JP2004039841A - 半導体ウエハ搬送装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】キャリアからウエハを取り出す際に前もってアームの変形を検出し、アームの変形によるウエハ搬送トラブルやウエハへの傷を未然に防止する。
【解決手段】アームを上下方向に移動させるためのボールネジに同期するロータリエンコーダと、正常なアームをキャリアに挿入する際のアームの高さ位置を原点位置17とし、この原点位置17からアームを下降させてアームが検出点位置18に達したことを検知する反射型光電センサ6とを備え、アームに変形がある場合、変形アーム2aが下降を始めると同時にロータリエンコーダもパルス出力を開始し、反射型光電センサ6からの検知信号を受けた時点でのロータリエンコーダのパルス数(900又は1100パルス)をカウントし、このパルス数を正常なアームのパルス数(1000パルス)と比較してアームの変形の有無を検出する。
【選択図】   図3

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体装置の製造工程で使用する半導体ウエハ(以下、単にウエハという)のアーム式搬送装置に関するもので、特に、ウエハ移載用のアームの変形をウエハ搬送前に検知してウエハの搬送トラブルを未然に防止することができるようにしたウエハ搬送装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体装置の製造工程において、前工程から次工程にウエハを搬送する際にはキャリアへのウエハの取り出しや収納が行なわれ、そのためにウエハ搬送装置(搬送ロボット)が使用されている。この搬送ロボットは、前工程のキャリアに収納されたウエハを1枚ずつ取り出し、次工程に送るための片持ち状のアームを備えている。通常、このアームは長方形状の薄板で形成され、前進後退、上昇下降、かつ回転可能に搬送ロボットに装備されている。
【0003】
キャリアには複数枚のウエハが等ピッチで水平方向に収納されており、このピッチ間にアームを前進させて先端部を挿入し、アームをわずか上昇させてウエハを乗せ、アームを後退させてウエハをキャリアから取り出し、アームを回転させてウエハを次工程に搬送している。搬送後、アームは初期位置に戻り、キャリアを1ピッチ移動させ、次のウエハに対し同様のサイクル動作を行なう。
【0004】
このアームは片持ち構造であるため、何らかの原因でアームに外力が加わったりあるいはネジの緩みなどがあったりすると、わずかの力であっても変形(傾き、曲がり、ねじれ、反り等)を生じ易く、特にアーム先端部では変形が拡大されてキャリアのウエハピッチ間にアームを挿入する時に、ウエハに傷をつけたり最悪の場合はウエハを破損してしまうという事態が発生していた。
【0005】
この状態を図8及び図9を用いて説明すると、図8はキャリア内に収納されたウエハの1ピッチ間に正常なアーム(変形のないアーム)が挿入された状態を示す側面図で、アーム2は上ウエハ10と下ウエハ11との真中に挿入され、上下ウエハ10、11とアーム2の間隔はそれぞれ約1mmのマージン16を持たせている。図9(A)、(B)はそれぞれ変形したアームが挿入された状態を示す側面図で、アーム2aが下方(図A)又は上方(図B)に約1mm曲がり変形しているために、下ウエハ11又は上ウエハ10に傷12をつけた状態を示している。
【0006】
そこで従来は、アームの変形によるウエハ傷やウエハ搬送トラブルを未然に防止するために、例えば、特許第2996491号公報に示されているように、ウエハ搬送面と平行に基準面を設定し、この基準面からアームまでの距離を光学的に検出し、変形が検出された場合には搬送ロボットを直ちに停止させるようにした手段が採用されている。
【0007】
この従来の光学的検出手段について図を用いて説明すると、図10はアームを側面方向から見た説明図、図11はアームを先端方向から見た説明図である。図10、図11に示すように、アーム2がキャリア7に挿入される手前でかつアーム2の下方に、同一機能の2個の反射型光電センサ6a、6bを横に並べると同時に縦方向に少しずらして設置している。この反射型光電センサ6a、6bは、赤外線発光ダイオードなどの小スポット限定反射型の光電センサであって、出射面より例えば8mm前後の距離にある検出範囲内に反射面が来た場合には感知してOFF(又はON)となるセンサスイッチで、検出範囲外ではON(又はOFF)となる。
【0008】
すなわち、図11に示すように、下方にずらして設置した反射型光電センサ6aの検出範囲をa〜b間とし、上方にずらして設置した反射型光電センサ6bの検出範囲をc〜d間とすると、この2個の反射型光電センサの検出範囲が重なったc〜b間が新たな検出範囲となる。そして、この上限位置bと下限位置cの許容範囲内にアーム2が納まれば、アーム2は変形のない正常な状態にあると判断し、はみ出した場合は変形があると判断している。これにより、反射型光電センサ1個で検出するよりも検出範囲を狭くできるので、アーム変形の検出精度を上げることが可能となっている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来技術では、アームの変形を検出するために反射型光電センサを2個使用し、それぞれの検出範囲をずらすことによって許容範囲を設定しているが、この方法は、検出範囲を狭めることによってアームの変形の検出精度を上げることは可能であっても、個々の反射型光電センサの位置調整が困難であり、例えば、0.01mm単位にまで精度を上げて位置調整を行なうことは不可能に近い。そのため、アームの変形が許容範囲から外れた場合にのみONかOFFかで異常を検出するデジタル方式に頼らざるを得ず、実際にアームに変形があっても許容範囲内に入っていれば検出されないため変形なしと判断され、変形が発生し始めていることを見過ごしてしまう結果になる。
【0010】
また、従来は、アームが側面方向から見て図9(A)のように下方向または図9(B)のように上方向に曲がり変形していても、許容範囲内ならば検出可能であったが、図12(A)に示すように、アーム2を先端方向から見てα方向に傾いて変形している場合には、許容範囲b〜c間から外れていても反射型光電センサ6aの検出範囲a〜b内、又は6bの検出範囲c〜d内であれば異常とは判断されないことになり、ウエハへダメージを与えてしまうことになる。したがって、図12(B)に示すように、反対のα方向に傾いて変形している場合のみ、アーム2は許容範囲b〜c間から外れるため検出が可能となる。
【0011】
本発明は、アームの変形の検出精度を向上させることによって上記問題点を解決し、アームの変形によるウエハ搬送トラブルやウエハへの傷を未然に防止できる半導体ウエハ搬送装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明は、複数枚のウエハを等ピッチ間隔で水平に収納したキャリアの前記ウエハ間にアームを挿入し、キャリアからウエハを1枚ずつアームに乗せて取り出し次工程に搬送する半導体ウエハ搬送装置において、前進後退、上昇下降、回転可能なアームを有する搬送ロボットと、アームを上下方向に移動させるためのボールネジに同期するロータリエンコーダと、正常なアームをキャリアに挿入する際のアーム高さ位置を原点位置とし、この原点位置からアームを下降させてアームが検出点位置に達したことを検知する反射型光電センサとを備え、アームが下降を始めると同時にロータリエンコーダもパルス出力を開始し、反射型光電センサからの信号を受けた時点でのロータリエンコーダのパルス数をカウントし、このパルス数を正常なアームのパルス数と比較してアームの変形の有無を検出するようにしている。
【0013】
また、本発明は、アームの変形の有無を、アームをキャリアのウエハ間に挿入する前に毎回検査し、アームの変形が検出された場合はウエハ搬送動作を停止させるようにし、また、アームの変形が上向き又は下向きの曲り変形である場合に検出可能とするとともに、アームを原点位置においてわずか回転させ、アームの左右両端部におけるパルス数をそれぞれカウントし、このパルス数の差によりアームの傾き変形も検出可能としている。
【0014】
また、本発明は、反射型光電センサを前進するアームの下方でかつキャリアの手前に設置し、前進するアームをキャリアの直前で一旦停止させてアームの変形検出動作を行なうようにしている。
【0015】
また、本発明は、複数枚のウエハを等ピッチ間隔で水平に収納したキャリアの前記ウエハ間にアームを挿入し、キャリアからウエハを1枚ずつアームに乗せて取り出し次工程に搬送する半導体ウエハ搬送装置において、前進後退のみ可能なアームを有する搬送ロボットと、反射型光電センサを上下方向に移動させるためのボールネジに同期するロータリエンコーダと、正常なアームをキャリアに挿入する際の反射型光電センサの高さ位置を原点位置とし、この原点位置から反射型光電センサを上昇させて反射型光電センサがアーム検出点位置に達したことを検知し、反射型光電センサが上昇を始めると同時にロータリエンコーダもパルス出力を開始し、反射型光電センサからの検知信号を受けた時点でのロータリエンコーダのパルス数をカウントし、このパルス数を正常なアームのパルス数と比較してアームの変形の有無を検出するようにしている。
【0016】
また、本発明は、反射型光電センサを前進するアームの下方でかつキャリアの手前に上昇下降可能に設置し、前進するアームをキャリアの直前で一旦停止させてアームの変形検出動作を行なうようにしている。
【0017】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態を示すウエハ搬送装置の構成図である。図1に示すように、本発明のウエハ搬送装置は、水平方向(X方向)に前進後退動作が可能でかつ垂直方向(Z方向)に上昇下降動作が可能でかつθ方向に回転可能なアーム2と、このアーム2を上下動作させるパルスモータ5及びボールネジ3と、このボールネジ3と同期回転するロータリエンコーダ4とからなる(X−Z−θ)軸を有する搬送ロボット1を備えている。
【0018】
さらに、この搬送ロボット1を動作させてアーム2を前進させたときに、前進したアーム2の下方に設置されてアーム2に出射光を当てて検知する反射型光電センサ6と、反射型光電センサ6からの検知信号が入力された時のパルス数をロータリエンコーダ4でカウントし、このロータリエンコーダ4からの信号に基づいてアーム2の変形の有無を判定し、搬送ロボット1の動作を制御する制御部15とから構成されている。また、ウエハ8を一定ピッチで収納したキャリア7がキャリアステージ9上に置かれ、アーム2は変形無しと判定された場合に前進して上下のウエハ間に挿入され、上昇して上側のウエハ8を載せ、後退してウエハ8をキャリア7から取り出すようになっている。
【0019】
このように構成されている本発明のウエハ搬送装置において、アームの変形をウエハ搬送前に検出し、ウエハ搬送トラブルやウエハ面へのダメージを未然に防止することができる機能について、図面を参照して説明する。
【0020】
図2は正常なアーム(変形の無いアーム)の検出動作を説明する側面図である。図に示すように、アーム2が前進してキャリアの手前に設置された反射型光電センサ6の上に来たところで停止する。このときのアーム2の高さ位置をアームの原点位置17とし、同時にロータリエンコーダ上でもアーム原点位置に対応して原点位置(初期値)を定める。そして、ウエハを1枚搬送するごとにアームは原点位置に戻り、キャリアを1ピッチ移動させて次のウエハに対し同様のサイクル動作を行なう。
【0021】
次いで、反射型光電センサ6の上に来たアーム2は、ボールネジの回転により下降を開始し、反射型光電センサ6から所定の距離にアーム2が来た時に、反射型光電センサ6のスイッチ機能が作動してアーム2の位置を検出する。ここでは、例えば反射型光電センサ6の端面より8mmのところで動作するセンサを使用し、この位置を検出点位置18とする。一方、アーム2の下降開始と同時にロータリエンコーダも初期値からのパルスをカウントし始め、反射型光電センサ6がアーム2を検出したときのパルス数でアームの位置を検出することができる。ここでは、例えば1000パルスとなった時にアームが検出点位置18に達したものとすれば、このパルス数が正常なアームであることを示している。
【0022】
次に、アームに曲り変形があった場合の検出動作について、図3(A)、(B)の側面図を用いて説明する。なお、前記図2と同じ内容の説明は省略する。図3(A)のように、変形アーム2aは先端部が下に曲がった状態で原点位置17にある。この変形アーム2aをボールネジの回転により降下させると、先端部が下方に曲がっているため正常なアームに比べ短い時間で検出点位置18に到達する。このとき、反射型光電センサ6からの信号によりロータリエンコーダも、例えば900パルスをカウントしたとすれば、正常なアームの1000パルスと比較してアーム2aが下方に曲がり変形していることが分かる。同様に、図3(B)のように、アーム2aの先端部が上に曲がった状態の時は、正常なアームに比べ長い時間で検出点位置18に到達する。このとき、例えばロータリエンコーダが1100パルスをカウントしたとすれば、アーム2aが上方に曲がり変形していることが分かる。
【0023】
次に、アームに傾き変形があった場合の検出動作について、図4及び図5を用いて説明する。図4は正常なアーム2を先端方向から見た正面図で、アーム2の両端部をそれぞれ検出点位置18とした場合の説明図である。図4(A)はアーム2を回転させてアーム2の左端部13が反射型光電センサ6の上に来た場合を示し、図4(B)は同じくアーム2の右端部14が反射型光電センサ6の上に来た場合を示している。ここで、Lはアーム2上の両検出点位置間の距離であり、反射型光電センサ6と検出点位置18との間隔は例えば8mmとする。
【0024】
また、図5は、図4で示したアーム2がα方向に傾き変形した場合の正面図で、図5(A)に示すように、アーム2の左端部13の検出点位置18は水平位置より下がっているため原点位置17から例えば980パルスの位置で検出され、アーム2の右端部14の検出点位置18は、図5(B)に示すように、水平位置より上がっているため例えば1020パルスの位置で検出され、これらの数値からアーム2のα方向の傾きも捉えることができる。
【0025】
上記したアームの変形を検出する機能は、次のような動作原理に基づいている。すなわち、反射型光電センサの出力(例えば、センサ端面より8mmの位置にアームが来たら検出する)と搬送ロボット自体の持つロータリエンコーダの出力とを毎回比較し、初期値(例えば、原点位置からセンサ出力までを1000パルスとする)からの変化を認識することでアームの変形を捉える。ここで、ロータリエンコーダの1パルスに相当するアームの移動量は、ロータリエンコーダの分解能(パルス/回転)とZ軸であるボールネジのリードによって決まっているため、原点位置からのパルス数が分かれば換算することによってmm/パルスの値が判る。それにより、あらかじめ定められたアーム変形量の規格値に対しその値が大きくなれば、搬送装置はアームの異常を認識し、ウエハ搬送動作に移行することはなく、搬送トラブルを未然に防止できる。
【0026】
次に、本発明の動作について説明する。まず、図1に示すように、ウエハ搬送装置は搬送ロボット1を動作させ、キャリアステージ9上にセットされたキャリア7内にあるウエハ8を、アーム2の前進、上昇、後退、回転によって次工程へ搬送する。アーム2が正常な場合は、図8に示したように上ウエハ10と下ウエハ11の真中に挿入され、上下ウエハ10、11とアーム2とのマージン16は上下それぞれ約1mmとなるようにウエハ間ピッチを設定している。
【0027】
本発明は、ウエハ搬送前に毎回アーム2の変形(曲がり、傾きなど)を検査し、変形量が規格値(例えば、0.2mm)を超えている場合にはウエハ搬送を行なわない。そのシーケンスは、アーム2が反射型光電センサ6上まで伸びた後、原点位置17からセンサの検出点位置18までの移動量をロータリエンコーダ4のパルス数を数えることで認識する。
【0028】
すなわち、図2に示すように、アーム2が正常な場合は、毎回同じパルス数(1000パルス)の時に反射型光電センサ6はアーム2を検出する。ロータリエンコーダによる分解能が0.01mm/パルスとすると、原点位置17から反射型光電センサ6の検出点位置18までの距離は、1000パルス×0.01mm/パルス=10mmということになる。
【0029】
また、図3(A)に示すように、アーム2が何らかの影響で変形した場合、原点位置17から900パルスの位置で反射型光電センサ6はアーム2を検出する。よって、原点位置17から反射型光電センサ6の検出点位置18までの距離は、900パルス×0.01mm/パルス=9mmとなり、正常なアームに比べアーム2は1mm下方に曲がり変形していることが判る。同様に、図3(B)に示すように、パルス数が1100パルスを検出した場合は、アーム2は1mm上方に曲がり変形していることがわかる。また、図5に示すように、アーム2を回転させ、その検出点位置18をアームの両端部で行なうと、アーム2に傾きがある場合、原点位置17からのパルス数が左端部13で980パルス、右端部14で1020パルスと変化が現れ、その傾きが判る。この場合は、(1020−980)パルス×0.01mm/パルス=0.4mmとなり、高さ0.4mmのα方向の傾きがあることが判る。
【0030】
次に、本発明における他の実施の形態について、図6の構成図を用いて説明する。先に述べた実施の形態では、反射型光電センサ6を固定しアーム2を前進後退(X方向)、上昇下降(Z方向)、回転(θ方向)させる構成であったが、本実施の形態では、図6に示すように、アーム2はX方向に前進後退のみとし、反射型光電センサ6の方を上昇下降(Z方向)、回転(θ方向)させる構成としている。このように、アーム2の動きを単純化したことによってX軸のみの搬送ロボット21は機構の簡略化が可能となる。一方、反射型光電センサ6を有するユニット23において、反射型光電センサ6はパルスモータ19によって回転するボールネジ3に連動して上昇下降し、パルスモータ19には同期回転するロータリエンコーダ4が接続されている。また、反射型光電センサ6を回転させる回転駆動源20が設けられている。この回転駆動源20は、図4に示したように、アーム2の両端部を測定する際にアーム2を距離Lだけ回転させるためのものなので、シリンダやソレノイドでもよい。また、表示器22を設けることによって測定値を表示することができ、規格を超えればアラームを発し異常を知らせる。
【0031】
この反射型光電センサ6によって、アーム2の変形を検出する動作について図7を用いて説明する。図7はアーム2が正常な場合の側面図である。まず、アーム2が反射型光電センサ6の上に来た時、反射型光電センサ6は原点位置17にあり、ロータリエンコーダの初期値と一致している。次いで、反射型光電センサ6を上昇させ、アーム2から約8mmの検出点位置18に来た時にロータリエンコーダが1000パルスをカウントしたとすれば、この時点でアーム2は正常と判断する。また、図示していないが、アーム2が曲がり変形、傾き変形している場合でも、図7と同様の動作原理でアーム2の異常を検出できる。
【0032】
【発明の効果】
従来は2個の反射型光電センサを用いて上限下限を設定し、この許容範囲内であればアームに変形があっても異常なしと判断していたが、本発明は1個の反射型光電センサとロータリエンコーダを組み合わせることによって、分解能にもよるが0.01mm単位の精度でアームの変形量を検出することも可能である。
【0033】
また、従来はアームを先端側から見て左右に傾いている場合は一方向の傾き変形しか検出できなかったが、本発明は両端部を測定することによっていずれの方向の傾き変形も検出できる。
【0034】
このように、本発明によれば、アームの変形によるウエハ搬送トラブルやウエハへの傷を未然に防止できるとともに、変形量の経時変化を捉えることによってアーム変形の予知診断も可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における一実施の形態を示すウエハ搬送装置の構成図である。
【図2】本発明の一実施の形態において、正常なアームの検出動作を説明する側面図である。
【図3】本発明の一実施の形態において、曲がり変形があるアームの検出動作を説明する側面図で、図(A)は下に曲がった場合、図(B)は上に曲がった場合を示す。
【図4】本発明の一実施の形態において、アームの両端部の変形検出動作を説明する正面図である。
【図5】本発明の一実施の形態において、傾き変形があるアームの検出動作を説明する正面図で、図(A)は左端部を検出する場合、図(B)は右端部を検出する場合を示す。
【図6】本発明における他の実施の形態を示すウエハ搬送装置の構成図である。
【図7】本発明の他の実施形態において、正常なアームの検出動作を説明する側面図である。
【図8】ウエハ間に正常なアームが挿入された時の側面図である。
【図9】ウエハ間に変形があるアームが挿入された時の側面図である。
【図10】従来の光電センサを用いたアームの検出手段を説明する側面図である。
【図11】従来の光電センサを用いたアームの検出手段を説明する正面図である。
【図12】従来の傾き変形があるアームの検出動作を説明する正面図で、図(A)は検出不可能な場合、図(B)は可能な場合を示す。
【符号の説明】
1  (X−Z−θ)軸を有する搬送ロボット
2  アーム
2a  変形アーム
3  ボールネジ
4  ロータリエンコーダ
5  パルスモータ
6、6a、6b  反射型光電センサ
7  キャリア
8  ウエハ
9  キャリアステージ
10  上ウエハ
11  下ウエハ
12  傷
13  左端部
14  右端部
15  制御部
16  マージン
17  原点位置
18  検出点位置
19  パルスモータ
20  回転駆動源
21  X軸のみの搬送ロボット
22  表示器
23  ユニット

Claims (7)

  1. 複数枚の半導体ウエハを等ピッチ間隔で水平に収納したキャリアの前記半導体ウエハ間にアームを挿入し、キャリアから半導体ウエハを1枚ずつアームに乗せて取り出し次工程に搬送する半導体ウエハ搬送装置において、前進後退、上昇下降、回転可能なアームを有する搬送ロボットと、アームを上下方向に移動させるためのボールネジに同期するロータリエンコーダと、正常なアームをキャリアに挿入する際のアームの高さ位置を原点位置とし、この原点位置からアームを下降させてアームが検出点位置に達したことを検知する反射型光電センサとを備え、アームが下降を始めると同時にロータリエンコーダもパルス出力を開始し、反射型光電センサからの検知信号を受けた時点でのロータリエンコーダのパルス数をカウントし、このパルス数を正常なアームのパルス数と比較してアームの変形の有無を検出することを特徴とする半導体ウエハ搬送装置。
  2. 前記アームの変形の有無を、アームをキャリアの半導体ウエハ間に挿入する前に毎回検査し、アームの変形が検出された場合は半導体ウエハ搬送動作を停止させることを特徴とする請求項1記載の半導体ウエハ搬送装置。
  3. 前記アームの変形が上向き又は下向きの曲り変形である場合に検出可能としたことを特徴とする請求項1記載の半導体ウエハ搬送装置。
  4. 前記アームを原点位置においてわずか回転させ、アームの左右両端部におけるパルス数をそれぞれカウントし、このパルス数の差によりアームの傾き変形を検出可能としたことを特徴とする請求項1記載の半導体ウエハ搬送装置。
  5. 前記反射型光電センサを前進するアームの下方でかつキャリアの手前に設置し、前進するアームをキャリアの直前で一旦停止させてアームの変形検出動作を行なうことを特徴とする請求項1記載の半導体ウエハ搬送装置。
  6. 複数枚の半導体ウエハを等ピッチ間隔で水平に収納したキャリアの前記半導体ウエハ間にアームを挿入し、キャリアから半導体ウエハを1枚ずつアームに乗せて取り出し次工程に搬送する半導体ウエハ搬送装置において、前進後退のみ可能なアームを有する搬送ロボットと、反射型光電センサを上下方向に移動させるためのボールネジに同期するロータリエンコーダと、正常なアームをキャリアに挿入する際の反射型光電センサの高さ位置を原点位置とし、この原点位置から反射型光電センサを上昇させて反射型光電センサがアーム検出点位置に達したことを検知し、反射型光電センサが上昇を始めると同時にロータリエンコーダもパルス出力を開始し、反射型光電センサからの検知信号を受けた時点でのロータリエンコーダのパルス数をカウントし、このパルス数を正常なアームのパルス数と比較してアームの変形の有無を検出することを特徴とする半導体ウエハ搬送装置。
  7. 前記反射型光電センサを前進するアームの下方でかつキャリアの手前に上昇下降可能に設置し、アームの前進をキャリアの直前で一旦停止させてアームの変形検出動作を行なうことを特徴とする請求項6記載の半導体ウエハ搬送装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005051171A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Applied Materials Inc 基板処理装置
JP2007251087A (ja) * 2006-03-20 2007-09-27 Tokyo Electron Ltd 縦型熱処理装置及び縦型熱処理装置における移載機構の制御方法
WO2010082490A1 (ja) * 2009-01-14 2010-07-22 キヤノンアネルバ株式会社 真空処理装置、電子部品の製造方法及び真空処理プログラム
WO2010119559A1 (ja) * 2009-04-17 2010-10-21 株式会社仲田コーティング エアバッグ破断溝形成装置及び車両用内装部材の製造方法
US8029224B2 (en) 2007-03-23 2011-10-04 Tokyo Electron Limited Substrate transfer apparatus, substrate transfer method, and storage medium
WO2016103292A1 (ja) * 2014-12-22 2016-06-30 川崎重工業株式会社 ロボットシステム及びエンドエフェクタの変形検出方法
CN110998817A (zh) * 2017-08-09 2020-04-10 Asm Ip私人控股有限公司 用以存储用于基底的盒的存储设备及配备其的处理设备
CN110978750A (zh) * 2019-12-12 2020-04-10 广东溢达纺织有限公司 丝印机及加工预警装置
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
CN117174625A (zh) * 2023-11-02 2023-12-05 浙江果纳半导体技术有限公司 一种晶圆状态检测机构、检测方法和晶圆传输设备

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005051171A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Applied Materials Inc 基板処理装置
JP2007251087A (ja) * 2006-03-20 2007-09-27 Tokyo Electron Ltd 縦型熱処理装置及び縦型熱処理装置における移載機構の制御方法
US8029224B2 (en) 2007-03-23 2011-10-04 Tokyo Electron Limited Substrate transfer apparatus, substrate transfer method, and storage medium
KR101215746B1 (ko) * 2007-03-23 2012-12-26 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 이동 탑재 장치, 기판 이동 탑재 방법, 및 기억 매체
WO2010082490A1 (ja) * 2009-01-14 2010-07-22 キヤノンアネルバ株式会社 真空処理装置、電子部品の製造方法及び真空処理プログラム
US9902082B2 (en) 2009-04-17 2018-02-27 Nakata Coating Co., Ltd. Vehicular interior member manufacturing method and airbag rupturing groove manufacturing method
WO2010119559A1 (ja) * 2009-04-17 2010-10-21 株式会社仲田コーティング エアバッグ破断溝形成装置及び車両用内装部材の製造方法
WO2016103292A1 (ja) * 2014-12-22 2016-06-30 川崎重工業株式会社 ロボットシステム及びエンドエフェクタの変形検出方法
CN110998817A (zh) * 2017-08-09 2020-04-10 Asm Ip私人控股有限公司 用以存储用于基底的盒的存储设备及配备其的处理设备
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
CN110998817B (zh) * 2017-08-09 2023-11-10 Asm Ip私人控股有限公司 用以存储用于基底的盒的存储设备及配备其的处理设备
CN110978750A (zh) * 2019-12-12 2020-04-10 广东溢达纺织有限公司 丝印机及加工预警装置
CN117174625A (zh) * 2023-11-02 2023-12-05 浙江果纳半导体技术有限公司 一种晶圆状态检测机构、检测方法和晶圆传输设备
CN117174625B (zh) * 2023-11-02 2024-02-06 浙江果纳半导体技术有限公司 一种晶圆状态检测机构、检测方法和晶圆传输设备

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