JP2003295942A - 電子制御装置及び電子制御装置の検査システム - Google Patents

電子制御装置及び電子制御装置の検査システム

Info

Publication number
JP2003295942A
JP2003295942A JP2002097436A JP2002097436A JP2003295942A JP 2003295942 A JP2003295942 A JP 2003295942A JP 2002097436 A JP2002097436 A JP 2002097436A JP 2002097436 A JP2002097436 A JP 2002097436A JP 2003295942 A JP2003295942 A JP 2003295942A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
output
electronic control
output signal
cycle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002097436A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Kawabata
明 川端
Nobuyuki Kobayashi
伸行 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Unisia Automotive Ltd
Original Assignee
Hitachi Unisia Automotive Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Unisia Automotive Ltd filed Critical Hitachi Unisia Automotive Ltd
Priority to JP2002097436A priority Critical patent/JP2003295942A/ja
Publication of JP2003295942A publication Critical patent/JP2003295942A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Combined Controls Of Internal Combustion Engines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子制御装置の出力パターン間でのショート
を、少ない検査項目で、かつ、短時間に検査できるよう
にする。 【解決手段】 検査機側から検査用コマンドを電子制御
装置に送信すると、電子制御装置が、予め記憶された検
査用プログラムに従って、相互に位相がずれた一定周期
の出力信号を各ポートから出力する。電子制御装置から
の出力信号を入力する検査機では、出力信号毎に周期を
計測して、周期の変動が発しているか否かを判断し、周
期変動をショートの発生によるものとして出力ラインの
正常・異常を検査する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばエンジン制
御などに用いられる電子制御装置及び電子制御装置の検
査システムに関し、特に、電子制御装置の出力ラインを
検査する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子制御装置の出力ラインを検査
する検査システムとしては、特開平10−283016
号公報に開示されるものがあった。このものは、出力信
号のON・OFFを順番に切り替える一方、全ての出力
端子の電圧を同時に測定して、本来、1つの出力信号の
みが切り換わるべきであるのに、2つ以上の端子で電圧
が同時に切り換わっていた場合に、出力ライン間のショ
ートの発生を検出するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の検
査システムでは、全ての出力端子の電圧を同時に測定す
る必要があるため、検査項目が多く、かつ、検査時間が
長くなってしまうという問題があった。本発明は上記問
題点に鑑みなされたものであり、少ない検査項目でかつ
短い検査時間で、電子制御装置の出力ラインの正常・異
常を検査できるようにすることを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】そのため請求項1記載の
発明に係る電子制御装置は、特定の検査用コマンドの受
信時に、複数の出力ポートそれぞれから相互に位相がず
れた一定周期の出力信号を出力させる制御プログラムを
備えて構成される。上記構成によると、電子制御装置が
特定の検査用コマンドを受信すると、複数の出力ポート
それぞれから相互に位相がずれた一定周期の出力信号を
出力し、該検査用コマンドをトリガとして出力される出
力信号に基づく検査を可能にする。
【0005】ここで、前記検査用コマンドをトリガとし
て出力される出力信号は、相互に位相がずれた一定周期
の信号であるから、例えば出力ライン間でのショートが
発生すると、出力信号の周期に影響を与えることにな
り、周期計測によりショートを検出することが可能であ
る。請求項2記載では、前記位相のずれが前記出力信号
のパルス幅を超える構成とした。
【0006】上記構成によると、位相のずれが出力信号
のパルス幅を超えることから、出力ライン間でのショー
トが発生すると、本来の出力信号の間にショートにより
発生する信号が割り込み、一定であるべき周期が大きく
変動することになる。一方、請求項3記載の発明に係る
電子制御装置の検査システムは、特定の検査用コマンド
の受信時に、複数の出力ポートそれぞれから相互に位相
がずれた一定周期の出力信号を出力させる制御プログラ
ムを備えてなる電子制御装置と、前記電子制御装置に対
して前記検査用コマンドを出力すると共に、前記出力信
号を入力して出力信号毎に周期を計測し、該出力信号の
周期に基づいて前記電子制御装置の出力ラインの正常・
異常を検査する検査機と、を含んで構成される。
【0007】上記構成によると、検査機が電子制御装置
に対して特定の検査用コマンドを出力すると、電子制御
装置は、制御プログラムに従って複数の出力ポートそれ
ぞれから相互に位相がずれた一定周期の出力信号を出力
する。そして、検査機は、電子制御装置から出力される
信号を入力して、出力信号毎に周期を計測し、該周期に
基づいて電子制御装置の出力ラインの正常・異常(ショ
ート)を検査する。
【0008】請求項4記載の発明では、前記位相のずれ
が出力信号のパルス幅を超える構成であり、検査機が、
出力信号の周期の変動に基づいて出力ラインの正常・異
常を検査する構成とした。上記構成によると、位相のず
れが出力信号のパルス幅を超えることから、出力ライン
間でのショートが発生すると、本来の出力信号の間にシ
ョートにより発生する信号が割り込み、一定であるべき
周期が大きく変動することになるから、検査機は、係る
出力信号の割り込み発生による周期変動が発生している
か否かによって、出力ライン間におけるショートの有無
を検査する。
【0009】
【発明の効果】請求項1記載の発明によると、電子制御
装置が検査用コマンドを受信することで、周期計測によ
って検査を行うことが可能な出力信号を発生することか
ら、少ない検査項目でかつ短い検査時間での検査を実現
できるという効果がある。請求項2記載の発明による
と、出力ライン間でショートが発生したときに、出力信
号の周期が大きく変動することになり、出力信号の周期
変動に基づいて容易にショートの検査を行わせることが
可能になるという効果がある。
【0010】請求項3記載の発明によると、検査機側か
ら電子制御装置に対して検査用コマンドを出力し、該検
査用コマンドに基づいて電子制御装置から出力される信
号の周期を検査機で計測することで、少ない検査項目で
かつ短い検査時間での検査を行えるという効果がある。
請求項4記載の発明によると、出力ライン間でショート
が発生したときに、出力信号の周期が大きく変動するこ
とになり、検査機が出力信号の周期変動に基づいて容易
にショートの検査を行えるという効果がある。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
基づいて説明する。図1は、実施形態における電子制御
装置の検査システムを示す図であり、検査対象の電子制
御装置10及び検査機20によって構成される。前記電
子制御装置10は、例えば車両用エンジンにおける燃料
噴射・点火などを制御するための装置である。
【0012】前記電子制御装置10は、マイクロコンピ
ュータ11及び出力回路12を備え、前記マイクロコン
ピュータ11では、予め記憶された検査用プログラム1
1b(制御プログラム)がCPU11aによって実行さ
れるようになっている。前記検査用プログラムは、特定
の検査用コマンドを受信すると起動され、複数の出力ポ
ート#1〜#7それぞれから出力信号を出力させる演算
処理を行う。
【0013】ここで、前記検査用コマンドに基づき出力
ポート#1〜#7から出力される信号は、図2に示すよ
うに、相互に位相がずれた一定周期の出力信号であり、
かつ、前記位相のずれが出力信号のパルス幅(ON時
間)を超えるように設定される。一方、検査機20は、
検査プログラム21と、該検査プログラム21に従って
制御され、電子制御装置10からの出力信号を解析する
解析部22とを備えている。
【0014】前記出力信号解析部22は、電子制御装置
10の各ポートから出力される信号の周期をそれぞれに
計測する機能を有している。そして、前記電子制御装置
10と検査機20とは、検査機20側から電子制御装置
10に向けてコマンドを出力し、また、電子制御装置1
0の各出力ポートからの信号を検査機20側に入力させ
るべく、相互に接続されている。
【0015】上記構成において、検査機20側では、図
3のフローチャートに示すように、まず、ハードチェッ
ク起動コマンド(検査用コマンド)を電子制御装置10
側に送信する(S11)。前記電子制御装置10側で
は、図4のフローチャートに示すように、前記ハードチ
ェック起動コマンド(検査用コマンド)を受信し(S2
1)、前記コマンドを受信すると、ハードチェックプロ
グラム(検査用プログラム)を起動させる(S22)。
【0016】前記ハードチェックプログラム(検査用プ
ログラム)が起動すると、前記図2に示したパターンで
各出力ポート#1〜#7から信号が出力され(S2
3)、該出力信号が出力回路12を介して検査機20側
に受信される。検査機20側では、前記出力信号の周期
をそれぞれに計測し、周期の計測結果に基づいて、電子
制御装置10の出力系パターン間でのショートの有無を
検査する(S12)。
【0017】前記ハードチェックプログラム(検査用プ
ログラム)に基づいて出力される信号は、図2に示した
ように、相互に位相がずれた一定周期の出力信号であっ
て、前記位相のずれ量に対し、周期が大幅に大きく設定
されている。従って、出力系パターン間でショートが発
生すると、ショートしている2つの出力系の信号が重な
ることで、図5に示すように、本来の出力信号の近傍で
ショートによる信号が割り込んで発生するようになり、
計測周期は正常値に比較的近い値と極端に短い値とを交
互に示すようになる。
【0018】そこで、検査機20では、前記計測周期が
閾値よりも短いか否か、或いは、計測周期の前回値と今
回値との偏差又は比に基づいて、周期変動の発生を判断
し、周期変動の発生をショートの発生として判断する。
そして、ショートが発生している出力ポートの情報など
を、図示省略した表示装置に表示し、また、ショート発
生箇所の情報を記憶する。
【0019】上記構成によると、周期計測のみでショー
トの検出が行えるため、検査項目が少なく、かつ、短い
時間で検査を完了させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態における電子制御装置の検査システ
ムを示す図。
【図2】検査時における電子制御装置の出力パターンを
示すタイムチャート。
【図3】検査機側の演算処理を示すフローチャート。
【図4】検査時における電子制御装置側の演算処理を示
すフローチャート。
【図5】ショート発生時の電子制御装置の出力パターン
を示すタイムチャート。
【符号の説明】
10…電子制御装置 11…マイクロコンピュータ 11a…CPU 11b…検査用プログラム 12…出力回路 20…検査機 21…検査プログラム 22…出力信号解析部
フロントページの続き Fターム(参考) 3G084 BA13 BA16 DA27 EA07 EB02 5H219 AA22 CC07 DD08 DD10 EE01 HH28 5H223 AA10 AA15 BB08 CC08 DD09 EE18

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】特定の検査用コマンドの受信時に、複数の
    出力ポートそれぞれから相互に位相がずれた一定周期の
    出力信号を出力させる制御プログラムを備えてなる電子
    制御装置。
  2. 【請求項2】前記位相のずれが前記出力信号のパルス幅
    を超えることを特徴とする請求項1記載の電子制御装
    置。
  3. 【請求項3】特定の検査用コマンドの受信時に、複数の
    出力ポートそれぞれから相互に位相がずれた一定周期の
    出力信号を出力させる制御プログラムを備えてなる電子
    制御装置と、 前記電子制御装置に対して前記検査用コマンドを出力す
    ると共に、前記出力信号を入力して出力信号毎に周期を
    計測し、該出力信号の周期に基づいて前記電子制御装置
    の出力ラインの正常・異常を検査する検査機と、 を含んで構成された電子制御装置の検査システム。
  4. 【請求項4】前記位相のずれが前記出力信号のパルス幅
    を超える構成であり、前記検査機が、前記出力信号の周
    期の変動に基づいて出力ラインの正常・異常を検査する
    ことを特徴とする請求項3記載の電子制御装置の検査シ
    ステム。
JP2002097436A 2002-03-29 2002-03-29 電子制御装置及び電子制御装置の検査システム Pending JP2003295942A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002097436A JP2003295942A (ja) 2002-03-29 2002-03-29 電子制御装置及び電子制御装置の検査システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002097436A JP2003295942A (ja) 2002-03-29 2002-03-29 電子制御装置及び電子制御装置の検査システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003295942A true JP2003295942A (ja) 2003-10-17

Family

ID=29387686

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002097436A Pending JP2003295942A (ja) 2002-03-29 2002-03-29 電子制御装置及び電子制御装置の検査システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003295942A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106774234A (zh) * 2015-11-20 2017-05-31 中车大连电力牵引研发中心有限公司 列车中央控制单元的测试平台

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106774234A (zh) * 2015-11-20 2017-05-31 中车大连电力牵引研发中心有限公司 列车中央控制单元的测试平台

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101930593B1 (ko) 테스트 기능을 갖는 디스플레이 장치 및 그 구동 회로 및 구동 방법
US8536876B2 (en) Method and device for inspecting strips of touch panel
KR20010098552A (ko) 반도체 테스트 시스템을 위한 글리치 검출
WO2008009298A1 (en) On-chip test circuit for an embedded comparator
JP2003295942A (ja) 電子制御装置及び電子制御装置の検査システム
JP2008215832A (ja) ハーネス故障位置検出装置
JP4103145B2 (ja) 入力モジュール
US7358715B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JP4810058B2 (ja) 多極端子のショート検出方法及びショート検出システム
JP2002041130A (ja) 自動検査装置
JP6142829B2 (ja) 電力通信装置
JP5511475B2 (ja) 信号処理システムおよびこれに用いる信号源ユニットならびに信号処理ユニット
JP2010204058A (ja) 回路部品の試験装置および方法
JP4701533B2 (ja) 製品検査装置
GB2621246A (en) Method for Testing an Input Channel for PWM Signals of an Electronic Circuit
KR100280453B1 (ko) 플래시메모리장치
JP5206060B2 (ja) 電子制御装置
JP2005210332A (ja) タイマカウンタ装置、および、タイマカウンタ装置の動作プログラム
JP5846804B2 (ja) 測定装置
JPH087752Y2 (ja) パルスデータの伝送表示器
JPH0739123U (ja) Ad変換装置
JP3240913B2 (ja) Ic試験装置
JPH0726682Y2 (ja) 自動車用電子システムの故障診断装置
JP2001201527A (ja) 試験装置
JPH10153628A (ja) 検査装置の自己診断方法および自己診断装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040817

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20041217

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070123

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070605