JP2003288496A - 描画支援システム、描画支援方法、マスク製造支援システム、及びマスク製造支援方法 - Google Patents

描画支援システム、描画支援方法、マスク製造支援システム、及びマスク製造支援方法

Info

Publication number
JP2003288496A
JP2003288496A JP2002090029A JP2002090029A JP2003288496A JP 2003288496 A JP2003288496 A JP 2003288496A JP 2002090029 A JP2002090029 A JP 2002090029A JP 2002090029 A JP2002090029 A JP 2002090029A JP 2003288496 A JP2003288496 A JP 2003288496A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
data
customer terminal
manufacturing
mask manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002090029A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyomi Koyama
清美 小山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2002090029A priority Critical patent/JP2003288496A/ja
Priority to TW092106366A priority patent/TWI221570B/zh
Priority to DE60307154T priority patent/DE60307154T2/de
Priority to EP03006732A priority patent/EP1349091B1/en
Priority to US10/397,543 priority patent/US7047094B2/en
Priority to CN03121241A priority patent/CN1447384A/zh
Publication of JP2003288496A publication Critical patent/JP2003288496A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2111/00Details relating to CAD techniques
    • G06F2111/04Constraint-based CAD

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • General Factory Administration (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マスクの製造スケジュール及びマスク製造装
置の選択等を顧客が制御することができる描画支援シス
テム、描画支援方法、マスク製造支援システム、及びマ
スク製造支援方法を提供すること。 【解決手段】 顧客端末3からマスクの描画依頼、製造
に必要なデータ及び予約条件を受信する描画受注手段1
0、通信ネットワーク6に接続され予約条件に合致する
マスク描画装置5を検索し顧客端末3へ送信する描画装
置検索手段13、顧客端末3から指定された描画装置5
に描画依頼を送信する描画装置予約手段14、指定され
た描画装置5から描画状況を受信し顧客端末3へ送信す
る描画モニタ手段16とからなる描画支援システム。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体製造工程でS
i基板上に回路パターンを形成する際に使われるLSI
マスクの製造に関連し、インターネットを介してマスク
の描画装置又はマスク製造装置の使用を可能にする描画
支援システム、描画支援方法、マスク製造支援システ
ム、及びマスク製造支援方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に半導体の製造工程では、レチクル
等のマスクを、半導体製造工程に応じて必要な枚数製造
する必要がある。このため、LSIの設計に基づきCA
Dを用いて複数のマスクのそれぞれに対応したマスクデ
ータが作成される。次に、電子ビーム露光装置等のパタ
ーンジェネレータ(描画装置)によりマスク(レチク
ル)が必要な枚数分、互いに重ね合わせ可能なように作
成され、一組のマスクセットが完成する。更に、それぞ
れのマスクの検査が行われる。検査に合格したマスクは
半導体製造工程に用いられる。
【0003】従来より、半導体製造メーカーやSiファ
ウンドリなどの顧客は、マスクの仕様や希望枚数、納期
などを提示して上述したマスクをマスクハウスなどに発
注し、希望の期限までに納入してもらうのが一般的であ
った。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来のマスク調達方法では、マスク描画のスケジュールや
描画装置(パターンジェネレータ)の選択は全てマスク
ハウス側の判断に委ねられ、顧客がマスク描画のスケジ
ュールや描画装置の選択を行うことはできなかった。こ
のため、設計変更などで緊急にマスクを調達しなければ
ならない場合、対応することが困難であった。
【0005】また、従来のマスク調達方法の多くは、大
量のマスク製造を委託する大口の顧客が対象とされてお
り、少量のマスク製造を委託する小口の顧客や特殊なマ
スクを少量作成すれば済むようなプロジェクトにとって
はなかなか入り込むことができず、ビジネスチャンスを
失っていた。
【0006】更に、マスク製造に関して機密保持の点に
おいて問題があり、研究開発用のマスクを極秘に作成し
たいといった要求に応えることができなかった。
【0007】更に、マスクハウスでは、複数のサイトに
ある装置の効率的な稼働や製造装置の運用や受注業務に
かかる人件費が半導体製造の原価を引き上げる要因とな
っていた。
【0008】本発明は上述の如き従来の課題を解決する
ためになされたもので、その目的は、マスク製造のスケ
ジュールや装置の選択等を顧客が制御することができ
る、顧客にとって利便性の良いLSIマスクの製造シス
テム及び方法を提供することである。
【0009】本発明のその他の目的は、マスク製造用の
データや処理条件等の機密情報を第三者に開示すること
なく必要なマスクを作成することができる、匿名性及び
機密性の高いLSIマスクの製造システム及び方法を提
供することである。
【0010】本発明のその他の目的は、稼働率の低い特
殊用途に対応した描画装置や超先端技術に対応した描画
装置を自前で所有する必要がなく、マスクの製造コスト
を削減できるLSIマスクの製造システム及び方法を提
供することである。
【0011】本発明のその他の目的は、ネットワークを
経由した受注システムを導入することにより、マスク製
造サービスを提供する側における人件費を削減できるL
SIマスクの製造システム及び方法を提供することであ
る。
【0012】本発明のその他の目的は、小口ユーザから
大口ユーザまで幅広い顧客層に対してマスク製造サービ
スを提供することができるLSIマスクの製造システム
及び方法を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1の特徴は、顧客端末からマスクの描画
に必要な描画データと描画予約条件を受信する描画デー
タ受信手段と、描画データを格納する描画データ記憶装
置と、複数の描画装置の性能情報を格納する描画装置記
憶装置と、描画予約条件に基づき描画装置記憶装置から
描画予約条件に合致する描画装置を検索し、候補となる
描画装置のリストを作成し、顧客端末へ送信する描画装
置検索手段と、顧客端末において指定された描画装置の
指定情報を顧客端末から受信し、指定された描画装置に
マスクの描画依頼を送信する描画装置予約手段とからな
る描画支援システムとしたことである。
【0014】本発明の第1の特徴に係る描画支援システ
ムでは、マスクの描画スケジュールや描画装置の種類や
性能を顧客が選択し制御することができ、顧客にとって
利便性の良い描画支援システムを提供することができ
る。更に、機密情報に関わるマスク描画データや描画条
件等を第三者に開示することなく、必要なマスクを製造
し、製造後はデータを顧客自らが削除することができる
ため、匿名性及び機密性の高いLSIマスクの描画支援
システムを提供することができる。更に、ネットワーク
を経由した受注システムを導入することにより、マスク
の描画支援システムを提供する側における人件費を削除
することもできるほか、稼働率の低い特殊用途に対応し
た描画装置や超先端技術に対応した高額な描画装置を自
前で所有する必要がなく、マスクの製造コストを削減す
ることができる。更に、小口の顧客から大口の顧客まで
の幅広い顧客層に対してマスクの描画支援システムを提
供することができる。
【0015】本発明の第2の特徴は、顧客端末からマス
クの製造に必要なデータと予約条件を受信するデータ受
信手段と、データを格納するマスク製造用データ記憶装
置と、マスク製造関連装置群を構成する各装置の性能情
報を格納するマスク製造装置記憶装置と、予約条件に基
づきマスク製造装置記憶装置から予約条件に合致する装
置を検索し、候補となる装置のリストを作成し、顧客端
末へ送信するマスク製造装置検索手段と、顧客端末にお
いて指定された装置の指定情報を顧客端末から受信し、
指定された装置にマスクの製造工程の少なくとも一部の
工程を実施する依頼を送信するマスク製造装置予約手段
とからなるマスク製造支援システムとしたことである。
【0016】「マスク製造関連装置群」とは、設計デー
タに基づきマスクパターンを設計しマスクの描画データ
を生成するCADと、描画データに基づきマスクパター
ンをマスク基板上の遮光膜の上部に塗布されたレジスト
膜を露光し描画する描画装置と、露光されたレジスト膜
を現像する現像装置と、現像されたレジスト膜を用いて
遮光層を選択的にエッチングするエッチング装置と、レ
ジスト膜を除去するアッシング装置と、エッチングされ
たマスクパターンにおける欠陥の有無を検出するマスク
検査装置と、マスク検査装置において検出されたマスク
パターンにおける欠陥を修正するマスク修正装置等であ
る。
【0017】「マスクの製造に必要なデータ」とは、顧
客端末から送信された予約条件に基づき判断される受注
範囲の開始工程において用いられる装置で必要とされる
データのことである。たとえば、受注範囲の開始工程が
設計工程である場合、設計工程で用いられるCADで必
要とされるのは、マスクパターンを生成するための設計
データである。また、受注範囲の開始工程が描画工程で
ある場合、描画工程で用いられる描画装置で必要とされ
るのは、設計データから生成された描画データである。
【0018】本発明の第2の特徴に係るマスク製造支援
システムでは、マスク製造スケジュールやマスク製造装
置の選択を顧客が制御することができ、顧客にとって利
便性の良いマスク製造支援システムを提供することがで
きる。更に、機密情報に関わるマスク製造用データやマ
スク製造工程における処理条件等を第三者に開示するこ
となく、必要なマスクを製造することができ、マスク製
造後に自らが使用したデータを削除することができるた
め、匿名性及び機密性の高いマスク製造支援システムを
提供することができる。更に、ネットワークを経由した
受注システムを導入することにより、マスク製造支援シ
ステムを提供する側における人件費を削減できる。ま
た、稼働率の低い特殊用途に対応した装置や超先端技術
に対応した高額な装置を自前で所有する必要がなく、マ
スクの製造コストを削減することができる。更に、小口
の顧客から大口の顧客まで幅広い顧客層に対してマスク
製造支援システムを提供することができる。
【0019】本発明の第3の特徴は、(イ)顧客端末か
らマスクの描画に必要な描画データと描画予約条件を受
信するステップと、(ロ)描画データを描画データ記憶
装置に格納するステップと、(ハ)複数の描画装置の性
能情報を描画装置記憶装置に格納するステップと、
(ニ)予約条件に基づき、描画装置記憶装置から予約条
件に合致する描画装置を検索し、候補となる描画装置の
リストを作成し、顧客端末へ送信するステップと、
(ホ)顧客端末において指定された描画装置の指定情報
を顧客端末から受信し、指定された描画装置に描画依頼
を送信するステップとからなる描画支援方法としたこと
である。
【0020】本発明の第3の特徴に係る描画支援方法で
は、マスクの描画スケジュールや描画装置の種類や性能
を顧客が選択し制御することができ、顧客にとって利便
性の良い描画支援方法を提供することができる。更に、
機密情報に関わるマスクの描画データや描画条件等を第
三者に開示することなく、必要なマスクを製造し、製造
後は、データを顧客自らが削除することができるため、
匿名性及び機密性の高いLSIマスクの描画支援方法を
提供することができる。更に、ネットワークを経由した
受注方法を導入することにより、描画装置を提供する側
における人件費を削除することができるほか、稼働率の
低い特殊用途に対応した描画装置た超先端技術に対応し
た高額な描画装置を自前で所有必要がなく、マスクの製
造コストを大幅に削減することができる。更に、大口の
顧客のみならず小口の顧客をもビジネスの対象とするこ
とができる。
【0021】本発明の第4の特徴は、(イ)顧客端末か
らマスクの製造に必要なデータと予約条件を受信するス
テップと、(ロ)データをマスク製造用データ記憶装置
に格納するステップと、(ハ)複数のマスク製造関連装
置群を構成する各装置の性能情報をマスク製造装置記憶
装置に格納するステップと、(ニ)予約条件に基づきマ
スク製造装置記憶装置から予約条件に合致する装置を検
索し、候補となる装置のリストを作成し、顧客端末へ送
信するステップと、(ホ)顧客端末において指定された
装置の指定情報を顧客端末から受信し、指定された装置
にマスクの製造依頼を送信するステップとからなるマス
ク製造支援方法としたことである。
【0022】本発明の第4の特徴に係る描画支援方法で
は、LSIマスクの製造スケジュールやマスク製造装置
の種類や性能を顧客が選択し制御することができ、顧客
にとって利便性の良いマスク製造支援方法を提供するこ
とができる。更に、機密情報に関わるマスク製造用デー
タやマスク製造工程における処理条件等を第三者に開示
することなく、必要なマスクを製造することができ、マ
スク製造後に自らが使用したデータを削除することがで
きるため、匿名性及び機密性の高いマスク製造支援方法
を提供することができる。更に、ネットワークを経由し
た受注方法を導入することにより、マスク製造装置を提
供する側における人件費を削除することができる。ま
た、稼働率の低い特殊用途に対応した装置や超先端技術
に対応した高額な装置を自前で所有する必要がなく、マ
スクの製造コストを削減することができる。更に、大口
の顧客のみならず小口の顧客までをもビジネスの対象と
することができる。
【0023】
【発明の実施の形態】次に図面を参照して、本発明の実
施形態について説明する。以下の図面の記載において、
同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付してい
る。
【0024】(第1の実施形態)図1及び図2を用い
て、以下に、本発明の第1の実施形態に係るLSIマス
クの描画支援方法に用いるLSIマスクの描画支援シス
テムについて説明する。図1に示す本発明の第1の実施
形態に係るLSIマスクの描画支援システムは、ポータ
ルサイトサーバ1、顧客端末3a、3b、3c、描画装
置5a〜5aに接続されたホスト端末4a、描画装
置5b〜5bに接続されたホスト端末4b、描画装
置5c〜5cに接続されたホスト端末4c、描画装
置5d〜5dに接続されたホスト端末4d及びこれ
らを相互に接続するネットワーク6とにより構成されて
いる。本発明の第1の実施形態においては、ネットワー
ク6としてインターネットを挙げているが、LANやパ
ソコン通信などのその他のネットワークでも良い。ま
た、ホスト端末4a、4b、4c、4dは全て1国内に
おいてネットワーク6に接続されていても良く、また、
複数国内においてネットワーク6に接続されていても良
い。例えば、ホスト端末4a、ホスト端末4bは日本に
おいてネットワーク6に接続され、ホスト端末4cは米
国においてネットワーク6に接続され、ホスト端末4d
はドイツにおいてネットワーク6に接続されていても構
わない。
【0025】ポータルサイトサーバ1は、顧客端末3a
〜3cの要求に応じて、顧客の要求に見合う描画装置5
a〜dが接続されるホスト端末4a〜dに描画装置の使
用予約を自動的に行うものである。顧客端末3a〜3c
は、ポータルサイトサーバ1と通信可能な端末であり、
ポータルサイトサーバ1を介して、ネットワーク6に接
続されたホスト端末4a〜4dに更に接続された描画装
置を検索し、仕事を依頼する。描画装置5a〜5dはそ
れぞれ、ホスト端末4aから4dに接続されている。ホ
スト端末4a〜4は、ネットワーク6を介して、ポータ
ルサイトサーバ1から、顧客の注文(マスク描画)に応
じる。尚、出来上がったマスクは、実際に陸路又は空路
等を用いて顧客の元へ配送される。
【0026】ポータルサイトサーバ1、顧客端末3a〜
c、ホスト端末4a〜dには、それぞれ、CPU、入力
装置、出力装置、主記憶装置、補助記憶装置(ハードデ
ィスク)等が備えられている。そして、各CPUには、
ネットワーク6から受信したメッセージを解析し、要求
されている処理を実行させるためのオンライン制御手段
が備えられている。また、ネットワーク6から受信した
メッセージをこのオンライン制御手段に伝達するための
通信制御装置もCPUには備えられている。更に、ポー
タルサイトサーバ1のCPU2には、データベース管理
手段も備えられている。そして、顧客識別番号記憶装置
30、描画データ記憶装置31、描画装置記憶装置3
2、画面用記憶装置33との入出力が必要な場合は、こ
のデータベース管理手段を介し、必要なファイルの格納
場所を探し、ファイルの読み出し・書き込み処理がなさ
れる。
【0027】図1に示すように、ポータルサイトサーバ
1は、入力装置35、出力装置36、入出力制御装置3
8、主記憶装置37、通信制御装置39、顧客識別番号
記憶装置30、描画データ記憶装置31、描画装置記憶
装置32、画面用記憶装置33、CPU2により構成さ
れている。尚、顧客識別番号記憶装置30、描画データ
記憶装置31、描画装置記憶装置32、画面用記憶装置
33は、ポータルサイトサーバ1の内部に収納されてい
ても良く、外部記憶装置として接続されていても良い。
また、データベースサーバ等を介して接続されても良
い。
【0028】顧客識別番号記憶装置30は、各顧客(ユ
ーザ)毎に付与された識別番号を格納する。そして、顧
客識別番号記憶装置30に格納されている顧客識別番号
からは、顧客が送信したデータが格納された場所等の情
報を抽出することができる。描画データ記憶装置31
は、顧客が顧客端末3から送信したLSIマスクの描画
データを一時的に格納してくための記憶装置である。描
画装置記憶装置32は、各ホスト端末4に接続された各
描画装置5の情報が格納されており、顧客からの要望に
見合う描画装置を検索できるように設計されている。画
面用記憶装置33は、ポータルサイトサーバ1で提供す
る各種サービス用の画面を格納しておくための記憶装置
である。
【0029】更に、ポータルサイトサーバ1のCPU2
は、画面送信手段9、描画受注手段10、描画データ受
信手段11、描画時間予測手段12、描画装置検索手段
13、描画装置予約手段14、描画条件設定手段15、
描画モニタ手段16、描画データ削除手段17、描画装
置課金手段18を備える。
【0030】画面送信手段9は、顧客端末3からの要望
に応じて、画面用記憶装置33に格納されている各サー
ビス画面を適宜抽出し、顧客端末3へ送信する。描画受
注手段10は、顧客端末3からマスクの描画依頼を受信
する。描画データ受信手段11は、顧客端末3から描画
データを受信し、描画データ記憶装置31に格納する。
描画時間予測手段12は、描画装置5におけるマスク描
画の所用時間を予測する。顧客は、描画時間予測手段1
2により予測された所要時間を参考にして、描画装置5
の予約時間を決定することができる。描画装置検索手段
13は、顧客端末3からの描画条件等に基づき最適で利
用可能な描画装置5を検索する。描画装置予約手段14
は、顧客端末3からの要求に応じて、描画装置5の使用
予約を行う。描画条件設定手段15は、描画装置5にお
けるマスク描画条件を設定する。尚、描画条件設定手段
15は、顧客が顧客端末3を介して手動で設定すること
ができるほか、自動的に描画条件を設定することもでき
る。描画モニタ手段16は、描画装置5からマスクの描
画状況を受信し、顧客端末3へ送信する。描画データ削
除手段17は、マスク描画の全ての処理が終了した後、
顧客端末3からの要求に応じて、マスク描画のために顧
客端末3から受信し、描画データ記憶装置31に格納し
ていた描画データを削除する。描画装置課金手段18
は、描画装置5の実使用時間に基づき、顧客端末3へ課
金を行い、LSIマスクの描画支援システムが提供する
マスク描画サービスの清算をする。
【0031】入力装置35は、キーボード、マウス、O
CR等の認識装置、イメージスキャナ等の図形入力装
置、音声認識装置等の特殊入力装置などにより、出力装
置36は、液晶ディスプレイ、CRTディスプレイ等の
表示装置、インクジェットプリンタ、レーザープリンタ
などの印刷装置等によりそれぞれ構成される。入出力制
御装置38(入出力インタフェース)は、これらの入力
装置35、出力装置36、あるいはCD−ROM、M
O、ZIPなどの記憶装置の読み取り装置等をCPU2
につなぐインタフェースである。データの流れから見る
と、入出力制御装置38は、入力装置35、出力装置3
6、外部記憶装置の読み取り装置と主記憶装置37との
インタフェースとなる。主記憶装置37には、ROM及
びRAMが組み込まれている。ROMは、CPU2にお
いて実行されるプログラムを格納しているプログラム記
憶装置等として機能する。RAMは、CPU2における
プログラム実行処理中に利用されるデータ等を一時的に
格納したり、作業領域として利用される一時的なデータ
メモリ等として機能する。通信制御装置39は、ネット
ワーク6に接続するためのインタフェースとなるもので
ある。従って、TA(ターミナルアダプタ)、ダイアル
アップルータ、LANボード等がこれに該当する。
【0032】(全体フロー)図3は、本発明の第1の実
施形態に係るLSIマスクの描画支援方法の全体フロー
を示したものである。
【0033】(イ)まず、ステップS11において、ポ
ータルサイトサーバ1は、描画データ転送処理を開始
し、顧客端末3から送信された描画データを受信するた
めの処理を行う。
【0034】(ロ)次に、ステップS12において、ポ
ータルサイトサーバ1は、顧客端末3からの要求に応じ
て描画装置予約処理を行う。
【0035】(ハ)次に、ステップS13において、ポ
ータルサイトサーバ1は、顧客端末3からの要求に応じ
て、ホスト端末4に接続された描画装置3へ、描画の実
行処理を促す。
【0036】(ニ)ステップS14において、描画デー
タを削除する等の後処理を行う。
【0037】図4〜14を用いて、本発明の第1の実施
形態係るLSIマスクの描画支援方法のフローを説明す
る。なお、以下で説明する図4、図6、図10、図13
のステップS101からS103までの処理は、共通す
るため同じ符号を付すこととする。
【0038】図4は、本発明の第1の実施形態のLSI
マスクの描画支援方法に係る描画データ転送フローを示
したものである。
【0039】まず、ステップS101において、ポータ
ルサイトサーバ1は顧客端末3からの接続を受け付け
る。そして、ステップS102において、画面送信手段
9を用いて顧客端末3へサービス選択画面を送信する。
このサービス選択画面上において顧客が顧客端末3を介
して選択することができるサービスは、描画データ転送
サービス、描画装置予約サービス、描画実行サービス、
データ削除サービス等である。次に、ステップS103
において、描画受注手段10を用いて顧客端末3より選
択されたサービス選択情報を受信し、選択されたサービ
スを起動する。
【0040】まず始めに、描画データ転送サービスが選
択された場合について説明する。
【0041】(描画データ転送サービス)図4のステッ
プS103において顧客端末3より受信したサービス選
択情報が描画データ転送サービスであった場合、ステッ
プS104において、ポータルサイトサーバ1で描画デ
ータ転送サービスを起動する。
【0042】次に、ステップS105において、画面送
信手段9を用いて転送サービス画面41を顧客端末3へ
送信する。図5に転送サービス画面41の一例を示す。
図5に示すような転送サービス画面41では、まず、個
々の顧客毎に与えられたユーザ識別子51が表示され
る。そして、サーバディレクトリ52としてポータルサ
イトのディレクトリを指定することができる。図5に示
す転送サービス画面41では、ポータルサイトサーバ1
のtopディレクトリ内の顧客のディレクトリを指定して
いる。描画データ53には、マスク描画のためのマスク
データファイルを指定することができる。図5に示す転
送サービス画面41では、「patternFile1」及び「patt
ernFile2」の2つを指定している。レイアウトデータ5
4には、配置パターン、合わせマークパターン、マーク
の配置等のレイアウトデータのファイルを指定すること
ができる。図5に示す例では、「layoutFile1」及び「l
ayoutFile2」の2つのファイルを指定している。マーク
ライブラリ55では、合わせマークや寸法測定用マーク
等一般的に使われるマークのライブラリを指定する。描
画レシピ56では、露光条件のレシピ等、ユーザーがコ
ントロールしたい条件設定のパラメーター等を記載した
レシピファイルを指定する。そして、暗号化57では、
指定したデータを送信する際に暗号化して送信するか、
それとも暗号化せずに送信するかを選択することができ
る。これらのデータが指定され、顧客端末3からポータ
ルサイトサーバ1へ送信されると、ステップS106に
おいて、ポータルサイトサーバ1は、描画データ受信手
段11を用いて、依頼データ(描画データを含む)を受
信し、描画データ記憶装置31に格納する。
【0043】(描画予約サービス)図6は、本発明の第
1の実施形態に係る描画予約処理のフロー図である。
【0044】(イ)上述したように、まず、ステップS
101において、ポータルサイトサーバ1は顧客端末3
からの接続を受け付ける。そして、ステップS102に
おいて、顧客端末3へサービス選択画面を送信する。こ
のサービス選択画面上で顧客が顧客端末3を介して選択
することができるサービスは、描画データ転送サービ
ス、描画装置予約サービス、描画実行サービス、データ
削除サービス等である。ステップS103において、顧
客端末3より選択されたサービス選択情報を受信し、選
択されたサービスを起動する。ここで「描画予約サービ
ス」が選択された場合について以下に説明する。
【0045】(ロ)ステップS114において、ポータ
ルサイトサーバ1で描画予約サービスを起動し、ステッ
プS115において、画面送信手段9を用いて顧客端末
3へ描画装置予約サービス画面42を送信する。図7に
描画装置予約サービス画面42の一例を示す。まず、描
画装置予約サービス画面42では、ユーザ識別子51が
表示される。そして、希望サイト58において、描画装
置が接続されている希望のサイトを選択することができ
る。また、項目58bにおいて自由度を持たせた「優
先」あるいは自由度のない「固定」を選択することがで
きる。図7に示す例では、サイト名58aとして「国内
B」というサイトが選択され、項目58bでは、「優
先」が選択されているため、サイト国内Bを優先的に選
択するように指定されている。尚、図示は省略している
が、さらに、描画装置を選択することができる項目があ
っても構わない。
【0046】次に、描画装置のタイプ59として、項目
59aにおいて電子ビーム(EB)露光かレーザー露光
かを選択することができる。そして、項目58bと同様
に項目59において、優先であるか固定であるかを選択
することができる。さらに、描画分解能59cにおい
て、間接的にレーザーの波長も選択することができる。
次に、マスクサイズと枚数を選択することができる。項
目60aにマスクサイズをインチで挿入し、項目60b
にマスクの枚数を挿入することができる。そして、希望
開始時間61及び希望終了時間62が設定され、最後に
予約時間63を設定することができる。この予約時間6
3は、項目63aで固定した時間を設定することもでき
るが、項目63bで描画時間予測サービスを利用し、描
画時間の予測をすることもできる。
【0047】(ハ)全ての項目に記入がされると、顧客
端末3からポータルサイトサーバ1へ予約データが送信
され、ポータルサイトサーバ1は、ステップS116に
おいて、予約データを受信する。
【0048】(ニ)そして、ステップS117におい
て、項目63bが選択されたか否かにより、時間予測サ
ービスが指定されたか否かを判断する。指定されない場
合は、ステップS120の処理へ進む。時間予測サービ
スが指定された場合は、ステップS118において画面
送信手段9を用いて、時間予測サービス画面を送信す
る。図8に時間予測サービス画面43を示す。図8に示
すように、時間予測サービス画面43では、他の画面と
同じように、ユーザー識別子51がまず、表示される。
そして、時間予測を行うため、まず、描画データ53、
レイアウトデータ54、マークライブラリ55、描画レ
シピ56、マスクサイズ60a、枚数60bなどの項目
が用意されている。また、項目64aでは、EB近接効
果補正を実施するか否かについて選択することができ、
項目64bでは、EB近接効果補正を行う際どのような
タイプのものであるのかを選択することができる。尚、
図8に示す一例では、EB近接効果補正を実施し、その
タイプはドーズ量補正である。以上の項目等へ記入が終
わると、顧客端末3からポータルサイトサーバ1へ時間
予測用データが送信される。
【0049】(ホ)ステップS119において、ポータ
ルサイトサーバ1は、時間予測用データを顧客端末3か
ら受信する。次に、ステップS120において描画時間
予測手段12を用いて、描画予約サービスを実行し、ス
テップS121において描画装置検索手段13を用い
て、候補となる描画装置5を検索する。
【0050】(ヘ)ステップS122において、ステッ
プS120の候補描画装置検索の結果をリストにした候
補描画装置検索結果表示画面44を顧客端末3へ送信す
る。図9に候補描画装置検索結果表示画面44の一例を
示す。図9に示す候補描画装置検索結果表示画面44で
は、他の画面と同様に、ユーザー識別子51が表示され
る。そして、検索条件と合致する描画装置5のサイト名
65a、装置名65b、タイプ名65c、分解能65
d、開始時刻65e、予測時間65f、描画費用65g
をリストとして、順番に表示する。そして、ユーザは、
リストの中から1つの描画装置を選択し、顧客端末3に
おいて予約候補番号66を指定し、選択データを送信す
る。これに対応して、ポータルサイトサーバ1は、ステ
ップS123において、選択データを顧客端末3から受
信する。
【0051】(ト)ステップS124において描画装置
予約手段14を用いて、選択された描画装置5へ予約情
報を送信し、本発明の第1の実施形態に係る描画装置予
約処理を終了する。
【0052】(描画実行サービス)図10は本発明の第
1の実施形態に係る描画実行サービスのフローを示すも
のである。
【0053】(イ)上述したように、まず、ステップS
101において、ポータルサイトサーバ1は顧客端末3
からの接続を受け付ける。そして、ステップS102に
おいて、顧客端末3へサービス選択画面を送信する。こ
のサービス選択画面上で顧客が顧客端末3を介して選択
することができるサービスは、描画データ転送サービ
ス、描画装置予約サービス、描画実行サービス、データ
削除サービス等である。ステップS103において、顧
客端末3より選択されたサービス選択情報を受信し、選
択されたサービスを起動する。ここで「描画実行サービ
ス」が選択された場合について以下に説明する。
【0054】(ロ)まず、描画実行サービスが選択され
ると、ステップS134において、描画起動メニュー4
5を顧客端末3へ送信する。図11に描画起動メニュー
45の一例を示す。描画起動メニュー45には、まず、
他の画面同様にユーザ識別子51が表示される。そし
て、描画データ53、レイアウトデータ54、マークラ
イブラリ55、描画レシピ56、予約装置番号66a、
装置操作モード66b、描画開始予定時間67などのデ
ータをユーザが顧客端末3を用いて記入・選択すること
ができる。図11の例では、描画データ53として、
「top」ディレクトリの中の「draw1」というディレクト
リ内にある「patternFile1」及び「patternFile2」とい
う2つのファイルが選択されている。また、レイアウト
データ54としても同様に、「draw1」内にある「layou
tFile1」及び「layoutFile2」という2つのファイルが
選択されている。 マークライブラリ55としては、「d
raw1」内にある「mark_lib」というファイル、描画レシ
ピ56としては、「draw1」内にある「draw_recipe」と
いうファイルがそれぞれ選択されている。 予約装置番
号66aは「1」で、装置操作モード66bは「手動」
と設定されている。そして、描画開始予定時間67は、
「2001年6月3日10時」となっている。
【0055】(ハ)上述したような描画起動データをス
テップS135において、顧客端末3から受信する。そ
して、ステップS136において、図11の装置操作モ
ード66bで選択された項目が「手動」であるか「自
動」であるかを確認することにより、自前操作選択がな
されているか否かを判断する。自前操作選択である場
合、即ち手動設定等である場合は、ステップS138に
おいて、描画条件設定画面を顧客端末3へ送信する。そ
して、ステップS139において、顧客端末3より設定
データを受信する。ステップS136において自前操作
選択ではないと判断された場合、即ち自動設定である場
合は、ステップS137の処理へ進み、描画条件を設定
する。そして、ステップS140の処理へ進む。
【0056】(ニ)ステップS140において、指定さ
れた描画装置5へ接続し、ステップS141において、
描画装置5へステップS139で受信した設定データ若
しくはステップS137で自動設定した設定データを送
信する。設定データを受信した描画装置5では、予約さ
れた時間になると、ステップS141でポータルサイト
サーバ1から送信された設定データを元に、描画を開始
する。そして、描画している最中は、定期的に描画状況
をポータルサイトサーバ1へ送信する。
【0057】(ホ)ステップS142において、ポータ
ルサイトサーバ1は描画モニタ手段16を用いて、描画
装置5から描画状態を受信し、受信した描画状態をステ
ップS143において、顧客端末3へ送信する。図12
に描画状態モニター画面46を示す。描画状態モニター
画面46では、現在何番目のマスクを描画中であるの
か、或いは、描画中のマスクのどの割合まで描画が進ん
だかを把握することができる。まず、描画状態モニター
画面46には、ユーザー識別子51、開始時刻68、予
想終了時刻69、描画マスクの何枚目を描画中であるか
を示す項目70a、注文された描画マスク数70b、マ
スク進捗状況を描画面積の割合であらわした項目71
a、マスクの進捗状況をフレーム数で表す項目71b、
及びグラフィックモニター72が表示される。グラフィ
ックモニター72では、描画工程をいくつかにわけて表
示することにより、描画がどの段階まで進んでいるのか
を把握できるようにしてある。図12に示す例では、グ
ラフィックモニター72では、描画処理をビーム偏向
系、レーザー測長系、ビーム発生系、試料室、ステージ
駆動系、真空排気系、電気制御系、制御計算機など大き
く8つの制御システムに分けて表示している。 指定し
た全てのマスクの描画が完了すると、ステップS144
の処理へ進む。
【0058】(ヘ)ステップS144において、描画が
終了したか否かを判断し、描画が終了していない場合
は、ステップS142の処理へ戻り、描画が終了するま
で、描画装置5から描画状態を受信する。尚、描画が終
了すると、描画装置5からユーザーが注文したデータは
削除される(この時点では、ユーザーが注文したデータ
は、ポータルサイトサーバ1には残っているため、何か
あっても、描画装置5はポータルサイトサーバからデー
タを受信することができる。従って、セキュリティ等の
問題に対処するため、描画が終了すると同時に描画装置
内に一時的に保存された顧客端末3から受信した描画デ
ータは削除される。)。
【0059】(描画データの削除処理)図13は本発明
の第1の実施形態に係るデータ削除サービスのフローを
示すものである。
【0060】(イ)上述したように、まず、ステップS
101において、ポータルサイトサーバ1は顧客端末3
からの接続を受け付ける。そして、ステップS102に
おいて、顧客端末3へサービス選択画面を送信する。こ
のサービス選択画面上で顧客が顧客端末3を介して選択
することができるサービスは、描画データ転送サービ
ス、描画装置予約サービス、描画実行サービス、データ
削除サービス等である。ステップS103において、顧
客端末3より選択されたサービス選択情報を受信し、選
択されたサービスを起動する。ここでは、「データ削除
サービス」が選択された場合について以下に説明する。
【0061】(ロ)まず、データ削除サービスが選択さ
れると、ステップS154において画面送信手段9を用
いて、顧客端末3へデータ削除画面を送信する。顧客は
顧客端末3において、削除したいデータの情報をデータ
削除画面に入力し、ステップS155において、ポータ
ルサイトサーバ1は顧客端末3より、削除対象データの
情報を受信する。
【0062】(ハ)受信した削除対象データの情報に基
づき、ステップS156において、ポータルサイトサー
バ1は、描画データ削除手段17を用いて、対象データ
を削除する。 このとき削除されるデータは、ポータル
サイトサーバ1内に格納されているデータであり、マス
ク描画のためにユーザーが選択した描画装置へポータル
サイトサーバ1から送信されたデータは、描画終了と同
時に描画装置から削除される。
【0063】(ニ)データの削除処理が終了すると、ス
テップS157において、ポータルサイトサーバ1は描
画装置課金手段18を用いて、顧客端末3へ課金手続き
画面を送信し、描画費用の支払いを要求する。描画費用
の課金は、原則として、描画装置が実際に使用された時
間に対して課金される。図14に示すように、本発明の
第1の実施形態に係るLSIマスクの描画支援システム
を用いてマスクの描画予約をした場合、実際に予定通り
描画装置が作動しない場合を想定し、描画予約時間85
は、描画予測時間82にマージン83分を加え設定す
る。そして、描画後に課金されるのは、実際に装置が使
用された時間数分であるため、例えば、図14のケース
の場合、終了時間86までが課金の対象となる時間で
ある。また、ケースの場合のように、描画時間予測サ
ービスを使った場合に、予約時間85を大幅に越えて超
過時間84の領域まで作業が終わらない場合、終了時間
88までかかったとしても、実際に課金されるのは、課
金ライン87までであり、超過時間84に対しては課金
を免除するような仕組みになっている。即ち、描画時間
予測サービスを使用した場合には、サービスの予測精度
の不正確さに起因する超過時間に対しての課金を免除す
るようになっている。
【0064】(ホ)そして、ステップS158におい
て、料金徴収データを受信すると、本発明の第1の実施
形態に係るLSIマスクの描画支援システムはその処理
を終了する。
【0065】本発明の第1の実施形態に係るLSIマス
クの描画支援システム及び方法を用いれば、マスクの描
画スケジュールや描画装置の選択を顧客が制御すること
ができ、顧客にとって利便性の良いLSIマスクの描画
支援システムを提供することができる。更に、機密情報
に関わるマスクの描画データや処理条件等を第三者に開
示することなく、必要なマスクを描画することができ、
匿名性及び機密性の高いLSIマスクの描画支援システ
ムを提供することができる。更に、ネットワークを経由
した受注システムを導入することにより、マスクサービ
スを提供する側における人件費を削減できる。また、稼
働率の低い特殊用途に対応した装置や超先端技術に対応
した装置を自前で所有する必要がなく、マスクの描画コ
ストを削減することができる。更に、小口ユーザから大
口ユーザまで幅広い顧客層に対してLSIマスクの描画
サービスを提供することができる。
【0066】(第2の実施形態)図15〜19を用い
て、以下に、本発明の第2の実施形態に係るマスク製造
支援方法に用いるマスク製造支援システムについて説明
する。
【0067】図15に示す本発明の第2の実施形態に係
るマスク製造支援システムは、ポータルサイトサーバ
1、ホスト端末4a〜4f及びこれらを相互に接続する
ネットワーク6とにより構成されている。ホスト端末4
aは、描画装置5a〜5a、CAD(設計装置)5
、5aに接続されている。ホスト端末4bは、描
画装置5b〜5bに接続されている。ホスト端末4
cは、描画装置5c〜5c、現像装置5c、アッ
シング装置5c、マスク検査装置5c、エッチング
装置5cに接続されている。ホスト端末4dは、描画
装置5d〜5d 、現像装置5d、アッシング装置
5d、マスク検査装置5d、CAD5d、エッチ
ング装置5d、修正装置5dに接続されている。ホ
スト端末4eは、CAD5e〜5eに接続されてい
る。ホスト端末4fは、CAD5f 〜5fに接続さ
れている。
【0068】図16に示す本発明の第2の実施形態に係
るマスク製造支援システムのポータルサイトサーバ1
は、図2に示す本発明の第1の実施形態に係る描画支援
システムのポータルサイトサーバ1と比べて、CPU2
が、受注手段20、データ受信手段21、時間予測手段
22、マスク製造装置検索手段23、マスク製造装置予
約手段24、条件設定手段25、モニタ手段26、デー
タ削除手段27、課金手段28、受注範囲認識手段2
9、マスク製造用データ記憶装置95、マスク製造装置
記憶装置96を備えている点が異なる。また、ネットワ
ーク6を介して、描画装置5xのほかに、CAD5x
、現像装置5x、アッシング装置5x、マスク検
査装置5xを備えるマスク製造関連装置群に接続され
ている。
【0069】「マスク製造関連装置群」とは、設計デー
タからマスクの描画データを生成するCAD(設計装
置)5x、マスクデータに基づきマスクを描画する描
画装置5x、描画されたマスクパターンが描画された
レジストを現像する現像装置5x、レジストをエッチ
ングマスクとしてクロムや酸化クロム等の遮光膜をエッ
チングするエッチング装置、エッチング終了後のレジス
トをアッシングするアッシング装置5x、マスクパタ
ーンにおける欠陥の有無を検出するマスク検査装置5x
、マスクパターンを修正するマスク修正装置等の種
々の装置からなる装置群である。そして、マスク製造関
連装置群を構成する装置は、これらの1つの機能を有す
る単機能の装置であってもよく、複数の機能を有する複
合機能装置であってもよい。また、本発明の第2の実施
形態に係るマスク製造支援方法において対象となるこれ
らのマスク製造関連装置群のうちの一部の装置であって
もよく、たとえば、CAD5x及び描画装置5X
みであってもよく、CAD5x、描画装置5x、現
像装置5x、アッシング装置5x、マスク検査装置
5x等の複数の装置であってもよい。更に、描画デー
タを作成する設計装置(CAD)5xは、光近接効果
補正を行うCADシステム、データ変換をを行うCAD
システム、マスクレイアウトを作成するCADシステム
等の個々の機能を有するCADシステムからなるもので
あってもよい。
【0070】受注手段20は、顧客端末3から通信ネッ
トワークを介してマスクの製造依頼を受信する。データ
受信手段21は、顧客端末3からマスクの製造に必要な
データと予約条件を受信する。時間予測手段22は、予
約条件に基づき、指定された装置の仕様時間を予測す
る。例えば、CAD5xにおける設計時間と、描画装
置5xにおける描画時間とを時間予測手段22を用い
てそれぞれ予測する。マスク製造装置検索手段23は、
予約条件に基づき、マスク製造装置記憶装置96から予
約条件に合致する装置を検索し、候補となる装置のリス
トを作成し、顧客端末3へ送信する。即ち、予約条件に
おいてマスクの現像工程までの予約が指定されている場
合は、その他の予約条件とも合致する描画装置5x
CAD5x 、現像装置5xを検索し、リストを作成
して顧客端末3へ送信する。
【0071】マスク製造装置予約手段24は、顧客端末
3において指定された装置の指定情報を顧客端末3から
受信し、指定された装置にマスクの製造工程の少なくと
も一部の工程を実施する依頼を送信する。例えば、顧客
端末3から、指定された装置が、CAD5eと、描画
装置5bと、現像装置5dと、アッシング装置5d
と、マスク検査装置5dとである場合、CAD5e
にはマスクパターンの設計依頼、描画装置5bには
マスクの描画依頼、現像装置5dには現像依頼、アッ
シング装置5dにはアッシング依頼、マスク検査装置
5d には検査依頼をそれぞれ送信し、各々の装置を
予約する。尚、装置を複数指定する場合は、同じホスト
端末に接続されている装置に限らず、他のホスト端末に
接続されている装置を選択してもよい。また、ホスト端
末4a〜4fは、全て国内においてネットワークに接続
されている必要はなく、外国に存在するホスト端末に接
続されていてもよい。
【0072】条件設定手段25は、顧客端末3で指定さ
れた各装置において設定することができる詳細な条件を
設定する。例えば、顧客端末3でCAD5xと描画装
置5xとが指定された場合、各々の装置において詳細
な設定を行うことができる。モニタ手段26は、顧客端
末3で指定された装置から、対応する工程の進行状況を
受信し、前記顧客端末3へ送信する。たとえば、顧客端
末3でCAD5xと描画装置5xとが指定された場
合、まず、CAD5xにおいてマスクパターンを設計
しているときは、CAD5xから設計状況を受信し、
顧客端末3へ送信する。また、描画装置5xでマスク
パターンを描画しているときは、描画装置5xから描
画状況を受信する。
【0073】データ削除手段27は、マスク製造用デー
タ記憶装置96に格納されているデータを削除する。ま
た、データ削除手段27は、使用した各装置に格納され
ているデータも削除することができる。課金手段28
は、顧客端末3で指定された装置を実際に使用した時間
に基づき、請求金額を計算し、顧客端末3へ請求する。
たとえば、顧客端末3でCAD5xと描画装置5x
とが指定された場合、まず、CAD5xを実際に使用
した時間と、描画装置5xを実際に使用した時間とに
基づき、それぞれ請求金額を計算し、顧客端末3へ請求
する。そして、徴収した請求金は、各々の装置(CAD
5x及び描画装置5x)へ支払われる。受注範囲認
識手段29は、顧客端末3から送信され受信した予約条
件に基づき、受注範囲を認識し判断する。
【0074】マスク製造用データ記憶装置95は、ポー
タルサイトサーバ1に接続され、マスクの製造に必要な
データを格納する記憶装置である。なお、ここでいう
「マスクの製造に必要なデータ」とは、受注範囲認識手
段29で認識された受注範囲の開始工程(一番始めの工
程)において必要とされるデータのことである。従っ
て、マスクの描画データを生成する設計工程から始まる
場合は、設計仕様データが「マスクの製造に必要なデー
タ」となり、マスクの描画工程から始まる場合は、CA
Dによって得られたマスクの描画データが「マスクの製
造に必要なデータ」となる。マスク製造装置記憶装置9
6は、通信ネットワーク6に接続された複数のマスク製
造装置(描画装置5a〜5a、5b〜5b、5
〜5c、5d〜5d、CAD5a、5
、5d、5e〜5e、5f〜5f、現像
装置5c、5d、アッシング装置5c、5d
マスク検査装置5c、5d、エッチング装置5
、5d、修正装置5d)の各々の性能情報を格
納する。
【0075】(第2の実施形態のフロー)図17、18
に本発明の第2の実施形態に係るマスクの製造方法のフ
ロー図を示す。
【0076】図4、6、10、13のステップS101
からステップS103までの処理と同様に、まず、ステ
ップS201において、ポータルサイトサーバ1は、顧
客端末3からの接続を受け付ける。そして、ステップS
202において、ポータルサイトサーバ1は顧客端末3
へサービス選択画面47を送信する。図18に、サービ
ス選択画面47を示す。このサービス選択画面47上に
おいて、 顧客は第1の実施形態で説明したマスクの描
画支援方法に加え、その前後のマスク製造に必要な工程
まで拡張した複数のサービスを選択することができる。
この複数のサービスとは、画面47aに示すように、主
に、設計工程(S210)、描画工程(S211)、現
像工程(S212)、エッチング工程(S213)、ア
ッシング工程(S214)、マスク検査工程(S21
5)、マスク修正工程(S216)等である。また、設
計工程では画面47bに示すように、更に、OPC(S
220)、データ変換(S221)、マスクレイアウト
作成(S222)の3つの工程を選択することができ
る。そして、サービス選択画面47の一番上には、ユー
ザ識別子51が表示され、その下に表示されている「複
数サービスの範囲」という項目90aに開始する工程
を、項目90bに終了する工程をそれぞれ選択して入れ
る。このサービス範囲の指定用項目90a、bは、顧客
が自由に設定範囲を記入する形であってもよく、ドロッ
プダウン・メニューとして顧客が選択する形であっても
よい。顧客によりサービスが選択されると、ステップS
203において顧客端末において選択されたサービス選
択情報を受信する。
【0077】ステップS204において、受注範囲認識
手段29を用いて、選択されたサービス範囲の解析を行
う。即ち、顧客が選択したサービスにおいて、顧客から
どのようなデータを得なければならないのかを分析し認
識する。そして、準備が整ったら、ステップS205に
おいて、ポータルサイトサーバ1は画面送信手段9を用
いて画面用記憶装置33から選択されたサービス用の画
面を抽出し、顧客端末3へ送信する等選択されたサービ
スの提供を開始する。
【0078】ここで、例えば、図18に示す「IN4」
から「OUT3」までの範囲が選択された場合につい
て、図18,19のステップS205からS224まで
の工程について説明する。
【0079】まず、ステップS205において、ポータ
ルサイトサーバ1は選択されたサービス範囲に合わせて
画面を生成し、顧客端末3へ送信する。そして、ステッ
プS206において、顧客端末3より依頼データを受信
する。
【0080】ステップS207において、選択されたサ
ービス範囲に合わせて予約サービス画面を送信する。そ
して、ステップS208においてデータ受信手段21を
用いて、詳細な予約データを顧客端末3から受信する。
ステップS209において、時間予測サービスが指定さ
れたか否かを判断し、時間予測サービスが指定されてい
る場合は、ステップS210において、顧客端末3より
受信した依頼データと予約データとから時間予測手段2
2を用いて依頼されたサービスを提供するために必要な
時間を予測する。ここで、依頼されたサービスが複数の
装置を用いた複数の工程にまたがるものである場合は、
各装置において必要とされるそれぞれの工程の所用時間
とそれぞれの装置間においてデータ等のやりとりに必要
な時間を予測する。例えば、本発明の第2の実施形態で
は、「IN4」から「OUT3」までの範囲が選択され
ていることから、使用する装置は、描画装置、現像装
置、及びエッチング装置である。従って、時間予測手段
22は、描画装置、現像装置、エッチング装置の各々に
おいて必要とされる描画工程、現像工程、エッチング工
程のそれぞれの所用時間を予測し、更に、各装置間にお
いてデータ等をやりとりするために必要とされる時間に
ついても予測する。そして、予測結果を顧客端末3へ送
信する。ステップS209において、時間予測サービス
が指定されていない場合は、ステップS211の処理へ
進む。
【0081】次に、ステップS211において、マスク
製造装置検索手段23を用いてマスク製造装置記憶装置
96を参照し、依頼データと予約データとに基づき、候
補となる装置を検索する。たとえば、本発明の第2の実
施形態では、上述したように、描画装置、現像装置、及
びエッチング装置が必要となる。そこで、予約条件等を
踏まえて、マスク製造装置検索手段23は、様々な組合
せを検索する。例えば、図15に示すホスト端末4c及
びホスト端末4dの場合、描画装置も現像装置もエッチ
ング装置も備えているため、マスク製造装置検索手段2
3は、「描画装置5c、現像装置5c、エッチング
装置5c」や、「描画装置5d、現像装置5d
エッチング装置5d」という組合せのリストを生成し
てもよい。また、依頼されたマスクパターンの描画は、
描画装置5aにしかできないものである場合には、描
画装置5aと、その他の現像装置及びエッチング装置
を組み合わせたリストを生成してもよい。このように、
マスク製造装置検索手段23により、候補となるマスク
製造装置が検索されると、ステップS212において、
検索結果を顧客端末3へ送信する。
【0082】次に、図17のステップS213におい
て、選択データを受信する。そして、この選択データに
基づき、ステップS214において、マスク製造装置予
約手段24を用いて、顧客端末3から指定された装置に
予約を入れ、必要なデータを対応する装置へ送信する。
たとえば、本発明の第2の実施形態では、上述したよう
に、描画装置、現像装置、及びエッチング装置が必要と
なる。ステップS213において顧客端末3から受信し
た選択データが、「描画装置5a、現像装置5d
エッチング装置5d」の組合せである場合、マスク製
造装置予約手段24は、描画装置5a、現像装置5d
、エッチング装置5dの各々に予約を入れ、描画装
置5a、現像装置5d、エッチング装置5dの各
々に必要なデータ等を送信する。
【0083】次に、ステップS215において条件設定
手段25を用いて、顧客端末3が自前操作を要求してい
るか否かを判断する。自前操作を要求していない場合
は、ステップS219において、自動設定を行い、ステ
ップS220の処理へ進む。自前操作が要求されている
場合は、ステップS216において、顧客端末3へ設定
画面を送信する。そして、ステップS217において、
顧客端末3から設定情報を受信し、ステップS220に
おいて、設定情報を各マスク製造装置へ送信する。本発
明の第2の実施形態では、描画装置5a、現像装置5
、エッチング装置5dの各々に設定情報を送信す
る。従って、顧客端末3からは、描画装置5a、現像
装置5d、エッチング装置5dのそれぞれに対応す
る設定情報を受信する。
【0084】次に、ステップS221において、モニタ
手段26を用いて、各装置(描画装置5a、現像装置
5d、エッチング装置5d)における対応する工程
の進行状況を受信し、ステップS222において、進行
状況を顧客端末3へ送信する。そして、ステップS22
3において、各装置における所定の工程が終了したか否
かを判断する。たとえば、図18に示すサービス選択画
面47において、「IN4」から「OUT3」までの範
囲が依頼された場合、一番始めは、ステップS223に
おいて、描画工程(S211)における製造工程が終了
したか否かが判断される。
【0085】描画工程(S211)が終了した場合は、
ステップS224の処理へ進み、次の工程があるか否か
が判断される。次の工程がある場合は、ステップS22
1の処理へ戻り、次の工程における進行状況をマスク製
造装置から受信し、顧客端末3へ送信する。即ち、描画
工程(S211)が終了した後は、現像工程(S21
2)、エッチング工程(S213)について、ステップ
S221〜S224の処理が行われる。そして、指定さ
れた範囲の最後までくると、処理は終了する。ここで
は、マスク現像(S212)、エッチング工程(S21
3)における製造が終了すると、ステップS224にお
いて、次の工程がないため処理を終了する。
【0086】このように、本発明の第2の実施形態に係
るマスクの製造システム及び方法を用いれば、マスクの
製造スケジュールや必要な各装置の選択を顧客が制御す
ることができ、顧客にとって利便性の良いマスク製造支
援システムを提供することができる。更に、機密情報に
関わるマスク製造用データや処理条件等を第三者に開示
することなく、必要なマスクを製造することができ、匿
名性及び機密性の高いマスクの製造システムを提供する
ことができる。更に、ネットワークを経由した受注製造
システムを導入することにより、マスク製造サービスを
提供する側における人件費を削減できる。また、稼働率
の低い特殊用途に対応したマスク製造装置や超先端技術
に対応したマスク製造装置を自前で所有する必要がな
く、マスクの製造コストを削減することができる。更
に、小口ユーザから大口ユーザまで幅広い顧客層に対し
てマスクの製造サービスを提供することができる。
【0087】(その他の実施の形態)上記のように、本
発明は第1及び第2の実施の形態によって記載したが、
この開示の一部をなす論述及び図面は、この発明を限定
するものであると理解すべきではない。この開示から、
当業者には様々な代替実施の形態、実施例、及び製造工
程技術が明らかとなろう。
【0088】描画装置5a〜5a、CAD(設計装
置)5a、5a、描画装置5b 〜5b、描画装
置5c〜5c、現像装置5c、アッシング装置5
、マスク検査装置5c、エッチング装置5c
描画装置5d〜5d、現像装置5d、アッシング
装置5d、マスク検査装置5d、CAD5d、エ
ッチング装置5d、修正装置5d、CAD5e
5e、CAD5f〜5f等のマスク製造装置は、
図15に示すようにネットワーク6に接続されたホスト
端末4a〜4fに接続されてもよく、図16のCAD5
、描画装置5x、現像装置5x、アッシング装
置5x、マスク検査装置5x等のように、直接ネッ
トワーク6に接続されてもよい。
【0089】また、ホスト端末4a〜4fは、同一国内
においてネットワーク6に接続されていてもよく、いく
つかのホスト端末4a〜4fが外国においてネットワー
ク6に接続されていてもよい。
【0090】本発明はここでは記載していない様々な実
施の形態等を含むことは勿論である。従って、本発明の
技術的な範囲は上記説明から妥当な特許請求の範囲に係
る発明特定事項によってのみ定められるものである。
【0091】
【発明の効果】本発明によれば、マスクの描画スケジュ
ールやマスクの描画装置の種類や性能を顧客が選択し制
御することができるため、顧客にとって利便性の良い描
画支援システム及び描画支援方法を提供することができ
る。
【0092】本発明によれば、機密情報に関わるマスク
描画データや描画条件等を第三者に開示することなく、
必要なマスクを製造し、製造後はデータを顧客自らが削
除することができるため、匿名性及び機密性の高いマス
クの描画支援システム及び描画支援方法を提供すること
ができる。
【0093】本発明によれば、ネットワークを経由した
受注システム及び受注方法を導入することにより、マス
クの描画装置を提供する側における人件費を削除するこ
ともできるほか、稼働率の低い特殊用途に対応した描画
装置や超先端技術に対応した高額な描画装置を自前で所
有する必要がなく、マスクの描画コストを削減すること
ができる。
【0094】本発明によれば、小口の顧客から大口の顧
客までの幅広い顧客層に対してマスクの描画支援システ
ム及び描画支援方法を提供することができる。
【0095】本発明によれば、マスクの製造スケジュー
ルやマスク製造装置の種類や性能を顧客が選択し制御す
ることができるため、顧客にとって利便性の良いマスク
製造支援システム及びマスク製造支援方法を提供するこ
とができる。
【0096】本発明によれば、機密情報に関わるマスク
製造用データやマスク製造工程における処理条件等を第
三者に開示することなく、必要なマスクを製造すること
ができ、マスク製造後に自らが使用したデータを削除す
ることができるため、匿名性及び機密性の高いマスク製
造支援システム及びマスク製造支援方法を提供すること
ができる。
【0097】本発明によれば、ネットワークを経由した
受注システム及び受注方法を導入することにより、マス
ク製造装置を提供する側における人件費を削減できる。
【0098】本発明によれば、稼働率の低い特殊用途に
対応した装置や超先端技術に対応した高額な装置を自前
で所有する必要がなく、マスクの製造コストを削減する
ことができる。
【0099】本発明によれば、小口の顧客から大口の顧
客まで幅広い顧客層に対してマスク製造支援システム及
び方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るマスクの製造シ
ステムの概念図である。
【図2】本発明の第1の実施形態に係るマスクの製造シ
ステムのシステム構成図である。
【図3】本発明の第1の実施形態に係るマスクの製造方
法のフロー図である。
【図4】本発明の第1の実施形態のマスクの製造方法に
係る描画データ転送処理を示したフロー図である。
【図5】本発明の第1の実施形態に係る転送サービス画
面の一例を示した図である。
【図6】本発明の第1の実施形態のマスクの製造方法に
係る描画予約処理を示したフロー図である。
【図7】本発明の第1の実施形態に係る描画装置予約サ
ービス画面の一例を示した図である。
【図8】本発明の第1の実施形態に係る時間予測サービ
ス画面の一例を示した図である。
【図9】本発明の第1の実施形態に係る候補描画装置検
索結果表示画面の一例を示した図である。
【図10】本発明の第1の実施形態のマスクの製造方法
に係る描画実行処理を示したフロー図である。
【図11】本発明の第1の実施形態に係る描画起動メニ
ューの一例を示した図である。
【図12】本発明の第1の実施形態に係る描画状態モニ
ター画面の一例を示した図である。
【図13】本発明の第1の実施形態のマスクの製造方法
に係るデータ削除処理を示したフロー図である。
【図14】本発明の第1の実施形態に係る予約時間と課
金時間との関係を示した図である。
【図15】本発明の第2の実施形態に係るマスクの製造
システムの概念図である。
【図16】本発明の第2の実施形態に係るマスクの製造
システムのシステム構成図である。
【図17】本発明の第2の実施形態に係るマスクの製造
方法のフロー図である。
【図18】本発明の第2の実施形態に係るマスクの製造
方法のフロー図である。
【図19】本発明の第2の実施形態に係るサービス選択
画面の一例を示した図である。
【符号の説明】
1 ポータルサイトサーバ 2 CPU 3、3a〜3c 顧客端末 4、4a〜4f ホスト端末 5、5a1〜3、5b1〜3、5c1〜3、5
1〜3、5x 描画装置 5a、5a、5d、5e〜5e、5f〜5
、5x CAD(設計装置) 5c、5d、5x 現像装置 5c、5d、5x アッシング装置 5c、5d、5x マスク検査装置 5c、5d エッチング装置 5d 修正装置 6 ネットワーク 9 画面送信手段 10 描画受注手段 11 描画データ受信手段 12 描画時間予測手段 13 描画装置検索手段 14 描画装置予約手段 15 描画条件設定手段 16 描画装置モニタ手段 17 描画データ削除手段 18 描画装置課金手段 20 受注手段 21 データ受信手段 22 時間予測手段 23 マスク製造装置検索手段 24 マスク製造装置予約手段 25 条件設定手段 26 モニタ手段 27 データ削除手段 28 課金手段 29 受注範囲認識手段 30 顧客識別番号記憶装置 31 描画データ記憶装置 32 描画装置記憶装置 33 画面用記憶装置 35 入力装置 36 出力装置 37 主記憶装置 38 入出力制御装置 39 通信制御装置 41 転送サービス画面 42 描画装置予約サービス画面 43 時間予測サービス画面 44 候補描画装置検索結果表示画面 45 描画起動メニュー 46 描画状態モニター画面 47 サービス選択画面 47a、47b 画面 51 ユーザ識別子 52 サーバディレクトリ 53 描画データ 54 レイアウトデータ 55 マークライブラリ 56 描画レシピ 57 暗号化 58 希望サイト 58a、65a サイト名 58b、59、59a、60a、60b、63a、63
b、64a、64b、70a、71a、71b、90
a、90b 項目 59 タイプ 59c 描画分解能 60a マスクサイズ 60b 枚数 61 希望開始時間 62 希望終了時間 63 予約時間 65b 装置名 65c タイプ名 65d 分解能 65e、68 開始時刻 65f 予測時間 65g 描画費用 66 予約候補番号 66a 予約装置番号 66b 装置操作モード 67 描画開始予定時間 69 予想終了時刻 70b 描画マスク数 72 グラフィックモニター 73 ビーム偏向系 74 レーザ測長系 75 ビーム発生系 76 ステージ駆動系 77 真空排気系 78 電気制御系 79 制御計算機 82 描画予測時間 83 マージン 84 超過時間 85 予約時間 86、88 終了時間 87 課金ライン 91 設計データ 95 マスク製造用データ記憶装置 96 マスク製造装置記憶装置

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 顧客端末からマスクの描画に必要な描画
    データと描画予約条件を受信する描画データ受信手段
    と、 前記描画データを格納する描画データ記憶装置と、 複数の描画装置の性能情報を格納する描画装置記憶装置
    と、 前記描画予約条件に基づき前記描画装置記憶装置から前
    記描画予約条件に合致する描画装置を検索し、候補とな
    る描画装置のリストを作成し、前記顧客端末へ送信する
    描画装置検索手段と、 前記顧客端末において指定された描画装置の指定情報を
    前記顧客端末から受信し、前記指定された描画装置にマ
    スクの描画依頼を送信する描画装置予約手段とからなる
    ことを特徴とする描画支援システム。
  2. 【請求項2】 更に、前記指定された描画装置を実際に
    使用した時間に基づき請求金額を計算し、前記顧客端末
    へ請求する描画装置課金手段と、 前記描画データ記憶装置から前記描画データを削除する
    描画データ削除手段の少なくともいずれか一方を更に有
    することを特徴とする請求項1記載の描画支援システ
    ム。
  3. 【請求項3】 前記描画予約条件に基づき、描画時間を
    予測する描画時間予測手段と、 前記指定された描画装置においてマスクを描画するため
    の描画条件の詳細を設定する描画条件設定手段と、 前記指定された描画装置からマスクの描画状況を受信
    し、前記顧客端末へ送信する描画モニタ手段とを更に有
    することを特徴とする請求項1又は2記載の描画支援シ
    ステム。
  4. 【請求項4】 顧客端末からマスクの製造に必要なデー
    タと予約条件を受信するデータ受信手段と、 前記データを格納するマスク製造用データ記憶装置と、 マスク製造関連装置群を構成する各装置の性能情報を格
    納するマスク製造装置記憶装置と、 前記予約条件に基づき前記マスク製造装置記憶装置から
    前記予約条件に合致する装置を検索し、候補となる装置
    のリストを作成し、前記顧客端末へ送信するマスク製造
    装置検索手段と、 前記顧客端末において指定された装置の指定情報を前記
    顧客端末から受信し、前記指定された装置に前記マスク
    の製造工程の少なくとも一部の工程を実施する依頼を送
    信するマスク製造装置予約手段と、 とからなることを特徴とするマスク製造支援システム。
  5. 【請求項5】 前記指定された装置を実際に使用した時
    間に基づき請求金額を計算し、前記顧客端末へ請求する
    課金手段と、 前記マスク製造用データ記憶装置から前記データを削除
    するデータ削除手段の少なくともいずれか一方を更に有
    することを特徴とする請求項4記載のマスク製造支援シ
    ステム。
  6. 【請求項6】 前記予約条件に基づき、前記指定された
    装置の使用時間を予測する時間予測手段と、 前記指定された製造装置においてマスクを製造するため
    の製造条件の詳細を設定する条件設定手段と、 前記指定された装置から対応する工程の進行状況を受信
    し、前記顧客端末へ送信するモニタ手段とからなること
    を特徴とする請求項4又は5記載のマスク製造支援シス
    テム。
  7. 【請求項7】 前記予約条件に基づき、受注範囲を認識
    し判断する受注範囲認識手段を更に有することを特徴と
    する請求項4乃至6記載のマスク製造支援システム。
  8. 【請求項8】 前記マスク製造関連装置群は、 設計データに基づきマスクパターンを設計しマスクの描
    画データを生成するCADと、 前記描画データに基づき前記マスクパターンをマスク基
    板上の遮光膜の上部に塗布されたレジスト膜を露光し描
    画する描画装置と、 露光された前記レジスト膜を現像する現像装置と、 現像された前記レジスト膜を用いて遮光層を選択的にエ
    ッチングするエッチング装置と、 前記レジスト膜を除去するアッシング装置と、 エッチングされた前記マスクパターンにおける欠陥の有
    無を検出するマスク検査装置と、 前記マスク検査装置において検出された前記マスクパタ
    ーンにおける欠陥を修正するマスク修正装置の1又は2
    以上の装置を含むことを特徴とする請求項4乃至7記載
    のマスク製造支援システム。
  9. 【請求項9】 前記受注範囲は、前記設計装置、前記描
    画装置、前記現像装置、前記エッチング装置、前記アッ
    シング装置、前記マスク検査装置、前記マスク修正装置
    の1又は2以上の装置を指定し定めることを特徴とする
    請求項4乃至8記載のマスク製造支援システム。
  10. 【請求項10】 顧客端末からマスクの描画に必要な描
    画データと描画予約条件を受信するステップと、 前記描画データを描画データ記憶装置に格納するステッ
    プと、 複数の描画装置の性能情報を描画装置記憶装置に格納す
    るステップと、 前記予約条件に基づき、前記描画装置記憶装置から該予
    約条件に合致する描画装置を検索し、候補となる描画装
    置のリストを作成し、前記顧客端末へ送信するステップ
    と、 前記顧客端末において指定された描画装置の指定情報を
    前記顧客端末から受信し、前記指定された描画装置に前
    記描画依頼を送信するステップと、 とからなることを特徴とする描画支援方法。
  11. 【請求項11】 前記指定された描画装置を実際に使用
    した時間に基づき請求金額を計算し、前記顧客端末へ請
    求するステップと、 前記描画データ記憶装置から前記描画データを削除する
    ステップの少なくともいずれか一方を更に有することを
    特徴とする請求項10記載の描画支援方法。
  12. 【請求項12】 前記描画予約条件に基づき、描画時間
    を予測するステップと、 前記指定された描画装置においてマスクを描画するため
    の描画条件の詳細を設定するステップと、 前記指定された描画装置からマスクの描画状況を受信
    し、前記顧客端末へ送信するステップとを更に有するこ
    とを特徴とする請求項10又は11記載の描画支援方
    法。
  13. 【請求項13】 顧客端末からマスクの製造に必要なデ
    ータと予約条件を受信するステップと、 前記データをマスク製造用データ記憶装置に格納するス
    テップと、 複数のマスク製造関連装置群を構成する各装置の性能情
    報をマスク製造装置記憶装置に格納するステップと、 前記予約条件に基づき前記マスク製造装置記憶装置から
    予約条件に合致する装置を検索し、候補となる装置のリ
    ストを作成し、前記顧客端末へ送信するステップと、 前記顧客端末において指定された装置の指定情報を前記
    顧客端末から受信し、前記指定された装置に前記マスク
    の製造依頼を送信するステップと、 とからなることを特徴とするマスク製造支援方法。
  14. 【請求項14】 前記指定された装置を実際に使用した
    時間に基づき請求金額を計算し、前記顧客端末へ請求す
    るステップと、 前記マスク製造用データ記憶装置から前記マスク製造用
    データを削除するステップの少なくともいずれか一方を
    更に有することを特徴とする請求項13記載のマスク製
    造支援方法。
  15. 【請求項15】 前記予約条件に基づき、前記指定され
    た装置の使用時間を予測するステップと、 前記指定された装置においてマスクを製造するための製
    造条件の詳細を設定するステップと、 前記指定された装置から対応する工程の進行状況を受信
    し、前記顧客端末へ送信するステップとからなることを
    特徴とする請求項13又は14記載のマスク製造支援方
    法。
  16. 【請求項16】 前記マスクの製造依頼に基づき、受注
    範囲を認識し判断するステップを更に有することを特徴
    とする請求項13乃至15記載のマスク製造支援方法。
  17. 【請求項17】 前記マスク製造関連装置群は、 設計データに基づきマスクパターンを設計しマスクの描
    画データを生成する設計工程と、 前記描画データに基づき前記マスクパターンをマスク基
    板上の遮光膜の上部に塗布されたレジスト膜を露光し描
    画する描画工程と、 露光された前記レジスト膜を現像する現像工程と、 現像された前記レジスト膜を用いて遮光層を選択的にエ
    ッチングするエッチング工程と、 前記レジスト膜を除去するアッシング工程と、 エッチングされた前記マスクパターンにおける欠陥の有
    無を検出するマスク検査工程と、 前記マスク検査装置において検出された前記マスクパタ
    ーンにおける欠陥を修正するマスク修正工程の1又は2
    以上の工程を含むことを特徴とする請求項13乃至16
    記載のマスク製造支援方法。
JP2002090029A 2002-03-27 2002-03-27 描画支援システム、描画支援方法、マスク製造支援システム、及びマスク製造支援方法 Pending JP2003288496A (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002090029A JP2003288496A (ja) 2002-03-27 2002-03-27 描画支援システム、描画支援方法、マスク製造支援システム、及びマスク製造支援方法
TW092106366A TWI221570B (en) 2002-03-27 2003-03-21 LSI mask manufacturing system, LSI mask manufacturing method and LSI mask manufacturing program
DE60307154T DE60307154T2 (de) 2002-03-27 2003-03-25 System, Methode und Programm zur LSI-Masken-Herstellung
EP03006732A EP1349091B1 (en) 2002-03-27 2003-03-25 LSI mask manufacturing system, LSI mask manufacturing method and LSI mask manufacturing program
US10/397,543 US7047094B2 (en) 2002-03-27 2003-03-26 LSI mask manufacturing system, LSI mask manufacturing method and LSI mask manufacturing program
CN03121241A CN1447384A (zh) 2002-03-27 2003-03-27 Lsi掩模制造系统、lsi掩模制造方法及lsi掩模制造程序

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002090029A JP2003288496A (ja) 2002-03-27 2002-03-27 描画支援システム、描画支援方法、マスク製造支援システム、及びマスク製造支援方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003288496A true JP2003288496A (ja) 2003-10-10

Family

ID=27800498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002090029A Pending JP2003288496A (ja) 2002-03-27 2002-03-27 描画支援システム、描画支援方法、マスク製造支援システム、及びマスク製造支援方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7047094B2 (ja)
EP (1) EP1349091B1 (ja)
JP (1) JP2003288496A (ja)
CN (1) CN1447384A (ja)
DE (1) DE60307154T2 (ja)
TW (1) TWI221570B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006174466A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Microsoft Corp データ処理における暗号化技術の信用できる信頼性の高い実施
JP2016119352A (ja) * 2014-12-19 2016-06-30 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1168024C (zh) * 2000-02-16 2004-09-22 西默股份有限公司 光刻制版激光器的处理监视系统
US7260442B2 (en) * 2004-03-03 2007-08-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method and system for mask fabrication process control
EP2700081B1 (en) 2011-04-22 2022-11-02 ASML Netherlands B.V. Network architecture for lithography machine cluster
JP6128744B2 (ja) * 2012-04-04 2017-05-17 キヤノン株式会社 描画装置、描画方法、および、物品の製造方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5821422B2 (ja) * 1980-12-26 1983-04-30 株式会社東芝 荷電ビ−ム露光装置
JPS57180128A (en) * 1981-04-30 1982-11-06 Toshiba Corp Equipment for electron beam exposure
US5495417A (en) * 1990-08-14 1996-02-27 Kabushiki Kaisha Toshiba System for automatically producing different semiconductor products in different quantities through a plurality of processes along a production line
JP3336436B2 (ja) * 1991-04-02 2002-10-21 株式会社ニコン リソグラフィシステム、情報収集装置、露光装置、及び半導体デバイス製造方法
AU7652496A (en) * 1995-12-29 1997-07-03 Deluxe Corporation Remote printing system
JP3431387B2 (ja) * 1996-03-14 2003-07-28 株式会社東芝 露光強度分布表示方法とマスクパターン編集装置
US6051347A (en) * 1999-03-18 2000-04-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Application of e-beam proximity over-correction to compensate optical proximity effect in optical lithography process
US6347258B1 (en) * 1999-09-23 2002-02-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Data structure of a product technology and a method of preparing the same
US6952656B1 (en) * 2000-04-28 2005-10-04 Applied Materials, Inc. Wafer fabrication data acquisition and management systems
JP2002075820A (ja) 2000-08-24 2002-03-15 Hitachi Ltd 半導体製造装置の使用許諾システムおよび使用許諾方法
JP2002092062A (ja) 2000-09-13 2002-03-29 Yamaha Corp 集積回路設計装置及び方法並びにそのプログラムを記憶した記憶媒体
JP2002149754A (ja) 2000-11-07 2002-05-24 Toshiba Microelectronics Corp 作業管理システム及び作業管理方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006174466A (ja) * 2004-12-13 2006-06-29 Microsoft Corp データ処理における暗号化技術の信用できる信頼性の高い実施
JP2016119352A (ja) * 2014-12-19 2016-06-30 株式会社ニューフレアテクノロジー 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法
US10153130B2 (en) 2014-12-19 2018-12-11 Nuflare Technology, Inc. Charged particle beam drawing apparatus and charged particle beam drawing method

Also Published As

Publication number Publication date
US20030188289A1 (en) 2003-10-02
TW200305093A (en) 2003-10-16
US7047094B2 (en) 2006-05-16
EP1349091B1 (en) 2006-08-02
EP1349091A2 (en) 2003-10-01
DE60307154D1 (de) 2006-09-14
DE60307154T2 (de) 2007-10-25
CN1447384A (zh) 2003-10-08
TWI221570B (en) 2004-10-01
EP1349091A3 (en) 2003-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101151958B1 (ko) 포토마스크 주문을 자동으로 생성 및 처리하기 위한포괄적인 전단 방법 및 시스템
US6996450B2 (en) Automated manufacturing system and method for processing photomasks
US6968530B2 (en) Network-based photomask data entry interface and instruction generator for manufacturing photomasks
US8103656B2 (en) Integrated distributed query processor for data grids
TWI278766B (en) Rule based system and method for automatically generating photomask orders
JP2008299371A (ja) 移動履歴調査システム、サーバ及びそのプログラム
JP4480621B2 (ja) ジョブ管理装置、ジョブ管理システム、ジョブ管理プログラム及び記録媒体
JP2003288496A (ja) 描画支援システム、描画支援方法、マスク製造支援システム、及びマスク製造支援方法
JP2008523498A (ja) フォトマスク注文の生成に使用できる論理オペレーションユーティリティを使用してツーリング仕様を自動的に生成するためのシステム及び方法
US20050125763A1 (en) System and method for the online design of a reticle field layout
TWI440967B (zh) 光罩之製造方法
CN116308132A (zh) 一种基于工作流引擎的自动化办公方法和系统
JP2000076193A (ja) 電子情報共有セキュリティシステム及び電子情報共有セキュリティプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能記録媒体
TW200401990A (en) Method of selecting mask manufacturer of photomask
JP2009288875A (ja) 資料作成支援装置、資料作成支援方法、およびプログラム
JP2003188089A (ja) 露光条件算出方法、露光条件算出プログラム、記録媒体、レチクルの製造方法、構造体の製造方法、装置及び露光条件算出サービス提供方法
JP7143651B2 (ja) 情報処理装置、情報処理システム及びプログラム
JP4825471B2 (ja) ケーブル心線管理システム
JP2009070291A (ja) 画像形成装置及び情報処理方法
JP5448598B2 (ja) パーティクル発生要因判定システム、課金方法、及び記憶媒体
CN118778377A (zh) 光刻机的工艺程序设置方法
JPH10187842A (ja) ワークフローシステム及びワークフローシステムの文書保管方法
JP2001344289A (ja) 構造物の製造方法、その製造支援システム用コンピュータ、製造支援方法、ジョブ管理システム用コンピュータ、ジョブ管理方法、及びジョブ管理プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体
EA009013B1 (ru) Комплексный интерфейсный способ и система для автоматического создания и обработки заказов на фотомаски
JP2003114792A (ja) 印刷組織選択装置および印刷プロファイル選択装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060327

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060523