JP2003515124A - 濁度計 - Google Patents

濁度計

Info

Publication number
JP2003515124A
JP2003515124A JP2001538779A JP2001538779A JP2003515124A JP 2003515124 A JP2003515124 A JP 2003515124A JP 2001538779 A JP2001538779 A JP 2001538779A JP 2001538779 A JP2001538779 A JP 2001538779A JP 2003515124 A JP2003515124 A JP 2003515124A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light source
sample
detection means
optical fiber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001538779A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003515124A5 (ja
Inventor
バナージー、アシム、ケイ
Original Assignee
ハッチ カンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ハッチ カンパニー filed Critical ハッチ カンパニー
Publication of JP2003515124A publication Critical patent/JP2003515124A/ja
Publication of JP2003515124A5 publication Critical patent/JP2003515124A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251—Colorimeters; Construction thereof
    • G01N21/253—Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/063—Illuminating optical parts
    • G01N2201/0636—Reflectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)

Abstract

(57)【要約】 複数の室の各々に収容された試料の濁度を順次に測定するために、複数の試験試料室と関連して共通の光源および共通の検出手段が使用される濁度計配列システムが記載される。共通の光源および共通の検出手段を使用するための多くの実施例が記載される。このシステムは最も高価な部材が共有されるために価格効率が良い。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 （技術分野） 本発明は濁度計、および水（例えば飲料水）の濁度の監視における濁度計の使
用に関するものである。特に、本発明は膜フィルターからの流出水を監視するた
めの濁度計の使用に関するものである。
【０００２】 （背景技術） 飲料水の生産に使用される多くの水プラントは膜フィルター（例えば、マイク
ロ濾過、ウルトラ濾過およびナノ濾過）を使用している。典型的なウルトラ濾過
用の膜は０．１ミクロン未満の有効孔サイズを有しており、これはほとんど全て
の細菌学的病原体を完璧に除去するだけでなく、ほとんど全てのウィルスを濾過
する能力も有することを意味する。米国カリフォルニア州の健康省および他の州
および連邦局は、ウルトラ濾過技術を採用する水プラントに対してウィルス除去
の信用性を与えることができる手段を考慮中である。これが採用されたならば、
水プラントは飲料水の化学殺菌に伴う費用が節約されることによって非常に大き
な金額を節約できるようになる。
【０００３】 濾過膜の使用に関連する厳しい欠点は、膜が周期的に機能不良または破壊を生
じることである。典型的には、１つのカートリッジ内に平行な配列で比較的小さ
な直径の無数の細長い膜繊維が収容され、多数（例えば、２０〜５０の収容棚に
１０００以上）のカートリッジが１つの水プラントに同時に使用される。現在、
プラントのオペレータは定期的（例えば、４時間程度の時間毎）に各々の収容棚
をオンラインにして、一端を水中に沈めた状態で他端を通して空気を送り込む。
或る空気圧より低いと、膜が破裂しているか破壊されていない限り、空気は膜を
通過することができない。膜が破壊され、または破裂しているならば、水中に沈
めた端部においてその膜からの気泡の流れが検出される。したがって、機能不良
を起こした膜は確認して機械的に塞ぐことができ、その後カートリッジを作動に
復帰させることができる。この対処方法の主な問題点は、望ましくない物質がカ
ートリッジを通過して流出水に入り込む時間が４〜６時間となることである。
【０００４】 製造元は水品質のオンライン監視のために濁度計および粒子計数器を備えてい
るが、これらの機器はミクロンよりも小さい粒子に対する感度に一般に欠けてい
る。さらに、完全規模の水プラントは数百個もの膜カートリッジを必要とし、各
々の膜の流出水を監視するための機器費用は非常に高くなる。
【０００５】 これまでは、水のウルトラ濾過に使用される多数の膜の流出水を正確且つ効率
的に監視するためのシステムが提供されていない。
【０００６】 （発明の開示） 本発明の目的は、膜濾過プラントを構成する複数の膜カートリッジの流出水を
効率的に監視する濁度計システムを提供することである。
【０００７】 本発明の他の目的は、複数の試料室が使用される濁度計システムを提供するこ
とである。
【０００８】 本発明のさらに他の目的は、試料室の配列を備え、共通の光源および共通の検
出器で別々の試料室に収容されている別々の液体試料の濁度を試験する濁度計シ
ステムを提供することである。
【０００９】 前述した目的および他の目的を達成するために、本発明は試験すべき液体試料
を収容する複数の試料室を含み、また共通の光源および共通の検出手段を含む濁
度計配列システムを提供する。換言すれば、このシステムは個々の試料室の液体
の濁度を測定するときの共通の光源および共通の検出手段を有する複数の液体室
を含む。
【００１０】 一実施例では、試料室の各々に光ビームを順次に照射するために１つの光源が
使用され、検出手段は試料室の各々の液体試料で散乱された光を検出するために
使用される。他の実施例では、１つの光源は個々の試料室の全てに同時に光ビー
ムを照射するために使用され、検出手段は試料室の各々からの発散光を順次に検
出するために使用される。例えば、各室のシャッターが閉位置から開位置へ移動
でき、光ビームを１度に１つの試料室内へ導き、その特定の試料室からの散乱光
を１つの検出器で検出可能にする。さらに他の実施例では、各々の試料室のため
に別個の光源が使用され、また異なる試料室からの散乱光を順次に測定するため
に共通の検出手段が使用される。
【００１１】 本発明のシステムは、各々の試料室のために別々の光源および別々の検出手段
を必要とすることなく、複数の別個の室に収容した複数の液体試料の濁度を効率
的に監視することができる。むしろ好ましい実施例では、このシステムは共通と
された光源、検出手段、組み合わされる制御電子機器、表示装置などを使用して
いる。
【００１２】 本発明の濁度計配列システムの他の利点および特徴は以下の詳細な説明および
添付図面で明白となるであろう。
【００１３】 本発明は添付図面を参照して以下にさらに詳細に説明される。図面において、
同じ符号は全図を通じて同じ部品を示している。
【００１４】 （本発明を実施する最良の態様） 本発明は、複数の別個の室すなわちセルに収容された複数の液体試料を濁度試
験するために共通の光源および共通の検出手段が備えられた多数の実施例を提供
する。図１はこの概念を図示する概略線図である。１つの光源ステーション１０
０、１つの検出ステーション２００および１つの制御電子機器ステーション３０
０を備えた１６個もの別個の試料室を含む配列が示されている。
【００１５】 この実施例では、別個の光ファイバーが光源と各々の試料室との間を延在して
いる。また、別個の光ファイバーが各々の試料室と検出手段との間を延在してい
る。各々の試料室は、必要とされるならば、光ビームが室内へ伝えられるように
、また散乱光が室外へ伝えられるようにするために、適当な入口窓および出口窓
を含む。試料室は各々がその中で試験を行われる液体（例えば、水）のための適
当な入口ポートおよび出口ポートを好ましく含む。
【００１６】 試料室１内の試料の濁度を試験することが望まれる場合、光源からの光は試料
室１へ延在する光ファイバー１０１を通して導かれる。光ファイバー１０１から
の光ビームが試料室１内へ伝えられて試料を透過される状態を示す図２も参照さ
れたい。試料室１内の試料によって散乱（例えば、９０゜の方向へ）された光は
光ファイバー２０１を経て検出ステーションへ伝達される。通常の制御電子機器
は検出手段により発生された信号を濁度値に変換し、それを表示または記録する
。
【００１７】 同様な状況は、光源１００からの光を伝達するために光ファイバー１０２を使
用し、また散乱光を検出手段に伝達するために光ファイバー２０２を使用して、
試料室２の試料の濁度を試験することが望まれる場合に生じる。その同じ技術が
別個の試料室の各々に対して使用される。各々の室は同じ光源および同じ検出手
段、および制御電子機器を使用して試験できるので、この配列システムは非常に
効率的である。
【００１８】 本発明で使用される光源は、例えば、通常のタングステン・ランプまたはレー
ザー、または発光ダイオード（ＬＥＤ）とされる。望まれるならば、他の光源も
使用できる。
【００１９】 本発明で使用される検出手段は、光電子倍増管、フォトダイオードまたは電子
なだれフォトダイオードのようないずれかの通常の光検出手段とされる。
【００２０】 本発明による別個の試料室の配列と組み合わされた共通の光源および共通の検
出手段を使用する様々な方法がある。その１つの方法が図３および図４に示され
ている。各試料室は光ファイバー（例えば、１０１）を有しており、この光ファ
イバーは一端が室の入口窓にて終端し、他端が光源１００（示されるように）に
隣接した回転ディスク１５０にて終端している。回転ディスク１５０はステッパ
・モーター１６０によって選択的に回転され、所望されるいずれかの光ファイバ
ーの端部を光源に隣接させて位置決めすることができる。
【００２１】 各試料室は光ファイバー（例えば、２０１）も有しており、この光ファイバー
は一端が室の出口窓にて終端し、他端が検出手段２００に隣接した回転ディスク
２５０にて終端している。このディスク２５０はステッパ・モーター２６０によ
って選択的に回転され、所望される光ファイバー２０１の端部を検出手段に隣接
させて位置決めすることができる。光ファイバー１０１，２０１がそれぞれ光源
および検出手段に隣接されると、その後に試料室１の試料の濁度を決定すること
ができる。ディスク１５０，２５０の適当な回転は、配列内の他の全ての室の試
料を同様に試験できるようにする。１６個の別個な室だけが図１〜図４に示され
ているが、試験すべき別々の試料に関して望まれるいずれの個数の別個な室を備
えることもできる。
【００２２】 図５は、複数の個々の室における複数の液体試料濁度を試験するために共通の
光源および共通の検出手段が使用される他の方法を示している。したがって、複
数の別個の室２０，２１，２２，２３，…が示されている。各室は、光源からの
光ビームのための入口窓２０Ａその他、および散乱光を室から出すための出口窓
２０Ｂを含む。光源は光ビームを形成し、その光ビームは光ファイバー１２０に
よって室内へ導かれ、また散乱光は光ファイバー２２０によって検出手段へ伝達
される。試料室に隣接する光ファイバー１２０の端部はブロック１２０Ａで支持
され、試料室に隣接する光ファイバー２２０の端部はブロック２２０Ａで支持さ
れる。ブロック２２０Ａは担持スクリュー２７０に連結され、そのスクリューの
回転はステッパ・モーター２７５により制御される。ブロック１２０Ａは図示し
たようにブロック２２０Ａに連結されており、したがってそれらは一体として移
動する。この構造により、光ビーム用ファイバーおよび散乱光用ファイバーはス
テッパ・モーターによって或る試料室から他の試料室へ同時に移動される。横に
並べた状態で整列させた望まれるいかなる個数の別個の試料室も備えることがで
きる。
【００２３】 図６は、光源１３０（例えば、レーザー）および検出手段２３０が互いに固定
され、担持スクリュー２７０およびステッパ・モーター２７５により試料室の列
に沿って前進されるようになされた本発明の濁度計配列システムの他の実施例を
示す。ワイヤー１３０Ａがレーザー光源を付勢するための電気エネルギーを供給
し、ワイヤー２３０Ａが光検出手段からの電気信号を記録装置または表示器へ伝
達する。このようにして、複数の別個の室に収容されている複数の別々の試料の
濁度を順次に試験するために、共通の光源および共通の検出手段が使用される。
【００２４】 図７は、個々の試料室へ導かれている複数の光ファイバー１０１，１０２，…
のいずれかに対して光ビームを供給するために、１つの光源１４０と、１つの角
度を付されたミラー１４５の使用を示している。光源からの光を例えば特定の光
ビーム１０４へ向けるために、ミラー１４５は図示した位置へ向けて直線的に移
動され（例えば、ステッパ・モーターによる）、これにより光ビームは図示した
ように反射されて光ファイバー１０４の端部内に導かれる。ミラーが光源に接近
または離反する様に移動することで、光ビームは望まれるいずれの光ファイバー
の端部内に反射されることができる。
【００２５】 図８は、複数の別個の室からの散乱光を伝達するための複数の光ファイバー２
０１，２０２，…が共通の検出手段２００に向けられた他の実施例を示している
。この実施例では、１度に１つの光ファイバーだけが散乱光を共通の検出手段へ
伝達することを許容される。
【００２６】 図９は、複数の試料室１〜８の放射状の配列すなわち整列を示している。各室
は入口光学窓および出口光学窓を含む。共通の光源および共通の検出手段がアー
ム１３５に支持されており、アーム１３５は試験するために望まれるいずれかの
室と整列されるように単純に旋回されることができる。
【００２７】 図１０は、複数の個々の光ファイバー１０１，…が光源１００に隣接する回転
ディスク１５０に一端を支持された実施例を示している。各々の光ファイバーは
他端がそれぞれの試料室に連結されている。光ファイバー２０１，…は一端がそ
れぞれの試料室の光出口窓に連結され、各々の光ファイバーの他端は共通の検出
手段２００にて終端している。ディスク１５０を回転させることで、光ビームは
個々の試料室へ向けられ、また個々の室からの散乱光は直接に検出手段へ伝えら
れる。１度に１つの試料室だけが光源からの光を受け取ることになるので、散乱
光のために複数の光ファイバーを多重配備する必要はない。むしろ、それらの光
ファイバーの各々は検出手段に対して直接に連結することができる。
【００２８】 図１１は、共通の光源１００および共通の検出手段２００が使用された本発明
の濁度計配列システムのさらに他の実施例を示している。光源からの光は、複数
の光ファイバー１０１，１０２，…のそれぞれの端部が連結されているファイバ
ー・カップラ１２５に導かれる。各々の光ファイバーは他端がそれぞれの試料室
に連結されている。光ファイバー２０１，２０２，…は一端がそれぞれの試料室
の光出口窓に作動的に連結され、他端が検出手段２００にそれぞれ連結されてい
る。したがって、光ビームは同時に全ての試料室へ伝達される。各々の試料室は
、１度に１つの室が伝達された光ビームを受け取れるようにするために光入口窓
を選択的に開閉するシャッター手段を含むことができる。
【００２９】 図１２は、ユニットの較正を検定できるように設計された試料室３０を示して
いる。室３０は光捕捉部３２を含んでおり、この光捕捉部３２は開口３２Ｃの形
成された水平床３２Ｂの下方に、傾斜した、すなわち角度を付された床３２Ａを
含む。測定室３０の頂部には較正室すなわち較正部が配置されている。光源（例
えば、レーザー・ファイバー光学機器）からの光ビームは、まず最初に分割器Ｂ
Ｓを通過され、分割器ＢＳはビームの約９０％を伝達し、約１０％を較正経路に
向けて反射する。伝達された主ビームＬ１はシャッターＳ１、偏向器Ｄ、さらに
室３０の試料および開口３２Ｃを通って光捕捉器３２へ伝達される。
【００３０】 ユニットの較正を検定することが望まれたときは、シャッターＳ１は閉じられ
、シャッターＳ２が開かれる。これは、ビーム分割器ＢＳからの光を中立密度フ
ィルターＮＤ（光ビームを約１０００倍も減衰する）および２つの偏光器Ｐ１，
Ｐ２を通してミラーＭに導き、ミラーＭで反射して開いたシャッターＳ２および
偏向器Ｄに通し、ビームＬ２として試料室３０内へ導かれるようにする。この較
正ビームは２つの偏光器を使用して工場で調整されており、濁度の既知量として
読み取られる。検定の間、その機器はこの予め定められた値と同じ濁度の読み値
を求められる。濁度の読み値が与えられた限界内であるならば、その機器は機能
的に正常であるとみなされる。測定した読み値が与えられた限界内になければ、
利用可能な信号を使用して較正が実施される。これに代えて、較正の検定は両方
のシャッターＳ１，Ｓ２を開いて実施することができる。この場合、機器は工場
で設定された較正信号と同じ量により、濁度の読み値の増大量を求められる。
【００３１】 上述した形式の較正の検定システムは米国特許第５９１２７３７号に示されて
いる。
【００３２】 図１３は、各々の試料室はそれ自体の光源１００を有するが、共通した検出手
段２００が使用される濁度計配列システムの他の実施例を示している。各々の試
料室から光ファイバー２０１，２０２，２０３，２０４，…が共通の検出手段へ
延在している。この配列では、それぞれの試料室からの濁度の読み取りを可能に
するために、１度に１つの光源だけが付勢される。
【００３３】 本発明の範囲および精神から逸脱することなく他の変形例も可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】 共通とされた光源、検出手段、および制御電子機器を共有する１６個の別個の
試料室の配列を示す概略線図である。
【図２】 図１に示した配列の試料室の１つの実施例を示す。
【図３】 第１の光ファイバーが光源から試料室に光を伝達し、第２の光ファイバーが試
料室から散乱光を検出手段へ伝達する本発明の１つの実施例を示す。
【図４】 各々の光ファイバーが別個の試料室と組み合わされた光ファイバー組の端部が
支持される回転ディスクの前立面図である。
【図５】 複数の個々の室に収容した試料を試験する共通の光源および共通の検出手段が
備えられた他の実施例を示す。
【図６】 複数の個々の室に収容した試料を試験する共通の光源および共通の検出手段が
備えられた本発明の配列システムのさらに他の実施例を示す。
【図７】 複数の別個の光ファイバーで使用されるように共通の光源が備えられた他の方
法を示す。
【図８】 複数の別個の光ファイバーからの散乱光を受け取るように共通の検出手段が使
用される他の方法を示す。
【図９】 複数の別個の試料室と組み合わせて共通の光源および共通の検出手段が使用さ
れる他の方法を示す。
【図１０】 複数の別個の試料室と組み合わせて共通の光源および共通の検出手段が使用さ
れるさらに他の方法を示す。
【図１１】 複数の別個の試料室と組み合わせて共通の光源および共通の検出手段が使用さ
れるさらに他の方法を示す。
【図１２】 本発明における較正システムの使用を示す。
【図１３】 各々の試料室がそれ自体の光源を有するが、室からの散乱光を測定するのに共
通の検出手段が使用された他の実施例を示す。

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 それぞれが試験すべき液体試料を収容する複数の試料室を含
    み、複数の液体試料の各々の濁度を測定する濁度計配列システムであって、共通
    の光源および共通の検出手段を含み、また前記光源は前記液体試料中に光ビーム
    を照射し、前記検出手段が前記液体試料による散乱光を検出するようになってい
    る濁度計配列システム。
  2. 【請求項２】 前記試料室の各々の中に光ビームを順次に照射する１つの光
    源が備えられ、前記検出手段は前記試料室の各々の中の前記液体試料による散乱
    光を順次に検出する請求項１に記載された濁度計配列システム。
  3. 【請求項３】 前記試料室の各々が光入口窓および光出口窓を含む請求項２
    に記載されたシステム。
  4. 【請求項４】 前記試料室が並べて整列された請求項２に記載されたシステ
    ム。
  5. 【請求項５】 前記光源および検出手段を支持し、前記光源および検出手段
    の位置を一つの前記試料室から他の前記試料室へ進めるための担持手段をさらに
    含む請求項４に記載されたシステム。
  6. 【請求項６】 前記試料室が直線的に整列された請求項５に記載されたシス
    テム。
  7. 【請求項７】 前記試料室が放射状に整列された請求項５に記載されたシス
    テム。
  8. 【請求項８】 前記光源がレーザーを含む請求項５に記載されたシステム。
  9. 【請求項９】 前記光源がランプを含む請求項５に記載されたシステム。
  10. 【請求項１０】 前記光源が発光ダイオードを含む請求項５に記載されたシ
    ステム。
  11. 【請求項１１】 前記試料室に光を伝えるために前記光源と前記光入口窓と
    の間に配置された第１の光ファイバー手段と、前記出口窓から前記検出手段へ散
    乱光を伝えるために前記検出手段と前記光出口窓との間に配置された第２の光フ
    ァイバー手段とを含む請求項３に記載されたシステム。
  12. 【請求項１２】 前記第１の光ファイバー手段が前記光入口窓に位置決めさ
    れた第１の端部と前記光源に隣接する回転ディスクに位置決めされた第２の端部
    とを含み、前記ディスクの回転により、前記第１の光ファイバー手段の望まれる
    １つを通して前記光源が光を伝達することのできる請求項１１に記載されたシス
    テム。
  13. 【請求項１３】 前記第２の光ファイバー手段が前記光出口窓に位置決めさ
    れた第１の端部と前記検出手段に隣接する回転ディスクに位置決めされた第２の
    端部とを含み、前記ディスクの回転により、前記第２の光ファイバー手段の望ま
    れる１つによって伝達された光を検出することのできる請求項１１に記載された
    システム。
  14. 【請求項１４】 前記検出手段が光電子増倍管、フォトダイオードまたは電
    子なだれフォトダイオードを含む請求項２に記載されたシステム。
  15. 【請求項１５】 前記光源から選択的に前記第１の光ファイバー手段へ光を
    反射する可動ミラー手段を含む請求項１１に記載されたシステム。
  16. 【請求項１６】 前記光源からの光を受け、その光を前記第１の光ファイバ
    ー手段の各々へ同時に導く連結手段を含む請求項１１に記載されたシステム。
  17. 【請求項１７】 前記試料室の各々と作動的に組み合わされた較正検定手段
    を含み、前記較正検定手段が、 （ａ）前記光源からの光を第１および第２のビームに分けるビーム分割器、 （ｂ）前記第２のビームの光を偏光し、通過する光の量を制御する偏光手段、 （ｃ）前記第２のビームの前記試料室への透過率を制御するシャッター手段、
    を含む請求項２に記載されたシステム。
  18. 【請求項１８】 （ｄ）試験すべき液体試料をそれぞれ収容する複数の試料
    室、 （ｅ）前記試料室のそれぞれと作動的に組み合わされた光源手段、 （ｆ）前記試料室のそれぞれの中の前記液体試料によって散乱された光を順次
    に検出する１つの検出手段、 を含む濁度計配列システム。
JP2001538779A 1999-11-19 2000-11-13 濁度計 Pending JP2003515124A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/444,061 US6307630B1 (en) 1999-11-19 1999-11-19 Turbidimeter array system
US09/444,061 1999-11-19
PCT/US2000/031153 WO2001036940A2 (en) 1999-11-19 2000-11-13 Turbidimeter array system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003515124A true JP2003515124A (ja) 2003-04-22
JP2003515124A5 JP2003515124A5 (ja) 2008-01-10

Family

ID=23763327

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001538779A Pending JP2003515124A (ja) 1999-11-19 2000-11-13 濁度計

Country Status (7)

Country Link
US (2) US6307630B1 (ja)
EP (1) EP1230534A2 (ja)
JP (1) JP2003515124A (ja)
KR (1) KR20020063576A (ja)
AU (1) AU772363B2 (ja)
CA (1) CA2391979C (ja)
WO (1) WO2001036940A2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012524242A (ja) * 2009-04-15 2012-10-11 ビオカルティ ソシエテ アノニム Ｐｃｒ反応をリアルタイムで監視するための光検出システム

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7530877B1 (en) * 1999-06-03 2009-05-12 Micron Technology, Inc. Semiconductor processor systems, a system configured to provide a semiconductor workpiece process fluid
US6290576B1 (en) 1999-06-03 2001-09-18 Micron Technology, Inc. Semiconductor processors, sensors, and semiconductor processing systems
US7180591B1 (en) * 1999-06-03 2007-02-20 Micron Technology, Inc Semiconductor processors, sensors, semiconductor processing systems, semiconductor workpiece processing methods, and turbidity monitoring methods
US6894778B2 (en) * 2002-04-23 2005-05-17 Hach Company Low detection limit turbidimeter
DE10225842A1 (de) * 2002-06-04 2003-12-24 Zeiss Carl Smt Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Strahlungsbeständigkeit eines optischen Materials
CA2391641A1 (fr) * 2002-06-28 2003-12-28 Robert Longin Plateforme robotisee de cultures cellulaires en batteries de reacteurs miniaturises, equipee d'un systeme de mesure en temps reel de la turbidite cellulaire ou toutes autres proprietes optiques
WO2004036214A2 (en) * 2002-10-18 2004-04-29 Pfizer Products Inc. Automated kinetci solubility assay apparatus and method
US20040083798A1 (en) * 2002-11-05 2004-05-06 Sadar Michael J. Detection of filter breakthrough
US7099012B1 (en) * 2003-03-13 2006-08-29 Turner Designs, Inc. In-line spectrometer
US20060061765A1 (en) * 2004-09-16 2006-03-23 Behzad Rezvani Turbidity sensor with improved noise rejection
US20060055927A1 (en) * 2004-09-16 2006-03-16 Rosemount Analytical Inc. Turbidity sensor
US7470917B1 (en) 2004-12-15 2008-12-30 Turner Designs, Inc. Submersible apparatus for measuring active fluorescence
US7301158B1 (en) 2004-12-15 2007-11-27 Turner Designs, Inc. Method and apparatus for measuring active fluorescence
US8703492B2 (en) 2007-04-06 2014-04-22 Qiagen Gaithersburg, Inc. Open platform hybrid manual-automated sample processing system
US8355132B2 (en) * 2007-04-06 2013-01-15 Qiagen Gaithersburg, Inc. Sample adequacy measurement system having a plurality of sample tubes and using turbidity light scattering techniques
US8877507B2 (en) 2007-04-06 2014-11-04 Qiagen Gaithersburg, Inc. Ensuring sample adequacy using turbidity light scattering techniques
CN101809430A (zh) 2007-09-12 2010-08-18 哈赫公司 标准介质悬浮体、光学颗粒测量仪器、以及用于光学颗粒测量仪器的检定方法
KR100903133B1 (ko) * 2007-12-17 2009-06-16 한국전자통신연구원 광공동을 이용한 고감도 혼탁도 센서 및 센싱 방법
JP5152803B2 (ja) * 2008-09-24 2013-02-27 倉敷紡績株式会社 液体濃度計
US7659980B1 (en) 2008-11-24 2010-02-09 Herbert Leckie Mitchell Nephelometric turbidity sensor device
US20100220315A1 (en) * 2009-02-27 2010-09-02 Beckman Coulter, Inc. Stabilized Optical System for Flow Cytometry
RU2442973C2 (ru) * 2009-10-02 2012-02-20 Закрытое акционерное общество "ИММУНОСКРИН" (ЗАО "ИММУНОСКРИН") Иммунотурбидиметрический планшетный анализатор
JP4948624B2 (ja) * 2010-05-06 2012-06-06 シャープ株式会社 濁度検知器
CN105637342B (zh) * 2013-09-30 2019-03-26 哈克兰格有限责任公司 比浊计及检测比浊计的样品试管污染的方法
US20160370287A1 (en) * 2015-06-17 2016-12-22 Flodesign Sonics, Inc. Turbidity sensor with improved flow path

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5389484A (en) * 1977-01-18 1978-08-07 Toshiba Electric Equip Photo detector
JPS5970946A (ja) * 1982-10-15 1984-04-21 Toshiba Corp 吸光度測定装置
US4509856A (en) * 1982-11-16 1985-04-09 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Rotor for centrifugal fast analyzers
JPH02259451A (ja) * 1989-03-30 1990-10-22 Shimadzu Corp 濁度計
JPH063266A (ja) * 1992-06-24 1994-01-11 Seki Electron Kk オゾン濃度測定方法および２光路セルを用いた光吸収式オゾン濃度計
JPH0915144A (ja) * 1995-07-03 1997-01-17 Toa Denpa Kogyo Kk 吸光光度計およびこの吸光光度計の温度補償方法
US5604590A (en) * 1994-09-08 1997-02-18 Hach Company Nephelometer instrument
JPH10325797A (ja) * 1997-05-26 1998-12-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 流体濃度測定装置
JPH11118715A (ja) * 1997-10-20 1999-04-30 Suido Kiko Kaisha Ltd 水質計および水質測定方法
JPH11337479A (ja) * 1998-04-17 1999-12-10 Labsystems Oy 光学濃度の測定装置
JP2002517717A (ja) * 1998-06-01 2002-06-18 ハッチ カンパニー 濁度計の較正検定システム

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2323991A1 (fr) * 1975-09-11 1977-04-08 Inst Nat Sante Rech Med Perfectionnements aux appareils de mesure d'absorption du rayonnement notamment les photometres
JPS5960323A (ja) * 1982-09-30 1984-04-06 Toshiba Corp 測光装置
JPS59178337A (ja) * 1983-03-29 1984-10-09 Toshiba Corp 自動化学分析装置
FR2558610B1 (fr) * 1984-01-23 1986-05-09 Labo Electronique Physique Procede et appareillage pour determiner l'instant d'arret d'un processus de renouvellement de liquide
US4762413A (en) * 1984-09-07 1988-08-09 Olympus Optical Co., Ltd. Method and apparatus for measuring immunological reaction with the aid of fluctuation in intensity of scattered light
US4888484A (en) * 1986-02-20 1989-12-19 Automatik Machinery Corporation Apparatus and method for spectrophotometric analysis of a material in a moving process stream
DE69825142T2 (de) * 1998-05-01 2005-08-11 F. Hoffmann-La Roche Ag Vorrichtung zur gleichzeitigen Überwachung von Reaktionen, die in einer Vielzahl von Reaktionsgefässen stattfinden

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5389484A (en) * 1977-01-18 1978-08-07 Toshiba Electric Equip Photo detector
JPS5970946A (ja) * 1982-10-15 1984-04-21 Toshiba Corp 吸光度測定装置
US4509856A (en) * 1982-11-16 1985-04-09 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Rotor for centrifugal fast analyzers
JPH02259451A (ja) * 1989-03-30 1990-10-22 Shimadzu Corp 濁度計
JPH063266A (ja) * 1992-06-24 1994-01-11 Seki Electron Kk オゾン濃度測定方法および２光路セルを用いた光吸収式オゾン濃度計
US5604590A (en) * 1994-09-08 1997-02-18 Hach Company Nephelometer instrument
JPH0915144A (ja) * 1995-07-03 1997-01-17 Toa Denpa Kogyo Kk 吸光光度計およびこの吸光光度計の温度補償方法
JPH10325797A (ja) * 1997-05-26 1998-12-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 流体濃度測定装置
JPH11118715A (ja) * 1997-10-20 1999-04-30 Suido Kiko Kaisha Ltd 水質計および水質測定方法
JPH11337479A (ja) * 1998-04-17 1999-12-10 Labsystems Oy 光学濃度の測定装置
JP2002517717A (ja) * 1998-06-01 2002-06-18 ハッチ カンパニー 濁度計の較正検定システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012524242A (ja) * 2009-04-15 2012-10-11 ビオカルティ ソシエテ アノニム Ｐｃｒ反応をリアルタイムで監視するための光検出システム

Also Published As

Publication number Publication date
EP1230534A2 (en) 2002-08-14
KR20020063576A (ko) 2002-08-03
US6307630B1 (en) 2001-10-23
AU772363B2 (en) 2004-04-22
CA2391979C (en) 2006-12-19
WO2001036940A2 (en) 2001-05-25
AU1603901A (en) 2001-05-30
US20010046051A1 (en) 2001-11-29
CA2391979A1 (en) 2001-05-25
WO2001036940A3 (en) 2002-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6307630B1 (en) Turbidimeter array system
US4669878A (en) Automatic monochromator-testing system
US9448161B2 (en) Optical device, particularly a polarimeter, for detecting inhomogeneities in a sample
US7812312B2 (en) Infrared measuring device, especially for the spectrometry of aqueous systems, preferably multiple component systems
US4225229A (en) Apparatus for measuring cytological properties
US6741348B2 (en) Ultrasensitive spectrophotometer
US5093866A (en) Fluorescence and motility characterization system for cells, bacteria, and particles in fluids
ES2359968T3 (es) Unidad de detección espectrofotométrica y nefelométrica.
US5929981A (en) System for monitoring contamination of optical elements in a Raman gas analyzer
US5742064A (en) System for detecting impurities contained in a flowing petroleum product
BRPI0806880A2 (pt) Analisador químico óptico, e, método para medir concentrações químicas em uma corrente contínua ou processo em batelada
JP2003515124A5 (ja)
EP0890092B1 (en) Optical instrument
JP4660266B2 (ja) 水質検査装置
EP0427943B1 (de) Faseroptischer Sensor zum Nachweis von photothermischen Effekten
JPH0580981B2 (ja)
US11835507B2 (en) Systems, subsystems and methods for measuring water characteristics in a water facility
JP4486805B2 (ja) 分光分析装置
JP3045566B2 (ja) 細菌検査装置
WO1986000406A1 (en) Automatic monochromator-testing system
CN215375095U (zh) 一种偏振拉曼光谱探测系统
US11747200B2 (en) Optical process sensor, measuring head, measuring system comprising the two and method for calibration and/or validation
CN110320160B (zh) 一种分时复用的反射异性差分光学测量装置及方法
JP2004061199A (ja) 分光吸光度検出器
JPH0579135B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071108

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071108

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100914

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110222