JP2004045614A - 液晶装置、液晶装置の製造方法、電子機器 - Google Patents
液晶装置、液晶装置の製造方法、電子機器 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】本発明の液晶装置は、液晶層50を挟持する下側基板10及び上側基板20の間にスペーサーが配置されてなる構成を具備し、液晶層50及びスペーサーが、基板面内の領域において閉ざされた枠状のシール材93内部に配置され、そのシール材93内部におけるスペーサーの密度が50〜150個/mm2とされていることを特徴とする。
【選択図】 図4
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は液晶装置、液晶装置の製造方法、及びこの液晶装置を備える電子機器に係り、特に、基板間にスペーサーを配設する技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来の液晶装置として、下側基板と上側基板とがそれぞれの基板の周縁部においてシール材を介して貼着され、これら一対の基板間に液晶層が封入された構成のものがある。この場合、基板間隔を基板面内において均一にするために、一対の基板間にスペーサーを配置する技術が知られている。
【0003】
このような液晶装置は以下のような方法により製造される。すなわち、下側基板及び上側基板のそれぞれに電極及び配向膜等を積層形成した後、例えば下側基板上において、その基板周縁部に液晶注入口を形成した形で未硬化のシール材を印刷し、同じ基板若しくはもう一方の基板の表面上にスペーサーを散布してから、未硬化のシール材を介して該下側基板と、一方の上側基板とを貼着することにより液晶セルを得る。そして、該液晶セルの未硬化のシール材を硬化し、さらにシール材に予め形成しておいた液晶注入口から液晶セル内に液晶を注入することにより液晶層を形成し、その後、注入口を封止材により封止する。最後に、下側基板及び上側基板の外側に位相差板及び偏光板等の光学素子を形成して上記構成を備える液晶装置が製造される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
この場合、液晶注入前に基板の貼合せを行うため、基板貼合せの際の圧力をスペーサーのみが受けることとなり、貼合せ圧力に耐え得るものとするためには、どうしてもスペーサーの数を減らすことができず、具体的には例えば200〜300個/mm2程度必要であった。ここでスペーサーの数が少ないと表示に対する影響が少なく、高コントラストの表示が可能となるとともに、コストダウンに繋がり得るが、上記の製造方法では200個/mm2程度にするのが均一な基板間隔(液晶層厚)の確保という観点から限界であった。
【0005】
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたもので、基板間隔を基板面内で均一化することが可能であるとともに、コントラスト低下等の表示特性の低下が生じ難い液晶装置と、その液晶装置の製造方法、さらにはこの液晶装置を備える電子機器を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の液晶装置は、液晶層を挟持する一対の基板間にスペーサーが配置されてなる液晶装置であって、液晶層及びスペーサーが、基板面内の領域において閉ざされた枠状のシール材内部に配置され、そのシール材内部におけるスペーサーの密度が50〜150個/mm2とされていることを特徴とする。
【0007】
上記本発明の液晶装置は、シール材が基板面内の領域において閉ざされた枠状に構成されているため、当該液晶装置の製造時において、基板貼合せ後に液晶を注入することができず、基板貼合せ前に液晶をいずれかの基板上に滴下して他方の基板と貼り合わせる工程を採用せざるを得ない。この場合に基板上に液晶を滴下し、さらにスペーサーをも散布した状態で基板を貼り合わせるものとすることができるため、基板貼合せの際の圧力をスペーサーのみならず、液晶もが受けることとなり、従来の注入口を設けた構成の液晶装置に比してスペーサーの数を相対的に減らすことが可能となる。すなわち、液晶が貼合せ圧力の一部を受ける役割を担うため、スペーサーの数を減らしたとしても貼合せ圧力に耐え得ることができ、均一な基板間隔を確保することができるようになる。
【0008】
したがって、本発明では、シール材の構成を、基板面内の領域において閉ざされた枠状としたために、シール材の枠の内部領域におけるスペーサーの密度を50〜150個/mm2と小さくすることができ、その結果、従来に比してスペーサーの表示に対する影響が少なくなり、スペーサー付近における光抜けに基づくコントラストの低下等が生じ難くなる。その結果、上記構成により、使用するスペーサー数の減少によるコストダウンとともに表示特性の向上を図ることが可能な液晶装置を提供することができるようになる。
【0009】
なお、スペーサーの散布密度が50個/mm2よりも小さい場合、液晶層厚(基板間隔)を基板面内で均一に維持することが困難となる場合があり、表示品位の低下を引き起こし、また、スペーサーの散布密度が150個/mm2を超えると、コストダウンの幅が小さくなるとともに、光抜けが発生し易くなり、コントラスト向上幅が小さくなる場合がある。
【0010】
また、もし仮に、従来のように注入口のあるシール材を用いて、基板貼合せ前の液晶注入を行った場合には、基板貼合せ時に液晶が外部に漏出する等の不具合が生じるため、注入口を有するシール材を形成した場合には貼合せ前の液晶注入は事実上不可能である。一方、本発明の注入口のないシール材を用いて、基板貼合せ後に液晶注入を行えないことは言うまでもなく、したがって、本発明の構成により確実に基板貼合せ前の液晶注入が可能となり、上記範囲のスペーサー散布密度を実現可能になるのである。
【0011】
本発明の液晶装置において、シール材は詳しくは基板の外縁に露出することなく枠状に形成されているものとすることができる。また、シール材は詳しくは基板の外縁に向けた開口を具備しない閉口枠形状に形成されているものとすることもできる。このようにシール材に液晶注入口を設けず完全に閉ざされた枠形状(詳しくは閉口枠形状)とすることで、基板貼合せ前に液晶を基板上に滴下し、一方の基板にスペーサーを散布した後にこれら基板を貼り合わせる製法を採用可能となり、上記のようにスペーサーの散布密度を50〜150個/mm2と少なくすることが可能となる。
【0012】
なお、本発明の液晶装置において、上記スペーサーの表面の一部又は全部に、配向規制手段を具備させることができる。すなわち、スペーサーの表面付近においては液晶の配向乱れが生じ、コントラストの低下が生じる場合があるが、このようにスペーサーの表面に配向規制手段を具備させることで、スペーサー表面付近においても液晶を配向させることが可能となり、光抜けの発生を防止し、ひいてはコントラスト低下等の不具合の生じ難い液晶装置を提供することができる。なお、配向規制手段としては、例えばシランカップリング剤等を用いて、スペーサー表面に長鎖のアルキル基を付与したもの等を例示することができる。
【0013】
また、スペーサーの表面の一部又は全部に、硬化した熱硬化型樹脂が付着しているものとすることができる。このように熱硬化型樹脂をスペーサーの表面に形成し、例えば基板間の所定位置にスペーサーを配設した後に熱処理を施すことにより、基板に対しスペーサーを安定して固着させることが可能となり、例えばスペーサーが浮遊して所定位置からズレてしまう等の不具合発生を防止することが可能となる。
【0014】
さらに、スペーサーには着色が施されているものとすることもできる。例えば当該液晶装置を表示装置として用いた場合であって、黒表示(暗表示)を行う領域において、配設されたスペーサーから光が抜け、その部分で白表示(明表示)が行われてしまう場合があるが、上記のようにスペーサーに対して着色を施すことで、特に黒に着色したスペーサーを用いることで黒表示(暗表示)を確実に行うことが可能となる。
【0015】
次に、上記液晶装置の製造方法は、以下の工程を含むことを特徴とする。すなわち、本発明の液晶装置の製造方法は、一対の基板のうちのいずれかの基板上に液晶を滴下する工程と、一対の基板のうちいずれかの基板上に、該基板面内の領域において閉ざされた枠状のシール材を形成する工程と、一対の基板のうちいずれかの基板上にスペーサーを散布する工程と、これら一対の基板を貼り合わせる工程とを含み、スペーサーの散布密度が、シール材の枠の内部領域において50〜150個/mm2とされていることを特徴とする。
【0016】
本発明の液晶装置の製造方法では、基板貼合せ前に基板上に液晶を滴下し、この基板若しくはこれとは異なる基板上にシール材を形成し、さらにいずれかの基板上にスペーサーを散布した後に、これら一対の基板を貼り合わせる構成としたため、基板貼合せ時の圧力をスペーサーのみならず液晶層もが受けるかたちとなるため、スペーサー密度を減らしても、基板面内で基板間隔が不均一となることがない。すなわち、上記のような各工程を行うとともに、スペーサー散布密度を上記範囲とすることで、基板間隔の面内均一性を保持したまま、スペーサーの影響による光抜けに基づくコントラスト低下等が生じ難い液晶装置を提供することが可能となる。
【0017】
なお、上記本発明の液晶装置の製造方法として、以下のような工程を含むものとしてもよい。すなわち、本発明の液晶装置の製造方法の異なる態様は、一対の基板のうちいずれかの基板上に、該基板面内の領域において閉ざされた枠状のシール材を形成する工程と、該シール材の内部領域に液晶を滴下する工程と、一対の基板のうちいずれかの基板上にスペーサーを散布する工程と、これら一対の基板を貼り合わせる工程とを含み、スペーサーの散布密度が、シール材の枠の内部領域において50〜150個/mm2とされていることを特徴とする。
【0018】
このような製造方法によっても、基板貼合せ前に枠状のシール材を形成した基板上であってシール材の枠の内部領域に液晶を滴下し、さらにはいずれかの基板上にスペーサーを散布した後に、これら一対の基板を貼り合わせる構成としたため、基板貼合せ時の圧力をスペーサーのみならず液晶層もが受けるかたちとなる。したがって、スペーサー密度を減らしても、基板面内で基板間隔が不均一となることがなく、すなわち、上記のような各工程を行うとともに、スペーサー散布密度を上記範囲とすることで、基板間隔の面内均一性を保持したまま、スペーサーの影響による光抜けに基づくコントラスト低下等が生じ難い液晶装置を提供することが可能となる。
【0019】
次に、本発明の電子機器は上記のような液晶装置を例えば表示装置として備えることを特徴とする。このように本発明の液晶装置を備えることにより、表示品質の優れた電子機器を提供することが可能となる。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る実施形態について図面を参照しつつ説明する。
[液晶装置]
以下に示す本実施形態の液晶装置は、スイッチング素子としてTFT(Thin Film Transistor)素子を用いたアクティブマトリクスタイプの透過型液晶装置である。なお、本実施形態の液晶装置は、液晶層を挟持する一対の基板間に配設されるスペーサーの構造、及び一対の基板を貼着し液晶層を一対の基板内に封止するシール材の構成が特徴的なものとなっている。
【0021】
図1は本実施形態の透過型液晶装置のマトリクス状に配置された複数の画素におけるスイッチング素子、信号線等の等価回路図である。図2はデータ線、走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画素群の構造を示す要部平面図である。図3は図2のA−A’線断面図で、図4は本実施形態の透過型液晶装置全体の平面構造について示す全体平面図である。なお、図3においては、図示上側が光入射側、図示下側が視認側(観察者側)である場合について図示している。また、各図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。
【0022】
本実施形態の透過型液晶装置において、図1に示すように、マトリクス状に配置された複数の画素には、画素電極9と当該画素電極9への通電制御を行うためのスイッチング素子であるTFT素子30とがそれぞれ形成されており、画像信号が供給されるデータ線6aが当該TFT素子30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、…、Snは、この順に線順次に供給されるか、あるいは相隣接する複数のデータ線6aに対してグループ毎に供給される。
【0023】
また、走査線3aがTFT素子30のゲートに電気的に接続されており、複数の走査線3aに対して走査信号G1、G2、…、Gmが所定のタイミングでパルス的に線順次で印加される。また、画素電極9はTFT素子30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT素子30を一定期間だけオンすることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、…、Snを所定のタイミングで書き込む。
【0024】
画素電極9を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、後述する共通電極との間で一定期間保持される。液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能にする。ここで、保持された画像信号がリークすることを防止するために、画素電極9と共通電極との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量70が付加されている。
【0025】
次に、図2に基づいて、本実施形態の透過型液晶装置の要部の平面構造について説明する。図2に示すように、TFTアレイ基板上に、インジウム錫酸化物(以下、「ITO」と略す)等の透明導電性材料からなる矩形状の画素電極9(点線部9Aにより輪郭を示す)が複数、マトリクス状に設けられており、画素電極9の縦横の境界に各々沿ってデータ線6a、走査線3a及び容量線3bが設けられている。本実施形態において、各画素電極9及び各画素電極9を囲むように配設されたデータ線6a、走査線3a、容量線3b等が形成された領域が画素であり、マトリクス状に配置された各画素毎に表示を行うことが可能な構造になっている。
【0026】
データ線6aは、TFT素子30を構成する例えばポリシリコン膜からなる半導体層1aのうち、後述のソース領域にコンタクトホール5を介して電気的に接続されており、画素電極9は、半導体層1aのうち、後述のドレイン領域にコンタクトホール8を介して電気的に接続されている。また、半導体層1aのうち、後述のチャネル領域(図中左上がりの斜線の領域)に対向するように走査線3aが配置されており、走査線3aはチャネル領域に対向する部分でゲート電極として機能する。
【0027】
容量線3bは、走査線3aに沿って略直線状に伸びる本線部(すなわち、平面的に見て、走査線3aに沿って形成された第1領域)と、データ線6aと交差する箇所からデータ線6aに沿って前段側(図中上向き)に突出した突出部(すなわち、平面的に見て、データ線6aに沿って延設された第2領域)とを有する。そして、図2中、右上がりの斜線で示した領域には、複数の第1遮光膜11aが設けられている。
【0028】
次に、図3に基づいて、本実施形態の透過型液晶装置の断面構造について説明する。図3は上述した通り、図2のA−A’線断面図で、TFT素子30が形成された領域の構成について示す断面図である。本実施形態の透過型液晶装置においては、TFTアレイ基板10と、これに対向配置される対向基板20との間に液晶層50が挟持されている。
【0029】
液晶層50は、強誘電性液晶であるスメクティック液晶にて構成され、電圧変化に対する液晶駆動の応答性が速いものとされている。TFTアレイ基板10は、石英等の透光性材料からなる基板本体10Aとその液晶層50側表面に形成されたTFT素子30、画素電極9、配向膜40を主体として構成されており、対向基板20はガラスや石英等の透光性材料からなる基板本体20Aとその液晶層50側表面に形成された共通電極21と配向膜60とを主体として構成されている。なお、各基板10,20間はスペーサー15を介して所定間隔が保たれた状態となっている。
【0030】
TFTアレイ基板10において、基板本体10Aの液晶層50側表面には画素電極9が設けられ、各画素電極9に隣接する位置に、各画素電極9をスイッチング制御する画素スイッチング用TFT素子30が設けられている。画素スイッチング用TFT素子30は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有しており、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶縁膜2、データ線6a、半導体層1aの低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃度ソース領域1d及び高濃度ドレイン領域1eを備えている。
【0031】
上記走査線3a上、ゲート絶縁膜2上を含む基板本体10A上には、高濃度ソース領域1dへ通じるコンタクトホール5、及び高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール8が開孔した第2層間絶縁膜4が形成されている。つまり、データ線6aは、第2層間絶縁膜4を貫通するコンタクトホール5を介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続されている。
【0032】
さらに、データ線6a上及び第2層間絶縁膜4上には、高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール8が開孔した第3層間絶縁膜7が形成されている。つまり、高濃度ドレイン領域1eは、第2層間絶縁膜4及び第3層間絶縁膜7を貫通するコンタクトホール8を介して画素電極9に電気的に接続されている。
【0033】
本実施形態では、ゲート絶縁膜2を走査線3aに対向する位置から延設して誘電体膜として用い、半導体膜1aを延設して第1蓄積容量電極1fとし、更にこれらに対向する容量線3bの一部を第2蓄積容量電極とすることにより、蓄積容量70が構成されている。
【0034】
また、TFTアレイ基板10の基板本体10Aの液晶層50側表面において、各画素スイッチング用TFT素子30が形成された領域には、TFTアレイ基板10を透過し、TFTアレイ基板10の図示下面(TFTアレイ基板10と空気との界面)で反射されて、液晶層50側に戻る戻り光が、少なくとも半導体層1aのチャネル領域1a’及び低濃度ソース、ドレイン領域1b、1cに入射することを防止するための第1遮光膜11aが設けられている。
【0035】
また、第1遮光膜11aと画素スイッチング用TFT素子30との間には、画素スイッチング用TFT素子30を構成する半導体層1aを第1遮光膜11aから電気的に絶縁するための第1層間絶縁膜12が形成されている。さらに、図2に示したように、TFTアレイ基板10に第1遮光膜11aを設けるのに加えて、コンタクトホール13を介して第1遮光膜11aは、前段あるいは後段の容量線3bに電気的に接続するように構成されている。
【0036】
さらに、TFTアレイ基板10の液晶層50側最表面、すなわち、画素電極9及び第3層間絶縁膜7上には、電圧無印加時における液晶層50内の液晶分子の配向を制御する配向膜40が形成されている。したがって、このようなTFT素子30を具備する領域においては、TFTアレイ基板10の液晶層50側最表面、すなわち液晶層50の挟持面には複数の凹凸ないし段差が形成された構成となっている。
【0037】
他方、対向基板20には、基板本体20Aの液晶層50側表面であって、データ線6a、走査線3a、画素スイッチング用TFT素子30の形成領域に対向する領域、すなわち各画素部の開口領域以外の領域に、入射光が画素スイッチング用TFT素子30の半導体層1aのチャネル領域1a’や低濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1cに侵入することを防止するための第2遮光膜23が設けられている。さらに、第2遮光膜23が形成された基板本体20Aの液晶層50側には、そのほぼ全面に渡って、ITO等からなる共通電極21が形成され、その液晶層50側には、電圧無印加時における液晶層50内の液晶分子の配向を制御する配向膜60が形成されている。
【0038】
なお、図4は本実施形態の透過型液晶装置100の全体構成について概略を示す平面模式図であって、TFTアレイ基板10と対向基板20の間には、閉環状のシール材93により封止する形にて液晶層50が形成されている。すなわち、本実施形態の透過型液晶装置100において、シール材93は、液晶を注入するための注入口を具備せず、基板10,20の面内領域において閉ざされた枠形状であって、基板10,20の外縁に露出することなく、基板10,20の外縁に向けた開口を具備しない閉口枠形状に形成されている。
【0039】
次に、図5は、図2の画素電極9が形成された領域、すなわちTFT素子30の非形成領域であって、遮光膜23が形成されていない表示領域の構成について示す断面図である。この表示領域においても、図3に示した領域と同様、下側のTFTアレイ基板(なお、表示領域ではTFT素子は非形成)10と、これに対向配置される上側の対向基板20との間に液晶層50が挟持された構成をとっており、さらにこの表示領域においても、各基板10,20間はスペーサー15を介して所定間隔が保たれた状態となっている。
【0040】
上述した通り、液晶層50を挟持する一対の基板10,20間にはスペーサー15が形成され、そのスペーサー形成数は、シール材93の内部面積に対して50〜150個/mm2(例えば約100個/mm2)とされている。このように、本実施の形態ではスペーサーの散布密度を小さくしたため、スペーサー15付近での光抜けに基づく表示品位低下が生じ難いものとなる。
【0041】
ここで、シール材に液晶注入口を形成した従来の液晶装置においては、基板貼合せ前に液晶を注入すると、基板貼合せ時に注入口から抜け出る惧れがあり好ましくない。そこで、シール材に液晶注入口を形成した場合には、基板貼合せ後に液晶を注入せざるを得ない。一方、シール材93に液晶注入口を形成しない本実施形態の液晶装置では、注入口がないため基板貼合せ後に液晶を注入することができず、基板貼合せ前に液晶を基板10,20のうちのいずれかの基板上に滴下して他方の基板と貼り合わせる工程を採用せざるを得ない。
【0042】
この場合に基板上に液晶を滴下し、さらにスペーサー15をも散布した状態で基板を貼り合わせるものとすることができるため、基板貼合せの際の圧力(貼合せ圧力)をスペーサー15のみならず、液晶もが受けることとなり、従来の液晶注入口を設けた構成の液晶装置に比してスペーサー15の数を相対的に減らすことが可能となり、すなわち50〜150個/mm2程度の少ないスペーサー数を実現可能となった。
【0043】
このように、本実施形態の液晶装置においては、シール材93に液晶注入口を形成しない構成としたために、液晶が貼合せ圧力の一部を受ける役割を担うこととなり、スペーサー15の数を減らしたとしても貼合せ圧力に耐え得ることができ、均一な基板間隔を確保することができるようになる。したがって、本実施形態の液晶装置では、シール材93の構成を、基板10,20の面内領域において閉ざされた枠状としたために、シール材93内部におけるスペーサー15の密度を50〜150個/mm2と小さくすることができ、その結果、従来に比してスペーサー15の表示に対する影響が少なくなり、スペーサー15付近における光抜けに基づくコントラストの低下等が生じ難くなったのである。
【0044】
本実施形態の液晶装置において、スペーサー15の散布密度が50個/mm2よりも小さい場合、液晶層50の層厚(基板間隔)を基板10,20の面内で均一に維持することが困難となる場合があり、表示品位の低下を招く、また、スペーサー15の散布密度が150個/mm2を超えると、コストダウンの幅が小さくなるとともに、光抜けが発生し易くなり、コントラスト向上幅が小さくなる場合があり、さらに信頼性の面からも、液晶層50に低温気泡発生率が高くなる開口がある。なお、本実施形態のようにシール材93に液晶注入口を設けない構成とした場合のスペーサー15の散布密度は、好ましくは80〜150個/mm2程度とするのが良い。
【0045】
なお、本実施形態では白黒表示を前提とした構成としているが、カラー表示を行うべく、カラーフィルタ層を形成することもできる。すなわち、上側基板(対向基板)20の内面に、着色層及び遮光層(ブラックマトリクス)からなるカラーフィルタ層を設け、カラーフィルタ層を保護する保護層を順次形成し、さらに保護層上に画素電極9を形成することができる。表示領域においては、各々異なる色、例えば赤(R)、緑(G)、青(B)の着色層を備えるものとされており、したがって、各色の表示領域により画素が構成され、画素毎にカラー表示が可能となる。また、本実施形態ではアクティブマトリクスタイプの液晶装置を例示したが、例えば単純マトリクスタイプの液晶装置にも本発明に係る構成を採用することも可能である。
【0046】
次に、本実施形態の液晶装置に用いるスペーサー15の構成について説明する。スペーサー15は、例えば二酸化珪素やポリスチレン等からなる球状部材にて構成することができる。スペーサー15の直径は、液晶装置に封入される液晶層50の厚み(セル厚、すなわち基板間隔)に合わせて設定され、例えば2〜10μmの範囲内から選択される。
【0047】
スペーサー15としては、図6に示すように表面に熱硬化性樹脂層150が付与された構成のものを採用することができる。この場合、熱硬化性樹脂の硬化によりスペーサー15が下側基板(TFTアレイ基板)10及び/又は上側基板(対向基板)20に対し確実に固着されるようになる。例えば、当該液晶装置の製造工程において、液晶を滴下した基板(例えばTFTアレイ基板10)とは異なる基板(対向基板20)上にスペーサー15を散布した後に熱処理を行い、熱硬化性樹脂を硬化させることにより、対向基板20に対してスペーサー15を固着させることができる。
【0048】
また、スペーサー15の表面には、例えば図7のように長鎖のアルキル基を付与した表面処理層151を設けることができる。長鎖のアルキル基を付与した表面処理層151を設ける手段としては、例えばシランカップリング剤を用いて表面処理を行うことが挙げられる。図9(a)に示すように、表面処理層151の設けられていないスペーサー15を用いた場合、スペーサー15表面付近において液晶分子の配向が乱れ、その部分において光漏れが生じる場合がある。一方、図9(b)に示すように、表面処理層151の設けられたスペーサー15aを用いた場合には、スペーサー15a表面付近において液晶分子を所定の方向に配向(本実施形態の場合は垂直配向)することが可能となり、その部分において光漏れが生じ難いものとなる。
【0049】
さらに、スペーサーには着色を施すことが可能で、図8に示したスペーサー15bは、黒色に着色されたスペーサーの一例を示している。例えば図10(a)に示すように、無着色スペーサー15を用いると、黒表示(暗表示)時にスペーサーに対応して白色の点表示が発生することとなり、場合によってはコントラスト低下の一因となる場合がある。しかしながら、図10(b)に示すように、図8に示したような着色スペーサー15bを用いることで、黒表示(暗表示)時にスペーサーに対応する白色の点表示が発生しないものとなる。なお、白表示(明表示)時にスペーサーに対応する黒色の点表示が発生することとなるが、黒表示(暗表示)時の白色の点表示発生に比してコントラスト低下に対する影響は小さいものとなる。
【0050】
[液晶装置の製造方法]
次に、上記実施形態に示した液晶装置の製造方法について、その一例を図3及び図11を参照しつつ説明する。まず、図11のS1に示すように、ガラス等からなる下側の基板本体10A上に遮光膜11a、第1層間絶縁膜12、半導体層1a、チャネル領域1a’、低濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1c、高濃度ソース領域1d、高濃度ドレイン領域1e、蓄積容量電極1f、走査線3a、容量線3b、第2層間絶縁膜4、データ線6a、第3層間絶縁膜7、コンタクトホール8、画素電極9、配向膜40を形成し、下側基板(TFTアレイ基板)10を作成する。また、上側の基板本体20A上にも遮光膜23、対向電極21、配向膜60を形成し、上側基板(対向基板)20を作成する。
【0051】
次に、図11のS2において、下側基板(TFTアレイ基板)10上に所定量の液晶を滴下する。続いて、図11のS3において、上側基板20上にシール材93を印刷し、さらにS4において、同じく上側基板20上にスペーサー15を散布する。この場合、シール材93は図4に示したように液晶注入口を有しない閉口枠形状に形成し、さらにスペーサー15の散布密度を閉口枠形状のシール材93の内側領域において50〜150個/mm2程度としている。
【0052】
そして、図11のS5において、これら下側基板10と上側基板20とを貼り合わせ、さらに下側基板10及び上側基板20の外側に図示しない位相差板及び偏光板等の光学素子を形成して少なくとも図3に示したパネル構造を備える液晶装置が製造される。
【0053】
一方、製造方法の異なる例として、図12に示すような工程により上記実施形態の液晶装置を得ることもできる。まず、図12のS11に示すように、上述した図11のS1と同様、ガラス等からなる下側の基板本体10A上に配向膜40等を形成し、下側基板(TFTアレイ基板)10を作成する。また、上側の基板本体20A上にも配向膜60等を形成し、上側基板(対向基板)20を作成する。
【0054】
次に、図12のS12において、下側基板(TFTアレイ基板)10上に上記同様、液晶注入口を有しない閉口枠形状のシール材93を印刷し、さらに、図12のS13において、該閉口枠形状のシール材93の内側に所定量の液晶を滴下する。続いて、図11のS14において、上側基板20上にスペーサー15を散布する。この場合、スペーサー15の散布密度は閉口枠形状のシール材93の内側領域において50〜150個/mm2程度としている。
【0055】
そして、図12のS15において、これら下側基板10と上側基板20とを貼り合わせ、さらに下側基板10及び上側基板20の外側に図示しない位相差板及び偏光板等の光学素子を形成して少なくとも図3に示したパネル構造を備える液晶装置が製造される。
【0056】
[電子機器]
次に、上記実施形態で示した液晶装置を備えた電子機器の具体例について説明する。
図13(a)は携帯電話の一例を示した斜視図である。図13(a)において、符号500は携帯電話本体を示し、符号501は上記実施形態の液晶装置を備えた液晶表示部を示している。
【0057】
図13(b)はワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図13(b)において、符号600は情報処理装置、符号601はキーボードなどの入力部、符号603は情報処理本体、符号602は上記実施形態の液晶装置を備えた液晶表示部を示している。
【0058】
図13(c)は腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図13(c)において、符号700は時計本体を示し、符号701は上記実施形態の液晶装置を備えた液晶表示部を示している。
【0059】
このように、図13(a)〜(c)に示すそれぞれの電子機器は、上記実施形態の液晶装置のいずれかを備えたものであるので、表示品質の優れた電子機器となる。
【0060】
[実施例]
次に、本実施形態の液晶装置の特性を確認するために以下の実施例を行った。すなわち、表1に示すように、実施例1〜4の液晶装置と、比較例1〜4の液晶装置を作製し、コントラストないし基板間隔の均一性について考察した。
【0061】
まず、実施例1〜4の液晶装置は、図11に示した工程を含む製造方法により製造され、上記実施形態に係る構成を備える。すなわち、シール材93が液晶注入口を備えず閉口枠形状とされ、スペーサー15の散布密度は表1に示すように、実施例1から順に50個/mm2、80個/mm2、110個/mm2、150個/mm2に設定した。
【0062】
一方、比較例1,2の液晶装置は、液晶注入口を備え無いシール材93を形成し、スペーサー15の散布密度を10個/mm2及び200個/mm2に設定したものである。また、比較例3,4の液晶装置は、液晶注入口を備えるシール材を用い、下側基板10及び上側基板20を貼り合わせた後に、該液晶注入口から液晶を注入することで製造したもので、スペーサー15の散布密度は、それぞれ50個/mm2及び150個/mm2に設定した。
【0063】
【表1】
【0064】
表1に示すように、実施例1〜4の液晶装置は、高コントラストで基板間隔が基板面内で均一なものであったが、比較例1の液晶装置では、スペーサー15の散布密度が10個/mm2であることに起因して、実施例1〜4の液晶装置に比して基板間隔が不均一なものとなった。また、比較例2の液晶装置では、スペーサー15の散布密度が200個/mm2であることに起因して、実施例1〜4の液晶装置に比してコントラストが低くなった、また、散布密度が200個/mm2以上になると液晶パネルそのものが硬くなり、熱による液晶の膨張や収縮により、液晶50内部に気泡を生じる可能性がある。さらに、比較例3,4の液晶装置では、シール材に液晶注入口を形成して、基板貼合せ後に液晶を注入したことに起因して、実施例1〜4の液晶装置に比して基板間隔が面内で不均一となった。
【0065】
なお、比較例3,4について、基板を貼り合わせる前に、いずれかの基板上に液晶を滴下し、その後基板を貼り合わせる手法を採用したところ、貼合せ時に液晶が注入口から漏出し、結果的に液晶が基板貼合せ圧力を受ける効果を発現できず、スペーサーの散布密度を50〜150個/mm2とした各比較例3,4において基板間隔が不均一なものとなった。
【0066】
【発明の効果】
以上説明したように本発明の液晶装置によれば、液晶層を挟持する一対の基板間にスペーサーが配置されてなる液晶装置において、液晶層及びスペーサーを、基板面内の領域において閉ざされた枠状のシール材内部に配置し、そのシール材内部におけるスペーサーの密度を50〜150個/mm2としたため、当該液晶装置の製造時において、基板貼合せ前に液晶をいずれかの基板上に滴下して他方の基板と貼り合わせる工程を採用可能となり、この場合に基板上に液晶を滴下し、さらにスペーサーをも散布した状態で基板を貼り合わせるものとすることができるため、基板貼合せの際の圧力をスペーサーのみならず、液晶もが受けることとなり、従来の注入口を設けた構成の液晶装置に比してスペーサーの数を減らすことが可能となる。
【0067】
具体的には、上述のようにスペーサーの数を50〜150個/mm2程度にすることが可能となり、その結果、従来に比してスペーサーの表示に対する影響が少なくなり、スペーサー付近における光抜けに基づくコントラストの低下等が生じ難くなる。したがって、本発明により、使用するスペーサー数の減少による表示品位の向上とともにコストダウンを図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態の液晶装置におけるスイッチング素子、信号線等の等価回路図である。
【図2】図1の液晶装置のTFTアレイ基板の相隣接する複数の画素群の構造を示す平面図である。
【図3】図1の液晶装置についてその非表示領域における構造を示す断面図である。
【図4】図1の液晶装置について全体構成の概略を示す全体平面模式図である。
【図5】図1の液晶装置についてその表示領域における構造を示す断面図である。
【図6】スペーサーの構成を示す模式図である。
【図7】スペーサーに表面処理層を設けた場合の構成を示す模式図である。
【図8】スペーサーに着色を施した場合の構成を示す模式図である。
【図9】図7のスペーサーを用いた場合の効果について示す説明図である。
【図10】図8のスペーサーを用いた場合の効果について示す説明図である。
【図11】図1の液晶装置の製造方法について、その一例を示す工程説明図である。
【図12】図1の液晶装置の製造方法について、その一変形例を示す工程説明図である。
【図13】本発明に係る電子機器について幾つかの例を示す斜視図。
【符号の説明】
10 下側基板(TFTアレイ基板)
15 スペーサー
20 上側基板(対向基板)
50 液晶層
93 シール材
Claims (6)
- 液晶層を挟持する一対の基板間にスペーサーが配置されてなる液晶装置であって、前記液晶層及びスペーサーが、前記基板面内のシール材によって囲まれた内部領域に配置され、該シール材によって囲まれた内部領域における前記スペーサーの密度が50〜150個/mm2とされていることを特徴とする液晶装置。
- 前記シール材が前記基板の外縁に露出することなく枠状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。
- 前記シール材が前記基板の外縁に向けた開口を具備しない閉口枠形状に形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の液晶装置。
- 請求項1ないし3のいずれか1項に記載の液晶装置の製造方法であって、前記一対の基板のうちのいずれかの基板上に液晶を滴下する工程と、前記一対の基板のうちいずれかの基板上に、該基板面内の領域において閉ざされた枠状のシール材を形成する工程と、前記一対の基板のうちいずれかの基板上にスペーサーを散布する工程と、これら一対の基板を貼り合わせる工程とを含み、前記スペーサーの散布密度が、前記シール材の内部領域において50〜150個/mm2とされていることを特徴とする液晶装置の製造方法。
- 請求項1ないし3のいずれか1項に記載の液晶装置の製造方法であって、前記一対の基板のうちのいずれかの基板上に、該基板面内の領域において閉ざされた枠状のシール材を形成する工程と、該シール材の内部領域に液晶を滴下する工程と、前記一対の基板のうちいずれかの基板上にスペーサーを散布する工程と、これら一対の基板を貼り合わせる工程とを含み、前記スペーサーの散布密度が、前記シール材の内部領域において50〜150個/mm2とされていることを特徴とする液晶装置の製造方法。
- 請求項1ないし3のいずれか1項に記載の液晶装置を備えることを特徴とする電子機器。
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