JP2003247831A - 回転型デカップルドmemsジャイロスコープ - Google Patents

回転型デカップルドmemsジャイロスコープ

Info

Publication number
JP2003247831A
JP2003247831A JP2003032910A JP2003032910A JP2003247831A JP 2003247831 A JP2003247831 A JP 2003247831A JP 2003032910 A JP2003032910 A JP 2003032910A JP 2003032910 A JP2003032910 A JP 2003032910A JP 2003247831 A JP2003247831 A JP 2003247831A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
mass
sensing
axis
fixed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003032910A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4368116B2 (ja
Inventor
Hee-Moon Jeong
喜 文 鄭
Jun-O Kim
準 ▲オ▼ 金
Byeung-Leul Lee
秉 烈 李
Sang-Woo Lee
▲サン▼ 禹 李
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2003247831A publication Critical patent/JP2003247831A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4368116B2 publication Critical patent/JP4368116B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5705Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using masses driven in reciprocating rotary motion about an axis
    • G01C19/5712Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using masses driven in reciprocating rotary motion about an axis the devices involving a micromechanical structure
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 駆動質量体と感知質量体とを両方デカップル
ド構造とする。 【解決手段】 X軸を中心に揺動自在な駆動質量体10、
Z軸を中心に揺動可能な感知質量体30、及びX軸を中心
に駆動質量体10と共に揺動しZ軸を中心に感知質量体30
と共に揺動する媒介質量体20を備える。駆動質量体10は
X軸を中心に捻れ変形する第1捻れバネ51により基板
に、媒介質量体20はZ軸を中心に曲げ変形する第1曲げ
バネ61により駆動質量体10に、感知質量体30はX軸を中
心に捻れ変形する第2捻れバネ52により媒介質量体20
に、かつZ軸を中心に曲げ変形する第2曲げバネ62によ
り基板に、各々連結する。駆動質量体10が駆動電極110
によってX軸を中心に振動中に外部から角速度が印加さ
れれば、コリオリの力によって感知質量体30がZ軸を中
心に回転し感知電極130はこれを感知する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はMEMSジャイロス
コープに係り、さらに詳しくは駆動質量体の運動と感知
質量体の運動とが相互に独立してなされる回転型デカッ
プルドMEMSジャイロスコープに関する。
【0002】
【従来の技術】MEMS(Micro electro mechanical sy
stems)は機械的、電気的部品を半導体工程を用いて具現
する技術であって、MEMS技術を用いた素子の一例が
角速度を測定するジャイロスコープである。ジャイロス
コープは所定の速度で移動する物体に回転角速度が加わ
る場合に発生するコリオリの力(Coriolis Force)を測定
して角速度を測定する。この際、コリオリの力は移動速
度と外力による回転角速度の外積(cross product)に比
例する。ジャイロスコープがコリオリの力を発生させ、
またこれを感知するためには、ジャイロスコープはその
内部で振動を行なう質量体を備えている。
【0003】図1はMEMSジャイロスコープを概略的
に示した図であって、特に回転型ジャイロスコープを示
した図面である。駆動方向A、入力方向Ω及び感知方向
Sは、空間上で相互に直交する方向に設定される。通
常、MEMS技術を用いたジャイロスコープでは、基板
の板面に平行であり、相互に直交する二つの方向(以
下、これを'X軸方向'及び'Y軸方向'と称する)と基板
の板面に垂直な一方向(以下、これを'Z軸方向'と称す
る)で構成された座標軸を設定する。図1において駆動
方向AはX軸方向に設定されており、入力方向ΩはY軸
方向に設定されており、感知方向SはZ軸方向に設定さ
れている。
【0004】質量体はX軸を中心に回転可能に設けら
れ、駆動電極(図示せず)によってX軸中心に揺動するよ
う駆動される。質量体が揺動する間に外部からY軸を中
心に回転する方向の角速度が印加されれば、質量体には
Z軸を中心に回転する方向のコリオリの力が加わる。こ
の力によって質量体がZ軸方向に回転移動されれば、こ
の際回転移動された変位を感知電極(図示せず)が測定
し、よって前記角速度の大きさを算出できるようにな
る。図1には説明の便宜のため、一つの質量体が駆動電
極によって駆動される駆動質量体の機能とコリオリの力
によって移動され感知電極によって感知される感知質量
体の機能を全て行なう例が示されている。しかし、最近
は駆動質量体と感知質量体が分離され作製されており、
このような形態のジャイロスコープをデカップルド(dec
oupled)ジャイロスコープと称する。このようなデカッ
プルドジャイロスコープは、駆動質量体を共振を用いて
駆動させると同時に、感知質量体の動きも駆動質量体の
共振周波数に接近させるべき問題点を有しない長所があ
る。
【0005】しかし、前述したようなデカップルドジャ
イロスコープは駆動質量体と感知質量体が完全に分離さ
れておらず、駆動質量体だけデカップルド構造よりなっ
ていたり(例えば、特許文献1、特許文献2など)、感知
質量体だけデカップルド構造よりなっている(例えば、
特許文献3、特許文献4)。駆動質量体だけデカップル
ド構造よりなる場合は、駆動質量体は駆動される運動だ
け行ない、感知質量体は駆動される運動とセンシングさ
れる運動を全て行なう。従って、感知質量体のセンシン
グされる運動が駆動される運動と共に現われるという問
題点がある。
【0006】逆に、感知質量体だけデカップルド構造よ
りなっている場合、駆動質量体は駆動される運動とセン
シングされる運動を全て行ない、感知質量体はセンシン
グされる運動だけ行なう。従って、駆動質量体の駆動さ
れる運動がコリオリの力が働く方向に影響を与えうる問
題点がある。また、前述したような特許文献1、2及び
3に開示されたようなジャイロスコープは、基板に垂直
であるZ軸方向を中心に入力される角速度だけを測定で
きるため、一平面上に2軸の角速度を測定できない問題
点がある。従って、多軸角速度を感知できるジャイロス
コープを作製したい場合、垂直に数字を配置する組立工
程をさらに必要とする。
【0007】水平方向の軸(X軸またはY軸)に対する入
力角速度を測定するためには、質量体を垂直に駆動する
駆動電極を備えたりあるいは質量体の垂直変位を感知す
るための感知電極を備えるべきである。前述したような
垂直方向の駆動電極または感知電極を作製するために
は、従来は基板上に固定された固定電極と固定電極の上
部に離隔されている移動電極を作製した。このような電
極を駆動電極として使用する場合は移動電極と固定電極
との間に可変電圧を印加して移動電極を駆動し、感知電
極として使用する場合は固定電極と移動電極との距離に
よって変わる静電力を感知して角速度を測定する。
【0008】ところがこのような構造を有する電極は、
移動電極が固定電極の上部に積層された構造を有してい
るため、その作製が極めて難しいという短所がある。す
なわち、前述したような電極を作製するためには、まず
基板上に固定電極を形成する工程を行なった後、固定電
極上に犠牲層を蒸着させる。それから、犠牲層上に移動
電極を形成し犠牲層を除去する。このように、固定電極
の上部に浮上された移動電極を形成するためには数多く
の工程が行なわれる。また、移動電極の垂直方向上の変
位を精密に測定するためには移動電極と固定電極との間
隔が狭くなるべきなので、移動電極と固定電極間の粘着
現象が発生できるという問題点も抱えている。
【0009】一方、前記特許文献4には前述した図1に
示した通り、基板の平面上に存在する任意の1軸に作用
する角速度を感知するジャイロスコープが提案されてい
る。ここでは浮揚力(levitation force)を用いて駆動質
量体を基板上の任意の1軸(例えばX軸)について揺動さ
せることによって基板の平面に垂直な軸(Z軸)を中心に
回転される感知運動が発生するようにした。しかし、こ
のようなジャイロスコープはリングタイプの構造物及び
回転運動のための円形の電極配置によって空間を大きく
占める問題点がある。従って、一つのウェーハ上に多数
のジャイロスコープを作製する場合、ジャイロスコープ
を構成する部品が配置されず浪費される空間が生じて単
位面積のウェーハ内に作製されるジャイロスコープの個
数が減る。
【0010】また、このようなジャイロスコープは感知
質量体の回転を感知する感知電極が感知質量体の半径方
向に沿って配置される構造を有するため、感知電極内の
駆動電極と移動電極との間隔が半径方向によって大きく
なる問題点がある。感知電極内の移動電極と固定電極は
正確な感知のためにはその間隔が狭くかつ均一にすべき
なので、移動電極と固定電極との間隔の増加は感知性能
の劣化をもたらす。
【0011】
【特許文献1】US6067858
【0012】
【特許文献2】US6240780
【0013】
【特許文献3】US6122961
【0014】
【特許文献4】WO01/20259
【0015】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前述したよう
な問題点を解決するために案出されたもので、その目的
は駆動質量体と感知質量体が全てデカップルド構造を有
することによって角速度感知性能をアップできる回転型
MEMSジャイロスコープを提供するところにある。本
発明の他の目的は、垂直方向の駆動が容易であり作製工
程が単純で省スペースの回転型MEMSジャイロスコー
プを提供するところにある。
【0016】本発明のさらに他の目的は、感知電極内の
移動電極と固定電極との間隔が均一であり、よって感知
電極の感知性能がアップされた回転型MEMSジャイロ
スコープを提供するところにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ための本発明に係るMEMSジャイロスコープは、 ・基板面に実質的に平行な回転軸線であるX軸を中心に
揺動可能に、前記基板上に設けられた駆動質量体と、 ・前記基板上に、前記基板面に実質的に垂直な回転軸線
であるZ軸を中心に揺動可能に設けられた感知質量体
と、 ・前記基板上に設けられ、前記X軸を中心に前記駆動質
量体と共に揺動し、前記Z軸を中心に前記感知質量体と
共に揺動する媒介質量体と、 ・前記駆動質量体が前記X軸を中心に所定の範囲で振動
するよう前記駆動質量体を駆動する駆動電極と、 ・該駆動電極によって前記駆動質量体が振動する間に角
速度の印加によって発生したコリオリの力によって前記
Z軸を中心に回転する前記感知質量体の変位を測定する
感知電極と、を備える。
【0018】前記駆動質量体は第1捻れバネによって基
板に固定され、これにより前記駆動質量体は前記X軸を
中心に前記基板に対して相対的に回転可能になる。前記
媒介質量体は第1曲げバネによって前記駆動質量体に固
定され、よって前記媒介質量体は前記Z軸を中心に前記
駆動質量体に対して相対的に回転可能になる。前記媒介
質量体は第2捻れバネによって前記感知質量体に固定さ
れ、これにより前記媒介質量体は前記X軸を中心に前記
感知質量体に対して相対的に回転可能になる。前記感知
質量体は第2曲げバネによって前記基板上に固定され、
これにより前記感知質量体は前記Z軸を中心に前記基板
に対して相対的に回転可能になる。
【0019】本発明によれば、駆動質量体が揺動する間
媒介質量体は揺動するが、感知質量体は停止された状態
を維持し、コリオリの力が発生する際媒介質量体が回転
すれば感知質量体が回転する。従って、駆動質量体と感
知質量体が全てデカップルド構造を有するようになり、
ジャイロスコープの角速度感知性能がアップする。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明をさらに詳述する。以下の説明では、前述した従来の
技術に対する説明と同様に、基板の板面方向に垂直の方
向を'Z軸方向'とし、板面方向に平行な方向のうち図面
中の左右方向を'X軸方向'とし、板面方向に平行な方向
のうち図面中の上下方向を'Y軸方向'と称する。図2は
本発明に係るMEMSジャイロスコープの望ましい実施
例を示した図であり、図3は図2の側断面図であり、図
4は図2の一部分を示した図であって主に基板上に浮上
されている部分を示した図である。
【0021】本発明に係る回転型MEMSジャイロスコ
ープは、基板100上に配置される駆動質量体10、駆
動質量体10を駆動するための駆動電極110、駆動質
量体10の駆動状態を感知する垂直感知電極120、駆
動質量体10の内側に配置された媒介質量体20、媒介
質量体20の内側に配置された感知質量体30、及び感
知質量体30の変位を感知する回転感知電極130を有
している。基板100上には絶縁層100aが形成され
ており、駆動質量体10、媒介質量体20及び感知質量
体30はこの絶縁層100aの上部に浮上した状態に形
成される。
【0022】駆動質量体10は略四角枠状を呈する。基
板100上には駆動質量体10を固定させるための一対
の固定部12が駆動質量体10の外側方に形成されてい
る。駆動質量体10は一対の第1捻れバネ51によって
各固定部12に固定されている。第1捻れバネ51は、
図5(A)に示した通り、互いに平行に配置される一対
のビーム51a、51bを有している。ビーム51a、
51bは基板100上に垂直に配置された板の形状を有
する。ビーム51a、51bは複数の継手51cによっ
て互いに連結されている。従って、第1捻れバネ51は
実質的に垂直方向に穿孔されたブロックの形状を有す
る。このような構造によって第1捻れバネ51は捻れ方
向には容易に変形されるが、各ビーム51a、51bの
板面方向の曲げは容易でなくなる。したがって、単純な
ビーム形状に作製される場合に比べて捻れ剛性に対する
曲げ剛性の比率が増加される。
【0023】図2及び図4に示された通り、前述したよ
うな構造の第1捻れバネ51はX軸方向に沿って配置さ
れている。従って、駆動質量体10はX軸を中心に揺動
可能なように基板100について固定され、Z軸を中心
に回転する方向には基板100について固定される。媒
介質量体20は略四角枠状を呈し、駆動質量体10の内
側空間に配置されている。駆動質量体10と媒介質量体
20は一対の第1曲げバネ61によって互いに固定され
ている。
【0024】第1曲げバネ61は、図6(A)、(B)
に示した通り、一部位が互いに固定された一対の板状の
ビーム61a、61bを有している。ビーム61a、6
1bの間には、第1曲げバネ61を駆動質量体10に固
定するための固定板61cが形成されている。ビーム6
1a、61bと固定板61cとは基板100上で起立し
た状態に配置される。このような構造によってビーム6
1a、61bはZ軸を中心にした回転方向に加わる外力
によって曲げ変形される。従って、第1曲げバネ61に
よって、媒介質量体20はZ軸を中心に駆動質量体10
について相対的に回転可能であり、駆動質量体10がX
軸を中心に回転する時は媒介質量体20は駆動質量体1
0と共に回転する。
【0025】感知質量体30はリング状を呈する。基板
100の中央部には感知質量体30を固定するための円
形の固定部32が形成されており、感知質量体30は固
定部32の外側に固定部を取り囲むように配置される。
固定部32の外周面は第2曲げバネ62を設ける空間が
形成されるよう陥没されている。第2曲げバネ62は固
定部32と感知質量体30を連結する機能を果たす。第
2曲げバネ62は第1曲げバネ61と類似した構造を有
する。すなわち、図7(A)、(B)に示した通り、第
2曲げバネ62は一部位が互いに固定された一対の板状
のビーム62a、62b、及びビーム62a、62bを
固定部に固定させるための固定板62cを有している。
この際、図6に示す第1曲げバネ61とは違って、一対
のビーム62a、62bは平行でなく所定の角度を有す
るよう配置されて略円弧状を呈している。このような構
造は、感知質量体30の回転移動を考慮したものであ
る。ビーム62a、62bと固定板62cとは基板10
0上で起立した状態に配置される。このような構造によ
ってビーム62a、62bはZ軸を中心にした回転方向
に加わる外力によって曲げ変形される。従って、第2曲
げバネ62によって感知質量体30はZ軸を中心に固定
部32について相対的に回転可能になる。
【0026】特に、X軸とZ軸の回転運動が同時に発生
する媒介質量体20の円滑なカップルド運動のために、
第2捻れバネ52は図5(B)のようにX軸捻れを誘発
するビームとこの両端にY軸捻れが同時に発生するビー
ムが組み合わせられた構造である。駆動電極110は駆
動質量体10のY方向上の側方にそれぞれ設けられ、基
板100上で駆動質量体10と同一平面に配置される。
駆動電極110はくし状構造によって互いに結合された
固定電極110aと移動電極110bとから構成されて
いる。基板100上には駆動電極110に電圧を印加す
るための駆動端子115が形成されている。
【0027】固定電極110aは、図8(A)、(B)
に示した通り、基板100上に固定された多数の板状の
固定壁を有している。固定壁は基板100上に起立する
よう配置され、また互いに平行に配置される。移動電極
110bは駆動質量体10に固定された板状の移動壁を
有している。それぞれの移動壁はそれぞれの固定壁間の
空間に配置される。移動壁の高さ方向の長さ、すなわち
Z軸方向の長さは、固定壁の高さ方向の長さに比べて短
く、移動壁の下端部は基板100から所定の高さだけ離
隔されている。これにより、移動電極110bは基板1
00上から垂直方向に揺動自在になる。
【0028】垂直感知電極120は駆動質量体10のX
方向上の側方にそれぞれ設けられる。垂直感知電極12
0もくし状構造によって互いに結合された固定電極12
0aと移動電極120bとから構成されている。固定電
極120aは基板100上に固定され、移動電極120
bは駆動質量体10に固定される。垂直感知電極120
の構造は図8(A)、(B)に示された駆動電極110
の構造と実質的に同一である。基板100上には垂直感
知電極120の変位によって変わる静電力を感知する装
置が連結されるための垂直感知端子125が形成されて
いる。
【0029】駆動電極110と垂直感知電極120は四
角枠状の駆動質量体10の外側面のほぼ全区間に亘って
配置され、また駆動端子115と垂直感知端子125は
駆動電極110と垂直感知電極120の外側に配置さ
れ、ジャイロスコープは全体的に長方形を呈する。従っ
て、ウェハ上に複数のジャイロスコープを作製する場
合、浪費される空間なしで数多くのジャイロスコープを
作製することができる。回転感知電極130は媒介質量
体20の内側空間に設けられている。回転感知電極13
0は、駆動電極110と同様に、くし状構造によって互
いに結合された固定電極130aと移動電極130bを
有している。固定電極130aは基板100上に固定さ
れ、移動電極130bは感知質量体30に固定される。
基板100の中央部である媒介質量体20の内側空間に
は回転感知電極130の変位によって変わる静電力を感
知する装置が連結されるための回転感知端子135が形
成されている。
【0030】感知質量体30は基板100上からY軸方
向に延びた垂直ビーム30aと、垂直ビーム30aから
X軸方向に延びた多数本の水平ビーム30bを有してお
り、移動電極130bはこの水平ビーム30bに形成さ
れる。このような水平ビーム30bの配置によって感知
質量体30は四角枠状の媒介質量体20の内側空間のほ
ぼ全領域に亘って形成でき、これにより基板100上で
浪費される空間なしで基板100の全領域が効果的に活
用される。固定電極130aは略ジグザグ形状の側面を
有し、移動電極130bは固定電極130aのジグザグ
形状の側面に対応する形状を有する。このようなジグザ
グ形状の相互結合構造は、感知質量体30が回転する際
感知質量体30の中心から半径方向に遠ざかるほど移動
電極130bと固定電極130aとの距離が大きくなる
ことを防止する機能を果たす。前記感知電極130の固
定電極130a、前記第1捻れバネ51及び前記第1曲
げバネ61は、共通の電極パッドで連結され、電気的に
接地されている。
【0031】図9ないし図11には前述したような感知
電極のジグザグ形状の多様な例が示されている。移動電
極130bは固定電極130aと一定した間隔を維持す
るよう配置される。この際、移動電極130bが固定電
極130aについて接近または離隔されるよう移動時こ
の間隔は狭くなったり広くなり、この際固定電極130
aと移動電極130bとの間隔は相互接触及び離隔され
る側面の全範囲に亘って実質的に均一な状態を維持しつ
つ狭くなったり広まる。このため、固定電極130aと
移動電極130bとが互いに接触する側面は、回転感知
電極130の半径方向について所定の曲率で離隔されて
いる曲線に沿って配置される。
【0032】固定電極130aと移動電極130bが接
する一部位における接線角をθとする際、θは次の式か
ら求められる。
【0033】
【数2】
【0034】ここで、rは回転感知電極130の回転中
心から接線角θが算出される位置までの距離である。ま
た、gは固定電極130aと移動電極130bとの作製
可能な最小間隔である。ψは固定電極130aと移動電
極130bとの挟み角である。回転中心からri方向へ
の直線と回転中心からr方向への直線がなす角度である
電極位置角φは、次の式によって求められる。
【0035】
【数3】
【0036】ここで、riを回転感知電極130の回転
中心から固定電極130aと移動電極130bの最内側
までの半径である。また、r0は回転感知電極130の
回転中心から固定電極130aと移動電極130bの最
外側までの半径である。rは回転感知電極130の回転
中心から接線角θが算出される位置までの電極位置半径
である。前述したような接線角θを有するよう移動電極
130bと固定電極130aの相互対向する側面を形成
することによって、移動電極130bが固定電極130
aについて接近及び離隔時移動電極130bと固定電極
130aとの距離が実質的に均一に維持される。
【0037】以下、前述したような構成を有する本発明
に係るMEMSジャイロスコープの動作を説明する。図
12に示した通り、駆動電極110には駆動端子115
に連結された駆動電圧供給装置215から経時的に変わ
る電圧が印加される。駆動電極110に印加される電圧
の周波数は、駆動質量体10の駆動力を最大化して駆動
効率をアップさせるために、駆動質量体10の固有振動
数と一致させることが望ましい。垂直感知電極120の
垂直感知端子125と回転感知電極130の回転感知端
子135には、それぞれ垂直感知装置225と回転感知
装置235が連結されている。垂直感知装置225と回
転感知装置235は、それぞれの固定電極120a、1
30aと移動電極120b、130b間の静電力の変化
を感知する。
【0038】駆動電極110に電圧が印加されれば、駆
動電極110によって発生する静電力によって図13に
示された通り駆動質量体10がX軸方向を中心に回転移
動する。駆動質量体10の回転方向は駆動電極110に
印加される電圧の極性変化によって変わり、これにより
駆動質量体10はX軸を中心に揺動する。この際、駆動
質量体10が第1捻れバネ51によって固定部12に固
定されているため駆動質量体10はX軸を中心に揺動可
能である。また、媒介質量体20が第1曲げバネ61に
よってZ方向に駆動質量体10について相対固定されて
いるため、媒介質量体20は駆動質量体10と共にX軸
を中心に揺動する。
【0039】この際、感知質量体30は第2捻れバネ5
2によってX軸を中心に媒介質量体20について相対回
転可能に連結されており、また感知質量体30は第2曲
げバネ62によってZ軸を中心に回転する方向の運動だ
け可能なので、媒介質量体20が駆動質量体10と共に
揺動する間に感知質量体30は停止された状態を維持す
る。垂直感知電極120に連結された垂直感知装置22
5は駆動質量体10のZ方向上の変位を測定し、測定さ
れた値は制御器(図示せず)に提供される。制御器は、垂
直感知装置225の測定値に基づき、駆動質量体10が
X軸を中心に効果的に振動できるよう駆動電極110に
供給される電界を制御する。
【0040】駆動質量体10と媒介質量体20とが振動
する間ジャイロスコープにY軸を中心に回転する方向の
角速度が印加されれば、駆動質量体10と媒介質量体2
0にはZ軸方向を中心に回転する方向にコリオリの力が
加わる。駆動質量体10は第1捻れバネ51によってZ
軸を中心に回転する方向上に基板100上に固定されて
いるが、媒介質量体20は第1曲げバネ61によってZ
軸を中心に駆動質量体10について相対回転可能であ
る。従って、コリオリの力が加われば媒介質量体20は
図14に示したようにZ軸を中心に回転する。
【0041】媒介質量体20が回転すれば、媒介質量体
20と感知質量体30とは捻れ方向に変形される第2捻
れバネ52によって連結されているため、感知質量体3
0も図14に示したように媒介質量体20と共に回転す
る。この際、回転感知電極130内の固定電極130a
と移動電極130bとの距離が変わり、このような距離
の変化によって回転感知電極130の静電容量の変化が
発生する。回転感知装置235はこの静電容量の変化を
測定し、制御器(図示せず)はこのような回転感知電極1
30の静電容量の変化を用いてY軸を中心に回転する方
向に入力される外力による角速度を算出する。
【0042】
【発明の効果】以上述べたとおり、本発明によれば駆動
質量体10が揺動する間媒介質量体20は揺動するが、
感知質量体30は停止された状態を維持し、コリオリの
力が発生する際媒介質量体20が回転すれば感知質量体
30が回転する。すなわち、駆動質量体10は駆動方向
にだけ運動し、感知質量体30は感知方向へだけ運動
し、これにより駆動質量体10と感知質量体30が全て
デカップルド構造を有する。従って、ジャイロスコープ
の角速度感知性能がアップする。
【0043】また、駆動質量体10のX軸を中心にする
揺動が駆動質量体10と同一な平面上に形成された固定
電極110aと移動電極110bを有する駆動電極11
0によって制御される。従って、駆動電極110がジャ
イロスコープ内の他部分の作製工程遂行時同様な工程内
で共に作製できるため作製工程が単純化する。また、回
転感知電極130内の移動電極130bと固定電極13
0aとの間隔が移動電極130bが移動する間実質的に
均一に維持されるため、回転感知電極130の感知性能
がアップする。
【0044】そして、本発明によれば、駆動質量体10
と媒介質量体20などが四角枠状に配置されており、ま
た各電極が駆動質量体10の外側に配置されジャイロス
コープの全体的な形状が四角形を呈する。従って、ウェ
ハ上に多数のジャイロスコープの作製時ジャイロスコー
プの間に不要な空間が無くなってウェハの空間効率が増
加する。また、本発明に係るジャイロスコープをZ軸を
中心に90度回転して配置すればX軸を中心に回転する
方向への入力角速度を測定できるため、同一な方式によ
る2軸ジャイロスコープを同一基板100に同一マスク
を使用して作製することができ、同一な感度、同一な信
号処理部、及び同一なチップサイズを有するなどの長所
を持った2軸ジャイロスコープを作製することができ
る。また、このようなジャイロスコープを垂直方向に対
する入力角速度を感知するジャイロスコープと共に作製
する場合3軸ジャイロスコープを作製することができ
る。
【0045】以上では本発明の望ましい実施例について
示しかつ説明したが、本発明は前述した特定の実施例に
限らず、請求の範囲で請求する本発明の要旨を逸脱せず
当該発明の属する技術分野において通常の知識を持つ者
ならば誰でも多様な変形実施が可能なことは勿論、その
ような変更は請求の範囲の記載の範囲内にある。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の回転型MEMSジャイロスコープの一例
を概略的に示した図。
【図2】本発明に係る回転型MEMSジャイロスコープ
の望ましい実施例を示した図。
【図3】図2の側断面図。
【図4】図2において基板上に浮上された部分を示した
図。
【図5】(A)図2の第1捻れバネの拡大斜視図。
(B)図2の第2捻れバネの拡大斜視図。
【図6】(A)図2の第1曲げバネを示す斜視図。
(B)図2の第1曲げバネを示す平面図。
【図7】(A)図2の第2曲げバネを示す斜視図。
(B)図2の第2曲げバネを示す平面図。
【図8】(A)図2の駆動電極及び垂直感知電極の構造
を示す斜視図。(B)同図(A)のA-A線に沿った断
面を示す断面斜視図。
【図9】図2の水平感知電極の構造を示した図。
【図10】図2の水平感知電極の構造を示した図。
【図11】図2の水平感知電極の構造を示した図。
【図12】図2に示された回転型MEMSジャイロスコ
ープに電圧が加わった状態を示した図。
【図13】駆動質量体が駆動された状態を示す図2の概
略的部分側面図。
【図14】図13の平面図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 李 秉 烈 大韓民国京畿道龍仁市龜城面麻北里碧山ア パート119−503 (72)発明者 李 ▲サン▼ 禹 大韓民国ソウル特別市銅雀区舍堂2洞極東 アパート112−1204 Fターム(参考) 2F105 BB02 BB03 BB13 BB15 CC04 CD03 CD05 CD07

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に、該基板面に沿う回転軸線である
    X軸を中心に揺動可能に設けられた駆動質量体と、 前記基板上に、前記基板面と交差する回転軸線のZ軸を
    中心に揺動可能に設けられた感知質量体と、 前記基板上に設置され、前記X軸を中心に前記駆動質量
    体と共に揺動し、前記Z軸を中心に前記感知質量体と共
    に揺動する媒介質量体と、 前記駆動質量体が前記X軸を中心に所定の範囲で振動す
    るよう前記駆動質量体を駆動する駆動電極と、 該駆動電極によって前記駆動質量体が振動する間に角速
    度の印加によって発生したコリオリの力によって前記Z
    軸を中心に回転する前記感知質量体の変位を測定する感
    知電極と、 を備えるMEMSジャイロスコープ。
  2. 【請求項2】前記駆動質量体を前記基板上に連結し、前
    記駆動質量体が前記X軸を中心に前記基板に対して相対
    的に回転可能なように捻れ変形される第1捻れバネと、 前記媒介質量体を前記駆動質量体に連結し、前記媒介質
    量体が前記Z軸を中心に前記駆動質量体に対して相対的
    に回転可能なように曲げ変形される第1曲げバネと、 前記媒介質量体を前記感知質量体に連結し、前記媒介質
    量体が前記X軸を中心に前記感知質量体に対して相対的
    に回転可能なように捻れ変形される第2捻れバネと、 前記感知質量体を前記基板上に連結し、前記感知質量体
    が前記Z軸を中心に前記基板に対して相対的に回転可能
    なように曲げ変形される第2曲げバネと、 をさらに備える、請求項1に記載のMEMSジャイロス
    コープ。
  3. 【請求項3】前記第1捻れバネ及び前記第2捻れバネの
    うち少なくとも一つは、 互いに平行に配置される板状の一対のビームと、 前記ビームを連結する複数の継手と、 を備える、請求項2に記載のMEMSジャイロスコー
    プ。
  4. 【請求項4】前記第2捻れバネは、 X軸を中心に捻れ変形される第1ビームと、 該第1ビームの両端に、前記第1ビームと交差するよう
    に連結され、前記X軸とZ軸とに交差するY軸を中心と
    する捻れを誘発する第2ビームと、 を備える、請求項2に記載のMEMSジャイロスコー
    プ。
  5. 【請求項5】前記第1曲げバネ及び前記第2曲げバネの
    うち少なくとも一つは、一部位が互いに連結されている
    一対の板状のビームを備えている、請求項2に記載のM
    EMSジャイロスコープ。
  6. 【請求項6】前記駆動電極及び前記感知電極のうち少な
    くとも一つは、くし状構造を有している、請求項1に記
    載のMEMSジャイロスコープ。
  7. 【請求項7】前記駆動電極は、 前記基板上に起立し互いに実質的に平行に形成された複
    数の固定壁を有し、前記基板上に固定された固定電極
    と、 それぞれの前記固定壁間にそれぞれ配置され、Z軸方向
    の長さが前記固定壁に比べて短い複数の移動壁を備え、
    前記駆動質量体に連結された移動電極と、 を備える、請求項6に記載のMEMSジャイロスコー
    プ。
  8. 【請求項8】前記感知電極は、 前記基板上に固定され、略ジグザグ形状の側面を有する
    固定電極と、 前記感知質量体に固定され、前記固定電極の前記側面に
    対応する形状を有する移動電極と、 を備えている、請求項1に記載のMEMSジャイロスコ
    ープ。
  9. 【請求項9】前記固定電極と前記移動電極は、相互接近
    及び離隔時相互間の距離が前記側面の全範囲に亘って実
    質的に均一になるよう、相互接触及び離隔される面の形
    状が次のような式によって表現される、請求項8に記載
    のMEMSジャイロスコープ; 【数1】 ここで、θは前記固定電極と前記移動電極が接する一部
    位における接線角、 rは前記感知電極の回転中心から前記接線角θが算出さ
    れる位置までの距離、 gは前記固定電極と前記移動電極との作製可能な最小間
    隔、 ψは前記固定電極と前記移動電極の挟み角、 riは前記感知電極の回転中心から前記固定電極と前記
    移動電極の最内側までの半径、 rは前記感知電極の回転中心から前記接線角θが算出さ
    れる位置までの電極位置半径、 φは前記感知電極の回転中心からri方向への直線と前
    記感知電極の回転中心からr方向への直線がなす角度で
    ある電極位置角である。
  10. 【請求項10】前記駆動質量体と前記媒介質量体とは、
    実質的に四角枠状を有している、請求項1に記載のME
    MSジャイロスコープ。
  11. 【請求項11】前記媒介質量体は前記駆動質量体の内側
    空間に配置され、前記感知質量体は前記媒介質量体の内
    側空間に配置されている、請求項10に記載のMEMS
    ジャイロスコープ。
  12. 【請求項12】前記感知質量体はリング状である、請求
    項1に記載のMEMSジャイロスコープ。
  13. 【請求項13】前記駆動質量体、前記媒介質量体及び前
    記感知質量体には複数のエッチングホールが形成されて
    いる、請求項1に記載のMEMSジャイロスコープ。
  14. 【請求項14】前記感知電極の固定電極、前記第1捻れ
    バネ及び前記第1曲げバネは、共通の電極パッドで連結
    され電気的に接地されることを特徴とする請求項2に記
    載のMEMSジャイロスコープ。
JP2003032910A 2002-02-08 2003-02-10 回転型デカップルドmemsジャイロスコープ Expired - Fee Related JP4368116B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0007244A KR100431004B1 (ko) 2002-02-08 2002-02-08 회전형 비연성 멤스 자이로스코프
KR2002-007244 2002-02-08

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003247831A true JP2003247831A (ja) 2003-09-05
JP4368116B2 JP4368116B2 (ja) 2009-11-18

Family

ID=27607081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003032910A Expired - Fee Related JP4368116B2 (ja) 2002-02-08 2003-02-10 回転型デカップルドmemsジャイロスコープ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6796178B2 (ja)
EP (1) EP1335187B1 (ja)
JP (1) JP4368116B2 (ja)
KR (1) KR100431004B1 (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006058022A (ja) * 2004-08-17 2006-03-02 Nippon Soken Inc 角速度センサ
JP2006153514A (ja) * 2004-11-25 2006-06-15 Matsushita Electric Works Ltd ジャイロセンサおよび角速度検出方法
KR100754408B1 (ko) 2006-06-14 2007-08-31 삼성전자주식회사 평면 구동형 맴스 디바이스
JP2007304046A (ja) * 2006-05-15 2007-11-22 Sumitomo Precision Prod Co Ltd 角速度センサ
JP2007316037A (ja) * 2006-05-29 2007-12-06 Sumitomo Precision Prod Co Ltd 角速度センサ
JP2008151728A (ja) * 2006-12-20 2008-07-03 Sumitomo Precision Prod Co Ltd 2軸角速度センサ
JP2009092583A (ja) * 2007-10-11 2009-04-30 Nippon Signal Co Ltd:The ジャイロセンサのドリフト抑制方法
JP2010117293A (ja) * 2008-11-14 2010-05-27 Alps Electric Co Ltd 角速度センサ
CN101957201A (zh) * 2009-07-13 2011-01-26 江苏丽恒电子有限公司 电容型mems陀螺仪及其制造方法
JP2011252907A (ja) * 2010-06-02 2011-12-15 Robert Bosch Gmbh 回転速度センサ
RU2445254C2 (ru) * 2007-01-19 2012-03-20 Кэнон Кабусики Кайся Базовый элемент, имеющий множество проводящих зон
KR101371149B1 (ko) 2012-01-18 2014-03-06 주식회사 에스알파워 멤즈 기반의 자이로스코프
KR101459797B1 (ko) 2009-12-03 2014-11-07 현대자동차주식회사 회전형 자이로스코프 및 그 제조방법
TWI471258B (zh) * 2007-11-02 2015-02-01 Bosch Gmbh Robert 微機械系統
JP2017535784A (ja) * 2014-11-27 2017-11-30 ゴルテック.インク 3軸memsジャイロ

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100693347B1 (ko) 2003-10-13 2007-03-09 삼성전자주식회사 디지털 회전형 각속도 검출장치
US6892575B2 (en) 2003-10-20 2005-05-17 Invensense Inc. X-Y axis dual-mass tuning fork gyroscope with vertically integrated electronics and wafer-scale hermetic packaging
US7458263B2 (en) * 2003-10-20 2008-12-02 Invensense Inc. Method of making an X-Y axis dual-mass tuning fork gyroscope with vertically integrated electronics and wafer-scale hermetic packaging
US6939473B2 (en) * 2003-10-20 2005-09-06 Invensense Inc. Method of making an X-Y axis dual-mass tuning fork gyroscope with vertically integrated electronics and wafer-scale hermetic packaging
JP2005265795A (ja) * 2004-03-22 2005-09-29 Denso Corp 半導体力学量センサ
US20050211505A1 (en) * 2004-03-26 2005-09-29 Kroupenkine Timofei N Nanostructured liquid bearing
DE102004026972B4 (de) * 2004-06-02 2015-03-12 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor mit Frequenznachführung
US7302847B2 (en) * 2004-08-17 2007-12-04 Nippon Soken, Inc. Physical quantity sensor having movable portion
FI116544B (fi) 2004-12-31 2005-12-15 Vti Technologies Oy Värähtelevä mikromekaaninen kulmanopeusanturi
US7442570B2 (en) 2005-03-18 2008-10-28 Invensence Inc. Method of fabrication of a AL/GE bonding in a wafer packaging environment and a product produced therefrom
US7621183B2 (en) 2005-11-18 2009-11-24 Invensense Inc. X-Y axis dual-mass tuning fork gyroscope with vertically integrated electronics and wafer-scale hermetic packaging
WO2007086337A1 (ja) 2006-01-24 2007-08-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 慣性力センサ
KR100816506B1 (ko) 2006-06-08 2008-03-24 두산메카텍 주식회사 웨이퍼의 회전 감지장치
US7461552B2 (en) * 2006-10-23 2008-12-09 Custom Sensors & Technologies, Inc. Dual axis rate sensor
US8462109B2 (en) 2007-01-05 2013-06-11 Invensense, Inc. Controlling and accessing content using motion processing on mobile devices
US8952832B2 (en) 2008-01-18 2015-02-10 Invensense, Inc. Interfacing application programs and motion sensors of a device
US8508039B1 (en) 2008-05-08 2013-08-13 Invensense, Inc. Wafer scale chip scale packaging of vertically integrated MEMS sensors with electronics
US7796872B2 (en) * 2007-01-05 2010-09-14 Invensense, Inc. Method and apparatus for producing a sharp image from a handheld device containing a gyroscope
US8141424B2 (en) 2008-09-12 2012-03-27 Invensense, Inc. Low inertia frame for detecting coriolis acceleration
US7934423B2 (en) 2007-12-10 2011-05-03 Invensense, Inc. Vertically integrated 3-axis MEMS angular accelerometer with integrated electronics
US8047075B2 (en) 2007-06-21 2011-11-01 Invensense, Inc. Vertically integrated 3-axis MEMS accelerometer with electronics
US20100071467A1 (en) * 2008-09-24 2010-03-25 Invensense Integrated multiaxis motion sensor
US8020441B2 (en) 2008-02-05 2011-09-20 Invensense, Inc. Dual mode sensing for vibratory gyroscope
US8250921B2 (en) 2007-07-06 2012-08-28 Invensense, Inc. Integrated motion processing unit (MPU) with MEMS inertial sensing and embedded digital electronics
KR100964970B1 (ko) * 2007-08-17 2010-06-21 한국전자통신연구원 3 차원 멤즈 미세구조체의 고착방지를 위한 부양 장치
US7851233B2 (en) * 2009-03-26 2010-12-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. E-chuck for automated clamped force adjustment and calibration
US8534127B2 (en) 2009-09-11 2013-09-17 Invensense, Inc. Extension-mode angular velocity sensor
US9097524B2 (en) 2009-09-11 2015-08-04 Invensense, Inc. MEMS device with improved spring system
DE102010027346A1 (de) * 2010-07-16 2012-01-19 Forschungszentrum Jülich GmbH Sensoranordnung
US8567246B2 (en) 2010-10-12 2013-10-29 Invensense, Inc. Integrated MEMS device and method of use
US9664750B2 (en) 2011-01-11 2017-05-30 Invensense, Inc. In-plane sensing Lorentz force magnetometer
US8860409B2 (en) 2011-01-11 2014-10-14 Invensense, Inc. Micromachined resonant magnetic field sensors
US8947081B2 (en) 2011-01-11 2015-02-03 Invensense, Inc. Micromachined resonant magnetic field sensors
JP5708535B2 (ja) * 2012-03-13 2015-04-30 株式会社デンソー 角速度センサ
DE102012218906A1 (de) 2012-10-17 2014-04-30 Robert Bosch Gmbh Beschleunigungssensor und Verfahren zum Herstellen eines Beschleunigungssensors
DE102013206414A1 (de) 2013-04-11 2014-10-16 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor
JP6285128B2 (ja) * 2013-09-05 2018-02-28 日立オートモティブシステムズ株式会社 角速度センサ
JP6398348B2 (ja) * 2014-06-12 2018-10-03 セイコーエプソン株式会社 機能素子、機能素子の製造方法、電子機器、および移動体
CN106415203A (zh) 2014-06-26 2017-02-15 路梅戴尼科技公司 用于从来自传感器的非线性周期信号提取系统参数的系统和方法
KR101693935B1 (ko) * 2014-11-07 2017-01-06 리치테크 테크놀로지 코포레이션 미세전자기계시스템(mems) 디바이스
CN107408516A (zh) 2015-02-11 2017-11-28 应美盛股份有限公司 使用Al‑Ge共晶接合连接组件的3D集成
EP3298414A1 (en) 2015-05-20 2018-03-28 Lumedyne Technologies Incorporated Extracting inertial information from nonlinear periodic signals
US10126128B2 (en) 2016-05-26 2018-11-13 Nxp Usa, Inc. Angular rate sensor
US10234477B2 (en) 2016-07-27 2019-03-19 Google Llc Composite vibratory in-plane accelerometer
US10192850B1 (en) 2016-09-19 2019-01-29 Sitime Corporation Bonding process with inhibited oxide formation
JP6984342B2 (ja) * 2017-11-22 2021-12-17 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、物理量センサーの製造方法、慣性計測ユニット、携帯型電子機器、電子機器、および移動体
KR101984078B1 (ko) * 2018-08-27 2019-05-31 주식회사 신성씨앤티 3축 멤스 자이로스코프
DE102020205372A1 (de) * 2020-04-28 2021-10-28 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Mikromechanisches Bauteil für einen Drehratensensor und entsprechendes Herstellungsverfahren
CN111998840B (zh) * 2020-08-28 2022-08-12 中电科技集团重庆声光电有限公司 一种mems多轴振动传感器结构

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11257970A (ja) * 1998-03-16 1999-09-24 Murata Mfg Co Ltd 角速度センサ
JP2001515201A (ja) * 1997-09-02 2001-09-18 アナログ デバイセス インコーポレーテッド マイクロマシン加工デバイス
JP2002515976A (ja) * 1996-05-31 2002-05-28 ザ リージェンツ オブ ザ ユニヴァーシティ オブ カリフォルニア 超小型精密振動レートジャイロスコープ
JP2003509670A (ja) * 1999-09-17 2003-03-11 キオニックス インク 電気分離式マイクロ機械ジャイロスコープ

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5349855A (en) * 1992-04-07 1994-09-27 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Comb drive micromechanical tuning fork gyro
JP3409520B2 (ja) * 1995-08-01 2003-05-26 日産自動車株式会社 角速度センサ
US5955688A (en) * 1996-05-13 1999-09-21 Cook; Richard L. Composite string instrument apparatus and method of making such apparatus
DE19641284C1 (de) * 1996-10-07 1998-05-20 Inst Mikro Und Informationstec Drehratensensor mit entkoppelten orthogonalen Primär- und Sekundärschwingungen
US5955668A (en) 1997-01-28 1999-09-21 Irvine Sensors Corporation Multi-element micro gyro
JP3882973B2 (ja) 1998-06-22 2007-02-21 アイシン精機株式会社 角速度センサ
JP2000337884A (ja) * 1999-03-25 2000-12-08 Murata Mfg Co Ltd 角速度センサ
JP2001021360A (ja) * 1999-07-08 2001-01-26 Mitsubishi Electric Corp 角速度センサ
JP2001264072A (ja) * 2000-03-17 2001-09-26 Aisin Seiki Co Ltd 角速度センサ
US6516666B1 (en) * 2000-09-19 2003-02-11 Motorola, Inc. Yaw rate motion sensor

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002515976A (ja) * 1996-05-31 2002-05-28 ザ リージェンツ オブ ザ ユニヴァーシティ オブ カリフォルニア 超小型精密振動レートジャイロスコープ
JP2001515201A (ja) * 1997-09-02 2001-09-18 アナログ デバイセス インコーポレーテッド マイクロマシン加工デバイス
JPH11257970A (ja) * 1998-03-16 1999-09-24 Murata Mfg Co Ltd 角速度センサ
JP2003509670A (ja) * 1999-09-17 2003-03-11 キオニックス インク 電気分離式マイクロ機械ジャイロスコープ

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006058022A (ja) * 2004-08-17 2006-03-02 Nippon Soken Inc 角速度センサ
JP4654667B2 (ja) * 2004-11-25 2011-03-23 パナソニック電工株式会社 ジャイロセンサおよび角速度検出方法
JP2006153514A (ja) * 2004-11-25 2006-06-15 Matsushita Electric Works Ltd ジャイロセンサおよび角速度検出方法
JP2007304046A (ja) * 2006-05-15 2007-11-22 Sumitomo Precision Prod Co Ltd 角速度センサ
JP2007316037A (ja) * 2006-05-29 2007-12-06 Sumitomo Precision Prod Co Ltd 角速度センサ
KR100754408B1 (ko) 2006-06-14 2007-08-31 삼성전자주식회사 평면 구동형 맴스 디바이스
JP2008151728A (ja) * 2006-12-20 2008-07-03 Sumitomo Precision Prod Co Ltd 2軸角速度センサ
US8596121B2 (en) 2007-01-19 2013-12-03 Canon Kabushiki Kaisha Structural member having a plurality of conductive regions
RU2445254C2 (ru) * 2007-01-19 2012-03-20 Кэнон Кабусики Кайся Базовый элемент, имеющий множество проводящих зон
JP2009092583A (ja) * 2007-10-11 2009-04-30 Nippon Signal Co Ltd:The ジャイロセンサのドリフト抑制方法
TWI471258B (zh) * 2007-11-02 2015-02-01 Bosch Gmbh Robert 微機械系統
JP2010117293A (ja) * 2008-11-14 2010-05-27 Alps Electric Co Ltd 角速度センサ
CN101957201A (zh) * 2009-07-13 2011-01-26 江苏丽恒电子有限公司 电容型mems陀螺仪及其制造方法
KR101459797B1 (ko) 2009-12-03 2014-11-07 현대자동차주식회사 회전형 자이로스코프 및 그 제조방법
JP2011252907A (ja) * 2010-06-02 2011-12-15 Robert Bosch Gmbh 回転速度センサ
DE102010029634B4 (de) 2010-06-02 2024-04-11 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor
KR101371149B1 (ko) 2012-01-18 2014-03-06 주식회사 에스알파워 멤즈 기반의 자이로스코프
JP2017535784A (ja) * 2014-11-27 2017-11-30 ゴルテック.インク 3軸memsジャイロ

Also Published As

Publication number Publication date
EP1335187B1 (en) 2011-10-12
US20030164041A1 (en) 2003-09-04
EP1335187A1 (en) 2003-08-13
KR20030067791A (ko) 2003-08-19
KR100431004B1 (ko) 2004-05-12
US6796178B2 (en) 2004-09-28
JP4368116B2 (ja) 2009-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003247831A (ja) 回転型デカップルドmemsジャイロスコープ
JP5123455B2 (ja) 微細組立式音叉ジャイロスコープおよび面外回転を検知するための関連する3軸慣性測定システム
KR101100021B1 (ko) Z-축 각속도 센서
US8739626B2 (en) Micromachined inertial sensor devices
US9052194B2 (en) Extension-mode angular velocity sensor
US9038461B2 (en) Gyro sensor and electronic device
JP3811444B2 (ja) 垂直振動質量体を有するmemsジャイロスコープ
US6349597B1 (en) Rotation rate sensor with uncoupled mutually perpendicular primary and secondary oscillations
JP5567272B2 (ja) 垂直統合された電子機器およびウエハスケールの気密封止によるx−y軸2重質量音叉ジャイロスコープの製造方法
US7043987B2 (en) Rotary gyroscope
JP6260706B2 (ja) 改良された直交位相補正を有するジャイロスコープ構造体およびジャイロスコープ
US20180120110A1 (en) Mems link mechanism used for gyroscope
EP1098170B1 (en) Microgyroscope with two resonant plates
JPS60213814A (ja) 平坦な慣性センサ
JP2013092525A (ja) 軸外ばねシステムを有する慣性センサ
JP2014112085A (ja) 微小電気機械システム(mems)デバイスのためのばね
JPH10239347A (ja) 運動センサ
US20180135985A1 (en) Mems gyroscope having 2-degree-of-freedom sensing mode
JP2001194153A (ja) 角速度センサ、加速度センサおよび製造方法
JP4635345B2 (ja) 角速度センサ
US20230085473A1 (en) Mems gyroscope
TWI781051B (zh) 微機電多軸角速度感測器
JP2001349731A (ja) マイクロマシンデバイスおよび角加速度センサおよび加速度センサ
US10126128B2 (en) Angular rate sensor
JP2006138855A (ja) 回転量計測装置とその製作方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060104

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20060404

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20060410

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060623

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060905

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061205

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070410

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070807

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070814

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20080201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090630

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090825

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120904

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130904

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees