JP2003272155A - 光ディスク記録方法、光ディスク記録装置、及び光ディスク記録プログラム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】追記型光ディスクの記録面が光の照射により劣
化した際も、記録されたデータの再生信号品位の悪化を
抑制して、追記型光ディスクに記録したデータの耐光
性、耐久性を向上させる。 【解決手段】本データを追記型光ディスクへ記録する前
に、記録出力のレーザ光を照射して、該光ディスクに試
し書きデータを記録する試し書き工程と、該試し書きデ
ータの記録箇所を含む領域に記録出力よりも小さい再生
出力のレーザ光を照射して、該試し書きデータを再生し
て、再生信号品位の測定を行う再生測定工程と、の間
に、試し書きデータの記録箇所を含む領域へ所定の出力
のレーザ光を所定回数照射する。よって、この領域を劣
化させることができるので、この状態で最適な記録パラ
メータを設定することで、光ディスクが光の照射を受け
て劣化してきても、本データの再生記録品位の悪化を抑
制することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、追記型光ディス
クに記録したデータの耐光性を向上させる技術に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒなどの追記型光デ
ィスク（以下、単に光ディスクとも称する。）は、１度
だけデータを記録可能なメディアである。追記型光ディ
スクは、図６に示したような構造である。図６は、追記
型光ディスクの一例であるＣＤ−Ｒの概略の斜視構造図
である。ＣＤ−Ｒは、ポリカーボネート層（基板）、有
機色素層（記録層）、反射層、及び保護層（オーバコー
ト層）がこの順に積層された構造である。また、記録層
にレーザ光が照射されると有機色素が熱により変化し、
それに伴ってポリカーボネート層も変化することでデー
タの記録が行われる。

【０００３】光ディスクの記録層には、主に、シアニン
系、フタロシアニン系、アゾ系の有機色素が使用され
る。フタロシアニン系及びアゾ系の有機色素は、耐光性
に優れている。一方、シアニン系の有機色素は、フタロ
シアニン系及びアゾ系の有機色素に比べて耐光性が多少
劣るが、有機色素に耐光剤（光劣化防止剤）が混合され
て、耐光性の向上が図られている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、追記型
光ディスクの記録面に直射日光や蛍光灯の光などが長時
間が当たると、記録面が劣化して退色が発生する。この
劣化により、Ｃ１エラーが発生したりジッタが悪くなっ
たりし、さらには、Ｃ２エラーが発生することもある。
そのため、追記型光ディスクに記録した音楽データの音
質が悪くなったり、記録データを再生できなくなったり
する。

【０００５】この問題は、直射日光や蛍光灯の光などが
当たる場所に光ディスクを保管せずに、冷暗所に保管す
ることで防止できる。また、光ディスク記録装置で追記
型光ディスクへデータを記録したり、光ディスク再生装
置で追記型光ディスクに記録したデータを再生したりす
るために、光ディスクを装置に出し入れする際に、直射
日光や蛍光灯の光などが極力当たらないように取り扱う
と、さらに効果的である。

【０００６】一方、上記のように直射日光などの光が追
記型光ディスクに当たらないように注意を払っていて
も、追記型光ディスクに記録したデータを光ディスク再
生装置で何度も再生すると、再生信号品位が悪くなると
いう問題がある。例えば、追記型光ディスクに記録した
好みの曲を、光ディスク再生装置のリピート機能などを
用いて何度も再生すると、Ｃ１エラーの発生やジッタの
悪化などにより、音質が徐々に悪くなる。この現象は、
追記型光ディスクの同じ箇所を何度も再生すると、その
箇所にレーザ光が集中的に照射されるため、追記型光デ
ィスクに直射日光などの光が長時間当たった場合と同様
に、光ディスクの記録面が劣化するために起こるのであ
る。

【０００７】この問題の解決方法の１つに、本願出願人
が提案・実施している記録方法であるオーディオマスタ
（Audio MASTER）（商標）がある。この方法は、追記型
光ディスクにデータを記録する際に形成するピットとラ
ンドの長さを、該光ディスクが規定するその長さよりも
長くするものであり、相対的にノイズの原因となるジッ
タを抑制することができる。なお、オーディオマスタで
記録された音楽ＣＤは、線速１．４ｍ／ｓで再生可能で
あり、レッドブックが規定する線速度１．２〜１．４ｍ
／ｓを満たしている。よって、この方法で記録した光デ
ィスクは、他の光ディスク再生装置でも問題なく再生す
ることができる。

【０００８】このように、オーディオマスタは、追記型
光ディスクに記録したデータの耐久性を向上させる優れ
た技術である。しかしながら、オーディオマスタで記録
した追記型光ディスクであっても、追記型光ディスクの
記録面が光の照射により劣化した際には、光ディスクに
記録されたデータの再生信号品位は悪化してしまう。

【０００９】そこで、本発明では、上記の問題を解決す
るために、追記型光ディスクの記録面が光の照射により
劣化した際も、記録されたデータの再生信号品位の悪化
を抑制して、追記型光ディスクに記録したデータの耐光
性、耐久性を向上させることができる光ディスク記録方
法、光ディスク記録装置、及び光ディスク記録プログラ
ムを提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を解決するための手段として、以下の構成を備えてい
る。

【００１１】（１）本データを光ディスクへ記録する前
に、記録出力の光ビームを照射して、該光ディスクに試
し書きデータを記録する試し書き工程と、該試し書きデ
ータの記録箇所を含む領域に記録出力よりも小さい再生
出力の光ビームを照射して、該試し書きデータを再生し
て、再生信号品位の測定を行う再生測定工程と、該再生
信号品位の測定結果に基づいて、該光ディスクへデータ
を記録する際の最適な記録パラメータを設定するパラメ
ータ設定工程と、を含む光ディスク記録方法において、
上記試し書き工程と上記再生測定工程との間に、該試し
書きデータの記録箇所を含む領域へ所定の出力の光ビー
ムを所定回数照射することを特徴とする。

【００１２】この構成において、本データを光ディスク
へ記録する前に、記録出力の光ビームを照射して、該光
ディスクに試し書きデータを記録する試し書き工程と、
該試し書きデータの記録箇所を含む領域に記録出力より
も小さい再生出力の光ビームを照射して、該試し書きデ
ータを再生して、再生信号品位の測定を行う再生測定工
程と、の間に、試し書きデータの記録箇所を含む領域へ
所定の出力の光ビームを所定回数照射する。したがっ
て、試し書き工程で記録した試し書きデータに所定の出
力の光ビームを所定回数照射することによって、試し書
きデータの記録箇所を含む領域を劣化させることができ
る。そのため、この状態で最適な記録パラメータをパラ
メータ設定工程で設定することで、光ディスクが光の照
射を受けて劣化してきても、本データの再生記録品位の
悪化を抑制することが可能となる。

【００１３】（２）本データを光ディスクへ記録する前
に、記録出力の光ビームを照射して、該光ディスクに試
し書きデータを記録する試し書き工程と、該試し書きデ
ータの記録箇所を含む領域へ再生出力の光ビームを照射
して、該試し書きデータを再生して、再生信号品位の測
定を行う再生測定工程と、該再生信号品位の測定結果に
基づいて、該光ディスクへデータを記録する際の最適な
記録パラメータを設定するパラメータ設定工程と、を含
む光ディスク記録方法において、上記試し書き工程の前
に、該試し書きデータの記録予定箇所を含む領域へ所定
の出力の光ビームを所定回数照射することを特徴とす
る。

【００１４】この構成において、本データを光ディスク
へ記録する前に、記録出力の光ビームを照射して、該光
ディスクに試し書きデータを記録する試し書き工程の前
に、該試し書きデータの記録予定箇所を含む領域へ所定
の出力の光ビームを所定回数照射する。したがって、試
し書き工程の前に光ディスクへ光ビームを照射すること
で、データを未記録の光ディスクへ光を照射して記録面
を劣化させることができる。そのため、この状態で試し
書きデータを記録・再生して、最適な記録パラメータを
パラメータ設定工程で設定することで、光ディスクが光
の照射を受けて劣化した状態でも、記録した本データの
再生記録品位の悪化を抑制することが可能となる。

【００１５】（３）前記所定回数照射する光ビームの出
力は、前記再生出力以上で前記記録出力未満の大きさで
あることを特徴とする。

【００１６】この構成において、再生出力以上で記録出
力未満の出力である光ビームを所定回数光ディスクへ照
射する。したがって、光ディスクへ誤ってデータを記録
することなく短時間で、光ディスクを光の照射を受けて
劣化した状態にすることが可能となる。

【００１７】（４）前記所定回数照射する光ビームを、
１回照射する毎に停止せずに、所定回数連続して照射す
ることを特徴とする。

【００１８】この構成において、光ディスクへ所定回数
照射する光ビームは、１回照射する毎に停止せずに、所
定回数連続して照射する。したがって、光ディスクが光
の照射を受けて劣化した状態に短時間ですることが可能
となる。

【００１９】（５）本データを光ディスクへ記録する前
に、記録出力の光ビームを照射して、該光ディスクへ試
し書きデータを記録するデータ記録手段と、該試し書き
データの記録箇所を含む領域に記録出力よりも小さい再
生出力の光ビームを照射して、該試し書きデータを再生
する再生手段と、該試し書きデータの再生信号品位を測
定する信号品位測定手段と、該再生信号品位の測定結果
に基づいて、該光ディスクへ本データを記録する際の最
適な記録パラメータを設定するパラメータ設定手段と、
上記試し書き工程と上記再生測定工程との間に、該試し
書きデータの記録箇所を含む領域へ所定の出力の光ビー
ムを所定回数照射するように、上記データ記録手段を制
御する制御手段と、を備えたことを特徴とする。

【００２０】この構成において、光ディスク記録装置
は、本データを光ディスクへ記録する前に、記録出力の
光ビームを照射して、該光ディスクへ試し書きデータを
記録するデータ記録手段と、該試し書きデータの記録箇
所を含む領域に記録出力よりも小さい再生出力の光ビー
ムを照射して、該試し書きデータを再生する再生手段
と、該試し書きデータの再生信号品位を測定する信号品
位測定手段と、該再生信号品位の測定結果に基づいて、
該光ディスクへ本データを記録する際の最適な記録パラ
メータを設定するパラメータ設定手段と、上記試し書き
工程と上記再生測定工程との間に、該試し書きデータの
記録箇所を含む領域へ所定の出力の光ビームを所定回数
照射するように、上記データ記録手段を制御する制御手
段と、を備えている。したがって、（１）と同様の効果
を得ることができる。

【００２１】（６）本データを光ディスクへ記録する前
に、記録出力の光ビームを照射して、該光ディスクへ試
し書きデータを記録するデータ記録手段と、該試し書き
データの記録箇所を含む領域に記録出力よりも小さい再
生出力の光ビームを照射して、該試し書きデータを再生
する再生手段と、該試し書きデータの再生信号品位を測
定する信号品位測定手段と、該再生信号品位の測定結果
に基づいて、該光ディスクへ本データを記録する際の最
適な記録パラメータを設定するパラメータ設定手段と、
上記試し書き工程の前に、該試し書きデータの記録予定
箇所を含む領域へ所定の出力の光ビームを所定回数照射
するように、上記データ記録手段を制御する制御手段
と、を備えたことを特徴とする。

【００２２】この構成において、光ディスク記録装置
は、本データを光ディスクへ記録する前に、記録出力の
光ビームを照射して、該光ディスクへ試し書きデータを
記録するデータ記録手段と、該試し書きデータの記録箇
所を含む領域に記録出力よりも小さい再生出力の光ビー
ムを照射して、該試し書きデータを再生する再生手段
と、該試し書きデータの再生信号品位を測定する信号品
位測定手段と、該再生信号品位の測定結果に基づいて、
該光ディスクへ本データを記録する際の最適な記録パラ
メータを設定するパラメータ設定手段と、上記試し書き
工程の前に、該試し書きデータの記録予定箇所を含む領
域へ所定の出力の光ビームを所定回数照射するように、
上記データ記録手段を制御する制御手段と、を備えてい
る。したがって、（２）と同様の効果を得ることができ
る。

【００２３】（７）前記制御手段は、前記所定回数照射
する光ビームの出力を、前記再生出力以上で前記記録出
力未満の大きさに制御することを特徴とする。

【００２４】この構成において、光ディスク記録装置で
は、制御手段で光ビームの出力を、再生出力以上で記録
出力未満の大きさに制御して、光ディスクへ所定回数照
射する。したがって、（３）と同様の効果を得ることが
できる。

【００２５】（８）前記制御手段は、前記所定回数照射
する光ビームを、１回照射する毎に停止せずに、所定回
数連続して照射することを特徴とする。

【００２６】この構成において、光ディスク記録装置で
は、制御手段で所定回数照射する光ビームを、１回照射
する毎に停止せずに、所定回数連続して照射するように
制御する。したがって、（４）と同様の効果を得ること
ができる。

【００２７】（９）光ディスク記録装置の制御手段に、
本データを光ディスクへ記録する前に、記録出力の光ビ
ームを照射して、該光ディスクに試し書きデータを記録
する手順、該試し書きデータの記録箇所を含む領域へ所
定の出力の光ビームを所定回数照射する手順、該試し書
きデータの記録箇所を含む領域に記録出力よりも小さい
再生出力の光ビームを照射して、該試し書きデータを再
生して、再生信号品位の測定を行う手順、該再生信号品
位の測定結果に基づいて、該光ディスクへデータを記録
する際の最適な記録パラメータを設定する手順、を実行
させる。

【００２８】この構成において、本データを光ディスク
へ記録する前に、記録出力の光ビームを照射して、該光
ディスクに試し書きデータを記録する手順、該試し書き
データの記録箇所を含む領域へ所定の出力の光ビームを
所定回数照射する手順、該試し書きデータの記録箇所を
含む領域に記録出力よりも小さい再生出力の光ビームを
照射して、該試し書きデータを再生して、再生信号品位
の測定を行う手順、該再生信号品位の測定結果に基づい
て、該光ディスクへデータを記録する際の最適な記録パ
ラメータを設定する手順、を光ディスク記録装置の制御
手段に実行させることで、光ディスクに記録するデータ
の耐光性を向上させることが可能となる。したがって、
（１）と同様の効果を得ることができる。

【００２９】（１０）光ディスク記録装置の制御手段
に、光ディスクの試し書きデータの記録予定箇所を含む
領域へ所定の出力の光ビームを所定回数照射する手順、
本データを光ディスクへ記録する前に、記録出力の光ビ
ームを照射して、該光ディスクに試し書きデータを記録
する手順、該試し書きデータの記録箇所を含む領域へ再
生出力の光ビームを照射して、該試し書きデータを再生
して、再生信号品位の測定を行う手順、該再生信号品位
の測定結果に基づいて、該光ディスクへデータを記録す
る際の最適な記録パラメータを設定する手順、を実行さ
せる。

【００３０】この構成において、光ディスクの試し書き
データの記録予定箇所を含む領域へ所定の出力の光ビー
ムを所定回数照射する手順、本データを光ディスクへ記
録する前に、記録出力の光ビームを照射して、該光ディ
スクに試し書きデータを記録する手順、該試し書きデー
タの記録箇所を含む領域へ再生出力の光ビームを照射し
て、該試し書きデータを再生して、再生信号品位の測定
を行う手順、該再生信号品位の測定結果に基づいて、該
光ディスクへデータを記録する際の最適な記録パラメー
タを設定する手順、を光ディスク記録装置の制御手段に
実行させることで、光ディスクに記録するデータの耐光
性を向上させることが可能になる。したがって、（２）
と同様の効果を得ることができる。

【００３１】

【発明の実施の形態】［第１実施形態］図１は、本発明
の実施形態に係る光ディスク記録装置の構成を示したブ
ロック図である。本実施形態では、光ディスクに照射す
る光ビームとしてレーザ光を用いる構成を示す。図１に
示したように、光ディスク記録装置１は、光ピックアッ
プ１０、スピンドルモータ１１、ＲＦアンプ１２、サー
ボ回路１３、ＡＴＩＰ検出回路１４、デコーダ１５、パ
ラメータ設定手段及び制御手段である制御部１６、エン
コーダ１７、ストラテジ回路１８、レーザドライバ１
９、レーザパワー制御回路２０、周波数発生器２１、エ
ンベロープ検出回路２２、再生信号品位測定手段である
再生信号品位検出回路部２４、記憶部２５、操作部２
７、及び表示部２８を備えている。また、光ピックアッ
プ１０、サーボ回路１３、エンコーダ１７、ストラテジ
回路１８、レーザドライバ１９及びレーザパワー制御回
路２０によって、データの記録手段である記録部２９が
構成されている。さらに、光ピックアップ１０及びＲＦ
アンプ１２によって、データの再生手段である再生部３
０が構成されている。

【００３２】スピンドルモータ１１は、データの記録対
象である光ディスクＤを回転駆動するモータである。ま
た、スピンドルモータの回転軸先端部には、光ディスク
を保持（チャッキング）するためのターンテーブルなど
からなる図外の光ディスク保持機構が設けられている。

【００３３】光ピックアップ１０は、レーザダイオー
ド、レンズ及びミラーなどの光学系、戻り光（反射光）
受光素子、並びにフォーカスサーボ機構などを備えてい
る。また、記録及び再生時にはレーザ光を光ディスクＤ
に対して照射して、光ディスクＤからの戻り光を受光し
て受光信号であるＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulati
on）変調されたＲＦ信号をＲＦアンプ１２に出力する。
なお、フォーカスサーボ機構は、光ピックアップ１０の
レンズと光ディスクのデータ面との距離を一定に保つた
めのサーボ機構である。また、光ピックアップ１０は、
モニタダイオードを備えており、光ディスクＤの戻り光
によってモニタダイオードに電流が生じ、この電流がレ
ーザパワー制御回路２０へ供給されるようになってい
る。

【００３４】周波数発生器２１は、スピンドルモータ１
１が出力した回転角度や回転数を検出して、その信号を
サーボ回路１３に出力する。

【００３５】ＲＦアンプ１２は、光ピックアップ１０か
ら供給されるＥＦＭ変調されたＲＦ信号を増幅して、増
幅後のＲＦ信号をサーボ回路１３、ＡＴＩＰ検出回路１
４、エンベロープ検出回路２２、再生信号品位を測定す
る再生信号品位検出回路部２４、及びデコーダ１５に出
力する。

【００３６】デコーダ１５は、再生時には、ＲＦアンプ
１２から供給されるＥＦＭ変調されたＲＦ信号をＥＦＭ
復調して再生データを生成し、記憶部２５に出力する。
また、デコーダ１５は、記録時には、テスト記録によっ
て記録された領域を再生する際に、ＲＦアンプ１２から
供給されたＲＦ信号をＥＦＭ復調する。

【００３７】本実施形態に係る光ディスク記録装置１で
は、データを記録する際に、本データの記録に先立ち、
光ディスクＤの内周側のＰＣＡ（Power Calibration Ar
ea）領域にテスト記録を行う。そして、このテスト記録
した領域の再生結果に基づいて、光ディスクＤに対して
良好な記録を行える記録条件を求めるように構成されて
いる。

【００３８】ここで、光ディスクＤのテスト記録を行う
領域について、図２を用いて説明する。図２は、光ディ
スクの領域構成を示した断面図である。光ディスクＤの
外径は１２０ｍｍであり、光ディスクＤの直径４６〜５
０ｍｍの区間がリードイン領域１１４として用意され、
その外周側にデータを記録するプログラム領域１１８及
び残余領域１２０が用意されている。一方、リードイン
領域１１４よりも内周側には、内周側ＰＣＡ領域１１２
が用意されている。また、内周側ＰＣＡ領域１１２に
は、テスト領域１１２ａと、カウント領域１１２ｂと、
が用意されている。このテスト領域１１２ａには、前述
のように本記録に先立ち、テスト記録が実施される。こ
こで、テスト領域１１２ａとしては、テスト記録を複数
回行える領域が用意されている。また、カウント領域１
１２ｂには、テスト記録終了時にテスト領域１１２ａの
どの部分まで記録が終了しているかを示すＥＦＭ信号が
記録される。したがって、次にこの光ディスクＤに対し
てテスト記録を行う際には、カウント領域１１２ｂのＥ
ＦＭ信号を検出することにより、テスト領域１１２ａの
どの位置からテスト記録を開始すれば良いかが、わかる
ようになっている。本実施形態に係る光ディスク記録装
置１では、データの本記録を行う前に上記のテスト領域
１１２ａへテスト記録を行っている。

【００３９】図１に戻り、記憶部２５は、デコーダ１５
から出力された光ディスクＤの再生データや、光ディス
ク記録装置１の外部から入力されたデータなどを一旦記
憶する。そして、再生時には記憶したデータを図外のデ
ータ再生部へ出力し、記録用光ディスクにデータを記録
する時には、記憶したデータをエンコーダ１７へ出力す
る。

【００４０】ＡＴＩＰ検出回路１４は、ＲＦアンプ１２
から供給されたＲＦ信号中に含まれるウォブル信号成分
を抽出し、このウォブル信号成分に含まれる各位置の時
間情報（アドレス情報）、及び光ディスクを識別する識
別情報（ディスクＩＤ）やディスクに使われている色素
などのディスクの種類を示す情報を復号し、制御部１６
に出力する。ここで、ウォブル信号成分とは、記録用光
ディスクの蛇行した記録トラックの蛇行周波数を表す信
号成分であり、時間情報や識別情報などは蛇行周波数を
ＦＭ変調することで記録されている。

【００４１】再生信号品位検出回路部２４は、光ディス
クＤのテスト記録領域を再生している時に、ＲＦアンプ
１２から供給されるＲＦ信号から再生信号品位に関係す
るβ値やアシンメトリを算出し、算出結果を制御部１６
に出力する。ここで、β値は、ＥＦＭ変調された信号波
形のピークレベル（符号は＋）をａ、ボトムレベル（符
号は−）をｂとすると、β＝（ａ＋ｂ）／（ａ−ｂ）で
求めることができる。

【００４２】エンベロープ検出回路２２は、光ディスク
Ｄへテスト記録を行う前に、光ディスクＤのテスト領域
１１２ａのどの部分からテスト記録を開始するかを検出
するために、上述した光ディスクＤのカウント領域１１
２ｂでのＥＦＭ信号のエンベロープを検出する。

【００４３】サーボ回路１３は、スピンドルモータ１１
の回転制御、並びに光ピックアップ１０のフォーカス制
御、トラッキング制御、及び送り制御を行う。本実施形
態に係る光ディスク記録装置１では記録時には、光ディ
スクＤを角速度一定で駆動する方式であるＣＡＶ（Cons
tant Angular Velocity）方式と、光ディスクＤを線速
度一定にして駆動する方式であるＣＬＶ（Constant Lin
ear Velocity）方式と、を切り替えることができるよう
になっている。そのため、サーボ回路１３は、制御部１
６から供給される制御信号に応じてＣＡＶ方式とＣＬＶ
方式とを切り替える。ここで、サーボ回路１３によるＣ
ＡＶ制御では、周波数発生器２１によって検出されるス
ピンドルモータ１１の回転数が、設定した回転数と一致
するように制御される。また、サーボ回路１３によるＣ
ＬＶ制御では、ＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号
中のウォブル信号が設定された速度倍率になるように、
スピンドルモータ１１が制御される。

【００４４】エンコーダ１７は、記憶部２５から供給さ
れる記録データをＥＦＭ変調し、ストラテジ回路１８に
出力する。ストラテジ回路１８は、エンコーダ１７から
供給されたＥＦＭ信号に対して時間軸補正処理などを行
い、レーザドライバ１９に出力する。レーザドライバ１
９は、ストラテジ回路１８から供給される記録データに
応じて変調された信号と、レーザパワー制御回路２０の
制御に従って光ピックアップ１０のレーザダイオードを
駆動する。

【００４５】レーザパワー制御回路２０は、光ピックア
ップ１０のレーザダイオードから照射されるレーザパワ
ーを制御する。具体的には、レーザパワー制御回路２０
は、光ピックアップ１０のモニタダイオードから供給さ
れる電流値と、制御部１６から供給される最適なレーザ
パワーの目標値を示す情報と、に基づいて、最適なレー
ザパワーのレーザ光が光ピックアップ１０から照射され
るように、レーザドライバ１９を制御する。

【００４６】制御部１６は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡ
Ｍ等から構成されており、ＲＯＭに格納されたプログラ
ムに従って光ディスク記録装置１の各部を制御する。ま
た、制御部１６は、上述したようにデータの本記録に先
立ち、光ディスク記録装置１にセットされた光ディスク
Ｄの所定の領域に対し、テスト記録を行うように装置の
各部を制御する。そして、制御部１６では、上述したテ
スト記録された領域を再生している際に得られる信号か
ら、信号品位検出回路２４によって検出されたβ値など
の再生信号品位に基づいて、光ディスク記録装置１がテ
スト記録を行った光ディスクＤに対して、再生信号品位
と、目標βやライトストラテジなどの装置記録パラメー
タ（記録条件）との関係を求めることにより、記録エラ
ーのない良好な記録を行う。

【００４７】記憶部２５は、実験などを予め行って求め
たデータなどを記憶しておくためのものである。操作部
２７は、光ディスクにデータを記録する操作を行うため
のものである。表示部２８は、操作部２７で行った操作
内容などユーザに伝達したい内容を、表示するためのも
のである。

【００４８】次に、光ディスク記録装置１における追記
型光ディスクＤへのデータ記録時の動作を説明する。通
常、光ディスク記録装置では、本データを光ディスクへ
記録する前にＯＰＣ（Optimum Power Control）とし
て、光ディスクへ試し書きデータを記録する試し書き
（テスト記録）工程と、試し書きデータを再生して、再
生信号品位の測定を行う再生測定工程と、再生信号品位
の測定結果に基づいて、光ディスクへ本データを記録す
る際の最適な記録パラメータを設定するパラメータ設定
工程と、を順に行う。また、本発明の第１実施形態に係
る光ディスク記録装置１では、ＯＰＣを行う際に、試し
書き工程と再生測定工程との間で、試し書き工程で記録
した試し書きデータに対して所定の回数、所定の出力
（レーザパワー）でレーザ光を照射する。

【００４９】つまり、光ディスクの試し書きデータの記
録領域にレーザ光を照射して、光ディスクの記録面が光
の照射により劣化した状態にする。よって、再生測定工
程では、試し書きデータの記録面が光の照射を受けて劣
化した状態である試し書きデータを再生して、再生信号
品位の測定を行うことになる。また、パラメータ設定工
程では、光ディスクの記録面が光の照射を受けて劣化し
た状態において、最適な再生信号品位が得られる記録パ
ラメータを設定することになる。したがって、この記録
パラメータで本データをプログラム領域に記録すること
で、同じデータや同じ曲を何回も再生したために、光デ
ィスクの記録面が劣化した状態になっても、再生信号品
位の良い状態で記録データを再生することができ、結果
的に、従来の方式に比べて再生信号品位の悪化が抑制さ
れる。また、データを記録した追記型光ディスクが、直
射日光や蛍光灯の光などの照射を長時間受けて記録面が
劣化した状態においても、同様に、再生信号品位の悪化
を抑制することができる。

【００５０】試し書きデータに照射するレーザ光の出力
（レーザパワー）は、例えば、データの再生出力にする
と良い。つまり、データを再生する際に照射するレーザ
光のレーザパワーに設定すると良い。また、試し書きデ
ータの記録箇所へのレーザ光の照射回数は、追記型光デ
ィスクの種類にもよるが、例えば、再生出力のレーザ光
を１０００回程度照射することで、劣化状態となる。こ
のように設定した場合、試し書き工程と再生測定工程と
の間に行う試し書きデータへのレーザ光照射工程は、数
分〜十数分程度で終了させることができる。なお、予め
実験を行ってデータ収集を行って、レーザ光の照射回数
を設定すると良い。

【００５１】ここで、光ディスク記録装置１において、
上記のように再生出力のレーザ光を１０００回程度照射
するように設定することもできるが、試し書きデータに
照射するレーザ光のパワーを大きくすることで、本発明
のＯＰＣ処理を短時間で終了させることができる。この
場合、照射するレーザ光のパワーの大きさは、データを
記録する際に照射するレーザ光のレーザパワーである記
録出力以上に設定すると、記録面にデータを記録してし
まうため、データの再生出力以上でデータの記録出力未
満の出力に設定すると良い。例えば、１倍速でデータの
再生を行う場合にレーザ光の再生出力が０．７ｍＷで、
レーザ光の記録出力が７．０ｍＷの場合、試し書きデー
タに照射するレーザ光の出力を１．４ｍＷに設定すると
良い。これにより、光ディスクの記録面に光を照射した
ために発生する劣化状態を、短時間で発生させることが
できる。なお、試し書きデータにレーザ光を照射する際
の光ディスクの回転速度や、レーザ光の照射回数に応じ
て、レーザ光の出力を変える必要がある。よって、予め
実験などを行って得たデータに基づいて、これらを設定
すると良い。

【００５２】また、短時間でＯＰＣの処理を終了させる
ために、所定回数照射するレーザ光を、１回照射する毎
に停止せずに、所定回数連続して照射するように設定す
ると良い。つまり、所定回数照射するレーザ光を１回照
射する毎に停止すると、毎回助走時間が必要となるた
め、この助走時間を短縮するために、例えば、光ディス
ク再生装置をポーズ状態にした時のように、試し書きデ
ータへレーザ光を照射しながらトラックキックするよう
に設定すると良い。

【００５３】図３は、試し書きデータの記録パターン、
及び本発明で行うトラックキックを説明するための図で
ある。図３（Ａ）に示したように、試し書き（テスト記
録）は、例えば１回のテスト記録で記録パワーを１５段
階に変化させて行い、１つの記録パワーにつき１サブコ
ードフレーム分のＥＦＭ信号を記録し、合計１５サブコ
ードフレーム分のＥＦＭ信号を記録して行う。この時、
１５サブコードフレームは、光ディスクの約５／３周分
になる。よって、図３（Ｂ）に示したように、２トラッ
クキックするように光ディスク記録装置１を設定してお
くことで、１５サブコードフレーム分のＥＦＭ信号（試
し書きデータ）に対して、連続的にレーザ光を照射する
ことができる。よって、この方法によっても、光ディス
クが光の照射を受けて劣化した状態を短時間で作ること
ができる。

【００５４】上記のレーザ光照射工程では、光ディスク
に記録した試し書きデータへレーザ光を照射する際に、
試し書きデータを記録した領域の前後の領域にもレーザ
光を照射すると良い。例えば、試し書きデータを記録し
た領域の前後一周にもレーザ光を照射するようにする。
上記のように試し書きデータの記録領域が１５サブコー
ドフレームの場合は、４トラックキックすることにな
る。これにより、試し書きデータを記録した箇所の隣接
トラックからの影響（クロストーク）を加味して、再生
信号品位の測定を行うことができる。

【００５５】また、前記のように、レーザ光照射工程で
照射するレーザ光のレーザパワーをデータの再生出力以
上でデータの記録出力未満の出力（以下、テスト出力と
も称する。）に設定する場合、試し書きデータの記録箇
所だけでなく、その前後の領域（助走領域）もテスト出
力のレーザ光を照射するように設定すると良い。トラッ
クキック動作している場合に、試し書きデータの記録箇
所のみ正確にテスト出力のレーザ光を照射するために
は、光ディスク記録装置の制御を厳密に行う必要があ
る。そのため、光ディスク記録装置の制御方法が複雑に
なってしまうが、上記のように、試し書きデータの記録
箇所、及びその前後の領域もテスト出力のレーザ光を照
射することで、一定のパワーでレーザ光の照射を行えば
よいため、制御方法を簡略化することができる。

【００５６】次に、本発明の第１実施形態に係る光ディ
スク記録装置のデータ記録時の動作についてフローチャ
ートを用いて説明する。図４は、本発明の第１実施形態
に係る光ディスク記録装置の動作の１例を説明するため
のフローチャートである。

【００５７】まず、ユーザは、データを記録するＣＤ−
Ｒを光ディスク記録装置１にセットして、データを記録
するために操作部２７を操作する。制御部１６は、ＣＤ
−Ｒがセットされて、操作部２７が操作されたことを検
出する（ｓ１）と、セットされた記録用光ディスクの種
類を判別するために、サーボの自動調整を行う。そし
て、制御部１６は、サーボ回路１３、レーザパワー制御
回路２０、エンコーダ１７にそれぞれ所定の信号を出力
する。これらの信号により、光ピックアップ１０からレ
ーザ光が記録用光ディスクに照射され、その戻り光が光
ピックアップ１０の受光素子で受光され、電気信号に変
換されてＲＦアンプ１２に出力される。ＲＦアンプ１２
で増幅されたこの信号は、ＡＴＩＰ検出回路１４に出力
されて、ＡＴＩＰ検出回路１４でＡＴＩＰ情報（アドレ
ス情報）が検出され制御部１６に出力される（ｓ２）。

【００５８】制御部１６は、この信号に基づいて光ディ
スクの種類を判別し、記憶部２５から記録パラメータの
データパターンを呼び出す（ｓ３）。そして、このデー
タと、記憶部２５に予め格納された実験データと、に基
づいて、テスト記録時の記録パラメータ、試し書きデー
タの記録箇所を含む領域に照射するレーザ光の出力（レ
ーザパワー）、及び照射回数を設定する（ｓ４）。

【００５９】設定後、制御部１６は、ＯＰＣを行うため
にサーボ回路１３、レーザパワー制御回路２０、エンコ
ーダ１７にそれぞれ所定の信号を出力し、ＰＣＡへ試し
書きデータのテスト記録を行う（ｓ５）。続いて、制御
部１６は、ｓ４にて設定したレーザ光の出力（レーザパ
ワー）、及び照射回数で、試し書きデータのテスト記録
を行った箇所を含む領域へ、レーザ光の照射を行う（ｓ
６）。さらに、レーザ光の照射後にテスト記録した個所
を再生し、その戻り光が光ピックアップ１０の受光素子
で受光されて電気信号に変換されて、ＲＦアンプ１２か
らは、増幅された信号が信号品位検出回路部２４に出力
される（ｓ７）。

【００６０】制御部１６は、信号品位検出回路部２４か
ら出力された信号などに基づいて、レーザ光の照射を受
けて記録面が劣化した状態において最適な再生信号品位
が得られるように、目標βやレーザパワーなどの記録パ
ラメータを設定する。そして、制御部１６は、図外のホ
スト装置から出力された記録用光ディスクに記録するデ
ータを出力させる（ｓ８）。このデータはエンコーダ１
７、ストラテジ回路１８、レーザドライバ１９を介して
光ピックアップ１０からレーザ光として照射され、ｓ８
で設定された記録パラメータで光ディスクにデータが記
録される（ｓ９）。データの記録が完了すると、光ディ
スク記録装置１は、表示部２８にデータの記録が完了し
たことを表示させて、処理を終了する（ｓ１０）。

【００６１】ここで、光ディスク記録装置１では、所定
のプログラムを実行させることで、上記のフローチャー
トを用いて説明した動作を実行させることができる。す
なわち、光ディスク記録装置１の制御部（制御手段）１
６に、本データを光ディスクへ記録する前に、記録出力
のレーザ光を照射して、該光ディスクに試し書きデータ
を記録する手順、該試し書きデータの記録箇所を含む領
域へ所定の出力のレーザ光を所定回数照射する手順、該
試し書きデータの記録箇所を含む領域に記録出力よりも
小さい再生出力のレーザ光を照射して、該試し書きデー
タを再生して、再生信号品位の測定を行う手順、該再生
信号品位の測定結果に基づいて、該光ディスクへデータ
を記録する際の最適な記録パラメータを設定する手順、
を実行させるための光ディスク記録プログラムを実行さ
せることで、上記のフローチャートを用いて説明した動
作を実行させることができる。

【００６２】また、上記のフローチャートを用いて説明
した動作は、通常光ディスク記録装置が備えている構成
で実行させることができる。よって、上記のプログラム
を既存の光ディスク記録装置で実行させることで、本発
明の光ディスク記録装置の動作をするように設定でき
る。

【００６３】［第２実施形態］次に、本発明の第２実施
形態について説明する。本発明の第２実施形態に係る光
ディスク記録装置２は、第１実施形態と同様に図１に示
した構成であるため、構成の説明を省略する。

【００６４】光ディスク記録装置２では、通常の光ディ
スク記録装置と同様に、本データを光ディスクへ記録す
る前にＯＰＣとして、光ディスクへ試し書きデータを記
録する試し書き工程と、試し書きデータを再生して、再
生信号品位の測定を行う再生測定工程と、再生信号品位
の測定結果に基づいて、光ディスクへ本データを記録す
る際の最適な記録パラメータを設定するパラメータ設定
工程と、を順に行う。また、本発明の第２実施形態に係
る光ディスク記録装置２では、試し書き工程の前に、該
試し書きデータの記録予定箇所を含む領域へ所定の出力
のレーザ光を所定回数照射する。

【００６５】つまり、試し書き工程の前に追記型光ディ
スクへレーザ光を照射することで、データを未記録の光
ディスクへ光を照射して記録面を劣化させた状態にす
る。よって、試し書き工程では、記録面が光の照射によ
り劣化した状態の光ディスクへ試し書きデータを記録す
ることになる。また、再生測定工程では、試し書きデー
タの記録面が光の照射を受けて劣化した状態の試し書き
データを再生して、再生信号品位の測定を行うことにな
る。さらに、パラメータ設定工程では、光ディスクの記
録面が光の照射を受けて劣化した状態において、最適な
再生信号品位が得られる記録パラメータを設定すること
になる。

【００６６】したがって、この記録パラメータで本デー
タを記録することで、データを記録した追記型光ディス
クが、直射日光や蛍光灯の光などの照射を長時間受けて
記録面が劣化した状態においても、光ディスクの記録面
が劣化した状態になっても、再生信号品位の良い状態で
記録データを再生することができ、結果的に、従来の方
式に比べて再生信号品位の悪化が抑制される。また、同
じデータや同じ曲を何回も再生したために、光ディスク
の記録面が劣化した状態になっても、再生信号品位の良
い状態で記録データを再生することができ、同様に、再
生信号品位の悪化を抑制することができる。

【００６７】また、試し書きデータの記録予定箇所に照
射するレーザ光の出力は、例えば、データの再生出力に
すると良い。つまり、データを再生する際に照射するレ
ーザ光のレーザパワーに設定すると良い。さらに、試し
書きデータの記録予定箇所へのレーザ光の照射回数は、
追記型光ディスクの種類にもよるが、例えば、再生出力
のレーザ光を１０００回程度照射することで、劣化状態
となる。このように設定した場合、試し書き工程と再生
測定工程との間に行う試し書きデータへのレーザ光照射
工程は、数分〜十数分程度で終了させることができる。
なお、試し書きデータにレーザ光を照射する際の光ディ
スクの回転速度や、レーザ光の照射回数に応じて、レー
ザ光の出力を変える必要がある。よって、予め実験など
を行って得たデータに基づいて、これらを設定すると良
い。

【００６８】ここで、光ディスク記録装置２において、
上記のように再生出力のレーザ光を１０００回程度照射
するように設定することもできるが、試し書きデータの
記録予定箇所に照射するレーザ光のパワーを大きくする
ことで、短時間で光照射による劣化状態を作ることがで
きる。この場合、照射するレーザ光のパワーの大きさ
は、データの記録出力以上のパワーに設定すると、記録
面にデータを記録してしまうため、データの再生出力以
上でデータの記録出力未満の出力に設定すると良い。例
えば、１倍速でデータの再生を行う場合にレーザ光の再
生出力が０．７ｍＷで、レーザ光の記録出力が７．０ｍ
Ｗの場合、試し書きデータの記録予定箇所に照射するレ
ーザ光の出力を１．４ｍＷに設定すると良い。これによ
り、光ディスクの記録面に光を照射したために発生する
劣化状態を、短時間で発生させることができる。なお、
レーザ光の出力は、試し書きデータの記録予定箇所にレ
ーザ光を照射する際の光ディスクの回転速度やレーザ光
の照射回数に応じて、実験などを行って得たデータに基
づいて設定すると良い。

【００６９】また、短時間で記録面を劣化状態にするた
めに、所定回数照射するレーザ光を、１回照射する毎に
停止せずに、所定回数連続して照射するように設定する
と良い。つまり、所定回数照射するレーザ光を１回照射
する毎に停止すると、毎回助走時間が必要となるため、
この助走時間を短縮するために、例えば、光ディスク再
生装置をポーズ状態にした時のように、試し書きデータ
の記録予定箇所へレーザ光を照射しながらトラックキッ
クするように設定すると良い。

【００７０】試し書き（テスト記録）は、例えば１回の
テスト記録で記録パワーを１５段階に変化させて行い、
１つの記録パワーにつき１サブコードフレーム分のＥＦ
Ｍ信号を記録し、合計１５サブコードフレーム分のＥＦ
Ｍ信号を記録して行う。この時、１５サブコードフレー
ムは、前記のように光ディスクの約５／３周分になる。
よって、２トラックキックするように光ディスク記録装
置２を設定しておくことで、１５サブコードフレーム分
のＥＦＭ信号（試し書きデータ）に対して、連続的にレ
ーザ光を照射することができる。よって、この方法によ
っても、光ディスクが光の照射を受けて劣化した状態を
短時間で作ることができる。

【００７１】上記のレーザ光照射工程では、光ディスク
に記録した試し書きデータへレーザ光を照射する際に
は、試し書きデータを記録した領域の前後の領域にもレ
ーザ光を照射すると良い。例えば、試し書きデータを記
録した領域の前後一周にもレーザ光を照射するようにす
る。上記のように試し書きデータを記録した領域が１５
サブコードフレームの場合は、４トラックキックするこ
とになる。これにより、試し書きデータを記録した箇所
の隣接トラックからの影響（クロストーク）を加味し
て、再生信号品位の測定を行うことができる。

【００７２】また、前記のように、レーザ光照射工程で
照射するレーザ光のレーザパワーをデータの再生出力以
上でデータの記録出力未満のテスト出力に設定する場
合、試し書きデータの記録予定箇所だけでなく、その前
後の領域（助走領域）もテスト出力のレーザ光を照射す
るように設定すると良い。トラックキック動作している
場合に、試し書きデータの記録予定箇所のみ正確にテス
ト出力のレーザ光を照射するためには、光ディスク記録
装置の制御を厳密に行う必要がある。そのため、光ディ
スク記録装置の制御方法が複雑になってしまうが、上記
のように、試し書きデータの記録箇所、及びその前後の
領域もテスト出力のレーザ光を照射することで、一定の
パワーでレーザ光の照射を行えばよいため、制御方法を
簡略化することができる。

【００７３】次に、本発明の第２実施形態に係る光ディ
スク記録装置のデータ記録時の動作についてフローチャ
ートを用いて説明する。図５は、本発明の第２実施形態
に係る光ディスク記録装置の動作の１例を説明するため
のフローチャートである。

【００７４】まず、ユーザはデータを記録するＣＤ−Ｒ
を光ディスク記録装置２にセットして、データを記録す
るために操作部２７を操作する。制御部１６は、ＣＤ−
Ｒがセットされて、操作部２７が操作されたことを検出
する（ｓ１１）と、セットされた記録用光ディスクの種
類を判別するために、サーボの自動調整を行う。そし
て、制御部１６は、サーボ回路１３、レーザパワー制御
回路２０、エンコーダ１７にそれぞれ所定の信号を出力
する。これらの信号により、光ピックアップ１０からレ
ーザ光が記録用光ディスクに照射され、その戻り光が光
ピックアップ１０の受光素子で受光され、電気信号に変
換されてＲＦアンプ１２に出力される。ＲＦアンプ１２
で増幅されたこの信号は、ＡＴＩＰ検出回路１４に出力
されて、ＡＴＩＰ検出回路１４でＡＴＩＰ情報（アドレ
ス情報）が検出され制御部１６に出力される（ｓ１
２）。

【００７５】制御部１６は、この信号に基づいて光ディ
スクの種類を判別し、記憶部２５から装置記録パラメー
タのデータパターンを呼び出す（ｓ１３）。そして、こ
のデータと、記憶部２５に予め格納された実験データ
と、に基づいて、再生信号品位に関係する装置記録パラ
メータ、及び試し書きデータの記録予定箇所を含む領域
に照射するレーザ光の出力、照射回数を設定する（ｓ１
４）。

【００７６】設定後、制御部１６は、サーボ回路１３、
レーザパワー制御回路２０、エンコーダ１７にそれぞれ
所定の信号を出力し、ｓ１４にて設定したレーザ光の出
力、及び照射回数で、ＰＣＡの試し書きデータの記録予
定箇所へ、レーザ光の照射を行う（ｓ１５）。続いて、
制御部１６は、ＯＰＣを行うためにサーボ回路１３、レ
ーザパワー制御回路２０、エンコーダ１７にそれぞれ所
定の信号を出力し、ｓ１５にてレーザ光が照射された試
し書きデータの記録予定箇所を含む領域へ試し書きデー
タのテスト記録を行う（ｓ１６）。さらに、レーザ光の
照射後にテスト記録した個所を再生し、その戻り光が光
ピックアップ１０の受光素子で受光されて電気信号に変
換されて、ＲＦアンプ１２からは、増幅された信号が信
号品位検出回路部２４に出力される（ｓ１７）。

【００７７】制御部１６は、信号品位検出回路部２４か
ら出力された信号などに基づいて、レーザ光の照射を受
けて記録面が劣化した状態における最適な記録パラメー
タ（目標βやレーザパワーなど）を設定する。そして、
制御部１６は、図外のホスト装置から出力された記録用
光ディスクに記録するデータを出力させる（ｓ１８）。
このデータはエンコーダ１７、ストラテジ回路１８、レ
ーザドライバ１９を介して光ピックアップ１０からレー
ザ光として照射され、光ディスクにデータが記録される
（ｓ１９）。データの記録が完了すると、光ディスク記
録装置２は、表示部２８にデータの記録が完了したこと
を表示させて、処理を終了する（ｓ２０）。

【００７８】ここで、光ディスク記録装置２では、所定
のプログラムを実行させることで、上記のフローチャー
トを用いて説明した動作を実行させることができる。す
なわち、光ディスク記録装置２の制御部（制御手段）１
６に、光ディスクの試し書きデータの記録予定箇所を含
む領域へ所定の出力のレーザ光を所定回数照射する手
順、本データを光ディスクへ記録する前に、記録出力の
レーザ光を照射して、該光ディスクに試し書きデータを
記録する手順、該試し書きデータの記録箇所を含む領域
へ再生出力のレーザ光を照射して、該試し書きデータを
再生して、再生信号品位の測定を行う手順、該再生信号
品位の測定結果に基づいて、該光ディスクへデータを記
録する際の最適な記録パラメータを設定する手順、を実
行させるための光ディスク記録プログラムを実行させる
ことで、上記のフローチャートを用いて説明した動作を
実行させることができる。

【００７９】また、上記のフローチャートを用いて説明
した動作は、通常光ディスク記録装置が備えている構成
で実行させることができる。よって、上記のプログラム
を既存の光ディスク記録装置で実行させることで、本発
明の光ディスク記録装置の動作をするように設定でき
る。

【００８０】

【発明の効果】本発明によれば、試し書き工程で記録し
た試し書きデータに所定の出力のレーザ光を所定回数照
射することによって、試し書きデータの記録箇所を含む
領域を劣化させることができるので、この状態で最適な
記録パラメータをパラメータ設定工程で設定すること
で、光ディスクが光の照射を受けて劣化してきても、本
データの再生記録品位の悪化を抑制することができる。

【００８１】また、試し書き工程の前に光ディスクへレ
ーザ光を照射することで、データを未記録の光ディスク
へ光を照射して記録面を劣化させることができるので、
この状態で試し書きデータを記録・再生して、最適な記
録パラメータをパラメータ設定工程で設定することで、
光ディスクが光の照射を受けて劣化した状態でも、記録
した本データの再生記録品位の悪化を抑制することがで
きる。

【００８２】さらに、再生出力以上で記録出力未満の出
力であるレーザ光を所定回数光ディスクへ照射するの
で、光ディスクへ誤ってデータを記録することなく短時
間で、光ディスクを光の照射を受けて劣化した状態にす
ることができる。

【００８３】加えて、光ディスクへ所定回数照射するレ
ーザ光は、１回照射する毎に停止せずに、所定回数連続
して照射するので、光ディスクが光の照射を受けて劣化
した状態に短時間ですることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置の
構成を示したブロック図である。

【図２】光ディスクの領域構成を示した断面図である。

【図３】試し書きデータの記録パターン、及び本発明で
行うトラックキックを説明するための図である。

【図４】本発明の第１実施形態に係る光ディスク記録装
置の動作の１例を説明するためのフローチャートであ
る。

【図５】本発明の第２実施形態に係る光ディスク記録装
置の動作の１例を説明するためのフローチャートであ
る。

【図６】追記型光ディスクの一例であるＣＤ−Ｒの概略
の斜視構造図である。

【符号の説明】

１−光ディスク記録装置 １０−光ピックアップ １６−制御部 ２０−レーザパワー制御回路 ２４−再生信号品位検出回路部 ２５−記憶部

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D044 AB02 CC04 EF10 5D090 AA01 BB03 BB04 CC01 CC05 CC16 EE02 HH01 JJ12 KK03 LL08 5D119 AA23 EC09 HA02 HA16 HA19 HA45 5D789 AA23 EC09 HA02 HA16 HA19 HA45

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 本データを光ディスクへ記録する前に、
   記録出力の光ビームを照射して、該光ディスクに試し書
   きデータを記録する試し書き工程と、 該試し書きデータの記録箇所を含む領域に記録出力より
   も小さい再生出力の光ビームを照射して、該試し書きデ
   ータを再生して、再生信号品位の測定を行う再生測定工
   程と、 該再生信号品位の測定結果に基づいて、該光ディスクへ
   データを記録する際の最適な記録パラメータを設定する
   パラメータ設定工程と、を含む光ディスク記録方法にお
   いて、 上記試し書き工程と上記再生測定工程との間に、該試し
   書きデータの記録箇所を含む領域へ所定の出力の光ビー
   ムを所定回数照射することを特徴とする光ディスク記録
   方法。
2. 【請求項２】 本データを光ディスクへ記録する前に、
   記録出力の光ビームを照射して、該光ディスクに試し書
   きデータを記録する試し書き工程と、 該試し書きデータの記録箇所を含む領域へ再生出力の光
   ビームを照射して、該試し書きデータを再生して、再生
   信号品位の測定を行う再生測定工程と、 該再生信号品位の測定結果に基づいて、該光ディスクへ
   データを記録する際の最適な記録パラメータを設定する
   パラメータ設定工程と、を含む光ディスク記録方法にお
   いて、 上記試し書き工程の前に、該試し書きデータの記録予定
   箇所を含む領域へ所定の出力の光ビームを所定回数照射
   することを特徴とする光ディスク記録方法。
3. 【請求項３】 前記所定回数照射する光ビームの出力
   は、前記再生出力以上で前記記録出力未満の大きさであ
   ることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク
   記録方法。
4. 【請求項４】 前記所定回数照射する光ビームを、１回
   照射する毎に停止せずに、所定回数連続して照射するこ
   とを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光デ
   ィスク記録方法。
5. 【請求項５】 本データを光ディスクへ記録する前に、
   記録出力の光ビームを照射して、該光ディスクへ試し書
   きデータを記録するデータ記録手段と、 該試し書きデータの記録箇所を含む領域に記録出力より
   も小さい再生出力の光ビームを照射して、該試し書きデ
   ータを再生する再生手段と、 該試し書きデータの再生信号品位を測定する信号品位測
   定手段と、 該再生信号品位の測定結果に基づいて、該光ディスクへ
   本データを記録する際の最適な記録パラメータを設定す
   るパラメータ設定手段と、 上記試し書き工程と上記再生測定工程との間に、該試し
   書きデータの記録箇所を含む領域へ所定の出力の光ビー
   ムを所定回数照射するように、上記データ記録手段を制
   御する制御手段と、を備えたことを特徴とする光ディス
   ク記録装置。
6. 【請求項６】 本データを光ディスクへ記録する前に、
   記録出力の光ビームを照射して、該光ディスクへ試し書
   きデータを記録するデータ記録手段と、 該試し書きデータの記録箇所を含む領域に記録出力より
   も小さい再生出力の光ビームを照射して、該試し書きデ
   ータを再生する再生手段と、 該試し書きデータの再生信号品位を測定する信号品位測
   定手段と、該再生信号品位の測定結果に基づいて、該光
   ディスクへ本データを記録する際の最適な記録パラメー
   タを設定するパラメータ設定手段と、 上記試し書き工程の前に、該試し書きデータの記録予定
   箇所を含む領域へ所定の出力の光ビームを所定回数照射
   するように、上記データ記録手段を制御する制御手段
   と、を備えたことを特徴とする光ディスク記録装置。
7. 【請求項７】 前記制御手段は、前記所定回数照射する
   光ビームの出力を、前記再生出力以上で前記記録出力未
   満の大きさに制御することを特徴とする請求項５又は６
   に記載の光ディスク記録装置。
8. 【請求項８】 前記制御手段は、前記所定回数照射する
   光ビームを、１回照射する毎に停止せずに、所定回数連
   続して照射することを特徴とする請求項５乃至７のいず
   れかに記載の光ディスク記録装置。
9. 【請求項９】 光ディスク記録装置の制御手段に、 本データを光ディスクへ記録する前に、記録出力の光ビ
   ームを照射して、該光ディスクに試し書きデータを記録
   する手順、 該試し書きデータの記録箇所を含む領域へ所定の出力の
   光ビームを所定回数照射する手順、 該試し書きデータの記録箇所を含む領域に記録出力より
   も小さい再生出力の光ビームを照射して、該試し書きデ
   ータを再生して、再生信号品位の測定を行う手順、 該再生信号品位の測定結果に基づいて、該光ディスクへ
   データを記録する際の最適な記録パラメータを設定する
   手順、を実行させるための光ディスク記録プログラム。
10. 【請求項１０】 光ディスク記録装置の制御手段に、 光ディスクの試し書きデータの記録予定箇所を含む領域
    へ所定の出力の光ビームを所定回数照射する手順、 本データを光ディスクへ記録する前に、記録出力の光ビ
    ームを照射して、該光ディスクに試し書きデータを記録
    する手順、 該試し書きデータの記録箇所を含む領域へ再生出力の光
    ビームを照射して、該試し書きデータを再生して、再生
    信号品位の測定を行う手順、 該再生信号品位の測定結果に基づいて、該光ディスクへ
    データを記録する際の最適な記録パラメータを設定する
    手順、を実行させるための光ディスク記録プログラム。