JP2003203593A - 荷電粒子ビーム装置における収差補正装置 - Google Patents
荷電粒子ビーム装置における収差補正装置Info
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Abstract
を行うことができる荷電粒子ビーム装置の収差補正装置
を実現する。 【解決手段】 色収差を補正するために、4段の静電型
4極子1,2,3,4と、中央の2段の静電型4極子
2,3の電位分布と相似な磁位分布を重畳させる2段の
磁場型4極子5,6と、対物レンズ7と、加速電圧や作
動距離を変更する操作表示部9と、4段の静電型4極子
1〜4に電圧を供給する電源10と、2段の磁場型4極
子5,6を励磁する電源15と、対物レンズ7の電源1
7と、操作表示部9の操作または設定に基づいて前記電
源10、15を制御する制御部19が備えられている。
加速電圧を変えた場合、磁場型4極子の励磁は一定に維
持し、第4の静電型4極子4と対物レンズ7との合成倍
率を調整して色収差の補正を行う。
Description
どの電子ビーム装置やイオンマイクロプローブなどのイ
オンビーム装置における色収差と球面収差を補正するた
めの荷電粒子ビーム装置における収差補正装置に関す
る。
て、高分解能の像を観察したりプローブ電流密度を上げ
ることを目的として、電子光学系の中に収差補正装置が
組み込まれている。この収差補正装置として、色収差を
静電型4極子と磁場型4極子の組合せで補正し、球面収
差を4段の8極子で補正する方式が提案されている。そ
の原理については、非特許文献1〜3に詳しく紹介され
ている。
略を、図1に基づいて説明する。図1において、対物レ
ンズ7の前段に収差補正装置Cが配置されている。収差
補正装置Cは、4段の静電型4極子1、2、3、4と、
静電型4極子の2段目と3段目が作り出す電位分布と相
似な磁位分布を作り出し、電界と重畳した磁界を形成す
る2段の磁場型4極子5、6と、4段の静電型4極子が
形成する電界と重畳した電界を形成する4段の静電型8
極子11,12,13,14とより構成されている。
極子の電界に、更に4段の2極子(軸合せ用の偏向装置
として動作する)と4段の6極子(2次の開口収差補正用
として働く)が重畳するように成されているが、本発明
とは直接の関係は小さいので、詳しくは説明しない。
射した荷電粒子ビームは、4段の静電型4極子1、2、
3、4と対物レンズ7によって、基準となる荷電粒子ビ
ームの軌道が作られ、試料面20に荷電粒子ビームがフ
ォーカスされる。この図1では、粒子線のX方向の軌道
RxとY方向の軌道Ryとを同じ平面上にまとめて模式
的に描いている。
の軌道と考えてよい)として、4極子1によってY方向
の軌道Ryが4極子2の中心を通り、4極子2によって
X方向の軌道Rxが4極子3の中心を通り、最後に4極
子3、4と対物レンズ7によって荷電粒子ビームが試料
面にフォーカスされる軌道をいう。実際には完全なフォ
ーカスのために、これらの相互調整が必要になる。な
お、このとき、前記の4段の2極子は軸合せのため用い
られる。
道Rxの荷電粒子ビームは4極子1によって拡散(凹レ
ンズと同様な作用)され、次いで4極子2によって集束
(凸レンズと同様な作用)されて4極子3の中心を通るよ
うになされ、4極子3の中心を通過した後、4極子4に
よって集束されて、対物レンズ7に向かう。一方、Y方
向の軌道Ryの荷電粒子ビームは4極子1によって集束
されて4極子2の中心を通るようになされ、4極子2の
中心を通過した後、4極子3によって集束され、最後に
4極子4によって拡散された後、対物レンズ7に向か
う。このようにX方向の軌道Rxに作用する4極子1の
拡散作用と、Y方向の軌道Ryに作用する4極子4の拡
散作用とを合成することによって、一個の凹レンズの如
くに働かせることができる。
ついて説明する。図1に示したような系で先ず色収差を
補正するには、上記の基準軌道を変えないように静電型
4極子2の電位φq2[V]と磁場型4極子5の励磁J
2[AT](あるいは磁位)が調整され、レンズ系全体
としてX方向の色収差が0に補正される。同様に基準軌
道を変えないように静電型4極子3の電位φq3[V]
と磁場型4極子6の励磁J3[AT]が調整され、レン
ズ系全体としてY方向の色収差が0に補正される。
正)について説明する。球面収差を補正する場合には、
X,Y方向の色収差の補正を行った後に、静電型8極子
12の電位φO2[V]によってレンズ系全体としてX
方向の球面収差を0に補正し、静電型8極子13の電位
φO3[V]によってY方向の球面収差を0に補正す
る。
を静電型8極子11、14で0に補正する。実際は交互
の繰返し調整が必要になる。なお、4極子や8極子の電
位や励磁の重畳は、1個の12極子を用いて、12極の
各極子に印加する電位や励磁を変化させ2極子、4極
子、6極子、8極子などの合成が行われ、実用化されて
いる。この方法については、例えば非特許文献4に紹介
されている。すなわち、静電型の場合には図9に示すよ
うに、12個の電極Un(n=1, 2, …,12)に対して、独立
に電圧を供給できる最終段電源An(n=1, 2, …, 12)
が接続され、4極子場を作る場合には、理想的な4極子
場に近い場が得られるように4極子電源10からの出力
電圧が各Anに供給される。最終段電源Anの出力電圧が
4極子電源10の出力電圧と比例すると仮定すると、1
0の出力電圧の比は上記の文献[4]に示された値にな
る。また、この4極子場に重ねて8極子場を作る場合に
は、理想的な8極子場に近い場が得られるように、8極
子電源18からの出力電圧が前記10の出力電圧と加算
されて各Anに供給される。以下同様の考え方で、1個の
12極子で2n極子(n=1、2、…6)の多極子場を重ね
た場が得られる。次に磁場型の場合には図10に示すよ
うに、12個のマグネットWn(n=1, 2, …, 12)のコイ
ルに対して、独立に励磁電流を供給できる最終段電源B
n(n=1, 2,…, 12)が接続され、磁場型4極子場を作
る場合には、理想的な磁場型の4極子場に近い場が得ら
れるように磁場型4極子電源15からの出力電圧が各Bn
に供給される。最終段電源Bnの出力電流が磁場型4極
子電源15の出力電圧と比例すると仮定すると、この出
力電圧の比は上記の文献[4]に示されている励磁力の比
になる。本発明では、磁場型の4極子場以外の多極子場
の重畳は説明されていないが、最終段電源Bnの入力電
圧に多極子場の電圧を加算することによって、静電型と
同様に磁場型の多極子場の重畳が可能になる。なお、こ
こで、図10では各マグネットWnの外側を磁気的につな
ぐヨークは省略されている。次に、静電型と磁場型を重
ねる場合には、マグネットWnが電極Unを兼ねることが
できるように導電性の磁性体を用いれば良い。この場
合、マグネットのコイルは電極とは電気的に絶縁して配
置される。以下の説明では、説明を簡単にするために、
あたかも2n極子を互いに重ねたかのように記述してい
るが、実際には1つの12極子に対し複数の多極子場の重
畳は上記のように電圧信号の加算によって行っている。
なお、色収差補正が終わった後、球面収差補正を行う前
に、4段の6極子による2次の開口収差を補正する必要
が生じる場合がある。その補正法は前記の球面収差の補
正法と同様の手順で行う。この2次の開口収差は収差補
正装置の機械的精度に依存して発生するものであるが、
通常は補正量も小さく本発明における範囲では高次収差
への影響も小さい。また、この2次の開口収差は収差補
正装置内部で補正されるものであり、本発明において重
要であるところの「収差補正装置と対物レンズとによる
合成倍率(後述する)」を変化させても、それによる影響
を受けにくい。よって、本発明では2次の開口収差の補
正に関しては説明を省く。
(あるいは電圧)という表現を用いた場合には、図2
(a)、2(b)に示すような標準配列をした多極子の
+側の値を表すものとする。同様に、磁場型の励磁Jと
いう表現を用いた場合には、+側の励磁[AT]を表す
ものとする。
(1971)
89)
r. and Meth. In Phys. Res.A 363, 316-325 (1995)
9-23 (1982)
論や、実際に行われた実験に基づく結果では、色収差と
球面収差がほぼ完全に補正され、前記収差補正系の優秀
性が認められたが、実用化の観点からは、収差補正系の
安定度や印加電圧の範囲、さらには最適条件等に関して
は、十分な配慮がなされていなかった。例えば、次に示
すような問題点が生じている。
や、対物レンズ7と試料表面20との間隔を表す作動距
離WDを変えた場合、これに対応するために磁場型4極
子の励磁を変更することになるが、励磁を変更したこと
に伴って僅かな磁場ドリフトδBが発生する。長時間の
高安定度を必要とする場合には、このドリフトが原因で
荷電粒子ビームの基準軌道がずれ、収差補正の条件がず
れる場合があった。
加速電圧が低加速電圧である場合には、色収差や球面収
差の補正に際して、補正に必要な電圧が多少高めに設定
されても、静電型の多極子(4極子や8極子など)の耐
圧電圧に問題が生じることは無かったが、加速電圧が高
くなるとこの補正電圧の大小が多極子の耐圧電圧に大き
く影響することが判明した。
加速電圧まで広範な電圧範囲で使用する場合、低加速電
圧では系全体の電圧が小さくなるため、各静電4極子へ
の印加電圧の揺らぎ成分δφが補正電圧や偏向場に与え
る割合が増え、長時間の高安定度や高分解能を必要とす
る場合には、このゆらぎ成分δφが問題になる。
が補正された後に残る高次収差、例えば5次の球面型収
差(収差量が試料面に入射するビームの開き角の5乗に
比例する)や4次の開口色収差(収差量がビームの開き角
の3乗とビームのエネルギー幅の積に比例する、3次の
開口・1次の色収差)等の影響を最小にして使用する最
適条件が考慮されていなかった。
もので、その目的は、長時間に渡って安定な、そして最
適な収差補正を行うことができる荷電粒子ビーム装置の
収差補正装置を実現するにある。
ビーム装置における収差補正装置は、荷電粒子ビーム光
学系内部に配置された収差補正装置であって、4段の静
電型4極子と、4段の静電型4極子の中央の2段の静電
型4極子の電位分布と相似な磁位分布を重畳させる2段
の磁場型4極子と、荷電粒子ビームを試料にフォーカス
させる対物レンズと、荷電粒子ビームの光路の一部に設
けられた対物絞りと、荷電粒子ビームの加速電圧や対物
レンズと試料間の距離である作動距離を変更する操作部
と、操作部の操作または設定に基づいて前記各4極子と
対物レンズとを制御する制御部を備えたことを特徴とし
ている。
づいて、加速電圧または作動距離の何れかを変更したと
き、制御部は、磁場型4極子の励磁を一定に保つ条件下
において、(1)加速電圧の変更に対しては静電4極子
に印加する電圧と4段目の静電型4極子と対物レンズと
の合成倍率とを調整し、(2)作動距離の変更に対して
は4段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍率を調
整することによって、荷電粒子ビーム光学系の色収差を
補正するようにした。
たは設定に基づいて、加速電圧または作動距離の何れか
を変更したとき、制御部は、静電型4極子の電圧の絶対
値が4段共にほぼ同程度になるような条件下において、
(1)加速電圧の変更に対しては4段目の静電型4極子
と対物レンズとの合成倍率を一定に保ったままで静電4
極子に印加する電圧と磁場型4極子を励磁する電流とを
調整し、(2)作動距離の変更に対しては4段目の静電
型4極子と対物レンズとの合成倍率を調整することによ
って、荷電粒子ビーム光学系の色収差を補正するように
した。
の絶対値が最小になるようにした状態において、操作部
の操作または設定に基づいて、加速電圧または作動距離
の何れかを変更したとき、制御部は、静電型4極子の電
圧の絶対値が4段共にほぼ同程度になるような条件下
で、(1)加速電圧の変更に対しては4段目の静電型4
極子と対物レンズとの合成倍率を一定に保ったままで静
電4極子に印加する電圧と磁場型4極子を励磁する電流
とを調整し、(2)作動距離の変更に対しては4段目の
静電型4極子と対物レンズとの合成倍率を調整すること
によって、5次の開口収差の絶対値が最小になるように
した。
差即ち3次の開口・1次の色収差が0または絶対値が最
小になるようにした状態において、操作部の操作または
設定に基づいて、加速電圧または作動距離の何れかを変
更したとき、制御部は、静電型4極子の電圧の絶対値が
4段共にほぼ同程度になるような条件下で、(1)加速
電圧の変更に対しては4段目の静電型4極子と対物レン
ズとの合成倍率を一定に保ったままで静電4極子に印加
する電圧と磁場型4極子を励磁する電流とを調整し、
(2)作動距離の変更に対しては4段目の静電型4極子
と対物レンズとの合成倍率を調整することによって、4
次の開口色収差即ち3次の開口・1次の色収差が0また
は絶対値が最小になるようにした。
極子の電位分布に8極子電位を重畳させる4段の静電型
8極子と、操作部の操作または設定に基づいて前記4段
の静電型8極子を制御する制御部を備えることによっ
て、球面収差をも合せて補正可能にした。
たは設定に基づいて、加速電圧または作動距離の何れか
を変更したとき、制御部は、静電型4極子の電圧とこれ
に重畳させる静電型8極子の電圧の和の絶対値が4段共
にほぼ同程度になるような条件下において、(1)加速
電圧の変更に対しては4段目の静電型4極子と対物レン
ズとの合成倍率を一定に保ったままで静電4極子に印加
する電圧と磁場型4極子を励磁する電流とを調整し、
(2)作動距離の変更に対しては4段目の静電型4極子
と対物レンズとの合成倍率を調整することによって、荷
電粒子ビーム光学系の色収差または球面収差の少なくと
も何れか一方を補正するようにした。
における収差補正装置は、荷電粒子ビーム光学系内部に
配置された収差補正装置であって、4段の静電型4極子
と、4段の静電型4極子の中央の2段の静電型4極子の
電位分布と相似な磁位分布を重畳させる2段の磁場型4
極子と、荷電粒子ビームを試料にフォーカスさせる対物
レンズと、荷電粒子ビームの光路の一部に設けられた対
物絞りと、4段の静電型4極子と対物レンズとの間に設
けられた追加レンズと、荷電粒子ビームの加速電圧や対
物レンズと試料間の距離である作動距離を変更する操作
部と、操作部の操作または設定に基づいて、前記4段の
静電4極子と2段の磁場型4極子と対物レンズと追加レ
ンズとを制御する制御部を備えたことを特徴としてい
る。
づいて、加速電圧または作動距離の何れかを変更したと
き、制御部は、磁場型4極子の励磁を一定に保つ条件下
において、(1)加速電圧の変更に対しては静電4極子
に印加する電圧と4段目の静電型4極子と追加レンズと
対物レンズとの合成倍率を調整し、(2)作動距離の変
更に対しては追加レンズと対物レンズとの合成倍率を調
整することによって、荷電粒子ビーム光学系の色収差を
補正するようにした。
たは設定に基づいて、加速電圧または作動距離の何れか
を変更したとき、制御部は、静電型4極子の電圧の絶対
値が4段共にほぼ同程度になるような条件下において、
(1)加速電圧の変更に対しては4段目の静電型4極子
と追加レンズと対物レンズとの合成倍率を一定に保った
ままで静電4極子に印加する電圧と磁場型4極子を励磁
する電流とを調整し、(2)作動距離の変更に対しては
追加レンズと対物レンズとの合成倍率を調整することに
よって、荷電粒子ビーム光学系の色収差を補正するよう
にした。また、本発明においては、制御部は、4段の静
電型4極子のうちの中央の2段の静電型4極子の電位と
4段の静電型8極子の電位とをそれぞれ予め定められた
電位に設定することによって、5次の開口収差の絶対値
が最小になるようにあるいは4次の開口色収差即ち3次
の開口・1次の色収差が0または絶対値が最小になるよ
うにした。
施の形態を詳細に説明する。図3は本発明の基本構成を
示しており、荷電粒子ビームの一部をプローブとして試
料に照射する装置において、色収差を補正するために、
4段の静電型4極子1、2、3、4と中央の2段の静電
型4極子2、3の電位分布と相似な磁位分布を重畳させ
る2段の磁場型4極子5、6と、対物レンズ7と、光路
の一部に設けられた対物絞り8と、加速電圧や作動距離
を変更する操作表示部9と、4段の静電4極子1〜4に
電圧を供給する電源10と、2段の磁場型4極子5、6
を励磁する電源15と、対物レンズの電源17と、操作
表示部9の操作または設定に基づいて前記電源10、1
5、17を制御する制御部19が備えられている。
場型の場合は電源17から供給される電流を変えること
によって、対物レンズ7が静電型の場合は電源17から
供給される電圧を変えることによって、あるいは対物レ
ンズ7が電場・磁場重畳型の場合は電源17から供給さ
れる電流および電圧を調節することによって、レンズの
強度が調節される。更に、荷電粒子が高速のイオンの場
合には、荷電粒子の質量に関係なく同じ屈折力が得られ
る静電型の対物レンズ7が用いられる。
た各構成要素に加えて4段の静電型4極子1、2、3、
4の電位分布に8極子電位を重畳させる4段の静電型8
極子11、12、13、14と、4段の静電型8極子に
電圧を供給する電源18と、操作表示部9の操作または
設定に基づいて前記電源18を制御する制御部19が備
えられている。
1、2、3、4と2段の磁場型4極子5、6と、これに
各電源10、15を含めたもの、あるいはこれらに更に
4段の静電型8極子11、12、13、14と電源18
を含めたものを収差補正装置Cと呼ぶことにする。
2に示す如くに走査電子顕微鏡などに組み込まれる。1
00は内部が真空雰囲気にされた鏡筒である。鏡筒10
0内には、電子ビームを発生し、加速電圧によって電子
にエネルギーを与える電子銃101、電子銃101で発
生した電子ビームを集束し、かつ電子ビーム電流を適当
な値に制限するためのコンデンサレンズ102と対物絞
り103、収差補正装置C、電子ビームを二次元的に偏
向して走査するための偏向器104、電子ビームをフォ
ーカスして試料106に照射する対物レンズ107、試
料106を載置して所望の場所で電子ビーム照射・走査
されるように試料106を任意に駆動できる試料ステー
ジ107、電子ビームの照射・走査に伴って試料106
から発生する二次電子などの信号を検出する検出器10
8等が備えられている。なお、電子銃101から対物レ
ンズ107までを電子ビームの光学系と呼ぶことがあ
る。
速電圧や作動距離を変更した場合、より安定な収差補正
の動作を行うために、制御部19が以下のような処理を
行うことにある。
最も単純な関係式と比較しながら、X方向の色収差補正
について説明する。色収差補正が行われていないとき、
基準軌道を満足するレンズ系全体の色収差係数をCxで
表す。次に2段目の静電型4極子2のフォーカス電位φ
qf2に対して、これに色収差補正のための電圧φq
c2を加えたとき、基準軌道を維持するための磁場型4
極子5の励磁J2は、加速電圧が一定なら、次の式で表
される。
いえば、図3においては、収差補正装置Cと対物レンズ
7とから成る系であり、図8においては、収差補正装置
Cと追加レンズ27と対物レンズ7とから成る系であ
る。しかし、もし、図3や図8に描かれた系の前に、例
えば、コンデンサレンズや荷電粒子ビームの発生源に構
成される引出し電極等のレンズ作用を行うものがある場
合(大抵の装置はそのようになっている)には、これら
も含めて「レンズ系全体」と呼ぶ方がより正確である。あ
るいは図12に示した電子銃101から対物レンズ10
7までの電子ビーム光学系の全てのレンズといってもよ
い。
によって試料面20に形成される負の色収差係数C
cxは、次の式で表される。
の基準軌道を変えないように、静電型4極子2の電位φ
qc2と磁場型4極子5の励磁J2を調整して Cx+Ccx=0 (3) として色収差を補正することができる。
収差補正を基準軌道を変えないで実施するには、相対論
効果が大きくない走査型電子顕微鏡の領域では、最も単
純な関係式を用いて、 φqf2 ∝Va (4−1) φqc2 ∝Va (4−2) J2 ∝Va 1/2 (4−3) とすれば良いこともわかる。
しく解析すると、3段目の静電型4極子3と磁場型4極
子6の中心には、2段目の静電型4極子2と磁場型4極
子5によって色収差を補正するための負の収差係数Cox
が形成されている。この負の収差係数は4段目の静電型
4極子4の倍率M4と対物レンズ7の倍率MOLによっ
て、試料面に Ccx =Cox・(M4・MOL)2 (5) として形成される。
φqc2と磁場型4極子5の励磁J 2が同じでも、4段
目の静電型4極子4と対物レンズ7の合成倍率M4・M
OLを調整すれば、補正すべき収差量Ccxを変更でき
る。逆の見方をすれば、同じ収差補正量Ccxを得るの
に、4段目の静電型4極子4と対物レンズ7の合成倍率
を大きくなるように変えれば、Coxを小さく設定するこ
とができる。つまり、静電型4極子2の電位φqc2と
磁場型4極子5の励磁J2を小さな値に設定することも
可能である。
定に保持して、加速電圧Vaを変更しても、X方向の基
準軌道Rxを変えないようにするためには、図5に示す
ように、収差補正のための電位φqc2とφqc3を加
速電圧の平方根に比例させる。
つか具体的に説明する。図4に示すように、4段目静電
型4極子4の物体距離をa4、像距離をb4とすると
き、4段目静電型4極子4の結像点が光源側Aにあって
も試料面側Bにあっても、a4の変化は少ないので、4
段目静電型4極子4の倍率の絶対値M4は、次に示す式
で与えられる。
L、対物レンズ7と試料20との距離をbOLとすると
き、対物レンズ7の物体距離aOLは4段目静電型4極
子4の結像位置によって異なり、対物レンズ7の倍率M
OLは、4段目静電型4極子4の結像位置が試料面側B
のときは次のようになる。
きは次のようになる。
OLは両者で10倍異なることになる。このように、4
段目静電型4極子4と対物レンズ7の合成倍率は1桁以
上容易に変更可能なことがわかる。従って、同じ静電型
4極子2の電位φqc2と磁場型4極子5の励磁J2に
対して、補正に用いられる色収差係数C cxは2桁以上可
変できることになる。
る色収差係数Coxは2桁以上変化しても良く、これに対
応して、同じCcxに対して静電型4極子2の電位φ
qc2と磁場型4極子5の励磁J2も2桁以上の範囲で
可変できる。
様に適用できる。また静電型4極子3の中心に形成され
るX方向の球面収差を補正するための収差係数C
soxや、Y方向の球面収差についても同様に適用でき
る。球面収差の場合には物面側に形成された球面収差係
数は合成倍率の4乗、つまり(M4・MOL)4に比例し
て試料面側に形成される。
に詳述する。本発明は前記した原理に基づいてなされた
ものであり、図6を用いてその動作を説明する。なお、
本発明においては、発明の目的に合せた動作をさせるた
めに、例えば下記のようなモードが選択できるようにす
るとよい。即ち、(1)磁場型4極子5の励磁J2と磁
場型4極子6の励磁J3を一定に保ったままで収差補正
装置Cを動作させるモードと、(2)各静電型4極子の
電圧の絶対値がほぼ同程度になるようにして収差補正装
置Cを動作させるモードである。
磁J2と、磁場型4極子6の励磁J 3を一定に保つモー
ドを選択すると、操作表示部9で加速電圧Vaや作動距
離WDを変更しても、制御部19は磁場型4極子用の電
源15に対して所定の固定値、 J2=J20 (8−1) J3=J30 (8−2) で磁場型4極子5、6を励磁するように指示する。
る加速電圧Va=Vaoで試料面にフォーカスが合う基準
軌道を得るために、制御部19は静電型4極子用電源1
0に対して、色収差を補正しないときの電位φqf2と
φqf3、及び色収差を補正するための電位φqc2と
φqc3に対して両者の和を各々静電型4極子2と3に
印加する。これによって静電型4極子2と3の電位は、 φqf2 + φqc2 (9−1) φqf3 + φqc3 (9−2) となる。なお、図6(a)は色収差補正前の静電型4極
子の電位を示しており、図6(b)は色収差補正後の静
電型4極子の電位を示している。
20に形成される補正のための収差係数をCcx、J3と
φqc3によって試料面20に形成される補正のための
収差係数をCcyとすれば、4段目4極子4と対物レンズ
7との合成倍率を調整して、色収差を補正する前のレン
ズ系全体のX方向の収差係数CxとY方向の収差係数Cy
に対して、 Cx +Ccx≒0 (10−1) Cy +Ccy≒0 (10−2) となるように、制御部19は4段目の静電型4極子4の
電源10と対物レンズ7の電源17を制御する。
した場合には、粒子プローブの試料面へのフォーカス状
態が変化しないように、X方向については静電型4極子
2のフォーカス電位φqf2と色収差補正のための電位
φqc2が、 φqf2 ∝ Va (11−1) φqc2 ∝ Va 1/2 (11−2) となるように制御部19は静電型4極子用の電源10を
変化させる。Y方向についても同様に、 φqf3 ∝ Va (11−3) φqc3 ∝ Va 1/2 (11−4) となるように制御部19は静電型4極子用の電源10を
変化させる。このようにすれば、磁場型4極子の励磁を
ほぼ一定に保ったまま、レンズ系の総合倍率Mtを調整
して色収差をほぼ0に補正可能である。
Mt」とは、図3の場合においては、収差補正装置C全
体と対物レンズ7とを含めた倍率である。先に図4を用
いた「静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率」の説明
において、静電型4極子4の倍率M4が定義されていた
が、一般の多極子においても、例えばX方向とY方向に
分けて考えれば、通常のレンズと同様に「倍率」が定義で
きる。従って、収差補正装置Cの各多極子についても同
様に倍率が定義できるし、収差補正装置C全体の倍率も
定義できる。上記の「レンズ系の総合倍率Mt」におけ
る「収差補正装置C全体の倍率」とは、そのような意味
で用いている。
電4極子4と対物レンズ7の合成倍率」という考え方
は、本発明の動作を分かり易く説明するために動作をで
きるだけ単純化したことによるものである。しかし実際
の動作においては、「静電4極子4と対物レンズ7の合
成倍率」を調整すると、他の4極子もわずかに影響を受
けるためわずかな再調整が必要になる。従って、実際の
動作を厳密にいえば、「静電4極子4と対物レンズ7の
合成倍率」の調整だけではなく、収差補正装置C全体と
対物レンズ7とを含めた「レンズ系の総合倍率Mt」の
調整が必要になる。そのような意味では、「静電4極子
4と対物レンズ7の合成倍率を調整する」は、厳密に
は、「レンズ系の総合倍率Mtを調整する」というべき
である。
合成倍率を変えた場合、試料面に入射する粒子ビームの
開き角が変化する。この変化は、対物絞り8の後に開き
角制御レンズを入れるとか、対物絞り8の穴径を変える
とかで、必要な最適値に設定できる。
最適な開き角α=αoに対して、加速電圧Vaを低く設定
した場合には、必要な収差補正量が余剰にならないよう
に合成倍率を小さくして色収差補正を行うため、開き角
αは増大する。これに対して最適開き角は、加速電圧V
aを低くした場合には、増大する方向にあるから、本発
明における加速電圧の変更に伴う開き角の変化に関して
は都合がよい方向に動作する。また、作動距離WDを基
準の値WD=WDoから大きくした場合には、必要な収
差補正量が不足しないように合成倍率を大きくして色収
差補正を行うため、開き角αは減少する。これに対して
最適開き角は、WDを大きくした場合には、開き角は減
少する方向にあるから、この場合も本発明における作動
距離WDの変更に伴う開き角の変化に関しては都合がよ
い方向に動作する。以下にこれを簡単に説明する。
子線の波長λに依存する回折効果によるプローブ径dλ
と、5次の開口収差係数C5によるプローブ径dC5が
支配的であると仮定すると、これらは最小錯乱円におい
て、 dλ=1.22λ/α (12−1) dC5=(2/3)・C5・α5 (12−2) で見積もることができる。従って2乗平均によるプロー
ブ径dpは、 dp=(dλ 2+dC5 2)1/2 (12−3) となる。従って、 ∂dp/∂α = 0 (12−4) の条件から、 α=(1.22λ)1/6・(1.5/(51/2・C5))1/6 (12−5) となる。すなわち、加速電圧Vaが小さく波長λが大き
い場合には最適開き角αは大きくなり、作動距離WDが
長くなって5次の開口収差係数が増大した場合には、最
適開き角αは小さくなる。
必要な磁場型4極子の励磁電流は一定のモードを選択し
ているので、少なくとも色収差補正に必要な静電4極子
2、3の電位の変化はVa 1/2に比例するように動作
するから、標準的な系、即ち色収差補正の励磁がVa
1/2に比例し、電位がVaに比例する系に比べて、電
源15の励磁変動や、電源10の電圧変動に対して影響
を受けにくくなる。
説明する。操作表示部9で作動距離を変更したとき、制
御部19はこの設定に基づいて、主に静電4極子4と対
物レンズ7によりフォーカス調整を行う。補正すべきレ
ンズ系全体としての色収差C x、CyはWDと共に大きく
変化するが、前記の説明のごとく静電4極子4と対物レ
ンズ7の合成倍率を調整すれば、必要な補正すべき収差
係数Ccx、Ccyが試料面上に得られることは明らかであ
る。
の条件で前記のように色収差補正が可能になったので、
磁場型4極子として永久磁石を用いることができること
も明らかである。
第1のモード(1)磁場型4極子5の励磁J2と磁場型
4極子6の励磁J3を一定に保ったままで収差補正装置
Cを動作させるモードにおいて、ある加速電圧と作動距
離において色収差補正を行った後、加速電圧を変更した
場合には、(a)加速電圧Vaの変更に伴って変化する
色収差の増減に対しては、静電型4極子2と3の色収差
補正のための電位をV a 1/2に比例するように調整
し、更に、静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率を変
更して色収差を補正する。なおここで、合成倍率を変更
するのは、磁場型4極子を一定に保っているため静電型
4極子の電位はVa 1/2に比例させことになるので、
色収差補正量に過不足が生じるのを合成倍率の変更で補
うためである。このとき同時に、加速電圧Vaの変更に
伴って変化するフォーカスに対しても、各静電型4極子
1〜4のフォーカス電位をVaに比例するように調整
し、更に、対物レンズ7は、静電4極子4と対物レンズ
7の合成倍率を上記の如くに再設定された倍率に保った
ままで、フォーカス調整を行う。(b)作動距離WDの
変更に伴って変化する色収差の増減に対しては、静電4
極子4と対物レンズ7の合成倍率を調整して行う。もち
ろんこのとき、試料上でのフォーカスは保たれたままで
なければならない。
に行う。操作表示部9からの指令で制御部19は静電型
8極子11、12、13、14を従来例の如く励起する
ように電源18を制御する。ここで従来例との違いは、
静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率が色収差補正に
合わせられているため、作動距離の増大による球面収差
の著しい増大に対しても、静電8極子の電位を極端に増
加させる必要がなくなることにある。
電圧の低下が軽減され、電源18の変動に対して影響を
受けにくくなる、などのメリットがある。
5、6の励磁をほぼ一定に保つ方法について述べたが、
第2の実施の形態として、静電型4極子の電圧の絶対値
がほぼ同程度になるようなモードについて述べる。操作
表示部において、基準軌道を作るための静電4極子1〜
4の電位φqf1、φqf2、φqf3、φqf4に対
し、色収差補正のために静電型4極子2、3に電位φ
qc2、φqc3を加算したとする。
算すると、図6(a)、図6(b)に示すごとく、基準
軌道を作るために必要な電位φqf2、φqf3とは互
いに符号が反対になる。なお、図6(a)は色収差補正
前の4極子電位を示しており、図6(b)は色収差補正
後の静電型4極子の電位を示している。従って、 |φqf2+φqc2|、 |φqf3+φqc3| (13−1、2) が、基準軌道を作るために最低必要な電位、 |φqf1|、 |φqf4| (13−3,4) と同程度になるような範囲でφqc2、φqc3を設定
するものとする。
型4極子5、6の励磁が定まるので、静電4極子4と対
物レンズ7の合成倍率を調整して、色収差を補正するこ
とが可能となる。球面収差係数の補正でも同様のことが
可能である。
がほぼ同程度になるようなモード」の条件では、少なく
とも特定の電極の耐圧が問題になることはなくなり、収
差補正が可能な最大の加速電圧を大きく設定できる。ち
なみに、図3〜図5を用いて説明した実施の形態では、
収差補正可能な最大の加速電圧Vaにおいてこの条件が
満足されるように磁場4極子5、6の励磁J2、J3が
決められる。
を単純にする場合にも用いられる。すなわち、加速電圧
を低い方に変更した場合では、静電4極子4と対物レン
ズ7の合成倍率が変化しないようにし、前記の最も単純
な関係式を適用して、 φqf2 ∝ Va (14−1) φqc2 ∝ Va (14−2) J2 ∝ Va 1/2 (14−3) として用いれば良い。
たときにも応用できる。すなわち、作動距離WDを増大
させたときに、これに伴って増大する色収差係数(レン
ズの焦点距離fに近似的に比例する)や球面収差係数
(焦点距離fの3乗に近似的に比例する)は大きな値に
なる。従って、これらを補正する静電型4極子1〜4や
8極子11〜14の電圧も大きな値になる。
成倍率を変化させ、静電型8極子による球面収差補正電
位が色収差補正電位と比較して十分小さくなるように合
成倍率を大きくし、上記のように静電型4極子と静電型
8極子の電圧の和の絶対値が、実際に使用される静電型
多極子(例えば、12極子)の電極においてほぼ同程度
になるようにすれば、加速電圧が高い場合でも、多極子
の耐圧の問題を軽減し、色収差や球面収差を補正するこ
とが可能になる。
差補正電位をφO1〜φO4で表したとき、合成倍率を大
きくすれば、これらの値の大きさは図11(a)に示す
ように、静電型4極子のフォーカス電位φqf1〜φ
qf4や色収差補正電位φqc 2〜φqc3と比較して
十分小さな値に設定することができる。従って、色収差
と球面収差を補正した後の静電型多極子用の電極の電圧
は、 |φqf1+φO1| (15−1) |φqf2+φqc2+φO2| (15−2) |φqf3+φqc3+φO3| (15−3) |φqf4+φO4| (15−4) の程度になる。φO1〜φO4の値が小さければ、上記の
4つの値の絶対値はほぼ同程度にできる。なお、正確な
電極電圧は静電型4極子や静電型8極子として実際に使
用される多極子(例えば、12極子)の極数によって異
なってくる。
第2のモード(2)各静電型4極子の電圧の絶対値がほ
ぼ同程度になるようにして収差補正装置Cを動作させる
モードにおいて、ある加速電圧と作動距離において色収
差補正を行った後、加速電圧を変更した場合には、
(a)加速電圧Vaの変更に伴って変化する色収差の増
減に対しては、静電型4極子2と3の色収差補正のため
の電位をVaに比例するように調整し、磁場4極子5、
6の励磁J2、J3はVa 1/2に比例するように調整
する。このとき同時に、加速電圧Vaの変更に伴って変
化するフォーカスに対しても、各静電型4極子1〜4の
フォーカス電位をVaに比例するように調整し、更に、
対物レンズ7は静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率
を一定に保ったままでフォーカス調整を行う。(b)作
動距離WDの変更に伴って変化する色収差の増減に対し
ては、静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率を調整し
て行う。もちろんこのとき、試料上でのフォーカスは保
たれたままでなければならない。
4極子5の励磁J2と磁場型4極子6の励磁J3を一定
に保ったままで収差補正装置Cを動作させるモードと第
2のモード(2)各静電型4極子の電圧の絶対値がほぼ
同程度になるようにして収差補正装置Cを動作させるモ
ードの使い方について付け加えると、一般には、前者は
加速電圧が比較的低いときに使用し、後者は加速電圧が
比較的高いときに使用するとよい。
最小プローブ径を決める要素は、粒子線の波長に依存す
る回折収差、レンズ系に固有な5次の開口収差が支配的
である。静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率を変え
るなどして、図3に示すレンズ系の総合倍率Mtを変化
させると、前記した第2の実施の形態における条件の付
近で、試料面に換算される5次の開口収差係数の絶対値
が最小になるような倍率Mt=Moがあることが計算に
よって確認された。図7は、5次の開口収差および4次
の開口色収差の低減の様子を示したものである。
一定の値の場合の例である。ところで、今までの説明で
明らかなように、加速電圧と作動距離が一定であって
も、本件発明の如くに、収差補正装置Cの設定条件を適
宜設定すると共に、「合成倍率」を変えるようにして色収
差や球面収差を補正する方法においては、収差補正装置
Cの設定条件とレンズ系の総合倍率(あるいは合成倍率)
との組合せは無限に存在することが分かる。そして、色
収差の補正と球面収差の補正のみを考慮している限りに
おいては、どのような組合せであっても目的を達する。
しかしながら、これに加えて、5次の開口収差や4次の
開口色収差を考慮にいれる必要がある場合には、レンズ
系の総合倍率(あるいは合成倍率)は、図7に示すよう
に、ある特定な倍率でなければならないことが分かる。
更に、このようにして色収差の補正と球面収差の補正と
5次の開口収差や4次の開口色収差の補正を行った後
に、加速電圧または作動距離を変えた場合は、以下のよ
うにすればよい。
2の実施の形態では、総合倍率Mtを一定にできるの
で、Vaの変更に対して常に5次の開口収差係数の絶対
値を最小に設定できる。また、作動距離WDの変更に対し
ても、静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率を変える
などして、5次の開口収差係数の絶対値が最小になるよ
うな総合倍率Mtを選ぶことができる。
エネルギー幅ΔVの影響が無視できない場合には、5次
の開口収差よりも4次の開口色収差(収差量が開き角の
3乗と、粒子ビームのエネルギー幅に比例する)が大き
くなる場合がある。この場合には、粒子線の波長に依存
する回折収差、レンズ系に固有な4次の開口色収差が支
配的になる。静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率を
変えるなどして、図1に示すレンズ系の総合倍率M
tを、静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率を変える
などして、変化させて行くと、前記の実施例2になるよ
うな条件の付近で、試料面に換算される4次の開口収差
係数が0を通るような倍率Mt=Mpのあることが計算
によって確認された。
りも僅かに大きな倍率に位置することも計算によって確
認された。加速電圧Vaを変更した場合には、第2の実
施の形態では、総合倍率Mtを一定にできるので、Vaの
変更に対して常に4次の開口色収差係数を0または絶対
値が最小に設定できる。また、作動距離WDの変更に対
しても、静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率を変え
るなどして、4次の開口色収差係数が0または絶対値が
最小になるようなような総合倍率Mtを選ぶことができ
る。
考える。C3cと回折効果が支配的な場合のC3cの最小錯
乱円は3次の球面収差のときのように、 dC3c=(1/2)・C3c・α3・(ΔV/Va) (16−1) である。ここでΔVは電子ビームのエネルギー幅ΔEに
対応する電圧幅で、2乗平均によるプローブ径dpは、 dp=(dλ 2+dC3c2)1/2 (16−2) であるから、 ∂dp/∂α = 0 (16−3) の条件から、最適開き角は、 α=(1.22λ)1/4・[31/2/(2・C3c・ΔV/V)]1/4(16−4 )となる。
第2のモード(2)各静電型4極子の電圧の絶対値がほ
ぼ同程度になるようにして収差補正装置Cを動作させる
モードにおいて、ある加速電圧と作動距離において、総
合倍率Mtを静電4極子4と対物レンズ7の合成倍率を
変えるなどして調整して色収差・球面収差補正を行い5
次の開口収差の絶対値が最小になるような倍率Mt=M
oを見出した後、あるいは4次の開口色収差係数が0と
なるMt=Mpを見出した後、加速電圧を変更した場合
には、(a)加速電圧Vaの変更に伴って変化する色収
差・球面収差の増減に対しては、静電型4極子2と3の
色収差補正のための電位をVaに比例するように調整
し、磁場4極子5、6の励磁はVa 1/2に比例するよ
うに調整し、静電型8極子の球面収差補正のための電位
をVaに比例するように調整する。このとき同時に、加
速電圧Vaの変更に伴って変化するフォーカスに対して
も、各静電型4極子1〜4のフォーカス電位をVaに比
例するように調整し、更に、対物レンズ7は静電4極子
4と対物レンズ7の合成倍率を一定に保ったままでフォ
ーカス調整を行う。このように調整すれば、総合倍率M
tは、一定の倍率Mt=MoまたはMt=Mpに保たれた
ままとなる。(b)一方、作動距離WDの変更に伴って
変化する色収差の増減に対しては、静電4極子4と対物
レンズ7の合成倍率を調整して行う。もちろんこのと
き、試料上でのフォーカスは保たれたままでなければな
らない。このように調整すれば、総合倍率Mtは、基準
となる作動距離における倍率Mt=MoまたはMt=Mp
からは変化するものの、その作動距離WDにおける最良
の状態(5次の開口収差の絶対値が最小または4次の開
口色収差係数が0)に調整される。
tを知ることは必ずしも容易ではない。そこで、図7の
如くに、5次の開口収差係数や4次の開口色収差係数が
最小となるときの色収差補正電位や球面色収差補正電位
の値を事前に調べて置き、実際に印加される色収差補正
電位や球面色収差補正電位の値から、上記最良の状態を
知るようにするとよい。
なレンズの数が最小になるような構成を用いて、主に4
段目の静電型4極子4の倍率M4と対物レンズの倍率M
OLとの合成倍率 M4・MOL (17) を調整することによって、対物レンズの広範な色収差係
数及び球面収差係数の変化に対して、収差補正が可能で
あることを示した。しかしながら、4段目の静電型4極
子4の倍率M4を変更すると、わずかではあるが基準軌
道を得るための各4極子の電圧を変更する必要があり、
X方向とY方向の倍率のズレを大きくする原因にもな
る。
型4極子4の倍率M4は変更せずに、図8に示すよう
に、4段目の静電型4極子4と対物レンズ7の間に少な
くとも1個の軸対称な追加レンズ27を入れ、電源17
には、対物レンズ7の電源に加えて追加レンズ27の電
源を設ける。追加レンズ27は、追加レンズ27が電磁
型の場合は電源17から供給される電流を変えることに
よって、追加レンズが静電型の場合は電源17から供給
される電圧を変えることによって、レンズの強度が調整
される。この追加レンズ27の倍率MAを調整するよう
にすれば、これまでの実施例と同様の効果が得られるこ
とは明らかである。更に、この追加レンズ27の位置が
4段目の静電型4極子4に接近していれば、追加レンズ
27と対物レンズ7の調整による合成倍率 M4・MA・MOL (18) の可変範囲は、4段目の静電型4極子4と対物レンズ7
の調整による前記の合成倍率M4・MOLの可変範囲と
同程度なることも明らかである。また、この追加レンズ
は、上記の実施例以外の収差補正装置においても同様に
合成倍率の調整による収差補正量の調整に使用できるこ
とも明らかである。そこで、便宜上は合成倍率を上記の
M4・MA・MOLに代えて MA・MOL (19) を合成倍率と表してもよい。
とにより、試料面に入射する粒子ビームの開き角αが変
化する。この変化は、前記の実施の形態で述べたよう
に、対物絞り8の後に開き角制御レンズを入れるとか、
対物絞り8の穴径を変えるとかで、追加レンズ27と対
物レンズ7による収差補正量の調整とは独立して、開き
角αを必要な最適値に設定することができる。
ローブ電流や開き角を調整するための集束レンズ、或い
はプローブ電流を変えずに開き角を調整するための開き
角制御レンズを配置した場合の収差補正装置の動作につ
いては詳しくは述べなかった。これらのレンズを配置し
て制御しても、本発明に述べられた実施の形態は同様に
適用できることは明らかである。
物面の位置とビームの開き角が変化するのが主な違いで
あり、主に第1段目の静電型4極子1による基準軌道を
維持するためのフォーカス調整を行えばよい。また、集
束レンズや開き角制御レンズの調整では、収差補正のた
めの合成倍率M4・MOL、又はM4・MA・MOLの
設定や変更に大きな影響を与えるものではない。
電粒子ビーム装置における収差補正装置は、荷電粒子ビ
ーム光学系内部に配置された収差補正装置であって、4
段の静電型4極子と、4段の静電型4極子の中央の2段
の静電型4極子の電位分布と相似な磁位分布を重畳させ
る2段の磁場型4極子と、対物レンズと、荷電粒子ビー
ムの光路の一部に設けられた対物絞りと、加速電圧や作
動距離を変更する操作表示部と、前記4段の静電4極子
のそれぞれに電圧を供給する電源と、2段の磁場型4極
子を励磁する電源と、対物レンズの電源と、操作表示部
の操作または設定に基づいて前記3種類の電源を制御す
る制御部を備えたことを特徴としている。
作動距離の何れかを変更したとき、磁場型4極子の励磁
を一定に保って粒子光学系の色収差及び球面収差を補正
できるモードを設けたので、磁場型4極子の励磁を変え
たときの磁場ドリフトの問題が無くなった。また、低加
速電圧側で、励磁や電圧変動の影響を受けにくくなっ
た。更に、加速電圧や作動距離を変えた場合に、試料面
に入射する粒子ビームの開き角が自動的に最適開き角に
近づくようになった。
離の何れかを変更したとき、静電型4極子または静電型
4極子及び静電型8極子の電圧の絶対値がほぼ同程度に
なるような条件下で、粒子光学系の色収差または球面収
差の少なくとも何れか一方を補正できるモードを設けた
ので、最高加速電圧が有効に使用できるようになった。
また、加速電圧を変えたときのレンズ系の制御が簡単に
なった。
変更したとき、5次の開口収差の絶対値が最小になるよ
うな粒子光学系のレンズ系の倍率を設定できるようにし
たので、最小プローブ径を常に最小値に設定できるよう
になった。
変更したとき、4次の開口色収差の絶対値が0または最
小になるような粒子光学系のレンズ系の倍率を設定でき
るようにしたので、低加速電圧でも最小プローブ径を常
に最小値に設定できるようになった。
追加レンズを設けて、加速電圧又は作動距離の何れかを
変更した時、収差補正装置の励磁電流と収差補正装置内
の基準軌道を一定に保ったまま、追加レンズと対物レン
ズの合成倍率の変更で全体の色収差(又は色収差と球面
収差)を補正できるようにしたので、X,Y方向の倍率
のズレを軽減できるようになった。また、4段の静電4
極子によるレンズ倍率の変更をしなくてもよいので、こ
の倍率の調整によって発生する収差補正装置の再調整
(フォーカス調整等)が容易になった。
である。
る。
後の静電型多極子電位を示す図である。
子を示す図である。
調整を示す図である。
て用いる方法を示す図である。
して用いる方法を示す図である。
・球面収差補正後の静電型多極子電位を示す図である。
鏡の例を説明する図である。
Claims (24)
- 【請求項1】 荷電粒子ビーム光学系内部に配置された
収差補正装置であって、4段の静電型4極子と、4段の
静電型4極子の中央の2段の静電型4極子の電位分布と
相似な磁位分布を重畳させる2段の磁場型4極子と、荷
電粒子ビームを試料にフォーカスさせる対物レンズと、
荷電粒子ビームの光路の一部に設けられた対物絞りと、
荷電粒子ビームの加速電圧や対物レンズと試料間の距離
である作動距離を変更する操作部と、操作部の操作また
は設定に基づいて前記各4極子と対物レンズとを制御す
る制御部を備えた荷電粒子ビーム装置における収差補正
装置。 - 【請求項2】 操作部の操作または設定に基づいて、加
速電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御部
は、磁場型4極子の励磁を一定に保つ条件下において、
(1)加速電圧の変更に対しては静電4極子に印加する
電圧と4段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍率
とを調整し、(2)作動距離の変更に対しては4段目の
静電型4極子と対物レンズとの合成倍率を調整すること
によって、荷電粒子ビーム光学系の色収差を補正するよ
うにした請求項1記載の荷電粒子ビーム装置における収
差補正装置。 - 【請求項3】 磁場型4極子は永久磁石であることを特
徴とする請求項2記載の荷電粒子ビーム装置における収
差補正装置。 - 【請求項4】 操作部の操作または設定に基づいて、加
速電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御部
は、静電型4極子の電圧の絶対値が4段共にほぼ同程度
になるような条件下において、(1)加速電圧の変更に
対しては4段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍
率を一定に保ったままで静電4極子に印加する電圧と磁
場型4極子を励磁する電流とを調整し、(2)作動距離
の変更に対しては4段目の静電型4極子と対物レンズと
の合成倍率を調整することによって、荷電粒子ビーム光
学系の色収差を補正するようにした請求項1記載の荷電
粒子ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項5】 5次の開口収差の絶対値が最小になるよ
うにした状態において、操作部の操作または設定に基づ
いて、加速電圧または作動距離の何れかを変更したと
き、制御部は、静電型4極子の電圧の絶対値が4段共に
ほぼ同程度になるような条件下で、(1)加速電圧の変
更に対しては4段目の静電型4極子と対物レンズとの合
成倍率を一定に保ったままで静電4極子に印加する電圧
と磁場型4極子を励磁する電流とを調整し、(2)作動
距離の変更に対しては4段目の静電型4極子と対物レン
ズとの合成倍率を調整することによって、5次の開口収
差の絶対値が最小になるようにした請求項1記載の荷電
粒子ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項6】 4次の開口色収差即ち3次の開口・1次
の色収差が0または絶対値が最小になるようにした状態
において、操作部の操作または設定に基づいて、加速電
圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御部は、
静電型4極子の電圧の絶対値が4段共にほぼ同程度にな
るような条件下で、(1)加速電圧の変更に対しては4
段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍率を一定に
保ったままで静電4極子に印加する電圧と磁場型4極子
を励磁する電流とを調整し、(2)作動距離の変更に対
しては4段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍率
を調整することによって、4次の開口色収差即ち3次の
開口・1次の色収差が0または絶対値が最小になるよう
にした請求項1記載の荷電粒子ビーム装置における収差
補正装置。 - 【請求項7】 4段の静電型4極子の電位分布に8極子
電位を重畳させる4段の静電型8極子と、操作部の操作
または設定に基づいて前記4段の静電型8極子を制御す
る制御部を備えることによって、球面収差をも合せて補
正可能にした請求項1記載の荷電粒子ビーム装置におけ
る収差補正装置。 - 【請求項8】 4段の静電型4極子の電位分布に8極子
電位を重畳させる4段の静電型8極子と、操作部の操作
または設定に基づいて前記4段の静電型8極子を制御す
る制御部を備えることによって、球面収差をも合せて補
正可能にした請求項2ないし6の何れかに記載の荷電粒
子ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項9】 操作部の操作または設定に基づいて、加
速電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御部
は、静電型4極子の電圧とこれに重畳させる静電型8極
子の電圧の和の絶対値が4段共にほぼ同程度になるよう
な条件下において、(1)加速電圧の変更に対しては4
段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍率を一定に
保ったままで静電4極子に印加する電圧と磁場型4極子
を励磁する電流とを調整し、(2)作動距離の変更に対
しては4段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍率
を調整することによって、荷電粒子ビーム光学系の色収
差または球面収差の少なくとも何れか一方を補正するよ
うにした請求項7記載の荷電粒子ビーム装置における収
差補正装置。 - 【請求項10】 5次の開口収差の絶対値が最小になる
ようにした状態において、操作部の操作または設定に基
づいて、加速電圧または作動距離の何れかを変更したと
き、制御部は、静電型4極子の電圧とこれに重畳させる
静電型8極子の電圧の和の絶対値が4段共にほぼ同程度
になるような条件下において、(1)加速電圧の変更に
対しては4段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍
率を一定に保ったままで静電4極子に印加する電圧と磁
場型4極子を励磁する電流とを調整し、(2)作動距離
の変更に対しては4段目の静電型4極子と対物レンズと
の合成倍率を調整することによって、5次の開口収差の
絶対値が最小になるようにした請求項7記載の荷電粒子
ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項11】 4次の開口色収差即ち3次の開口・1
次の色収差が0または絶対値が最小になるようにした状
態において、操作部の操作または設定に基づいて、加速
電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御部
は、静電型4極子の電圧とこれに重畳させる静電型8極
子の電圧の和の絶対値が4段共にほぼ同程度になるよう
な条件下において、(1)加速電圧の変更に対しては4
段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍率を一定に
保ったままで静電4極子に印加する電圧と磁場型4極子
を励磁する電流とを調整し、(2)作動距離の変更に対
しては4段目の静電型4極子と対物レンズとの合成倍率
を調整することによって、4次の開口色収差即ち3次の
開口・1次の色収差が0または絶対値が最小になるよう
にした請求項7記載の荷電粒子ビーム装置における収差
補正装置。 - 【請求項12】 荷電粒子ビーム光学系内部に配置され
た収差補正装置であって、4段の静電型4極子と、4段
の静電型4極子の中央の2段の静電型4極子の電位分布
と相似な磁位分布を重畳させる2段の磁場型4極子と、
荷電粒子ビームを試料にフォーカスさせる対物レンズ
と、荷電粒子ビームの光路の一部に設けられた対物絞り
と、4段の静電型4極子と対物レンズとの間に設けられ
た追加レンズと、荷電粒子ビームの加速電圧や対物レン
ズと試料間の距離である作動距離を変更する操作部と、
操作部の操作または設定に基づいて、前記4段の静電4
極子と2段の磁場型4極子と対物レンズと追加レンズと
を制御する制御部を備えた荷電粒子ビーム装置における
収差補正装置。 - 【請求項13】 操作部の操作または設定に基づいて、
加速電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御
部は、磁場型4極子の励磁を一定に保つ条件下におい
て、(1)加速電圧の変更に対しては静電4極子に印加
する電圧と追加レンズと対物レンズとの合成倍率を調整
し、(2)作動距離の変更に対しては追加レンズと対物
レンズとの合成倍率を調整することによって、荷電粒子
ビーム光学系の色収差を補正するようにした請求項12
記載の荷電粒子ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項14】 磁場型4極子は永久磁石であることを
特徴とする請求項13記載の荷電粒子ビーム装置におけ
る収差補正装置。 - 【請求項15】 操作部の操作または設定に基づいて、
加速電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御
部は、静電型4極子の電圧の絶対値が4段共にほぼ同程
度になるような条件下において、(1)加速電圧の変更
に対しては追加レンズと対物レンズとの合成倍率を一定
に保ったままで静電4極子に印加する電圧と磁場型4極
子を励磁する電流とを調整し、(2)作動距離の変更に
対しては追加レンズと対物レンズとの合成倍率を調整す
ることによって、荷電粒子ビーム光学系の色収差を補正
するようにした請求項12記載の荷電粒子ビーム装置に
おける収差補正装置。 - 【請求項16】 5次の開口収差の絶対値が最小になる
ようにした状態において、操作部の操作または設定に基
づいて、加速電圧または作動距離の何れかを変更したと
き、制御部は、静電型4極子の電圧の絶対値が4段共に
ほぼ同程度になるような条件下で、(1)加速電圧の変
更に対しては追加レンズと対物レンズとの合成倍率を一
定に保ったままで静電4極子に印加する電圧と磁場型4
極子を励磁する電流とを調整し、(2)作動距離の変更
に対しては追加レンズと対物レンズとの合成倍率を調整
することによって、5次の開口収差の絶対値が最小にな
るようにした請求項12記載の荷電粒子ビーム装置にお
ける収差補正装置。 - 【請求項17】 4次の開口色収差即ち3次の開口・1
次の色収差が0または絶対値が最小になるようにした状
態において、操作部の操作または設定に基づいて、加速
電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御部
は、静電型4極子の電圧の絶対値が4段共にほぼ同程度
になるような条件下で、(1)加速電圧の変更に対して
は追加レンズと対物レンズとの合成倍率を一定に保った
ままで静電4極子に印加する電圧と磁場型4極子を励磁
する電流とを調整し、(2)作動距離の変更に対しては
追加レンズと対物レンズとの合成倍率を調整することに
よって、4次の開口色収差即ち3次の開口・1次の色収
差が0または絶対値が最小になるようにした請求項12
記載の荷電粒子ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項18】 4段の静電型4極子の電位分布に8極
子電位を重畳させる4段の静電型8極子と、操作部の操
作または設定に基づいて前記4段の静電型8極子を制御
する制御部を備えることによって、球面収差をも合せて
補正可能にした請求項12記載の荷電粒子ビーム装置に
おける収差補正装置。 - 【請求項19】 4段の静電型4極子の電位分布に8極
子電位を重畳させる4段の静電型8極子と、操作部の操
作または設定に基づいて前記4段の静電型8極子を制御
する制御部を備えることによって、球面収差をも合せて
補正可能にした請求項13ないし17の何れかに記載の
荷電粒子ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項20】 操作部の操作または設定に基づいて、
加速電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御
部は、静電型4極子の電圧とこれに重畳させる静電型8
極子の電圧の和の絶対値が4段共にほぼ同程度になるよ
うな条件下において、(1)加速電圧の変更に対しては
追加レンズと対物レンズとの合成倍率を一定に保ったま
まで静電4極子に印加する電圧と磁場型4極子を励磁す
る電流とを調整し、(2)作動距離の変更に対しては追
加レンズと対物レンズとの合成倍率を調整することによ
って、荷電粒子ビーム光学系の色収差または球面収差の
少なくとも何れか一方を補正するようにした請求項18
記載の荷電粒子ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項21】 5次の開口収差の絶対値が最小になる
ようにした状態において、操作部の操作または設定に基
づいて、加速電圧または作動距離の何れかを変更したと
き、制御部は、静電型4極子の電圧とこれに重畳させる
静電型8極子の電圧の和の絶対値が4段共にほぼ同程度
になるような条件下において、(1)加速電圧の変更に
対しては追加レンズと対物レンズとの合成倍率を一定に
保ったままで静電4極子に印加する電圧と磁場型4極子
を励磁する電流とを調整し、(2)作動距離の変更に対
しては追加レンズと対物レンズとの合成倍率を調整する
ことによって、5次の開口収差の絶対値が最小になるよ
うにした請求項18記載の荷電粒子ビーム装置における
収差補正装置。 - 【請求項22】 4次の開口色収差即ち3次の開口・1
次の色収差が0または絶対値が最小になるようにした状
態において、操作部の操作または設定に基づいて、加速
電圧または作動距離の何れかを変更したとき、制御部
は、静電型4極子の電圧とこれに重畳させる静電型8極
子の電圧の和の絶対値が4段共にほぼ同程度になるよう
な条件下において、(1)加速電圧の変更に対しては追
加レンズと対物レンズとの合成倍率を一定に保ったまま
で静電4極子に印加する電圧と磁場型4極子を励磁する
電流とを調整し、(2)作動距離の変更に対しては追加
レンズと対物レンズとの合成倍率を調整することによっ
て、4次の開口色収差即ち3次の開口・1次の色収差が
0または絶対値が最小になるようにした請求項18記載
の荷電粒子ビーム装置における収差補正装置。 - 【請求項23】 制御部は、4段の静電型4極子のうち
の中央の2段の静電型4極子の色収差補正のための電位
をそれぞれ予め定められた電位に設定した上で、色収差
補正を行うことによって、5次の開口収差の絶対値が最
小になるようにあるいは4次の開口色収差即ち3次の開
口・1次の色収差が0または絶対値が最小になるように
した請求項1または12の何れかに記載の荷電粒子ビー
ム装置における収差補正装置。 - 【請求項24】 制御部は、4段の静電型4極子のうち
の中央の2段の静電型4極子の色収差補正のための電位
と4段の静電型8極子の球面収差補正のための電位とを
それぞれ予め定められた電位に設定した上で、色収差補
正と球面収差補正とを行うことによって、5次の開口収
差の絶対値が最小になるようにあるいは4次の開口色収
差即ち3次の開口・1次の色収差が0または絶対値が最
小になるようにした請求項7または18の何れかに記載
の荷電粒子ビーム装置における収差補正装置。
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