JP2003290911A - はんだ付け方法 - Google Patents

はんだ付け方法

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JP2003290911A
JP2003290911A JP2002102861A JP2002102861A JP2003290911A JP 2003290911 A JP2003290911 A JP 2003290911A JP 2002102861 A JP2002102861 A JP 2002102861A JP 2002102861 A JP2002102861 A JP 2002102861A JP 2003290911 A JP2003290911 A JP 2003290911A
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JP
Japan
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solder
heating means
lead
soldering
local heating
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JP2002102861A
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English (en)
Inventor
Keiji Sato
恵二 佐藤
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Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 BiやZnを含む低融点無鉛はんだのはんだ
こてのような局部加熱手段によるはんだ付けを可能にす
る。 【解決手段】 ディスペンサ3によりペースト状のBi
やZnを含む低融点無鉛はんだ2を供給しはんだこての
ような局部加熱手段1によりはんだ付けする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は無鉛はんだによるは
んだこてのような局部加熱手段によるはんだ付け方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、はんだ付けで基板全体を一括して
行う場合ははんだ浴槽から溶融したはんだを噴流として
基板に吹き付けるフローないしウェーブ法と呼ばれるは
んだ付け、ペースト状はんだを印刷しその上の部品を載
せてからリフロー炉と呼ばれる連続炉により加熱溶融す
るリフロー炉法、気化剤の気化潜熱により溶融を行うベ
ーパーフェーズリフロー法などが使用されている。
【0003】しかし部品の耐熱性や形状、寸法などによ
る工程上の事情や、一度はんだ付けした部品を一部だけ
修正する、部材の一部にだけ少量の部品をはんだ付けす
るなどの理由で局部加熱手段によるはんだ付け、たとえ
ばはんだこてのような局部加熱手段によるはんだ付けが
行われ、それにはヤニ入りはんだとよばれる中心部にフ
ラックスのはいった糸状のはんだが使用されている。
【0004】一方、近年、Pbの有毒性によりPbを含
まないはんだの使用が進んでいる。そのような無鉛はん
だとしてはSn−3.5Agを基礎とするSn−Ag−
Cu系のはんだやSn−0.75Cuを基礎とするSn
−Cu系のはんだが中心であり、これらの無鉛はんだは
いずれもヤニ入りの糸状はんだの加工は可能である。
【0005】しかしながら、これらの無鉛はんだは融点
が高いという欠点がある。そのため融点の低い無鉛はん
だとしてSn−AgあるいはSn−Ag−Cu系合金に
Biを添加した無鉛はんだやSn−58Bi共晶あるい
はSn−9Zn共晶を基礎とした無鉛はんだの開発が行
われている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記B
iやZnを含有する無鉛はんだは加工性が悪くて、中心
部にフラックスを封入した糸状のヤニ入りはんだの加工
が困難である。またSn−Bi系あるいはSn−Zn系
はんだは反応性が強く、酸化しやすいため更にはフラッ
クスの劣化が大きく、あるいは効力がでにくく糸状のヤ
ニ入りはんだでのはんだ付けは困難である。更に無鉛は
んだ特にSn−Zn系はんだやSn−Bi系はんだは濡
れ広がりが悪く、糸状のヤニ入りはんだでの接合部への
はんだ供給量の制御ないし、はんだ面積の制御は困難で
ある。
【0007】また、はんだ自体が硬く熱源との接触性に
限界があり、糸状のヤニ入りはんだでは熱供給が劣り、
溶融性に問題が生ずる。
【0008】本発明は上記低融点で無鉛の糸状ヤニ入り
はんだのはんだこてのような局部加熱手段によるはんだ
付けより生ずる課題を解決し低融点無鉛はんだのはんだ
こてのような局部加熱手段によるはんだ付けを可能にす
ることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決する手段
として、本発明ではSn−Bi、Sn−Ag−Bi、S
n−Ag−Cu−Bi、Sn−Ag−Bi−In、また
はSn−Ag−Cu−Bi−In、Sn−Zn、Sn−
Zn−BiなどのBiやZnを含む低融点の無鉛はんだ
のはんだこてのような局部加熱手段によるはんだ付けを
はんだ合金粒とペースト状フラックスの混合物からなる
ペースト状はんだ(はんだペースト、クリームはんだ、
ソルダーペーストなどとも呼ばれる)をシリンダに充填
しピストンによりノズルから接合部に吐出すディスペン
サによる供給により行う。
【0010】これによりBiやZnを含有する無鉛はん
だのように加工性が悪く糸状のヤニ入りはんだの加工が
困難である、あるいいは反応性が強く、酸化しやす、あ
るいは糸状のヤニ入りはんだフラックスの劣化が大き
い、あるいは効力がでにくい、または濡れ広がりが悪
く、糸状のヤニ入りはんだでは接合部へのはんだ供給量
の制御ないし、はんだ面積の制御は困難である、あるい
ははんだ自体が硬く熱源との接触性に限界があり、糸状
のヤニ入りはんだでは熱供給が劣り、溶融性に問題が生
ずるなどの課題をもつ低融点無鉛はんだのはんだこての
ような局部加熱手段によるはんだ付けが可能となる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下に本発明を図面に基づいて説
明する。
【0012】図1はディスペンサ3によりはんだ2を供
給し局部加熱手段1によりはんだ付けする方法の概念図
である。
【0013】部品4を基板電極5に固定しディスペンサ
3によりペースト状はんだ2を供給する。
【0014】図には表面実装部品を示しているが挿入部
品でもよい。本発明では部品の形状はとくに限定はな
い。
【0015】図2はディスペンサの断面図でありペース
ト状はんだ2を保持するシリンダ6とそれを押し込むピ
ストン7およびペースト状はんだを吐出するノズル8を
基本構成要素として持つ。
【0016】局部加熱手段としては手はんだ作業ではは
んだこてが一般的であるが、はんだこて類似の熱供給の
ための棒状熱源、あるいは熱風、光ビーム、レーザなど
のビームによる加熱手段も利用できる。
【0017】熱風以外の局部加熱手段でも予備ないしは
補助加熱のため熱風を併用することが好ましい。
【0018】熱風としては窒素を媒体とすることが好ま
しい。
【0019】窒素の使用は酸化しやすい上記低温無鉛は
んだの酸化を抑制し、フラックスの効果を有効的にし、
濡れ性を向上させることに効果がある。
【0020】はんだこてないしは棒状の加熱手段の熱源
としては金属あるいはセラミックの抵抗加熱体のほかに
高周波誘導加熱が有効である。
【0021】このさいこてのできるだけ先端に近い部分
に温度センサを設置し、温度を感知しながら熱供給を行
うことによりはんだ付け時の温度降下を小さくし温度回
復を早くすることが好ましい。
【0022】加熱とはんだ供給は機械により協調的、自
動的に行ういわゆるロボット化によるとより量産的であ
り、品質の安定、向上につながる。
【0023】光ビームとしてはハロゲンランプ光やキセ
ノンランプ光を光学系により収束させる方法がある。
【0024】レーザとしては二酸化炭素レーザ、YAG
レーザ、半導体レーザなどがあるがYAGレーザがもっ
ともよく、YAGレーザの高調波などの変換光もよい。
【0025】Sn−ZnないしはSn−Zn−Bi系は
んだはとくに反応性が高く、酸化しやすいいのではんだ
合金粒に酸化防止被膜を形成することが望ましい。
【0026】はんだ合金組成としてはたとえばSn−A
g−Bi系はんだはSn−3.5重量%Ag共晶(融点
221℃)を基礎とするものでAgは0.5〜8重量%
で低温化のためのBiは10重量%以下があげられる。
Sn−Ag−Cu−Bi系はんだはSn−Ag−Cu系
3元共晶を基礎とするもので低温化、濡れ性改善のため
Biを特に添加したもので例として1〜4重量%Ag、
0.5〜1.5重量%Cu、10重量%以下Biがあげ
られる。Sn−Ag−Cu−Bi−In系あるいはSn
−Ag−Bi−In系はんだは低融点化のため更にIn
を10重量%以下添加したものである。
【0027】Sn−Zn系はんだはSn−9重量%Zn
共晶(融点198℃)を基礎としたもので、例としてZ
nは5〜10重量%である。更に低融点化などのために
Bi9重量%以下することがある。
【0028】Sn−Bi系はんだはSn−58重量%B
i共晶(融点139℃)を基礎としたもので、例として
Biは25〜72重量%があげられる。
【0029】強度や信頼性改善のため特に3.0重量%
以下のAgを添加することもある。
【0030】なお上記合金には強度や信頼性等の特性改
善のためFe、Ni、Co、Au、Ag、Cu、Mn、
Ti、Cr、Zn、Al、B、As、Se、Te、G
a、Ge、Pなどを微量添加する場合もある。
【0031】なお無鉛はんだとは不可避不純物として
0.1重量%以下、少なくとも0.2重量%以下しかP
bを含まないものをいう。
【0032】また合金コストからいうとAgを含むもの
はコストが高く、Sn−Zn系はこれらのなかでも低コ
ストで資源量も多く、しかも人体への悪影響も少なく有
利である。
【0033】上記のようなBiあるいはZnを多量に含
み加工性が悪く硬いはんだ合金でも本発明のようにペー
スト状はんだでディスペンサ供給することによりはんだ
こてなどの棒状あるいは熱風、光ビームなどのビーム状
加熱手段のよるはんだ付けが可能となる。
【0034】この場合Sn−Bi系あるいはSn−Zn
系はんだの様に反応性が強く、酸化しやすものでも合金
自体が大気に曝されることがなくまた酸化防止膜形成な
どの対策がとりやすい。更に濡れ広がりが悪くても、接
合部へのはんだ供給量ないしははんだ塗布領域の制御で
補うことが可能となる。はんだペーストは流動性があり
熱源と接触性がよい、あるいは熱風、光ビームなどのビ
ーム状加熱手段では接触性の問題が生じないなど熱供給
の低下が防げ、溶融性の低下を抑制できる。
【0035】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、BiやZnを含有する低温無鉛はんだのように加工
性が悪く糸状のヤニ入りはんだの加工が困難である、あ
るいは反応性が強く、酸化しやすい、あるいは糸状のヤ
ニ入りはんだフラックスの劣化が大きい、あるいは効力
がでにくい、または濡れ広がりが悪く、糸状のヤニ入り
はんだでは接合部へのはんだ供給量の制御ないし、はん
だ面積の制御は困難である、あるいははんだ自体が硬く
熱源との接触性に限界があり、糸状のヤニ入りはんだで
は熱供給が劣り、溶融性に問題が生ずるなどの課題をも
つ低融点無鉛はんだのはんだこてのような局部加熱手段
によるはんだ付けが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】はんだ付け方法の概念図である。
【図2】ディスペンサの断面図である。
【符号の説明】
1 ・・・局部加熱手段 2 ・・・はんだ 3 ・・・ディスペンサ 4 ・・・部品 5 ・・・基板電極 6 ・・・シリンダ 7 ・・・ピストン 8 ・・・ノズル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C22C 13/00 C22C 13/00 13/02 13/02 B23K 101:42 B23K 101:42

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ペースト状の無鉛はんだをシリンダに充
    填しノズルから接合部に吐出し、棒状ないしはビーム状
    の局部加熱手段により溶融して物体の接合を行うはんだ
    付け方法において前記無鉛はんだがBiを含むことを特
    徴とするはんだ付け方法。
  2. 【請求項2】 ペースト状の無鉛はんだをシリンダに充
    填しノズルから接合部に吐出し、棒状ないしはビーム状
    の局部加熱手段により溶融して物体の接合を行うはんだ
    付け方法において前記無鉛はんだがZnを含むことを特
    徴とするはんだ付け方法。
  3. 【請求項3】 ペースト状の無鉛はんだに含まれるはん
    だ合金粒が酸化防止被膜を有することを特徴とする請求
    項2記載のはんだ付け方法。
  4. 【請求項4】 前記局部加熱手段がはんだこてであるこ
    とを特徴とする請求項1ないし2記載のはんだ付け方
    法。
  5. 【請求項5】 前記局部加熱手段が熱風であることを特
    徴とする請求項1ないし2記載のはんだ付け方法。
  6. 【請求項6】 前記局部加熱手段が光ビームであること
    を特徴とする請求項1ないし2記載のはんだ付け方法。
  7. 【請求項7】 前記局部加熱手段がレーザーであること
    を特徴とする請求項1ないし2記載のはんだ付け方法。
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