JP2004006832A - 接着フィルム及び半導体装置 - Google Patents

接着フィルム及び半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004006832A
JP2004006832A JP2003116516A JP2003116516A JP2004006832A JP 2004006832 A JP2004006832 A JP 2004006832A JP 2003116516 A JP2003116516 A JP 2003116516A JP 2003116516 A JP2003116516 A JP 2003116516A JP 2004006832 A JP2004006832 A JP 2004006832A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive film
bis
weight
resin
dianhydride
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003116516A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhide Aichi
愛知 且英
Takashi Masuko
増子 崇
Yuji Hasegawa
長谷川 雄二
Shinji Takeda
武田 信司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP2003116516A priority Critical patent/JP2004006832A/ja
Publication of JP2004006832A publication Critical patent/JP2004006832A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/831Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/83101Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus as prepeg comprising a layer connector, e.g. provided in an insulating plate member
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/10251Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/157Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2924/15738Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950 C and less than 1550 C
    • H01L2924/15747Copper [Cu] as principal constituent

Abstract

【課題】良好な熱時接着力持ち、かつ高温高湿条件における信頼性が高いダイボンド用接着フィルム及びこれを用いた半導体装置を提供する。
【解決手段】下記一般式(I)で表される繰り返し単位を有してなるポリイミド樹脂を含有してなる接着フィルム及びこの接着フィルムを用いて、半導体素子同士又は半導体素子と支持部材とを接着してなる半導体装置。
Figure 2004006832

(但しRはジアミン残基としての二価の有機基である)
【選択図】   なし

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、IC、LSI等の半導体素子とリードフレームや絶縁性支持基板等の支持部材の接合材料、すなわちダイボンディング用材料として用いられる接着フィルムおよびそれを用いて製造される半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、ICやLSIとリードフレームの接合にはAu−Si共晶合金、半田あるいは銀ペースト等が用いられている。Au−Si共晶合金は、耐熱性及び耐湿性は高いが、弾性率が大きいため大型チップへ適用した場合に割れやすいほか、高価である難点がある。半田は安価であるものの、耐熱性が劣り、更に弾性率はAu−Si共晶合金と同様に高く、大型チップへ適用が困難である。
【0003】
一方、銀ペーストは安価で、耐湿性が高く、弾性率も上記3者の中では最も低く、350℃の熱圧着型ワイヤボンダーに適用できる耐熱性も有するので、現在はICやLSIとリードフレームの接着用材料の主流である。しかし、近年ICやLSIの高集積化が進み、それに伴ってチップが大型化しているなかで、ICやLSIとリードフレームを銀ペーストで接合しようとする場合、銀ペーストをチップ全面に広げ塗布するには困難を伴う。
【0004】
マイクロエレクトロニック マニュファクチャリング アンド テスティング(MICROELECTRONIC MANUFACTURING AND TESTING 1985年10月)に、導電性フィラーを熱可塑性樹脂に充填したダイボンド用の接着フィルムが報告された。これは熱可塑性樹脂の融点付近まで温度を上げ、加圧接着するものである。上記雑誌で報告された導電性接着フィルムは、融点が低い熱可塑性樹脂を選んで用いると接着温度を低くすることができ、リードフレームの酸化等、チップに与えるダメージは少なくてすむ。しかし、熱時接着力が低いのでダイボンド後の熱処理、例えばワイヤボンド、封止工程等に耐えられない。そのような熱処理に耐えられるように融点の高い熱可塑性樹脂を用いると、接着温度が高くなり、リードフレームの酸化等のダメージを受ける問題がある。
【0005】
これらを解決するものとして、特定のポリイミド樹脂を用いた接着フィルム、これに導電性フィラーもしくは無機フィラーを含有するダイボンド用接着フィルムがある(例えば、特許文献1、2、3参照。)。
【特許文献1】
特開平6−145639号公報
【特許文献2】
特開平7−228697号公報
【特許文献3】
特開平11−92744号公報
【0006】
このダイボンド用接着フィルムは比較的低温で接着でき、かつ良好な熱時接着力をもっている。このため42アロイリードフレームばかりでなく、銅リードフレーム及び絶縁性支持基盤にも好適に使用できる。しかしながら近年の半導体実装方式は、従来の半導体実装方法よりも小型化、薄型化を達成するために、半導体素子を保護する封止部材を削減しているため、ダイボンド用接着フィルムが従来よりも周囲の温度や湿度の影響を受けやすく、高温高湿条件下における信頼性を確保することが困難になっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、良好な熱時接着力持ち、かつ高温高湿条件における信頼性が高いダイボンド用接着フィルム及びこれを用いた半導体装置を提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明は、一般式(I)
【化3】
Figure 2004006832
(但しRはジアミン残基としての二価の有機基である)
で表される繰り返し単位を有してなるポリイミド樹脂を含有してなる接着フィルムに関する。
【0009】
また本発明は、前記一般式(I)で表されるポリイミド樹脂が、全テトラカルボン酸二無水物の30モル%以上を式(II)
【化4】
Figure 2004006832
で示されるテトラカルボン酸二無水物を含むテトラカルボン酸二無水物とジアミンを反応させて得られるものである接着フィルムに関する。
また本発明は、さらに熱硬化性樹脂を含有してなる前記接着フィルムに関する。
また本発明は、熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂又はイミド化合物である前記接着フィルムに関する。
【0010】
また本発明は、(A)一般式(I)で表される繰り返し単位を有するポリイミド樹脂100重量部に対して、(B)熱硬化性樹脂200重量部以下、及び(C)フィラー8000重量部以下を含有してなる前記接着フィルムに関する。
また本発明は、半導体素子同士又は半導体素子と支持部材とを接着するための前記接着フィルムに関する。
また本発明は、前記の接着フィルムを用いて、半導体素子同士又は半導体素子と支持部材を接着してなる半導体装置に関する。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明で用いる一般式(I)で表される繰り返し単位を有するポリイミド樹脂は、式(II)で表されるテトラカルボン酸二無水物を含むテトラカルボン酸二無水物と、ジアミンを反応させて得ることができる。
式(II)で示されるテトラカルボン酸二無水物は、全テトラカルボン酸二無水物のうち、30モル%以上用いることが好ましく、50モル%以上用いることがより好ましく、70モル%以上用いることがさらに好ましい。
【0012】
式(II)のテトラカルボン酸二無水物と共に使用できるテトラカルボン酸二無水物としては、例えば、ピロメリット酸二無水物、3,3′,4,4′−ジフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2′,3,3′−ジフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、2,2−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)プロパン二無水物、1,1−ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、1,1−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エタン二無水物、ビス(2,3−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メタン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)スルホン二無水物、3,4,9,10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)エーテル二無水物、ベンゼン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、3,4,3′,4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,3,2′,3−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,3,3′,4′−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、1,2,5,6−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、1,2,4,5−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、2,6−ジクロルナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、2,7−ジクロルナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−テトラクロルナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、フエナンスレン−1,8,9,10−テトラカルボン酸二無水物、ピラジン−2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、チオフエン−2,3,4,5−テトラカルボン酸二無水物、2,3,3′,4′−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,4,3′,4′−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,2′,3′−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ジメチルシラン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)メチルフェニルシラン二無水物、ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ジフェニルシラン二無水物、1,4−ビス(3,4−ジカルボキシフェニルジメチルシリル)ベンゼン二無水物、1,3−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)−1,1,3,3−テトラメチルジシクロヘキサン二無水物、p−フェニレンビス(トリメリテート無水物)、エチレンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−ブタンテトラカルボン酸二無水物、デカヒドロナフタレン−1,4,5,8−テトラカルボン酸二無水物、4,8−ジメチル−1,2,3,5,6,7−ヘキサヒドロナフタレン−1,2,5,6−テトラカルボン酸二無水物、シクロペンタン−1,2,3,4−テトラカルボン酸二無水物、ピロリジン−2,3,4,5−テトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、ビス(エキソビシクロ〔2,2,1〕ヘプタン−2,3−ジカルボン酸二無水物)スルホン、ビシクロ−(2,2,2)−オクト(7)−エン2,3,5,6−テトラカルボン酸二無水物、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン二無水物、2,2−ビス〔4−(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル〕ヘキサフルオロプロパン二無水物、4,4′−ビス(3,4−ジカルボキシフェノキシ)ジフェニルスルフイド二無水物、1,4−ビス(2−ヒドロキシヘキサフルオロイソプロピル)ベンゼンビス(トリメリット酸二無水物)、1,3−ビス(2−ヒドロキシヘキサフルオロイソプロピル)ベンゼンビス(トリメリット酸二無水物)、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロフリル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸二無水物、テトラヒドロフラン−2,3,4,5−テトラカルボン酸二無水物等があり、2種類以上を混合して用いてもよい。
【0013】
本発明の接着フィルムに係るポリイミド樹脂の他の製造原料のジアミンとしては、1,2−ジアミノエタン、1,3−ジアミノプロパン、1,4−ジアミノブタン、1,5−ジアミノペンタン、1,6−ジアミノヘキサン、1,7−ジアミノヘプタン、1,8−ジアミノオクタン、1,9−ジアミノノナン、1,10−ジアミノデカン、1,11−ジアミノウンデカン、1,12−ジアミノドデカン等の脂肪族ジアミン、o−フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、3,3′−ジアミノジフェニルエーテル、3,4′−ジアミノジフェニルエーテル、4,4′−ジアミノジフェニルエーテル、3,3′−ジアミノジフェニルメタン、3,4′−ジアミノジフェニルメタン、4,4′−ジアミノジフェニルメタン、3,3′−ジアミノジフェニルジフルオロメタン、3,4′−ジアミノジフェニルジフルオロメタン、4,4′−ジアミノジフェニルジフルオロメタン、3,3′−ジアミノジフェニルスルホン、3,4′−ジアミノジフェニルスルホン、4,4′−ジアミノジフェニルスルホン、3,3′−ジアミノジフェニルスルフイド、3,4′−ジアミノジフェニルスルフイド、4,4′−ジアミノジフェニルスルフイド、3,3′−ジアミノジフェニルケトン、3,4′−ジアミノジフェニルケトン、4,4′−ジアミノジフェニルケトン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)プロパン、2,2′−(3,4′−ジアミノジフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−(3,4′−ジアミノジフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、3,3′−(1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン))ビスアニリン、3,4′−(1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン))ビスアニリン、4,4′−(1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン))ビスアニリン、2,2−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(4−(4−アミノフエノキシ)フエニル)ヘキサフルオロプロパン、ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)スルフイド、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)スルフイド、ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)スルホン等の芳香族ジアミン、一般式(III)で表されるジアミノシロキサン
【化5】
Figure 2004006832
[式(III)中、R及びRは二価の炭化水素基、R及びRは一価の炭化水素基を示し、RとR、RとRはそれぞれが同一でも異なっていてもよく、sは1以上の整数を表す]
などを用いることができる。
【0014】
その例として、1,1,3,3−テトラメチル−1,3−ビス(4−アミノフェニル)ジシロキサン、1,1,3,3−テトラフェノキシ−1,3−ビス(4−アミノエチル)ジシロキサン、1,1,3,3−テトラフェニル−1,3−ビス(2−アミノエチル)ジシロキサン、1,1,3,3−テトラフェニル−1,3−ビス(3−アミノプロピル)ジシロキサン、1,1,3,3−テトラメチル−1,3−ビス(2−アミノエチル)ジシロキサン、1,1,3,3−テトラメチル−1,3−ビス(3−アミノプロピル)ジシロキサン、1,1,3,3−テトラメチル−1,3−ビス(3−アミノブチル)ジシロキサン、1,3−ジメチル−1,3−ジメトキシ−1,3−ビス(4−アミノブチル)ジシロキサン、1,1,3,3,5,5−ヘキサメチル−1,5−ビス(4−アミノフェニル)トリシロキサン、1,1,5,5−テトラフェニル−3,3−ジメチル−1,5−ビス(3−アミノプロピル)トリシロキサン、1,1,5,5−テトラフェニル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(4−アミノブチル)トリシロキサン、1,1,5,5−テトラフェニル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(5−アミノペンチル)トリシロキサン、1,1,5,5−テトラメチル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(2−アミノエチル)トリシロキサン、1,1,5,5−テトラメチル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(4−アミノブチル)トリシロキサン、1,1,5,5−テトラメチル−3,3−ジメトキシ−1,5−ビス(5−アミノペンチル)トリシロキサン、1,1,3,3,5,5−ヘキサメチル−1,5−ビス(3−アミノプロピル)トリシロキサン、1,1,3,3,5,5−ヘキサエチル−1,5−ビス(3−アミノプロピル)トリシロキサン、1,1,3,3,5,5−ヘキサプロピル−1,5−ビス(3−アミノプロピル)トリシロキサン等がある。これらのジアミンは単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
【0015】
テトラカルボン酸二無水物とジアミンの縮合反応は、有機溶媒中で行う。この場合、テトラカルボン酸二無水物とジアミンは等モル又はほぼ等モルで用いるのが好ましく、各成分の添加順序は任意である。用いる有機溶媒としては、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホリルアミド、m−クレゾール、o−クロルフェノール等がある。
【0016】
反応温度は80℃以下が好ましく、0〜50℃がより好ましい。反応が進行するにつれ反応液の粘度が徐々に上昇する。この場合、ポリイミドの前駆体であるポリアミド酸が生成する。
【0017】
ポリイミドは、上記反応物(ポリアミド酸)を脱水閉環させて得ることができる。脱水閉環は120℃〜250℃で熱処理する方法や化学的方法を用いて行うことができる。120℃〜250℃で熱処理する方法の場合、脱水反応で生じる水を系外に除去しながら行うことが好ましい。この際、ベンゼン、トルエン、キシレン等を用いて水を共沸除去してもよい。なお、本発明においてポリイミド樹脂とは、ポリイミド及びその前駆体を総称する。ポリイミドの前駆体には、ポリアミド酸のほか、ポリアミド酸が部分的にイミド化したものがある。
【0018】
化学的方法で脱水閉環させる場合は、閉環剤として無水酢酸、無水プロピオン酸、無水安息香酸の酸無水物、ジシクロヘキシルカルボジイミド等のカルボジイミド化合物等を用いる。このとき必要に応じてピリジン、イソキノリン、トリメチルアミン、アミノピリジン、イミダゾール等の閉環触媒を用いてもよい。閉環剤又は閉環触媒は、テトラカルボン酸二無水物1モルに対し、それぞれ1〜8モルの範囲で使用するのが好ましい。また、接着力を向上させるため、ポリイミド樹脂にシランカップリング剤、チタン系カップリング剤、ノニオン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤、シリコーン系添加剤等を適宜加えてもよい。
【0019】
本発明の接着フィルムは、上記ポリイミド樹脂に熱硬化性樹脂及び/又はフィラーを含有させて接着フィルムとすることもできる。熱硬化性樹脂を用いる場合には、熱硬化性樹脂(B)としてはエポキシ樹脂、フェノール樹脂及び硬化促進剤を含有する樹脂、あるいは1分子中に少なくとも2個の熱硬化性イミド基を有するイミド化合物から選ぶことが好ましい。
【0020】
熱硬化性樹脂として、エポキシ樹脂、フェノール樹脂及び硬化促進剤を含む熱硬化性樹脂を用いる場合の接着フィルムは、(1)一般式(I)で示される繰り返し単位を有するポリイミド樹脂(A)100重量部に対して、エポキシ樹脂を0〜200重量部を使用することが好ましく、フェノール樹脂をエポキシ樹脂100重量部に対して、0〜150重量部使用することが好ましく、硬化促進剤をエポキシ樹脂100重量部に対して、0〜50重量部使用することが好ましい。これらは、有機溶媒に溶解し、(2)ベースフィルム上に塗布し、加熱することによりフィルムを製造できる。
【0021】
熱硬化性樹脂が、1分子中に少なくとも2個の熱硬化性イミド基を有するイミド化合物である場合は、(1)一般式(I)で示される繰り返し単位を有するポリイミド樹脂(A)100重量部に対して、1分子中に少なくとも2個の熱硬化性イミド基を有するイミド化合物を0〜200重量部用いることが好ましく、1〜150重量部用いることがより好ましく、これらを有機溶媒に溶解し、(2)ベースフィルム上に塗布し、加熱することによりフィルムを製造できる。
【0022】
フィラーを含有させる場合、フィラー(C)としては、銀粉、金粉、銅粉等の導電性フィラー、シリカ、アルミナ、チタニア、ガラス、酸化鉄、セラミック等の無機物質フィラー等が挙げられる。
フィラー含有の接着フィルムは、ポリイミド樹脂を有機溶媒に溶解後、フィラーを加え、必要に応じ他の成分を加え、混合・混練し、得られたペースト状混合物を、ベースフィルム上に均一に塗布し、加熱して製造することができる。
【0023】
なお、熱硬化性樹脂を含有させた接着フィルムは、熱時の剪断接着力が高くなる特徴がある。しかし、熱時のピール接着力は逆に低下するので、使用目的に応じて、熱硬化性樹脂含有又は非含有の接着フィルムとし、使い分けることができる。ここで熱硬化性樹脂とは、加熱により3次元的網目構造を形成し、硬化する樹脂のことである。
【0024】
熱硬化性樹脂を含有させる場合、熱硬化性樹脂の量は、ポリイミド樹脂(A)100重量部に対して0〜200重量部が好ましく、0〜150重量部とすることがより好ましく、1〜100重量部とすることがさらに好ましい。200重量部を超えるとフィルム形成性が悪くなる傾向がある。
【0025】
熱硬化性樹脂として、エポキシ樹脂、フェノール樹脂及び硬化促進剤を含有する樹脂を選ぶ場合に、用いられるエポキシ樹脂は、分子内に少なくとも2個のエポキシ基を含むもので、硬化性や硬化物特性の点からフェノールのグリシジルエーテル型のエポキシ樹脂が好ましい。このような樹脂としては、ビスフェノールA、ビスフェノールAD、ビスフェノールS、ビスフェノールFもしくはハロゲン化ビスフェノールAとエピクロルヒドリンの縮合物、フェノールノボラック樹脂のグリシジルエーテル、クレゾールノボラック樹脂のグリシジルエーテル、ビスフェノールAノボラック樹脂のグリシジルエーテル等が挙げられる。
【0026】
エポキシ樹脂の量は、ポリイミド樹脂100重量部に対し0〜200重量部が好ましく、0〜100重量部がより好ましく、1〜90重量部とすることがさらに好ましい。200重量部を超えるとフィルム形成性が悪くなる傾向がある。
【0027】
用いられるフェノール樹脂は、分子中に少なくとも2個のフェノール性水酸基を有するもので、このような樹脂としては例えば、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、ポリ−p−ビニルフェノール、フェノールアラルキル樹脂等が挙げられる。フェノール樹脂の量は、エポキシ樹脂100重量部に対して0〜150重量部が好ましく、0〜120重量部であることがより好ましく、10〜100重量部とすることがさらに好ましい。150重量部を超えると硬化性が不充分となる傾向がある。
【0028】
硬化促進剤は、エポキシ樹脂を硬化させるために用いられるものであれば特に制限はない。このようなものとしては例えば、イミダゾール類、ジシアンジアミド誘導体、ジカルボン酸ジヒドラジド、トリフェニルホスフィン、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、2−エチル−4−メチルイミダゾール−テトラフェニルボレート、1,8−ジアザビシクロ(5.4.0)ウンデセン−7−テトラフェニルボレート等が用いられる。これらは、2種以上を併用してもよい。
【0029】
硬化促進剤の量はエポキシ樹脂100重量部に対し、0〜50重量部が好ましく、0〜20重量部がより好ましく、0.1〜10重量部とすることがさらに好ましい。ここで50重量部を超えると保存安定性が悪くなる傾向がある。
【0030】
上記接着フィルムの製造の際に用いる有機溶媒は、材料を均一に溶解、混練又は分散できるものであれば制限はなく、例えば、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、ジエチレングリコールジメチルエーテル、トルエン、ベンゼン、キシレン、メチルエチルケトン、テトラヒドロフラン、エチルセロソルブ、エチルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブ、ジオキサン等がある。
【0031】
熱硬化性樹脂として、1分子中に少なくとも2個の熱硬化性イミド基を有するイミド化合物を使用する場合、その化合物の例としては、オルトビスマレイミドベンゼン、メタビスマレイミドベンゼン、パラビスマレイミドベンゼン、1,4−ビス(p−マレイミドクミル)ベンゼン、1,4−ビス(m−マレイミドクミル)ベンゼンのほか、下記の式(IV)〜(VII)で表されるイミド化合物等がある。
【0032】
【化6】
Figure 2004006832
〔式(IV)中、XはO、CH、CF、SO、S、CO、C(CH又はC(CFを示し、R、R、R及びRはそれぞれ独立に水素、低級アルキル基、低級アルコキシ基、フッ素、塩素又は臭素を示し、Dはエチレン性不飽和二重結合を有するジカルボン酸残基を示す〕
【0033】
【化7】
Figure 2004006832
〔式(V)中、YはO、CH、CF、SO、S、CO、C(CH又はC(CFを示し、R、R10、R11及びR12はそれぞれ独立に水素、低級アルキル基、低級アルコキシ基、フッ素、塩素又は臭素を示し、Dはエチレン性不飽和二重結合を有するジカルボン酸残基を示す〕
【0034】
【化8】
Figure 2004006832
〔式(VI)中、mは0〜4の整数を示し、Dはエチレン性不飽和二重結合を有するジカルボン酸残基を示す〕
【0035】
【化9】
Figure 2004006832
[式(VII)中、R13及びR14は二価の炭化水素基、R15及びR16は一価の炭化水素基を示し、R13とR14、R15とR16はそれぞれが同一でも異なっていてもよく、Dはエチレン性不飽和二重結合を有するジカルボン酸残基を示し、nは1以上の整数を表す]
【0036】
なお、各構造式において、Dで示されるエチレン性不飽和二重結合を有するジカルボン酸残基としては、マレイン酸残基、シトラコン酸残基などが挙げられる。
【0037】
本発明で用いられるイミド化合物の量は、ポリイミド樹脂100重量部に対して0〜200重量部が好ましく、0〜150重量部がより好ましく、1〜100重量部がさらに好ましい。200重量部を超えるとフィルム形成性が悪くなる傾向がある。
【0038】
式(IV)のイミド化合物としては、例えば、4,4−ビスマレイミドジフェニルエーテル、4,4−ビスマレイミドジフェニルメタン、4,4−ビスマレイミド−3,3′−ジメチルジフェニルメタン、4,4−ビスマレイミドジフェニルスルホン、4,4−ビスマレイミドジフェニルスルフィド、4,4−ビスマレイミドジフェニルケトン、2,2′−ビス(4−マレイミドフェニル)プロパン、4,4−ビスマレイミドジフェニルフルオロメタン、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2,2−ビス(4−マレイミドフェニル)プロパン等がある。
【0039】
式(V)のイミド化合物としては、例えば、ビス〔4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル〕エーテル、ビス〔4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル〕メタン、ビス〔4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル〕フルオロメタン、ビス〔4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル〕スルホン、ビス〔4−(3−マレイミドフェノキシ)フェニル〕スルホン、ビス〔4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル〕スルフィド、ビス〔4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル〕ケトン、2,2−ビス〔4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル〕プロパン、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2,2−ビス〔4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル〕プロパン等がある。
【0040】
これらイミド化合物の硬化を促進するため、ラジカル重合剤を使用してもよい。ラジカル重合剤としては、アセチルシクロヘキシルスルホニルパーオキサイド、イソブチリルパーオキサイド、ベンゾイルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイド、アセチルパーオキサイド、ジクミルパーオキサイド、クメンハイドロパーオキサイド、アゾビスイソブチロニトリル等がある。このとき、ラジカル重合剤の使用量は、イミド化合物100重量部に対して概ね0.01〜1.0重量部が好ましい。
【0041】
フィラーのうち、銀粉、金粉、銅粉等の導電性フィラーは接着剤に導電性又はチキソ性を付与する目的で添加され、シリカ、アルミナ、チタニア、ガラス、酸化鉄、セラミック等の無機物質フィラーは接着剤に低熱膨張性、低吸湿率を付与する目的で添加される。これら導電性フィラー又は無機物質フィラーは2種以上を混合して用いることもできる。また、物性を損なわない範囲で導電性フィラーと無機物質フィラーとを混合して用いてもよい。
【0042】
フィラーの量は、ポリイミド樹脂100重量部に対し0〜8000重量部が好ましく、0〜4000重量部の範囲がより好ましく、10〜2000重量部の範囲がさらに好ましい。8000重量部よりも多いと接着性が低下する傾向がある。
フィラーを用いた場合の混合・混練は、通常の攪拌機、らいかい機、三本ロール、ボールミルなどの分散機を適宜、組み合せて行うことができる。
【0043】
こうして得たワニス又はペースト状混合物をベースフィルム上に均一に塗布後、使用した溶媒が充分に揮散する条件、すなわち、おおむね60〜200℃の温度で、0.1〜30分間加熱して行うのが好ましい。その後、接着フィルムは、通常は、室温下にベースフィルムから剥がして使用される。
【0044】
得られた接着フィルムは、IC、LSI等の半導体素子と、42アロイリードフレーム、銅リードフレーム等のリードフレーム、ポリイミド、エポキシ樹脂、ポリイミド系樹脂等のプラスチックフィルム、ガラス不織布等基材にポリイミド、エポキシ樹脂、ポリイミド系樹脂等のプラスチックを含浸・硬化させたもの、アルミナ等のセラミックス等の支持部材の接合に用いることができる。また、パッケージの種類に応じて、半導体素子同士の接合に用いることもできる。
【0045】
接合の条件は、前記したような半導体素子と支持部材との間又は半導体素子同士の間に本発明の接着フィルムを挾み、加熱圧着して、両者を接着させる。加熱温度は、通常、100〜300℃、0.1〜300秒間である。
【0046】
【実施例】
以下、本発明を実施例により説明する。
【0047】
合成例1
温度計、攪拌機及び塩化カルシウム管を備えた500mlの四つ口フラスコに、2,2−ビス(4−アミノフェノキシフェニル)プロパン41g(0.1モル)及びジメチルアセトアミド150gをとり、攪拌した。ジアミンの溶解後、フラスコを氷浴中で冷却しながら、4,4′−(4,4′−イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(フタル酸二無水物)52g(0.1モル)を少量ずつ添加した。室温で3時間反応させたのち、キシレン30gを加え、Nガスを吹き込みながら150℃で加熱し、水と共にキシレンを共沸除去した。その反応液を水中に注ぎ、沈澱したポリマーを濾過により採り、乾燥してポリイミド樹脂(A1)を得た。
【0048】
合成例2
温度計、攪拌機及び塩化カルシウム管を備えた500mlの四つ口フラスコに、ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)スルホン43.2g(0.1モル)及びN−メチル−2−ピロリドン150gをとり、攪拌した。ジアミンの溶解後、室温で、4,4′−(4,4′−イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(フタル酸二無水物)52g(0.1モル)を加えた。5℃以下で5時間反応させ、無水酢酸20.4g(0.2モル)及びピリジン15.8g(0.2モル)を加え、1時間室温で攪拌した。この反応液を水中に注ぎ、沈澱したポリマーを濾過により採り、乾燥してポリイミド樹脂(A2)を得た。
【0049】
合成例3
温度計、攪拌機、塩化カルシウム管を備えた500mlの四つ口フラスコに、2,2−ビス(4−アミノフェノキシフェニル)プロパン32.8g(0.08モル)、3,3′,5,5′−テトラメチル−4,4′−ジアミノジフェニルメタン5.08g(0.02モル)及びジメチルアセトアミド100gをとり、攪拌した。ジアミンの溶解後、フラスコを氷浴中で冷却しながら、4,4′−(4,4′−イソプロピリデンジフェノキシ)ビス(フタル酸二無水物)41.6g(0.08モル)及びベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物6.44g(0.02モル)を少量ずつ添加した。添加終了後、氷浴中で3時間、更に室温で4時間反応させた後、無水酢酸25.5g(0.25モル)及びピリジン19.8g(0.25モル)を添加し、2時間室温で攪拌した。その反応液を水中に注ぎ、沈澱したポリマーを濾過により採り、乾燥してポリイミド樹脂(A3)を得た。
【0050】
合成例4
温度計、攪拌機及び塩化カルシウム管を備えた500mlの四つ口フラスコに、2,2−ビス(4−アミノフェノキシフェニル)プロパン41g(0.1モル)及びジメチルアセトアミド150gをとり、攪拌した。ジアミンの溶解後、フラスコを氷浴中で冷却しながら、4,4′−(4,4′−イソプロピリデンジフェニル)−ビス(トリメリテート二無水物)59.2g(0.1モル)を少量ずつ添加した。室温で3時間反応させたのち、キシレン30gを加え、Nガスを吹き込みながら150℃で加熱し、水と共にキシレンを共沸除去した。その反応液を水中に注ぎ、沈澱したポリマーを濾過により採り、乾燥してポリイミド樹脂(A4)を得た。
【0051】
実施例1〜3及び比較例1
配合表(表1)に示す通り、No.1〜4のワニスを調合した。なお、表1において、種々の記号は下記の意味である。
【0052】
YDCN−702:東都化成(株)製、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量220)
N−865:大日本インキ化学工業(株)製、ビスフェノールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量208)
H−1:明和化成(株)製、フェノールノボラック樹脂(OH当量106)
VH−4170:大日本インキ化学工業(株)製、ビスフェノールAノボラック樹脂(OH当量118)
TPPK:東京化成(株)製、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボラート
2P4MHZ:四国化成(株)製、キュアゾール2P4MHZ
TCG−1:徳力化学(株)製、銀粉
DMAC:ジメチルアセトアミド
DMF:ジメチルホルムアミド
【0053】
【表1】
Figure 2004006832
【0054】
調合したNo.1〜4のワニスを各々30〜50μmの厚さにポリプロピレンフィルム(ベースフィルム)上に塗布し、80℃で10分、つづいて150℃で30分加熱し、その後、室温でベースフィルムを剥がして除き、接着フィルムを得た。
【0055】
〔評価試験〕
実施例1〜3及び比較例1で得られた接着フィルムについて、高温高湿条件下の信頼性評価とピール接着力の測定を行った(表2)。
【0056】
【表2】
Figure 2004006832
【0057】
なお、高温高湿条件下での信頼性の評価法及びピール接着力の測定法は以下の通り。
(高温高湿条件下での信頼性)
接着フィルムを8mm×10mmの大きさに切断し、これを5mm×8mmの穴のあいた枠状のフレーム2枚の間に挟み、1000gの荷重をかけて、180℃又は250℃で5秒間圧着させた。この試験片を121℃2気圧の状態に保たれたプレッシャークッカー内に置き、100時間ごとにフィルムの色相、厚みの変化を観察した。
【0058】
(接着力測定)
接着フィルムを8mm×8mmの大きさに切断し、これを8mm×8mmのシリコンチップと銅リードフレームの間に挟み、1000gの荷重をかけて、180℃又は250℃で5秒間圧着させたのち、250℃、20秒加熱時の引剥し強さを測定した。
【0059】
【発明の効果】
本発明の接着フィルムは高温高湿下の信頼性に優れ、かつ接着力も高い。そのため、ダイボンド用として42アロイリードフレーム、銅リードフレーム、絶縁性支持基板を用いた次世代の半導体実装技術にも好適に使用できる。
この接着フィルムを用いて製造される半導体装置は、高温高湿下の信頼性に優れる。

Claims (7)

  1. 一般式(I)
    Figure 2004006832
    (但しRはジアミン残基としての二価の有機基である)
    で表される繰り返し単位を有してなるポリイミド樹脂を含有してなる接着フィルム。
  2. 一般式(I)で表されるポリイミド樹脂が、全テトラカルボン酸二無水物の30モル%以上を式(II)
    Figure 2004006832
    で示されるテトラカルボン酸二無水物を含むテトラカルボン酸二無水物とジアミンを反応させて得られるものである請求項1記載の接着フィルム。
  3. さらに熱硬化性樹脂を含有してなる請求項1又は2に記載の接着フィルム。
  4. 熱硬化性樹脂がエポキシ樹脂又はイミド化合物である請求項3の接着フィルム。
  5. (A)一般式(I)で表される繰り返し単位を有するポリイミド樹脂100重量部に対して、(B)熱硬化性樹脂200重量部以下及び(C)フィラー8000重量部以下を含有してなる請求項1又は2記載の接着フィルム。
  6. 半導体素子同士又は半導体素子と支持部材とを接着するための接着フィルムである請求項1〜5のいずれかに記載の接着フィルム。
  7. 請求項1〜6のいずれか記載の接着フィルムを用いて、半導体素子同士又は半導体素子と支持部材とを接着した構造を有してなる半導体装置。
JP2003116516A 2003-04-22 2003-04-22 接着フィルム及び半導体装置 Pending JP2004006832A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003116516A JP2004006832A (ja) 2003-04-22 2003-04-22 接着フィルム及び半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003116516A JP2004006832A (ja) 2003-04-22 2003-04-22 接着フィルム及び半導体装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000193683A Division JP3482946B2 (ja) 2000-06-28 2000-06-28 接着フィルム及び半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004006832A true JP2004006832A (ja) 2004-01-08

Family

ID=30437990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003116516A Pending JP2004006832A (ja) 2003-04-22 2003-04-22 接着フィルム及び半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004006832A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009256588A (ja) * 2008-03-26 2009-11-05 Hitachi Chem Co Ltd 半導体封止用フィルム状接着剤、半導体装置及びその製造方法
JP2010531385A (ja) * 2007-06-25 2010-09-24 ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. 高温スピンオン仮接合用組成物

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6399280A (ja) * 1986-05-23 1988-04-30 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 接着性組成物
JPH051224A (ja) * 1991-06-26 1993-01-08 Hitachi Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物及びフイルム状接着剤
JPH06128462A (ja) * 1992-10-15 1994-05-10 Hitachi Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物、接着剤シート、接着剤付きポリイミドフィルム及び金属はく張りポリイミドフィルム
JPH06179738A (ja) * 1992-12-15 1994-06-28 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物
JPH06256472A (ja) * 1993-01-06 1994-09-13 Hitachi Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物
JPH06340808A (ja) * 1993-05-31 1994-12-13 Hitachi Chem Co Ltd 低比誘電率フィルム
JPH10219201A (ja) * 1997-01-31 1998-08-18 Toshiba Chem Corp 耐熱性フィルム接着剤組成物

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6399280A (ja) * 1986-05-23 1988-04-30 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 接着性組成物
JPH051224A (ja) * 1991-06-26 1993-01-08 Hitachi Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物及びフイルム状接着剤
JPH06128462A (ja) * 1992-10-15 1994-05-10 Hitachi Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物、接着剤シート、接着剤付きポリイミドフィルム及び金属はく張りポリイミドフィルム
JPH06179738A (ja) * 1992-12-15 1994-06-28 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物
JPH06256472A (ja) * 1993-01-06 1994-09-13 Hitachi Chem Co Ltd 熱硬化性樹脂組成物
JPH06340808A (ja) * 1993-05-31 1994-12-13 Hitachi Chem Co Ltd 低比誘電率フィルム
JPH10219201A (ja) * 1997-01-31 1998-08-18 Toshiba Chem Corp 耐熱性フィルム接着剤組成物

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010531385A (ja) * 2007-06-25 2010-09-24 ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. 高温スピンオン仮接合用組成物
JP2009256588A (ja) * 2008-03-26 2009-11-05 Hitachi Chem Co Ltd 半導体封止用フィルム状接着剤、半導体装置及びその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3288146B2 (ja) 導電性接着フィルム、接着法、導電性接着フィルム付き支持部材及び半導体装置
WO2007018120A1 (ja) 接着フィルム及びこれを用いた半導体装置
JP2964823B2 (ja) 接着フィルム、その製造法、接着法、接着フィルム付き支持部材及び半導体装置
KR20070005698A (ko) 다이본딩용 수지 페이스트
JP3482946B2 (ja) 接着フィルム及び半導体装置
JP3055388B2 (ja) 接着フィルム
JP2002158239A (ja) ダイボンディング材及び半導体装置
JP3777021B2 (ja) 接着フィルム
JP3513829B2 (ja) 接着フィルム
JP4584028B2 (ja) 半導体素子用粘着フィルムおよび半導体装置
JP4013092B2 (ja) 接着フィルム
JPH11209729A (ja) 接着フィルム、その製造法、接着フィルム付き支持部材及び半導体装置
JP3978628B2 (ja) 接着フィルム
JP2006117945A (ja) ポリイミド樹脂の製造方法及び半導体素子接着用の接着フィルム
JP2004210805A (ja) 接着フィルム及びその用途
JP4534410B2 (ja) 接着フィルム及びこれを用いた半導体装置
JP2004006832A (ja) 接着フィルム及び半導体装置
JP5002089B2 (ja) 接着フィルム、その製造法、半導体素子と支持部材との接着法、接着フィルム付き支持部材及び半導体装置
JP2005105251A (ja) ダイボンディング用樹脂ペースト
JP3239007B2 (ja) 接着フィルム付きリードフレーム
JP3570202B2 (ja) 接着フィルム、その製造法、接着フィルム付き支持部材及び半導体装置
JP3536640B2 (ja) 接着フィルム、その製造法、接着フィルム付き支持部材及び半導体装置
JP4534418B2 (ja) 接着フィルム及びその用途
JP4161205B2 (ja) 半導体素子付き支持部材
JP2004067718A (ja) 接着性樹脂組成物及びそれからなるフィルム状接着剤

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070528

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091201

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100330