JP2003173536A - 光ディスク装置及び記録倍速切替方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 内部温度と予め設定された閾値との比較に基
づいて記録倍速を切替え、温度上昇を抑え保証温度を超
えないようにする光ディスク装置及び記録倍速切替方法
を提供する。 【解決手段】 所定の記録倍速でディスク１に情報信号
を記録する光ディスク装置において、ディスク１を所定
の速度で回転駆動させるスピンドルモータ５と、このモ
ータ５によって回転駆動されたディスク１に対して、光
ビームを照射して情報信号を記録するピックアップ７
と、モータ５及びピックアップ７が内設された筐体と、
この筐体内に設けられ内部温度を測定する温度センサー
３３と、温度センサー３３で測定された内部温度と予め
設定される閾値とを比較する温度比較手段と、温度比較
手段による比較結果に基づいて、記録倍速を変化させる
記録倍速切替手段とを具備することを特徴とする光ディ
スク装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、情報信号を光ディ
スクに記録する際にその記録倍速を制御する光ディスク
装置及び記録倍速切替方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近時、情報信号を高密度に記録し且つ再
生することを目的として、該情報信号を光ディスクに記
録し、再生時にこの情報信号を光ピックアップにより取
り出す光ディスク装置が開発されている。この光ディス
ク装置は、情報信号が記録された光ディスクに対し、光
ピックアップから例えばレーザ光等の所定波長のビーム
光を照射し、光ディスクからの反射光を受光すること
で、光ディスクに記録された情報信号を取り出せるよう
になっている。近年は、光ディスクに対する記録速度向
上のために、スピンドルモータの回転数を上昇させる技
術が進歩している。そのスピンドルモータの回転数が上
昇するに伴い、スピンドルモータやスピンドルモータ制
御部のドライバーＩＣからの発熱量が増大し、更に光ピ
ックアップに内蔵された半導体レーザ、基板、チップ部
品やキャビネット等も同様に発熱量が増大する。この発
熱量が増大すると、光ディスク装置内の温度が大きく上
昇し、ドライバーＩＣや光ピックアップ、光ディスク等
の保証温度を大きく超えてライトエラーを引き起こして
しまい、信号品質等に悪影響を及ぼす。しかしながら、
従来の光ディスク装置において重要視されるべき熱対策
については特に考慮されずに、各種部品の保証温度を大
きく超えても記録倍速を変えずに記録動作を行ってい
た。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】このように従来の光デ
ィスク装置では、２倍速、４倍速等の低倍速記録と異な
り、１２倍速、１６倍速等の高倍速記録になるとスピン
ドルモータやドライバーＩＣ、また光ピックアップ内の
半導体レーザ等の各種部品の発熱量が増大するため光デ
ィスク装置内の温度が大きく上昇してしまう。この温度
が大きく上昇すると、ドライバーＩＣや半導体レーザ等
の各種部品や光ディスクの保証温度からあ大きく外れて
しまい、安定した記録ができずライトエラーになるとい
う問題があった。

【０００４】本発明はこのような課題を解決するための
もので、ある一定の温度を上回る、或いは下回った場合
に記録速度を変化させて、保証温度を超えないように安
定した記録が行える光ディスク装置及び記録倍速切替方
法を実現することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この発明は、上記の目的
を達成するために、所定の記録倍速でディスクに情報信
号を記録する光ディスク装置において、前記ディスクを
所定の速度で回転駆動させる駆動手段と、この駆動手段
によって回転駆動された前記ディスクに対して、光ビー
ムを照射して情報信号を記録するピックアップユニット
と、前記駆動手段及び前記ピックアップユニットが内設
された筐体と、この筐体内に設けられ、内部温度を測定
する温度センサーと、前記温度センサーで測定された前
記内部温度と予め設定される閾値とを比較する温度比較
手段と、前記温度比較手段による比較結果に基づいて、
前記記録倍速を変化させる記録倍速切替手段とを具備す
ることを特徴とする。

【０００６】上記の構成により、内部温度が予め設定さ
れた閾値と比較され、その比較結果に基づいて記録倍速
を切替えることで、温度上昇を抑え、各種部品のもつ保
証温度を超えないように防止して安定した記録動作を行
うことができる。

【０００７】

【発明の実施の形態】以下、本発明を実施する場合の形
態について図面に基づき説明する。

【０００８】（第１の実施形態）図１は、本発明に係る
一実施形態の光ディスク装置の全体的な構成を示すブロ
ック構成図である。図１において、光ディスク１は、ポ
リメチルメタクリレートやポリカーボネイト等の透明な
合成樹脂よりなる円盤状のディスク基板と、このディス
ク基板の主面部に形成された信号記録層とを有して構成
されている。この光ディスクは、記録層に光ビームを集
光して照射し、或いは、この光ビームの照射を行うこと
により、該記録層に対する情報信号の記録又は再生が行
えるように構成されている。また、この光ディスク１は
スピンドルモータ５によって所定の速度で回転駆動され
る。スピンドルモータ５は、スピンドルモータドライバ
６によって回転速度が制御される。

【０００９】光ピックアップ７は、光ディスク１の記録
層に対物レンズ９を介してレーザ光を照射させて情報信
号を記録し、記録層からの反射光を検出して情報信号を
再生するようになされている。

【００１０】対物レンズ９は、図示しないマグネットと
このマグネットと共働するムービングコイルを備えたフ
ォーカスアクチュエータ１１により、光ディスク１に近
づけられたり遠ざけられるように駆動されるようになっ
ている。また対物レンズ９は、フォーカスアクチュエー
タ１１と同様に、図示しないマグネットおよびムービン
グコイルを有してなるトラッキングアクチュエータ１３
により、光ディスク１の半径方向に移動可能なようにな
っている。そして、光ピックアップ７に設けられた半導
体レーザによって放射されたレーザ光が対物レンズ９を
介して光ディスク１の記録層に集光され、光ディスク１
上のピットの有無により変化を受けて反射されて図示し
ないフォトディテクタに受光される。

【００１１】ＲＦアンプ１４は、例えば加算器および減
算器を有して構成され、フォトディテクタに受光された
情報信号からフォーカスエラー信号、トラッキングエラ
ー信号および再生信号を生成し出力するようになってい
る。サーボ処理回路１５は、生成されたフォーカスエラ
ー信号、トラッキングエラー信号に基づいて、レーザ光
を追跡すべきピット列上に確実に収束せしめるようにし
たフォーカス制御信号およびトラッキング制御信号を生
成し、フォーカスアクチュエータ１１、トラッキングア
クチュエータ１３に供給する。これによって、サーボル
ープが形成されサーボ制御が行われる。信号処理回路１
７は、ＲＦアンプ１４によって生成された再生信号を電
気信号に変換処理する。デコーダ１９は、信号処理回路
１７によって変換された電気信号に対し、８−１６復
調、エラー訂正処理等のデコード処理を行う。バッファ
メモリ２１はホストコンピュータ２５からインターフェ
ース２３を介して送信される記録対象のデータを一時的
にバッファリングする。バッファマネージャ２２は、バ
ッファメモリ２１を管理する。例えば、バッファメモリ
２１にバッファリングされているデータの容量を監視す
る。インターフェース２３は、光ディスク装置とホスト
コンピュータ２５の間でやり取りされるデータの受け渡
しを担う。エンコーダ２７は、ホストコンピュータ２３
からインターフェース２１を介して送信される記録情報
に対し、８−１６復調、エラー訂正処理等のエンコード
処理を行う。記録波形生成回路２９は、エンコーダ２７
によってエンコード処理された記録情報から光ディスク
１に記録するための記録パルス信号を生成する。ＬＤ駆
動制御回路３１は、記録波形生成回路２９によって生成
された記録パルス信号に基づいて、光ピックアップ７に
設けられた半導体レーザを制御する。温度センサー３３
は、スピンドルモータドライバ６、光ピックアップ７内
にある半導体レーザ、基板、チップ部品やキャビネット
等の近傍に各々１つ備えられるか、もしくは温度変化の
激しい主要個所のみ、例えば半導体レーザなどの近傍に
備えられ、光ディスク装置内の温度が測定される。シス
テムコントローラ３５は、この温度センサー３３によっ
て測定された温度をモニターするとともに、光ディスク
装置全体を制御する。

【００１２】次に、上記した光ディスク装置が搭載す
る、バッファアンダーランフリー記録機能について説明
する。

【００１３】光ディスク装置は、記録対象のデータをバ
ッファメモリ２１にバッファリングしつつ、このバッフ
ァメモリ２１にバッファリングされるデータを順次記録
する。例えば、ＣＤ−Ｒなどの光ディスクに対してデー
タを記録している最中に、バッファリングデータが無く
なると（バッファアンダーラン発生）、光ディスクに対
して追記できなくなり、記録エラーとなる。このような
記録エラーを防止するために、バッファアンダーランフ
リー記録機能が搭載されている。

【００１４】バッファアンダーランフリー記録機能を実
現するために、バッファマネージャ２２により、バッフ
ァメモリ２１にバッファリングされているデータの容量
が逐一監視される。バッファメモリ２１にバッファリン
グされているデータの容量が所定容量を下回ったことが
検知されると、バッファマネージャ２２によりバッファ
アンダーランが発生される。バッファアンダーランの発
生を受けたシステムコントローラ３５は、記録動作を中
断させる。この記録動作が中断させられているときに、
バッファマネージャ２２によりバッファメモリ２１にバ
ッファリングされているデータの容量が所定容量以上に
回復したことが検知されると、バッファアンダーラン解
除が発生される。バッファアンダーラン解除の発生を受
けたシステムコントローラ３５は、バッファアンダーラ
ンの発生前に記録されたデータとバッファアンダーラン
の解除後に記録されるデータとが連続するように、中断
されていた記録動作を再開させるようにする。

【００１５】図２は、予め設定された温度（閾値Ｓ１）
を境に記録倍速を変化させたときの光ディスク装置内の
温度変化を示す図である。なお、光ディスク装置内の温
度はスピンドルモータドライバ６の近傍に備えられた温
度センサー３３に基づいているものとする。また、曲線
Ａは１６倍速で情報信号を記録し続けたときの温度変化
を示し、曲線Ｂは予め設定された温度、閾値Ｓ１を境に
１６倍速から８倍速に記録倍速を変更させたときの温度
変化を示す。

【００１６】図２を見てみると、記録データを例えば１
６倍速で光ディスクに記録すると（曲線Ａ参照）、スピ
ンドルモータドライバ６の保証温度をＡ１の時間で超え
てしまう。これを避けるために、閾値Ｓ１を設けてこの
閾値Ｓ１を境に記録倍速を８倍速に落として記録すると
曲線Ｂのようになる。つまり、スピンドルモータドライ
バ６の温度は閾値Ｓ１を境に緩やかに上昇して、実際に
８倍速に変わると今度は徐々に下降し閾値Ｓ１を下回
る。

【００１７】図３は、図２における一連の動作の流れを
示す図である。

【００１８】まず、ホストコンピュータ２５からインタ
ーフェース２３を介して光ディスク１に記録する記録デ
ータがバッファメモリ２１に格納されると、システムコ
ントローラ３５は例えば１６倍速でバッファメモリ２１
に格納された記録データを記録する（ステップＡ１）。
システムコントローラ３５は温度センサー３３によって
測定された温度（以下、測定温度と称す）をモニター
し、測定温度と予め設定された閾値Ｓ１とを比較する
（ステップＡ３）。この比較の結果、閾値Ｓ１を超えな
かった場合は（ステップＡ５のＮ）、ステップＡ３に戻
り、閾値Ｓ１を超えるまで繰り返される。閾値Ｓ１を超
えた場合（ステップＡ５のＹ）、システムコントローラ
３５はスピンドルモータドライバ６に対しスピンドルモ
ータ５の回転数を下げるよう指示するとともに、記録倍
速を１６倍速から８倍速に下げるよう指示する（ステッ
プＡ７）。システムコントローラ３５はホストコンピュ
ータ２５から転送された記録データの記録を一時中断す
る（ステップＡ９）。これにより、スピンドルモータド
ライバ６の発熱を抑制できる。光ディスク装置では、１
６倍速から８倍速に記録速度を下げたり、逆に８倍速か
ら１６倍速に記録速度を上げるには、速度変更してから
実際に指示した記録速度になるまでにある程度の時間
（Ｘ１）を有する。システムコントローラ３５は、実際
にスピンドルモータ５の回転数が８倍速に変わったこと
を確認すると（ステップＡ１１）、一時中断していた記
録動作を再開させる（ステップＡ１３）。データ転送再
開後、光ディスク装置における記録動作が終了した場合
は（ステップＡ１５のＹ）、そのまま終了となる。また
記録動作が終了しない場合（ステップＡ１５のＮ）、ス
テップＡ５に戻り、閾値Ｓ１を超えたかどうか判断す
る。

【００１９】また、時間Ｘ１の間はシステムコントロー
ラ３５により記録動作が一時中断されているため、記録
動作の再開後に、記録が中断した位置から連続的に記録
するバッファアンダーランフリー記録機能が実行され
る。

【００２０】このように、スピンドルモータドライバ６
の温度が閾値Ｓ１を超えた場合、記録倍速を低速にして
温度上昇を抑え、スピンドルモータドライバ６の保証温
度を超えないように防止して安定した記録動作を行うこ
とができる。また、時間Ｘ１の間に記録動作が一時中断
したときでも、バッファアンダーランフリー記録機能を
利用することができ連続的に記録データを記録すること
ができる。

【００２１】（第２の実施形態）図４は、予め設定され
た温度（閾値Ｓ２、Ｓ３）を境に記録倍速を変化させた
ときの光ディスク装置内の温度変化を示す。なお、光デ
ィスク装置内の温度はスピンドルモータドライバ６の近
傍に備えられた温度センサー３３に基づいているものと
する。また、曲線Ｃは１６倍速で情報信号を記録し続け
たときの温度変化を示し、曲線Ｄは予め設定された温
度、閾値Ｓ２を上回ったとき記録倍速を１６倍速から８
倍速に、また閾値Ｓ３を下回ったとき８倍速から１６倍
速に記録倍速を変更させたときの温度変化を示す。また
閾値Ｓ２、Ｓ３はＳ２＞Ｓ３の関係とする。

【００２２】図４を見てみると、記録データを例えば１
６倍速で光ディスクに記録すると曲線Ｃのようになり、
スピンドルモータドライバ６の保証温度をＣ１の時間で
超えてしまう。これを避けるために、閾値Ｓ２及びＳ３
を設けて、これら閾値Ｓ２及びＳ３を境に記録倍速を切
り換えている。曲線Ｄは、閾値Ｓ２を境に記録倍速を８
倍速に落とすことで、スピンドルモータドライバ６の温
度は閾値Ｓ２を境に緩やかに上昇して実際に８倍速に変
わると今度は徐々に下降する。そして、さらに閾値Ｓ３
を下回ると今度は記録倍速を１６倍速に上げることで、
温度は緩やかに下降して１６倍速に変わると温度は徐々
に上昇する。

【００２３】図５は、図４における一連の動作の流れを
示す図である。まず、ホストコンピュータ２５からイン
ターフェース２３を介して光ディスク１に記録する記録
データがバッファメモリ２１に格納されると、システム
コントローラ３５は例えば１６倍速でバッファメモリ２
１に格納された記録データを記録する（ステップＢ
１）。システムコントローラ３５は温度センサー３３に
よって測定された温度（以下、測定温度と称す）をモニ
ターし、測定温度と予め設定された閾値Ｓ２とを比較す
る（ステップＢ３）。この比較の結果、閾値Ｓ２を超え
なかった場合は（ステップＢ５のＮ）、ステップＢ３に
戻り、閾値Ｓ２を超えるまで繰り返される。閾値Ｓ２を
超えた場合（ステップＢ５のＹ）、システムコントロー
ラ３５はスピンドルモータドライバ６に対しスピンドル
モータ５の回転数を下げるよう指示するとともに、記録
倍速を１６倍速から８倍速に下げるよう指示する（ステ
ップＢ７）。システムコントローラ３５はホストコンピ
ュータ２５から転送された記録データの記録を一時中断
する（ステップＢ９）。これにより、スピンドルモータ
ドライバ６の発熱を抑制する。図４に示すように、１６
倍速から８倍速に変更指示してから、８倍速に変わるま
で緩やかに上昇して、実際に８倍速に変わってから温度
が下降する。この間の時間をＹ１とする。システムコン
トローラ３５は、スピンドルモータ５の回転数が８倍速
に変わったことを確認すると（ステップＢ１１）、一時
中断していた記録動作を再開させる（ステップＢ１
３）。ここまでは、ステップＡ１からＡ１３までの処理
内容と同じである。

【００２４】次に記録動作再開後、システムコントロー
ラ３５は８倍速で記録データを記録する（ステップＢ１
５）。システムコントローラ３５は温度センサー３３に
よって測定された温度（以下、測定温度と称す）をモニ
ターし、測定温度と予め設定された閾値Ｓ３とを比較す
る（ステップＢ１７）。この比較の結果、閾値Ｓ３を下
回らなかった場合は（ステップＢ１９のＮ）、ステップ
Ｂ１７に戻り、閾値Ｓ３を下回るまで繰り返される。ま
た閾値Ｓ３を下回った場合（ステップＢ１９のＹ）、シ
ステムコントローラ３５はスピンドルモータドライバ６
に対しスピンドルモータ５の回転数を上げるよう指示す
るとともに、記録倍速を８倍速から１６倍速に上げるよ
う指示する（ステップＢ２１）。システムコントローラ
３５はホストコンピュータ２５から転送された記録デー
タの記録を一時中断する（ステップＢ２３）。そして、
システムコントローラ３５はスピンドルモータ５の回転
数が１６倍速に変わったことを確認する（ステップＢ２
５）。図４に示すように、８倍速から１６倍速に変更指
示してから、１６倍速に変わるまで緩やかに下降して、
実際に１６倍速に変わってから温度が上昇する。この間
の時間をＹ２とする。システムコントローラ３５は１６
倍速に変わったことを確認すると、一時中断していた記
録動作を再開させる（ステップＢ２７）。記録動作再開
後、光ディスク装置における記録動作が終了した場合は
（ステップＢ２９のＹ）、そのまま終了となる。また記
録動作が終了しない場合（ステップＢ２９のＮ）、ステ
ップＢ５に戻る。

【００２５】また、時間Ｙ１及び時間Ｙ２の間は、シス
テムコントローラ３５により記録が一時的に中断されて
いるため、記録動作の再開後に記録が中断した位置から
連続的に記録するバッファアンダーランフリー記録機能
が実行される。

【００２６】このように、閾値Ｓ２およびＳ３をそれぞ
れ設けることで、スピンドルモータドライバ６の温度が
閾値Ｓ２を超えたら記録倍速を低速にし、閾値Ｓ３を下
回ったら記録倍速を高速にして、一定温度を保ちつつ保
証温度を絶対に超えないように安定した記録を行うこと
ができる。一定温度を保つことは温度変化がなく記録す
るには最適な条件となる。

【００２７】（第３の実施形態）図６は、各記録倍速
（３２倍速、２４倍速、１６倍速）で記録したときの光
ディスク装置内の温度変化と、予め設定された温度（閾
値Ｔ１、Ｔ２）を境に記録倍速を変化させたときの光デ
ィスク装置内の温度変化を示す。なお、光ディスク装置
内の温度は半導体レーザの近傍に備えられた温度センサ
ー３３に基づいているものとする。また、曲線Ｐは３２
倍速で記録データを記録し続けたときの温度変化を示
し、曲線Ｑは２４倍速で記録データを記録し続けたとき
の温度変化を示し、曲線Ｒは１６倍速で記録データを記
録し続けたときの温度変化を示し、曲線Ｊは閾値Ｔ１を
境に３２倍速から２４倍速に記録倍速を切り換えたとき
の温度変化を示し、曲線Ｋは閾値Ｔ１、Ｔ２において記
録倍速を段階的に切り換えたときの温度変化を示す。ま
た閾値Ｔ１、Ｔ２はＴ１＜Ｔ２の関係とする。

【００２８】図６を見てみると、記録データを例えば３
２倍速で光ディスクに記録すると（曲線Ｐ参照）、半導
体レーザの保証温度をＰ１の時間で超えてしまう。これ
を避けるために、閾値Ｔ１を設けてこの閾値Ｔ１を境に
記録倍速を２４倍速に落として記録すると（曲線Ｊ参
照）、半導体レーザの温度は閾値Ｔ１を境に緩やかに上
昇して実際に２４倍速に変わると今度は徐々に下降し、
安定してくると２４倍速で記録したときの曲線Ｑに近づ
いていく。そうすると、半導体レーザの保証温度をＱ１
の時間で超えてしまう。これを避けるために、閾値Ｔ２
を設けてこの閾値Ｔ２を境に記録倍速を１６倍速に落と
して記録すると（曲線Ｋ参照）、半導体レーザの温度は
閾値Ｔ２を境に緩やかに上昇して実際に１６倍速に変わ
ると今度は徐々に下降し、安定してくると１６倍速で記
録したときの曲線Ｒに近づいていく。

【００２９】図７は図６における一連の動作の流れを示
す図である。

【００３０】まず、ホストコンピュータ２５からインタ
ーフェース２３を介して光ディスク１に記録する記録デ
ータがバッファメモリ２１に格納されると、システムコ
ントローラ３５は３２倍速でバッファメモリ２１に格納
された記録データを記録する（ステップＣ１）。システ
ムコントローラ３５は温度センサー３３によって測定さ
れた温度（以下、測定温度と称す）をモニターし、測定
温度と予め設定された閾値Ｔ１とを比較する（ステップ
Ｃ３）。この比較の結果、閾値Ｔ１を超えなかった場合
は（ステップＣ５のＮ）、ステップＣ３に戻り、閾値Ｔ
１を超えるまで繰り返される。閾値Ｔ１を超えた場合
（ステップＣ５のＹ）、システムコントローラ３５は記
録速度を３２倍速から２４倍速に下げるよう指示すると
ともに（ステップＣ７）、ホストコンピュータ２５から
転送された記録データの記録を一時中断する（ステップ
Ｃ９）。そして、システムコントローラ３５はスピンド
ルモータ５の回転数が２４倍速に変わったことを確認す
ると（ステップＣ１１）、一時中断していた記録動作を
再開させる（ステップＣ１３）。図６に示すように、３
２倍速から２４倍速に変更指示してから、２４倍速に変
わるまで緩やかに上昇して、実際に２４倍速に変わって
から温度が下降する。その後、２４倍速で記録したとき
の曲線Ｑに向かって温度が上昇する（曲線Ｊ参照）。な
お、３２倍速から２４倍速に変更指示してから、実際に
２４倍速に変わるまでの間の時間Ｚ１が生じる。

【００３１】次に記録動作再開後、システムコントロー
ラ３５は２４倍速で記録データを記録する（ステップＣ
１５）。システムコントローラ３５は温度センサー３３
によって測定された温度をモニターし、測定温度と予め
設定された閾値Ｔ２とを比較する（ステップＣ１７）。
この比較の結果、閾値Ｔ２を超えなかった場合は（ステ
ップＣ１９のＮ）、ステップＣ１７に戻り、閾値Ｔ２を
超えるまで繰り返される。また閾値Ｔ２を超えた場合
（ステップＣ１９のＹ）、システムコントローラ３５は
記録倍速を２４倍速から１６倍速に下げるよう指示する
とともに（ステップＣ２１）、ホストコンピュータ２５
から転送された記録データの記録を一時中断する（ステ
ップＢ２３）。そして、システムコントローラ３５はス
ピンドルモータ５の回転数が１６倍速に変わったことを
確認すると（ステップＣ２５）、一時中断していた記録
動作を再開させる（ステップＣ２７）。

【００３２】図６に示すように、２４倍速から１６倍速
に変更指示してから、１６倍速に変わるまで緩やかに上
昇して、実際に１６倍速に変わってから温度が下降す
る。その後、１６倍速で記録したときの曲線Ｒに向かっ
て温度が上昇する（曲線Ｋ参照）。なお、２４倍速から
１６倍速に変更指示してから、実際に１６倍速に変わる
までの間の時間Ｚ２が生じる。

【００３３】また、時間Ｚ１及び時間Ｚ２の間はシステ
ムコントローラ３５により記録が一時中断されているた
め、記録動作再開後に記録が中断した位置から連続的に
記録するバッファアンダーランフリー記録機能が実行さ
れる。

【００３４】以上のように、閾値Ｔ１及びＴ２をそれぞ
れ設けて、半導体レーザの温度が閾値Ｔ１を超えたら記
録速度を低速にし、閾値Ｔ２を超えたら記録速度をさら
に低速にして、段階的に倍速を落とすことで保証温度を
超えずに、最も効率の良い記録時間で記録データを記録
しながら安定した記録を行うことができる。

【００３５】

【発明の効果】以上のように、従来では熱対策について
特に何も考慮されていなかったが、本発明ではスピンド
ルモータドライバや半導体レーザ等の各種部品に温度セ
ンサーを設けて、閾値と比較することで、各種部品の保
証温度を超えないように安定した記録を行うことができ
る。さらに、記録倍速の変更指示から実際に変更された
記録倍速になるまでの間に、記録動作が一時中断してし
まうが、バッファアンダーランフリー記録機能を利用す
ることで、中断された記録データの後から連続的にデー
タを記録することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る一実施形態の光ディスク装置の全
体的な構成を示すブロック構成図である。

【図２】予め設定された温度（閾値Ｓ１）を境に記録倍
速を変化させたときの光ディスク装置内の温度変化を示
す図である。

【図３】第１の実施形態における動作を説明するフロー
チャートである。

【図４】予め設定された温度（閾値Ｓ２、Ｓ３）を境に
記録倍速を変化させたときの光ディスク装置内の温度変
化を示す図である。

【図５】第２の実施形態における動作を説明するフロー
チャートである。

【図６】各記録倍速（３２倍速、２４倍速、１６倍速）
で記録したときの光ディスク装置内の温度変化と、予め
設定された温度（閾値Ｔ１、Ｔ２）を境に記録倍速を変
化させたときの光ディスク装置内の温度変化を示す図で
ある。

【図７】第３の実施形態における動作を説明するフロー
チャートである。

【符号の説明】

１ 光ディスク ５ スピンドルモータ ６ スピンドルモータドライバ ７ 光ピックアップ １４ ＲＦアンプ １５ サーボ処理回路 １７ 信号処理回路 １９ デコーダ ２１ バッファメモリ ２２ バッファマネージャ ２３ インターフェース ２５ ホストコンピュータ ２７ エンコーダ ２９ 記録波形生成回路 ３１ ＬＤ駆動制御回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D044 BC04 EF06 5D090 AA01 BB03 BB04 CC01 CC18 DD03 HH01 HH03 JJ07 5D109 KA17 KB23 KB40

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 所定の記録倍速でディスクに情報信号を
   記録する光ディスク装置において、前記ディスクを所定
   の速度で回転駆動させる駆動手段と、この駆動手段によ
   って回転駆動された前記ディスクに対して、光ビームを
   照射して前記情報信号を記録するピックアップユニット
   と、前記駆動手段及び前記ピックアップユニットが内設
   された筐体と、 この筐体内に設けられ、内部温度を測定する温度センサ
   ーと、 前記温度センサーで測定された前記内部温度と予め設定
   される閾値とを比較する温度比較手段と、 前記温度比較手段による比較結果に基づいて、前記記録
   倍速を変化させる記録倍速切替手段とを具備することを
   特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 所定の記録倍速でディスクに情報信号を
   記録する光ディスク装置において、筐体内に設けられ、
   内部温度を測定する温度センサーと、 前記温度センサーで測定された前記内部温度と予め設定
   される閾値とを比較する温度比較手段と、 前記温度比較手段によって比較された前記内部温度が前
   記閾値を上回らなかったとき、第１の記録倍速で前記情
   報信号を記録し、前記閾値を上回ったとき、前記第１の
   記録倍速より低い第２の記録倍速で前記情報信号を記録
   する記録手段とを具備することを特徴とする光ディスク
   装置。
3. 【請求項３】 所定の記録倍速でディスクに情報信号を
   記録する光ディスク装置において、筐体内に設けられ、
   内部温度を測定する温度センサーと、 前記温度センサーで測定された前記内部温度と予め設定
   される第１の閾値及び第２の閾値とを比較する温度比較
   手段と、 前記温度比較手段によって比較された前記内部温度が前
   記第１の閾値を上回らなかったとき、第１の記録倍速で
   前記情報信号を記録し、前記第１の閾値を上回ったとき
   前記第１の記録倍速より低い第２の記録倍速で前記情報
   信号を記録し、前記第２の閾値を下回ったとき前記第１
   の記録倍速で前記情報信号を記録する記録手段とを具備
   することを特徴とする光ディスク装置。
4. 【請求項４】 所定の記録倍速でディスクに情報信号を
   記録する光ディスク装置において、筐体内に設けられ、
   内部温度を測定する温度センサーと、 前記温度センサーで測定された前記内部温度と予め設定
   される第１の閾値及び第２の閾値とを比較する温度比較
   手段と、 前記温度比較手段によって比較された前記内部温度が前
   記第１の閾値を上回らなかったとき、第１の記録倍速で
   前記情報信号を記録し、前記第１の閾値を上回ったとき
   前記第１の記録倍速より低い第２の記録倍速で前記情報
   信号を記録し、前記第２の閾値を上回ったとき前記第２
   の記録倍速より低い第３の記録倍速で前記情報信号を記
   録する記録手段とを具備することを特徴とする光ディス
   ク装置。
5. 【請求項５】 前記記録倍速切替手段によって前記記録
   倍速が切り換えられてから、実際に切り換えられた前記
   記録倍速になるまでの時間に、記録を一時中断してバッ
   ファアンダーランフリー記録を実行する記録実行手段を
   具備することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに
   記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記温度センサーは、前記筐体内に１つ
   以上設けられることを特徴とする請求項１乃至４のいず
   れかに記載の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 所定の記録倍速でディスクに情報信号を
   記録する記録倍速切替方法において、前記ディスクを所
   定の速度で回転駆動させるステップと、回転駆動された
   前記ディスクに対して、光ビームを照射して情報信号を
   記録するステップと、筐体内に設けられる内部温度を測
   定するステップと、 測定された前記内部温度と予め設定される閾値とを比較
   するステップと、この比較結果に基づいて、前記記録倍
   速を変化させるステップとを具備することを特徴とする
   記録倍速切替方法。