
図15(a)は、属性指定42bの例を示している。ここでは、優先的に検査を実行したい電子部品の種類として「QFP」が予め選定されており、属性として電子部品の種類「QFP」が指定される。これにより、当該種類に該当する電子部品P4に対応したパターン孔16dのみがグループ化枠45dによって囲まれる。該当する電子部品P4が複数存在する場合には、複数のグループ化枠45dが設定される。
【0060】
そしてこのグループ化枠45dを囲む検査用撮像視野を設定し、これらの検査用撮像視野には全て等しい優先順位[1]を付与する。すなわち、この例では、検査優先順位条件は、電子部品の属性に基づいて決定される。そしてこの条件で作成された優先順位付き検査用データを用いてシミュレーションを実行することにより、特定種類のみを対象として印刷検査を実行する場合の予測タクトタイムを求めることができる。
【0061】
図15(b)は、範囲指定42cを選択した例を示している。ここでは、基板内において検査を実行したい範囲が予め指定されており、図13(c)に示すように、操作画面上において、マウスなどのポインティングデバイスによって検査を実行したい範囲のみを囲むグループ化枠45eを設定する操作を行う。そしてこのグループ化枠45e内に複数の検査用撮像視野を設定し、これらの検査用撮像視野には全て等しい優先順位[1]を付与する。
【0062】
すなわち、この例では、検査優先順位条件は、基板の印刷面において指定された幾何学的範囲に基づいて決定される。そしてこの条件で作成された優先順位付き検査用データを用いてシミュレーションを実行することにより、基板内の特定範囲のみを対象として印刷検査を実行する場合の予測タクトタイムを求めることができる。
【0063】
上記説明したように、本実施の形態に示す印刷検査のシミュレーションにおいては、単位形状・位置データを検査優先順位条件に従って検査用撮像視野毎に括って作成された優先順位付き検査用データを予め作成するようにしたものである。これにより、印刷作業を実行する生産現場において、印刷検査に必要とされる時間を多様な検査形態において正確に予測することができる。従って、多様な検査形態で実行される印刷検査の所要時間を適正に予測することが可能となり、印刷精度を確保するために必要な印刷検査の実行対象範囲を、許容される検査時間との関連でバランスよく決定することができる。
【0064】
なお、本実施の形態では、印刷検査のシミュレーション機能を備えたスクリーン印刷装置によってシミュレーションを実行する形態を示しているが、スクリーン印刷装置とは別個に独立して専用の印刷検査のシミュレーション装置を設ける場合にあっても、本実施の形態に示す構成を適用することができる。
【0065】
【発明の効果】
本発明によれば、電子部品接合用の電極に印刷される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査優先順位条件に従って検査用撮像視野毎に括って作成された優先順位付き検査用データを記憶させておき、この優先順位付き検査用データと動作時間ライブラリに記憶された動作時間データとに基づいて、印刷検査の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行うようにしたので、印刷検査の所要時間を多様な検査形態で適正に予測することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の正面図
【図2】本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の側面図
【図3】本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の平面図
【図4】本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置による基板印刷面の平面図
【図5】本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の制御系の構成を示すブロック図
【図6】本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置のプログラム記憶部およびデータ記憶部の記憶内容を示す図
【図7】本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の要素半田印刷部の要素形状・位置データの説明図
【図8】本発明の一実施の形態のスクリーン印刷装置の実装データおよびマスク開口パターンの説明図
【図9】本発明の一実施の形態の印刷検査用データ作成処理のフロー図
【図10】本発明の一実施の形態の印刷検査用データ作成処理のフロー図
【図11】本発明の一実施の形態の印刷検査のシミュレーション装置の表示画面を示す図
【図12】本発明の一実施の形態の印刷検査のシミュレーション装置の表示画面を示す図
【図13】本発明の一実施の形態の印刷検査のシミュレーション方法を示すフロー図
【図14】本発明の一実施の形態の印刷検査のシミュレーション装置の表示画面を示す図
【図15】本発明の一実施の形態の印刷検査のシミュレーション装置の表示画面を示す図
【符号の説明】
1 基板位置決め部
6 基板
6b,6c,6d,6e 電極
9 クリーム半田
12 マスクプレート
13 スキージヘッド
16、16a、16b、16c、16d パターン孔
20 カメラ
25 演算部
26 プログラム記憶部
26b 画像処理プログラム
26c 印刷良否判定プログラム
26d グループ化処理プログラム
26e シミュレーション実行プログラム
26f 最適化演算プログラム
27 データ記憶部
27c マスク開口データライブラリ
27d 動作時間ライブラリ
27e 優先順位付き検査用データ
27f 実行用データ
30 画像処理部
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a printing inspection simulation apparatus and a simulation method for performing a simulation operation for estimating a required time before performing a printing inspection for inspecting a printing state of cream solder printed on a substrate.
[0002]
[Prior art]
In mounting an electronic component, cream solder is applied to the surface of the substrate before mounting the electronic component on the substrate. As a method of applying the cream solder, a screen printing method is widely used. After the printing process, a printing inspection for inspecting a printing state of the cream solder is performed. In this print inspection, the board after screen printing is imaged by a camera, and the imaged result is subjected to image processing to determine whether or not cream solder is correctly printed on a printed portion.
[0003]
By the way, the characteristics of the electronic components mounted on the substrate are various, and even in the above-described solder printing process, the inspection accuracy differs depending on the electronic components mounted after printing. In other words, it is necessary to perform an inspection on a printing portion on which electronic parts requiring high printing accuracy and high printing accuracy are required at high cost and high reliability, so that the printing accuracy is reliably guaranteed.
[0004]
On the other hand, it is necessary to complete the inspection in as short a time as possible with respect to a printed portion on which electronic components are mounted such that soldering is easy and printing accuracy is not so important. For this reason, in the print inspection, it is desirable that a flexible inspection form is possible according to the characteristics of the electronic component mounted on the target board and the inspection time allowed in the solder printing process.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the conventional solder printing, it is difficult to accurately predict the time required for the print inspection at the site where the printing operation is performed, and the range of the print inspection required to secure the printing accuracy is limited to the allowable inspection. I couldn't make a balanced decision in relation to time. If the estimated time is shorter than the actual required time, the print inspection may take more time than planned to reduce productivity, and conversely, if the predicted time is longer than the actual required time, The accuracy level was unnecessarily reduced by excluding the inspectable range from the inspection target.
[0006]
Therefore, an object of the present invention is to provide a print inspection simulation apparatus and a simulation method that can appropriately predict the required time of a print inspection performed in various inspection modes.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The print inspection simulation apparatus according to claim 1, wherein a simulation operation for estimating a required time for the execution of the print inspection is performed prior to the execution of the print inspection for inspecting the print state of the cream solder printed on the substrate. An apparatus, wherein element shape and position data indicating a shape and a position of an element solder printing portion printed on an electrode for electronic component bonding provided on a circuit forming surface of the substrate are grouped for each inspection imaging visual field and inspected. Test data storage means for storing test data with priorities created by prioritizing according to priority conditions, an operation time library for storing operation time data required for the simulation calculation, Calculating means for performing the simulation calculation based on the application data and the operation time data; And display means for displaying the Interview configuration operation result.
[0008]
The print inspection simulation apparatus according to claim 2 is the print inspection simulation apparatus according to claim 1, wherein the inspection priority condition is determined based on a specified geometric range on a print surface of the substrate. Is done.
[0009]
A print inspection simulation apparatus according to a third aspect is the print inspection simulation apparatus according to the first aspect, wherein the inspection priority condition is determined based on an attribute of the electronic component.
[0010]
A print inspection simulation device according to claim 4, wherein the simulation result is obtained by repeatedly executing the simulation operation in accordance with an inspection priority. Is compared with the inspection execution permissible time, thereby providing optimum inspection data creating means for creating optimal execution data in actual print inspection.
[0011]
6. The print inspection simulation method according to claim 5, wherein a simulation operation for estimating a required time for the execution of the print inspection is performed prior to the execution of the print inspection for inspecting the printing state of the cream solder printed on the substrate. A method, wherein element shape and position data indicating the shape and position of an element solder printed portion printed on an electrode for bonding electronic components provided on a circuit forming surface of the substrate are grouped for each inspection imaging visual field and inspected. An inspection data storing step of storing inspection data with priorities created by prioritizing according to the priority condition; and a simulation operation stored in the inspection data with priorities and the operation time library. And an operation step of performing the simulation operation based on the operation time data.
[0012]
A print inspection simulation method according to claim 6, wherein the inspection priority condition is determined based on a specified geometric range on a print surface of the substrate. Is done.
[0013]
A print inspection simulation method according to a seventh aspect is the print inspection simulation apparatus according to the fifth aspect, wherein the inspection priority condition is determined based on an attribute of the electronic component.
[0014]
The print inspection simulation method according to claim 8, wherein the print inspection simulation method according to any one of claims 5 to 7, wherein the simulation result is obtained by repeatedly executing the simulation operation in accordance with an inspection priority. Is compared with the inspection execution allowable time to create optimal execution data in the actual print inspection.
[0015]
According to the present invention, a priority created by grouping element shape and position data indicating the shape and position of an element solder printed portion printed on an electrode for electronic component bonding for each inspection imaging visual field according to inspection priority order conditions Inspection data is stored, and based on the inspection data with priority and the operation time data stored in the operation time library, a simulation operation for estimating the required time of the print inspection is performed. The time required for the print inspection can be properly predicted in various inspection modes.
[0016]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a front view of a screen printing apparatus according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a side view of the screen printing apparatus according to one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a screen printing apparatus according to one embodiment of the present invention. FIG. 4 is a plan view of a substrate printing surface by a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a control system of the screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 6 is a diagram showing storage contents of a program storage unit and a data storage unit of the screen printing apparatus according to one embodiment of the present invention. FIG. 7 is an element of a solder printing unit of the screen printing apparatus according to one embodiment of the present invention. FIG. 8 is an explanatory diagram of shape / position data, FIG. 8 is an explanatory diagram of mounting data and a mask opening pattern of a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a print inspection data creating process according to an embodiment of the present invention. Flow of FIG. 10, FIG. 11, FIG. 12, FIG. 14, FIG. 15 are diagrams showing display screens of a print inspection simulation apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. It is a flowchart which shows a simulation method.
[0017]
First, the structure of the screen printing apparatus will be described with reference to FIGS. This screen printing apparatus is used not only as a printing mechanism for printing cream solder on a substrate on which electronic components are mounted, but also as a print inspection apparatus for determining the quality of a printed state and used in this print inspection, as described later. The configuration also has a function as a print inspection simulation device that creates print inspection data and performs a simulation operation for estimating the time required for execution of the print inspection.
[0018]
1 and 2, the substrate positioning unit 1 stacks a θ-axis table 4 on a moving table including an X-axis table 2 and a Y-axis table 3 and further arranges a Z-axis table 5 thereon. The Z-axis table 5 is provided with a substrate holder 7 for holding the substrate 6 sandwiched by the clampers 8 from below. The substrate 6 to be printed is carried into the substrate positioning unit 1 by the carry-in conveyor 14 shown in FIGS. By driving the substrate positioning unit 1, the substrate 6 moves in the X and Y directions, and is positioned at a printing position and a substrate recognition position described later. The printed substrate 6 is carried out by the carry-out conveyor 15.
[0019]
A screen mask 10 is provided above the substrate positioning unit 1, and the screen mask 10 is configured by mounting a mask plate 12 on a holder 11. The substrate 6 is positioned with respect to the mask plate 12 by the substrate positioning unit 1 and abuts from below. As shown in FIG. 4A, electrodes 6b, 6c, 6d, and 6e for joining different types of electronic components P1, P2, P3, and P4 are formed in the solder printing area 6a on the circuit forming surface of the substrate 6. Is provided.
[0020]
On the screen mask 10, a squeegee head 13 is disposed so as to be able to reciprocate in the horizontal direction. While the substrate 6 is in contact with the lower surface of the mask plate 12, the cream solder 9 is supplied onto the mask plate 12, and the squeegee 13a of the squeegee head 13 is brought into contact with the surface of the mask plate 12 to slide. The cream solder 9 is printed on the printing surface of the substrate 6 through the pattern holes 16 provided in the mask plate 12. As a result, as shown in FIG. 4B, element solder printed portions S1, S2, S3, and S4 are formed on the electrodes 6b, 6c, 6d, and 6e, respectively.
[0021]
Above the screen mask 10, a camera 20, which is an imaging unit, is provided. As shown in FIG. 3, the camera 20 is horizontally moved in the XY directions by the X-axis table 21 and the Y-axis table 22. The X-axis table 21 and the Y-axis table 22 are camera moving means for moving the camera 20. The camera 20 captures an arbitrary position on the mask plate 12 by moving the camera 20 with respect to the mask plate 12 by the camera moving unit.
[0022]
As shown in FIG. 2, the substrate positioning unit 1 can move the held substrate 6 from below the screen mask 10 in the Y direction by the Y-axis table 3 to the substrate recognition position. By moving the camera 20 to the substrate 6 on the substrate positioning section 1 in this state, an arbitrary position on the substrate 6 can be imaged by the camera 20.
[0023]
Next, a configuration of a control system of the screen printing apparatus will be described with reference to FIG. In FIG. 5, a calculation unit 25 is a CPU, and executes various programs stored in a program storage unit 26 to perform various calculations and processes described later. In these calculations and processes, various data stored in the data storage unit 27 are used.
[0024]
The operation / input unit 28 is input means such as a keyboard and a mouse, and inputs various control commands and data. The communication unit 29 exchanges data with other devices constituting an electronic component mounting line together with the screen printing device. The image processing unit 30 performs image processing of the image data obtained by the camera 20 to thereby recognize a solder printing unit for print inspection and detect a mask opening for creating print inspection data, as described later.
[0025]
The mechanism control unit 31 controls a camera moving unit that moves the camera 20 and a squeegee moving unit that moves the squeegee head 13. The display unit 32 is a display device that displays an image acquired by the camera 20, an operation screen in a print inspection data creation process described later, a determination result of the print inspection, a simulation calculation result described later, and the like. It has become.
[0026]
Next, a program and data stored in the program storage unit 26 and the data storage unit 27 will be described with reference to FIG. The program storage unit 26 stores a printing operation program 26a, an image processing program 26b, a printing quality determination program 26c, a grouping processing program 26d, a simulation execution program 26e, and an optimization calculation program 26f.
[0027]
The printing operation program 26a is a program for a printing operation for printing the cream solder 9 on the substrate 6 by controlling the operations of the substrate positioning unit 1 and the squeegee head 13. The image processing program 26b is a program for the image processing unit 30 to perform the following two types of processing based on the imaging result of the camera 20.
[0028]
First, by performing recognition processing on an imaging result obtained by imaging the substrate 6 after printing, element solder printing portions (see FIG. 4B) formed on each electrode of the substrate 6 are detected, and each element solder printing portion is detected. Calculate the area. In addition, by performing a recognition process on an imaging result obtained by imaging the mask plate 12, a process of obtaining mask opening data indicating the position and shape of each pattern hole 16 provided in the mask plate 12 is performed. This mask opening data is used as inspection data for print inspection.
[0029]
The print quality determination program 26c compares the area of the element solder printing part calculated by the image processing unit 30 with a previously stored inspection threshold value to determine the quality of the printing state for each element solder printing part. That is, the function realized by the image processing unit 30 and the arithmetic unit 25 executing the print quality determination program 26c is a function of determining the quality of the print state based on the imaging result of the board and the inspection data necessary for performing the print inspection. And a print determination unit for performing the determination.
[0030]
The grouping processing program 26d performs a process of grouping individual element position / shape data indicating the position and shape of each element solder printing unit in accordance with a specific grouping condition when creating inspection data used for print inspection. It is a program to do. That is, the function realized by the execution of the grouping processing program 26d by the arithmetic unit 25 is a grouping unit that classifies the element shape / position data according to the grouping condition and classifies them into data groups to specify each data group. It has become.
[0031]
The simulation execution program 26e is a program that performs a simulation operation for estimating a required time for executing the print inspection before executing the print inspection for inspecting the printing state of the cream solder 9 printed on the substrate 6. The function realized by the calculation unit 25 executing the simulation execution program 26e is a calculation unit that performs a simulation calculation.
[0032]
The optimization operation program 26f compares an operation result obtained by repeatedly executing the above-described simulation operation in accordance with the inspection priority with a given inspection execution allowable time, thereby executing an optimal execution in an actual print inspection. This is a program for creating data. The function realized by the execution of the optimization calculation program 26f by the calculation unit 25 constitutes an optimum inspection data creation unit.
[0033]
The data storage unit 27 stores mounting data 27a, component data library 27b, mask opening data library 27c, operating time library 27d, inspection data 27e with priority, and execution data 27f. Among these data, the mounting data 27a, the component data library 27b, the mask opening data library 27c, and the operating time library 27d are transferred from another device such as a data management computer via the communication unit 29 and stored.
[0034]
The mounting data 27a is data used in a mounting operation of mounting the electronic component on the board after the cream solder printing, that is, data relating the type of the mounted electronic component to the mounting position coordinates on the board. The component data library 27b is data on individual electronic components mounted on the board. The component data library 27b includes attribute codes indicating the component codes of the electronic components, the required precision in the mounting operation, the difficulty in solder printing for soldering, and the like. The numerical data includes numerical data representing the shape / size and the component-specific opening patterns (see 33A, 33B, 33C, and 33D shown in FIG. 8) indicating the arrangement of the element solder printing portions at the time of soldering.
[0035]
By the mounting data 27a and the component data library 27b, the individual pattern holes 16 of the mask plate 12 and the electronic components corresponding to the solder printing portions printed via these pattern holes can be associated on data, which will be described later. As described above, in the creation of print inspection data, various types of data are linked to each other to make the data creation process more efficient.
[0036]
The mask opening data library 27c stores numerical data indicating the opening position and size of the pattern holes 16 of the mask plate 12 used for printing for various types of mask opening data, and mask opening data associated with each mask plate. Is given in advance. That is, in the example of the mask plate 12 shown in FIG. 7, data on each of the pattern holes 16a to 16d is given. For example, for the pattern hole 16c, dimensions a and b indicating the pattern hole size and each pattern hole with respect to the reference origin are provided. The position coordinate values x1, x2, x3, ..., y1, y2, ... of 16c are given in the form of numerical data. The same applies to other pattern holes.
[0037]
As will be described later, this mask opening data is used as element position / shape data indicating the position / shape of the element solder printing portions (S1 to S4) shown in FIG. Therefore, the data storage unit 27 including the mask opening data library 27c is a data providing unit that provides element shape / position data indicating the shape and position of the element solder printing unit.
[0038]
As described above, since the data indicating the opening position and the opening size of the pattern hole can also be obtained by imaging the mask plate 12 with the camera 20, the required mask opening data is stored in the mask opening data library 27c. If not included, data similar to the data shown in FIG. 7 can be obtained using the actual mask plate 12. In this case, the camera 20 and the image processing unit 30 serve as data providing means for providing element shape / position data acquired based on mask opening data detected from the mask plate 12 used for screen printing.
[0039]
Further, as a method of obtaining the element shape / position data, a method of combining the mounting data 27a and the data included in the component data library 27b may be adopted. That is, as shown in FIG. 8, mounting points M1, M2A, M2B, M3, and M4 indicating mounting positions of the electronic components P1, P2, P3, and P4 are obtained from the mounting data 27a. By overlaying the component-specific opening patterns 33A, 33B, 33C, and 33D of the library 27b, numerical data equivalent to mask opening data can be obtained.
[0040]
The operation time library 27d provides data on the element operation time on which the simulation operation is based. That is, library data for calculating the time required for imaging and image recognition in one imaging visual field (recognition required time) and the time required for moving from one imaging visual field to the next imaging visual field (moving time) are stored. In the simulation calculation, the time required for executing the print inspection is calculated by adding the element operation times for each of the imaging visual fields.
[0041]
The prioritized inspection data 27e is created by grouping element shape / position data indicating the shape and position of the element solder printing unit shown in FIG. 4 for each inspection imaging visual field and prioritizing according to inspection priority conditions. Inspection data. When the print inspection is performed, the inspection is performed according to the priority shown in the inspection data 27e with priority in principle. The data storage unit 27 is an inspection data storage unit that stores inspection data with priority.
[0042]
The execution data 27f is inspection data that is actually used in a post-print inspection that is performed subsequent to the solder printing, and is performed by specifying a range to be inspected based on a result of a simulation operation as described later. The inspection data corresponding to the inspection range is stored in the data storage unit 27 as the execution data 27f.
[0043]
This screen printing apparatus is configured as described above. Next, a print inspection data creation process will be described with reference to the drawings according to the flow of FIG. This data creation process is used in a print inspection apparatus that inspects the printed state of the cream solder on the board after screen printing, and the shape indicating the shape and position of the solder printed portion formed by printing the cream solder on the printing surface・ Create inspection data including position data.
[0044]
First, in FIG. 9, mask aperture data is read (ST1). As a result, on the operation screen 40 for data creation processing displayed on the display unit 32, an opening pattern indicating the arrangement of the openings in the printing range 12a of the mask plate 12 is displayed. These openings correspond to element shape / position data indicating the shape and position of the element solder printing portion formed on each electrode on the circuit formation surface.
[0045]
Here, as the mask opening data, when the mask opening data corresponding to the target mask plate 12 is stored in the mask opening data library 27c of the data storage unit 27, this library data is used. If the library data has not been obtained, a process of creating equivalent mask opening data from the mounting data 27a and the component data library 27b is performed. Further, if the mounting data 27a and the component data library 27b are not yet obtained, the opening is detected from the image data obtained by imaging the mask plate 12 as described above, and is used as the element shape / position data. Data generation processing is performed.
[0046]
Next, the element shape / position data corresponding to each of the displayed pattern holes is classified into data groups by grouping according to grouping conditions, and a grouping process for specifying each data group is performed (ST2). In this grouping process, individual element shape / position data is grouped into a data group by associating the openings displayed on the operation screen 40 in accordance with a predetermined grouping condition. It is done automatically.
[0047]
Here, a group condition selection wizard 41 displayed on the operation screen 40 shown in FIG. 11 selects one of the three grouping conditions, that is, one of the grouping conditions by the component unit 42a, the attribute designation 42b, and the range designation 42c. You can do it. This selection is performed by a check frame 43 provided for each option.
[0048]
When the component unit 42a is selected, the grouping condition is determined so that each of the electronic components mounted on the board 6 is included in one group. That is, as shown in FIG. 12A, pattern holes 16a, 16b, 16c corresponding to electrodes (see FIG. 4) provided for soldering the four electronic components P1, P2, P3, P4, respectively. 16d is surrounded by grouping frames 45a, 45b, 45c, and 45d, whereby element shape and position data corresponding to individual pattern holes are classified into data groups in units of electronic components. The data group is specified by each electronic component (P1, P2,...).
[0049]
When the attribute designation 42b is selected, the grouping condition is determined based on the attribute of the electronic component. That is, of all the electronic components to be mounted, only the electronic components having the attribute specified by being input to the designated input frame 44 are to be grouped. When the range specification 42c is selected, the grouping condition is determined based on the geometric range on the printing surface of the board specified on the operation screen. The attribute specification and range specification will be described later.
[0050]
In this way, when the grouping processing is completed, the inspection imaging visual field is set (ST3). Here, a description will be given of the setting of the imaging field of view for inspection when the components are classified in units of parts by the grouping process. That is, on the screen in which the pattern holes are grouped for each of the electronic components (P1, P2,...), As shown in FIG. 12B, the holes are located at positions surrounding the grouping frames 45a, 45b, 45c, and 45d, respectively. The inspection imaging visual fields 46a, 46b, 46c, 46d are set. At this time, depending on the size of the grouping frame, a plurality of grouping frames may be surrounded by one imaging field of view for inspection.
[0051]
Next, prioritization in inspection execution is performed (ST4). That is, the priority of inspection execution is determined for each of the set imaging visual fields for inspection in consideration of the characteristics of the electronic components, and the relative order is set. Then, as shown in FIG. 12C, priority is given to the grouping frames 45a, 45b, 45c, and 45d. Here, an example is shown in which priorities [1], [2], [3], and [4] are assigned in the order of the grouping frames 45d-45c-45a-45b. The inspection data 27e with priority thus created is stored in the data storage unit 27 (inspection data storage step).
[0052]
Next, based on the inspection data 27e with priority and the operation time library 27d, a simulation operation for calculating the time required for the execution of the inspection is performed (calculation step). The calculation contents of the simulation will be described with reference to the flow of FIG. First, the inspection execution allowable time is input (ST11). As a result, in the electronic component mounting line, the time allowed for inspection per printed board is determined.
[0053]
Next, the inspection data 27e with priority is read from the data storage unit 27 (ST12). Thereafter, the required time for recognition of the imaging field of view of the first priority is calculated (ST13). In the example shown in FIG. 12, first, the recognition required time is calculated with reference to the operation time library 27d for the inspection imaging visual field 46d, and then whether the accumulated time of the calculated time does not exceed the allowable time is determined. Is determined (ST14).
[0054]
Here, if the accumulated time does not exceed the allowable time, the required recognition time for the next priority order imaging field of view and the movement time from the previous imaging field of view are calculated (ST15) and added to the accumulated time (ST16). . Thereafter, returning to (ST14), it is determined whether or not the accumulated time has exceeded the allowable time, and the same calculation is repeated thereafter. If it is determined in (ST14) that the accumulated time has exceeded the allowable time, the simulation result is displayed (ST17).
[0055]
That is, as shown in FIG. 14, the operation screen 40 displays a screen in which pattern holes are grouped for each electronic component. On this display screen, as a result of the simulation, only the groups (groups corresponding to the electronic components P1, P3, and P4) for which it is determined that the inspection can be performed within the permissible time are highlighted as the inspection execution targets and are not highlighted. The group (the group corresponding to the electronic component P2) indicates that the group has been excluded from the inspection execution target due to the restriction of the allowable time. Along with the display regarding the inspection target range, the predicted tact time obtained by the simulation is displayed in the display column 47.
[0056]
Then, the result of the simulation is confirmed, and if there is no problem, the confirmation switch 48 is operated. As a result, a data group belonging to the group to be inspected is determined as execution data, transferred to the data storage unit 27, and stored as execution data 27f. That is, in the above-described simulation processing, a form in which the optimum execution data in the actual print inspection is created by comparing the operation result obtained by repeatedly executing the simulation operation in accordance with the inspection priority and the inspection execution allowable time. It has become.
[0057]
If there is any doubt about the simulation result and it is desired to change the conditions and execute again, the re-execution switch 49 is operated. At the time of this re-execution, an allowable time change 50 and a priority change 51 can be selected. That is, if there is a data group that is excluded from the inspection execution target by slightly exceeding the allowable time input in advance, the re-simulation is performed under the condition that the allowable time is extended by the excess. When it is determined that a more preferable inspection mode can be realized by partially changing the priority, the simulation is performed after the priority is partially replaced.
[0058]
In the inspection data creation of FIG. 9, if the type of electronic component to be inspected with priority is specified in advance, or if it is desired to execute inspection only for a specific range in the board, grouping is performed. In the process (ST2), an attribute designation 42b and a range designation 42c are selected. Since the purpose of the simulation in this case is to find the predicted tact time, the inspection execution allowable time is merely a reference time, and a time that allows a margin is input in the simulation.
[0059]
FIG. 15A shows an example of the attribute designation 42b. Here, “QFP” is previously selected as the type of electronic component whose inspection is to be preferentially performed, and the type “QFP” of the electronic component is designated as an attribute. Thus, only the pattern hole 16d corresponding to the electronic component P4 corresponding to the type is surrounded by the grouping frame 45d. When there are a plurality of corresponding electronic components P4, a plurality of grouping frames 45d are set.
[0060]
Then, an inspection field of view surrounding this grouping frame 45d is set, and the same priority [1] is given to all of these inspection field of view. That is, in this example, the inspection priority order condition is determined based on the attribute of the electronic component. Then, by executing a simulation using the inspection data with priority created under these conditions, it is possible to obtain an estimated tact time when a print inspection is performed only for a specific type.
[0061]
FIG. 15B shows an example in which the range designation 42c is selected. Here, the range in which the inspection is to be performed is specified in advance on the board, and as shown in FIG. 13C, a grouping frame that surrounds only the range in which the inspection is to be performed by a pointing device such as a mouse on the operation screen. 45e is set. Then, a plurality of imaging fields of view for inspection are set in the grouping frame 45e, and all the imaging fields of view for inspection are given the same priority [1].
[0062]
That is, in this example, the inspection priority condition is determined based on the specified geometric range on the printed surface of the board. Then, by performing a simulation using the inspection data with priority created under these conditions, it is possible to obtain an estimated tact time when the print inspection is performed only for a specific range in the substrate.
[0063]
As described above, in the print inspection simulation according to the present embodiment, prioritized inspection data created by grouping unit shape / position data for each inspection imaging visual field in accordance with the inspection priority condition is created in advance. It is intended to be. This makes it possible to accurately predict the time required for print inspection in various inspection modes at the production site where the printing operation is performed. Therefore, it is possible to appropriately predict the time required for the print inspection performed in various inspection modes, and to determine the execution range of the print inspection necessary for securing the printing accuracy in relation to the allowable inspection time. Can be determined in a well-balanced manner.
[0064]
In this embodiment, the simulation is performed by a screen printing apparatus having a print inspection simulation function. However, a dedicated print inspection simulation apparatus is provided independently of the screen printing apparatus. Even in such a case, the structure described in this embodiment can be applied.
[0065]
【The invention's effect】
According to the present invention, a priority created by grouping element shape and position data indicating a shape and a position of an element solder printed portion printed on an electrode for electronic component bonding for each inspection imaging visual field according to an inspection priority order condition Inspection data with attached data is stored, and a simulation operation for estimating the required time for print inspection is performed based on the inspection data with priority and the operation time data stored in the operation time library. Therefore, the time required for the print inspection can be properly predicted in various inspection modes.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view of a screen printing apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a side view of the screen printing apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a plan view of the screen printing apparatus according to the embodiment of the present invention;
FIG. 4 is a plan view of a substrate printing surface by the screen printing apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration of a control system of the screen printing apparatus according to the embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram illustrating storage contents of a program storage unit and a data storage unit of the screen printing apparatus according to the embodiment of the present invention;
FIG. 7 is an explanatory diagram of element shape / position data of an element solder printing unit of the screen printing apparatus according to the embodiment of the present invention;
FIG. 8 is an explanatory diagram of mounting data and a mask opening pattern of the screen printing apparatus according to the embodiment of the present invention;
FIG. 9 is a flowchart of print inspection data creation processing according to an embodiment of the present invention;
FIG. 10 is a flowchart of print inspection data creation processing according to an embodiment of the present invention;
FIG. 11 is a diagram showing a display screen of the print inspection simulation apparatus according to the embodiment of the present invention;
FIG. 12 is a diagram showing a display screen of the print inspection simulation apparatus according to the embodiment of the present invention;
FIG. 13 is a flowchart showing a print inspection simulation method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 14 is a diagram showing a display screen of the print inspection simulation apparatus according to the embodiment of the present invention;
FIG. 15 is a diagram showing a display screen of the print inspection simulation apparatus according to the embodiment of the present invention;
[Explanation of symbols]
1 Board positioning section
6 substrate
6b, 6c, 6d, 6e electrodes
9 cream solder
12 Mask plate
13 Squeegee head
16, 16a, 16b, 16c, 16d Pattern hole
20 cameras
25 Arithmetic unit
26 Program storage
26b Image processing program
26c Print quality judgment program
26d Grouping processing program
26e Simulation execution program
26f optimization operation program
27 Data storage unit
27c Mask Aperture Data Library
27d operating time library
27e Prioritized inspection data
27f Execution data
30 Image processing unit

Claims (8)

基板に印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査の実行に先だって印刷検査実行の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行う印刷検査のシミュレーション装置であって、前記基板の回路形成面に設けられた電子部品接合用の電極に印刷される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査用撮像視野毎に括るとともに検査優先順位条件に従って優先順位付けして作成された優先順位付き検査用データを記憶する検査用データ記憶手段と、前記シミュレーション演算に必要な動作時間データを記憶する動作時間ライブラリと、前記優先順位付き検査用データと前記動作時間データとに基づいて前記シミュレーション演算を行う演算手段と、シミュレーション演算結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする印刷検査のシミュレーション装置。A print inspection simulation apparatus for performing a simulation operation for estimating a required time of the print inspection execution prior to the execution of the print inspection for inspecting the print state of the cream solder printed on the substrate, wherein the simulation operation is performed on a circuit forming surface of the substrate. Element shape and position data indicating the shape and position of the element solder printed portion to be printed on the provided electrodes for joining electronic components are created for each inspection imaging field of view and prioritized according to inspection priority conditions. An inspection data storage unit for storing inspection data with priority, an operation time library for storing operation time data required for the simulation operation, and the inspection data based on the inspection data with priority and the operation time data. Computing means for performing a simulation computation, and display means for displaying a simulation computation result Simulation device for a printing inspection, characterized in that. 前記検査優先順位条件は、前記基板の印刷面において指定された幾何学的範囲に基づいて決定されることを特徴とする請求項1記載の印刷検査のシミュレーション装置。The print inspection simulation apparatus according to claim 1, wherein the inspection priority condition is determined based on a geometric range specified on a printing surface of the substrate. 前記検査優先順位条件は、前記電子部品の属性に基づいて決定されることを特徴とする請求項1記載の印刷検査のシミュレーション装置。The print inspection simulation apparatus according to claim 1, wherein the inspection priority condition is determined based on an attribute of the electronic component. 前記シミュレーション演算を検査優先順位に従って反復実行することによって得られた演算結果を検査実行許容時間と比較することにより、実際の印刷検査における最適な実行用データを作成する最適検査用データ作成手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の印刷検査のシミュレーション装置。An optimal inspection data creating unit that creates optimal execution data in an actual print inspection by comparing an operation result obtained by repeatedly executing the simulation operation according to the inspection priority with an inspection execution allowable time. 4. The printing inspection simulation apparatus according to claim 1, wherein: 基板に印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する印刷検査の実行に先だって印刷検査実行の所要時間を予測するためのシミュレーション演算を行う印刷検査のシミュレーション方法であって、前記基板の回路形成面に設けられた電子部品接合用の電極に印刷される要素半田印刷部の形状および位置を示す要素形状・位置データを検査用撮像視野毎に括るとともに検査優先順位条件に従ってって優先順位付けして作成された優先順位付き検査用データを記憶する検査用データ記憶工程と、前記優先順位付き検査用データと動作時間ライブラリに記憶された前記シミュレーション演算に必要な動作時間データとに基づいて前記シミュレーション演算を行う演算工程とを含むことを特徴とする印刷検査のシミュレーション方法。A printing inspection simulation method for performing a simulation calculation for estimating a required time of the printing inspection prior to the execution of the printing inspection for inspecting a printing state of the cream solder printed on the substrate, the method comprising: Element shape and position data indicating the shape and position of the element solder printed part printed on the provided electrodes for joining electronic components are created for each inspection imaging field of view and prioritized according to inspection priority conditions An inspection data storing step of storing the assigned inspection data with priority, and the simulation calculation based on the operation data required for the simulation calculation stored in the inspection data with priority and the operation time library. And a calculation step for performing the simulation. 前記検査優先順位条件は、前記基板の印刷面において指定された幾何学的範囲に基づいて決定されることを特徴とする請求項5記載の印刷検査のシミュレーション方法。6. The print inspection simulation method according to claim 5, wherein the inspection priority condition is determined based on a specified geometric range on a printing surface of the substrate. 前記検査優先順位条件は、前記電子部品の属性に基づいて決定されることを特徴とする請求項5記載の印刷検査のシミュレーション方法。The print inspection simulation method according to claim 5, wherein the inspection priority condition is determined based on an attribute of the electronic component. 前記シミュレーション演算を検査優先順位に従って反復実行することによって得られた演算結果を検査実行許容時間と比較することにより、実際の印刷検査における最適な実行用データを作成することを特徴とする請求項5乃至7のいずれかに記載の印刷検査のシミュレーション方法。6. An optimum execution data in an actual print inspection is created by comparing an operation result obtained by repeatedly executing the simulation operation according to an inspection priority with an inspection execution allowable time. 8. The print inspection simulation method according to any one of claims 1 to 7.
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