JP2003262562A

JP2003262562A - 光通信用のフェルール偏芯量測定装置におけるｍｔコネクタの保持固定装置

Info

Publication number: JP2003262562A
Application number: JP2002064978A
Authority: JP
Inventors: Naonari Sasano; 直成笹野; Tsutomu Suzuki; 務鈴木
Original assignee: Moritex Corp
Current assignee: Moritex Corp
Priority date: 2002-03-11
Filing date: 2002-03-11
Publication date: 2003-09-19

Abstract

(57)【要約】【課題】光通信用のＭＴコネクタを測定する偏芯量測定
装置において、ＭＴコネクタを簡単に、再現良く固定す
る治具を提供する。【解決手段】測定試料取付けステージ上の台座に、ＭＴ
コネクタホルダーと押さえブロックとを設け、押さえブ
ロックは、その内部に、ＭＴコネクタの対角線位置方向
に摺動できる押さえ棒を設け、押さえ棒には押さえつけ
る方向のスプリングを設け、また、上方に伸びる押さえ
連結ピンを設け、押さえブロックの上面には、レバーを
設け、レバーはレバー軸およびレバーハンドルとによ
り、押さえ棒と平行の位置に回動できる様にし、レバー
の底面にはカム溝を設け、押さえ棒の連結ピンをカム溝
に挿入し、レバーハンドルを回動させることにより、押
さえ棒を直線方向の抜き差しができるようにし、ＭＴコ
ネクタホルダーのＬ字状切り欠きに載置されたＭＴコネ
クタを、押さえブロックのレバーハンドルの回動によ
り、保持固定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明が属する技術分野】本発明は、ＭＴコネクタにつ
いて、ＭＴコネクタの外径に対するファイバ素線のコア
中心位置のずれ、すなわちフェルールのコアの偏芯量を
測定する偏芯量測定装置において、ＭＴコネクタの保持
固定治具に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】フェルールの偏芯量の測定は、フェルー
ル単体でのフェルール外径と穴径の偏芯を測定し、フェ
ルールの偏芯ランク選別を行うことがよく行われてい
る。また、光ファイバ付き単心フェルールも同様に行わ
れていた。一方、現在では、光ファイバ通信網の拡充で
光ファイバ付きコネクタの使用量は増大している。ま
た、光ファイバも単心のシングルモードファイバや、多
芯のマルチモードファイバと用途により使い分けられて
いる。一般的な多芯の光ファイバコネクタとしては、図
６に示されるような８芯ＭＴコネクタが用いられてい
る。

【０００３】前記した多芯光ファイバコネクタは、相手
側の多芯光ファイバコネクタと接続するために、その接
続に伴う接続損失を極力低減する必要がある。多芯光フ
ァイバコネクタの接続損失に影響するのは、もちろん部
品としてのフェルールの精度も必要であるが、光ファイ
バを組み込んだ時の光ファイバの伝送路（コア、モード
フィールド）の位置がコネクタ同士合っていなければな
らない。低損失の多芯光ファイバコネクタを実現するた
めには、多芯光ファイバコネクタの位置を高精度に測定
する必要がある。

【０００４】従来の多芯光ファイバコネクタの偏芯量測
定装置としては、光ファイバの両端にフェルールを取り
付けた多芯光ファイバコネクタについて、位置決め治具
に設けられた位置決め穴の中心位置を演算した後、位置
決め治具に一方の光コネクタを位置決め穴と光コネクタ
のガイドピン穴とに位置させ、上方からガイドピンを挿
入させて取り付ける。他方の光コネクタを光源に接続
し、光源から照明光を入射させ、その状況を位置決め治
具上方のＣＣＤカメラで撮像して行う。光源からの照明
光は、光ファイバのコア部からＣＣＤカメラにより受光
される。演算ユニットでは、ＣＣＤカメラにて受光した
光ファイバのコア部からの透過照明光の画像情報と、レ
ーザー測長装置にて検出したステージの位置情報とに基
づいてコア部の中心位置を演算する。その後、位置決め
穴の中心位置とコア部の中心位置とに基づいて、コア部
の偏芯量を演算するものである（特開２０００−１３１
１８７号公報）。前記した従来例では、ステージを水平
平面内で移動させるパルスモータとその水平平面の位置
を検出するレーザー測長装置とが必要である。

【０００５】一方、多芯光ファイバコネクタの偏芯量測
定装置としては、図８に全体図で示されるようなＷＤＭ
（Wavelength Division Multiplex）デバイス偏芯測定
装置が実用に供されている。検出部は、除振台の下部に
投光器を置き、その上部に置かれた石定盤（いしじょう
ばん。）の上に固定された光学顕微鏡・カメラと、その
前面に設けられた測定試料取り付けステージとからな
る。多芯光コネクタを試料取り付けステージにセット
し、透過照明光は、光学顕微鏡・カメラの反対側から照
射する。なお、除振台の除振装置は、サーボ式エアーバ
ネ除振方式によるものである。操作部は、パソコンディ
スクに、パーソナルコンピュータ、コントローラ、ＣＲ
Ｔモニタ、キーボード、マウス、ジョイスティック、プ
リンタ等を設置したものである。画像処理系は、パーソ
ナルコンピュータの拡張スロットに組み込み、コントロ
ーラを介して、検出部の顕微鏡・カメラ等と接続する。

【０００６】具体的には、図９に示すように、石定盤上
（図示せず。）に対物レンズ１および鏡筒２からなる光
学顕微鏡とＣＣＤカメラ３とを固定する（固定手段は図
示せず。）。光学顕微鏡には反射照明用光源４が取付け
られている。５は、フェルール単体のための透過光照明
用光源である。対物レンズ１の前面に、Ｘ軸ステージ
６、Ｙ軸ステージ７、Ｚ軸ステージ８からなる微動台、
およびＸ軸モータ９、Ｙ軸モータ１０、Ｚ軸モータ１１
からなるパルスモータ駆動方式によるＸＹＺ軸調整台を
固定する。その上に、Ｘ軸ミラー１２、およびＹ軸ミラ
ー１３を固定した台座を設ける。Ｘ軸ミラー１２および
Ｙ軸ミラー１３に対応して、レーザー光を発射してミラ
ーにより反射されたレーザー光を受けるＸ軸センサ１
４、およびＹ軸センサ１５を設ける。ミラー台座上に水
平方向（θｚ）調整ステージ（ゴニオステージ）１６、
および傾斜２方向（θｘ、θｙ）調整ステージ（傾斜ス
テージ）１７を設け、傾斜ステージ１７に測定試料取付
ステージ１８を固定し、測定試料取り付けステージ１８
に測定試料を取付ける試料ホルダー１９を設ける。試料
ホルダー１９は、上方向からＭＴフェルールを押さえつ
けて固定する。測定試料取付ステージ１８に取付けられ
た測定試料であるＭＴコネクタ２０等のフェルールの端
面は、対物レンズ１の前面に位置する。ＸＹＺ軸調整台
はパルスモータ駆動方式によるものであり、Ｘ軸ステー
ジストローク ±１５ｍｍ、Ｙ軸ステージストローク
±５ｍｍ、Ｚ軸ステージストローク ±５ｍｍのもので
ある。光学系は、２０倍、１００倍対物レンズ付き顕微
鏡である。検出カメラは１／３インチＣＣＤカメラ３で
ある。

【０００７】多芯光ファイバコネクタ用であるＭＴコネ
クタ２０の偏芯量を測定するに際しては、ＭＴコネクタ
２０を測定試料取り付けステージ１８上に載置し、試料
ホルダー１９により上方から固定する。ＷＤＭデバイス
偏芯量測定装置のシステム全体機構を図７に示す。

【０００８】実際の測定方法の概略は、１．図８左側の操作部のメイン電源スイッチをＯＮにす
る。２．次いで、パソコンの電源をＯＮにする。３．Ｗｉｎｄｏｗｓ（登録商標）が起動したら、ディス
クトップのＷＤＭデバイス偏芯量測定システムのアイコ
ンを選択し、システムを起動させる。４．ステージ初期化メッセージボックスが表示される。
このシステムでは、ステージの初期化は、特に必要ない
ので、通常は「いいえ」を選択する。「はい」を選択す
ると、初期化が始まり、ステージが移動するので、対物
レンズ等に接触しないように注意する。５．次いで、メッセージボックスが表示され、レーザー
干渉測長機の測定準備待ちになる。レーザーが安定した
ことを確認し、メッセージに従って操作する。６．ＷＤＭデバイス偏芯量測定システムが起動し、メイ
ンウインドウが開く。７．プログラムデータがファイルに保存されてある場合
は、プログラムデータの読み込み、ない場合は、プログ
ラムデータの作成を行う。８．メニューのパラメーターユーザー設定画面で、ユー
ザー設定ダイアログボックスを開き、各設定やデータ出
力設定を確認する。９．ワークをセットし、アライメント調整を行う。１０．左ガイド穴の底を画面の中央に来るようにセット
し、その後プログラミングメニューで、ワーク位置の確
定を行う。１１．メニューの測定タブにおいて、「測定開始」ボタ
ンをクリックすることで測定を開始する。１２．測定終了後、必要に応じて測定結果、グラフをフ
ァイルに保存する。１３．１０〜１２を繰り返す。

【０００９】前記公開公報記載の従来例と前記従来例と
を比較すると、精度に関して、公報記載の測定装置は、
精密微動台とリニアセンサとの組み合わせで寸法精度を
出している。これに対して、前記従来例の測定装置は、
Ｘ軸、Ｙ軸ミラー（平面鏡）とレーザセンサー測長機と
の組み合わせで、移動の面精度を出している。このため
に、前記従来例の測定装置は、公報記載の測定装置に比
較して、精度が高い。

【００１０】部品の価格と製造の難易さに関して、公報
記載の測定装置は、微動台の精度で測定精度の限界が出
る。また、さらに高精度の微動台を求めて組み合わせる
と高価となる上に、０．１μｍの精度を保証するには製
作が困難である。これに対して、前記従来例の測定装置
は、ミラーにより平面精度が簡単に得られ、レーザー測
長により微動台の動き補正を行うことができるので、安
価な微動台でも高精度の測定が可能である。

【００１１】二次元平面の測定に関して、公報記載の測
定装置は、Ｙ軸のみの直線的な測定しか記載されていな
い。これに対して、前記従来例の測定装置は、ミラーを
直角に組み合わせ、平面移動の測長をレーザ測長機によ
るために、平面の位置測定がレーザー測長機の精度で行
える。さらに、単に一列になったコネクタのみならず、
平面に層をなしている多層型コネクタの測定も行える。

【００１２】しかし、前記従来例においては、図９に示
すように、ＭＴコネクタ２０を測定試料取り付けステー
ジ１８上に載置し、試料ホルダー１９により上方からの
一方向の押さえ力で固定するために、基準治具面に押し
当てても密着できず、ずれを生じることが多く、再現性
に劣っていた。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の事情
に鑑みてなされたもので、ＭＴコネクタを測定する偏芯
量測定装置において、ＭＴコネクタを簡単に、再現良く
固定する治具を提供することである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】先ず、ＭＴコネクタを固
定するとき、ＭＴホルダーの底面と側面が基準面とな
る。前後方向はＭＴコネクタの鍔面とホルダの面であ
る。そこで、上記目的を達成するために、本発明のＭＴ
コネクタの保持固定装置は、ＭＴコネクタを押し棒によ
り基準面に押し付ける際に、ＭＴコネクタの対角線位置
方向に押し付ける。このことにより、ＭＴコネクタは底
面方向と側面方向とに分力が働き、一方向の力で、底面
と側面の両基準面に密着させることができる。

【００１５】

【発明の実施の形態】具体的には、本発明に係る第１の
発明は、ＭＴコネクタのフェルール偏芯量測定装置にお
いて、測定試料取り付けステージ上に固定するＭＴコネ
クタの保持固定装置であって、台座上にＭＴコネクタホ
ルダーと押さえブロックとを設け、ＭＴコネクタホルダ
ーと押さえブロックとにより、ＭＴコネクタを保持固定
するものであり、押さえブロックは、その内部に、ＭＴ
コネクタの対角線位置方向に摺動できる押さえ棒を設
け、押さえ棒にはＭＴコネクタを押さえつける方向のス
プリングを設け、上方に伸びる押さえ連結ピンを設け、
押さえブロックの上面には、レバーを設け、レバーはレ
バー軸およびレバーハンドルとにより、押さえ棒と平行
の位置に回動できる様にし、レバーの底面にはカム溝を
設け、押さえ棒の連結ピンをカム溝にはわせ、レバーハ
ンドルを回動させることにより、押さえ棒を直線方向の
抜き差しができるようにし、一方、ＭＴコネクタホルダ
ーは、ホルダー底面とホルダー側面とを有するＬ字状の
切り欠きを有するものであり、測定試料であるＭＴコネ
クタは、ＭＴコネクタホルダーのＬ字状切り欠きに載置
し、押さえブロックのレバーハンドルの回動により、Ｍ
Ｔコネクタを保持固定すること、および保持を解除する
ことができることを特徴とする光通信用のフェルール偏
芯量測定装置におけるＭＴコネクタの保持固定装置であ
る。

【００１６】第２の発明は、ＭＴコネクタホルダーに
は、ホルダー側面に水平に走るホルダー側面溝を設けた
ことを特徴とする第１の発明の光通信用のフェルール偏
芯量測定装置におけるＭＴコネクタの保持固定装置であ
る。

【００１７】第３の発明は、押さえブロックの上面に孔
を穿鑿しスプリングホルダとし、スプリングの上に球を
載せ、一方レバーの下面には、押さえブロックのレバー
ハンドルの回動により、ＭＴコネクタを保持固定する位
置、および保持を解除する位置に球を受けてその位置に
固定できる様に凹溝部を設けたことを特徴とする第１お
よび第２の発明における光通信用のフェルール偏芯量測
定装置におけるＭＴコネクタの保持固定装置である。

【００１８】

【実施例１】以下に、本発明に係るＭＴコネクタの保持
固定装置を図面に基づき詳細に説明する。本発明に係る
フェルール偏芯量測定装置は、図８および図９に示すも
のであり、１〜１８、および２０は同じである。本発明
のＭＴコネクタの保持固定装置は、図９における測定試
料取り付けステージ１８上に固定するものである。本発
明の実施例１に係るＭＴコネクタの保持固定装置の斜視
図を図１に、断面図を図２に示す。図３は、ＭＴコネク
タの保持固定装置の要部を示す。すなわち、実施例１の
ＭＴコネクタの保持固定装置は、台座２１上に、ＭＴコ
ネクタホルダー２２と押さえブロック２３とを設け、Ｍ
Ｔコネクタホルダー２２と押さえブロック２３とによ
り、ＭＴコネクタを保持固定するものである。押さえブ
ロック２３は、その内部に、ＭＴコネクタの対角線位置
方向に摺動できる押さえ棒２４を設け、押さえ棒２４に
はＭＴコネクタ２０を押さえつける方向のスプリング２
５をスプリング押さえ２６により設ける。このスプリン
グ押さえ２６を調節することにより、スプリングの押し
付ける力を調節することができる。また、押さえ棒２４
には、上方に伸びる押さえ連結ピン２７を設ける。押さ
えブロック２３の上面には、押さえ棒２４と平行にレバ
ー２８を設けたことにより、レバー２８はレバー軸２９
およびレバーハンドル３０とにより、押さえ棒２４と平
行の位置に回動できる様にする。また、レバーの底面に
はカム溝３１を設け、押さえ棒２４の連結ピン２７をカ
ム溝３１に挿入し、レバーハンドル３０を回動させるこ
とにより、押さえ棒２４を直線方向の抜き差しができる
ようにする。一方、ＭＴコネクタホルダー２２は、ホル
ダー底面３２とホルダー側面３３とを有するＬ字状の切
り欠きを有するものである。測定試料であるＭＴコネク
タ２０は、ＭＴコネクタホルダー２２のＬ字状切り欠き
に載置し、押さえブロック２３のレバーハンドル３０の
回動により、ＭＴコネクタ２０を保持固定すること、お
よび保持を解除することができる。本発明の実施例１に
係るＭＴコネクタの保持固定装置は、レバーハンドル３
０を動かすことにより、ＭＴコネクタ２０を簡単に、し
かも押し付ける力を一定に固定することができる。

【００１９】

【実施例２】実施例２は、実施例１のＭＴコネクタホル
ダー２２に、ホルダー側面３３に水平に走るホルダー側
面溝３４を設けたことを特徴とする光通信用のフェルー
ル偏芯量測定装置におけるＭＴコネクタの保持固定装置
である。通常、ＭＴコネクタ２０は、成形加工して作ら
れている。そのため、ＭＴコネクタ２０には、成形加工
の際に、金型のつなぎ目により、バリや変形が側面部の
中央に集中して出てくる。このようなＭＴコネクタ２０
を測定する際に、ＭＴコネクタホルダー２２のホルダー
側面３２を平面に加工して製作すると位置ずれが生じて
しまう。実施例２のＭＴコネクタホルダー２２は、ホル
ダー側面３３に水平に走るホルダー側面溝３４を設ける
ことにより、バリや変形を吸収し、ＭＴコネクタ２０を
ＭＴコネクタホルダー２２に密着させて固定できる。

【００２０】

【実施例３】実施例３は、実施例１の押さえブロック２
３の上面に、孔を穿鑿してスプリングホルダ３５とし、
スプリング３６の上に球３７を載せ、一方レバーの下面
には、押さえブロックのレバーハンドルの回動により、
ＭＴコネクタを保持固定する位置、および保持を解除す
る位置に球を受けてその位置に固定できる様に凹溝部を
設けたものである。実施例３の押さえブロック２３は、
レバー２８の回転操作時に、ＭＴコネクタを保持固定す
る位置、および保持を解除する位置で、レバー２８が動
かないように、プレスフィットプランジャを取り付けた
ものである。このために、作業者が測定試料であるＭＴ
コネクタ２０の装着、脱着が容易になる。

【００２１】以上の実施例１、実施例２、および実施例
３のＭＴコネクタの保持固定装置を使用して、光通信用
のフェルール偏芯量測定装置においてＭＴコネクタ２０
を測定する手順は、従来例において説明した測定方法と
同じである。

【００２２】

【発明の効果】以上説明したように，本発明に係るＭＴ
コネクタの保持固定装置によれば、ＭＴコネクタ測定時
に、被測定物であるＭＴコネクタ２０を定位置に、簡単
に再現性良く固定することができ、測定時間の短縮、そ
してデータ値の再現性が高まる等の効果を奏するもので
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るＭＴコネクタの保持固定装置を示
す斜視図である。

【図２】本発明に係るＭＴコネクタの保持固定装置の断
面図である。

【図３】本発明のレバー２８、カム溝３１、および連結
ピン２７との関係を示す斜視図である。

【図４】本発明の実施例２に係るＭＴコネクタホルダー
２２の断面図である。

【図５】本発明の実施例３に係るプレスフィットプラン
ジャを取り付けた押さえブロック２３の断面図である。

【図６】被測定物である８芯ＭＴコネクタ２０を示す斜
視図である。

【図７】ＷＤＭデバイス偏芯量測定装置のシステム全体
機構を示す説明図である。

【図８】ＷＤＭデバイス偏芯量測定装置の全体を示す正
面図である。

【図９】従来のＷＤＭデバイス偏芯量測定装置の要部示
す斜視図である。

【符号の説明】

１対物レンズ２鏡筒３ＣＣＤカメラ４反射照明用光源５透過光照明用光源６Ｘ軸ステージ（微動台）７Ｙ軸ステージ（微動台）８Ｚ軸ステージ（微動台）９Ｘ軸モータ１０Ｙ軸モータ１１Ｚ軸モータ１２Ｘ軸ミラー１３Ｙ軸ミラー１４Ｘ軸センサ１５Ｙ軸センサ１６水平方向（θｚ）調整ステージ（ゴニオステー
ジ）１７傾斜２方向（θｘ、θｙ）調整ステージ（傾斜
ステージ）１８測定試料取付ステージ１９試料ホルダー２０測定試料、ＭＴコネクタ２１測定試料取り付け台座２２ＭＴコネクタホルダー２３押さえブロック２４押さえ棒２５スプリング２６スプリング押さえ２７連結ピン２８レバー２９レバー軸３０レバーハンドル３１カム溝３２ホルダー底面３３ホルダー側面３４ホルダー側面溝３５スプリングホルダ３６スプリング３７球

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ＭＴコネクタのフェルール偏芯量測定装
置において、測定試料取り付けステージ上に固定するＭ
Ｔコネクタの保持固定装置であって、台座上にＭＴコネ
クタホルダーと押さえブロックとを設け、ＭＴコネクタ
ホルダーと押さえブロックとにより、ＭＴコネクタを保
持固定するものであり、押さえブロックは、その内部
に、ＭＴコネクタの対角線位置方向に摺動できる押さえ
棒を設け、押さえ棒にはＭＴコネクタを押さえつける方
向のスプリングを設け、上方に伸びる押さえ連結ピンを
設け、押さえブロックの上面には、レバーを設け、レバ
ーはレバー軸およびレバーハンドルとにより、押さえ棒
と平行の位置に回動できる様にし、レバーの底面にはカ
ム溝を設け、押さえ棒の連結ピンをカム溝に挿入し、レ
バーハンドルを回動させることにより、押さえ棒を直線
方向の抜き差しができるようにし、一方、ＭＴコネクタ
ホルダーは、ホルダー底面とホルダー側面とを有するＬ
字状の切り欠きを有するものであり、測定試料であるＭ
Ｔコネクタは、ＭＴコネクタホルダーのＬ字状切り欠き
に載置し、押さえブロックのレバーハンドルの回動によ
り、ＭＴコネクタを保持固定すること、および保持を解
除することができることを特徴とする光通信用のフェル
ール偏芯量測定装置におけるＭＴコネクタの保持固定装
置。
【請求項２】ＭＴコネクタホルダーには、ホルダー側
面に水平に走るホルダー側面溝を設けたことを特徴とす
る請求項１項記載の光通信用のフェルール偏芯量測定装
置におけるＭＴコネクタの保持固定装置。
【請求項３】押さえブロックの上面に孔を穿鑿しスプ
リングホルダとし、スプリングの上に球を載せ、一方レ
バーの下面には、押さえブロックのレバーハンドルの回
動により、ＭＴコネクタを保持固定する位置、および保
持を解除する位置に球を受けてその位置に固定できる様
に凹溝部を設けたことを特徴とする請求項１および請求
項２記載の光通信用のフェルール偏芯量測定装置におけ
るＭＴコネクタの保持固定装置。