JP2003183257A - 金属パターン形成用有機金属化合物及びそれを用いた金属パターン形成方法 - Google Patents
金属パターン形成用有機金属化合物及びそれを用いた金属パターン形成方法Info
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 65
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 title claims abstract description 30
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 34
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims abstract description 22
- -1 imidazolylidene compound Chemical class 0.000 claims abstract description 21
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 12
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 claims abstract description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 11
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 8
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 8
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 7
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 7
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 claims description 6
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 6
- 125000000304 alkynyl group Chemical group 0.000 claims description 6
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 claims description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 6
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 claims description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 6
- 125000002029 aromatic hydrocarbon group Chemical group 0.000 claims description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 5
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 5
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 claims description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 3
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 claims description 3
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 claims description 3
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 3
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 claims description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000000813 microcontact printing Methods 0.000 claims description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 claims 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims 2
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims 1
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical group 0.000 claims 1
- 239000003446 ligand Substances 0.000 abstract description 15
- 239000013110 organic ligand Substances 0.000 abstract description 9
- 238000005336 cracking Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 abstract 1
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 18
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 17
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 15
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000010408 film Substances 0.000 description 13
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 10
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 7
- 238000005160 1H NMR spectroscopy Methods 0.000 description 6
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical compound CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- UEALYGMEMQDEMQ-UHFFFAOYSA-N 1,3,4,5-tetramethylimidazole-2-thione Chemical compound CC1=C(C)N(C)C(=S)N1C UEALYGMEMQDEMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 5
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- ZSIAUFGUXNUGDI-UHFFFAOYSA-N hexan-1-ol Chemical compound CCCCCCO ZSIAUFGUXNUGDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 3
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- 238000001644 13C nuclear magnetic resonance spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 2
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 2
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- NZZIMKJIVMHWJC-UHFFFAOYSA-N dibenzoylmethane Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)CC(=O)C1=CC=CC=C1 NZZIMKJIVMHWJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VURFVHCLMJOLKN-UHFFFAOYSA-N diphosphane Chemical compound PP VURFVHCLMJOLKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- HZVOZRGWRWCICA-UHFFFAOYSA-N methanediyl Chemical compound [CH2] HZVOZRGWRWCICA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 2
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- DWXPYPYNNXEZIP-UHFFFAOYSA-N 1,3,4,5-tetramethyl-2h-imidazole Chemical compound CN1CN(C)C(C)=C1C DWXPYPYNNXEZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BRMQTCBBEXSFEO-UHFFFAOYSA-N 3,4-dimethyl-1h-imidazole-2-thione Chemical compound CC1=CN=C(S)N1C BRMQTCBBEXSFEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SYBYTAAJFKOIEJ-UHFFFAOYSA-N 3-Methylbutan-2-one Chemical compound CC(C)C(C)=O SYBYTAAJFKOIEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ROWKJAVDOGWPAT-UHFFFAOYSA-N Acetoin Chemical compound CC(O)C(C)=O ROWKJAVDOGWPAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101710134784 Agnoprotein Proteins 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- VLCDUOXHFNUCKK-UHFFFAOYSA-N N,N'-Dimethylthiourea Chemical compound CNC(=S)NC VLCDUOXHFNUCKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-M Thiocyanate anion Chemical compound [S-]C#N ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N arsane Chemical compound [AsH3] RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001540 azides Chemical class 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000007942 carboxylates Chemical class 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-N hydrogen thiocyanate Natural products SC#N ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004356 hydroxy functional group Chemical group O* 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 150000002540 isothiocyanates Chemical class 0.000 description 1
- 239000013212 metal-organic material Substances 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- 125000000449 nitro group Chemical group [O-][N+](*)=O 0.000 description 1
- ODUCDPQEXGNKDN-UHFFFAOYSA-N nitroxyl Chemical compound O=N ODUCDPQEXGNKDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000006303 photolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000015843 photosynthesis, light reaction Effects 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010414 supernatant solution Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 125000002813 thiocarbonyl group Chemical group *C(*)=S 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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-
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 新規な有機金属化合物およびこれを用いた金
属パターン形成方法を提供する。 【解決手段】 構造式L’−M−L(式中、MはAg、
Au、Cu、Pd、Ni及びPtからなる群より選ばれ
る1種の転移金属、Lは特定構造のイミダゾリリデン化
合物、L’は上記特定構造のイミダゾリリデン化合物、
もしくは特定構造のβ−ジケトネート)で示される金属
パターン形成用有機金属化合物である。該化合物は、
L’、MおよびLとがほぼ同一平面上に存在するため金
属膜収縮の最も大きい原因である有機配位子の嵩高さを
減ずることができ、しかもL’およびLは光による配位
子が分解離脱し易いという特性を有するため、金属パタ
ーン形成の際に、クラッキングを抑制することができ
る。
属パターン形成方法を提供する。 【解決手段】 構造式L’−M−L(式中、MはAg、
Au、Cu、Pd、Ni及びPtからなる群より選ばれ
る1種の転移金属、Lは特定構造のイミダゾリリデン化
合物、L’は上記特定構造のイミダゾリリデン化合物、
もしくは特定構造のβ−ジケトネート)で示される金属
パターン形成用有機金属化合物である。該化合物は、
L’、MおよびLとがほぼ同一平面上に存在するため金
属膜収縮の最も大きい原因である有機配位子の嵩高さを
減ずることができ、しかもL’およびLは光による配位
子が分解離脱し易いという特性を有するため、金属パタ
ーン形成の際に、クラッキングを抑制することができ
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フォトレジストを
使用せず光を用いてマイクロまたはナノサイズの伝導性
金属パターンを形成することが可能な有機金属化合物、
及びそれを用いた金属パターン形成方法に関し、より詳
細には、中心転移金属に結合された2つの有機配位子の
少なくとも一つはイミダゾリリデン(imidazolylidene)
化合物であり、残りのもう一つは同種または異種のイミ
ダゾリリデン化合物またはβ−ジケトネート(β-diketo
nate)化合物である有機金属化合物、及び前記有機金属
化合物を用いた金属パターン形成方法に関する。
使用せず光を用いてマイクロまたはナノサイズの伝導性
金属パターンを形成することが可能な有機金属化合物、
及びそれを用いた金属パターン形成方法に関し、より詳
細には、中心転移金属に結合された2つの有機配位子の
少なくとも一つはイミダゾリリデン(imidazolylidene)
化合物であり、残りのもう一つは同種または異種のイミ
ダゾリリデン化合物またはβ−ジケトネート(β-diketo
nate)化合物である有機金属化合物、及び前記有機金属
化合物を用いた金属パターン形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】既存の金属パターン形成方法としては、
例えば、金属有機物をCVD法(Chemical Vapor Deposi
tion)もしくはALD法(Atomic Layer Deposition)を用
いてシリコンまたはガラス基板上にフィルムを形成し、
その上にフォトレジストをスピンコート法で塗布し、光
リソグラフィ法によってパターンを形成し、別途のエッ
チング工程を行ってフォトレジストを除去する方法があ
る。他の方法としては、プラズマ蒸着法、スパッタリン
グ法、電気メッキ法等によって基板上に金属膜を形成
し、その上にフォトレジストを塗布した後、光を用いた
パターン形成工程とエッチング工程によって金属パター
ンを得る方法がある。このような従来の方法はいずれも
高温、高真空装置を必要とし、フォトレジストを用いて
パターンを形成する工程及びフォトレジストを除去する
エッチング工程を伴う。
例えば、金属有機物をCVD法(Chemical Vapor Deposi
tion)もしくはALD法(Atomic Layer Deposition)を用
いてシリコンまたはガラス基板上にフィルムを形成し、
その上にフォトレジストをスピンコート法で塗布し、光
リソグラフィ法によってパターンを形成し、別途のエッ
チング工程を行ってフォトレジストを除去する方法があ
る。他の方法としては、プラズマ蒸着法、スパッタリン
グ法、電気メッキ法等によって基板上に金属膜を形成
し、その上にフォトレジストを塗布した後、光を用いた
パターン形成工程とエッチング工程によって金属パター
ンを得る方法がある。このような従来の方法はいずれも
高温、高真空装置を必要とし、フォトレジストを用いて
パターンを形成する工程及びフォトレジストを除去する
エッチング工程を伴う。
【0003】一方、光反応を利用しない金属パターン形
成方法も提案されていた。例えば、特開昭62−263
973号には、有機金属化合物の薄膜層に電子ビームを
照射して金属パターンを形成する方法が開示されてお
り、これは光反応によるものではない(特許文献1)。
また、Kestnbaum等に許可された米国特許第5,064,
685号には、基板に金属有機物インクを塗布した後、
レーザで加熱して熱分解反応によって金属フィルムを得
る方法が開示されている(特許文献2)。しかしなが
ら、この方法では基板が高温に露出されるため、金属以
外の物質への蒸着を行うことができない。
成方法も提案されていた。例えば、特開昭62−263
973号には、有機金属化合物の薄膜層に電子ビームを
照射して金属パターンを形成する方法が開示されてお
り、これは光反応によるものではない(特許文献1)。
また、Kestnbaum等に許可された米国特許第5,064,
685号には、基板に金属有機物インクを塗布した後、
レーザで加熱して熱分解反応によって金属フィルムを得
る方法が開示されている(特許文献2)。しかしなが
ら、この方法では基板が高温に露出されるため、金属以
外の物質への蒸着を行うことができない。
【0004】一方、Hill等に許可された米国特許第5,
534,312号には、光に敏感な有機化合物を金属に
配位結合させて合成した有機金属化合物を基板上に塗布
し、フォトレジスト塗布工程を行うことなく直ちに光を
照射してパターンを得る方法が開示されている。同特許
では、有機配位子化合物として、アセチルアセトネー
ト、ジアルキルジチオカルバメート、カルボキシレー
ト、ピリジン、アミン、ジアミン、アルシン、ジアルシ
ン、ホスフィン、ジホスフィン、アレーン及びアルコキ
シ配位子を使用し、オキサラト、ハロゲン、水素、ヒド
ロキシ、シアノ、カルボニル、ニトロ、ニトレート、ニ
トロキシル、エチレン、アセチレン、チオシアネート、
イソチオシアネート、水、アジド、カーボネイト、アミ
ン、チオカルボニルなどからなる群より選ばれる一つま
たはそれ以上の配位子を金属に単独、もしくは前記有機
配位子化合物と結合させて有機金属化合物を合成してい
る。同特許によれば、このように合成された有機金属化
合物を基板上に塗布し、パターンの形成されたマスクに
光を通過させると、光が直接有機金属化合物と反応を起
こし、金属に配位された有機配位子が分解されて離脱
し、残っている金属は周囲の金属原子または大気中の酸
素と反応して金属酸化膜パターンを形成する、としてい
る。なお、形成された酸化膜の電気伝導度を向上させる
ために、水素/窒素混合ガスを流しながら200℃以上
の高温で還元反応及び表面熱処理過程を行っている(特
許文献3)。
534,312号には、光に敏感な有機化合物を金属に
配位結合させて合成した有機金属化合物を基板上に塗布
し、フォトレジスト塗布工程を行うことなく直ちに光を
照射してパターンを得る方法が開示されている。同特許
では、有機配位子化合物として、アセチルアセトネー
ト、ジアルキルジチオカルバメート、カルボキシレー
ト、ピリジン、アミン、ジアミン、アルシン、ジアルシ
ン、ホスフィン、ジホスフィン、アレーン及びアルコキ
シ配位子を使用し、オキサラト、ハロゲン、水素、ヒド
ロキシ、シアノ、カルボニル、ニトロ、ニトレート、ニ
トロキシル、エチレン、アセチレン、チオシアネート、
イソチオシアネート、水、アジド、カーボネイト、アミ
ン、チオカルボニルなどからなる群より選ばれる一つま
たはそれ以上の配位子を金属に単独、もしくは前記有機
配位子化合物と結合させて有機金属化合物を合成してい
る。同特許によれば、このように合成された有機金属化
合物を基板上に塗布し、パターンの形成されたマスクに
光を通過させると、光が直接有機金属化合物と反応を起
こし、金属に配位された有機配位子が分解されて離脱
し、残っている金属は周囲の金属原子または大気中の酸
素と反応して金属酸化膜パターンを形成する、としてい
る。なお、形成された酸化膜の電気伝導度を向上させる
ために、水素/窒素混合ガスを流しながら200℃以上
の高温で還元反応及び表面熱処理過程を行っている(特
許文献3)。
【0005】しかしながら、この方法に使用された有機
金属化合物は、単一平面でなく立体的障害が比較的大き
い配位子から構成されている。これは光照射によって分
解される配位子の空間が大きいことを意味し、これによ
り金属膜厚の収縮率が増加する。その結果、同特許の方
法による金属パターン形成では、金属膜の収縮率(shrin
kage)が90%に至って金属膜のひび割れ(cracking)と
小割れ(crazing)が発生するという問題点があった。
金属化合物は、単一平面でなく立体的障害が比較的大き
い配位子から構成されている。これは光照射によって分
解される配位子の空間が大きいことを意味し、これによ
り金属膜厚の収縮率が増加する。その結果、同特許の方
法による金属パターン形成では、金属膜の収縮率(shrin
kage)が90%に至って金属膜のひび割れ(cracking)と
小割れ(crazing)が発生するという問題点があった。
【0006】
【特許文献1】特開昭62−263973号
【特許文献2】米国特許第5,064,685号
【特許文献3】米国特許第5,534,312号
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、かかる従来
の技術の問題点を解決するためのもので、その目的は、
金属膜収縮の大きい原因になる有機配位子のバルキネス
を減らし、かつ光による配位子が分解離脱し易い有機金
属化合物を製造し、これを用いた金属パターン形成方法
を提供することにある。
の技術の問題点を解決するためのもので、その目的は、
金属膜収縮の大きい原因になる有機配位子のバルキネス
を減らし、かつ光による配位子が分解離脱し易い有機金
属化合物を製造し、これを用いた金属パターン形成方法
を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明の第一は、
下記化学式1の構造を有する金属パターン形成用有機金
属化合物である。
下記化学式1の構造を有する金属パターン形成用有機金
属化合物である。
【0009】
【化4】
【0010】(式中、MはAg、Au、Cu、Pd、N
i及びPtからなる群より選ばれる1種の転移金属、L
は下記化学式2の構造を有するイミダゾリリデン化合
物、L’は下記化学式2の構造を有するイミダゾリリデ
ン化合物、もしくは下記化学式3の構造を有するβ−ジ
ケトネート化合物である。)
i及びPtからなる群より選ばれる1種の転移金属、L
は下記化学式2の構造を有するイミダゾリリデン化合
物、L’は下記化学式2の構造を有するイミダゾリリデ
ン化合物、もしくは下記化学式3の構造を有するβ−ジ
ケトネート化合物である。)
【0011】
【化5】
【0012】(式中、R1、R2、R3及びR4はそれぞれ
独立して水素原子、または炭素数1〜20のアルキル
基、アルケニル基、アルキニル基、カルボキシル基、ア
ルコキシ基、エステル基又は芳香族炭化水素基であ
る。)
独立して水素原子、または炭素数1〜20のアルキル
基、アルケニル基、アルキニル基、カルボキシル基、ア
ルコキシ基、エステル基又は芳香族炭化水素基であ
る。)
【0013】
【化6】
【0014】(式中、R5、R6及びR7はそれぞれ独立
して水素原子、もしくは炭素数1〜20のアルキル基、
アルケニル基、アルキニル基、カルボキシル基、アルコ
キシ基、エステル基又は芳香族炭化水素基である。) 本発明の第二は、前記有機金属化合物を用いた金属パタ
ーン形成方法である。
して水素原子、もしくは炭素数1〜20のアルキル基、
アルケニル基、アルキニル基、カルボキシル基、アルコ
キシ基、エステル基又は芳香族炭化水素基である。) 本発明の第二は、前記有機金属化合物を用いた金属パタ
ーン形成方法である。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明をより詳細に説明す
る。
る。
【0016】本発明の有機金属化合物は、中心金属に2
つの配位子が結合された形態の化合物であり、2つの配
位子の少なくとも一つはイミダゾリリデン化合物、残り
のもう一つは同種または異種のイミダゾリリデン化合物
またはβ−ジケトネート化合物である。本発明の有機金
属化合物は下記化学式1で表わすことができる。
つの配位子が結合された形態の化合物であり、2つの配
位子の少なくとも一つはイミダゾリリデン化合物、残り
のもう一つは同種または異種のイミダゾリリデン化合物
またはβ−ジケトネート化合物である。本発明の有機金
属化合物は下記化学式1で表わすことができる。
【0017】
【化7】
【0018】式(1)において、MはAg、Au、C
u、Pd、Ni及びPtからなる群より選ばれる1種の
転移金属、Lは下記化学式2の構造を有するイミダゾリ
リデン化合物、L’は下記化学式2の構造を有するイミ
ダゾリリデン化合物、もしくは下記化学式3の構造を有
するβ−ジケトネート化合物である。
u、Pd、Ni及びPtからなる群より選ばれる1種の
転移金属、Lは下記化学式2の構造を有するイミダゾリ
リデン化合物、L’は下記化学式2の構造を有するイミ
ダゾリリデン化合物、もしくは下記化学式3の構造を有
するβ−ジケトネート化合物である。
【0019】
【化8】
【0020】式(2)において、R1、R2、R3及びR4
はそれぞれ独立して水素原子、または炭素数1〜20の
アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、カルボキシ
ル基、アルコキシ基、炭素数2〜20のエステル基、又
は芳香族炭化水素基である。好ましくは、R1、R2、R
3及びR4はそれぞれ独立してメチル基、エチル基、プロ
ピル基、イソプロピル基、イソブチル基またはフェニル
基である。
はそれぞれ独立して水素原子、または炭素数1〜20の
アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、カルボキシ
ル基、アルコキシ基、炭素数2〜20のエステル基、又
は芳香族炭化水素基である。好ましくは、R1、R2、R
3及びR4はそれぞれ独立してメチル基、エチル基、プロ
ピル基、イソプロピル基、イソブチル基またはフェニル
基である。
【0021】
【化9】
【0022】式(3)において、R5、R6及びR7はそ
れぞれ独立して水素原子、もしくは炭素数1〜20のア
ルキル基、アルケニル基、アルキニル基、カルボキシル
基、アルコキシ基、炭素数2〜20のエステル基、又は
芳香族炭化水素基である。好ましくは、R5、R6及びR
7はそれぞれ独立してメチル基、エチル基、プロピル
基、イソプロピル基、イソブチル基またはフェニル基で
ある。
れぞれ独立して水素原子、もしくは炭素数1〜20のア
ルキル基、アルケニル基、アルキニル基、カルボキシル
基、アルコキシ基、炭素数2〜20のエステル基、又は
芳香族炭化水素基である。好ましくは、R5、R6及びR
7はそれぞれ独立してメチル基、エチル基、プロピル
基、イソプロピル基、イソブチル基またはフェニル基で
ある。
【0023】本発明の有機金属化合物は、独特な分子構
造を有するが、一例として後述する製造例4で合成した
(1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2
−イリデン)(ジフェニルアセトネート)銀の分子構造を
図1に示す。図1に示すように、イミダゾリリデン及び
ジケトネート配位子と中心金属は全て同一平面上に存在
し、この際、ジケトネート配位子に付いているフェニル
基のみが平面からやや外れている。
造を有するが、一例として後述する製造例4で合成した
(1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2
−イリデン)(ジフェニルアセトネート)銀の分子構造を
図1に示す。図1に示すように、イミダゾリリデン及び
ジケトネート配位子と中心金属は全て同一平面上に存在
し、この際、ジケトネート配位子に付いているフェニル
基のみが平面からやや外れている。
【0024】さらに、そのような分子構造を有する(1,
3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2−イ
リデン)(ジフェニルアセトネート)銀の分子配列を図2
に示す。図2では、ジフェニルアセトネート配位子のフ
ェニル基及び水素原子は省略した。図2に示すように、
配位子間の立体配置に従って、各分子はそれぞれの配位
子が180°反転された形態で積層され、上下相互の該
有機金属化合物の中心金属間の距離はほぼファンデルワ
ールス結合に近い3Å(ファンデルワールス結合長:
2.82Å)と、これより長い6.5Åの間隔で交代に積
層され、左右相互の該有機金属化合物の中心金属はジグ
ザグに配列されている。すなわち、本発明の有機金属化
合物では2つの有機配位子が中心金属と同じ平面に存在
し、金属−金属間の距離が近い配列をしているから、金
属パターンの形成時に金属膜の収縮率が低くなり、ひび
割れと小割れの発生を防止することができる。また、本
発明の有機金属化合物を構成する有機配位子は、光に敏
感であって露光時に中心金属から容易に分離されて分解
される特性があるため、金属パターン形成時に別途のフ
ォトレジスト塗布工程及びエッチング工程を必要としな
い。
3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2−イ
リデン)(ジフェニルアセトネート)銀の分子配列を図2
に示す。図2では、ジフェニルアセトネート配位子のフ
ェニル基及び水素原子は省略した。図2に示すように、
配位子間の立体配置に従って、各分子はそれぞれの配位
子が180°反転された形態で積層され、上下相互の該
有機金属化合物の中心金属間の距離はほぼファンデルワ
ールス結合に近い3Å(ファンデルワールス結合長:
2.82Å)と、これより長い6.5Åの間隔で交代に積
層され、左右相互の該有機金属化合物の中心金属はジグ
ザグに配列されている。すなわち、本発明の有機金属化
合物では2つの有機配位子が中心金属と同じ平面に存在
し、金属−金属間の距離が近い配列をしているから、金
属パターンの形成時に金属膜の収縮率が低くなり、ひび
割れと小割れの発生を防止することができる。また、本
発明の有機金属化合物を構成する有機配位子は、光に敏
感であって露光時に中心金属から容易に分離されて分解
される特性があるため、金属パターン形成時に別途のフ
ォトレジスト塗布工程及びエッチング工程を必要としな
い。
【0025】このような有機金属化合物を用いた本発明
の金属パターン形成方法は、該有機金属化合物を溶媒に
溶解させた後、基板上に塗布して薄膜を形成し、マスク
を用いて露光させた後、現像して金属または金属酸化物
パターンを形成する段階を含む。本発明の有機金属化合
物を露光させると、金属Mに結合された有機配位子L及
びL’が金属から分離、分解されて無くなり、基板上に
残っている金属は周囲の金属と結合して金属パターンを
形成する。その結果、光に露出された有機金属薄膜は金
属薄膜に変わり、光に露出されていなかった有機金属薄
膜部分及び光分解された有機物は現像時に有機溶媒に溶
解されて容易に除去される。
の金属パターン形成方法は、該有機金属化合物を溶媒に
溶解させた後、基板上に塗布して薄膜を形成し、マスク
を用いて露光させた後、現像して金属または金属酸化物
パターンを形成する段階を含む。本発明の有機金属化合
物を露光させると、金属Mに結合された有機配位子L及
びL’が金属から分離、分解されて無くなり、基板上に
残っている金属は周囲の金属と結合して金属パターンを
形成する。その結果、光に露出された有機金属薄膜は金
属薄膜に変わり、光に露出されていなかった有機金属薄
膜部分及び光分解された有機物は現像時に有機溶媒に溶
解されて容易に除去される。
【0026】本発明の金属パターン形成方法に使用され
る基板の種類は、本発明の目的を阻害しない限り特に制
限されず、シリコンまたはガラスのような無機物からな
る基板、プラスチックのような有機物からなる基板、も
しくは無機物と有機物の複合体からなる基板などを使用
することができる。
る基板の種類は、本発明の目的を阻害しない限り特に制
限されず、シリコンまたはガラスのような無機物からな
る基板、プラスチックのような有機物からなる基板、も
しくは無機物と有機物の複合体からなる基板などを使用
することができる。
【0027】一方、本発明の金属パターン形成方法にお
いて、前記塗布段階はスピンコート、ロールコート、マ
イクロコンタクトプリント(micro-contact printing)又
はスプレーコート法によって行われることが好ましく、
前記露光段階では紫外線UVを用いることが好ましい。
いて、前記塗布段階はスピンコート、ロールコート、マ
イクロコンタクトプリント(micro-contact printing)又
はスプレーコート法によって行われることが好ましく、
前記露光段階では紫外線UVを用いることが好ましい。
【0028】本発明の金属パターン形成方法は、金属ま
たは金属酸化物パターン形成後、熱処理する段階をさら
に含むことができる。該熱処理はいわゆるアニーリング
である。本発明によれば、ガラスまたはプラスチックな
どからなる基板に、熱的な影響を与えず比較的低い温度
で熱処理を行うことが可能であり、必要に応じて水素/
窒素混合ガスまたは純粋窒素ガスまたは空気条件の下で
300℃以下、好ましくは200℃以下の温度で熱処理
を行うことができる。
たは金属酸化物パターン形成後、熱処理する段階をさら
に含むことができる。該熱処理はいわゆるアニーリング
である。本発明によれば、ガラスまたはプラスチックな
どからなる基板に、熱的な影響を与えず比較的低い温度
で熱処理を行うことが可能であり、必要に応じて水素/
窒素混合ガスまたは純粋窒素ガスまたは空気条件の下で
300℃以下、好ましくは200℃以下の温度で熱処理
を行うことができる。
【0029】上述した本発明の金属パターン形成方法
は、フレキシブルディスプレイ(flexible display)また
はフラットパネルディスプレイ(flat panel display)の
スパッタ層を代替する用途に使用し、もしくはCMPフ
リーダマシンプロセッシング(CMP-free damascene proc
essing)及びPR−フリーITO層の形成に使用するこ
とができる。
は、フレキシブルディスプレイ(flexible display)また
はフラットパネルディスプレイ(flat panel display)の
スパッタ層を代替する用途に使用し、もしくはCMPフ
リーダマシンプロセッシング(CMP-free damascene proc
essing)及びPR−フリーITO層の形成に使用するこ
とができる。
【0030】
【実施例】以下、実施例によって本発明をより具体的に
説明する。これらの実施例は本発明を説明するためのも
のであり本発明を限定するものではない。 (製造例1) 1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2−
チオン(1,3-dimethyl-4,5-dimethylimidazole-2-thion
e)の合成
説明する。これらの実施例は本発明を説明するためのも
のであり本発明を限定するものではない。 (製造例1) 1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2−
チオン(1,3-dimethyl-4,5-dimethylimidazole-2-thion
e)の合成
【0031】
【化10】
【0032】Kuhnなどの文献(参照:N. Kuhn and T. K
ratz, Synthesis, June 1993, P.561)に記述された方
法を変形し、次のように1,3−ジメチル−4,5−ジメ
チルイミダゾール−2−チオンを合成した。
ratz, Synthesis, June 1993, P.561)に記述された方
法を変形し、次のように1,3−ジメチル−4,5−ジメ
チルイミダゾール−2−チオンを合成した。
【0033】ジメチルチオウレア(100mmol)を
1−ヘキサノール(250mL)に添加した後、3−ヒ
ドロキシル−2−ブタノン(100mmol)添加し
た。その後、反応温度を約150℃〜160℃に昇温さ
せながら還流反応を約12時間程度行った。温度が段々
上がるにつれて、白い固体状反応物が1−ヘキサノール
に溶解して黄色に変わった。還流反応が完了した後、前
記溶液を約−30℃程度の冷凍庫に一日程度保管する
と、白い固体成分と黄色い液体成分に分離した。黄色い
液体部分を注射器で除去し、残っている白い固体部分を
水とエーテルで洗浄し、乾燥させて1,3−ジメチル−
4,5−ジメチルイミダゾール−2−チオンを得た。こ
のように製造された1,3−ジメチル−4,5−ジメチル
イミダゾール−2−チオンの1H−NMR分析結果は次
の通りである。
1−ヘキサノール(250mL)に添加した後、3−ヒ
ドロキシル−2−ブタノン(100mmol)添加し
た。その後、反応温度を約150℃〜160℃に昇温さ
せながら還流反応を約12時間程度行った。温度が段々
上がるにつれて、白い固体状反応物が1−ヘキサノール
に溶解して黄色に変わった。還流反応が完了した後、前
記溶液を約−30℃程度の冷凍庫に一日程度保管する
と、白い固体成分と黄色い液体成分に分離した。黄色い
液体部分を注射器で除去し、残っている白い固体部分を
水とエーテルで洗浄し、乾燥させて1,3−ジメチル−
4,5−ジメチルイミダゾール−2−チオンを得た。こ
のように製造された1,3−ジメチル−4,5−ジメチル
イミダゾール−2−チオンの1H−NMR分析結果は次
の通りである。
【0034】1H−NMR(CD2Cl2):3.48
[s,6H,N(1,3)−CH3],2.06[s,
6H,C(4,5)−CH3] (製造例2) 1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2−
イリデン(1,3-dimethyl-4,5-dimethylimidazol-2-ylide
ne)の合成
[s,6H,N(1,3)−CH3],2.06[s,
6H,C(4,5)−CH3] (製造例2) 1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2−
イリデン(1,3-dimethyl-4,5-dimethylimidazol-2-ylide
ne)の合成
【0035】
【化11】
【0036】前記製造例1で得た1,3−ジメチル−4,
5−ジメチルイミダゾール−2−チオン(5mmol)
をTHF(30mL)に溶解した後、温度を0℃に下げ
た。ここに、2.2当量程度のカリウム金属を細かく切
って入れた。次に、温度を昇温させて約4時間程度還流
反応を行った。反応後、濾紙を針の先端に縛り付けたも
のを用いて薄黄色の液体部分のみを分離した。その後、
溶媒を除去して、やや黄色みを帯びた1,3−ジメチル
−4,5−ジメチルイミダゾール−2−イリデンを得
て、窒素雰囲気中、低温で保管した。このように製造さ
れた1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−
2−イリデンの1H−NMR分析結果は次の通りであ
る。
5−ジメチルイミダゾール−2−チオン(5mmol)
をTHF(30mL)に溶解した後、温度を0℃に下げ
た。ここに、2.2当量程度のカリウム金属を細かく切
って入れた。次に、温度を昇温させて約4時間程度還流
反応を行った。反応後、濾紙を針の先端に縛り付けたも
のを用いて薄黄色の液体部分のみを分離した。その後、
溶媒を除去して、やや黄色みを帯びた1,3−ジメチル
−4,5−ジメチルイミダゾール−2−イリデンを得
て、窒素雰囲気中、低温で保管した。このように製造さ
れた1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−
2−イリデンの1H−NMR分析結果は次の通りであ
る。
【0037】1H−NMR(C6D6):3.35[s,
6H,N(1,3)−CH3],1.59[s,6H,
C(4,5)−CH3] (製造例3) ジフェニルアセトネート銀(diphenylacetonate silver)
の合成
6H,N(1,3)−CH3],1.59[s,6H,
C(4,5)−CH3] (製造例3) ジフェニルアセトネート銀(diphenylacetonate silver)
の合成
【0038】
【化12】
【0039】1,3−ジフェニル−1,3−プロパンジオ
ン(もしくはジベンゾイルメタン4.54g)をエタノ
ール(20mL)/水(60mL)溶液に添加し、Na
OH(0.8g)を加えた後、常温で約2時間程度反応
させて黄色い液体を得た。
ン(もしくはジベンゾイルメタン4.54g)をエタノ
ール(20mL)/水(60mL)溶液に添加し、Na
OH(0.8g)を加えた後、常温で約2時間程度反応
させて黄色い液体を得た。
【0040】その液体をAgNO3(3.44g)水溶液
(80mL)に徐々に滴下して灰色の固体成分を生成し
た。前記溶液を約1時間程度さらに攪拌し、固体成分を
濾過して水/エタノール/エーテルの順で洗浄した後、
50℃の真空オーブンで約6時間乾燥させ、ジフェニル
アセトネート銀を得た。このように製造されたジフェニ
ルアセトネート銀のC=O結合の存在を確認するため
に、IRスペクトルで分析した。その結果は次の通りで
ある。
(80mL)に徐々に滴下して灰色の固体成分を生成し
た。前記溶液を約1時間程度さらに攪拌し、固体成分を
濾過して水/エタノール/エーテルの順で洗浄した後、
50℃の真空オーブンで約6時間乾燥させ、ジフェニル
アセトネート銀を得た。このように製造されたジフェニ
ルアセトネート銀のC=O結合の存在を確認するため
に、IRスペクトルで分析した。その結果は次の通りで
ある。
【0041】FT−IR(KBr):1420,145
5,1509,1560,1597cm-1 (製造例4) (1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2
−イリデン)(ジフェニルアセトネート)銀[(1,3-dime
thyl-4,5-dimethylimidazol-2-ylidene) (diphenylacet
onate)silver)]の合成
5,1509,1560,1597cm-1 (製造例4) (1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2
−イリデン)(ジフェニルアセトネート)銀[(1,3-dime
thyl-4,5-dimethylimidazol-2-ylidene) (diphenylacet
onate)silver)]の合成
【0042】
【化13】
【0043】前記製造例2で得た1,3−ジメチル−4,
5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン(281m
g、2.267mmol)を窒素雰囲気中でTHF溶媒
(30mL)に添加した後、攪拌して溶解させた。次
に、前記THF溶液(30mL)を低温(−78℃)に
冷却し、ここに前記製造例3で得たジフェニルアセトネ
ート銀スラリー(749mg)を徐々に加えた後、ゆっ
くり常温に昇温させながら約3時間程度攪拌した。攪拌
後、セライト(celite)を用いて、反応中に生成された黒
色の微細な沈澱物を除去した。こうして得られた溶液部
分から真空下で溶媒を除去した。これから得た固体成分
を塩化メチレン(約20mL)にさらに溶解した後、冷
凍庫(−30℃)に一日程度放置し、上澄液部分の約半
分程度を取って約100mLのペンタンまたはヘキサン
溶媒に注射器を用いて徐々に滴下すると、灰色の固体成
分が生成した。前記溶液を約1時間程度そのまま放置し
て固体成分を沈澱させた後、薄黄色の上澄液部分を注射
器によって除去した。残っている固体成分にさらにヘキ
サンを約50〜60mL程度添加し、ここに前記で残し
ておいた残り半分の塩化メチレン溶液を滴下して灰色の
固体成分を生成させた。前述と同様に、その溶液を約1
時間程度そのまま放置して固体成分を沈澱させた後、薄
黄色の上澄液部分を注射器によって除去した。このよう
に製造された(1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミ
ダゾール−2−イリデン)(ジフェニルアセトネート)
銀の収率は約80%であり、単結晶はCH2Cl2/ペン
タン溶媒下で−30℃にて得た。
5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン(281m
g、2.267mmol)を窒素雰囲気中でTHF溶媒
(30mL)に添加した後、攪拌して溶解させた。次
に、前記THF溶液(30mL)を低温(−78℃)に
冷却し、ここに前記製造例3で得たジフェニルアセトネ
ート銀スラリー(749mg)を徐々に加えた後、ゆっ
くり常温に昇温させながら約3時間程度攪拌した。攪拌
後、セライト(celite)を用いて、反応中に生成された黒
色の微細な沈澱物を除去した。こうして得られた溶液部
分から真空下で溶媒を除去した。これから得た固体成分
を塩化メチレン(約20mL)にさらに溶解した後、冷
凍庫(−30℃)に一日程度放置し、上澄液部分の約半
分程度を取って約100mLのペンタンまたはヘキサン
溶媒に注射器を用いて徐々に滴下すると、灰色の固体成
分が生成した。前記溶液を約1時間程度そのまま放置し
て固体成分を沈澱させた後、薄黄色の上澄液部分を注射
器によって除去した。残っている固体成分にさらにヘキ
サンを約50〜60mL程度添加し、ここに前記で残し
ておいた残り半分の塩化メチレン溶液を滴下して灰色の
固体成分を生成させた。前述と同様に、その溶液を約1
時間程度そのまま放置して固体成分を沈澱させた後、薄
黄色の上澄液部分を注射器によって除去した。このよう
に製造された(1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミ
ダゾール−2−イリデン)(ジフェニルアセトネート)
銀の収率は約80%であり、単結晶はCH2Cl2/ペン
タン溶媒下で−30℃にて得た。
【0044】(1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミ
ダゾール−2−イリデン)(ジフェニルアセトネート)
銀の化学的分析結果は次の通りである。1H−NMR
(CD2Cl2):3.75[s,6H,N(1,3)−
CH3],2.14[s,6H,C(4,5)−C
H3],7.89[m,4H,Ph],7.40[m,
6H,Ph],6.45[s,1H,C=CH−C]13 C−NMR(CD2Cl2):185.7(s,O−C
(Ph)−CH),179.4(s,Ccarbene),1
25.8(s,C=C(CH3)−N),127.4,
128.4,130.2,143.8(Ph−grou
p),93.1(s,C(Ph)=CH=C(P
h)),36.7(s,C=C(CH3)−N),9.
5(s,C=C(CH3)) FT−IR(KBr):1425,1466,150
7,1566,1605,1645cm-1 UV/VIS(CH2Cl2):247,254nm (実施例1)前記製造例4で得た(1,3−ジメチル−
4,5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン)(ジフ
ェニルアセトネート)銀を塩化メチレンに0.22M濃
度で溶解した後、その溶液を大気中でガラス基板上にス
ピンコート法によって500rpm/5sec→200
0rpm/20sec→500rpm/5secの条件
で塗布した。金属パターンを形成するために、前記基板
を大気中の常温でUV光(200nm〜400nm)に
2時間露出させた。光に露出された部分では光によって
配位子が分離されながら銀金属フィルムが形成された。
光に露出されていない部分と光分解されて残っている有
機物は、塩化メチレンで溶かして除去した。このように
パターンが形成された基板を約200℃のホットプレー
ト上にのせ、空気中で約2時間程度熱処理(annealing)
を行って、電気の流れる金属パターンを得た。3Mテー
プで接着力を試験した結果、形成されたパターンは基板
から分離されず、4ポイントプローブ法で電気抵抗を測
定し、電気が流れていることを確認した。
ダゾール−2−イリデン)(ジフェニルアセトネート)
銀の化学的分析結果は次の通りである。1H−NMR
(CD2Cl2):3.75[s,6H,N(1,3)−
CH3],2.14[s,6H,C(4,5)−C
H3],7.89[m,4H,Ph],7.40[m,
6H,Ph],6.45[s,1H,C=CH−C]13 C−NMR(CD2Cl2):185.7(s,O−C
(Ph)−CH),179.4(s,Ccarbene),1
25.8(s,C=C(CH3)−N),127.4,
128.4,130.2,143.8(Ph−grou
p),93.1(s,C(Ph)=CH=C(P
h)),36.7(s,C=C(CH3)−N),9.
5(s,C=C(CH3)) FT−IR(KBr):1425,1466,150
7,1566,1605,1645cm-1 UV/VIS(CH2Cl2):247,254nm (実施例1)前記製造例4で得た(1,3−ジメチル−
4,5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン)(ジフ
ェニルアセトネート)銀を塩化メチレンに0.22M濃
度で溶解した後、その溶液を大気中でガラス基板上にス
ピンコート法によって500rpm/5sec→200
0rpm/20sec→500rpm/5secの条件
で塗布した。金属パターンを形成するために、前記基板
を大気中の常温でUV光(200nm〜400nm)に
2時間露出させた。光に露出された部分では光によって
配位子が分離されながら銀金属フィルムが形成された。
光に露出されていない部分と光分解されて残っている有
機物は、塩化メチレンで溶かして除去した。このように
パターンが形成された基板を約200℃のホットプレー
ト上にのせ、空気中で約2時間程度熱処理(annealing)
を行って、電気の流れる金属パターンを得た。3Mテー
プで接着力を試験した結果、形成されたパターンは基板
から分離されず、4ポイントプローブ法で電気抵抗を測
定し、電気が流れていることを確認した。
【0045】
【表1】
【0046】(製造例5)
(1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾール−2
−イリデン)(ジメチルアセトネート)銀[(1,3-dimeth
yl-4,5-dimethylimidazol-2-ylidene) (dimethylaceton
ate)silver)]の合成
−イリデン)(ジメチルアセトネート)銀[(1,3-dimeth
yl-4,5-dimethylimidazol-2-ylidene) (dimethylaceton
ate)silver)]の合成
【0047】
【化14】
【0048】前記製造例2で得た1,3−ジメチル−4,
5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン(160m
g、1.29mmol)を窒素雰囲気中でTHF溶媒
(30mL)に添加した後、攪拌して溶解させた。次
に、前記THF溶液(15mL)を低温(−78℃)に
冷却し、ここにジメチルアセトネート銀スラリー(24
2mg)を徐々に加えた後、ゆっくり常温に昇温させな
がら約3時間程度攪拌した。攪拌済み後、セライト(cel
ite)を用いて、反応中に生成された黒色の微細な沈澱物
を除去した。こうして得られた溶液部分から真空下で溶
媒を除去した。これから得た固体成分を塩化メチレン
(約20mL)にさらに溶解した後、冷凍庫(−30
℃)に一日程度放置しておき、上澄液部分の約半分程度
を取って約100mLのペンタンまたはヘキサン溶媒に
注射器を用いて徐々に滴下すると、灰色の固体成分が生
成した。前記溶液を約1時間程度そのまま放置して固体
成分を沈澱させた後、薄黄色の上澄液部分を注射器によ
って除去した。残っている固体成分にさらにヘキサンを
約50〜60mL程度添加し、ここに前記で残しておい
た残り半分の塩化メチレン溶液を滴下し、灰色の固体成
分を生成させた。前述と同様に、その溶液を約1時間程
度そのまま放置して固体成分を沈澱させた後、薄黄色の
上澄液部分を注射器によって除去した。このように製造
された(1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾー
ル−2−イリデン)(ジメチルアセトネート)銀の化学
的分析結果は次の通りである。
5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン(160m
g、1.29mmol)を窒素雰囲気中でTHF溶媒
(30mL)に添加した後、攪拌して溶解させた。次
に、前記THF溶液(15mL)を低温(−78℃)に
冷却し、ここにジメチルアセトネート銀スラリー(24
2mg)を徐々に加えた後、ゆっくり常温に昇温させな
がら約3時間程度攪拌した。攪拌済み後、セライト(cel
ite)を用いて、反応中に生成された黒色の微細な沈澱物
を除去した。こうして得られた溶液部分から真空下で溶
媒を除去した。これから得た固体成分を塩化メチレン
(約20mL)にさらに溶解した後、冷凍庫(−30
℃)に一日程度放置しておき、上澄液部分の約半分程度
を取って約100mLのペンタンまたはヘキサン溶媒に
注射器を用いて徐々に滴下すると、灰色の固体成分が生
成した。前記溶液を約1時間程度そのまま放置して固体
成分を沈澱させた後、薄黄色の上澄液部分を注射器によ
って除去した。残っている固体成分にさらにヘキサンを
約50〜60mL程度添加し、ここに前記で残しておい
た残り半分の塩化メチレン溶液を滴下し、灰色の固体成
分を生成させた。前述と同様に、その溶液を約1時間程
度そのまま放置して固体成分を沈澱させた後、薄黄色の
上澄液部分を注射器によって除去した。このように製造
された(1,3−ジメチル−4,5−ジメチルイミダゾー
ル−2−イリデン)(ジメチルアセトネート)銀の化学
的分析結果は次の通りである。
【0049】1H−NMR(CD2Cl2):3.67
[d,1.2Hz,6H,N(1,3)−CH3],
2.12[d,0.9Hz,6H,C(4,5)−CH
3],1.86[d,0.9Hz,6H,O−C(C
H3)−CH],5.10[s,1H,C(CH3)=C
H=C(CH3)]13 C−NMR(CD2Cl2):190.8[s,O−C
(CH3)−CH],179.4[s,Ccarbene],1
25.8[s,C=C(CH3)−N],97.4
[s,C(CH3)=CH=C(CH3)],37.0
[s,C=C(CH3)−N],29.3[s,C(C
H3)=CH=C(CH3)],9.5[s,C=C(C
H3)] UV/VIS(CH2Cl2):246,300nm(実
施例2)前記製造例5で得た(1,3−ジメチル−4,5
−ジメチルイミダゾール−2−イリデン)(ジメチルア
セトネート)銀を塩化メチレンに0.2M濃度で溶解し
た後、その溶液を大気中でガラス基板上にスピンコート
法によって500rpm/5sec→2000rpm/
20sec→500rpm/5secの条件で塗布し
た。金属パターンを形成するために、前記基板を大気中
の常温でUV光(200nm〜400nm)に2時間露
出させた。光に露出された部分では光によって配位子が
分離されながら銀金属フィルムが形成された。前記銀金
属フィルムの比抵抗値を4ポイントプローブで測定した
結果、約5×109μΩ であることが確認された。一
方、塩化メチレンを使用した溶媒を現像した後、測定し
た比抵抗値は6×108μΩであった。実施例1と同様
の方法で約200℃のホットプレート上にのせ、空気中
で約2時間程度熱処理を行った後、得られた比抵抗値は
2.0×102μΩであった。
[d,1.2Hz,6H,N(1,3)−CH3],
2.12[d,0.9Hz,6H,C(4,5)−CH
3],1.86[d,0.9Hz,6H,O−C(C
H3)−CH],5.10[s,1H,C(CH3)=C
H=C(CH3)]13 C−NMR(CD2Cl2):190.8[s,O−C
(CH3)−CH],179.4[s,Ccarbene],1
25.8[s,C=C(CH3)−N],97.4
[s,C(CH3)=CH=C(CH3)],37.0
[s,C=C(CH3)−N],29.3[s,C(C
H3)=CH=C(CH3)],9.5[s,C=C(C
H3)] UV/VIS(CH2Cl2):246,300nm(実
施例2)前記製造例5で得た(1,3−ジメチル−4,5
−ジメチルイミダゾール−2−イリデン)(ジメチルア
セトネート)銀を塩化メチレンに0.2M濃度で溶解し
た後、その溶液を大気中でガラス基板上にスピンコート
法によって500rpm/5sec→2000rpm/
20sec→500rpm/5secの条件で塗布し
た。金属パターンを形成するために、前記基板を大気中
の常温でUV光(200nm〜400nm)に2時間露
出させた。光に露出された部分では光によって配位子が
分離されながら銀金属フィルムが形成された。前記銀金
属フィルムの比抵抗値を4ポイントプローブで測定した
結果、約5×109μΩ であることが確認された。一
方、塩化メチレンを使用した溶媒を現像した後、測定し
た比抵抗値は6×108μΩであった。実施例1と同様
の方法で約200℃のホットプレート上にのせ、空気中
で約2時間程度熱処理を行った後、得られた比抵抗値は
2.0×102μΩであった。
【0050】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の有機金属化
合物を使用すると、別途のフォトレジストを使用せず、
直接的な露光によって電気伝導性金属パターンを容易に
形成することができる。
合物を使用すると、別途のフォトレジストを使用せず、
直接的な露光によって電気伝導性金属パターンを容易に
形成することができる。
【図1】 本発明で製造された(1,3−ジメチル−4,
5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン)(ジフェニル
アセトネート)銀の分子構造の概略図である。
5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン)(ジフェニル
アセトネート)銀の分子構造の概略図である。
【図2】 本発明で製造された(1,3−ジメチル−4,
5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン)(ジフェニル
アセトネート)銀の分子配列の概略図である。
5−ジメチルイミダゾール−2−イリデン)(ジフェニル
アセトネート)銀の分子配列の概略図である。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考)
// C07F 1/10 H01L 21/30 502R
(72)発明者 邊 ▲えい▼ 勳
大韓民国大田市儒城區田民洞462−5番地
世宗アパート110棟203号
(72)発明者 ▲黄▼ 億 采
大韓民国京畿道烏山市烏山洞 雲岩住公2
團地202−1501
Fターム(参考) 2H025 AA19 AB15 AB17 AC01 AD01
BB00 BD10 CC09 CC20 FA29
4H006 AA01 AB76
4H048 AA01 AB76 VA20 VA32 VA57
VB10
4M104 BB04 BB05 BB06 BB07 BB08
BB09 DD51
Claims (8)
- 【請求項1】 下記化学式1の構造を有する金属パター
ン形成用有機金属化合物。 【化1】 (式中、MはAg、Au、Cu、Pd、Ni及びPtか
らなる群より選ばれる1種の転移金属、Lは下記化学式
2の構造を有するイミダゾリリデン(imidazolylidene)
化合物、L’は下記化学式2の構造を有するイミダゾリ
リデン化合物、もしくは下記化学式3の構造を有するβ
−ジケトネート(β-diketonate)化合物である。) 【化2】 (式中、R1、R2、R3及びR4はそれぞれ独立して水素
原子、または炭素数1〜20のアルキル基、アルケニル
基、アルキニル基、カルボキシル基、アルコキシ基、エ
ステル基又は芳香族炭化水素基である。) 【化3】 (式中、R5、R6及びR7はそれぞれ独立して水素原
子、もしくは炭素数1〜20のアルキル基、アルケニル
基、アルキニル基、カルボキシル基、アルコキシ基、エ
ステル基又は芳香族炭化水素基である。) - 【請求項2】 前記R1、R2、R3、R4、R5、R6及び
R7はそれぞれ独立してメチル基、エチル基、プロピル
基、イソプロピル基、イソブチル基またはフェニル基で
あることを特徴とする請求項1記載の有機金属化合物。 - 【請求項3】 請求項1記載の有機金属化合物を溶媒に
溶解させた後、基板上に塗布して薄膜を形成し、マスク
を用いて露光させた後、現像して金属または金属酸化物
パターンを形成する段階を含む金属パターン形成方法。 - 【請求項4】 前記基板が無機物、有機物、または無機
物と有機物の複合体からなることを特徴とする請求項3
記載の金属パターン形成方法。 - 【請求項5】 前記塗布段階がスピンコート、ロールコ
ート、マイクロコンタクトプリント(micro-contact pri
nting)またはスプレーコート法によって行われることを
特徴とする請求項3記載の金属パターン形成方法。 - 【請求項6】 前記露光段階において、光源として紫外
線(UV)光が使用されることを特徴とする請求項3記
載の金属パターン形成方法。 - 【請求項7】 前記金属または金属酸化物パターン形成
後、熱処理する段階をさらに含むことを特徴とする請求
項3記載の金属パターン形成方法。 - 【請求項8】 前記熱処理段階が水素/窒素混合ガスま
たは純粋窒素ガスまたは空気条件の下で300℃以下の
温度にて行われることを特徴とする請求項7記載の金属
パターン形成方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020010055755A KR20030022911A (ko) | 2001-09-11 | 2001-09-11 | 금속 패턴 형성용 유기금속 전구체 및 그를 이용한 금속패턴 형성방법 |
KR2001-055755 | 2001-09-11 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003183257A true JP2003183257A (ja) | 2003-07-03 |
Family
ID=19714150
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002265556A Withdrawn JP2003183257A (ja) | 2001-09-11 | 2002-09-11 | 金属パターン形成用有機金属化合物及びそれを用いた金属パターン形成方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6599587B2 (ja) |
EP (1) | EP1293508A1 (ja) |
JP (1) | JP2003183257A (ja) |
KR (1) | KR20030022911A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012207174A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Central Japan Railway Co | 薄膜形成用組成物、塗布液、及び薄膜形成方法 |
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---|---|---|---|---|
KR100974778B1 (ko) * | 2003-06-30 | 2010-08-06 | 삼성전자주식회사 | 유기금속 전구체 조성물 및 이를 이용한 금속 필름 또는패턴 형성방법 |
EP1905756B1 (en) * | 2005-07-04 | 2013-02-27 | Osaka University | Silver beta-ketocarboxylate derivatives for forming silver metal |
WO2010128107A1 (en) * | 2009-05-07 | 2010-11-11 | Neodec B.V. | Process for manufacturing conductive tracks |
WO2011057218A2 (en) * | 2009-11-09 | 2011-05-12 | Carnegie Mellon University | Metal ink compositions, conductive patterns, methods, and devices |
US9734478B2 (en) | 2013-09-26 | 2017-08-15 | Ali Alhimiri | Rating system, process and predictive algorithmic based medium for treatment of medical conditions in cost effective fashion and utilizing management pathways for customizing or modifying of a base algorithm by an accountable care organization or other payor in order to establish best treatment protocols and financial assessment tools for incentivizing care providers and for achieving improved clinical/functional outcomes |
EP3172356B1 (en) * | 2014-07-24 | 2018-09-19 | Basf Se | Process for the generation of thin inorganic films |
CN107235907A (zh) * | 2017-06-15 | 2017-10-10 | 杭州师范大学钱江学院 | 一种高效合成4,5‑二甲基‑1,3‑二取代芳基卡宾的方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2001-09-11 KR KR1020010055755A patent/KR20030022911A/ko not_active Application Discontinuation
-
2002
- 2002-09-06 EP EP02256192A patent/EP1293508A1/en not_active Withdrawn
- 2002-09-11 JP JP2002265556A patent/JP2003183257A/ja not_active Withdrawn
- 2002-09-11 US US10/238,595 patent/US6599587B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
US20030087185A1 (en) | 2003-05-08 |
EP1293508A1 (en) | 2003-03-19 |
US6599587B2 (en) | 2003-07-29 |
KR20030022911A (ko) | 2003-03-19 |
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