JP2003531384A - マイクロ波レーダシステムにおける非線形性の検出及び補正方法 - Google Patents
マイクロ波レーダシステムにおける非線形性の検出及び補正方法Info
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Abstract
(57)【要約】
マイクロ波レーダシステムにおける非線形性を検出して補償する方法が提案され，同方法においては送信発振器（１）によって，予め設定された関数に従って周波数変調された送信信号が生成され，かつ送信信号と対象から反射されて検出された信号との混合から，対象からのマイクロ波レーダシステムの距離が求められる。予め設定された時間ウィンドウ（△ｔ）においては，周波数変調をもたらす駆動電圧の代わりに，好ましくはテスト関数（１６）によって，予め設定された一定のテスト駆動電圧が送信発振器（１）へ接続され，その場合に各々一定のテスト駆動電圧において求められた，送信発振器（１）の周波数値に相当する基準信号が，周波数変調のための特性曲線を補正するため，そしてそれに伴って非線形性を補償するために利用される。
Description
【０００１】
従来技術
本発明は，主請求項の上位概念に記載のマイクロ波レーダシステムにおける非
線形性を検出して補正する方法に関する。
線形性を検出して補正する方法に関する。
【０００２】
例えばＤＥ１９７１３９６７Ａ１からは，車両の周囲領域内の距離測定システ
ムにおいていわゆるＦＭＣＷ−マイクロ波レーダセンサ（ＦＭＣＷ＝Ｆｒｅｑｕ
ｅｎｚ Ｍｏｄｕｌａｔｅｄ Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｗａｖｅ）が設けられる
ことが既知である。かかるレーダセンサは，主要な素子として送信発振器，ミキ
サー及びレーダビームを放射して対象で反射されたものを受信するアンテナシス
テムを有する。その場合に，送信信号は予め設定されたランプ関数により周波数
変調されているので，受信された反射信号の所要時間に基づいて，送信信号の中
間時点で変調ランプにより変化された周波数が存在し，かかる周波数差が距離測
定の直接的な尺度となる。
ムにおいていわゆるＦＭＣＷ−マイクロ波レーダセンサ（ＦＭＣＷ＝Ｆｒｅｑｕ
ｅｎｚ Ｍｏｄｕｌａｔｅｄ Ｃｏｎｔｉｎｕｏｕｓ Ｗａｖｅ）が設けられる
ことが既知である。かかるレーダセンサは，主要な素子として送信発振器，ミキ
サー及びレーダビームを放射して対象で反射されたものを受信するアンテナシス
テムを有する。その場合に，送信信号は予め設定されたランプ関数により周波数
変調されているので，受信された反射信号の所要時間に基づいて，送信信号の中
間時点で変調ランプにより変化された周波数が存在し，かかる周波数差が距離測
定の直接的な尺度となる。
【０００３】
上記ランプ関数あるいは送信された周波数ランプの線形性は，ＦＭＣＷ−マイ
クロ波レーダの測定精度，選択性及び感度にとって非常に重要である。変調のた
めの線形周波数ランプの生成を保証するために，既知の装置においては，さらに
基準発振器が設置されており，その出力信号は本来の距離測定に対して並列に直
接レーダセンサ内で送信信号と混合される。かかる信号の変調から基準量が生成
可能であって，その基準量は，レーダセンサの送信路内の不慮の非線形性を含ん
でおり，従って評価する場合にそれに応じて考慮することができる。
クロ波レーダの測定精度，選択性及び感度にとって非常に重要である。変調のた
めの線形周波数ランプの生成を保証するために，既知の装置においては，さらに
基準発振器が設置されており，その出力信号は本来の距離測定に対して並列に直
接レーダセンサ内で送信信号と混合される。かかる信号の変調から基準量が生成
可能であって，その基準量は，レーダセンサの送信路内の不慮の非線形性を含ん
でおり，従って評価する場合にそれに応じて考慮することができる。
【０００４】
従来のマイクロ波レーダシステムにおいては，周波数ランプの十分に良好な線
形性を生成するために，必要に応じて周波数制御も使用され（ＦＬＬ−又はＰｌ
ｌ−制御回路），その周波数制御はそれに応じた付加的な，通常は高コストの回
路手段によって実現される。かかる周波数制御とそれに属する回路要素は，駆動
中に常にその機能能力を監視されなければならない。というのは，周波数制御回
路内部のエラー特性は，十分に線形でない周波数ランプによる変調をもたらすか
らである。
形性を生成するために，必要に応じて周波数制御も使用され（ＦＬＬ−又はＰｌ
ｌ−制御回路），その周波数制御はそれに応じた付加的な，通常は高コストの回
路手段によって実現される。かかる周波数制御とそれに属する回路要素は，駆動
中に常にその機能能力を監視されなければならない。というのは，周波数制御回
路内部のエラー特性は，十分に線形でない周波数ランプによる変調をもたらすか
らである。
【０００５】
従って既知の装置においては，非線形性の補正を有する所望の変調周波数への
，いわゆる実時間周波数制御は実行可能であるが，そのためには比較的大きな回
路コスト及び手間が必要である。
，いわゆる実時間周波数制御は実行可能であるが，そのためには比較的大きな回
路コスト及び手間が必要である。
【０００６】
発明の利点
本発明は，冒頭で挙げた種類のマイクロ波レーダシステムにおける非線形性の
検出及び補正方法に基づいており，そのマイクロ波レーダシステムにおいては送
信発振器により，予め設定された関数に従って周波数変調された送信信号が生成
されて，送信信号と対象から反射されて受信された信号との混合に基づいて対象
からのマイクロ波レーダシステムの距離が求められる。本発明によれば，好まし
い方法で，予め設定された時間ウィンドウ内では，通常の測定サイクルにおいて
設けられている周波数変調をもたらす駆動電圧の代わりに，予め設定された一定
のテスト駆動電圧又はかかる電圧の相互に連続する列が送信発振器に接続される
。
検出及び補正方法に基づいており，そのマイクロ波レーダシステムにおいては送
信発振器により，予め設定された関数に従って周波数変調された送信信号が生成
されて，送信信号と対象から反射されて受信された信号との混合に基づいて対象
からのマイクロ波レーダシステムの距離が求められる。本発明によれば，好まし
い方法で，予め設定された時間ウィンドウ内では，通常の測定サイクルにおいて
設けられている周波数変調をもたらす駆動電圧の代わりに，予め設定された一定
のテスト駆動電圧又はかかる電圧の相互に連続する列が送信発振器に接続される
。
【０００７】
簡単な方法で，各一定のテスト駆動電圧において求められた送信発振器の周波
数値に相当する基準信号を，周波数変調の特性曲線の補正及び非線形性の補償に
利用することができる。従って，発明の原理は，テスト関数を用いて，ミリ波領
域で作動する送信発振器の電圧／周波数特性曲線が定められることにある。
数値に相当する基準信号を，周波数変調の特性曲線の補正及び非線形性の補償に
利用することができる。従って，発明の原理は，テスト関数を用いて，ミリ波領
域で作動する送信発振器の電圧／周波数特性曲線が定められることにある。
【０００８】
その場合に，発振器のテスト駆動は，予め設定された時間ウィンドウの間，送
信発振器（ＶＣＯ）に印加される一定の駆動電圧により実行される。テスト電圧
は，送信発振器において送信周波数に変換されて，基準発振器（ＤＲＯ）の周波
数，例えばその第６の高調波と混合される。その場合に混合周波数は，求められ
た発振器周波数に比例し，その場合に基準発振器の周波数は，混合周波数が１Ｇ
Ｈｚ未満の領域内にあるように選択することができる。
信発振器（ＶＣＯ）に印加される一定の駆動電圧により実行される。テスト電圧
は，送信発振器において送信周波数に変換されて，基準発振器（ＤＲＯ）の周波
数，例えばその第６の高調波と混合される。その場合に混合周波数は，求められ
た発振器周波数に比例し，その場合に基準発振器の周波数は，混合周波数が１Ｇ
Ｈｚ未満の領域内にあるように選択することができる。
【０００９】
その場合に送信発振器のための変調関数としての，普及している種類のランプ
のために，測定結果から電圧領域を，好適に先行歪みされたランプ関数が生成さ
れ，そのランプ関数は送信発振器の電圧／周波数特性曲線の非線形性を考慮し，
かつ補償する。この非線形性は，例えば通常の駆動におけるランプジェネレータ
又は制御回路（ＰＬＬ又はＦＬＬ）のエラーに基づく非線形の周波数ランプによ
り，あるいは基準発振器（ＤＲＯ）のエラー機能により，あるいは送信発振器（
ＧＵＮＮ−発振器）による誤ったＵ／ｆ−変換によっても発生する可能性がある
。
のために，測定結果から電圧領域を，好適に先行歪みされたランプ関数が生成さ
れ，そのランプ関数は送信発振器の電圧／周波数特性曲線の非線形性を考慮し，
かつ補償する。この非線形性は，例えば通常の駆動におけるランプジェネレータ
又は制御回路（ＰＬＬ又はＦＬＬ）のエラーに基づく非線形の周波数ランプによ
り，あるいは基準発振器（ＤＲＯ）のエラー機能により，あるいは送信発振器（
ＧＵＮＮ−発振器）による誤ったＵ／ｆ−変換によっても発生する可能性がある
。
【００１０】
好ましい実施形態によれば，本発明にかかる方法はステップ形状のテストラン
プにより実施され，そのテストランプの各ステップは，各々異なる大きさのテス
ト駆動電圧を有する時間ウィンドウ△ｔを形成し，かつそのステップは必要に応
じて各々予め設定された一定のシフトを有する。その後，各ステップ上で送信発
振器の実際の周波数値が求められる。
プにより実施され，そのテストランプの各ステップは，各々異なる大きさのテス
ト駆動電圧を有する時間ウィンドウ△ｔを形成し，かつそのステップは必要に応
じて各々予め設定された一定のシフトを有する。その後，各ステップ上で送信発
振器の実際の周波数値が求められる。
【００１１】
かかる線形性テストは，マイクロ波レーダシステムの駆動において周期的に，
例えば秒当たり１回行われる。好ましくは予め設定された数の測定サイクル後に
，好ましくは各々１０回目の測定サイクルにおいて，かつマイクロ波レーダを初
期化する際に一度，ステップ形状のテストランプが送信発振器に接続されて，そ
の後テストランプは，測定された周波数値からテストランプのシフトに対する周
波数値のシフトの差が求められるように評価される。隣接するステップのシフト
差の絶対値が加算されて，合計がエラーしきい値と比較される。
例えば秒当たり１回行われる。好ましくは予め設定された数の測定サイクル後に
，好ましくは各々１０回目の測定サイクルにおいて，かつマイクロ波レーダを初
期化する際に一度，ステップ形状のテストランプが送信発振器に接続されて，そ
の後テストランプは，測定された周波数値からテストランプのシフトに対する周
波数値のシフトの差が求められるように評価される。隣接するステップのシフト
差の絶対値が加算されて，合計がエラーしきい値と比較される。
【００１２】
上記計算のために必要なメモリコストを低く抑えるために，線形性インジケー
タδが形成され，それはシフト差の合計を逐次計算することによって求められる
。そのために送信発振器は，可能な限り小さい周波数によって全駆動領域にわた
って一定のステップ幅で高くなるように駆動され，それによって理想的な場合に
おいては中間周波数について各々一定のシフトを有するステップカーブが得られ
る。次の段階において，ステップの全数がｋである場合に，ステップｎからステ
ップｎ−１へのシフト差の絶対値｜△Ｈｕｂ｜が形成されて，次に全てのシフト
差にわたって加算される。それによって線形性インジケータδについて，次の関
係が得られる：
タδが形成され，それはシフト差の合計を逐次計算することによって求められる
。そのために送信発振器は，可能な限り小さい周波数によって全駆動領域にわた
って一定のステップ幅で高くなるように駆動され，それによって理想的な場合に
おいては中間周波数について各々一定のシフトを有するステップカーブが得られ
る。次の段階において，ステップの全数がｋである場合に，ステップｎからステ
ップｎ−１へのシフト差の絶対値｜△Ｈｕｂ｜が形成されて，次に全てのシフト
差にわたって加算される。それによって線形性インジケータδについて，次の関
係が得られる：
【００１３】
【００１４】
混合から生じる基準信号の周波数は，好ましい実施形態によれば，分周器によ
って，その周波数が予め設定された時間ウィンドウの間十分な精度で測定できる
ように分割することができる。従って，発振器周波数に対する，印加されたテス
ト駆動電圧の直接の対応付けが得られる。
って，その周波数が予め設定された時間ウィンドウの間十分な精度で測定できる
ように分割することができる。従って，発振器周波数に対する，印加されたテス
ト駆動電圧の直接の対応付けが得られる。
【００１５】
本発明によれば，さらに，好ましい方法で，上記時間ウィンドウの間，周波数
変調のための関数を生成するモジュールの電圧／周波数特性曲線を基準信号を考
慮して更新することができ，かつマイクロ波レーダシステムの駆動において時間
ウィンドウの外部では更新された電圧／周波数特性曲線が送信発振器の周波数変
調のために利用されることができる。即ち，連続する時間ウィンドウ内でテスト
駆動電圧を変化させることにより，簡単な方法で，全電圧／周波数特性曲線を，
それが例えば温度の影響により変化した場合に，求め，あるいは更新することが
できる。次に，このようにして見出された特性曲線を，通常の駆動における駆動
電圧の推移のために変調周波数を形成する際に考慮することができるので，結果
的にマイクロ波レーダから線形の周波数ランプが送信される。
変調のための関数を生成するモジュールの電圧／周波数特性曲線を基準信号を考
慮して更新することができ，かつマイクロ波レーダシステムの駆動において時間
ウィンドウの外部では更新された電圧／周波数特性曲線が送信発振器の周波数変
調のために利用されることができる。即ち，連続する時間ウィンドウ内でテスト
駆動電圧を変化させることにより，簡単な方法で，全電圧／周波数特性曲線を，
それが例えば温度の影響により変化した場合に，求め，あるいは更新することが
できる。次に，このようにして見出された特性曲線を，通常の駆動における駆動
電圧の推移のために変調周波数を形成する際に考慮することができるので，結果
的にマイクロ波レーダから線形の周波数ランプが送信される。
【００１６】
全体として，本発明にかかる方法は，必要な周波数制御成分を有するマイクロ
波レーダシステムを安価に構築することができる。というのは，電圧／周波数特
性曲線の更新あるいは補正は，多大な付加的な回路コストなしで，制御指令とし
て周波数変調のためのランプを形成するソフトウェアプログラムに組み込むこと
ができるからである。さらに，提案された方法は，制御電子装置内の構成素子の
値における変動に対して頑強であって，さらに新しい駆動条件に容易に適応可能
である。
波レーダシステムを安価に構築することができる。というのは，電圧／周波数特
性曲線の更新あるいは補正は，多大な付加的な回路コストなしで，制御指令とし
て周波数変調のためのランプを形成するソフトウェアプログラムに組み込むこと
ができるからである。さらに，提案された方法は，制御電子装置内の構成素子の
値における変動に対して頑強であって，さらに新しい駆動条件に容易に適応可能
である。
【００１７】
本発明の好ましい展開のこれらの特徴と他の特徴は，請求項からの他に詳細な
説明と図面からも明らかにされ，その場合に個々の特徴は各々それ自体単独で，
あるいは互いに多数を組み合わせて，本発明の実施形態において，かつ他の分野
において実現することができ，かつ好ましい，それ自体保護可能な形態を示すこ
とができ，それについてここで保護が請求される。
説明と図面からも明らかにされ，その場合に個々の特徴は各々それ自体単独で，
あるいは互いに多数を組み合わせて，本発明の実施形態において，かつ他の分野
において実現することができ，かつ好ましい，それ自体保護可能な形態を示すこ
とができ，それについてここで保護が請求される。
【００１８】
実施例の説明
図１には，ＦＭＣＷ−マイクロ波レーダシステムの，本発明にとって重要な素
子を有するブロック回路図が示されている。例えば７６．５ＧＨｚの周波数領域
における電圧制御される送信発振器１（ＧＵＮＮ−ＶＣＯ）が設けられており，
その出力信号は送信／受信モジュール２に案内される。前段に接続されたレンズ
３を有する送信／受信モジュール２は，例えば車両に設置されるレーダセンサの
構成部分とすることができ，そのレーダセンサによって例えば先行車両などの対
象に対する距離が求められる。
子を有するブロック回路図が示されている。例えば７６．５ＧＨｚの周波数領域
における電圧制御される送信発振器１（ＧＵＮＮ−ＶＣＯ）が設けられており，
その出力信号は送信／受信モジュール２に案内される。前段に接続されたレンズ
３を有する送信／受信モジュール２は，例えば車両に設置されるレーダセンサの
構成部分とすることができ，そのレーダセンサによって例えば先行車両などの対
象に対する距離が求められる。
【００１９】
送信信号は，送信／受信モジュール２内で結合モジュール４を介して対象を横
方向に検出するための，ここでは３つのアンテナ５に案内され，受信された対象
からの反射信号は，各々ミキサー６内で送信信号ｆＧＵＮＮと混合されて，出力
７の混合信号は，明細書導入部で既に説明したように距離測定に利用される。さ
らに，基準発振器（ＤＲＯ）８が設けられており，その出力信号は中間周波数信
号ｆＺＦを形成するために送信信号ｆＧＵＮＮと結合される。さらにミキサーモ
ジュール９が設けられており，その出力信号は，テストサイクル内で後述する基
準信号を発生させるために分周器１０を介して案内される。その場合にモジュー
ル２内の信号の結合は，マイクロ波技術で通常の結合方法で行われる。
方向に検出するための，ここでは３つのアンテナ５に案内され，受信された対象
からの反射信号は，各々ミキサー６内で送信信号ｆＧＵＮＮと混合されて，出力
７の混合信号は，明細書導入部で既に説明したように距離測定に利用される。さ
らに，基準発振器（ＤＲＯ）８が設けられており，その出力信号は中間周波数信
号ｆＺＦを形成するために送信信号ｆＧＵＮＮと結合される。さらにミキサーモ
ジュール９が設けられており，その出力信号は，テストサイクル内で後述する基
準信号を発生させるために分周器１０を介して案内される。その場合にモジュー
ル２内の信号の結合は，マイクロ波技術で通常の結合方法で行われる。
【００２０】
通常の駆動状態においては，ランプジェネレータ１１によって線形のランプ信
号ｕ（ｔ）が生成され，そのランプ信号からモジュール１２において特徴的な電
圧／周波数特性曲線ｆ（ｕ）を導出できる。ここでは象徴的に示唆されている通
常のプログラム制御指令によってソフトウェア的に実現される切換えスイッチ１
３を介して，破線で示すスイッチ位置において，ドライバ１４を介して，電圧制
御される送信発振器１がその周波数をモジュール１２の特性曲線に従って変調さ
れる。
号ｕ（ｔ）が生成され，そのランプ信号からモジュール１２において特徴的な電
圧／周波数特性曲線ｆ（ｕ）を導出できる。ここでは象徴的に示唆されている通
常のプログラム制御指令によってソフトウェア的に実現される切換えスイッチ１
３を介して，破線で示すスイッチ位置において，ドライバ１４を介して，電圧制
御される送信発振器１がその周波数をモジュール１２の特性曲線に従って変調さ
れる。
【００２１】
テスト電圧発生器１５は，予め設定された時間ウィンドウ△ｔ内で予め設定さ
れた一定のテスト駆動電圧，ここではテストランプ１５を生成し，そのテストラ
ンプはこの時間ウィンドウ△ｔ内ではスイッチ１３を介して，周波数変調をもた
らすモジュール１２の駆動電圧の代わりに，送信発振器１に接続される。
れた一定のテスト駆動電圧，ここではテストランプ１５を生成し，そのテストラ
ンプはこの時間ウィンドウ△ｔ内ではスイッチ１３を介して，周波数変調をもた
らすモジュール１２の駆動電圧の代わりに，送信発振器１に接続される。
【００２２】
分周器１０からこの時間ウィンドウ△ｔへ出力される，送信発振器１の所定の
周波数値に相当するテスト信号は，ここでもスイッチ１３を介して接続されて，
モジュール１２内の電圧／周波数特性曲線を補正するために利用される。従って
送信発振器１の変調機能のために，テスト信号から周波数領域を好適に先行歪さ
れた電圧ランプが生成され，それがマイクロ波レーダシステムの内部の非線形性
を考慮する。
周波数値に相当するテスト信号は，ここでもスイッチ１３を介して接続されて，
モジュール１２内の電圧／周波数特性曲線を補正するために利用される。従って
送信発振器１の変調機能のために，テスト信号から周波数領域を好適に先行歪さ
れた電圧ランプが生成され，それがマイクロ波レーダシステムの内部の非線形性
を考慮する。
【００２３】
図２には，テストジェネレータ１５のテストランプ１６に則って，そこからも
たらされる送信発振器１の理想的な周波数ｆＧＵＮＮがｆｍｉｎからｆｍａｘま
で駆動電圧ＵＤＡＣにわたって，各々互いにシフトＨ１からＨ６で異なるステッ
プＳ１からＳ６が示されている。線形性インジケータδのための関係に基づく，
関係式（１）に従った以下の計算 から形成される，全てのシフト差の合計が，その後，決定されている最大値ｆｍ
ａｘと比較される。最大値ｆｍａｘを上回った場合には，それは正のエラー検出
と評価されて，図１を用いて説明したように，特性曲線の補正が行われる。周波
数シフトＨ１からＨ６は，場合によっては時間ウィンドウ△ｔ内では正確に求め
られないので，シフト計算の際，及び全てのシフト差の合計を計算する際にも好
適な最低精度を得るために，ステップ周波数当たり必要とされる差カウンタ状態
の最小数を決定することが重要である。
たらされる送信発振器１の理想的な周波数ｆＧＵＮＮがｆｍｉｎからｆｍａｘま
で駆動電圧ＵＤＡＣにわたって，各々互いにシフトＨ１からＨ６で異なるステッ
プＳ１からＳ６が示されている。線形性インジケータδのための関係に基づく，
関係式（１）に従った以下の計算 から形成される，全てのシフト差の合計が，その後，決定されている最大値ｆｍ
ａｘと比較される。最大値ｆｍａｘを上回った場合には，それは正のエラー検出
と評価されて，図１を用いて説明したように，特性曲線の補正が行われる。周波
数シフトＨ１からＨ６は，場合によっては時間ウィンドウ△ｔ内では正確に求め
られないので，シフト計算の際，及び全てのシフト差の合計を計算する際にも好
適な最低精度を得るために，ステップ周波数当たり必要とされる差カウンタ状態
の最小数を決定することが重要である。
【００２４】
図３には，ステップＳ１からＳ５を有する正確なステップカーブ１６が点線と
して，そして測定されたステップカーブ１７が実線として示されている。正と負
の偏差△ｓ１から△ｓ５は，ここでは同様に各々，ステップＳ１からＳ５の間の
各シフトに記入されている。シフト差の合計を用いての線形性監視について，計
算されたシフトが交互に最大の正あるいは最大の負のエラーを有する場合に，シ
ステマチックエラーは最大となる。これは，ステップ周波数を計算する際にエラ
ーが，図３から明らかなように，交互に最大の正あるいは最大の負になる場合に
生じる。従って線形性インジケータについて，システマチックエラーとして最悪
の場合には次のようになる：
して，そして測定されたステップカーブ１７が実線として示されている。正と負
の偏差△ｓ１から△ｓ５は，ここでは同様に各々，ステップＳ１からＳ５の間の
各シフトに記入されている。シフト差の合計を用いての線形性監視について，計
算されたシフトが交互に最大の正あるいは最大の負のエラーを有する場合に，シ
ステマチックエラーは最大となる。これは，ステップ周波数を計算する際にエラ
ーが，図３から明らかなように，交互に最大の正あるいは最大の負になる場合に
生じる。従って線形性インジケータについて，システマチックエラーとして最悪
の場合には次のようになる：
【００２５】
【００２６】
ステップ偏差△ｓ１から△ｓ５についての周波数値を取り入れて，任意の最大
のシステマチックエラーについてこの方程式を単純に置換することによって，そ
のために必要なステップの数ｎを求めることが可能である。例えば約４００ＭＨ
ｚの下方のランプ周波数と約２００ＭＨｚの全シフト及び全部で１０のステップ
について，最大のシステマチックエラーが１ＭＨｚである場合には，最低必要な
３６のｎが得られる。
のシステマチックエラーについてこの方程式を単純に置換することによって，そ
のために必要なステップの数ｎを求めることが可能である。例えば約４００ＭＨ
ｚの下方のランプ周波数と約２００ＭＨｚの全シフト及び全部で１０のステップ
について，最大のシステマチックエラーが１ＭＨｚである場合には，最低必要な
３６のｎが得られる。
図面
本発明にかかるマイクロ波レーダシステムにおける非線形性を検出して補正す
る方法を，図面の実施例を用いて説明する。 その場合に：
る方法を，図面の実施例を用いて説明する。 その場合に：
【図１】
図１は，線形性テストのためのテストランプを有するマイクロ波レーダシステ
ムの回路及び機能要素のブロック回路図を示しており，
ムの回路及び機能要素のブロック回路図を示しており，
【図２】
図２は，図１に基づくマイクロ波レーダシステム内の送信発振器を駆動するた
めのテストランプのステップカーブを示しており，かつ
めのテストランプのステップカーブを示しており，かつ
【図３】
図３は，非線形性テストのために測定されたステップカーブを，正確なステッ
プカーブに比較して示している。
プカーブに比較して示している。
Claims (7)
- 【請求項１】 送信発振器（１）によって予め設定された関数に従って周波
数変調された送信信号が生成され，前記送信信号と対象から反射されて受信され
た信号との混合から前記対象からのマイクロ波レーダシステムの距離が求められ
，かつその場合にマイクロ波レーダシステムの線形特性が基準信号を使用して調
査されて，各々の結果が補正に利用されるマイクロ波レーダシステムにおける非
線形性の検出及び補正方法であって， 予め設定された時間ウィンドウ（△ｔ）内で，周波数変調をもたらす駆動電圧
の代わりに，予め設定された一定のテスト駆動電圧（１６）が送信発振器（１）
に接続され，かつ各々の一定のテスト駆動電圧（１６）において求められた前記
送信発振器（１）の周波数値（ｆＧＵＮＮ）に相当する基準信号が，周波数変調
の特性曲線を補正するため及び非線形性を補償するために利用される， ことを特徴とするマイクロ波レーダシステムにおける非線形性の検出及び補正方
法。 - 【請求項２】 ステップ形状のテストランプ（１６）が使用され，前記各ス
テップ（Ｓ１からＳ６）は各々異なる大きさのテスト駆動電圧を有する時間ウィ
ンドウ（△ｔ）を形成し，かつ前記ステップ（Ｓ１からＳ６）は各々予め設定さ
れたシフト（Ｈ１からＨ６）を有しており， 前記各ステップ（Ｓ１からＳ６）上で，送信発振器（１）の対応する周波数値
（ｆＧＵＮＮ）を生成しながらテスト信号が求められる， ことを特徴とする請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 マイクロ波レーダの予め設定された数の測定サイクル後に，
ステップ形状のテストランプ（１６）が送信発振器（１）に接続され，かつ 前記テストランプ（１６）は，測定された周波数値から前記テストランプ（１
６）のシフトに対する周波数値のシフトの差（△ｓ１から△ｓ５）が求められる
ように評価される， ことを特徴とする請求項２に記載の方法。 - 【請求項４】 隣接するステップ（Ｓ１からＳ５）のシフト差（△ｓ１から
△ｓ５）の絶対値が加算されて，合計がエラーしきい値（ｆｍａｘ）と比較され
る，ことを特徴とする請求項３に記載の方法。 - 【請求項５】 線形性インジケータ（δ）が，シフト差（△ｓ１から△ｓ５
）の合計を逐次計算することにより求められる，ことを特徴とする請求項４に記
載の方法。 - 【請求項６】 前記混合から生じた基準信号の周波数が，分周器（１０）に
より，前記周波数が予め設定された時間ウィンドウ（△ｔ）の間十分な精度で測
定可能に分割される，ことを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の
方法。 - 【請求項７】 前記時間ウィンドウ（△ｔ）の間，周波数変調のための関数
を生成するためのモジュール（１２）の電圧／周波数特性曲線は基準信号を考慮
して更新され， 前記時間ウィンドウ（△ｔ）の外部では，マイクロ波レーダシステムの駆動に
おいて，前記周波数変調のために更新された電圧／周波数特性曲線が利用される
， ことを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
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|---|---|---|---|
| DE10018552A DE10018552A1 (de) | 2000-04-14 | 2000-04-14 | Verfahren zur Erfassung und Korrektur von Nichtlinearitäten in einem Mikrowellenradarsystem |
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| PCT/DE2001/001278 WO2001079880A1 (de) | 2000-04-14 | 2001-03-31 | Verfahren zur erfassung und korrektur von nichtlinearitäten in einem mikrowellenradarsystem |
Publications (1)
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|---|---|
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ID=7638761
Family Applications (1)
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| EP (1) | EP1277063A1 (ja) |
| JP (1) | JP2003531384A (ja) |
| DE (1) | DE10018552A1 (ja) |
| WO (1) | WO2001079880A1 (ja) |
Cited By (1)
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| DE102017113730A1 (de) | 2017-06-21 | 2018-12-27 | Infineon Technologies Ag | Radar-frontend mit hf-oszillator-überwachung |
| US10670699B2 (en) | 2017-09-07 | 2020-06-02 | Nxp B.V. | RF radar device BIST using noise injection |
| US10097287B1 (en) | 2017-09-07 | 2018-10-09 | Nxp B.V. | RF radar device BIST using secondary modulation |
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-
2000
- 2000-04-14 DE DE10018552A patent/DE10018552A1/de not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-03-31 US US10/018,150 patent/US6703969B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-03-31 EP EP01931402A patent/EP1277063A1/de not_active Withdrawn
- 2001-03-31 JP JP2001576491A patent/JP2003531384A/ja not_active Withdrawn
- 2001-03-31 WO PCT/DE2001/001278 patent/WO2001079880A1/de not_active Application Discontinuation
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080603 |