JP2004053578A

JP2004053578A - 光学式物体識別装置および処理システムおよび搬送処理システム

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Publication number: JP2004053578A
Application number: JP2003035028A
Authority: JP
Inventors: Hisakazu Sugiyama; 椙山　尚和; Akishi Yamaguchi; 山口　陽史
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 2002-05-29
Filing date: 2003-02-13
Publication date: 2004-02-19
Anticipated expiration: 2023-02-13
Also published as: JP4033781B2; US20030230703A1

Abstract

【課題】簡単な構成と信号処理で、記録媒体等の物体に触れることなくその種類を精度よく識別できる低コストな光学式物体識別装置および処理システムおよび搬送処理システムを提供する。
【解決手段】発光素子１０から発せられた光をコリメートレンズ１１によりコリメートした後、対物レンズ１２により集光して、所定の方向に移動する被検出物９に照射することにより被検出物９上に所定のスポット径を有する光スポット１８を形成する。上記光スポット１８内の少なくとも一部の領域から反射した光を受光レンズ１４により集光し、その集光された光が受光素子１６に入射する。そして、上記受光素子６の出力波形の振幅および出力レベルに基づいて、被検出物９である物体の種類を演算処理回路部１７により識別する。
【選択図】　図１

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光学式物体識別装置および処理システムおよび搬送処理システムに関し、特に、印刷用紙等の紙類や樹脂フィルムおよびシート等の種類を識別する光学式物体識別装置およびその光学式物体識別装置を用いた複写機や印刷機等の処理システムおよび搬送処理システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
記録媒体を搬送しながら処理を行う複写機や印刷機は、高機能化、高速処理化、高解像度化が進んでおり、使用する記録媒体も普通紙、光沢紙、ＯＨＰ（オーバーヘッドプロジェクター）シート等さまざまである。このように多種多様な記録媒体に画像記録装置である印刷機、とりわけインクジェット記録方式の印刷機では、記録媒体の種類によるインクの浸透速度や乾燥時間の違いに対応した高品位な画像を形成するには、記録媒体に応じた記録制御を行う必要がある。
【０００３】
従来の印刷用紙等の紙類や樹脂フィルムおよびシート等の記録媒体を検出する方法には、
（１）　記録媒体が搬送部に挿入されたときに接触子等の変位量の変化により記録媒体の種類検出を行う機械的検出方法。
【０００４】
（２）　発熱体を記録媒体に当てて、記録媒体の熱の変化または発熱体自体の熱の変化により記録媒体種類検出を行う熱的検出方法。
【０００５】
（３）　発光素子と受光素子を備え、発光素子の光を記録媒体に照射し、用紙からの反射光量の変化により用紙種類検出を行う光学的検出方法。
がある。
【０００６】
上記光学的検出方法による光学式物体識別装置として、図１５に示すように、用紙５１に対する発光素子５３ａ（５３ｂ）および受光素子５２の配置角度による受光素子５２の出力の変化により用紙の種類を識別するものがある（例えば、特許文献１参照）。
【０００７】
また、他の光学的検出方法による光学式物体識別装置として、図１６に示すように、受光部に二次元光検出アレイであるＣＣＤやＣＭＯＳなどのイメージセンサにより二次元の画像処理を行うことで用紙識別を行うものがある（例えば、特許文献２参照）。図１６において、６１はセンサ要素、６２は結像光学装置、６３は小孔、６４は照明源、６５は照明光学装置、６６は振幅ビームスプリッタ、６７は照明光学装置、６８は照明源、６９は記録媒体、７０は照明光学装置、７１は照明源である。
【０００８】
また、他のもう１つの光学的検出方法による光学式物体識別装置として、所定の色素または蛍光物質を含む検出液を記録媒体に浸透させ、その部分に上記色素または蛍光物質が吸収する波長域を有する光を照射し、反射された反射光強度の測定および赤外線を照射し、反射光の赤外線吸収スペクトルを測定することで記録媒体の種類を検出するものもある。
【０００９】
【特許文献１】
特開平１０−１９８１７４号公報
【特許文献２】
特開２０００−３０１８０５号公報
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記機械的検出方法および熱的検出方法では、記録媒体に接触する必要があり、搬送されている記録媒体の動きを妨げる恐れがあると同時に記録媒体の形状変化を引き起こす可能性がある。また、接触部の磨耗による劣化のために誤検知する恐れもある。
【００１１】
また、上記光学的検出方法では、検出精度を上げるには、配置角度の異なる複数の発光素子または受光素子を必要とするため、部品点数が多くなって構成が複雑になりコストが高くなる。また、上記光学的検出方法では、受光部にイメージセンサを用いたものは、処理が複雑であり、識別精度を上げれば上げるほど判定する要素を増やさねばならず、さらに複雑となるばかりか素子も高額となると共に、発光素子および受光素子の配置角度調整に注意を払わなければならない。加えて、装置の構成を複数の発光素子と１つの受光素子にした場合は、各々の発光素子の発光タイミングをずらす必要があるために信号処理が複雑となる。
【００１２】
また、検出液を浸透させてその部分からの反射光を測定する方法では、記録媒体に色素変化や汚れを与える可能性がある。加えて、検出液を浸透させる手段が必要となり、装置が大型化するとともに赤外線吸収スペクトルを測定するには、受光部の構成および信号処理が複雑となる。
【００１３】
そこで、この発明の目的は、簡単な構成と信号処理で、記録媒体等の物体に触れることなくその種類を精度よく識別できる低コストな光学式物体識別装置および処理システムおよび搬送処理システムを提供することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、この発明の光学式物体検出装置では、発光素子（望ましくは半導体レーザ素子）から発せられる光を光学系により集光し、所定の方向に移動する被検出物に照射することで、被検出物上に所定のスポット径を有する光スポットを形成する。この光スポットの大きさは１０μｍ〜１００μｍ程度（望ましくは１０μｍ〜５０μｍ）であり、この光スポット内の少なくとも一部の領域から反射した光を上記光学系を介して集光した後、受光素子に入射させる。上記光学系は、望ましくはコリメートレンズと対物レンズ（または１枚の組み合わせレンズ）および受光レンズで構成する。
【００１５】
以上の構成により被検出物が移動すると、受光素子で検出される信号は被検出物の材質および表面の状態（凹凸のレベル）により振幅に差異が生じると共に、出力レベル（出力の平均値等）にも差異が現れる。このため、この振幅と出力レベルを測定し、電気回路上の処理を行うことで被検出物である物体の種類を検出することができる。したがって、簡単な構成と信号処理で、記録媒体等の物体に触れることなくその種類を精度よく識別できると共に、コストダウンができる。
【００１６】
上記構成において、受光素子の前にピンホールを配置すれば、光スポットを数十μｍ程度まで絞らなくても、被検出物の限られた領域からの反射光を受光素子が受光し、被検出物の凹凸レベルを精度よく検出できる。
【００１７】
上記被検出物に照射される光の光軸が被検出物の平面に対して略垂直にすることによりスポットサイズの変動を小さくすることができ、被検出物の表面の凹凸レベルの検出精度を向上できる。
【００１８】
また、反射光を集光するとき、この光軸を照射側の光軸と同軸となるようにすれば小型化できる。さらに照射側、反射側とも光軸が略垂直であれば受光素子での検出が正反射光の検出となりＳ／Ｎ比（信号対雑音比）が向上し、被検出物の種類の識別精度が向上する。例えば、上記被検出物の照射側の光軸と反射側の光軸を被検出物の平面に対して略垂直にするためには、ビームスプリッタまたは回折格子等でどちらかの光軸を所定の角度に回転させる。
【００１９】
加えて、上記ピンホールのサイズを直径１０μｍ〜５０μｍにすれば、光スポットの大きさがある程度ばらついても限られた領域からの反射光を受光することができ、被検出物の表面の凹凸レベルの平均化を防ぐことができ、検出精度が上がる。上記ピンホールの直径が５０μｍよりも大きいと、被検出物の広範囲からの反射光により表面状態を読み取ることになるので、表面の凹凸の情報が平均化されて位置による差が小さくなり、真の表面状態を読み取れないことになる。一方、ピンホールの直径が１０μｍよりも小さいと、表面状態は精密に読み取れるが、あまり小さいと光量が不足して適当な信号が得られない。
【００２０】
これら光学部品を所定の位置関係に保持するケースが必要になるが、このケースに上記被検出物を案内するガイドを設けることによって、被検出物が光学系から所定の距離で通過するようにする。
【００２１】
また、被検出物を移動させながら所定の処理を行う搬送処理システムの被検出物移動経路に光学式物体識別装置を用いることで、被検出物が移動すると被検出物の種類が検出でき、この情報を処理装置に送ることで被検出物の種類別に所定の処理を行うことができる。
【００２２】
さらに、上記発光素子，受光素子および光学系を２組み、被検出物の移動方向に平行な直線上に所定の間隔をあけて配置する。このとき、被検出物の移動に伴う２つの受光素子の出力波形は、一方の波形よりも他方の波形が時間的に遅れた形になり、この遅れを電気回路上の処理をすることで被検出物の移動速度が測定できる。すなわち、被検出物上の２つの光スポット間の距離と上記遅れを表す時間差に基づいて、被検出物の移動速度が求まる。
【００２３】
加えて、光学式物体識別装置を用いて測定した被検出物の移動速度を搬送系にフィードバックして被検出物の速度を一定に保つことや、搬送を行いながら被検出物になんらかの処理をするとき、その処理のタイミングにフィードバックして、被検出物への処理を所定の位置で被検出物の種類別の処理を行える搬送処理システムも可能である。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の光学式物体識別装置および処理システムおよび搬送処理システムを図示の実施の形態により詳細に説明する。
【００２５】
（第１実施形態）
図１はこの発明の第１実施形態の光学式物体識別装置の概略構成図であり、９は被検出物、１０は発光素子（望ましくは半導体レーザ素子）、１１はコリメートレンズ、１２は対物レンズ、１４は受光レンズ、１６は受光素子、１７は上記受光素子１６からの信号を受けて、被検出物９の種類を識別する識別部の一例としての演算処理回路部である。上記コリメートレンズ１１，対物レンズ１２および受光レンズ１４で光学系を構成している。
【００２６】
図１に示すように、発光素子１０から発せられる光をコリメートレンズ１１でコリメートした後、対物レンズ１２により集光された光を被検出物９に照射し、所定の方向に移動する被検出物９上に光スポット１８を形成する。このとき、図２に示す１枚の組み合わせレンズ７で光スポットを形成することもできる。この光スポット１８より反射する光はあらゆる方向に進むが、受光レンズ１４で集光されて受光素子１６に入射する光は、被検出物９上の限られた領域（光スポット１８内の少なくとも一部の領域）から反射されたものである。
【００２７】
ここで、図１に示す被検出物９上の光スポット１８の領域の大きさは、直径１０μｍ〜１００μｍ程度である。上記光スポット１８の大きさが１０μｍより小さい場合は、受光素子１６に入射する光量が少なく十分な出力が得られない。また、上記光スポット１８の大きさが１００μｍより大きい場合は、被検出物９の表面状態を平均化した信号を受けることになるので、絶対量は大きいがＳ／Ｎ比の悪い信号となってしまう。
【００２８】
上記構成の光学式物体識別装置において、被検出物９が移動すると、受光素子１６で検出される信号は、被検出物９の材質および表面の状態（凹凸のレベル）により振幅に差異が生じる。また、受光素子１６で検出される信号の出力レベルにも差異が現れるため、この振幅と出力レベルを測定して電気回路上の処理を行うことで被検出物９の種類を検出することができる。
【００２９】
図３は照射側の被検出物への入射角度が垂直な場合とそうでない場合の例である。図３（ｂ）のように角度が垂直でない場合は、角度θが小さくなるにしたがってＤ−Ｄ’、Ｅ−Ｅ‘、Ｆ−Ｆ’のように被検出物表面の位置により光スポットサイズの差異が大きくなってしまうが、図３（ａ）の角度が垂直な場合はＡ−Ａ‘、Ｂ−Ｂ’、Ｃ−Ｃ‘のように被検出物表面の位置では光スポットサイズにはほとんど差異が無いため、検出精度が向上する。
【００３０】
図４（ａ）〜（ｃ）はこの第１実施形態のθ１＝９０°，θ２＝７５°での用紙種類別の受光素子１６（図１に示す）の出力波形の例を示しており、図４（ａ）は被検出物を普通紙としたときの受光素子１６の出力レベルＡの変化と振幅Ｂを示し、図４（ｂ）は被検出物をフォト光沢紙としたときの受光素子１６の出力レベルの変化と振幅Ｃを示し、図４（ｃ）は被検出物をＯＨＰシートとしたときの受光素子１６の出力レベルの変化を示している。
【００３１】
上記被検出物９（図１に示す）をある一定の速度で移動させると、受光素子１６の出力は、普通紙の場合は図４（ａ）に示すように出力レベルＡ、振幅Ｂとなるが、フォト光沢紙の場合は図４（ｂ）のように出力レベルはＡよりわずかに大きく、振幅ＣはＢの１．５倍近い大きさとなる。また、ＯＨＰシート（凹凸レベル２μｍ程度）は、図４（ｃ）に示すように、反射光が受光素子１６にほとんど入射しておらず出力が得られない。よって、この結果を普通紙のときの出力レベルおよび振幅をそれぞれ１とした場合の相対関係をまとめると表１のようになる。
【００３２】
【表１】

【００３３】
上記表１に示すように、出力レベルと振幅の２要素に基づいて、電気回路上の処理を行って判別することで３種類の用紙種類の識別が可能となる。
【００３４】
このように、上記第１実施形態の光学式物体識別装置によれば、簡単な構成と信号処理で、記録媒体等の物体に触れることなくその種類を精度よく識別できると共に、小型化と低コスト化ができる。
【００３５】
また、上記発光素子１０に発光部が点光源に近い半導体レーザ素子を用いることによって、レンズで効率よく集光でき、受光素子で信号検出に必要な光量を被検出物上からの反射光で得ることができる。
【００３６】
また、上記被検出物９に照射される光の光軸を被検出物９の平面に対して略垂直にすることによって、光スポットサイズの変動を抑えることができ、検出精度が向上する。
【００３７】
次に、この第１実施形態において、検出精度を上げる手段としてピンホール１５ａを受光素子１６の直前に配置した場合について説明する。
【００３８】
図５は光スポットとピンホール１５ａおよび集光スポットの関係を示している。図５に示すように、光スポットから反射した光はあらゆる方向に進むが、そのうちの受光レンズ１４により集光された光は、受光素子１６の受光面１６ａで焦点を結ぶように配置している。しかし、被検出物９上の光スポットサイズが１００μｍを超えた場合、受光素子１６上の集光スポットのサイズも大きくなり、光の強度が平均化され、被検出物９の凹凸レベルに合わせた出力が得られなくなる。そこで、上記ピンホール１５ａを受光素子１６の直前に配置することによって、ピンホール１５ａにより受光素子１６に入射する光は、被検出物９上の光スポット１８内のさらに限られた領域から反射されたものとなり、被検出物９の凹凸レベルに合わせた出力が得られると共に、外乱光の影響を低減させることもできる。
【００３９】
図６に示すように、ピンホール１５ａを有するマスク１５を受光素子１６の前に配置した場合、例え受光素子１６の受光面１６ａ上のスポットサイズが１００μｍを超えた場合でも、ピンホール１５ａ（望ましくは大きさ１０μｍ〜５０μｍ）を通過して受光素子１６に入射した光は、光スポット内の限られた領域から反射した光となり、被検出物９の表面の凹凸レベルに応じた出力波形を得ることができる。上記ピンホール１５ａの大きさを１０μｍ〜５０μｍにすれば、光スポットの大きさがある程度ばらついても、被検出物９の表面の限られた領域からの反射光を受光することができ、かつ表面状態の平均化を防ぐことができる。
【００４０】
（第２実施形態）
図７はこの発明の第２実施形態の光学式物体識別装置の概略構成図であり、９は被検出物、１０は発光素子（望ましくは半導体レーザ素子）、１１はコリメートレンズ、１２は対物レンズ、１３はビームスプリッタ、１４は受光レンズ、１５はピンホール１５ａを有するマスク、１６は受光素子、１７は上記受光素子１６からの信号を受けて、被検出物９の種類を識別する識別部の一例としての演算処理回路部である。上記コリメートレンズ１１，対物レンズ１２，ビームスプリッタ１３および受光レンズ１４で光学系を構成している。
【００４１】
図７に示すように、この第２実施形態の光学式物体識別装置は、発光素子１０より発せられる光をコリメートレンズ１１でコリメートした後、ビームスプリッタ１３を通過した光を対物レンズ１２により集光し、その集光された光を光軸が被検出物９の平面に対して略垂直になるように照射し、所定の方向に移動する被検出物９に光スポット１８を形成する。この光スポット１８から反射する光はあらゆる方向に進むが、対物レンズ１２を通過し、ビームスプリッタ１３で光軸を所定の角度だけ回転させた後、受光レンズ１４により集光され、ピンホール１５を通過して受光素子１６に入射する。上記受光素子１６に入射する光は、被検出物９上の限られた領域（光スポット内の少なくとも一部の領域）から反射されたものである。なお、組み合わせレンズを用いた場合は、図８に示すような構成となる。図８において、８は組み合わせレンズ、６はビームスプリッタであり、照射光の光軸と被検出物９の平面とのなす角度θ１は９０°、反射光の組み合わせレンズにより集光される反射光の光軸と被検出物９の平面とのなす角度θ２は９０°としている。
【００４２】
図５に示すように、光スポットから反射した光はあらゆる方向に進むが、そのうちの受光レンズ１４にて集光された光は、受光素子１６の受光面１６ａで焦点を結ぶように配置してある。しかし、被検出物９上の光スポットサイズが１００μｍを超えた場合、受光素子１６の受光面１６ａ上のスポットサイズも大きくなり強度が平均化され、被検出物９の表面の凹凸レベルに合わせた出力が得られなくなる。
【００４３】
また、図６に示すように、ピンホール１５ａを受光素子１６の前に配置した場合、例え受光素子１６の受光面１６ａ上のスポットサイズが１００μｍを超えた場合でも、ピンホール１５ａ（望ましくは大きさ１０μｍ〜５０μｍ）を通過して受光素子１６に入射した光は、光スポット内の限られた領域から反射した光となり、被検出物９の凹凸レベルに応じた振幅および出力レベルの出力波形を得ることができる。
【００４４】
この第２実施形態の光学式物体識別装置は、第１実施形態と違い、入射光と反射光の経路が同じ（被検出物９の平面に対して垂直状態）であり、同軸構造とすることで小型化できる。さらに入射光と反射光の経路が略垂直であることから、受光素子に入射する反射光は正反射成分となる。図９に示すように被検出物と入射光と反射光のなす角が同じであれば正反射光成分が得られ、その強度は（反射物が拡散板や吸光板などの特殊な場合を除いて）拡散反射光に比べて大きい。よって、受光出力レベルが大きい事からＳ／Ｎ比が上がり検出精度が向上し、表面状態の差異の少ない普通紙と光沢紙の判別についても可能となる。
【００４５】
図１０（ａ）〜（ｄ）はこの第２実施形態の受光素子１６（図７に示す）の出力波形の例を示しており、図１０（ａ）は普通紙、図１０（ｂ）は光沢紙、図１０（ｃ）はフォト光沢紙、図１０（ｄ）はＯＨＰシートの出力レベルの変化を示している。
【００４６】
図１０（ａ）〜（ｄ）に示すように、普通紙の出力レベルＤ，振幅Ｅに対して光沢紙は出力レベルがわずかに大きく、光沢紙の振幅Ｆが普通紙の振幅Ｅの１．５倍程度となる。また、フォト光沢紙は、出力レベルが普通紙の出力レベルＤの３倍程度、振幅Ｇが普通紙の振幅Ｅの２．５倍程度となる。また、ＯＨＰシートは、出力レベルが普通紙よりわずかに低く、振幅Ｈが普通紙の振幅Ｅの２．５倍〜数倍となっている。よって、この結果を普通紙のときの出力レベルおよび振幅を１とした場合の相対関係をまとめると表２のようになる。
【００４７】
【表２】

【００４８】
上記表２に示すように、出力レベルと振幅の２要素に基づいて電気回路上の処理を行って判別することで、４種類の用紙種類検出が可能となる。
【００４９】
次に、これら光学部品等を所定の位置関係に保持するケースが必要になる。図１１（ａ）は被検出物９が通過するガイド３１を有するケース３０を備えた光学式物体識別装置の断面図であり、図１１（ａ）に示すように、このケース３０のガイド３１により被検出物９が対物レンズ１２から所定の距離で通過する。これにより被検出物９と対物レンズ１２との間の距離変動を小さくでき、精度のよい検出が可能となる。
【００５０】
上記のような構成による光学式物体識別装置をプリンタのような用紙を移動させて処理を行う処理システムの用紙移動経路の先端に配置してあれば、用紙の動き出しと同時に用紙種類が識別でき、この情報を処理装置に送ることで用紙種類別の印刷および印字条件が自動的に設定できる複写機や印刷機等の処理システムが実現可能となる。
【００５１】
このように、上記第２実施形態の光学式物体識別装置によれば、簡単な構成と信号処理で、記録媒体等の物体に触れることなくその種類を精度よく識別できると共に、小型化と低コスト化ができる。
【００５２】
また、上記発光素子１０に、発光部が点光源に近い半導体レーザ素子を用いることによって、レンズで効率よく集光でき、受光素子１６で信号検出に必要な光量を被検出物上からの反射光で得ることができる。
【００５３】
また、上記発光素子１０の前にピンホール１５ａを配置することによって、光スポット１８を数十μｍ程度まで絞らなくても、光スポット１８内の限られた領域からの反射光のみを受光素子１６に入射させることができると同時に外乱光の影響を無くすことができる。
【００５４】
また、被検出物９に照射される光の光軸を被検出物９の平面に対して略垂直にすることによって、スポットサイズの変動を小さくすることができ、被検出物の検出精度が上がる。
【００５５】
また、被検出物９からの反射光の光軸を同軸にすることで、小型化できる。また、入射光と反射光の経路が略垂直であれば、受光素子に入射する反射光は正反射成分となり、拡散反射成分よりも出力レベルが大きい事からＳ／Ｎ比が上がり検出精度が向上し、表面状態の差異の少ない普通紙と光沢紙の判別が容易にできる。
【００５６】
また、上記ピンホール１５ａの直径を１０μｍ〜５０μｍとすることによって、被検出物９上の光スポット１８の大きさがある程度ばらついても、被検出物９上の限られた領域（光スポット１８内の少なくとも一部の領域）からの反射光を受光することができ、表面状態の平均化を防ぐことができ、検出精度が上がる。
【００５７】
また、上記ケース２０のガイド２１により被検出物９が対物レンズ１２から所定の距離に位置するように保たれ、被検出物９と対物レンズ１２との間の距離変動を小さくでき、精度のよい検出が可能となる。
【００５８】
また、上記発光素子１０，受光素子１６および光学系（コリメートレンズ１１，対物レンズ１２，ビームスプリッタ１３および受光レンズ１４）を２組、被検出物９の移動方向に平行な直線上に所定の間隔をあけて配置した場合、被検出物９の移動に伴う２つの受光素子１６の出力波形は、図１２（ａ），（ｂ）に示すように、一方の波形Ａよりも他方の波形Ｂが時間Ｔ分遅らせた形になるので、この遅れを電気回路上の処理をすることで被検出物の移動速度を測定できる。したがって、種類検出と同時に移動速度検出も可能な小型で安価な光学式物体識別装置を実現することができる。
【００５９】
（第３実施形態）
図１３はこの発明の第３実施形態の搬送処理システムの概略構成図であり、図１４は上記搬送処理システムのブロック図である。
【００６０】
図１３，図１４において、４１は用紙である被検出物９の種類識別および移動速度を検出する光学式物体識別装置、４２は上記光学式物体識別装置４１からの移動情報信号を受けて、被検出物９の搬送を制御する搬送制御部、４３は上記搬送制御部４２からの搬送制御信号を受けて、被検出物９をローラ４５，４６を用いて搬送する搬送装置としての搬送部、４４は上記光学式物体識別装置４１からの用紙種類信号を受けて、被検出物９を処理する処理装置としての処理部である。
【００６１】
図１３および図１４に示すように、搬送を行いながら被検出物９になんらかの処理をするとき、用紙種類情報を処理部４４に送りつつ、光学式物体識別装置４１を用いて測定した被検出物９の移動速度を処理部４４にフィードバックし、処理のタイミングをコントロールして被検出物９の処理を所定の位置で行える搬送処理システムを実現できる。
【００６２】
上記第３実施形態では、被検出物を搬送部４３により移動させながら処理部４４により所定の処理を行う搬送処理システムについて説明したが、光学式物体識別装置を用いて測定した被検出物の移動速度を搬送制御部にフィードバックし、被検出物の速度を一定に保つ搬送システムを実現することもできる。
【００６３】
また、用紙の種類を識別し、用紙の種類に応じた処理を行う処理システムにこの発明の光学式物体識別装置を適用してもよい。
【００６４】
また、この発明の光学式物体識別装置は、印刷用紙等の紙類や樹脂フィルムおよびシート等の記録媒体を搬送しながら処理を行う複写機や印刷機等の処理システムおよび搬送処理システムにおいて、被検出物として記録媒体の種類を識別するのに適用することができる。なお、上記被検出物は、記録媒体に限らず、平面を有する物体であれば、この発明の光学式物体識別装置を用いてその物体の種類を識別することが可能である。
【００６５】
【発明の効果】
以上より明らかなように、この発明の光学式物体識別装置によれば、簡単な構成と信号処理で、記録媒体等の物体に触れることなくその種類を精度よく識別できると共に、低コスト化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１はこの発明の第１実施形態の光学式物体識別装置の概略構成図である。
【図２】図２は組み合わせレンズを用いた場合の照射側光学系の一例を示す図である。
【図３】図３（ａ），（ｂ）は被検出物へ入射角が垂直な場合とそうでない場合の光スポットサイズの変動状態を示す模式図である。
【図４】図４（ａ）〜（ｃ）は上記光学式物体識別装置における受光素子の出力波形の例を示す図である。
【図５】図５は光スポットとピンホールおよび集光スポットの関係を説明する図である。
【図６】図６は受光素子の前にピンホールを配置した状態を示す断面図である。
【図７】図７はこの発明の第２実施形態の光学式物体識別装置の概略構成図である。
【図８】図８は組み合わせレンズを用いた光学式物体識別装置の概略構成図である。
【図９】図９（ａ），（ｂ）は用紙表面の凹凸で光が反射する状態を示す模式図である。
【図１０】図１０（ａ）〜（ｄ）は上記光学式物体識別装置の受光素子の出力波形の例を示す図である。
【図１１】図１１（ａ）は被検出物を案内するガイドを有するケースを備えた光学式物体識別装置の断面図であり、図１１（ｂ）はＸＩ−ＸＩ線から見た断面図である。
【図１２】図１２（ａ），（ｂ）は発光素子，受光素子および光学系を２組備えた光学式物体識別装置における各受光素子の出力波形の例示図である。
【図１３】図１３はこの発明第３実施形態の光学式物体識別装置を用いた被検出物の処理を用紙種類別に所定の位置で行える搬送処理システムの概略構成図である。
【図１４】図１４は上記搬送処理システムのブロック図である。
【図１５】図１５は従来の光学式物体識別装置の検出原理を説明するための模式図である。
【図１６】図１６は従来の光学式物体識別装置の概略構成図である。
【符号の説明】
７，８…組み合わせレンズ、
９…被検出物、
１０…発光素子、
１１…コリメートレンズ、
１２…対物レンズ、
１３…ビームスプリッタ、
１４…受光レンズ、
１５…ピンホール、
１６…受光素子、
１７…演算処理回路部、
１８…光スポット、
２０…被検出物表面への入射光、
２１…被検出物表面の凹凸、
２２…被検出物表面の入射光があたらない部分、
２３…被検出物表面からの反射光、
２４…被検出物表面から反射光が得られない部分、
３０…ケース、
３１…ガイド。

Claims

発光素子と、
上記発光素子から発せられた光を集光して、所定の方向に移動する被検出物に照射することにより上記被検出物上に所定のスポット径を有する光スポットを形成すると共に、上記光スポット内の少なくとも一部の領域から反射した光を集光する光学系と、
上記光学系を介して集光された光が入射する受光素子と、
上記受光素子の出力波形の振幅および出力レベルに基づいて、上記被検出物である物体の種類を識別する識別部とを備えたことを特徴とする光学式物体識別装置。
請求項１に記載の光学式物体識別装置において、
上記発光素子が半導体レーザ素子であることを特徴とする光学式物体識別装置。
請求項１に記載の光学式物体識別装置において、
上記受光素子の前にピンホールを配置したことを特徴とする光学式物体識別装置。
請求項１に記載の光学式物体識別装置において、
上記発光素子より発せられた光を集光して上記被検出物に照射するとき、その光の光軸が上記被検出物の平面に対して略垂直であることを特徴とする光学式物体識別装置。
請求項１に記載の光学式物体識別装置において、
上記光スポット内の一部の領域から反射して集光された光の光軸が照射側の光軸と同軸であることを特徴とする光学式物体識別装置。
請求項３に記載の光学式物体識別装置において、
上記ピンホールの直径が１０μｍ〜５０μｍであることを特徴とする光学式物体識別装置。
請求項１に記載の光学式物体識別装置において、
上記被検出物を案内するガイドを有するケースを備えたことを特徴とする光学式物体識別装置。
請求項１に記載の光学式物体識別装置を用いた処理システムであって、
上記被検出物を移動させながら上記被検出物を処理装置により処理するとき、上記光学式物体識別装置により識別された上記被検出物の種類の情報に基づいて、上記処理装置により上記被検出物の種類に応じた処理を行うことを特徴とする処理システム。
請求項１に記載の光学式物体識別装置において、
上記発光素子，受光素子および光学系を２組備え、
その２組の上記発光素子，受光素子および光学系が上記被検出物の移動方向に平行な直線上に所定の間隔をあけて配置され、
上記被検出物の移動に伴う上記２つの受光素子の出力波形に基づいて、上記被検出物の移動速度を検出することを特徴とする光学式物体識別装置。
請求項９に記載の光学式物体識別装置を有し、被検出物を搬送装置により移動させながら処理装置により所定の処理を行う搬送処理システムであって、
上記光学式物体識別装置で得られた上記被検出物の種類および移動速度の情報に基づいて、上記処理装置により上記被検出物の種類に応じた処理を所定の場所で行うことを特徴とする搬送処理システム。