JP2003199701A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2003199701A5
JP2003199701A5 JP2002137677A JP2002137677A JP2003199701A5 JP 2003199701 A5 JP2003199701 A5 JP 2003199701A5 JP 2002137677 A JP2002137677 A JP 2002137677A JP 2002137677 A JP2002137677 A JP 2002137677A JP 2003199701 A5 JP2003199701 A5 JP 2003199701A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
optical path
condensing
observation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002137677A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003199701A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2002137677A priority Critical patent/JP2003199701A/ja
Priority claimed from JP2002137677A external-priority patent/JP2003199701A/ja
Priority to PCT/JP2002/011283 priority patent/WO2003038410A1/ja
Priority to EP02778005A priority patent/EP1441215B1/en
Publication of JP2003199701A publication Critical patent/JP2003199701A/ja
Priority to US10/808,857 priority patent/US7158234B2/en
Publication of JP2003199701A5 publication Critical patent/JP2003199701A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (5)

  1. 低可干渉光源と、
    前記低可干渉光源から出射した光を、観察光光路と、参照光光路に分離する光分離手段と、
    前記観察光光路と参照光光路の少なくとも一方に設けられた光路長可変手段と、
    前記観察光光路の前記分離手段とは他端側に設けられた集光手段と、
    前記集光手段より出射した光が測定対象物に照射され、反射もしくは散乱した光を受光する受光光学系と、
    前記受光光学系で受けた光を伝送する観察光戻り光路と
    前記観察光戻り光路と、前記参照光光路を結合する光結合手段と、
    前記光結合手段よりの光を電気信号に変換する光検出手段と、
    前記光検出手段で検出した信号より、観察対象物の画像を生成する画像化手段と
    記測定対象物に対し光を走査する光走査手段と、
    前記参照光光路に設けられ、前記光結合手段での干渉状態を変化させる光伝達状態変化手段と、
    前記集光手段から光の照射を受ける位置で、前記集光手段に対する距離を可変できる基準部材と、
    前記光伝達状態変化手段を操作し前記参照光光路の伝達効率を落とした状態で、前記光検出手段で検出した信号を元に、前記基準部材前記集光手段に対する位置を特定する焦点位置検出手段と、
    前記光伝達状態変化手段を操作し前記光結合手段で干渉がおこる状態で前記光分離手段から前記観察光光路、前記集光手段、前記焦点位置検出手段で特定された前記基準部材位置、前記受光光学系、前記観察光戻り光路、前記光結合手段と経由される光路と、前記参照光光路との光学的長さが略一致する様、前記光検出手段で検出した信号を元に、前記光路長可変手段を操作する光路長調整手段と、
    を有することを特徴とする走査型観察装置。
  2. 低可干渉光源と、
    前記低可干渉光源から出射した光を、観察光光路と、参照光光路に分離する光分離手段と、
    前記観察光光路と参照光光路の少なくとも一方に設けられた光路長可変手段と、
    前記観察光光路の前記分離手段とは他端側に設けられた集光手段と、
    前記集光手段より出射した光が測定対象物に照射され、反射もしくは散乱した光を受光する受光光学系と、
    前記受光光学系で受けた光を伝送する観察光戻り光路と、
    前記観察光戻り光路と、前記参照光光路を結合する光結合手段と、
    前記光結合手段よりの光を電気信号に変換する光検出手段と、
    前記光検出手段で検出した信号より、観察対象物の画像を生成する画像化手段と
    記測定対象物に対し光を走査する光走査手段とを有する走査型観察装置により、
    前記参照光光路の伝達効率を低下させる第1ステップと、
    基準部材を前記光検出手段の出力を参照し、前記集光手段の焦点位置近傍に、基準部材を位置決めする第2ステップと、
    前記参照光光路の伝達効率を回復させる第3のステップと、
    前記基準部材を第2ステップで位置決めした状態で、前記光分離手段から前記観察光光路、前記集光手段、前記焦点位置検出手段で特定された前記基準部材位置、前記受光光学系、前記観察光戻り光路、前記光結合手段と経由される光路Aとし、前記光検出手段で検出した信号を参照し、前記光路長可変手段を操作し、前記光路Aと、前記参照光光路との光学的長さを略一致させる第4のステップと、
    からなる走査型観察装置の設定方法。
  3. 体腔内に挿入される光プローブと、
    被検部に光を照射するための光を発生する光源と、
    前記光を前記被検部に集光して照射する集光手段と、
    前記集光手段によって前記被検部を前記集光手段の光軸方向と直交する方向に走査する光走査手段と、
    前記被検部に集光された焦点の位置を前記集光手段の光軸方向に沿って変更可能とする焦点移動手段と、
    前記被検部からの戻り光を検出する光検出手段と、
    前記光プローブの軸方向に設けられたフレキシブルな動力伝達手段とを有し、
    前記動力伝達手段によって前記焦点移動手段が駆動されることを特徴とする光走査プローブ装置。
  4. 体腔内に挿入される光プローブと、
    被検部に光を照射するための光を発生する光源と、
    前記光を前記被検部に集光して照射する集光手段と、
    前記集光手段によって前記被検部を前記集光手段の光軸方向と直交する方向に走査する光走査手段と、
    前記被検部に集光された焦点の位置を前記集光手段の光軸方向に沿って変更可能とする焦点移動手段と、
    前記被検部からの戻り光を検出する光検出手段とを有し、
    前記焦点移動手段は、前記集光手段と前記被検体の間に設けられた可動ミラーを有することを特徴とする光走査プローブ装置。
  5. 体腔内に挿入される光プローブと、
    被検部に光を照射するための低コヒーレンス光を発生する光源と、
    前記光を前記被検部に集光して照射する集光手段と、
    前記集光手段によって前記被検部を前記集光手段の光軸方向と直交する方向に走査する光走査手段と、
    前記被検部に集光された焦点の位置を前記集光手段の光軸方向に沿って変更可能とする焦点移動手段と、
    前記被検部からの戻り光を検出する光検出手段と、
    前記集光手段と前記被検体の間に前記集光手段と前記被検体の間隔を変更可能であって、前記被検体と略同一の屈折率を有する屈折率整合物質を有する屈折率整合手段とを有することを特徴とする光走査プローブ装置。
JP2002137677A 2001-10-31 2002-05-13 光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法及び光走査プローブ装置 Pending JP2003199701A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002137677A JP2003199701A (ja) 2001-10-31 2002-05-13 光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法及び光走査プローブ装置
PCT/JP2002/011283 WO2003038410A1 (fr) 2001-10-31 2002-10-30 Dispositif d'observation de type lecteur optique
EP02778005A EP1441215B1 (en) 2001-10-31 2002-10-30 Optical scanning type observation device
US10/808,857 US7158234B2 (en) 2001-10-31 2004-03-25 Optical scanning observation apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001335035 2001-10-31
JP2001-335035 2001-10-31
JP2002137677A JP2003199701A (ja) 2001-10-31 2002-05-13 光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法及び光走査プローブ装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008306775A Division JP4960336B2 (ja) 2001-10-31 2008-12-01 光走査型観察装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003199701A JP2003199701A (ja) 2003-07-15
JP2003199701A5 true JP2003199701A5 (ja) 2005-09-29

Family

ID=27666736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002137677A Pending JP2003199701A (ja) 2001-10-31 2002-05-13 光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法及び光走査プローブ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003199701A (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7616986B2 (en) * 2001-05-07 2009-11-10 University Of Washington Optical fiber scanner for performing multimodal optical imaging
CN103082996A (zh) * 2003-10-27 2013-05-08 通用医疗公司 用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备
JP4471163B2 (ja) * 2004-09-30 2010-06-02 富士フイルム株式会社 光断層画像取得装置
JP2006215006A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Fujinon Corp 光断層画像化装置
JP2006215005A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Fujinon Corp 光断層画像化装置
JP4892719B2 (ja) * 2005-08-24 2012-03-07 国立大学法人大阪大学 断層計測装置及び断層計測方法
JP2007132761A (ja) * 2005-11-09 2007-05-31 Showa Seiki Kk 共焦点型信号光検出装置および信号光検出方法
JP4895277B2 (ja) * 2006-09-29 2012-03-14 富士フイルム株式会社 光断層画像化装置
JP4842175B2 (ja) 2007-03-07 2011-12-21 東京エレクトロン株式会社 温度測定装置及び温度測定方法
US20100282954A1 (en) * 2008-01-04 2010-11-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. optical probe
JP5247264B2 (ja) * 2008-07-02 2013-07-24 富士フイルム株式会社 較正用治具
KR100982588B1 (ko) * 2008-09-18 2010-09-15 경북대학교 산학협력단 광학적 단층 촬영 장치 및 그의 광학계 안정화 방법
JPWO2010050296A1 (ja) * 2008-10-29 2012-03-29 コニカミノルタオプト株式会社 光断層画像形成方法
JP5498869B2 (ja) * 2010-06-21 2014-05-21 Hoya株式会社 走査型光ファイバ
KR20120009937A (ko) * 2010-07-22 2012-02-02 경북대학교 산학협력단 평면 표시 장치의 검사 장치 및 그 장치에서의 검사 방법
WO2016063406A1 (ja) * 2014-10-23 2016-04-28 並木精密宝石株式会社 光イメージング用プローブ
CN107205615B (zh) * 2015-02-10 2019-04-09 奥林巴斯株式会社 扫描型内窥镜装置及其控制方法
JP6496897B2 (ja) * 2015-03-31 2019-04-10 アダマンド並木精密宝石株式会社 光イメージング用プローブ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003199701A5 (ja)
JP4672260B2 (ja) 画像装置
EP2263517B1 (en) Endoscope observation device
EP3156762A1 (en) High-speed 3d imaging system using continuous-wave thz beam scan
JP2006095143A (ja) 光断層画像取得装置
KR101609029B1 (ko) 광 전달 매질의 투과 특성을 측정하는 방법 및 이를 이용한 이미지 획득 장치
US9844318B2 (en) Devices, systems, and methods for calibrating an OCT imaging system in a laser surgical system
RU2002114935A (ru) Способ получения изображения объекта, устройство для его осуществления и устройство доставки низкокогерентного отпического излучения
CN110367941B (zh) 一种探测光融合非接触光声-光学相干层析双模成像系统
JP4183370B2 (ja) トルク計測装置
WO2009019847A1 (ja) 光画像計測装置
US11147533B2 (en) Photoacoustic wave detection device and endoscope system including the same
JP3670071B2 (ja) 電界測定装置
KR20150043115A (ko) Oct 장치
JP2013230234A5 (ja)
JP2007082769A (ja) 試料分析装置
JP2019523414A (ja) 全視野干渉撮像システム及び方法
JP2004321696A (ja) 光イメージング装置
JP5242304B2 (ja) 観測システム
CN108209860A (zh) 一种反射式共聚焦显微成像系统
US20090290146A1 (en) Probing device and a system for obtaining geometrical data related to a cavity
JP2003131116A5 (ja)
JPS6334963B2 (ja)
JP6555472B2 (ja) 非接触内面形状測定装置
KR20150057698A (ko) 구강용 스캐너