JP2003318321A - 高周波モジュール - Google Patents
高周波モジュールInfo
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- JP2003318321A JP2003318321A JP2002122376A JP2002122376A JP2003318321A JP 2003318321 A JP2003318321 A JP 2003318321A JP 2002122376 A JP2002122376 A JP 2002122376A JP 2002122376 A JP2002122376 A JP 2002122376A JP 2003318321 A JP2003318321 A JP 2003318321A
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Abstract
え、小型化を図ることが可能な高周波モジュールを提供
する。 【解決手段】インダクタの上下にコンデンサを設けてバ
イアス回路を構成すると共に、このバイアス回路上に高
周波回路の配線や素子を有する配線層を配設して高周波
モジュールを形成する。また、インダクタの上に設けた
コンデンサは上部電極を接地電極とし、インダクタの下
に設けたコンデンサは下部電極を接地電極とする。
Description
に関し、特に、小型化を図ることが可能な高周波モジュ
ールに関する。
Assistant)など、様々な移動体携帯通信端末が我々の
日常生活に欠かせないものとなっている。
型化、低消費電力化などが求められており、また、この
ような要求に対応するため、これらの端末の主要部品で
あるパワーアンプなどの高周波モジュールに対しても、
さらなる高周波化、小型化、低消費電力化、低価格化な
どが求められている。
は、従来、アルミナや樹脂基板上に様々な部品を実装し
て構成されていた。
していた部品を半導体基板に組み込み、高周波モジュー
ルを構成するといったアプローチが試みられている。
していた各部品を素子や回路として半導体基板に組み込
む方法では、各部品を実装した高周波モジュールに比べ
て小型化が図れるものの、バイアス回路や高周波回路の
配線、素子など、半導体基板に並列に配設されるため、
半導体基板の面積を縮小するには限界があった。
や素子などを積層して形成することにより、半導体基板
の面積を抑える構成も考えられているが、この構成の場
合、バイアス回路のインダクタやコンデンサから生じる
電界や磁界が高周波回路の配線に影響を与え、特性の劣
化が生じるという問題があった。
に、このような影響を防止するに十分な距離を設ける必
要があり、これが高周波モジュールの小型化を妨げてい
た。
厚みを抑え、小型化を図ることが可能な高周波モジュー
ルを提供することを目的とする。
ュールは、バイアス回路を有する高周波回路を搭載した
高周波モジュールにおいて、バイアス回路は、半導体基
板上に形成された下部コンデンサと、上部コンデンサ
と、下部コンデンサと上部コンデンサとの間に挟まれて
形成されたインダクタとを具備し、高周波回路の配線層
は、バイアス回路上に層間絶縁膜を介して形成される。
回路と電磁気的に分離され、高周波回路の特性の劣化を
防止すると共に、配線や素子の設計自由度が増し、高周
波モジュールの小型化を図ることができる。
は、それぞれ下部電極と誘電体と上部電極とを積層した
構成を有し、上部コンデンサは、上部電極を接地電極と
し、下部コンデンサは、下部電極を接地電極とすること
により、π型のフィルタ回路が構成され、バイアス回路
のフィルタ特性を向上させることができる。
サは、それぞれ異種材料の薄膜を積層して形成されるこ
とにより、高周波回路を薄く形成することができる。
ュールの実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明す
る。
の一実施の形態の構成を概念的に示した図である。
導体基板(Si基板)2をプラットフォームとして、その
上に異種材料の薄膜を利用したバイアス回路3を有し、
さらに、バイアス回路3上に高周波回路の配線層4が積
層されている。
クコイル5と、この高周波チョークコイルの上に形成さ
れた上部コンデンサ6、及び高周波チョークコイルの下
に形成された下部コンデンサ7が設けられている。
び高周波回路の配線9が設けられている。
ンサ7は、高周波大容量コンデンサであり、後に詳述す
るように、下部電極、容量絶縁膜、上部電極、例えば、
Pt/SrTiO3/Ptの多層構造からなるMIMキャパ
シタとして形成され、また、高周波チョークコイル5
は、インダクタ配線である。
ス回路を構成する下部コンデンサは、下部電極を接地電
極とし、また、上部コンデンサは、上部電極を接地電極
としてπ型のフィルタ回路を構成しており、これにより
バイアス回路のフィルタ特性を向上させている。
波的に接地されているため、バイアス回路の電界、磁界
が遮断が可能で、高周波回路の配線や素子の設計自由度
が増し、回路特性の向上や高周波モジュールの小型化を
図ることができる。
造方法の一例を図3を参照して説明する。
板2上に、図示しないSiO2膜を成膜する。
るPt電極膜を形成し、このPt電極膜上に、強誘電体
材料であるSrTiO3膜11をゾルゲル法、スパッタ
法、CVD法等によって形成し、その上に上部電極12
となるPt電極膜を形成して、図3(a)に示すよう
に、Pt電極膜/SrTiO3膜/Pt電極膜の多層構造
からなる大容量MIMキャパシタを下部コンデンサ7と
して形成する。
絶縁性材料であるポリイミドを塗布して第1の層間絶縁
膜13を形成し、図3(b)に示すように、第1の層間
絶縁膜13上に、チョークコイル5をパターニングす
る。
クコイル5上に絶縁性材料であるポリイミドを塗布して
第2の層間絶縁膜14を形成し、図3(c)に示すよう
に、下部電極15であるPt電極膜、SrTiO3膜1
6、下部電極17であるPt電極膜を積層して、この多
層構造からなる大容量MIMキャパシタを上部コンデン
サ6としてチョークコイル5に対応する位置に形成し
て、上部コンデンサ6及び下部コンデンサ7との間にチ
ョークコイル7が配設されたバイアス回路3を形成す
る。
を塗布して第3の層間絶縁膜18を形成し、この第3の
層間絶縁膜18上に、図3(d)に示すように、Alか
らなる高周波回路のGND配線9を形成する。
布して第4の層間絶縁層19を形成し、この第4の層間
絶縁膜19上に高周波回路の配線9及び図示しない高周
波回路の素子を形成して、図3(e)に示すように、G
ND配線9及び配線9からなる高周波回路の配線層4を
形成する。
電極として形成し、また、下部コンデンサは、下部電極
を接地電極として形成する。
及び厚みを抑えた高周波モジュールを作成することがで
きる。
念的に示す断面図
回路を示す回路図
を示す断面図
Claims (3)
- 【請求項1】 バイアス回路を有する高周波回路を搭載
した高周波モジュールにおいて、 前記バイアス回路は、 半導体基板上に形成された下部コンデンサと、 上部コンデンサと、 前記下部コンデンサと前記上部コンデンサとの間に挟ま
れて形成されたインダクタとを具備し、 前記高周波回路の配線層は、前記バイアス回路上に層間
絶縁膜を介して形成されることを特徴とする高周波モジ
ュール。 - 【請求項2】 前記上部コンデンサ及び前記下部コンデ
ンサは、 それぞれ下部電極と誘電体と上部電極とを積層した構成
を有し、 前記上部コンデンサは、 前記上部電極を接地電極とし、 前記下部コンデンサは、 前記下部電極を接地電極とすることを特徴とする請求項
1記載の高周波モジュール。 - 【請求項3】 前記上部コンデンサ及び下部コンデンサ
は、 それぞれ異種材料の薄膜を積層して形成されることを特
徴とする請求項1記載の高周波モジュール。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002122376A JP3936620B2 (ja) | 2002-04-24 | 2002-04-24 | 高周波モジュール |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002122376A JP3936620B2 (ja) | 2002-04-24 | 2002-04-24 | 高周波モジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2003318321A true JP2003318321A (ja) | 2003-11-07 |
JP3936620B2 JP3936620B2 (ja) | 2007-06-27 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP3936620B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101003587B1 (ko) | 2008-10-13 | 2010-12-22 | 삼성전기주식회사 | Cmos rf ic |
-
2002
- 2002-04-24 JP JP2002122376A patent/JP3936620B2/ja not_active Expired - Fee Related
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KR101003587B1 (ko) | 2008-10-13 | 2010-12-22 | 삼성전기주식회사 | Cmos rf ic |
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