JP2003297027A - ゲイン自動調整装置およびゲイン自動調整方法 - Google Patents

ゲイン自動調整装置およびゲイン自動調整方法

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JP2003297027A
JP2003297027A JP2002093168A JP2002093168A JP2003297027A JP 2003297027 A JP2003297027 A JP 2003297027A JP 2002093168 A JP2002093168 A JP 2002093168A JP 2002093168 A JP2002093168 A JP 2002093168A JP 2003297027 A JP2003297027 A JP 2003297027A
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gain
amplitude
servo loop
frequency
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ノイズによるゲイン測定への影響を最小限に
し、サーボ系の適正ゲインを精度よく設定することがで
きるゲイン自動調整装置およびゲイン自動調整方法を提
供すること。 【解決手段】 サーボループの所定のポイントに所定の
周波数の正弦波を測定用信号として加え、この正弦波の
加算点での加算直後の信号である信号1とサーボループ
を一巡して戻ってきた加算点での加算直前の信号である
信号2との振幅比Ka求めるために、信号1および信号
2を各々測定用正弦波の周波数のバンドパスフィルタ1
62a及び162bで処理して測定用周波数成分を取り
出すだけでなく、さらに絶対値演算部163a及び16
3b、積分演算部164a及び164bで処理し、2つ
の積分演算出力の比で振幅比Kaを求め、補正ゲインK
120を設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、サーボループの
所定の加算点に所定の周波数のゲイン測定用信号を加算
し、該加算点での加算前後の信号の振幅比からサーボル
ープの適正ゲインを求めるゲイン自動調整装置およびゲ
イン自動調整方法に関し、特に、ノイズによるゲイン測
定への影響を最小限にし、サーボ系の適正ゲインを精度
よく算定することができるゲイン自動調整装置およびゲ
イン自動調整方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、音楽、映像などの大規模なマルチ
メディアデータの記憶装置として、コンパクトディスク
(CD)、デジタルバーサタイルディスク(DVD)な
どの光ディスクを記憶媒体とする光ディスク装置が数多
く利用されている。この光ディスク装置では、光スポッ
トの位置ずれを制御するトラッキング制御、光スポット
の焦点ずれを制御するフォーカス制御などでサーボ制御
がおこなわれている。
【0003】かかる光ディスク装置のサーボ制御におい
て、サーボループの適正ゲインは、同一機種の光ディス
ク装置であっても、必ずしも同じではない。その理由
は、各光ディスク装置において、機械的、光学的、電気
的条件のばらつきが避けられないためである。また、光
ディスク装置の経年変化も適正ゲインに影響を与える。
さらに、リムーバブル光ディスク装置の場合には、個々
の光ディスクの特性のばらつきも適正ゲインに影響を与
える。
【0004】このため、光ディスク装置のサーボループ
では、光ディスク装置の起動時などにループゲインを適
正な値に調整する必要がある。この適正な値は、サーボ
ループの一巡ゲインから求めることができる。すなわ
ち、適正ゲインは、サーボループを閉じた状態でサーボ
ループの所定のポイントに正弦波を加え、この正弦波の
加算点の直後の信号とサーボループを一巡して戻ってき
た加算点の直前の信号との振幅比から求めることができ
る。ここで、加算点での加算前後の各信号の振幅は、各
信号から正弦波の周波数成分を抽出した信号の最大値と
最小値の差から求めている。そして、これらの振幅から
振幅比および適正ゲインを求めている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来技術のように、信号の振幅を最大値と最小値の差か
ら求めることとすると、ノイズの影響を受けやすいとい
う問題がある。すなわち、ノイズの影響により信号の最
大値、最小値の測定が不正確となり、これらの測定に基
づく振幅が不正確となる。そして、2つの信号の振幅に
基づく振幅比が不正確となり、ひいては、ゲインの値が
不適当となる。
【0006】この発明は、上述した従来技術による問題
点を解消するためになされたものであり、ノイズによる
ゲイン測定への影響を最小限にし、サーボ系の適正ゲイ
ンを精度よく算定することができるゲイン自動調整装置
およびゲイン自動調整方法を提供することを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するため、本発明は、サーボループの所定の
加算点に所定の周波数のゲイン測定用信号を加算し、該
加算点での加算前後の信号の振幅比から前記サーボルー
プの適正ゲインを求めるゲイン自動調整装置であって、
前記加算点での加算前後の信号それぞれを入力信号と
し、各入力信号の振幅に比例して増加する振幅比例増加
信号をそれぞれ生成する振幅比例増加信号生成手段と、
前記振幅比例増加信号生成手段によりそれぞれ生成され
た各振幅比例増加信号の比から前記サーボループの適正
ゲインを算定するゲイン算定手段と、を備えたことを特
徴とする。
【0008】また、本発明は、サーボループの所定の加
算点に所定の周波数のゲイン測定用信号を加算し、該加
算点での加算前後の信号の振幅比から前記サーボループ
の適正ゲインを求めるゲイン自動調整方法であって、前
記加算点での加算前後の信号それぞれを入力信号とし、
各入力信号の振幅に比例して増加する振幅比例増加信号
をそれぞれ生成する振幅比例増加信号生成工程と、前記
振幅比例増加信号生成工程によりそれぞれ生成された各
振幅比例増加信号の比から前記サーボループの適正ゲイ
ンを算定するゲイン算定工程と、を含んだことを特徴と
する。
【0009】かかる発明によれば、サーボループの所定
の加算点に所定の周波数の測定用信号を加え、この加算
点での加算直後の信号と、サーボループを一巡して戻っ
てきた加算点での加算直前の信号の振幅比を求めるため
に、各信号の振幅に比例して増加する信号をそれぞれ生
成し、生成された各信号の比から振幅比を求めることと
したので、ノイズによるゲイン測定への影響を最小限に
し、もってサーボ系の適正なゲインを精度よく設定する
ことができる。
【0010】また、本発明は、サーボループの所定の加
算点に所定の周波数のゲイン測定用信号を加算し、該加
算点での加算前後の信号の振幅比から前記サーボループ
の適正ゲインを求めるゲイン自動調整装置であって、前
記加算点での加算前後の信号それぞれを入力信号とし、
各入力信号の振幅に比例する振幅比例信号をそれぞれ生
成する振幅比例信号生成手段と、前記振幅比例信号生成
手段によりそれぞれ生成された各振幅比例信号の比から
前記サーボループの適正ゲインを算定するゲイン算定手
段と、を備えたことを特徴とする。
【0011】この発明によれば、サーボループの所定の
加算点に所定の周波数の測定用信号を加え、この加算点
での加算直後の信号と、サーボループを一巡して戻って
きた加算点での加算直前の信号の振幅比を求めるため
に、各信号の振幅に比例する信号をそれぞれ生成し、生
成された各信号の比から振幅比を求めることとしたの
で、ノイズによるゲイン測定への影響を最小限にし、も
ってサーボ系の適正なゲインを精度よく設定することが
できる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係るゲイン自動調整装置およびゲイン自動調整方
法の好適な実施の形態を詳細に説明する。なお、本実施
の形態では、本発明を光ディスク装置の光スポットの位
置ずれ制御をおこなうトラッキングサーボ系に適用した
場合を中心に説明する。
【0013】まず、本実施の形態に係るトラッキングサ
ーボ系の構成について説明する。図1は、本実施の形態
に係るトラッキングサーボ系の構成を示すブロック図で
ある。同図に示すように、このトラッキングサーボ系
は、トラッキングエラー検出部110と、補正ゲインK
120と、サーボコントローラ130と、ドライバ14
0と、アクチュエータ150と、ゲイン自動調整部16
0とからなる。
【0014】トラッキングエラー検出部110は、光デ
ィスク上のトラックの中心と光スポットの中心との位置
ずれを検出する検出部である。補正ゲインK120は、
光ディスク装置のばらつきなどに対処するため、ループ
ゲインを調整するためのゲインである。
【0015】サーボコントローラ130は、光ディスク
の偏心などの外乱によって発生する位置ずれをアクチュ
エータ150を制御することによって解消する制御部で
ある。ドライバ140は、サーボコントローラ130の
指示に基づいてアクチュエータを駆動する駆動部であ
る。アクチュエータ150は、サーボコントローラ13
0の指示に基づいて光スポットを移動する操作部であ
る。
【0016】ゲイン自動調整部160は、光ディスク装
置の起動時などにサーボループの適正ゲインを求め、こ
のサーボループのゲインを自動調整する調整部である。
ゲインの調整は補正ゲインK120を変更することによ
っておこなう。なお、ゲイン自動調整部160の構成の
詳細については後述する。
【0017】次に、本実施の形態に係るトラッキングサ
ーボ系の動作について説明する。トラッキングエラー検
出部110は、光ディスクの偏心などの外乱によって発
生する光スポットの位置ずれを検出すると、TES(Tr
acking Error Signal)として補正ゲインK120に信
号を送る。
【0018】そして、補正ゲインK120とサーボコン
トローラ130は、TESに基づいて、位置ずれを解消
するために必要なアクチュエータ150の操作量を決定
し、ドライバ140を駆動してアクチュエータ150を
操作する。
【0019】ゲイン自動調整部160は、光ディスクの
起動時などに補正ゲインK120を設定する場合にだけ
動作する。なお、ゲイン自動調整部160の動作の詳細
については後述する。
【0020】次に、光ディスク装置のトラックキングサ
ーボ系の適正ゲインについて説明する。図1において、
補正ゲインK120は、光ディスク装置のばらつきなど
がなければ理想的には1であり、補正ゲインK120が
1の時に設計どおりのサーボ制御特性が得られる。
【0021】しかしながら、実際には各光ディスク装置
のばらつきなどのため、補正ゲインK120が1でない
時に最適な制御特性が得られる。したがって、所望の制
御特性を得るためには、各光ディスク装置の適正ゲイン
を求め、補正ゲインK120を適正ゲインに変更する必
要がある。そして、この適正ゲインは、トラッキングサ
ーボ系の一巡ゲインから求めることができる。
【0022】図2は、トラッキングサーボ系の一巡伝達
特性の例を示す図である。同図(a)はゲイン特性を示
し、同図(b)は位相特性を示している。同図(a)の
ゲイン特性の実線で示すように、このトラッキングサー
ボ系はゲインゼロクロス周波数が2kHzの時、最適と
なるように設計されている。ここで、ゲインゼロクロス
周波数とは、ゲインが0dBを横切る周波数、すなわ
ち、一巡ゲインが1となる周波数である。
【0023】しかしながら、各光ディスク装置のばらつ
きなどのため、同図(a)のゲイン特性の点線および一
点鎖線で示すように、ゲインが最適な値よりも高くなっ
たり、低くなったりする。したがって、ゲインゼロクロ
ス周波数である2kHzの一巡ゲインを求め、その逆数
と補正ゲインK120の積をとることで適正ゲインを求
めることができる。
【0024】次に、図1に示したゲイン自動調整部16
0の構成について詳細に説明する。図1に示すように、
このゲイン自動調整部160は、正弦波発生部161
と、バンドパスフィルタ162a及び162bと、絶対
値演算部163a及び163bと、積分演算部164a
及び164bと、除算部165と、補正ゲイン設定部1
66とからなる。
【0025】正弦波発生部161は、一巡ゲインを測定
するためにトラッキングサーボ系に加算する測定用正弦
波の発生部である。測定用正弦波の周波数としては、ト
ラッキングサーボ系の一巡伝達特性のゼロクロス周波
数、すなわち2kHzを用いる。ここで、この測定用正
弦波は、トラッキングサーボ系にとってはノイズとなる
レベルの振幅をもつものとする。
【0026】バンドパスフィルタ162a及び162b
は、測定用正弦波の周波数、すなわち2kHzの周波数
の信号だけを通過させるフィルタである。図3は、バン
ドパスフィルタ162a及び162bの特性の一例を示
す図である。同図に示すように、これらのバンドパスフ
ィルタ162a及び162bは、2kHz以外の周波数
の信号を遮断することができるので、測定周波数以外の
ノイズ成分の影響を最小限にすることが可能となる。
【0027】絶対値演算部163a及び163bは、入
力信号の絶対値をとって出力する演算部である。積分演
算部164a及び164bは、入力信号を積分して出力
する演算部である。
【0028】バンドパスフィルタ162a、絶対値演算
部163a、積分演算部164aは、測定用正弦波の加
算点の直後の信号である信号1を処理する。同様に、バ
ンドパスフィルタ162b、絶対値演算部163b、積
分演算部164bは、測定用正弦波の加算点の直前の信
号である信号2を処理する。
【0029】除算部165は、2つの入力信号の比をと
って出力する演算部である。ここでは、2つの振幅を入
力し振幅比Kaを出力する。補正ゲイン設定部166
は、振幅比Kaに基づいて補正ゲインK120を補正す
る処理部である。
【0030】次に、ゲイン自動調整部160の適正ゲイ
ンを求める動作について詳細に説明する。図1に示すよ
うに、正弦波発生部161が発生する周波数2kHzの
測定用正弦波を所定の加算点でサーボループに加える。
そして、加算点の直後の信号である信号1とサーボルー
プを一巡して戻ってきた加算点の直前の信号である信号
2の2kHzの周波数成分の振幅比をとることにより適
正ゲインを求めることとしている。
【0031】このため、信号1をバンドパスフィルタ1
62aに入力して2kHzの周波数成分を抽出し、信号
2をバンドパスフィルタ162bに入力して2kHzの
周波数成分を抽出する。ここで、バンドパスフィルタ1
62a及び162bの出力信号の振幅を直接測定すると
ノイズの影響を受ける。
【0032】そこで、バンドパスフィルタ162a及び
162bによって抽出した信号の絶対値を絶対値演算部
163a及び163bによってとり、さらにこの絶対値
を積分演算部164a及び164bによって積分する。
ここで、積分時間は、信号1と信号2の位相差による影
響をなくすために、測定信号の周期の整数倍とする。こ
のように、測定信号の絶対値をとり、さらに積分するこ
とによって、測定信号の振幅に比例して増加する信号を
得ることができる。
【0033】そして、積分演算部164aの出力する積
分値を除算部165のT1に入力し、積分演算部164
bの出力する積分値を除算部165のT2に入力し、T
1/T2をとることによって信号1と信号2のゲインゼ
ロクロス周波数2kHzでの振幅比Kaを得ることがで
きる。なお、振幅比Kaはゲインゼロクロス周波数の一
巡ゲインの逆数となっている。
【0034】次に、最適ゲインを求める動作について具
体例を用いて説明する。図4は、絶対値演算部163a
及び163bと積分演算部164a及び164bの動作
を説明するための説明図である。同図(a)は信号1の
バンドパスフィルタ162aの出力を示し、出力信号の
振幅が1.5である場合を示している。同図(b)は信
号2のバンドパスフィルタ162bの出力を示し、出力
信号の振幅が1である場合を示している。
【0035】同図(c)は、信号1の絶対値演算部16
3aの出力を示し、同図(d)は、信号2の絶対値演算
部163bの出力を示している。また、同図(e)は、
信号1の積分演算部164aの出力を示し、同図(f)
は、信号2の積分演算部164bの出力を示している。
同図(e)の積分演算部164aの出力と、同図(f)
の積分演算部164bの出力を比較すると、積分速度が
バンドパスフィルタ162aの出力信号の振幅とバンド
パスフィルタ162bの出力信号の振幅に比例して増加
していることがわかる。
【0036】すなわち、バンドパスフィルタ162aの
出力信号の振幅はバンドパスフィルタ162bの出力信
号の振幅の1.5倍であるので、積分演算部164aの
積分速度は積分演算部164bの積分速度の1.5倍と
なっている。したがって、積分演算部164aの出力と
積分演算部164bの出力の比をとることによって、信
号1と信号2のゲインゼロクロス周波数2kHzでの振
幅比Kaを得ることができる。
【0037】また、ノイズ量が多い場合には、積分時間
を長くすることによってS/N比を改善することができ
る。このように、絶対値演算、積分演算などの単純な演
算によって、ノイズの影響を最小限として、もって適正
ゲインを精度良く求めることができる。
【0038】次に、ゲイン自動調整部160の適正ゲイ
ンを求める動作のシミュレーション結果について説明す
る。図5は、図1に示したゲイン自動調整部160の適
正ゲインを求める動作のシミュレーション結果の一例を
示す図である。この例では、まず原理確認のため、TE
Sにノイズが無い場合の挙動をシミュレーションしてい
る。
【0039】このシミュレーションでは、光ディスク装
置のばらつきを模擬するために、サーボループゲインを
故意に適正値の1/1.2としている。また、補正ゲイ
ンK120のデフォルト値は1としている。測定は、時
刻0.01秒〜0.06秒の間の0.05秒間の間、2
kHzの周波数の正弦波を加えておこなっている。ま
た、バンドパスフィルタ162a及び162b、絶対値
演算部163a及び163b、積分演算部164a及び
164bは、正弦波発生部161が正弦波を与えている
時間のみ演算処理をおこなう。
【0040】図5(a)は信号1を示し、図5(b)は
信号2を示している。また、図5(c)は信号1のバン
ドパスフィルタ162aの出力を示し、図5(d)は信
号2のバンドパスフィルタ162bの出力を示してい
る。
【0041】図5(e)は積分演算結果を示し、Ch.
1が積分演算部164aの出力を示し、Ch.2が積分
演算部164bの出力を示す。また、図5(f)は除算
部165の出力、すなわち振幅比Kaを示す。図5
(f)に示すように、振幅比Kaは1.2に収束してい
る。
【0042】このシミュレーションでは、サーボループ
のループゲインを故意に1/1.2としているので、ゼ
ロクロス周波数2kHzの正弦波を加えた時に、振幅比
Kaが1.2に収束しているのは正しい結果であるとい
える。
【0043】なお、このシミュレーションでは、シミュ
レーションによる効果の開示のために、積分中の値も使
用して時々刻々の振幅比の変化を計算し、収束の様子を
示しているが、実際の適用では、測定後(この例では
0.05秒の測定の後)の積分値の比率のみを1回計算
して振幅比Kaとすればよい。
【0044】この振幅比Kaから、補正ゲインK120
を K=K×Ka とすることにより、適正なゲイン設定をおこなうことが
できる。Kがデフォルト値1である場合には、補正ゲイ
ンK120はKaの値そのものとなる。
【0045】次に、ゲイン自動調整部160の適正ゲイ
ンを求める動作の別のシミュレーション結果について説
明する。図6は、図1に示したゲイン自動調整部160
の適正ゲインを求める動作の別のシミュレーション結果
の一例を示す図である。この例では、TESにホワイト
ノイズが載っている場合の挙動をシミュレーションして
いる。その他のシミュレーション条件は、図5に示した
シミュレーションと同一である。
【0046】図6(a)は信号1を示し、図6(b)は
信号2を示す。また、図6(c)は信号1のバンドパス
フィルタ162aの出力を示し、図6(d)は信号2の
バンドパスフィルタ162bの出力を示す。これらの図
に示すように、測定用信号と同程度のホワイトノイズが
測定信号に載っている。
【0047】図6(e)は積分演算結果を示し、Ch.
1が積分演算部164aの出力を示し、Ch.2が積分
演算部164bの出力を示す。また、図6(f)は除算
部165の出力、すなわち振幅比Kaを示す。図6
(f)に示すように、測定用信号と同程度のホワイトノ
イズが測定用信号に載っている場合でも、振幅比Kaは
1.2に収束している。
【0048】また、ノイズが多く問題となる場合には、
測定用の正弦波の振幅をより大きくするか、あるいは積
分時間を長くするか、あるいはその両方をおこなうこと
により、十分な精度の振幅比Kaを得ることができる。
【0049】これまでの説明では、サーボループの一巡
伝達特性のゼロクロス周波数の正弦波を与える場合を示
した。しかし、振幅比Kaの測定は、他の周波数でおこ
なうことも可能である。
【0050】たとえば、0.8kHzの周波数で測定を
おこなう場合、図2から、一巡伝達特性のゲインは0.
8kHzにおいて10dB,すなわち3.16倍であ
る。したがって、0.8kHzで測定をおこなった場合
には、振幅比Kaのノミナル値は1.0/3.16=
0.316である。すなわち、0.8kHzで測定をお
こなった場合、Ka=0.316となったときに正しい
ループゲインとなっている。したがって、補正ゲインK
120は K=K×Ka/0.316 で求めることができる。
【0051】一般に、測定用周波数をfとし、その周波
数fにおける一巡伝達特性のゲインのノミナル値をg
(f)[dB]とすると、補正ゲインK120は K=K×Ka×10g(f)/20 で求めることができる。
【0052】さらに、本実施の形態では、積分器を用い
て絶対値信号から測定信号の振幅に比例して増加する信
号を生成することとしたが、積分器のかわりにローパス
フィルタを用いることもできる。これは、カットオフ周
波数をfとするローパスフィルタの伝達関数はGf(S)=
1/(S+2πf)であり、積分器はカットオフ周波数
が0Hzである特殊なローパスフィルタであるとみなせ
るためである。そこで、積分器のかわりにローパスフィ
ルタを用いたシミュレーション結果について説明する。
【0053】図7は、図1に示したゲイン自動調整部1
60の適正ゲインを求めるシミュレーション結果の一例
を示す図である。ただし、この例では、積分演算部16
4a及び164bをセットオフ周波数が5Hzのロ−パ
スフィルタに置き換えている。図7(a)はローパスフ
ィルタの出力信号を示し、図7(b)は振幅比Kaを示
す。図7(b)に示すように、積分演算部164a及び
164bのかわりにカットオフ周波数が5Hzのローパ
スフィルタを用いた場合でも、振幅比Kaは1.2に収
束している。
【0054】ただし、カットオフ周波数を上げるとノイ
ズに弱くなることから、カットオフ周波数は適正な値と
する必要がある。また、本実施の形態では、1次のロー
パスフィルタあるいは積分器を用いたが、2次以上のロ
ーパスフィルタあるいは積分器を用いることもできる。
【0055】上述してきたように、本実施の形態では、
トラッキングサーボループを閉じた状態でトラッキング
サーボループの所定のポイントに2kHzの正弦波を測
定用信号として加え、この正弦波の加算点での加算直後
の信号である信号1とトラッキングサーボループを一巡
して戻ってきた加算点での加算直前の信号である信号2
との振幅比Ka求めるために、信号1および信号2を各
々2kHzのバンドパスフィルタ162a及び162b
で処理して測定用周波数成分を取り出すだけでなく、さ
らに絶対値演算部163a及び163b、積分演算部1
64a及び164bで処理し、2つの積分演算出力の比
で振幅比Kaを求め、補正ゲインK120を設定する構
成としたので、ノイズによるゲイン測定への影響を最小
限にし、もってサーボ系の適正なゲインを精度よく設定
することができる。
【0056】なお、本実施の形態では、本発明を光ディ
スク装置のトラッキングサーボ系に適用した場合を示し
たが、本発明はこれに限定されるものではなく、光ディ
スク装置のフォーカスサーボ系など他のサーボ系に適用
することもできる。
【0057】(付記1)サーボループの所定の加算点に
所定の周波数のゲイン測定用信号を加算し、該加算点で
の加算前後の信号の振幅比から前記サーボループの適正
ゲインを求めるゲイン自動調整装置であって、前記加算
点での加算前後の信号それぞれを入力信号とし、各入力
信号の振幅に比例して増加する振幅比例増加信号をそれ
ぞれ生成する振幅比例増加信号生成手段と、前記振幅比
例増加信号生成手段によりそれぞれ生成された各振幅比
例増加信号の比から前記サーボループの適正ゲインを算
定するゲイン算定手段と、を備えたことを特徴とするゲ
イン自動調整装置。 (付記2)前記振幅比例増加信号生成手段は、前記入力
信号から前記所定の周波数の信号を抽出する周波数信号
抽出手段と、前記周波数信号抽出手段により抽出された
所定の周波数の信号から絶対値信号を生成する絶対値演
算手段と、前記絶対値演算手段により生成された絶対値
信号から積分値信号を生成する積分演算手段と、を備え
たことを特徴とする付記1に記載のゲイン自動調整装
置。 (付記3)サーボループの所定の加算点に所定の周波数
のゲイン測定用信号を加算し、該加算点での加算前後の
信号の振幅比から前記サーボループの適正ゲインを求め
るゲイン自動調整装置であって、前記加算点での加算前
後の信号それぞれを入力信号とし、各入力信号の振幅に
比例する振幅比例信号をそれぞれ生成する振幅比例信号
生成手段と、前記振幅比例信号生成手段によりそれぞれ
生成された各振幅比例信号の比から前記サーボループの
適正ゲインを算定するゲイン算定手段と、を備えたこと
を特徴とするゲイン自動調整装置。 (付記4)前記振幅比例信号生成手段は、前記入力信号
から前記所定の周波数の信号を抽出する周波数信号抽出
手段と、前記周波数信号抽出手段により抽出された所定
の周波数の信号から絶対値信号を生成する絶対値演算手
段と、前記絶対値演算手段により生成された絶対値信号
から低周波数成分を抽出する低周波数成分抽出手段と、
を備えたことを特徴とする付記3に記載のゲイン自動調
整装置。 (付記5)サーボループの所定の加算点に所定の周波数
のゲイン測定用信号を加算し、該加算点での加算前後の
信号の振幅比から前記サーボループの適正ゲインを求め
るゲイン自動調整方法であって、前記加算点での加算前
後の信号それぞれを入力信号とし、各入力信号の振幅に
比例して増加する振幅比例増加信号をそれぞれ生成する
振幅比例増加信号生成工程と、前記振幅比例増加信号生
成工程によりそれぞれ生成された各振幅比例増加信号の
比から前記サーボループの適正ゲインを算定するゲイン
算定工程と、を含んだことを特徴とするゲイン自動調整
方法。 (付記6)前記振幅比例増加信号生成工程は、前記入力
信号から前記所定の周波数の信号を抽出する周波数信号
抽出工程と、前記周波数信号抽出工程により抽出された
所定の周波数の信号から絶対値信号を生成する絶対値演
算工程と、前記絶対値演算工程により生成された絶対値
信号から積分値信号を生成する積分演算工程と、を含ん
だことを特徴とする付記5に記載のゲイン自動調整方
法。 (付記7)サーボループの所定の加算点に所定の周波数
のゲイン測定用信号を加算し、該加算点での加算前後の
信号の振幅比から前記サーボループの適正ゲインを求め
るゲイン自動調整方法であって、前記加算点での加算前
後の信号それぞれを入力信号とし、各入力信号の振幅に
比例する振幅比例信号をそれぞれ生成する振幅比例信号
生成工程と、前記振幅比例信号生成工程によりそれぞれ
生成された各振幅比例信号の比から前記サーボループの
適正ゲインを算定するゲイン算定工程と、を含んだこと
を特徴とするゲイン自動調整方法。 (付記8)前記振幅比例信号生成工程は、前記入力信号
から所定の周波数の信号を抽出する周波数信号抽出工程
と、前記周波数信号抽出工程により抽出された前記所定
の周波数の信号から絶対値信号を生成する絶対値演算工
程と、前記絶対値演算工程により生成された絶対値信号
から低周波数成分を抽出する低周波数成分抽出工程と、
を含んだことを特徴とする付記7に記載のゲイン自動調
整方法。
【0058】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
サーボループの所定の加算点に所定の周波数の測定用信
号を加え、この加算点での加算直後の信号と、サーボル
ープを一巡して戻ってきた加算点での加算直前の信号の
振幅比を求めるために、各信号の振幅に比例して増加す
る信号をそれぞれ生成し、生成された各信号の比から振
幅比を求めることとしたので、ノイズによるゲイン測定
への影響を最小限にし、もってサーボ系の適正なゲイン
を精度よく設定することができるという効果を奏する。
【0059】また、本発明によれば、サーボループの所
定の加算点に所定の周波数の測定用信号を加え、この加
算点での加算直後の信号と、サーボループを一巡して戻
ってきた加算点での加算直前の信号の振幅比を求めるた
めに、各信号の振幅に比例する信号をそれぞれ生成し、
生成された各信号の比から振幅比を求めることとしたの
で、ノイズによるゲイン測定への影響を最小限にし、も
ってサーボ系の適正なゲインを精度よく設定することが
できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態に係るトラッキングサーボ系の構
成を示すブロック図である。
【図2】トラッキングサーボ系の一巡伝達特性の例を示
す図である。
【図3】図1に示したバンドパスフィルタの特性の一例
を示す図である。
【図4】絶対値演算部と積分演算部の動作を説明するた
めの説明図である。
【図5】図1に示したゲイン自動調整部の適正ゲインを
求める動作のシミュレーション結果の一例を示す図(ノ
イズなし)である。
【図6】図1に示したゲイン自動調整部の適正ゲインを
求める動作のシミュレーション結果の一例を示す図(ノ
イズあり)である。
【図7】図1に示したゲイン自動調整部の適正ゲインを
求める動作のシミュレーション結果の一例を示す図(ロ
ーパスフィルタ)である。
【符号の説明】
110 トラッキングエラー検出部 120 補正ゲインK 130 サーボコントローラ 140 ドライバ 150 アクチュエータ 160 ゲイン自動調整部 161 正弦波発生部 162a,162b バンドパスフィルタ 163a,163b 絶対値演算部 164a,164b 積分演算部 165 除算部 166 補正ゲイン設定部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 サーボループの所定の加算点に所定の周
    波数のゲイン測定用信号を加算し、該加算点での加算前
    後の信号の振幅比から前記サーボループの適正ゲインを
    求めるゲイン自動調整装置であって、 前記加算点での加算前後の信号それぞれを入力信号と
    し、各入力信号の振幅に比例して増加する振幅比例増加
    信号をそれぞれ生成する振幅比例増加信号生成手段と、 前記振幅比例増加信号生成手段によりそれぞれ生成され
    た各振幅比例増加信号の比から前記サーボループの適正
    ゲインを算定するゲイン算定手段と、 を備えたことを特徴とするゲイン自動調整装置。
  2. 【請求項2】 前記振幅比例増加信号生成手段は、前記
    入力信号から前記所定の周波数の信号を抽出する周波数
    信号抽出手段と、前記周波数信号抽出手段により抽出さ
    れた所定の周波数の信号から絶対値信号を生成する絶対
    値演算手段と、前記絶対値演算手段により生成された絶
    対値信号から積分値信号を生成する積分演算手段と、を
    備えたことを特徴とする請求項1に記載のゲイン自動調
    整装置。
  3. 【請求項3】 サーボループの所定の加算点に所定の周
    波数のゲイン測定用信号を加算し、該加算点での加算前
    後の信号の振幅比から前記サーボループの適正ゲインを
    求めるゲイン自動調整装置であって、 前記加算点での加算前後の信号それぞれを入力信号と
    し、各入力信号の振幅に比例する振幅比例信号をそれぞ
    れ生成する振幅比例信号生成手段と、 前記振幅比例信号生成手段によりそれぞれ生成された各
    振幅比例信号の比から前記サーボループの適正ゲインを
    算定するゲイン算定手段と、 を備えたことを特徴とするゲイン自動調整装置。
  4. 【請求項4】 前記振幅比例信号生成手段は、前記入力
    信号から前記所定の周波数の信号を抽出する周波数信号
    抽出手段と、前記周波数信号抽出手段により抽出された
    所定の周波数の信号から絶対値信号を生成する絶対値演
    算手段と、前記絶対値演算手段により生成された絶対値
    信号から低周波数成分を抽出する低周波数成分抽出手段
    と、を備えたことを特徴とする請求項3に記載のゲイン
    自動調整装置。
  5. 【請求項5】 サーボループの所定の加算点に所定の周
    波数のゲイン測定用信号を加算し、該加算点での加算前
    後の信号の振幅比から前記サーボループの適正ゲインを
    求めるゲイン自動調整方法であって、 前記加算点での加算前後の信号それぞれを入力信号と
    し、各入力信号の振幅に比例して増加する振幅比例増加
    信号をそれぞれ生成する振幅比例増加信号生成工程と、 前記振幅比例増加信号生成工程によりそれぞれ生成され
    た各振幅比例増加信号の比から前記サーボループの適正
    ゲインを算定するゲイン算定工程と、 を含んだことを特徴とするゲイン自動調整方法。
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US8310779B2 (en) 2005-04-27 2012-11-13 Seagate Technology Llc Head assembly having a sensing element

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