JP2004053439A - スリット検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】品質を損なうことなく、スリットの広間隔不良と狭間隔不良のそれぞれを検出することができるスリット検査装置を提供すること。
【解決手段】スリット検査装置は、ベース２１と、このベース２１と上下方向へ相対変位可能な検出ピン２５を備えている。ベース２１が検査ポジションとされると、検出ピン２５の検出端部２５ｃがワークＤに設けられたスリットへ上方から導入され、スリットの基準位置で下方への移動を規制される。そのため、検出ピン２５は、ベース２１に対する上方へ相対的に移動して、その上端部がレバー２４を押し上げ、レバー２４の前端部が揺動される。このレバー２４の前端部の揺動を光電センサ２９によって検出することにより、スリットの良否判定を行なう。
【選択図】　　　図３

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スリットの開き間隔を検査するためのスリット検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般にワイヤーハーネスは、複数の被覆電線によって所定の回路網が形成された電気配線システムである。この種のワイヤーハーネスには、その回路へ過電流が流れた際に当該回路を遮断するためのフューズがフューズボックスやフューズケース等の電気接続箱を介して複数接続されている。
【０００３】
図１１は、電気接続箱２の一部を省略して示す斜視図である。
【０００４】
図１１を参照して、フューズ１は、一対の板状端子１ａを備えている。これらの板状端子１ａは、加熱によって溶断される溶断部（図示無し）によって電気的に連結されており、この溶断部が樹脂ケース１ｂに内包されている。上記各板状端子１ａの先端には、それぞれ先窄まりのテーパー部１ｃが設けられている。フューズ１は、これらのテーパー部１ｃ側から電気接続箱２へ挿入される。
【０００５】
上記電機接続箱２内には、予め設定された回路を構成するバスバー４が設けられている（図では、その一端部のみを記している）。このバスバー４は、導電性を有する金属板であり、その一端部が折り返されることによって、一対の接続タブ４ａが形成されている。これらの接続タブ４ａには、それぞれ中継端子３が電気的に接続されている。この中継端子３は、導電性金属板で形成されている。中継端子３の基端部には、その両端部が内側へ折り返されることによって挟圧部３ａが形成されている。この挟圧部３ａは、その折り返された金属板の間に上記接続タブ４ａを所定の接圧力をもって挟圧固定するようになっており、この挟圧固定によって、中継端子３が上記バスバー４へ電気的に接続された状態で固定されるようになっている。
【０００６】
一方、上記中継端子３の先端部には、上記板状端子１ａを挟持して固定するためのスリット３ｂが設けられている。このスリット３ｂは、互いに対向する金属板が内側に折り返されることによって形成され、当該各金属板の間隔が上記板状端子１ａの挿入方向へ向けて次第に狭くなるように形成された溝である。このようなスリット３ｂ内に上記板状端子１ａが挿入されることにより、各板状端子１ａは、その板厚方向に所定の接圧力で挟持されて固定されるとともに、圧着端子３と電気的に接続されるようになっている。
【０００７】
以上のように板状端子１ａが挿入されるスリット３ｂには、何らかの理由により各金属板が正規の間隔よりも広く開いてしまった不良品（以下広間隔不良品という）がある。このようなスリット３ｂへ板状端子１ａが挿入されると、当該板状端子１ａは、スリット３ｂによる有効な接圧力を得ることができないため、不安定な挟圧状態となり、当該スリット３ｂとの電気的な接続状態が維持できないという不具合があった。
【０００８】
この不具合を未然に防止するために、従来では、特開平８−２２８８２号公報に記されるようなコンタクトプローブを使用して、上記挿入作業前に上記スリット３ｂの間隔を検査するようにしていた。上記コンタクトプローブは、スリット３ｂへ挿入される接触ピンと、この接触ピンの基端部を相対変位可能に収容するケーシングを備えている。上記接触ピンとケーシングとの間には、ばねが縮設され、このばねによって当該接触ピンは、その先端部がケーシングに収容される方向へ付勢されるとともに、その基端部が当該方向の所定位置でケーシングに位置決めされている。また、上記ケーシングには、接触ピンが上記変位方向でばねを縮める方向に移動した場合（すなわち、接触ピンの先端部がケーシングから離間する方向に移動した場合）に、起動されるスイッチ部が設けられている。
【０００９】
このようなコンタクトプローブの接触ピンの先端部を正規の間隔に形成されたスリット３ｂへ挿入すると、当該スリット３ｂの接圧力によって接触ピンが挟持される。この状態で上記コンタクトプローブをスリット３ｂから離間する方向へ移動すると、スリット３ｂの接圧力によって接触ピンの先端部が当該スリット３ｂへ挟持されているため、ケーシングのみがスリット３ｂから離間し、その結果上記ばねが縮められる。このように、接触ピンの先端部がケーシングから離間する方向へ相対変位すると、上記スイッチ部が起動され、この起動によって当該スリットが良品であることを検出する。
【００１０】
一方、上記接触ピンの先端部を上述のような広間隔不良品のスリット３ｂへ挿入すると、当該接触ピンは、スリット３ｂによりばねを縮めるだけの有効な接圧力が得られないため、コンタクトプローブをスリット３ｂから離間させる際に、ケーシングと共に移動してしまう。そのため、上記スイッチ部が起動することがない。
【００１１】
以上のように、コンタクトプローブは、検査対象となるスリット３ｂが適切な間隔で形成されている場合には、ばねを縮める方向へ接触ピンとケーシングが相対変位するため、スイッチ部が起動し、スイッチ部の起動によって当該スリット３ｂが良品であることが検出されるようになっている。一方、コンタクトプローブは、検査対象となるスリット３ｂが広間隔不良である場合には、当該スリット３ｂの接圧力がばねを縮めるに至らないため、スイッチ部が非起動状態に保持されることによって、当該スリット３ｂが不良品であることが検出されるようになっている。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記コンタクトプローブを利用して中継端子３のスリット３ｂを検査する場合、上述のようにスリット３ｂの広間隔不良品を検出できるという利点を有する一方、以下の理由により、当該検査によって、中継端子３の品質を低下させるおそれがあった。
【００１３】
すなわち、従来の検査では、接触ピンを一旦スリット３ｂにおける板状端子１ａの装着位置（深さ位置）まで挿入しなければならないため、当該接触ピンを強い力でスリット３ｂへ挿入していた。このように接触ピンが強い力で挿入されると、検査前に正規の間隔で形成されたスリット３ｂであっても、例えば、接触ピンが当該スリット３ｂへ位置ずれした状態で挿入された場合、上記各金属板が折り曲げられてスリット３ｂが必要以上に押し広げられてしまう。そのため、当該検査によってスリット３ｂの間隔が広がってしまい、中継端子３の品質が低下してしまうおそれがあった。
【００１４】
また、スリット３ｂには、何らかの理由により各金属板が正規の間隔よりも狭くなってしまった不良品（以下狭間隔不良品という）がある。
【００１５】
このような狭間隔不良品の端子を上述のコンタクトプローブを使用して検査する場合でも、上述のように接触ピンはスリット３ｂへ強い力で挿入されていた。そのため、接触ピンは、当該スリットへ無理に挿入され、当該スリットの強力な接圧力によって挟持される。この状態でコンタクトプローブをスリット３ｂから離間する方向へ移動させると、ケーシングのみがスリット３ｂから離間して、その結果スイッチ部が起動してしまう。すなわち、従来のコンタクトプローブによる検査では、狭間隔不良品を良品と誤認してしまうおそれがあった。
【００１６】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、品質を損なうことなく、スリットの広間隔不良と狭間隔不良のそれぞれを検出することができるスリット検査装置を提供することを目的としている。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明は、板状端子を挿入するために被装着部に設けられ、当該板状端子の挿入方向へ向けて徐々に狭くなるように一対の傾斜部が配置されることで構成されたスリットの開き間隔を検査するためのスリット検査装置であって、
良品の被装着部における各傾斜部の基準間隔に対応した厚みで形成されるとともに、スリットへ導入される検出端部を一端部に有する検出ピンと、
この検出ピンをその長手方向へ相対変位可能に保持するベースと、
このベースに設けられ、上記検出ピンの他端部と当接可能に配置されたレバーと、
このレバーを揺動可能に支持して、上記検出ピンとレバーとの当接によって、レバーを揺動するようにベースに設けられたレバー軸と、
上記検出端部をスリットへ導入可能な状態で被装着部を保持する保持部と、
上記ベースを駆動することにより検出端部をスリットへ導入させた検査ポジションと、被装着部から離間させた離間ポジションとの間で変位させる駆動手段と、
ベースが離間ポジションから検査ポジションへ駆動される過程において、検出端部のスリットに対する導入深さに応じて変化するレバーの駆動位置を検出する検出部と、
この検出部の検出結果に基づいて、スリットの開き間隔の良否判定を行なう判定部とを備え、
上記駆動手段により検査ポジションまで駆動されたベースに、上記検出端部を良品の被装着部の基準間隔に対する導入深さ位置において両傾斜部へ当接させるのに必要な保持力で検出ピンを保持させたことを特徴とするスリット検査装置である。
【００１８】
この発明によれば、検出ピンの検出端部は、その厚みが良品の被装着部における各傾斜部の基準間隔に対応して形成されている。ここで、「基準間隔」とは、最小でも正規の間隔で形成されたスリットにおける各傾斜部の最も狭い間隔であり、これより若干広い間隔が好ましく、検出端部は、これらの間隔の両傾斜部へそれぞれ当接可能な寸法で形成されている。このように形成された検出ピンは、スリットの基準間隔に対する導入深さ位置において両傾斜部へ当接するのに必要な保持力でベースへ相対変位可能に保持されている。
【００１９】
正規の間隔で開いたスリットへ導入された検出端部は、検査ポジションへ駆動される過程において、スリットの「基準間隔」に対応した導入深さ位置において両傾斜部へ当接することでその移動が規制され、ベースに対して相対的に移動する。すなわち、検出ピンの移動が規制されつつ、駆動手段によってベースがスリットに近接する方向に駆動されるため、当該導入深さで移動を規制された検出ピンに対してベースが相対的に移動する。ベースに対して相対的に移動した検出ピンの他端部は、当該ベースに設けられたレバーと当接することにより、レバー軸を中心としてレバーを揺動変位させる。
【００２０】
ベースが離間ポジションから検査ポジションへ駆動される過程において、レバーの揺動位置が検出部によって検出され、この揺動位置に基づいて判定部がスリットの開き間隔の良否判定をおこなう。上述のように、正規の間隔で開いたスリットの場合には、検出端部の移動が基準間隔に対応した導入深さ（以下正規の導入深さという）で規制されているため、この検出ピンの位置に応じて、レバーが揺動変位されることとなる。
【００２１】
一方、上述のような狭間隔不良のスリットへ検出端部を導入した場合には、当該スリットの基準間隔に対応する導入深さが「正規の導入深さ」よりも手前（浅い位置）に位置するため、当該「正規の導入深さ」より手前でその移動を規制され、検出ピンとベースの相対変位の移動距離が大きくなる。そのため、正規の間隔で開いたスリットよりも大きくレバーを揺動変位させる。
【００２２】
さらに、上述した広間隔不良のスリットへ検出端部を導入した場合には、当該スリットの基準間隔に対応する導入深さが「正規の導入深さ」よりも深い位置となるため、当該検出端部が「正規の導入深さ」を超えてさらにスリットへ挿入され、検出ピンとベースの相対変位の移動距離が小さくなる。そのため、当該検出ピンは、正規の間隔で開いたスリットへ導入された検出ピンよりも小さくレバーを揺動変位させる。このように、検出ピンのスリットに対する導入深さに応じたレバーの揺動位置に基づいて、スリットの良否判定を行なうようになっている。
【００２３】
以上のように、本発明のスリット検査装置は、検出端部が適正間隔のスリットを構成する各傾斜部の基準間隔に対応して形成されるとともに、検出ピンが基準間隔に対する導入深さにおいて両傾斜部へ当接するのに必要な保持力でベースに対して相対変位可能に保持されているため、検出ピンが当該保持力よりも強い力でスリットへ導入されるのを防止することができる。そのため、仮に検出端部が位置ずれした状態でスリットへ導入されても、当該スリットを必要以上に押し広げることはなく、被装着部の品質低下を防止することができる。
【００２４】
また、スリット検査装置は、検出端部がスリットへ導入され、その導入深さに応じたレバーの揺動位置に基づいてスリットの良否判定を行なうため、広間隔不良の場合にはレバーの揺動が小さく、狭間隔不良の場合にはレバーの揺動が大きくなり、各不良品をそれぞれ検出することができる。
【００２５】
したがって、本発明のスリット検査装置は、品質を損なうことなく、スリットの広間隔不良と狭間隔不良のそれぞれを検出することができる。
【００２６】
本発明の別の態様は、上記スリット検査装置において、上記レバー軸は、検出部により検出されるレバーの被検出位置よりも検出ピンが当接するレバーの当接位置に近接した個所に設けられていることを特徴とするものである。
【００２７】
この態様によれば、レバー軸がレバーにおける検出部の被検出位置よりも検出ピンとの当接位置に近接した個所に設けられているため、検出ピンのスリットに対する微小な導入深さの違いを多大な揺動距離へ変換することができる。したがって、より精緻にスリットの良否を検出することができる。
【００２８】
【発明の実施の形態】
以下図面を参照して、本発明の好ましい実施形態について説明する。
【００２９】
図１は、本発明の実施形態に係るスリット検査装置１０の一部を省略して示す正面図である。
【００３０】
図１を参照して、スリット検査装置１０は、その外郭を構成するフレーム１２を含んでいる。このフレーム１２は、上端部を構成する天板１２ａと、下端部を構成する図略の底板とが、４本の支柱１２ｂ（図では２本）によって連結された枠体である。フレーム１２の底板には、ワークＤを保持する保持部としてのテーブル１３が設けられている。このワークＤは、フューズ１を挿入するためのスリット３ｂ（図１１参照）が多数設けられた、例えば電気接続箱であり、スリット３ｂが上方へ向いた状態で上記テーブル１３へ保持されるようになっている。また、ワークＤには、図略の導電性金属板（すなわち、被装着部）により所定の回路が形成されており、この導電性金属板へ各スリット３ｂが設けられている。また、テーブル１３は、上記フレーム１２へ設けられた図略のテーブル送りモータ１３ａ及びボールねじ等の手段によって、水平方向へ移動可能に構成されている。それとともに、上記フレーム１２には、テーブル１３上のワークＤが当該フレーム１２の所定位置まで到着したか否かを検出するための到着検知センサ１３ｂ（図示無し）が設けられている。
【００３１】
上記フレーム１２の天板１２ａ上には、エアシリンダ１４が設けられている。このエアシリンダ１４は、天板１２ａに固定されたシリンダ本体１４ａと、このシリンダ本体１４ａに対して上下方向へ移動可能な駆動軸１４ｂを備えている。シリンダ本体１４ａには、当該シリンダ本体１４ａに対する駆動軸１４ｂの上下位置を検出可能な上限センサ１４ｃ及び、下限センサ１４ｄが設けられている（以下上限センサ１４ｃ及び、下限センサ１４ｄが駆動軸１４ｂを検出した状態をＯＮの状態と示す）。これらの上限センサ１４ｃ及び、下限センサ１４ｄは、それぞれＯＮとされると、その検出結果を図略の電線を介して電気的に出力可能に構成されている。
【００３２】
上記駆動軸１４ｂの上端部は、駆動板１５の下面の略中央部に固定されている。この駆動板１５は、上記天板１２ａより小寸法に設定された略正方形の板部材であり、その四隅にそれぞれガイド軸１５ａの一端部が固定されている（図では２本）。各ガイド軸１５ａは、それぞれ途中部が天板１２ａに設けられたリニアブッシュ１５ｂに対して上下方向へ摺動可能に挿通しているとともに、下端部には、検査ユニット２０が固定されている。
【００３３】
以上のように、スリット検査装置１０は、ワークＤがテーブル送りモータ１３ａによって水平方向へ移動可能に構成されるとともに、到着検知センサ１３ｂによって検査ユニット２０の下方位置へワークＤが移動したか否かを検出するようになっている。また、スリット検査装置１０は、エアシリンダ１４によって検査ユニット２０を上下方向へ移動させ、ワークＤに対して検査ユニット２０を接離させるように構成されている。
【００３４】
図２は、図１の検査ユニット２０を示す正面一部略図であり、図３は、図２の検査ユニット２０の右側面一部略図であり、図４は、図２の検査ユニット２０の平面一部略図である。なお、図２における左右方向を仮に左右方向とし、図３における検査ユニット２０の正面側を仮に前方として、以下説明する。
【００３５】
各図を参照して、検査ユニット２０は、上記ガイド軸１５ａが固定されるベース２１を含んでいる。このベース２１は、金属等で形成された略正方形の板状部材である。ベース２１の左右端には、一対の支持部２２が設けられている（図３では、右側の支持部２２の一部を切り欠いて省略している）。これらの支持部２２は、それぞれ固定板２２ａを備え、これら固定板２２ａがボルト２２ｂによって上記ベース２１上へ固定されている。各固定板２２ａの内側には、それぞれ支持板２２ｃが立設されている。これらの支持板２２ｃは、上記各固定板２２ａと同一の前後方向の寸法を有する略長方形の板状部材である。また、各支持板２２ｃの前端部は、上方へ延びて延設支持板２２ｄを構成している。
【００３６】
上記各支持板２２ｃの後端部は、左右方向へ延びるレバー軸２３の両端部をそれぞれ支持している。このレバー軸２３の途中部には、８つのレバー２４が当該レバー軸２３を中心として揺動可能に支持されている。これらのレバー２４は、それぞれ側面視で略長方形板状のレバー本体２４ａを備え、これらのレバー本体２４ａの側面視略中央位置で上記レバー軸２３により支持されている。また、各レバー本体２４ａの上端部は、前方へ延びてレバー検出片２４ｂを構成している。すなわち、上記レバー軸２３は、レバー検出片２４ｂよりもレバー２４の後端部に近接した位置でレバー２４を支持している。また、上記各レバー検出片２４ｂは、短冊状の板状部材であり、その板厚寸法が上記レバー本体２４ａよりも小さく設定されている。
【００３７】
上記各レバー本体２４ａの後端部の下面には、それぞれ検出ピン２５の上端部が当接している。これらの検出ピン２５は、金属等で形成された円柱状部材である。各検出ピン２５の途中部は、それぞれベース２１に設けられたベアリングガイド２１ｂに対して上下方向へ摺動可能に挿通するとともに、ガイド部２６によって支持されている。このガイド部２６は、左右方向へ延びる固定片２６ａを含み、この固定片２６ａがボルト２６ｂによって上記ベース２１の下面に固定されている。上記固定片２６ａの前端部には、下方へ延びるガイド板２６ｃが立設されている。このガイド板２６ｃ前面の上端部及び、下端部には、左右方向へ延びる一対のガイド片２６ｄがボルト２６ｅによって固定されている。これらのガイド片２６ｄによって、上記各検出ピン２５がそれぞれ支持されている。
【００３８】
図５は、図２及び、図３のガイド片２６ｄの一部を省略して示す斜視図である。
【００３９】
図５を参照して、ガイド片２６ｄの各検出ピン２５に対応する位置には、上方へ開くとともに、左右方向へ延びる収容穴２６ｆが設けられている。この収容穴２６ｆの底面には、当該検出ピン２５が摺動可能に挿通される挿通孔２６ｇが設けられている。一方、上記各検出ピン２５の途中部には、当該検出ピン２５よりも若干大径寸法に設定された大径部２５ａが設けられている。この大径部２５ａの前後には、一対のカット面２５ｂが設けられることにより、大径部２５ａは、上記収容穴２６の前後側面間の距離と略同一の幅寸法とされている。このようなガイド片２６ｄへ上方から検出ピン２５が挿入されることによって、大径部２５ａが収容穴２６ｆへ収容されている。そのため、検出ピン２５は、ガイド片２６ｄに対して上下方向へ摺動可能に支持されるとともに、大径部２５ａの下面と収容穴２６ｆの底面とが当接することによって、当該検出ピン２５の下方への移動が規制されている。また、大径部２５ａの各カット面２５ｂが収容穴２６ｆの前後側面間へ収容されることにより、検出ピン２５は、その長手方向を中心とした回転が規制された状態でガイド片２６ｄに支持されている。
【００４０】
また、上記固定片２６ａには、図２及び図３に示すようなワーク支持部３６が設けられている。このワーク支持部３６は、上記ガイド板２６ｃの後方で固定板２６ａの下面に固定される連結板３６ａを含んでいる。この連結板３６ａは、上記固定片２６ａと略同一の左右幅寸法を有しており、上記検出ピン２５の先端部（下端部）より若干上方の下方位置まで延設されている。また、連結板３６ａの下端部には、支持板３６ｂが前方へ向けて立設されている。この支持板３６ｂには、上記検出ピン２５が挿通するための挿通孔３６ｃが設けられており、この挿通孔３６ｃへ挿通した検出ピン２５は、その先端部が当該支持板３６ｂの下面から突出するようになっている。このようなワーク支持部３６は、後述するように検査ユニット２０が検査ポジションへ駆動された際に、支持板３６ｂが検査対象となるワークＤの上面と当接することによって、当該ワークＤの上下位置を位置決めするようになっている。すなわち、ワーク支持部３６は、上記テーブル１３に予め設定された下方位置へワークＤを位置決めするようになっている。
【００４１】
図２〜図４を参照して、上記各検出ピン２５の先端部には、それぞれワークＤのスリット３ｂへ導入される検出端部２５ｃが形成されている。これらの検出端部２５ｃは、正面視で薄肉とされた短冊状に形成されており、図１１で説明した板状端子１ａと同様に、スリット３ｂを構成する各金属板の間に導入されるようになっている（図２参照）。また、各検出端部２５ｃの板厚寸法は、詳しくは後述するが、適正間隔に形成されたスリット３ｂの最も狭い間隔より若干広い間隔（以下基準間隔と示す）における当該スリット３ｂの金属板の間隔に対応して設定されている。
【００４２】
一方、上記両延設支持板２２ｄの上端部は、左右方向へ延びるガイドピン２７の両端部をそれぞれ支持している。このガイドピン２７の左右方向で上記８つのレバー２４に対応した位置には、それぞれフック２８の基端部が当該ガイドピン２７を中心として揺動可能に支持されている。これらのフック２８の先端部は、それぞれ引張りばね２８ａの基端部と連結されている。これらの引張りばね２８ａは、詳しくは後述するが、レバー２４の前端部を上方に付勢するとともに、上記検出ピン２５の検出端部２５ｃが適正間隔のスリット３ｂの基準間隔を超えて（すなわち、基準間隔よりも下方へ）挿入されるのを防止し得るように付勢力が設定されている。また、各引張りばね２８ａの先端部は、当該引張りばね２８ａが若干引張られた状態で上記各レバー検出片２４ｂの上端部とそれぞれ連結されている。すなわち、上記各レバー２４は、引張りばね２８ａにより上記各レバー軸２３を中心として図３の時計回り方向へ回転する方向へ力を受けている一方、その後端部には、検出ピン２５が当接し、この検出ピン２５がガイド部２６によって下方への移動を規制されているため、当該レバー２４は、図３に示すように略水平な状態で支持部２２に支持されている。また、この状態で各レバー検出片２４ｂの前端部は、それぞれ検出部としての光電センサ２９へ臨んでいる。
【００４３】
上記各光電センサ２９は、それぞれ載置板３０上の後端部にボルト３０ａにより固定され、これらの載置板３０の前端部は、ベース２１上の前端部で左右方向に延びて立設された連結固定板３１の後面へボルト３１ａにより固定されている。また、各光電センサ２９は、その右端部及び、左端部がそれぞれ後方へ延設された一対の投受光部２９ａを備え、これらの投受光部２９ａによって検出スリット２９ｂが区画されている（図４参照）。このような光電センサ２９は、各投受光部２９ａ間でレーザー光線等の投受光が行なわれることにより、検出スリット２９ｂへ異物が挿入されたか否か、すなわち光線の投受光が遮断されたか否かを検出可能に構成されている（以下光線が遮断された光電センサ２９の状態をＯＮと、光線が投受光されている状態をＯＦＦと示す）。上記各レバー検出片２４ｂは、通常時にそれぞれ光線を遮断する位置の若干上方で各検出スリット２９ｂへ臨んでいる。
【００４４】
さらに上記ベース２１には、レバー２４がレバー軸２３を中心として下方へ揺動した際にレバー検出片２４ｂがベース２１と干渉するのを防止するために上下方向へ貫通する逃げ孔２１ａが設けられている。
【００４５】
このように構成された検査ユニット２０は、図４に示すように８本の検出ピン２５がベース２１の前後方向の中心線Ｃ上に配置される一方、この中心線Ｃ上の各検出ピン２５間には、さらに８本の検出ピン２５が配置されている。これらの検出ピン２５の設置部には、上述の逃げ孔２１ａ、支持部２２、レバー軸２３、レバー２４、ガイド部２６、ガイドピン２７、フック２８、光電センサ２９、載置板３０及び、連結固定板３１が、ベース２１上で中心線Ｃに対する線対称の位置へ配置されている。すなわち、検査ユニット２０は、１６本の検出ピン２５が中心線Ｃ上へ配置され、これらに対応して設けられたレバー２４が交互に前後方向へ向かっている。それとともに、ベース２１の前後方向の各端部には、各レバー２４に対応して光電センサ２９が設けられている。
【００４６】
以上のように、スリット検査装置１０は、テーブル送りモータ１３ａによって検出ピン２５の下方へ移動されたワークＤのスリット３ｂが適正間隔であるか否かを検査するようになっている。本実施形態では、検査ユニット２０は、１６本の検出ピン２５を備えているため、ワークＤ上の左右方向で一列に配置された最大１６個のスリット３ｂを一回で検査するとともに、図３に示すように、テーブル送りモータ１３ａによりスリット３ｂの設置位置に応じてワークＤを移動させることによって、当該ワークＤに設けられたスリット３ｂの列を順次検査するようになっている。
【００４７】
また、スリット検査装置１０には、スリット３ｂを検査するために上述の各構成要素を制御するための制御部３２が設けられている。
【００４８】
図６は、スリット検査装置１０の制御部３２を示すブロック図である。
【００４９】
図６を参照して、制御部３２は、各種演算処理を行なうためのＣＰＵ３２ａと、このＣＰＵ３２ａと接続され、各種情報を記憶するための記憶手段３２ｂとを含んでいる。このような制御部３２には、上述したテーブル送りモータ１３ａ、到着検知センサ１３ｂ、エアシリンダ１４を含む駆動手段３６、エアシリンダ１４の上限センサ１４ｃ及び、下限センサ１４ｄ、光電センサ２９が接続されている。また、制御手段３２には、これら各構成要素の駆動順序等の情報を入力して、上記記憶手段３２ｂへ記憶させるための入力手段３３と、これらの情報を視認するための表示部３４が設けられている。以上のような制御部３２は、本実施形態では、後述するステップによって、判定部として機能し、スリット３ｂの間隔について良否判定を行なうようになっている。この判定によって当該スリット３ｂの間隔が不良であると判定された場合に作業者へ報知するためのブザー３５からなる報知手段がさらに制御部３２に接続されている。
【００５０】
以上のように構成された制御部３２による制御によって、スリット検査装置１０は、以下に示すステップを行い、スリット３ｂの間隔について検査を行なうようになっている。
【００５１】
図７は、図６の制御部３２のメインルーチンを示すフローチャートである。
【００５２】
図７を参照して、作業者によって、テーブル１３へワークＤが装着されるとともに、上記入力手段３３による開始指示が入力されることにより制御部３２の処理が開始される。制御部３２は、まず当該検査対象となるワークＤの情報を上記記憶手段３２ｂから読み出す（ステップＳ１）。ここで「ワークＤの情報」とは、例えば検査対象となるワークＤに設けられたスリット３ｂの配置に関する情報が含まれる。この情報によって、検査対象となるワークＤの列（左右方向）から検出ピン２５までの移動距離が特定される。この移動距離に基づいてテーブル送りモータ１３ａを駆動させ、検査ユニット２０の下方位置までワークＤを移動させる（ステップＳ２）。次いで、到着検知センサ１３ｂによって、検査ユニット２０の検査位置（すなわち下方位置）までワークＤのスリット３ｂが到着したか否かを判別する（ステップＳ３）。ここで、ワークＤが到着していないと判別した場合には、ステップＳ３の判別を繰り返し行なう。一方、ワークＤが到着したと判別した場合には、エアシリンダ１４の駆動軸１４ｂを縮長させ（ステップＳ４）、当該ワークＤの各スリット３ｂに対する判定処理Ｐを実行する。
【００５３】
図８は、図７の判定処理Ｐを示すフローチャートである。
【００５４】
図９は、スリット３ｂと検査ユニット２０の状態を模式的に示す略図であり、（Ａ）は判定処理Ｐの開始前の状態、（Ｂ）はスリット３ｂに対して検出ピン２５が途中まで導入された状態、（Ｃ）は適正間隔のスリット３ｂに対して検出ピン２５が導入された状態をそれぞれ示している。
【００５５】
図１０は、検査ユニット２０が下限位置まで下降した状態における検出ピン２５とスリット３ｂの状態を模式的に示す略図であり、（Ａ）は広間隔のスリット３ｂに対して検出ピン２５が導入された状態、（Ｂ）は狭間隔のスリット３ｂに対して検出ピン２５が導入された状態をそれぞれ示している。
【００５６】
なお、図９、図１０では、説明の便宜上、検出ピン２５の検出端部２５ｃ及び、スリット３ｂを正面図で示し、その他の部分を右側面図で示している。
【００５７】
図９の（Ａ）を参照して、上記判定処理Ｐを実行する前の検査ユニット２０は、検出ピン２５がスリット３ｂから上方へ離間した図示の状態（すなわち、離間ポジション）から、上記ステップＳ４でエアシリンダ１４（図示無し）の駆動によって、矢印Ｙ１で示すように下方へ移動され、後述するように下限センサ１４ｄがＯＮとされる検査ポジションの状態となる。
【００５８】
図８を参照して、判定処理Ｐは、各検出ピン２５のそれぞれに対して実行され、まず各光電センサ２９がＯＮとされたか否かを判別する（ステップＰ１）。
【００５９】
すなわち、図９の（Ｂ）に示すように、検査ユニット２０の下降により検出ピン２５の検出端部２５ｃがスリット３ｂの各金属板へ当接し、下方への移動を規制された状態で、ベース２１がさらに下方へ移動することにより、検出ピン２５の上端部が、ベース２１に対して相対的に上方へ移動し、ベース２１に設けられたレバー２４の後端部が検出ピン２５により上方へ持ち上げられ、レバー２４が引張りばね２８ａの付勢力に抗して反時計回りに揺動したか否かを、光電センサ２９の検出信号に応じて判別する。
【００６０】
上記ステップＰ１で光電センサがＯＮであると判別されると、エアシリンダ１４の下限センサ１４ｄがＯＮとされたか否かを判別する（ステップＰ２）。すなわち、エアシリンダ１４の予め設定されたストロークの下限位置（すなわち、検査ポジション）まで検査ユニット２０が下降したか否かを判別し、下降されたと判別されるまでこの判別を繰り返し実行する。下限センサ１４ｄがＯＮとされたと判別すると、この状態で各光電センサ２９がＯＮであるか否かを判別する（ステップＰ３）。
【００６１】
このステップＰ３で、各光電センサ２９がＯＮとされた場合には、当該検査におけるスリット３ｂが適正間隔である旨を記憶手段３２ｂへ記録する（ステップＰ４）。
【００６２】
すなわち、スリット３ｂが適正間隔である場合には、図９の（Ｂ）から図９の（Ｃ）の状態までの間、光電センサ２９はＯＮの状態を維持するように、下限センサ１４ｄ、検出ピン２５、レバー２４、光電センサ２９の配置と、引張りばね２８ａの付勢力が設定されているため、検査ユニット２０が下限センサ１４ｄに規定された位置まで下降した時点で、検出ピン２５は、適正間隔のスリット３ｂの基準間隔に対応した導入深さに位置を係止され、ベース２１と相対的に移動することにより、光電センサ２９がＯＮとなる。したがって、上記下限センサ１４ｄがＯＮとなった時点で、光電センサ２９がＯＮ状態である場合には、スリット３ｂが適正間隔であると判定して、これを記録する。
【００６３】
次いで、エアシリンダ１４の駆動軸１４ｂを伸長させ（ステップＰ５）、上限センサ１４ｃがＯＮとされたか否かを判別する（ステップＰ６）。上限センサ１４ｃがＯＮと判別されない場合には、繰り返しステップＰ６を実行する一方、上限センサ１４ｃがＯＮと判別されると、図７に示すメインルーチンのステップＳ５の処理を実行する。
【００６４】
一方、ステップＰ１で光電センサ２９がＯＦＦであると判別すると、下限センサ１４ｄがＯＮであるか否かを判別して（ステップＰ７）、ＯＦＦであると判別する場合には、ステップＰ１を実行する。
【００６５】
ここで、各下限センサ１４ｄがＯＮとされるのは、検査ユニット２０が図１０の（Ａ）に示すような状態となる場合である。すなわち、上述したように検出ピン２５の検出端部２５ｃが適正間隔のスリット３ｂの基準間隔に対応して設定されているため、検査対象となるスリット３ｂが正規の間隔よりも開いてしまった広間隔不良品である場合には、図示するように検出端部２５ｃがスリット３ｂと当接することなく導入されてしまう。このような場合、検出ピン２５によってレバー２４が揺動されることなく、検査ユニット２０が下限位置まで下降して下限センサ１４ｄをＯＮとする。
【００６６】
また、図１０の（Ａ）に示すスリット３ｂの間隔よりも若干広い間隔に構成された広間隔不良のスリット３ｂであっても、検査ユニット２０が下限位置まで下降した際の検出ピン２５の下端部とスリット３ｂの金属板との当接位置（すなわち、検出ピン２５の導入深さ）が図９の（Ｃ）よりもスリット３ｂに対して下方に位置することとなる。そのため、検出ピン２５とベース２１との相対変位量が少なくなり、検出ピン２５によるレバー２４の揺動範囲が小さくなるため、光電センサ２９をＯＮとすることなく、検査ユニット２０が下限位置まで下降して下限センサ１４ｄをＯＮとする。
【００６７】
さらに、ワークＤ上に本来設けられているはずのスリット３ｂが当該ワークＤに設けられていない場合にも、光電センサ２９をＯＮとすることなく、下限センサ１４ｄをＯＮとする。
【００６８】
したがって、上記ステップＰ１で光電センサ２９がＯＦＦであると判別されるとともに、ステップＰ７で下限センサ１４ｄがＯＮとされると、当該スリット３ｂが開き過ぎである又は、スリット３ｂが存在していない旨を記憶手段３２ｂへ記録した後（ステップＰ８）、上記ステップＰ５へ移行する。
【００６９】
一方、上記ステップＰ３で光電センサ２９がＯＦＦとされるのは、検査ユニット２０が図１０の（Ｂ）の状態となる場合である。すなわち、上述したように検出ピン２５の検出端部２５ｃが適正間隔のスリット３ｂの基準間隔に対応して設定されているため、検査対象となるスリット３ｂが正規の間隔よりも狭くなってしまった狭間隔不良である場合には、図示するように検出ピン２５が図９の（Ｃ）よりもスリット３ｂに対する上方で当該スリット３ｂの金属板に当接することとなる。そのため、検出ピン２５とベース２１との相対変位量が大きくなり、検出ピン２５によるレバー２４の揺動範囲が大きくなるため、当該レバー２４のレバー検出片２４ｂが検出スリット２９ｂを超えた下方位置まで揺動され、光電センサ２９がＯＦＦとされる。すなわち、狭間隔に構成されたスリット３ｂの間隔を検査すると、図９の（Ｂ）の状態から本図の検査ポジションまでベース２１が駆動される過程において、一旦光電センサ２９がＯＮとされ（ステップＰ１でＹＥＳ）、ベース２１が検査ポジションとされると光電センサ２９がＯＦＦとされるため、上述したように図９の（Ｂ）から検査ポジションまで光電センサ２９をＯＮとする適性間隔のスリット３ｂと異なり、当該スリット３ｂが狭間隔であることが判別される。
【００７０】
ステップＰ３で光電センサ２９がＯＦＦであると判別された場合には、当該スリット３ｂが閉じ過ぎである旨を記憶手段３２ｂへ記録して（ステップＰ９）、上記ステップＰ５を実行する。
【００７１】
再び図７を参照して、上述の判定処理Ｐを終了すると、当該ワークＤに設けられた全てのスリット３ｂについて検査が終了したか否かを判別する（ステップＳ５）。この判別で、未検査のスリット３ｂがあると判別されると、上記ステップＳ１〜判定処理Ｐまでを繰り返し実行する一方、全てのスリット３ｂの検査が収容したと判別されると、記憶手段３２ｂからスリット情報の読み出しを実行する（ステップＳ６）。ここで、「スリット情報」とは、上述の判定処理ＰにおけるステップＰ４、Ｐ８、Ｐ９のようにスリット３ｂの検査結果及び、ワークＤに対するスリット３ｂの配置を含む情報である。次いで、このスリット情報に基づいて、当該ワークＤの各スリット３ｂの中に不良があるか否かを判別する（ステップＳ７）。なお、ここで上記ステップＰ７で下限センサがＯＮと判別されたスリット３ｂについて、上記スリット情報と比較して、当該検査個所がワークＤに予め設定されたスリット３ｂの非設置個所であるのか否かについても判別され、当該個所に元からスリット３ｂが非設置であるのか、スリット３ｂが開き過ぎであるのか判別される。このようなステップＳ７の判別で、不良があると判別すると、各スリット３ｂの不良内容及び、ワークＤに対する位置を上記表示部３４へ表示するとともに、ブザー３５によって作業者へ報知して（ステップＳ８）、処理を終了する。一方、不良がないと判別されると、当該ワークＤが良品である旨を表示部３４へ表示して（ステップＳ９）処理を終了する。
【００７２】
以上説明したようにスリット検査装置１０は、検出ピン２５の検出端部２５ｃが適正間隔のスリット３ｂの基準間隔に対応して設定されているとともに、適正間隔のスリット３ｂの基準間隔を超えて検出ピン２５が挿入されるのを防止し得るように上記引張りばね２８ａの付勢力が設定されているため、エアシリンダ１４によって検査ユニット２０が下降される過程で、検出ピン２５がスリット３ｂの基準間隔における各金属板に当接した状態で検出ピン２５の上下移動が規制される。この状態で、さらに検査ユニット２０が下降すると、検出ピン２５がさらにスリット３ｂへ押し付けられるため、ベース２１と検出ピン２５とが相対的に変位して、検出ピン２５の上端部が引張りばね２８ａの付勢力に抗して、レバー２４を揺動させる。
【００７３】
ここで、検査対象となるスリット３ｂが適正間隔である場合には、検査ユニット２０が下限位置まで下降した際に、検出ピン２５がスリット３ｂの基準間隔に対応した導入深さまで導入されることにより、この導入深さ応じてレバー２４が揺動するとともに、ベース２１が図９の（Ｂ）の状態から検査ポジションへ駆動された過程で光電センサ２９がＯＮ状態を維持されるため、この光電センサ２９の出力信号に応じて当該スリット３ｂが良品であると判別することができる。
【００７４】
また、検査対象となるスリット３ｂが狭間隔不良である場合には、適正間隔のスリット３ｂと比較して基準間隔が上方に位置するため、検査ユニット２０が検査ポジションへ駆動される際に、検出ピン２５が良品検査時よりスリット３ｂに対する上方の位置までしか導入されない。そのため、図９の（Ｂ）から検査ポジションまでベース２１が駆動される過程で一旦光電センサ２９がＯＮとされるものの、ベース２１が検査ポジションへ駆動されると、良品検査時よりも大きくレバー２４を揺動することによって光電センサ２９がＯＦＦとされるため、この光電センサ２９の出力信号に応じて当該スリット３ｂが狭間隔不良であると判別することができる。
【００７５】
一方、検査対象となるスリット３ｂが広間隔不良である場合には、良品のスリット３ｂと比較して基準間隔が下方に位置するため、検査ユニット２０が下限位置まで下降した際に、検出ピン２５が良品検査時より下方の位置まで導入されてしまい、レバー２４を殆ど揺動させない。その結果、光電センサ２９をＯＮとさせることなく、下限センサ１４ｄをＯＮとするため、これら下限センサ１４ｄ及び、光電センサ２９の出力信号に応じて当該スリット３ｂが広間隔不良であると判別することができる。
【００７６】
そして、上記のようにスリット３ｂの基準間隔を超えて検出ピン２５がスリット３ｂ内に深く挿入されるのを防止した状態で、上記スリット検査装置１０により、スリット３ｂの間隔の適否を判別することができるため、従来装置のように、検査時にスリット３ｂの間隔が広げられて、品質が損なわれるという事態の発生を防止することができる。
【００７７】
また、上記実施形態では、レバー軸２３をレバー２４における検出部の被検出位置よりも検出ピン２５との当接位置に近接した個所に設けたため、検出ピン２５のスリット３ｂに対する微小な導入深さの違いを多大な揺動距離へ変換することができる。したがって、レバー２４の揺動変位に応じてスリット３ｂの良否を精緻に検出することができる。
【００７８】
なお、ワークＤの全てのスリット３ｂを検査した後に不良スリット３ｂについて報知するような制御に代えて、一回の検査毎（すなわち、１６個のスリット検査毎）に各不良スリット３ｂについて報知するようにしてもよい。
【００７９】
また、上記実施形態においては、ベース２１に設けられた引張りばね２８ａの付勢力によって、所定の保持力をもって検出ピン２５がベース２１へ保持されているが、この構成に代えて、検出ピン２５が所定の摺動抵抗をもってベース２１に挿通することによって、所定の保持力でベース２１に保持されるようにしてもよい。
【００８０】
【発明の効果】
以上説明したように本発明は、検出ピンの検出端部が適正間隔のスリットを構成する各傾斜部の基準間隔に対応して形成されているとともに、基準間隔に対する導入深さにおいて両傾斜部へ当接するのに必要な保持力でベースに対して保持されている。そのため、検出ピンが当該保持力よりも強い力でスリットへ導入されるのを防止し、当該スリットを必要以上に押し広げることなく、スリットの良否判定を行なうことができる。
【００８１】
また、検出ピンのスリットに対する導入深さに応じたレバーの揺動位置に基づいてスリットの良否判定を行なうため、スリットの広間隔不良及び、狭間隔不良のそれぞれを検出することができる。
【００８２】
したがって、本発明のスリット検査装置は、品質を損なうことなく、スリットの広間隔不良と狭間隔不良のそれぞれを検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係るスリット検査装置の一部を省略して示す正面図である。
【図２】図１の検査ユニットを示す正面一部略図である。
【図３】図２の検査ユニットの右側面一部略図である。
【図４】図２の検査ユニットの平面一部略図である。
【図５】図２及び、図３のガイド片の一部を省略して示す斜視図である。
【図６】スリット検査装置の制御部を示すブロック図である。
【図７】図６の制御部のメインルーチンを示すフローチャートである。
【図８】図７の判定処理を示すフローチャートである。
【図９】スリットと検査ユニットの状態を模式的に示す略図であり、（Ａ）は判定処理の開始前の状態、（Ｂ）はスリットに対して検出ピンが途中まで導入された状態、（Ｃ）は適正間隔のスリットに対して検出ピンが導入された状態をそれぞれ示している。
【図１０】検査ユニットが下限位置まで下降した状態における検出ピンとスリットの状態を模式的に示す略図であり、（Ａ）は広間隔不良のスリットに対して検出ピンが導入された状態、（Ｂ）は狭間隔不良のスリットに対して検出ピンが導入された状態をそれぞれ示している。
【図１１】電気接続箱の一部を省略して示す斜視図である。
【符号の説明】
１ａ　板状端子
３ｂ　スリット
１０　スリット検査装置
１３　テーブル
１４　エアシリンダ
２０　検査ユニット
２１　ベース
２３　レバー軸
２４　レバー
２５　検出ピン
２５ｃ　検出端部
２９　光電センサ
３２　制御手段

Claims (2)

1. 板状端子を挿入するために被装着部に設けられ、当該板状端子の挿入方向へ向けて徐々に狭くなるように一対の傾斜部が配置されることで構成されたスリットの開き間隔を検査するためのスリット検査装置であって、
   良品の被装着部における各傾斜部の基準間隔に対応した厚みで形成されるとともに、スリットへ導入される検出端部を一端部に有する検出ピンと、
   この検出ピンをその長手方向へ相対変位可能に保持するベースと、
   このベースに設けられ、上記検出ピンの他端部と当接可能に配置されたレバーと、
   このレバーを揺動可能に支持して、上記検出ピンとレバーとの当接によって、レバーを揺動するようにベースに設けられたレバー軸と、
   上記検出端部をスリットへ導入可能な状態で被装着部を保持する保持部と、
   上記ベースを駆動することにより検出端部をスリットへ導入させた検査ポジションと、被装着部から離間させた離間ポジションとの間で変位させる駆動手段と、
   ベースが離間ポジションから検査ポジションへ駆動される過程において、検出端部のスリットに対する導入深さに応じて変化するレバーの駆動位置を検出する検出部と、
   この検出部の検出結果に基づいて、スリットの開き間隔の良否判定を行なう判定部とを備え、
   上記駆動手段により検査ポジションまで駆動されたベースに、上記検出端部を良品の被装着部の基準間隔に対する導入深さ位置において両傾斜部へ当接させるのに必要な保持力で検出ピンを保持させたことを特徴とするスリット検査装置。
2. 請求項１に記載のスリット検査装置において、上記レバー軸は、検出部により検出されるレバーの被検出位置よりも検出ピンが当接するレバーの当接位置に近接した個所に設けられていることを特徴とするスリット検査装置。

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