JP2003179478A - 可変な出力ドライバ回路 - Google Patents

可変な出力ドライバ回路

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JP2003179478A
JP2003179478A JP2002157858A JP2002157858A JP2003179478A JP 2003179478 A JP2003179478 A JP 2003179478A JP 2002157858 A JP2002157858 A JP 2002157858A JP 2002157858 A JP2002157858 A JP 2002157858A JP 2003179478 A JP2003179478 A JP 2003179478A
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channel transistor
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Kurt Schwartz
スクワーツ カート
Michael Alwais
オルワイズ ミカエル
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Ramtron International Corp
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 FRAM構成可能な出力ドライバ回路であっ
て、ユーザがCMOSレベルプッシュ/プル操作又は真
のオープンドレイン操作のどちらに対する出力ドライバ
も構成することができるようにする。 【解決手段】不揮発性の構成可能な出力回路ドライバ回
路40は、ユーザー選択可能な出力回路構成データを記
憶するための不揮発性メモリ(FRAM構成)44、出
力パット54に接続するCMOS出力ステージ52及び
CMOS出力ステージ52に接続する制御論理回路(コ
ントロールロジック)46を含み、制御論理回路46
は、入力信号及び回路構成データを受ける。レベルシタ
48は制御論理回路(コントロールロジック)46の第
1の出力56及び出力ステージ52のノード64に接続
し、入力論理レベルを出力論理レベルにシフトする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の背景】本発明は出力ドライバ回路に関し、より
詳細には、真(true)のオープンドレイン出力ドライバ及
びプッシュ/プル出力ドライバを提供する方法及び回路
であって、それはユーザコマンド信号によって容易に構
成可能である。
【0002】一般的に、CMOS集積回路の2つの異な
るバージョンが利用でき、その1つはプッシュ/プル出
力を有し、他はオープンドレイン出力を有する。図1に
関して述べると、集積回路のためのCMOSプッシュ/
プル出力ドライバ10は、入力ノード12、出力パッド
14、NチャンネルプルダウントランジスタMN1及び
PチャンネルプルアップトランジスタMP1を含む。ト
ランジスタMN1及びMP2の電流経路は、出力パッド
14でVDD電源と接地との間で一体に接続する。パッ
ド14の出力信号は、ノード12で入力信号の極性から
反転する。
【0003】次に図2を参照すると、NMOSオープン
ドレイン出力ドライバ20は、外部電源VEXTに接続
された外部プルアップ抵抗16を有している。集積回路
のためのNMOSオープンドレイン出力ドライバ20
は、入力ノード12、出力パッド14及び唯一のNチャ
ンネルプルダウントランジスタMN1を含む。トランジ
スタMN1及びレジスタ16の電流経路は、出力パッド
14でVEXT電源と接地との間で一体に接続する。
【0004】標準のCMOSプッシュ/プルドライバ回
路10は、外部プルアップ電圧がVDD+VBE(VBE
ダイオードしきい電圧である)を超える場合、PMOS
ウェル(図1に示さず)の順方向バイアス及び関連リー
ク電流を防止するために、分離されるPMOSプルアッ
プトランジスタMP1を有しなければならない。真のオ
ープンドレイン出力は、装置の供給電圧に依存してはな
らない。従って、集積回路は上で述べた2つのドライバ
オプションのどちらも、一般的に提供される。これらの
2つのドライバオプションは、通常金属マスクオプショ
ンかプログラム可能なフューズを有する工場で構成され
る一般の回路に基づき、ユーザが出力タイプを構成する
ことができるようになっていない。
【0005】出力ドライバの両方のタイプを提供する先
行技術ユーザ−構成可能出力回路30を図3に示す。出
力ドライバ回路30は、入力ノード32及び制御論理回
路36に接続する制御信号ノード34を含む。次に、制
御論理回路36は、トランジスタMP1及びMN1のゲ
ートに、論理信号を提供する。出力が示される駆動のた
めの論理状態を表38に記入する。データ出力状態は、
入力ノード32(IN)によって制御され、所望の出力
構成のタイプは、制御信号ノード34(PP)によって
制御される。ノード32上のハイ論理及びノード34上
のロー論理はトランジスタMN1及びMP1がターンオ
フされるため”HiZ”ハイインピーダンス出力を生じ
る。
【0006】図3で示される回路30によって提供され
る構成能力は揮発性であり、パワーアップの後のユーザ
によって構成されなくてはならない。それは、制御論理
回路36でのデータ状態がパワーが除去されるたびに破
壊されるからである。更に、標準のプッシュ/プル出力
ドライバ構成で上で説明したように、外部プルアップ電
圧がVDDを超える場合、N−ウェル(図3に図示せ
ず)は順方向にバイアスされる。
【0007】従って、先行技術で、異なるマスク構成を
有する分離した装置は、真のオープンドレイン出力を提
供するために完全にPチャンネルを出力ドライバから取
り外すことを必要にされる。代替えとして、構成可能な
回路は、出力回路の両方のタイプを提供するが、出力回
路以外の構成能力は揮発性であり、プルアップ抵抗に接
続する許容外部電圧に制限がある。
【0008】従って、プッシュ/プル出力及び真のオー
プンドレイン出力を提供することができる不揮発性の、
構成可能な出力ドライバ回路が望ましい。
【0009】
【発明の概要】本発明に従うと、FRAM構成可能出力
ドライバ回路は、プルアップデバイス及び標準のNチャ
ンネルトランジスタプルダウン装置のための一連の2つ
のスタックされたPチャンネルトランジスタを使う出力
ステージを有する。2つのスタックされたPチャンネル
トランジスタは、VDD電源電圧に結合される第一のP
チャンネルトランジスタのソース及びPチャンネルトラ
ンジスタが出力パッドに結合した第二のソースを有する
個々のN型ウェルを有する。出力がプッシュ/プルモー
ドでハイを駆動するとき、両方のPチャンネル出力トラ
ンジスタが、伝導し、出力パッドは、ハイに駆動される
ことができる。出力ドライバが、プッシュ/プルかオー
プンドレインモードでローを駆動するとき、第一及び第
二のPチャンネルトランジスタは両方ともターンオフ
し、出力パッドはローにされることができる。オープン
ドレインモードで、入力がハイであるとき、出力パッド
は、トライステート(tri-stated)であり、出力パッド
は、外部プルアップ装置によってハイに引かれる。第二
のPチャンネルトランジスタは、出力パッド電圧に関係
なく離れて残る。外部プルアップ電圧がVDDを超える
ならば、出力パッドノードを通す漏れ電流はない。それ
は、第二のPチャンネルトランジスタのN−ウェルがパ
ッドに接続され、真のオープンドレインモード出力ドラ
イバ回路の操作と同一だからである。出力トランジスタ
への制御信号は、クローバー電流を防止するためにセッ
トされる。不揮発性制御論理が、プッシュ/プルかオー
プンドレインモード構成をセットするために使われる。
【0010】プッシュ/プル又はオープンドレイン出力
ドライバとしてユーザ−構成可能であることが本発明の
利点である。
【0011】この設計で、かなりの費用、時間、柔軟性
の利点があることが、本発明の出力ドライバの更なる利
点である。
【0012】出力ドライバ構成が不揮発性の強誘電性の
ランダムアクセスメモリで記憶され、エンドユーザによ
っていつでも変えられることができることが、本発明の
出力ドライバの更なる利点である。
【0013】それは、構成が持続的に記憶される本発明
の出力ドライバ及びパワー損失の後でさえ保持されるデ
ータの更なる利点である。
【0014】本発明の、上述したもの及び他の目的、特
徴及び利点は、以下の本発明の好ましい実施形態の詳細
な説明からより明らかになり、それは添付の図面に関し
て進められる。
【0015】
【詳細な説明】図4Aについて述べると、不揮発性の構
成可能な出力回路ドライバ回路40は、ユーザ−選択可
能な出力回路構成データを記憶するための不揮発性メモ
リ44、出力パッド54に接続するCMOS出力ステー
ジ52及びCMOS出力ステージ52に接続する制御論
理回路46を含む。制御論理回路46は、入力信号及び
回路構成データを受ける。更に詳細に下で説明されてい
るように、出力ドライバ回路40も出力パッド54を通
して実質的に漏れ電流流れを最小にするためにCMOS
出力ステージ53を横切って電圧を制御するために回路
を含む。
【0016】不揮発性メモリ44は、理想的には、本発
明の譲受人である、コロラド州、コロラドスプリングス
のラムトロンインターナショナル社によって製造される
タイプの強誘電性のランダムアクセスメモリである。図
示した、1つのトランジスタ、1つのコンデンサ(「1
T−1C」)強誘電体メモリセルベースメモリ、又は2
−トランジスタ、2つのコンデンサ(「2T−2C」)
強誘電性のメモリセルベースメモリのどちらも使われる
ことができる。2T−2Cメモリセルは、1T−1Cメ
モリセルのうちの2つを使い、相補型データとして1−
ビットデータ状態を記憶する。
【0017】少しの間、図4Bに言及する。不揮発性メ
モリ44は更に詳細に示される。1つの実施形態で、不
揮発性メモリ44は、強誘電性のコンデンサ82を含む
1T−1C強誘電体メモリセルを含み、該コンデンサ8
2は、プレートライン74に接続する1つの末端を有
し、パス−ゲートトランジスタ78のソース/ドレイン
に接続する他の末端を有する。トランジスタ78のゲー
トはワード線72に接続し、トランジスタ78の他のソ
ース/ドレインはビット線76に接続する。強誘電体コ
ンデンサ82及びトランジスタ78を含む強誘電性のメ
モリセルに加えて、メモリ44は、パワーアップで刻時
されたパルスを受けるためのビット線76及び入力86
に接続するD入力を有しているラッチ84を含む。Q出
力は、制御論理ブロック46に接続するPP出力信号を
提供する。
【0018】図4Aに言及すると、CMOS出力ステー
ジ52は、それぞれ/HIGH、/HIGH_P2及び
LOW論理信号を受けるための、ノード62、64及び
58で、第一の、第二の及び第三入力を有する。第一の
PチャンネルトランジスタMP1のソースはVDD電源
に接続し、ゲートは第一の入力を形成する。第二のPチ
ャンネルトランジスタMP2のソースは、Pチャンネル
トランジスタMP1のドレインに接続し、ゲートは第二
の入力を形成し、ドレインは出力パッド54に接続す
る。NチャンネルトランジスタMN1のソースは接地に
接続し、ゲートは第三入力を形成し、ドレインは出力パ
ッド54に接続される。PチャンネルトランジスタMP
1のバルクノードはVDD電源に接続する。Pチャンネ
ルトランジスタMP2のバルクノードは出力パッド54
に接続する。NチャンネルトランジスタMN1のバルク
ノードは接地に接続する。出力ステージ52の第二の入
力64の電圧は出力パッドの上で選択的にVPADと表
示された電圧にセットされ、更に説明するように、出力
ステージを通して漏れ電流が防止するようになってい
る。
【0019】制御論理回路46は、INで表された入力
信号を受けるための第一の入力42と、PPで表された
回路構成データ信号を受けるための第二入力とを含む。
制御論理回路46も、出力ステージ52の第一の入力に
接続する第一の出力56と、出力ステージ52の第3の
入力に接続する第二の出力58とを含む。ノード56の
第一の出力信号はHIGHで表され、ノード58の第二
の出力信号はLOWで表されている。
【0020】制御論理回路46は、以下の論理テーブル
66で示される論理関係を提供するように設計されてい
る。
【0021】
【表2】
【0022】構成データ信号PPがハイであるとき、出
力ステージ52は、プッシュプル出力構成に置かれる。
構成データ信号PPが低いとき、出力ステージ52は、
真のオープンドレインモードに置かれる。それは、/H
IGHがVDDにセットされ/HIGH_P2がVPA
D出力パッド電圧にセットされたとき、トランジスタM
P1及びMP2を通して可能な漏れ電流がないからであ
る。出力パッド電圧に関係なく、出力ステージ(トラン
ジスタMP2のゲートツードレイン電圧)をわたる電圧
は、実質的にゼロと等しく、従って、漏れ電流の流れは
防止される。例えVPAD電圧がVDD電圧供給パワー
を超えても、トランジスタMP1又はMP2のNウェル
は順方向にバイアスしない。
【0023】レベルシフタ回路48は、出力パッド54
に接続するパワー末端、制御論理回路の第一の出力56
に接続する入力及び出力ステージ52の第二の入力64
に接続する出力を有する。レベルシフタは、第一の及び
第二のPチャンネルトランジスタMPLS1及びMPL
S2を含む。トランジスタMPLS1及びMPLS2の
ソースは、パワー末端に接続する。トランジスタMPL
S1及びMPLS2のゲート及びドレインは、クロスカ
ップルされ、第一のPチャンネルトランジスタMPLS
1のドレインは、ノード64でレベルシフタの出力を形
成する。第一の及び第二のNチャンネルトランジスタM
NLS1及びMNLS2は、Pチャンネルトランジスタ
MPLS1及びMPLS2のドレインに接続する。Nチ
ャンネルトランジスタMNLS1のドレインは、トラン
ジスタMPLS1のドレインに接続し、ゲートはノード
56でレベルシフタの入力を形成し、ソースは接地に接
続する。NチャンネルトランジスタMNLS2のドレイ
ンはトランジスタMPLS2のドレインに接続され、ゲ
ートはインバータI1を通してノード62で反転レベル
シフタ入力信号を受け、ソースは接地に接続する。作動
中、レベルシフタ48の関数は、入力論理電圧レベルを
出力論理レベルにシフトすることである。論理低入力信
号は、論理低出力信号のために接地で残るが、論理ハイ
入力信号はVDD電源電圧から電圧が出力パッド54の
上で見いだされるVPADまでシフトされる。
【0024】次に図5について述べると、プロットは、
プッシュ/プルモードで構成される構成可能な出力ドラ
イバ回路40に対する、LOW、/HIGH_P2、H
IGH及び出力パッド信号を示し、出力ピンはハイに駆
動される。
【0025】次に図6について述べると、プロットは、
プッシュ/プルモードで構成される構成可能な出力ドラ
イバ回路40に対する、LOW、/HIGH_P2、H
IGH及び出力パッド信号を示し、出力ピンはハイに駆
動される。
【0026】次に図7について述べると、プロットは、
オープンドレインモードで構成される構成可能な出力ド
ライバ回路40に対する、LOW、/HIGH_P2、
HIGH、及び出力パッド信号を示し、出力ピンはハイ
に駆動される。
【0027】次に図8について述べると、プロットは、
オープンドレインモードで構成される構成可能な出力ド
ライバ回路40に対するLOW、/HIGH_P2、H
IGH、及び出力パッド信号を示し、出力ピンはハイに
駆動される。
【0028】このように、ユーザ−選択可能な出力回路
構成データが不揮発性の強誘電性のメモリで持続的に記
憶される出力ドライバ回路40及び関連構造方法が説明
され、CMOS出力ステージは、構成データに応じてプ
ッシュ/プル出力か真のオープンドレイン出力を提供す
るために構成され、CMOS出力ステージをわたった電
圧は、出力パッドを通した実質的な漏れ電流流れを最小
にするために制御される。
【0029】本発明の原理をその好ましい実施形態で説
明及び図示したが、当該技術において熟練するものによ
って、本発明が、このような原理から逸脱することな
く、その構成及び詳細が修正されることができることが
認められる。例えば、他のレベルシフタが使用されるこ
とができ、不揮発性メモリはフラッシュ、E2PRO
M、EPROM又は他のどの電気的に変更可能な不揮発
性メモリでもありえる。従って、請求項の精神及び範囲
内から来る全ての修正及び変更を請求する。
【0030】
【図面の簡単な説明】
【図1】先行技術CMOSプッシュ/プル出力ドライバ
回路の回路図である。
【図2】外部プルアップレジスタ及び供給部を有する先
行技術NMOSオープンドレイン出力ドライバ回路の回
路図である。
【図3】先行技術構成可能な出力ドライバ回路の回路図
である。
【図4A】プッシュ/プルを有する本発明に従う不揮発
性の、構成可能な出力ドライバ回路の概略図は、出力モ
ード及び真のオープンドレイン出力モードである。
【図4B】更に詳細に図4Aの不揮発性メモリブロック
を示す回路図である。
【図5】プッシュ/プルで構成される本発明の構成可能
な出力ドライバ回路のための回路信号のプロットは、高
く駆動される出力ピンを有する、モードである。
【図6】プッシュ/プルで構成される本発明の構成可能
な出力ドライバ回路のための回路信号のプロットは、低
くされる出力ピンを有する、モードである。
【図7】ハイに駆動される出力ピンを有する、オープン
ドレインモードで構成される本発明の構成可能な出力ド
ライバ回路への回路動機のプロットである。
【図8】ハイに駆動される出力ピンを有する、オープン
ドレインモードで構成される本発明の構成可能な出力ド
ライバ回路への回路信号のプロットである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ミカエル オルワイズ アメリカ合衆国, カリフォルニア州, ニューバリー パーク アマドール レー ン 1644 Fターム(参考) 5B015 HH01 JJ05 KB33 QQ17 5J056 AA04 AA11 BB17 BB58 CC00 CC21 DD13 DD29 EE07 EE11

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 不揮発性の構成可能な出力回路ドライバ
    であって、 ユーザが選択可能な出力回路構成データを記憶するため
    の不揮発性メモリと、 出力パッドに接続するCMOS出力ステージと、 CMOS出力ステージに接続する制御論理回路と、 実質的に漏れ電流を最小にするために、出力パッド中を
    流れる、入力信号及び回路構成データを受けるため及び
    CMOS出力ステージを横切って電圧を制御するための
    手段とを有する、出力回路ドライバ。
  2. 【請求項2】 不揮発性メモリが強誘電性のランダムア
    クセスメモリを含む請求項1記載の出力ドライバ回路。
  3. 【請求項3】 CMOS出力ステージが、 第一のPチャンネルトランジスタと、 第二のPチャンネルトランジスタと、 Nチャンネルトランジスタと、を含む請求項1記載の出
    力ドライバ回路。
  4. 【請求項4】 制御論理回路が出力ステージを駆動する
    ための第一の及び第二の出力を含む請求項1記載の出力
    ドライバ回路。
  5. 【請求項5】 電圧制御手段が、制御論理回路、出力パ
    ッド及び出力ステージに接続されたレベルシフタを含む
    請求項1記載の出力ドライバ回路。
  6. 【請求項6】 ユーザ−選択可能な出力回路構成データ
    を記憶するための不揮発性メモリと、 第一、第二及び第三入力並びに、出力パッドに接続する
    出力を有するCMOS出力ステージと、 入力信号を受けるための第一の入力、回路構成データを
    受けるための第2入力、出力ステージの第一の入力に接
    続する第一の出力、及び出力ステージの第三入力に接続
    された第二出力を有する制御論理回路と、 出力パッドに接続するパワー末端、制御論理回路の第一
    の出力に接続する入力、及び第二出力ステージの第2入
    力に接続する出力を有しているレベルシフタ回路と、を
    有する不揮発性の構成可能な出力回路ドライバ。
  7. 【請求項7】 不揮発性メモリが強誘電性のランダムア
    クセスメモリを含む請求項6記載の出力ドライバ回路。
  8. 【請求項8】 不揮発性メモリが1T−1C強誘電体メ
    モリセルを含む請求項6記載の出力ドライバ回路。
  9. 【請求項9】 不揮発性メモリが2T−2C強誘電体メ
    モリセルを含む請求項6記載の出力ドライバ回路。
  10. 【請求項10】 CMOS出力ステージが、VDD電
    源、出力ステージの第一の入力を形成しているゲート及
    びドレインに接続された、ソースを有する第一のPチャ
    ンネルトランジスタと、 第一のPチャンネルトランジスタのゲートに接続された
    ソース、出力ステージの第二の入力を形成しているゲー
    ト及び出力パッドに接続するドレインのドレインを有す
    る第二のPチャンネルトランジスタと、 接地に接続するソース、出力ステージの第三入力を形成
    しているゲート及び出力パッドに接続するドレインを有
    するNチャンネルトランジスタを含む請求項6記載の出
    力ドライバ回路。
  11. 【請求項11】 第一のPチャンネルトランジスタがV
    DD電源に接続されたバルクノードを更に含む請求項1
    0記載の出力ドライバ回路。
  12. 【請求項12】 第二のPチャンネルトランジスタが出
    力パッドに接続されたバルクノードを更に含む請求項1
    0記載の出力ドライバ回路。
  13. 【請求項13】 Nチャンネルトランジスタが接地に接
    続されたバルクノードを更に含む請求項10記載の出力
    ドライバ回路。
  14. 【請求項14】 制御論理回路が以下の論理関係を提供
    する請求項6記載の出力ドライバ回路。 【表1】
  15. 【請求項15】 出力ステージの第二の入力の電圧は、
    出力ステージを通した漏れ電流を防止するために、出力
    パッド上で選択的にセットされる請求項6記載の出力ド
    ライバ回路。
  16. 【請求項16】 パワー末端に接続するソース及びクロ
    ス接続(cross-coupled)するゲート及びドレインを各々
    有する第一及び第二のPチャンネルトランジスタを含
    み、第一のPチャンネルトランジスタのドレインがレベ
    ルシフタの出力を形成し、 Pチャンネルトランジスタのドレインに接続する第一及
    び第二のNチャンネルトランジスタレベルシフタを含む
    請求項6記載の出力ドライバ回路。
  17. 【請求項17】 第一のNチャンネルトランジスタが、
    第一のPチャンネルトランジスタのドレインに接続する
    ドレイン、レベルシフタの入力を形成しているゲート及
    び接地に接続するソースを含む請求項16記載の出力ド
    ライバ回路。
  18. 【請求項18】 第二のNチャンネルトランジスタが、
    第二のPチャンネルトランジスタのドレインに接続する
    ドレイン、反転するレベルシフタ入力信号を受けるため
    のゲート及び接地に接続するソースを含む請求項16記
    載の出力ドライバ回路。
  19. 【請求項19】 ユーザ−選択可能な出力回路構成デー
    タを持続的に記憶し、 構成データに応じてプッシュ/プル出力か真の(true)オ
    ープンドレイン出力を提供するためにCMOS出力ステ
    ージを構成し、 出力パッド中を流れる漏れ電流を実質的に最小にするた
    めにCMOS出力ステージを横切る電圧を制御するこ
    と、を含む出力回路ドライバのための構造方法。
  20. 【請求項20】 ユーザ−選択可能な出力回路構成デー
    タを持続的に記憶することが、強誘電性の不揮発性メモ
    リ回路で構成データを記憶することを含む請求項20記
    載の方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7440343B2 (en) 2005-09-29 2008-10-21 Hynix Semiconductor Inc. Output driving device
JP2010021818A (ja) * 2008-07-11 2010-01-28 Sanyo Electric Co Ltd 多機能ドライバ回路
JP2010130579A (ja) * 2008-11-28 2010-06-10 Panasonic Corp トレラントバッファ回路及びインターフェース

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004019770A1 (de) * 2004-04-23 2005-11-10 Bayerische Motoren Werke Ag Hydraulische Einrichtung zur stufenlos variablen Nockenwellenverstellung
US7038932B1 (en) 2004-11-10 2006-05-02 Texas Instruments Incorporated High reliability area efficient non-volatile configuration data storage for ferroelectric memories
JP2007011753A (ja) * 2005-06-30 2007-01-18 Toshiba Corp 情報処理装置およびその制御方法
US7369446B2 (en) * 2006-07-13 2008-05-06 Atmel Corporation Method and apparatus to prevent high voltage supply degradation for high-voltage latches of a non-volatile memory
US7834685B1 (en) * 2008-09-18 2010-11-16 National Semiconductor Corporation Chopped auto-zeroed ping-pong amplifier and related apparatus, system, and method
US8477526B2 (en) * 2011-04-27 2013-07-02 Robert Newton Rountree Low noise memory array
US9223736B2 (en) * 2013-05-03 2015-12-29 Nxp B.V. Devices and methods for an enhanced driver mode for a shared bus

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5016217A (en) * 1988-05-17 1991-05-14 Ict International Cmos Technology, Inc. Logic cell array using CMOS EPROM cells having reduced chip surface area
US5811997A (en) 1996-04-26 1998-09-22 Silicon Graphics, Inc. Multi-configurable push-pull/open-drain driver circuit
US5828596A (en) * 1996-09-26 1998-10-27 Sharp Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device
US5903500A (en) * 1997-04-11 1999-05-11 Intel Corporation 1.8 volt output buffer on flash memories
US6292409B1 (en) * 2000-12-12 2001-09-18 Lsi Logic Corporation System for programmable chip initialization
US6975679B2 (en) * 2001-06-01 2005-12-13 Microchip Technology Incorporated Configuration fuses for setting PWM options

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7440343B2 (en) 2005-09-29 2008-10-21 Hynix Semiconductor Inc. Output driving device
JP2010021818A (ja) * 2008-07-11 2010-01-28 Sanyo Electric Co Ltd 多機能ドライバ回路
JP2010130579A (ja) * 2008-11-28 2010-06-10 Panasonic Corp トレラントバッファ回路及びインターフェース

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