JP2003215525A - 信頼性試験装置 - Google Patents
信頼性試験装置Info
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- JP2003215525A JP2003215525A JP2002017629A JP2002017629A JP2003215525A JP 2003215525 A JP2003215525 A JP 2003215525A JP 2002017629 A JP2002017629 A JP 2002017629A JP 2002017629 A JP2002017629 A JP 2002017629A JP 2003215525 A JP2003215525 A JP 2003215525A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶セルで信頼性を試験できる信頼性試験装
置を提供する。 【解決手段】 プロービング機構５の接続端子を液晶セ
ル２のアウターリードボンディングパッドに接続すると
ともに、液晶セル２をプロービング機構５でクリップ状
に挟持して支持して液晶セル２を立てた状態で基板４を
恒温槽１内に収納する。駆動手段７から配線６を介して
すべての液晶セル２に電源および信号を供給し、液晶セ
ル２を表示させる。液晶セル２にモジュール部材が装着
されていないため、恒温槽１内を約１００℃にして加速
度試験による信頼性試験ができる。高い温度で加速度試
験ができるため、より短時間でバーンイン試験ができ
る。恒温槽１も液晶セル２のみを収納すればよいので小
型化を図れる。
置を提供する。 【解決手段】 プロービング機構５の接続端子を液晶セ
ル２のアウターリードボンディングパッドに接続すると
ともに、液晶セル２をプロービング機構５でクリップ状
に挟持して支持して液晶セル２を立てた状態で基板４を
恒温槽１内に収納する。駆動手段７から配線６を介して
すべての液晶セル２に電源および信号を供給し、液晶セ
ル２を表示させる。液晶セル２にモジュール部材が装着
されていないため、恒温槽１内を約１００℃にして加速
度試験による信頼性試験ができる。高い温度で加速度試
験ができるため、より短時間でバーンイン試験ができ
る。恒温槽１も液晶セル２のみを収納すればよいので小
型化を図れる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶セルの信頼性
試験をする信頼性試験装置に関する。
試験をする信頼性試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の、この種のたとえば液晶表示装置
の信頼性試験は、半導体におけるパッケージング後のバ
ーイン試験と同様に、液晶セルにこの液晶セルの駆動用
のＴＡＢ（Tape Automated Bonding）−ＩＣなどを搭載
するとともにケースなどのモジュール部材を取り付け
て、液晶モジュールとした状態でしている。
の信頼性試験は、半導体におけるパッケージング後のバ
ーイン試験と同様に、液晶セルにこの液晶セルの駆動用
のＴＡＢ（Tape Automated Bonding）−ＩＣなどを搭載
するとともにケースなどのモジュール部材を取り付け
て、液晶モジュールとした状態でしている。
【０００３】そして、この液晶モジュールを恒温槽の中
に収容し、この液晶モジュールに恒温槽の外側に設けら
れた駆動装置とをケーブルで電気的に接続し、このケー
ブルで駆動装置から液晶モジュールに対して電源や各種
信号を供給し、液晶モジュールが通常の駆動動作をする
ようにしている。また、加速度試験などの信頼性試験の
ためには恒温槽の温度をたとえば７０℃程度の温度に設
定し、スクリーニングしたい不良の発生を加速し、試験
時間を短縮している。
に収容し、この液晶モジュールに恒温槽の外側に設けら
れた駆動装置とをケーブルで電気的に接続し、このケー
ブルで駆動装置から液晶モジュールに対して電源や各種
信号を供給し、液晶モジュールが通常の駆動動作をする
ようにしている。また、加速度試験などの信頼性試験の
ためには恒温槽の温度をたとえば７０℃程度の温度に設
定し、スクリーニングしたい不良の発生を加速し、試験
時間を短縮している。
【０００４】また、このような信頼性試験を生産された
全ての液晶モジュールにすることにより、製品が出荷さ
れてから発生する進行性不良が、信頼性試験のスクリー
ニング効果で、出荷前に発生させて出荷を未然に防止で
き、客先不良率の低減に大きな効果がある。
全ての液晶モジュールにすることにより、製品が出荷さ
れてから発生する進行性不良が、信頼性試験のスクリー
ニング効果で、出荷前に発生させて出荷を未然に防止で
き、客先不良率の低減に大きな効果がある。
【０００５】ところが、生産量の全ての液晶モジュール
を試験する場合には、１度に多くの液晶モジュールの試
験をしなければならないため、多くの液晶モジュールを
収納する大きな恒温層を設けなければならず、液晶モジ
ュールに接続する駆動装置も大型のものとなってしま
う。
を試験する場合には、１度に多くの液晶モジュールの試
験をしなければならないため、多くの液晶モジュールを
収納する大きな恒温層を設けなければならず、液晶モジ
ュールに接続する駆動装置も大型のものとなってしま
う。
【０００６】また、液晶セル自体にかけられる最高温度
より、モジュール部材にかけられる最高温度の方が一般
的に低く、試験時間の短縮のために液晶セルだけで試験
できれば、従来の７０℃から１００℃以上にまで温度を
上昇させることが可能であるが、モジュール部材を含む
液晶モジュールで試験するためには現在の７０℃が限界
であり、試験時間の短縮が困難である。
より、モジュール部材にかけられる最高温度の方が一般
的に低く、試験時間の短縮のために液晶セルだけで試験
できれば、従来の７０℃から１００℃以上にまで温度を
上昇させることが可能であるが、モジュール部材を含む
液晶モジュールで試験するためには現在の７０℃が限界
であり、試験時間の短縮が困難である。
【０００７】一方、最近の液晶表示装置に使用する各種
部材は信頼性が向上し、出荷形態がたとえば携帯電話用
の反射型の液晶表示装置のように、ほとんどモジュール
部材が無く液晶セルおよびこの液晶セルに接続されるフ
レキシブルプリント基板１枚のみのことがある。
部材は信頼性が向上し、出荷形態がたとえば携帯電話用
の反射型の液晶表示装置のように、ほとんどモジュール
部材が無く液晶セルおよびこの液晶セルに接続されるフ
レキシブルプリント基板１枚のみのことがある。
【０００８】また、多結晶シリコンを用いた薄膜トラン
ジスタが形成された液晶セルにより、ドライバＴＡＢ−
ＩＣの減少によるアウターリードボンディングパッドの
端子数の削減など、モジュール部材による信頼性の低下
は僅かなものになりつつあり、モジュール部材を含んだ
液晶モジュールでの信頼性試験は、液晶セル側の進行性
不良の発生によりモジュール部材もが無駄になることが
少なくなく、製造上のコストおよび時間などを損失して
しまう。
ジスタが形成された液晶セルにより、ドライバＴＡＢ−
ＩＣの減少によるアウターリードボンディングパッドの
端子数の削減など、モジュール部材による信頼性の低下
は僅かなものになりつつあり、モジュール部材を含んだ
液晶モジュールでの信頼性試験は、液晶セル側の進行性
不良の発生によりモジュール部材もが無駄になることが
少なくなく、製造上のコストおよび時間などを損失して
しまう。
【０００９】すなわち、多結晶シリコンの薄膜トランジ
スタを用いた液晶セルあるいはチップオングラスの液晶
セルになることにより、液晶セル自体に組み込まれた回
路規模が拡大し、液晶セルを構成するマトリクスアレイ
基板あるいは液晶セル自体に起因する信頼性問題が増加
している。
スタを用いた液晶セルあるいはチップオングラスの液晶
セルになることにより、液晶セル自体に組み込まれた回
路規模が拡大し、液晶セルを構成するマトリクスアレイ
基板あるいは液晶セル自体に起因する信頼性問題が増加
している。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、液晶モ
ジュールで信頼性試験をすると、信頼性試験装置自体が
大型化するとともに、現在では液晶モジュールの不良の
うち液晶セルを起因とするものが少なくなく、液晶モジ
ュールを形成した後では液晶セル自体の不良でもこの液
晶セルに組み付けたモジュール部品およびモジュール部
品を組み付けるための時間の損失が生じ、さらには、モ
ジュール部品を取り付けずに液晶セルのみで出荷するも
のが少なくない問題を有している。
ジュールで信頼性試験をすると、信頼性試験装置自体が
大型化するとともに、現在では液晶モジュールの不良の
うち液晶セルを起因とするものが少なくなく、液晶モジ
ュールを形成した後では液晶セル自体の不良でもこの液
晶セルに組み付けたモジュール部品およびモジュール部
品を組み付けるための時間の損失が生じ、さらには、モ
ジュール部品を取り付けずに液晶セルのみで出荷するも
のが少なくない問題を有している。
【００１１】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
で、液晶セルで信頼性を試験できる信頼性試験装置を提
供することを目的とする。
で、液晶セルで信頼性を試験できる信頼性試験装置を提
供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、アウターリー
ドボンディングパッドを有する板状の液晶セルのアウタ
ーリードボンディングパッドに接続する接続端子と、こ
の接続端子が複数取り付けられた基板と、前記接続端子
に電気的に接続され液晶セルを駆動させる駆動手段とを
具備したもので、接続端子を液晶セルのアウターリード
ボンディングパッドに接続し、駆動手段からこの接続端
子を介して液晶セルを駆動することにより、液晶セル自
体で信頼性試験ができる。
ドボンディングパッドを有する板状の液晶セルのアウタ
ーリードボンディングパッドに接続する接続端子と、こ
の接続端子が複数取り付けられた基板と、前記接続端子
に電気的に接続され液晶セルを駆動させる駆動手段とを
具備したもので、接続端子を液晶セルのアウターリード
ボンディングパッドに接続し、駆動手段からこの接続端
子を介して液晶セルを駆動することにより、液晶セル自
体で信頼性試験ができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の信頼性試験装置の
一実施の形態を図面を参照して説明する。
一実施の形態を図面を参照して説明する。
【００１４】図１に示すように、内部が中空で開閉可能
な恒温槽１を有し、この恒温槽１は複数枚、たとえば３
０枚の液晶セル２を出し入れ可能で、液晶セル２を複数
枚立てた状態で収納するものである。また、この液晶セ
ル２は、図２に示すように、ガラス製基板有するマトリ
クスアレイ基板および同様にガラス製基板を有する対向
基板が間隙を介して設けられ、これらマトリクスアレイ
基板および対向基板間に液晶が挟持されており、マトリ
クスアレイ基板には間隙を介して複数、たとえば２つの
アウターリードボンディングパッド３が配設されてい
る。なお、液晶モジュールを構成するためのモジュール
部材は取り付けられていない状態である。
な恒温槽１を有し、この恒温槽１は複数枚、たとえば３
０枚の液晶セル２を出し入れ可能で、液晶セル２を複数
枚立てた状態で収納するものである。また、この液晶セ
ル２は、図２に示すように、ガラス製基板有するマトリ
クスアレイ基板および同様にガラス製基板を有する対向
基板が間隙を介して設けられ、これらマトリクスアレイ
基板および対向基板間に液晶が挟持されており、マトリ
クスアレイ基板には間隙を介して複数、たとえば２つの
アウターリードボンディングパッド３が配設されてい
る。なお、液晶モジュールを構成するためのモジュール
部材は取り付けられていない状態である。
【００１５】そして、恒温槽１の底部は液晶セル２とほ
ぼ同材料で同様の熱膨張係数を有するガラス製の基板４
が着脱自在に配設されている。そして、この基板４に
は、１枚の液晶セル２のアウターリードボンディングパ
ッド３の個数に対応して２つずつ液晶セル２のアウター
リードボンディングパッド３の間隔に合わせて支持体と
してのワニ口クリップ状のプロービング機構５が位置決
め固定され、それぞれ隣合う液晶セル２との間隔をそれ
ぞれ一定にするように同間隔でたとえば３０個配設され
ている。また、基板４は液晶セル２の品種毎にプロービ
ング機構５を装着するとともに、液晶セル２の材料に合
わせて基板４の材料を設定し、液晶セル２の品種毎に基
板４を交換して段取する。
ぼ同材料で同様の熱膨張係数を有するガラス製の基板４
が着脱自在に配設されている。そして、この基板４に
は、１枚の液晶セル２のアウターリードボンディングパ
ッド３の個数に対応して２つずつ液晶セル２のアウター
リードボンディングパッド３の間隔に合わせて支持体と
してのワニ口クリップ状のプロービング機構５が位置決
め固定され、それぞれ隣合う液晶セル２との間隔をそれ
ぞれ一定にするように同間隔でたとえば３０個配設され
ている。また、基板４は液晶セル２の品種毎にプロービ
ング機構５を装着するとともに、液晶セル２の材料に合
わせて基板４の材料を設定し、液晶セル２の品種毎に基
板４を交換して段取する。
【００１６】また、このプロービング機構５は、内部に
液晶セル２のアウターリードボンディングパッド３に電
気的に接続するフレキシブルプリント基板コンタクトや
スプリングプローブコンタクトなどの接続端子を有し、
この接続端子は配線６を介して駆動手段７に接続され、
プロービング機構５の接続端子を液晶セル２のアウター
リードボンディングパッド３に電気的に接続して駆動手
段７から電源および信号が入力されるとともに、プロー
ビング機構５のワニ口クリップ上の部分で液晶セル２を
挟持することにより、プロービング機構５を電気的かつ
機械的に接続し、液晶セル２に各種電源および信号を供
給する。
液晶セル２のアウターリードボンディングパッド３に電
気的に接続するフレキシブルプリント基板コンタクトや
スプリングプローブコンタクトなどの接続端子を有し、
この接続端子は配線６を介して駆動手段７に接続され、
プロービング機構５の接続端子を液晶セル２のアウター
リードボンディングパッド３に電気的に接続して駆動手
段７から電源および信号が入力されるとともに、プロー
ビング機構５のワニ口クリップ上の部分で液晶セル２を
挟持することにより、プロービング機構５を電気的かつ
機械的に接続し、液晶セル２に各種電源および信号を供
給する。
【００１７】次に、上記実施の形態の動作について説明
する。
する。
【００１８】まず、プロービング機構５の接続端子を液
晶セル２のアウターリードボンディングパッド３に接続
するとともに、液晶セル２をプロービング機構５でクリ
ップ状に挟持して支持して液晶セル２を立てた状態で基
板３を恒温槽１内に収納し、駆動手段７から配線６を介
してすべての液晶セル２に電源および信号を供給し、液
晶セル２を表示させる。
晶セル２のアウターリードボンディングパッド３に接続
するとともに、液晶セル２をプロービング機構５でクリ
ップ状に挟持して支持して液晶セル２を立てた状態で基
板３を恒温槽１内に収納し、駆動手段７から配線６を介
してすべての液晶セル２に電源および信号を供給し、液
晶セル２を表示させる。
【００１９】なお、この状態では、液晶セル２にモジュ
ール部材が装着されていないため、恒温槽１内を約１０
０℃にして高湿度状態で約６時間の加速度試験による信
頼性試験ができる。したがって、従来の７０℃に比べて
高い温度で加速度試験ができるため、より短時間でバー
ンイン試験ができる。また、恒温槽１も液晶セル２のみ
を収納すればよいので小型化を図れる。
ール部材が装着されていないため、恒温槽１内を約１０
０℃にして高湿度状態で約６時間の加速度試験による信
頼性試験ができる。したがって、従来の７０℃に比べて
高い温度で加速度試験ができるため、より短時間でバー
ンイン試験ができる。また、恒温槽１も液晶セル２のみ
を収納すればよいので小型化を図れる。
【００２０】また、信頼性試験で液晶セル２が熱膨張し
ても、基板４の熱膨張係数が液晶セル２の熱膨張係数と
同様であるので、基板４もほぼ同じ長さで膨張するた
め、高温時にアウターリードボンディングパッド３およ
びプロービング機構５の位置がずれてしまうことによる
点灯不良を防止できる。
ても、基板４の熱膨張係数が液晶セル２の熱膨張係数と
同様であるので、基板４もほぼ同じ長さで膨張するた
め、高温時にアウターリードボンディングパッド３およ
びプロービング機構５の位置がずれてしまうことによる
点灯不良を防止できる。
【００２１】さらに、液晶セル２にはモジュール部材が
取り付けられていないため、バックライトの点灯による
電力消費やモジュール部材が消費する電力を使用しない
ですみ、高温槽１も小型化を図れるため、省エネルギ効
果を図れる。
取り付けられていないため、バックライトの点灯による
電力消費やモジュール部材が消費する電力を使用しない
ですみ、高温槽１も小型化を図れるため、省エネルギ効
果を図れる。
【００２２】また、液晶セル２自体に初期不良などで廃
棄する場合にも、モジュール部材が取り付けられていな
いため、液晶セル２のみを排気すればよいので、効率的
である。
棄する場合にも、モジュール部材が取り付けられていな
いため、液晶セル２のみを排気すればよいので、効率的
である。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、接続端子を液晶セルの
アウターリードボンディングパッドに接続し、駆動手段
からこの接続端子を介して液晶セルを駆動することによ
り、液晶セル自体で信頼性試験ができる。
アウターリードボンディングパッドに接続し、駆動手段
からこの接続端子を介して液晶セルを駆動することによ
り、液晶セル自体で信頼性試験ができる。
【図１】本発明の信頼性試験の一実施の形態を示す説明
図である。
図である。
【図２】同上液晶セルおよびプロービング機構を示す分
解斜視図である。
解斜視図である。
【図３】同上信頼性試験を側面から示す説明図である。
１ 恒温槽
２ 液晶セル
３ アウターリードボンディングパッド
４ 基板
５ 接続端子を有する支持体としてのプロービング機
構 ７ 駆動手段
構 ７ 駆動手段
Claims (8)
- 【請求項１】 アウターリードボンディングパッドを有
する板状の液晶セルのアウターリードボンディングパッ
ドに接続する接続端子と、 この接続端子が取り付けられた基板と、 前記接続端子に電気的に接続され液晶セルを駆動させる
駆動手段とを具備したことを特徴とする信頼性試験装
置。 - 【請求項２】 基板に設けられ液晶セルを支持する支持
体を具備したことを特徴とする請求項１記載の信頼性試
験装置。 - 【請求項３】 支持体は、クリップ状で挟持、開放する
ことにより液晶セルを着脱可能であることを特徴とする
請求項２記載の信頼性試験装置。 - 【請求項４】 支持体は、複数枚の液晶セルをそれぞれ
支持するように基板に複数設けられたことを特徴とする
請求項２記載の信頼性試験装置。 - 【請求項５】 支持体は、平行にそれぞれ液晶セルを立
てた状態で支持することを特徴とする請求項４記載の信
頼性試験装置。 - 【請求項６】 接続端子は、基板を挟持している状態で
液晶セルのアウターリードボンディングパッドに電気的
に接続するように支持体に設けられていることを特徴と
する請求項２記載の信頼性試験装置。 - 【請求項７】 基板は、ガラスで形成され、 接続端子は、１つの液晶セルのアウターリードボンディ
ングパッドに対応して間隙を介して複数設けられている
ことを特徴とする請求項６記載の信頼性試験装置。 - 【請求項８】 接続端子および基板が内部に設けられる
とともに液晶セルを収容する恒温槽を具備したことを特
徴とする請求項１記載の信頼性試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002017629A JP2003215525A (ja) | 2002-01-25 | 2002-01-25 | 信頼性試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002017629A JP2003215525A (ja) | 2002-01-25 | 2002-01-25 | 信頼性試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003215525A true JP2003215525A (ja) | 2003-07-30 |
Family
ID=27653251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002017629A Pending JP2003215525A (ja) | 2002-01-25 | 2002-01-25 | 信頼性試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003215525A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100898300B1 (ko) | 2008-01-11 | 2009-05-18 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 평판 표시장치 제조용 카세트 |
| CN113237872A (zh) * | 2020-06-17 | 2021-08-10 | 华标(天津)科技有限责任公司 | 一种生食食品农残检测方法 |
-
2002
- 2002-01-25 JP JP2002017629A patent/JP2003215525A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100898300B1 (ko) | 2008-01-11 | 2009-05-18 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 평판 표시장치 제조용 카세트 |
| CN113237872A (zh) * | 2020-06-17 | 2021-08-10 | 华标(天津)科技有限责任公司 | 一种生食食品农残检测方法 |
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