JP2003324411A - 符号誤り測定装置及び方法、pnパターン発生装置及び方法並びに同期装置 - Google Patents

符号誤り測定装置及び方法、pnパターン発生装置及び方法並びに同期装置

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JP2003324411A
JP2003324411A JP2002128841A JP2002128841A JP2003324411A JP 2003324411 A JP2003324411 A JP 2003324411A JP 2002128841 A JP2002128841 A JP 2002128841A JP 2002128841 A JP2002128841 A JP 2002128841A JP 2003324411 A JP2003324411 A JP 2003324411A
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pattern
reception
synchronization
mark
mark ratio
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Seiichi Tsutsumi
成一 堤
Hideo Shida
秀雄 志田
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Ando Electric Co Ltd
Kyushu Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Kyushu Ando Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 符号誤り率の測定時間を短縮する。 【解決手段】 対象物から得られた受信パターンをパラ
レル変換し、その並列ビット中から予め決められたPN
の段数ビット長の特定の要素パターンを同期パターンと
して検出し、該検出を示す検出トリガ信号を出力すると
共に同期パターンが並列ビットの先頭になるように受信
パターンをビットシフトさせて測定用受信パターンとし
て出力する同期検出部a21と、検出トリガ信号と同期パ
ターンとに基づいて復元させたマーク率1/2のPNパ
ターンを順次生成して出力するPNパターン生成部a22
と、受信パターンのマーク率に応じて前記PNパターン
生成部から出力されるマーク率1/2のPNパターンの
マーク率を可変して期待値パターンとして出力するマー
ク率可変部a23と、期待値パターンと測定用受信パター
ンとを比較することにより受信パターンの符号誤りを検
出するエラー検出部a24とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、符号誤り測定装置
及び方法、PNパターン発生装置及び方法並びに同期装
置に係わり、特に疑似ランダムパターン(PNパター
ン)を試験信号として用いた伝送路や装置やデバイスの
符号誤り率を測定する技術に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来の
マーク率を可変したPNパターンを用いて符号誤り率を
測定する符号誤り測定装置を図1に示す。この回路は、
PN発生部a12によりマーク率1/2のPNパターンd12
を発生させ、シフトレジスタa13に出力し、このシフト
レジスタa13によりシフトされたマーク率1/2のPN
パターンd13とシフトする前のマーク率1/2のPNパ
ターンd12をAND回路a14に与えマーク率を可変したP
Nパターンを基準パターンd14として出力する。ここ
で、シフトレジスタa13によりシフトさせる段数は、マ
ーク率の値により決められる。一方、送信側にもこれと
同様のマーク率を可変したPNパターンの発生回路があ
り、送信側で発生させたマーク率を可変したPNパター
ンを伝送路を経由して受信信号d1として入力し、誤り検
出部d15により受信側で発生させた基準パターンd14と排
他的論理輪をとり符号誤りd15として出力される。ここ
で、基準パターンd14と受信パターンd1の同期をとるた
めに、誤りd15の誤り率がある閾値以上の場合にはパタ
ーン同期制御部d16から出力する動作イネーブル信号a16
をディセーブル状態にし、上記で説明した基準パターン
d14を発生させるための回路を停止させ、受信パターンd
1と基準パターンd14の一致をパターン一致検出部a11に
より検出し、一致したところで比較開始信号d11をパタ
ーン同期制御部d16に出力し、これにより動作イネーブ
ル信号a16をイネーブル状態に戻し基準パターンd14を発
生させる回路を動作させる。これにより、受信パターン
d1と基準パターンd14の同期がとられ符号誤りの測定が
可能になる。
【0003】しかし、この方法だとマーク率が低いPN
パターンの場合、受信パターンd1と基準パターンd14の
一致を検出するためのパターンを短くすると、間違った
位置での検出回数が多くなり、「パターン一致検出、閾
値比較、パターン一致検出・・・」の回数が多くなり、
同期をとるまでに時間がかかってしまい、またパターン
の段数が増加するとさらにこの頻度はあがり測定に要す
る時間が長時間化する。任意のパターンを長くすること
でこの頻度をさげることもできるが、そうすると、比較
するための回路規模の増大を招いてしまう。
【0004】本発明は、上述する問題点のマーク率を可
変したPNパターンによる符号誤り率測定で同期をとる
ために要する同期引き込み時間の長時間化に対するもの
で、従来とは違った手法を用いることによりPN31段
等の段数の大きいPNパターンでも符号誤り(ビットエ
ラー)測定に関する測定時間の長時間化を是正すること
を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、符号誤り測定装置に係わる第1の手段
として、複数のマーク率のPNパターンを用いて対象物
におけるビットエラーを検出する符号誤り測定装置であ
って、対象物から得られた受信パターンをパラレル変換
し、その並列ビット中から予め決められたPNの段数ビ
ット長の特定の要素パターンを同期パターンとして検出
し、該検出を示す検出トリガ信号を出力すると共に同期
パターンが並列ビットの先頭になるように受信パターン
をビットシフトさせて測定用受信パターンとして出力す
る同期検出回路と、前記検出トリガ信号と同期パターン
とに基づいて復元させたマーク率1/2のPNパターン
を順次生成して出力するPN同期パターン生成回路と、
受信パターンのマーク率に応じて前記PN同期パターン
生成回路から出力されるマーク率1/2のPNパターン
のマーク率を可変して期待値パターンとして出力するマ
ーク率可変回路と、前記期待値パターンと測定用受信パ
ターンとを比較することにより受信パターンのビットエ
ラーを検出するエラー検出回路とを具備する構成を採用
する。
【0006】また、符号誤り測定装置に係わる第2の手
段として、上記第1の手段において、PN同期パターン
生成回路は、受信パターンの段数に応じたマーク率1/
2のPNパターンを生成するという構成を採用する。
【0007】さらに、本発明では、PNパターン発生装
置に係わる第1の手段として、対象物から受信したPN
パターン(受信パターン)に同期したPNパターンを生
成する装置であって、受信パターンをパラレル変換し、
その並列ビット中から予め決められたPNの段数ビット
長の特定の要素パターンを同期パターンとして検出し、
該検出を示す検出トリガ信号を出力すると共に同期パタ
ーンが並列ビットの先頭になるように受信パターンをビ
ットシフトさせて測定用受信パターンとして出力する同
期検出回路と、前記検出トリガ信号と同期パターンとに
基づいて復元させたマーク率1/2のPNパターンを順
次生成して出力するPN同期パターン生成回路とを具備
する構成を採用する。
【0008】また、このPNパターン発生装置に係わる
第2の手段として、上記第1の手段において、受信パタ
ーンのマーク率に応じて前記PN同期パターン生成回路
から出力されるマーク率1/2のPNパターンのマーク
率を可変して期待値パターンとして出力するマーク率可
変回路をさらに具備するという構成を採用する。
【0009】さらに、PNパターン発生装置に係わる第
3の手段として、上記第1または第2の手段において、
PN同期パターン生成回路は、受信パターンの段数に応
じたマーク率1/2のPNパターンを生成するという構
成を採用する。
【0010】一方、本発明では、符号誤り測定方法に係
わる第1の手段として、複数のマーク率のPNパターン
を用いて対象物におけるビットエラーを検出する符号誤
り測定方法であって、対象物から得られた受信パターン
をパラレル変換し、その並列ビット中から予め決められ
たPNの段数ビット長の特定の要素パターンを同期パタ
ーンとして検出する行程Aと、受信パターンをビットシ
フトさせて同期パターンが並列ビットの先頭になるよう
にした測定用受信パターンを生成する行程Bと、前記検
出トリガ信号と同期パターンとに基づいて復元させたマ
ーク率1/2のPNパターンを順次生成する行程Cと、
受信パターンのマーク率に応じて前記マーク率1/2の
PNパターンのマーク率を可変して期待値パターンを生
成する行程Dと、前記期待値パターンと測定用受信パタ
ーンとを比較することにより受信パターンのビットエラ
ーを検出する行程Eとを有するという構成を採用する。
【0011】また、符号誤り測定方法に係わる第2の手
段として、上記第1の手段において、行程Cでは、受信
パターンの段数に応じたマーク率1/2のPNパターン
を生成するという構成を採用する。
【0012】さらに、本発明では、PNパターン発生方
法に係わる第1の手段として、対象物から受信したPN
パターン(受信パターン)に同期したPNパターンを生
成する装置であって、対象物から得られた受信パターン
をパラレル変換し、その並列ビット中から予め決められ
たPNの段数ビット長の特定の要素パターンを同期パタ
ーンとして検出する行程Aと、受信パターンをビットシ
フトさせて同期パターンが並列ビットの先頭になるよう
にした測定用受信パターンを生成する行程Bと、前記検
出トリガ信号と同期パターンとに基づいて復元させたマ
ーク率1/2のPNパターンを順次生成する行程Cとを
有する構成を採用する。
【0013】また、PNパターン発生方法に係わる第2
の手段として、上記第1の手段において、受信パターン
のマーク率に応じて前記マーク率1/2のPNパターン
のマーク率を可変して期待値パターンを生成する行程D
をさらに有するという構成を採用する。
【0014】さらに、PNパターン発生方法に係わる第
3の手段として、上記第1または第2の手段において、
行程Cでは、受信パターンの段数に応じたマーク率1/
2のPNパターンを生成するという構成を採用する。
【0015】一方、本発明では、対象物から受信したP
Nパターン(受信パターン)に同期した信号を出力する
同期装置に係わる手段として、対象物から得られた受信
パターン中から予め決められたPNの段数ビット長の特
定の要素パターンを同期パターンとして検出し、該検出
を示す検出トリガ信号を出力するという構成を採用す
る。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図2を参照して、本発明に
係わる符号誤り測定装置及び方法、PNパターン発生装
置及び方法並びに同期装置の一実施形態について説明す
る。
【0017】図2は、本実施形態における符号誤り測定
装置の機能構成を示すブロック図である。この図におい
て、a2はシリアル−パラレル変換(器)、a21は同期検
出部、a22はPNパターン生成部、a23はマーク率可変
部、a24はエラー検出部である。これら各構成要素のう
ち、同期検出部a21、PNパターン生成部a22及びマーク
率可変部a23は、本実施形態におけるPNパターン発生
装置を構成している。
【0018】シリアル−パラレル変換器a2は、伝送路
(対象物)を介して受信された受信パターン(シリアル
信号)d2をMビット幅(M=任意の整数)のパラレル信
号d20に変換して同期検出部a21に出力する。このような
シリアル−パラレル変換器a2は、伝送路に接続された受
信装置の構成要素である。
【0019】同期検出部a21は、エラー検出部a24からの
符号誤りd24bによる符号誤り率がある閾値以上の場合
に、図2に示すようにMビット幅づつ順次入力される受
信パターン(パラレル信号)d20の中からマーク率を可
変する前のマーク率1/2のPNパターンを復元するこ
とが出来る予め決められたPNの段数ビット長の同期パ
ターンを検出し、この同期パターンを検出すると、同期
パターンが、並列Mビットの先頭以外の場所で検出され
た場合、同期パターンの先頭ビットが並列Mビットの先
頭になるように受信パターンd20をビットシフトさせて
エラー検出部a24に測定用受信パターンd211として出力
すると共に、同期パターンの検出を示す検出トリガ信号
d212をPNパターン生成部a22に出力する。
【0020】PN同期パターン生成回路a22は、上記検
出トリガ信号d212によりマーク率1/2のPN同期パタ
ーンを生成する各生成回路(図1では例としてPN7発
生器a22a,PN9発生器a22b,PN23発生器a22
c,PN31発生器a22dとしている)に選択されたP
Nパターンの基準値を設定し、その後これら各生成回路
の出力d22a〜d22dを設定値Aに基づいて択一的に選択し
てマーク率可変回路a24に出力するセレクタa22eから構
成されている。
【0021】上記各生成回路a22a〜a22eは、検出トリガ
信号d212に基づいて各々の段数に応じたマーク率1/2
のPNパターンd22a〜d22dを生成してセレクタa22eに出
力する。セレクタa22eは、符号誤り率の測定に使用され
るPNパターンの段数に応じて規定される設定値Aに基
づいて何れかの生成回路a22a〜a22dを選択する。つま
り、測定用のPNパターンが7段のPNパターンのとき
には設定値Aに基づいてPN7発生器a22aを選択し、9
段のPNパターンのときには設定値Aに基づいてPN9
発生器a22bを選択し、23段のPNパターンのときには
設定値Aに基づいてPN23発生器a22cを選択し、ある
いは31段のPNパターンのときには設定値Aに基づい
てPN31発生器a22dを選択してマーク率可変回路a24
に出力する。(ここでは、例として4つの段数の発生器
について記載している)
【0022】マーク率可変回路a23は、上記PNパター
ン生成部a22から入力されたPNパターンをマーク率1
/4のPNパターンに変換するマーク率1/4設定回路
a23a及びマーク率1/8のPNパターンに変換するマー
ク率1/8設定回路a23b、並びにこれら各マーク率設定
回路a23a,a23bの出力を設定値Bに基づいて択一的に選
択して期待値パターンd23としてエラー検出部a24に出力
するセレクタa23cから構成されている。
【0023】エラー検出部a24は、マーク率可変部a23か
ら入力される所定段数及び所定マーク率の期待値パター
ン(PNパターン)d23と同期検出部a21から入力される
測定用受信パターンd211との位相合わせするために当該
測定用受信パターンd211を遅延させるフリップフロップ
(FF)a24aと、該フリップフロップa24aの出力パター
ンd24aとマーク率可変部a23から入力される期待値パタ
ーン(PNパターン)d23との排他的論理和を取るEX
−OR回路a24bとから構成されている。EX−OR回路
a24bは、このような排他的論理和を取ることにより期待
値パターンd23に対する遅延測定用受信パターンd24aの
相違、つまり受信パターンd2中に含まれる符号誤りd24b
を検出する。
【0024】次に、このように構成された符号誤り測定
装置の時系列的な動作について説明する。
【0025】本符号誤り測定装置を用いて、マーク率可
変のPNパターンにより伝送路や装置やデバイスの符号
誤り率を測定する場合、例えば、測定しようとする伝送
路で実際に使用されているPNパターンが7段であり、
またマーク率1/4条件で当該伝送路の符号誤り率を測
定する場合、設定値Aはセレクタa22eがPN7発生器a2
2aを選択するように設定され、また設定値Bは、セレク
タa23cがマーク率1/4設定回路a23aを選択するように
設定される。そして、このような初期設定状態の下で、
送信側から7段かつマーク率1/4のPNパターン(送
信パターン)が順次連続的に送信される。
【0026】ここで、上記7段かつマーク率1/2のパ
ターンは、M系列疑似ランダムパターンであり、マーク
率を変化させたパターンも周知のように特定のビット数
から成る要素パターンが周期的に繰り返し出現する時系
列的に周期性を持ったパターンである。このような周期
性を備えた送信パターン(シリアルパターン)は、伝送
路内を伝搬して送信側に設けられたシリアル−パラレル
変換器a2に受信パターンとして入力されてMビット幅の
パラレルパターンに変換されて、本符号誤り測定装置に
入力される。
【0027】ここで、送信側からの受信パターンと本符
号誤り測定装置内で発生させた基準パターンの同期をと
るために、受信パターン(Mビットパラレルパターン)
d20を同期検出部a21に順次入力させて、同期検出部a21
により7段かつマーク率1/4のPNパターンが周期的
に発する同期パターンを検出する。この同期パターン
は、上記要素パターンの中から予め決められたPNパタ
ーンの段数分のビット長であり、この場合は「1111
110」と、6ビット連続して「1」が並ぶパターンで
ある。ここで、7段かつマーク率1/2のPNパターン
には要素パターンとして、7ビット連続して「1」が並
ぶパターン「1111111」が周期的に出現し、この
区間に対してマーク率を変化させたものはPNの段数ビ
ット以下で特異パターンを得られる特性があり、この場
合は「111110」となり、「1」が6ビット連続したも
のである。同期検出部a21内には、要素パターン「111
1110」が同期パターンとして予め記憶されており、
当該同期パターンに一致する要素パターン「11111
10」を受信パターンd20中に検出する。
【0028】そして、同期検出部a21は、同期パターン
に一致する要素パターン「1111110」を受信パタ
ーンd20中に検出すると、速やかに検出トリガ信号d212
をPNパターン生成部a22に出力すると共に、同期パタ
ーンが、並列Mビットの先頭以外の場所で検出された場
合、同期パターンの先頭ビットが並列Mビットの先頭に
なるように受信パターンd20をビットシフトさせて測定
用受信パターンd211としてエラー検出部a24に出力す
る。
【0029】PNパターン生成部a22の各発生器a22a〜a
22dには上記検出トリガ信号d212が入力される。このう
ちPN7発生器a22aは、検出トリガ信号d212と同期パタ
ーンに基づいて復元させた7段のマーク率1/2PNパ
ターンd22aを順次生成してセレクタa22eに連続的に出力
する。このマーク率1/2PNパターンd22aはセレクタ
a22eを介してマーク率可変部a23の各マーク率設定回路a
23a,a23bに入力され、このうちマーク率1/4設定回
路a23aでマーク率1/2PNパターンd22をマーク率1
/4のパターンに変えてセレクタa23cに出力する。
【0030】セレクタa23cは、マーク率1/4設定回路
a23aから入力された7段のマーク率1/4パターンを設
定値Bにより選択しエラー検出部a24のEX−OR回路a
24bに期待値パターンとして出力する。したがって、こ
のEX−OR回路a24bには検出トリガ信号d212(つまり
同期パターン)に同期した7段のマーク率1/4パター
ンが順次入力され、同じく同期信号を先頭とした、つま
り同期信号に同期した測定用受信パターンd211をフリッ
プ・フロップa24aにより遅延させたd24aと順次排他的論
理和が取られて符号誤りd24bが検出される。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
対象物から得られた受信パターンをパラレル変換し、そ
の並列ビット中から予め決められたPNの段数ビット長
の特定の要素パターンを同期パターンとして検出し、該
検出を示す検出トリガ信号を出力すると共に同期パター
ンが並列ビットの先頭になるように受信パターンをビッ
トシフトさせて測定用受信パターンとして出力する同期
検出部と、前記検出トリガ信号と同期パターンとに基づ
いて復元させたマーク率1/2のPNパターンを順次生
成して出力するPN同期パターン生成部と、受信パター
ンのマーク率に応じて前記PNパターン生成部から出力
されるマーク率1/2のPNパターンのマーク率を可変
して期待値パターンとして出力するマーク率可変部と、
前記期待値パターンと測定用受信パターンとを比較する
ことにより受信パターンの符号誤りを検出するエラー検
出部とを具備するので、すなわち受信パターンをパラレ
ル処理して予め決められたPNの段数ビット長の特定の
要素パターンを同期パターンとして検出することにより
符号誤り測定用のPNパターン生成部にPNパターンの
基準値を設定することで、受信パターンに対する同期を
確立するので、段数の増加による符号誤り(ビットエラ
ー)に関する測定時間の長時間化を是正することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の一実施形態の機能構成を示すブロッ
ク図である。
【図2】 本発明の一実施形態の機能構成を示すブロ
ック図である。
【符号の説明】
a2……シリアル−パラレル変換 a21……同期検出部 a22……PNパターン生成部 a23……マーク率可変部 a24……エラー検出部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 志田 秀雄 熊本県上益城郡益城町大字田原2081番28 九州安藤電気株式会社内 Fターム(参考) 5K014 AA01 EA04 FA10 GA04 5K047 GG34 GG37 HH01 KK01 KK13

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のマーク率のPNパターンを用い
    て対象物におけるビットエラーを検出する符号誤り測定
    装置であって、 対象物から得られた受信パターンをパラレル変換し、そ
    の並列ビット中から予め決められたPNの段数ビット長
    の特定の要素パターンを同期パターンとして検出し、該
    検出を示す検出トリガ信号を出力すると共に同期パター
    ンが並列ビットの先頭になるように受信パターンをビッ
    トシフトさせて測定用受信パターンとして出力する同期
    検出回路と、 前記検出トリガ信号と測定用受信パターンとに基づいて
    復元させたマーク率1/2のPNパターンを順次生成し
    て出力するPN同期パターン生成回路と、 受信パターンのマーク率に応じて前記PN同期パターン
    生成回路から出力されるマーク率1/2のPNパターン
    のマーク率を可変して期待値パターンとして出力するマ
    ーク率可変回路と、 前記期待値パターンと測定用受信パターンとを比較する
    ことにより受信パターンのビットエラーを検出するエラ
    ー検出回路とを具備することを特徴とする符号誤り測定
    装置。
  2. 【請求項2】 PN同期パターン生成回路は、受信パ
    ターンの段数に応じたマーク率1/2のPNパターンを
    生成することを特徴とする請求項1記載の符号誤り測定
    装置。
  3. 【請求項3】 対象物から受信したPNパターン(受
    信パターン)に同期したPNパターンを生成する装置で
    あって、 受信パターンをパラレル変換し、その並列ビット中から
    予め決められたPNの段数ビット長の特定の要素パター
    ンを同期パターンとして検出し、該検出を示す検出トリ
    ガ信号を出力すると共に同期パターンが並列ビットの先
    頭になるように受信パターンをビットシフトさせて測定
    用受信パターンとして出力する同期検出回路と、 前記検出トリガ信号と同期パターンとに基づいて復元さ
    せたマーク率1/2のPNパターンを順次生成して出力
    するPN同期パターン生成回路とを具備することを特徴
    とするPNパターン発生装置。
  4. 【請求項4】 受信パターンのマーク率に応じて前記
    PN同期パターン生成回路から出力されるマーク率1/
    2のPNパターンのマーク率を可変して期待値パターン
    として出力するマーク率可変回路をさらに具備すること
    を特徴とする請求項3記載のPNパターン発生装置。
  5. 【請求項5】 PN同期パターン生成回路は、受信パ
    ターンの段数に応じたマーク率1/2のPNパターンを
    生成することを特徴とする請求項3または4記載のPN
    パターン発生装置。
  6. 【請求項6】 複数のマーク率のPNパターンを用い
    て対象物におけるビットエラーを検出する符号誤り測定
    方法であって、 対象物から得られた受信パターン中から予め決められた
    PNの段数ビット長の特定の要素パターンを同期パター
    ンとして検出する行程Aと、 受信パターンをビットシフトさせてPN同期パターン生
    成回路により復元させたマーク率1/2PNパターンに
    同期させた測定用受信パターンを生成する行程Bと、 前記同期パターンにより復元させたマーク率1/2のP
    Nパターンを順次生成する行程Cと、 受信パターンのマーク率に応じて前記マーク率1/2の
    PNパターンのマーク率を可変して期待値パターンを生
    成する行程Dと、 前記期待値パターンと測定用受信パターンとを比較する
    ことにより受信パターンのビットエラーを検出する行程
    Eとを有することを特徴とする符号誤り測定方法。
  7. 【請求項7】 行程Cでは、受信パターンの段数に応
    じたマーク率1/2のPNパターンを生成することを特
    徴とする請求項6記載の符号誤り測定方法。
  8. 【請求項8】 対象物から受信したPNパターン(受
    信パターン)に同期したPNパターンを生成する装置で
    あって、 対象物から得られた受信パターン中から予め決められた
    PNの段数ビット長の特定の要素パターンを同期パター
    ンとして検出する行程Aと、 受信パターンをビットシフトさせて同期パターンにより
    復元させたマーク率1/2PNパターンに同期させた測
    定用受信パターンを生成する行程Bと、前記同期パター
    ンにより復元させたマーク率1/2のPNパターンを順
    次生成する行程Cとを有することを特徴とするPNパタ
    ーン発生方法。
  9. 【請求項9】 受信パターンのマーク率に応じて前記
    マーク率1/2のPNパターンのマーク率を可変して期
    待値パターンを生成する行程Dをさらに有することを特
    徴とする請求項8記載のPNパターン発生方法。
  10. 【請求項10】 行程Cでは、受信パターンの段数に
    応じたマーク率1/2のPNパターンを生成することを
    特徴とする請求項8または9記載のPNパターン発生方
    法。
  11. 【請求項11】 対象物から受信したPNパターン
    (受信パターン)に同期した信号を出力する装置であっ
    て、 対象物から得られた受信パターン中から予め決められた
    PNの段数ビット長の特定の要素パターンを同期パター
    ンとして検出し、該検出を示す検出トリガ信号を出力す
    ることを特徴とする同期装置。
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