KR20060100600A

KR20060100600A - 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법

Info

Publication number: KR20060100600A
Application number: KR1020050022266A
Authority: KR
Inventors: 정훈; 김상호
Original assignee: 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date: 2005-03-17
Filing date: 2005-03-17
Publication date: 2006-09-21

Abstract

본 발명은 패드부와 검사용 지그간의 미스 얼라인을 방지할 수 있도록 한 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.

본 발명에 따른 평판 표시장치의 검사장치는 화상을 표시하는 화상 표시부에 전기적으로 접속되는 패드부와, 상기 패드부와 독립되도록 형성된 얼라인용 패드부를 포함하는 표시장치와, 상기 화상 표시부를 검사하기 위한 검사신호를 상기 패드부에 공급함과 동시에 상기 얼라인용 패드부에 전기적으로 접속되는 검사용 지그와, 상기 얼라인용 패드부와 상기 검사용 지그간의 전기적인 접촉에 상응하는 얼라인 상태신호를 발생하는 알림부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

이러한 구성에 의하여 본 발명은 검사 공정시 패드부와 지그간의 미스 얼라인을 방지할 수 있다. 또한, 본 발명은 패드부의 패드간 피치가 작을 경우에도 패드부와 지그간의 얼라인을 정확하게 할 수 있다. 그리고, 본 발명은 패드부와 지그간의 정확한 얼라인이 이루어지므로 에이징 공정시 바이어스 신호를 안정하게 인가할 수 있다.

표시장치, 지그, 패드부, 얼라인, 스틱 바

Description

평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법{APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION FLAT PANEL DISPLAY DEVICE}

도 1은 관련기술에 따른 평판 표시장치를 나타내는 평면도.

도 2는 관련기술에 따른 평판 표시장치의 검사장치를 개략적으로 나타내는 측면도.

도 3은 도 3에 도시된 검사용 지그의 스틱 바를 나타내는 도면.

도 4a는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치를 개략적으로 나타내는 측면도.

도 4b는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치를 개략적으로 나타내는 사시도.

도 5는 도 4b에 도시된 평판 표시장치의 패드부를 나타내는 평면도.

도 6은 도 4b에 도시된 검사용 지그의 스틱 바를 나타내는 평면도.

도 7은 도 4a에 도시된 알림부를 나타내는 도면.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호설명 >

2, 102 : 표시장치 4, 104 : 제 1 기판

6, 106 : 제 2 기판 8, 108 : 화상 표시부

10, 110 : 패드부 30, 130 : 검사용 지그

32, 132 : 덮개 34, 134 : 스테이지

36, 136 : 힌지 44, 144 : 스틱 바

112 : 얼라인용 패드부 114, 116 : 얼라인용 패드

118 : 연결부 140 : 검사용 접촉부

142 : 얼라인용 접촉부 145, 147 : 얼라인용 접촉 핀

150 : 알림부 152 : 전압원

154 : 알림장치

본 발명은 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로, 특히 패드부와 검사용 지그간의 미스 얼라인을 방지할 수 있도록 한 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.

최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시장치(Flat Panel Display)가 대두되고 있다. 이러한 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 전계방출 표시장치(Field Emission Display), 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel) 및 발광 표시장치(Light Emitting Display) 등이 있다.

이러한, 평판 표시장치 중 액정 표시장치는 비디오 신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하게 된다. 액정셀마다 스위칭소자가 형성된 액 티브 매트릭스(Active Matrix) 타입의 액정 표시장치는 동영상을 표시하기에 적합하다. 액티브 매트릭스 타입의 액정 표시장치에 사용되는 스위칭 소자로는 주로 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 TFT라 함)가 이용되고 있다. 이러한 액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자는 음극선관에 비하여 소형화가 가능하며, 퍼스널 컴퓨터(Personal Computer)와 노트북 컴퓨터(Note Book Computer)는 물론, 복사기 등의 사무자동화기기, 휴대전화기나 호출기 등의 휴대기기까지 광범위하게 이용되고 있다.

액티브 매트릭스 구동방식의 액정 표시장치는 제조 공정의 효율성 및 수율을 높이기 위하여 대형 기판(또는 머더 글라스) 상에 복수의 셀(Cell)을 동시에 형성한다. 이러한, 복수의 셀의 제조공정은 기판 세정, 기판 패터닝, 배향막형성, 기판합착/액정주입, 실장 공정 및 테스트 공정으로 나뉘어진다.

기판세정 공정에서는 상/제 2 기판의 패터닝 전후에 기판들의 이물질을 세정제를 이용하여 제거하게 된다.

기판 패터닝 공정에서는 제 1 기판의 패터닝과 제 2 기판의 패터닝으로 나뉘어진다. 제 1 기판에는 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 제 2 기판에는 데이터 라인과 게이트 라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터 라인과 게이트 라인의 교차부에 TFT가 형성된다. 데이터 라인과 게이트 라인 사이의 화소영역에는 화소전극이 형성된다. 이 패터닝 공정에 있어서, 각 층의 패터닝은 포토레지스트(Photoresist)를 이용한 사진석판법(Photolithography)이 일반적으로 이용되고 있다.

기판합착/액정주입 공정에서는 제 2 기판 상에 배향막을 도포하고 러빙하는 공정에 이어서, 실(Seal)을 이용한 상/제 2 기판 합착공정, 액정주입, 주입구 봉지공정이 순차적으로 이루어진다.

실장공정에서는 게이트 드라이브 집적회로 및 데이터 드라이브 집적회로 등의 집적회로가 실장된 테이프 케리어 패키지(Tape Carrier Package : TCP)를 기판 상의 패드부에 접속시키게 된다.

한편, 액정 표시장치의 제조공정은 셀 검사 공정 및 에이징 공정을 더 포함한다.

셀 검사 공정은 도 1에 도시된 바와 같이 화상을 표시하는 화상 표시부(8)를 가지도록 제 1 기판(4)과 제 2 기판(6)이 합착된 셀(2)의 제 2 기판(6)에 형성된 패드부(10)를 통해 화상 표시부(8)에 검사신호를 인가함으로써 셀 상태에서 화상 표시부(8)의 화상 온/오프 검사(점등 검사) 및 내부 회로 검사 등을 실시하게 된다.

에이징 공정은 상기 패드부(10)를 통해 셀(2)의 화상 표시부(8)에 바이어스(Bias) 신호를 인가함으로써 셀 상태에서 내부 회로 소자들의 전기적인 특성을 향상시킴과 아울러 균일하게 한다.

이러한, 셀 검사 공정 및 에이징 공정에서는 도 2에 도시된 바와 같이 검사용 지그(Gig)(30)를 이용하여 셀(2)에 대한 검사 공정을 실시하게 된다.

검사용 지그(30)는 셀(2)이 형성된 기판을 지지하는 스테이지(20)와, 힌지(36)를 통해 스테이지(20)에 회전가능하게 설치되는 덮개(32)와, 덮개(32)에 설치 되어 셀(2)의 패드부(10)에 검사신호를 인가하기 위한 스틱 바(44)를 구비한다.

스테이지(20) 상에는 제 1 기판(4)과 제 2 기판(6)이 합착되어 셀(2)이 형성된 기판을 공급받아 지지하게 된다.

덮개(32)는 중앙부에 개구부를 가지는 U자 형태로 제작되어 스테이지(20)의 일측 양 측면에 설치된 힌지(36)에 회전가능하도록 설치된다. 이때, 힌지(36)는 소정의 탄성력을 가지는 스프링이 될 수 있다. 이에 따라, 스테이지(20) 상에 지지된 셀(2)의 화상 표시부(8)는 덮개(32)의 개구부를 통해 외부로 노출된다.

덮개(32)는 스테이지(20) 상에 지지된 기판의 전면이 외부로 노출되도록 중앙부에 개구부를 가지는 U자 형태로 제작되어 스테이지(20)의 일측 양 측면에 설치된 힌지(36)에 회전가능하도록 설치된다. 이때, 힌지(36)는 소정의 탄성력을 가지는 스프링이 될 수 있다.

스틱 바(44)는 스테이지(20) 상에 지지된 기판의 패드부(10)에 대향하도록 덮개(32)에 설치된다. 이러한, 스틱 바(44)는 패드부(10)에 전기적으로 접촉하기 위하여 도 3에 도시된 바와 같이 복수의 검사용 접촉 핀(41)을 구비한다.

각 검사용 접촉 핀(41)은 기판의 패드부(10)에 접촉가능한 폭(W)을 가지며, 동일한 피치(P)를 가지도록 배치된다. 이 검사용 접촉 핀(41)은 전도성 메탈물질로 이루어지며, 포고 핀(Pogo Pin) 또는 프로브(Probe Pin)이 될 수 있다. 이러한, 각 검사용 접촉 핀(41)는 도시하지 않은 검사신호 발생장치로부터 검사신호를 공급받는다.

이러한 검사용 지그(30)를 이용한 액정 표시장치의 검사 공정을 설명하면 다 음과 같다.

먼저, 외부로부터 제 1 기판(4)과 제 2 기판(6)이 합착되어 셀(2)이 형성된 기판을 스테이지(20) 상에 공급하여 안착시키게 된다.

그런 다음, 덮개(32)를 스테이지(20) 쪽으로 하강하도록 회전시킴으로써 스틱 바(44)의 각 검사용 접촉 핀(41)을 기판의 패드부(10)에 전기적으로 접속시키게 된다.

이어서, 스틱 바(44)의 각 검사용 접촉 핀(41)이 기판의 패드부(10)에 전기적으로 접속된 상태에서 각 검사용 접촉 핀(41)을 통해 패드부(10)에 검사신호를 인가함으로써 화상 표시부(8)에 대한 검사 공정을 실시하게 된다.

이와 같이 검사용 지그(30)를 이용한 액정 표시장치의 검사장치는 기판에 형성된 셀의 개수가 증가할수록 검사용 접촉 핀(41)의 개수가 많아지거나 셀의 크기가 소형일수록 패드부(10)의 피치가 작을 경우 각 검사용 접촉 핀(41)과 패드부(10) 간의 얼라인 불량(미스 얼라인(Misalign))이 발생하게 된다.

따라서, 관련기술에 따른 검사용 지그(30)를 이용한 액정 표시장치의 검사장치는 검사 공정시 패드부(10)와 검사용 지그(30)간의 미스 얼라인으로 인하여 검사신호가 패드부(10)에 정상적으로 인가되지 않으면 검사가 제대로 이루어지고 있는지를 구분하기가 어려워 화상 표시부(8)의 불량을 검출할 수 없는 문제점이 있다.

따라서 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 패드부와 검사용 지그간의 미스 얼라인을 방지할 수 있도록 한 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방 법을 제공하는데 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치는 화상을 표시하는 화상 표시부에 전기적으로 접속되는 패드부와, 상기 패드부와 독립되도록 형성된 얼라인용 패드부를 포함하는 표시장치와, 상기 화상 표시부를 검사하기 위한 검사신호를 상기 패드부에 공급함과 동시에 상기 얼라인용 패드부에 전기적으로 접속되는 검사용 지그와, 상기 얼라인용 패드부와 상기 검사용 지그간의 전기적인 접촉에 상응하는 얼라인 상태신호를 발생하는 알림부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

상기 검사장치에서 상기 얼라인 패드부는 제 1 얼라인용 패드와, 상기 제 1 얼라인용 패드와 나란한 제 2 얼라인용 패드와, 상기 제 1 및 제 2 얼라인용 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 연결부를 구비하는 것을 특징으로 한다.

상기 검사장치에서 상기 검사용 지그는 상기 표시장치를 지지하는 스테이지와, 상기 스테이지에 회전가능하게 설치되는 덮개와, 상기 덮개에 설치되어 상기 패드부 및 상기 얼라인용 패드부에 대향하는 스틱 바를 구비하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사방법은 화상을 표시하는 화상 표시부에 전기적으로 접속되는 패드부와, 이격된 제 1 및 제 2 얼라인 패드가 서로 전기적으로 접속된 얼라인용 패드부를 포함하는 표시장치를 마련하는 단계와; 상기 패드부에 대향하는 복수의 접촉 핀과, 상기 얼라인용 패드부에 대향하는 제 1 및 제 2 얼라인 접촉 핀을 포함하는 검사용 지그를 마련하는 단계와; 상기 패드부와 상기 얼라인용 패드부에 상기 검사용 지그를 전기적으로 접촉시키는 단계와; 상기 얼라인 패드부와 상기 제 1 및 제 2 얼라인 접촉 핀간의 전기적인 접촉에 따라 상기 검사용 지그와 상기 패드부간의 얼라인 상태를 확인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 평판 표시장치의 검사방법에서 상기 얼라인 상태를 확인하는 단계는 얼라인 검사용 신호를 발생하여 상기 제 1 얼라인 접촉 핀에 공급하는 단계와; 상기 제 1 얼라인 접촉 핀과 상기 얼라인용 패드부 및 상기 제 2 얼라인 접촉 핀을 통해 출력되는 상기 얼라인 검사용 신호에 따라 얼라인 상태신호를 발생하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기 평판 표시장치의 검사방법에서 상기 얼라인 상태신호는 광 및 소리 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.

이하에서, 첨부된 도면 및 실시 예를 통해 본 발명의 실시 예를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.

도 4a는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치를 나타내는 측면도이고, 도 4b는 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치를 나타내는 사시도이다.

도 4a 및 도 4b를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치는 화상을 표시하는 화상 표시부(108)를 가지도록 2개의 기판(104, 106)이 합착되며, 2개의 기판(104, 106) 중 어느 하나에 형성되어 화상 표시부(108)에 전 기적으로 접속되는 패드부(110)와, 패드부(110)에 인접하도록 형성되는 얼라인용 패드부(112)를 포함하는 표시장치(또는 셀)(102)와, 화상 표시부(108)를 검사하기 위한 검사신호를 패드부(110)에 공급함과 동시에 얼라인용 패드부(112)에 전기적으로 접속되는 검사용 지그(130)와, 얼라인용 패드부(112)와 검사용 지그(130)간의 전기적인 접촉에 상응하는 얼라인 상태신호를 발생하는 알림부(150)를 구비한다.

표시장치(102)는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 전계방출 표시장치(Field Emission Display), 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel) 및 발광 표시장치(Light Emitting Display) 중 어느 하나가 될 수 있으며, 이하 액정 표시장치로 가정하여 설명하기로 한다.

제 1 기판(104)에는 도시하지 않은 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 그리고, 제 2 기판(106)에는 패드부(110)와 얼라인용 패드부(112) 및 도시하지 않은 복수의 데이터 라인과 게이트 라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터 라인과 게이트 라인에 접속되는 박막 트랜지스터를 포함하는 복수의 액정셀이 형성된다.

패드부(110)는 박막 트랜지스터의 제조공정과 동시에 제 2 기판(106)의 일측에 형성되어 각 게이트 라인 및 각 데이터 라인에 전기적으로 접속되는 복수의 패드(111)를 구비한다. 각 패드(111)는 도 5에 도시된 바와 같이 동일한 피치(P) 및 폭(W)을 가지도록 나란하게 형성된다. 이때, 각 패드(111)간의 피치(P)는 0.5mm ~ 1mm 범위 이내가 된다.

화상 표시부(108)는 패드부(110)를 통해 각 게이트 라인에 인가되는 스캔신 호 및 각 데이터 라인에 인가되는 비디오 신호를 이용하여 액정셀을 구동함으로써 비디오 신호에 대응되는 화상을 표시하게 된다.

얼라인용 패드부(112)는 도 5에 도시된 바와 같이 제 2 기판(106)의 더미 영역에 독립적으로 형성되어 패드부(110) 및 화상 표시부(108)와 전기적으로 비접속된다. 이러한, 얼라인용 패드부(112)는 나란하게 형성된 제 1 및 제 2 얼라인용 패드(114, 116)와, 제 1 및 제 2 얼라인용 패드(114, 116)를 전기적으로 접속시키기 위한 연결부(118)를 구비한다.

제 1 및 제 2 얼라인 패드(114, 116)는 소정 간격을 가지도록 나란하게 형성된다. 이때, 제 1 및 제 2 얼라인 패드(114, 116)는 스트라이프 형태를 가지도록 형성된다.

연결부(118)는 제 1 및 제 2 얼라인 패드(114, 116) 사이에 형성되어 제 1 및 제 2 얼라인용 패드(114, 116)를 서로 전기적으로 접속시킨다.

한편, 얼라인용 패드부(112)는 제 1 및 제 2 얼라인 패드(114, 116)가 연결부(118)에 의해 서로 전기적으로 접속된 상태일 경우 표시장치(102)의 임의의 더미 영역에 배치될 수 있다.

검사용 지그(130)는 표시장치(102)를 지지하는 스테이지(120)와, 힌지(136)를 통해 스테이지(120)에 회전가능하게 설치되는 덮개(132)와, 덮개(132)에 설치되어 표시장치(102)의 패드부(110)에 검사신호를 인가하기 위한 스틱 바(144)를 구비한다.

스테이지(120) 상에는 외부로부터 표시장치(102)를 공급받아 지지하게 된다.

덮개(132)는 중앙부에 개구부를 가지는 U자 형태로 제작되어 스테이지(120)의 일측 양 측면에 설치된 힌지(136)에 회전가능하도록 설치된다. 이때, 힌지(136)는 소정의 탄성력을 가지는 스프링이 될 수 있다. 이에 따라, 스테이지(120) 상에 지지된 표시장치(102)의 화상 표시부(108)는 덮개(132)의 개구부를 통해 외부로 노출된다.

스틱 바(144)는 스테이지(120) 상에 지지된 표시장치(102)의 패드부(110)에 대향하도록 덮개(132)에 설치된다.

이러한, 스틱 바(144)는 도 6에 도시된 바와 같이 패드부(110)에 검사신호를 인가하기 위한 검사용 접촉부(140)와, 얼라인용 패드부(112)에 전기적으로 접촉하는 얼라인용 접촉부(142)를 구비한다.

검사용 접촉부(140)는 패드부(110)에 대향하도록 배치되며, 패드부(110)의 각 패드(111)에 전기적으로 접속되는 복수의 검사용 접촉 핀(141)을 구비한다.

각 검사용 접촉 핀(141)은 패드부(110)의 각 패드(111)와 접촉가능한 폭(W)을 가지며, 인접한 핀들 간에 동일한 피치(P)를 가지도록 나란하게 배치된다. 이 복수의 검사용 접촉 핀(141)은 전도성 메탈물질로 이루어지며, 포고 핀(Pogo Pin) 또는 프로브(Probe Pin)이 될 수 있다. 이러한, 각 검사용 접촉 핀(141)는 도시하지 않은 검사신호 발생장치로부터 검사신호를 공급받는다. 한편, 각 검사용 접촉 핀(141)은 스트라이프 형태로 나란하게 형성되거나, 2열로 나란하게 배치될 수 있다.

얼라인용 접촉부(142)는 얼라인용 패드부(112)에 대향하도록 배치되며, 얼라 인용 패드부(112)의 제 1 얼라인용 패드(114)에 전기적으로 접촉되는 제 1 얼라인용 접촉 핀(145)과, 얼라인용 패드부(112)의 제 2 얼라인용 패드(116)에 전기적으로 접촉되는 제 2 얼라인용 접촉 핀(147)을 구비한다.

제 1 얼라인용 접촉 핀(145)은 제 1 얼라인용 패드(114)에 대향되도록 형성되며, 제 2 얼라인용 접촉 핀(147)은 제 2 얼라인용 패드(116)에 대향되도록 형성된다.

알림부(150)는 덮개(132)의 일측 전면에 설치된다. 이러한, 알림부(150)는 도 7에 도시된 바와 같이 제 1 얼라인용 접촉 핀(145)에 전기적으로 접속되는 전압원(152)과, 전압원(152)과 제 2 얼라인용 접촉 핀(147)간에 전기적으로 접속되는 알림장치(154)를 구비한다.

전압원(152)은 제 1 얼라인용 접촉 핀(145)에 전기적으로 접속되는 제 1 신호선(153)에 접속됨과 아울러 알림장치(154)에 전기적으로 접속된다. 이러한, 제 1 전압원(152)은 제 1 얼라인용 접촉 핀(145)에 얼라인 검사용 신호를 공급한다.

알림장치(154)는 제 2 얼라인용 접촉 핀(147)에 전기적으로 접속되는 제 2 신호선(155)에 접속됨과 아울러 전압원(152)에 전기적으로 접속된다. 이때, 알림장치(154)는 발광 다이오드(Light Emitting Diode) 및 소리 발생장치(버저(Buzzer)) 중 어느 하나가 될 수 있으며, 이하 발광 다이오드로 가정하기로 한다.

이러한, 알림장치(154)는 제 2 얼라인용 접촉 핀(147)으로부터 공급되는 얼라인 검사용 신호에 따라 동작하여 얼라인 상태를 표시하게 된다.

구체적으로, 표시장치(102)의 얼라인용 패드(112)에 스틱 바(144)의 제 1 및 제 2 얼라인용 접촉 핀(145, 147)이 정상적으로 접촉될 경우, 알림장치(154)는 전압원(152)으로부터 제 1 얼라인용 접촉 핀(145), 제 1 얼라인용 패드(114), 연결부(118), 제 2 얼라인용 패드(116) 및 제 2 얼라인용 접촉 핀(147)을 통해 공급되는 얼라인 검사용 신호에 의해 발광하여 광을 방출하게 된다.

이와 같은, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치를 이용한 평판 표시장치의 검사방법을 설명하면 다음과 같다.

먼저, 외부로부터 공급되는 표시장치(102)를 스테이지(120) 상에 안착시키게 된다.

그런 다음, 덮개(132)를 스테이지(120) 쪽으로 하강하도록 회전시킴으로써 스틱 바(144)의 각 검사용 접촉 핀(141)을 패드부(110)의 각 패드(111)에 전기적으로 접속시키게 된다. 이와 동시에 얼라인용 패드부(112)의 제 1 및 제 2 얼라인용 패드(114, 116)에는 제 1 및 제 2 얼라인용 접촉 핀(145, 147)이 전기적으로 접속된다.

이에 따라, 얼라인용 패드부(112)와 얼라인용 접촉부(142)가 정상적인 얼라인 상태로 접촉된 경우 알림장치(154)는 전압원(152)으로부터 제 1 얼라인용 접촉 핀(145), 제 1 얼라인용 패드(114), 연결부(118), 제 2 얼라인용 패드(116) 및 제 2 얼라인용 접촉 핀(147)을 통해 공급되는 얼라인 검사용 신호에 따라 발광하여 광을 방출하게 된다. 따라서, 작업자는 알림장치(154)로부터 발생되는 광을 확인함으로써 패드부(110)와 지그(130)간의 얼라인 매칭(Matching) 정도를 간접적으로 확인할 수 있다.

반면에, 얼라인용 패드부(112)와 얼라인용 접촉부(142)가 비정상적인 얼라인 상태로 접촉된 경우 알림장치(154)는 전압원(152)으로부터 제 1 얼라인용 접촉 핀(145)에 인가되는 얼라인 검사용 신호가 얼라인용 패드부(112)를 통해 제 2 얼라인용 접촉 핀(147)으로 공급되지 않으므로 비발광하게 된다. 즉, 알림장치(154)는 패드부(110)와 지그(130)간에 미스 얼라인이 발생될 경우 동작하지 않게 된다. 따라서, 작업자는 알림장치(154)의 비발광을 확인함으로써 패드부(110)와 지그(130)를 재정렬하여 얼라인 매칭시키게 된다.

이렇게, 알림장치(154)에 의해 패드부(110)와 지그(130)의 얼라인 매칭이 확인된 경우 각 검사용 접촉 핀(141)을 통해 패드부(110)에 검사신호를 인가함으로써 화상 표시부(108)에 대한 검사 공정을 실시하게 된다.

한편, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 상술한 바와 같이 검사용 지그(130)로 하나의 표시장치(102)를 검사하는데 한정되는 것이 아니라, 대형 기판 상에 형성된 복수의 표시장치(102)를 동시에 검사할 수 있다. 이때, 표시장치(102) 마다 얼라인 정도를 확인할 수 있고, 또는 복수의 표시장치(102)들 중 좌우로 인접한 표시장치(102) 중 어느 하나를 이용하여 얼라인 정도를 확인할 수 있다.

그리고, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 상술한 표시장치(102)의 전면에서 지그(130)의 스틱 바(144)를 표시장치(102)의 패드부(110) 및 얼라인용 패드부(112)에 접촉시키는 방식 이외에도 표시장치(102)의 배면에서 지그(130)의 스틱 바(144)를 지그(130)의 스틱 바(144)를 표시 장치(102)의 패드부(110) 및 얼라인용 패드부(112)에 접촉시킬 수 있다.

한편으로, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 상술한 표시장치(102)는 액정 표시장치, 플라즈마 디스플레이 패널, 발광 표시장치 및 전계방출 표시장치에서도 동일하게 적용될 수 있다.

이와 같은, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 검사 공정시 패드부(110)와 검사용 지그(130)간의 얼라인 정도에 따라 알림장치(154)를 구동함으로써 패드부(110)와 검사용 지그(130)간의 미스 얼라인으로 인한 불량을 방지할 수 있다.

한편, 이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 종래의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.

상기와 같은 본 발명의 실시 예에 따른 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시장치의 검사장치 및 검사방법은 검사 공정시 패드부와 지그간의 미스 얼라인을 방지할 수 있다. 또한, 본 발명은 패드부의 패드간 피치가 작을 경우에도 패드부와 지그간의 얼라인을 정확하게 할 수 있다. 그리고, 본 발명은 패드부와 지그간의 정확한 얼라인이 이루어지므로 에이징 공정시 바이어스 신호를 안정하게 인가할 수 있다.

Claims

화상을 표시하는 화상 표시부에 전기적으로 접속되는 패드부와, 상기 패드부와 독립되도록 형성된 얼라인용 패드부를 포함하는 표시장치와,

상기 화상 표시부를 검사하기 위한 검사신호를 상기 패드부에 공급함과 동시에 상기 얼라인용 패드부에 전기적으로 접속되는 검사용 지그와,

상기 얼라인용 패드부와 상기 검사용 지그간의 전기적인 접촉에 상응하는 얼라인 상태신호를 발생하는 알림부를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사장치.
제 1 항에 있어서,

상기 얼라인 패드부는,

제 1 얼라인용 패드와,

상기 제 1 얼라인용 패드와 나란한 제 2 얼라인용 패드와,

상기 제 1 및 제 2 얼라인용 패드를 서로 전기적으로 접속시키는 연결부를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사장치.
제 2 항에 있어서,

상기 검사용 지그는,

상기 표시장치를 지지하는 스테이지와,

상기 스테이지에 회전가능하게 설치되는 덮개와,

상기 덮개에 설치되어 상기 패드부 및 상기 얼라인용 패드부에 대향하는 스틱 바를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사장치.
제 3 항에 있어서,

상기 스틱 바는,

상기 패드부에 대향되어 상기 패드부에 상기 검사신호를 공급하기 위한 복수의 검사용 접촉 핀을 가지는 검사용 접촉부와,

상기 제 1 및 제 2 얼라인용 패드 각각에 대향되는 제 1 및 제 2 얼라인용 접촉 핀을 가지는 얼라인용 접촉부를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사장치.
제 4 항에 있어서,

상기 알림부는,

상기 제 1 얼라인용 접촉 핀에 얼라인 검사용 신호를 공급하는 전압원과;

상기 제 2 얼라인용 접촉 핀과 상기 전압원간에 접속되며 상기 얼라인용 패드부를 경유하여 상기 전압원으로부터 공급되는 상기 얼라인 검사용 신호에 응답하여 상기 얼라인 상태신호를 발생하는 알림장치를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사장치.
제 5 항에 있어서,

상기 알림장치는 발광 다이오드 및 소리 발생장치 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사장치.
제 5 항에 있어서,

상기 알림장치는 상기 제 1 및 제 2 얼라인용 접촉 핀이 상기 제 1 및 제 2 얼라인용 패드 각각에 정상적으로 접촉될 경우 상기 전압원으로부터의 얼라인 검사용 신호에 응답하여 상기 얼라인 상태신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사장치.
화상을 표시하는 화상 표시부에 전기적으로 접속되는 패드부와, 이격된 제 1 및 제 2 얼라인 패드가 서로 전기적으로 접속된 얼라인용 패드부를 포함하는 표시장치를 마련하는 단계와;

상기 패드부에 대향하는 복수의 접촉 핀과, 상기 얼라인용 패드부에 대향하는 제 1 및 제 2 얼라인 접촉 핀을 포함하는 검사용 지그를 마련하는 단계와;

상기 패드부와 상기 얼라인용 패드부에 상기 검사용 지그를 전기적으로 접촉시키는 단계와;

상기 얼라인 패드부와 상기 제 1 및 제 2 얼라인 접촉 핀간의 전기적인 접촉에 따라 상기 검사용 지그와 상기 패드부간의 얼라인 상태를 확인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사방법.
제 8 항에 있어서,

상기 얼라인 상태를 확인하는 단계는,

얼라인 검사용 신호를 발생하여 상기 제 1 얼라인 접촉 핀에 공급하는 단계와;

상기 제 1 얼라인 접촉 핀과 상기 얼라인용 패드부 및 상기 제 2 얼라인 접촉 핀을 통해 출력되는 상기 얼라인 검사용 신호에 따라 얼라인 상태신호를 발생하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사방법.
제 9 항에 있어서,

상기 얼라인 상태신호는 광 및 소리 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치의 검사방법.