JP2003165048A - 研磨具の整形方法および研磨装置 - Google Patents
研磨具の整形方法および研磨装置Info
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- JP2003165048A JP2003165048A JP2001364917A JP2001364917A JP2003165048A JP 2003165048 A JP2003165048 A JP 2003165048A JP 2001364917 A JP2001364917 A JP 2001364917A JP 2001364917 A JP2001364917 A JP 2001364917A JP 2003165048 A JP2003165048 A JP 2003165048A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ウェーハの被研磨面に傷を付けることなく、
研磨具をドレッシングまたはシーズニングし、研磨具の
うねりに起因する研磨ヘッドの揺動を抑えて、ウェーハ
に局所的な偏荷重が発生することを防止する。 【解決手段】 研磨装置は、ウェーハ10を吸引固定す
る研磨ヘッド2と、ウェーハ10の研磨を行う研磨具5
と、ウェーハ10と研磨具5を接触させた状態で相対的
に移動させる機構を備える。そして、研磨ヘッド2のウ
ェーハ10を吸着させる部位にドレッシングプレートま
たはシーズニングプレートを吸引固定させて、ウェーハ
研磨の要領で研磨具5の表面をドレッシングまたはシー
ズニングする。研磨具5の研磨面のうねり(研磨定盤1
及び研磨具5により生ずるうねり)を除去することによ
り、研磨面のうねりに起因する研磨ヘッド2の揺動を抑
えて、ウェーハ10の局所的な偏荷重の発生を防止する
ことができる。
研磨具をドレッシングまたはシーズニングし、研磨具の
うねりに起因する研磨ヘッドの揺動を抑えて、ウェーハ
に局所的な偏荷重が発生することを防止する。 【解決手段】 研磨装置は、ウェーハ10を吸引固定す
る研磨ヘッド2と、ウェーハ10の研磨を行う研磨具5
と、ウェーハ10と研磨具5を接触させた状態で相対的
に移動させる機構を備える。そして、研磨ヘッド2のウ
ェーハ10を吸着させる部位にドレッシングプレートま
たはシーズニングプレートを吸引固定させて、ウェーハ
研磨の要領で研磨具5の表面をドレッシングまたはシー
ズニングする。研磨具5の研磨面のうねり(研磨定盤1
及び研磨具5により生ずるうねり)を除去することによ
り、研磨面のうねりに起因する研磨ヘッド2の揺動を抑
えて、ウェーハ10の局所的な偏荷重の発生を防止する
ことができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、板状部材の研磨装
置に係り、特に、半導体ウェーハ,LCD用ガラス板の
ような薄板状部材の研磨工程に使用する研磨具を整形す
る方法および研磨装置に関する。
置に係り、特に、半導体ウェーハ,LCD用ガラス板の
ような薄板状部材の研磨工程に使用する研磨具を整形す
る方法および研磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から知られている一般的なウェーハ
製造工程は、以下のような工程からなっている。まず、
種結晶を成長させて形成された略円柱状のインゴット
を、ワイヤソーによりスライスして円板状のウェーハを
形成する。その後、ウェーハの形状を整えるために外周
及び表裏両面を研削盤によって研削し、ウェーハの表裏
面を平坦化する。更に、研磨装置によってウェーハの表
裏面を鏡面研磨し、平坦度及び表面粗さが十分なウェー
ハに仕上げる。
製造工程は、以下のような工程からなっている。まず、
種結晶を成長させて形成された略円柱状のインゴット
を、ワイヤソーによりスライスして円板状のウェーハを
形成する。その後、ウェーハの形状を整えるために外周
及び表裏両面を研削盤によって研削し、ウェーハの表裏
面を平坦化する。更に、研磨装置によってウェーハの表
裏面を鏡面研磨し、平坦度及び表面粗さが十分なウェー
ハに仕上げる。
【0003】上記ウェーハ製造の研磨工程に用いられる
研磨装置として特許第3109558号の特許公報に、
図6に示すような真空チャックを用いた研磨装置が開示
されている。図6は、研磨装置の一部を模式的に示した
縦断面図である。
研磨装置として特許第3109558号の特許公報に、
図6に示すような真空チャックを用いた研磨装置が開示
されている。図6は、研磨装置の一部を模式的に示した
縦断面図である。
【0004】アルミナ等のセラミックス、又はステンレ
ス鋼等の金属からなる円形(直径200〜250mm)
の保持台50の上面周縁部を欠落させ、そこにAl2O
3(アルミナ),SiO2(石英),SiC等の材料か
らなるリング状のリテーナ51が嵌合されている。この
リテーナ51は、表面をラッピング仕上げ又は研削仕上
げされており、さらに微細なダイヤモンド粒が鋳鉄等の
メタルボンドによって多数埋め込まれている。リテーナ
51は、真空吸着,ねじ固定,ストッパ固定等の方法に
より、保持台50の欠落部に取り付けられている。
ス鋼等の金属からなる円形(直径200〜250mm)
の保持台50の上面周縁部を欠落させ、そこにAl2O
3(アルミナ),SiO2(石英),SiC等の材料か
らなるリング状のリテーナ51が嵌合されている。この
リテーナ51は、表面をラッピング仕上げ又は研削仕上
げされており、さらに微細なダイヤモンド粒が鋳鉄等の
メタルボンドによって多数埋め込まれている。リテーナ
51は、真空吸着,ねじ固定,ストッパ固定等の方法に
より、保持台50の欠落部に取り付けられている。
【0005】保持台50表面のリテーナ51の内側であ
る中央部には、同心円状及び放射状に多数の溝52が形
成された、ポリフッ化エチレン系繊維等の樹脂からなる
吸着部53が接着剤によって取り付けられている。ま
た、吸着部53の中央及びその周辺の溝52の底部には
複数の孔54が設けられており、この孔54は保持台5
0に設けられた真空ライン55と連通している。真空ラ
イン55は図示しない減圧機に接続されている。
る中央部には、同心円状及び放射状に多数の溝52が形
成された、ポリフッ化エチレン系繊維等の樹脂からなる
吸着部53が接着剤によって取り付けられている。ま
た、吸着部53の中央及びその周辺の溝52の底部には
複数の孔54が設けられており、この孔54は保持台5
0に設けられた真空ライン55と連通している。真空ラ
イン55は図示しない減圧機に接続されている。
【0006】以上のように構成された保持台50にウェ
ーハ56を載置して、真空ライン55を真空引きするこ
とによってウェーハ55を吸着部53に真空吸着し、回
転するパッド状の研磨具によってウェーハを研磨してい
る。このとき、研磨パッド57はウェーハ56及びダイ
ヤモンド粒が埋め込まれたリテーナ51と接触するた
め、研磨パッド57がウェーハ56を研磨すると同時
に、研磨パッド57がダイヤモンド粒によってシーズニ
ング(目立て)される。これにより研磨処理中絶えず研
磨パッド57の表面が再生されるので、研磨パッド57
の目詰まりの進行を遅らせることができる。
ーハ56を載置して、真空ライン55を真空引きするこ
とによってウェーハ55を吸着部53に真空吸着し、回
転するパッド状の研磨具によってウェーハを研磨してい
る。このとき、研磨パッド57はウェーハ56及びダイ
ヤモンド粒が埋め込まれたリテーナ51と接触するた
め、研磨パッド57がウェーハ56を研磨すると同時
に、研磨パッド57がダイヤモンド粒によってシーズニ
ング(目立て)される。これにより研磨処理中絶えず研
磨パッド57の表面が再生されるので、研磨パッド57
の目詰まりの進行を遅らせることができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来技術によれば、微細なダイヤモンド粒を埋め込まれた
リテーナ51が、ウェーハ56の研磨処理を行っている
間中、常に研磨パッド57を削ることになるため、研磨
パッド57の磨耗量が多く、研磨パッド57の寿命が短
いという問題があった。
来技術によれば、微細なダイヤモンド粒を埋め込まれた
リテーナ51が、ウェーハ56の研磨処理を行っている
間中、常に研磨パッド57を削ることになるため、研磨
パッド57の磨耗量が多く、研磨パッド57の寿命が短
いという問題があった。
【0008】また、研磨処理の際中に、リテーナ51に
埋め込まれた砥粒が脱落してウェーハ56の被研磨面に
傷を付けてしまうことがあった。
埋め込まれた砥粒が脱落してウェーハ56の被研磨面に
傷を付けてしまうことがあった。
【0009】本出願に係る発明は、上記のような問題点
を解決するためになされたものであり、その目的とする
ところは、ウェーハの被研磨面に傷を付けることなく、
研磨具を整形またはシーズニングする方法及び装置を提
供することにある。
を解決するためになされたものであり、その目的とする
ところは、ウェーハの被研磨面に傷を付けることなく、
研磨具を整形またはシーズニングする方法及び装置を提
供することにある。
【0010】また、本出願に係る発明の他の目的は、研
磨具のうねりに起因する研磨ヘッドの揺動を抑え、ウェ
ーハに局所的な偏荷重が発生することを防止する方法お
よび装置を提供することにある。
磨具のうねりに起因する研磨ヘッドの揺動を抑え、ウェ
ーハに局所的な偏荷重が発生することを防止する方法お
よび装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本出願に係る第1の発明は、被研磨部材を吸引固定
する支持機構と、前記被研磨部材の研磨を行う研磨具
と、前記被研磨部材と前記研磨具を接触させた状態で相
対的に移動させる手段と、を備えた研磨装置において、
前記支持機構に吸引固定されて、前記研磨具を整形また
は目立てする研磨具加工具を備えることを特徴とする研
磨装置である。
め、本出願に係る第1の発明は、被研磨部材を吸引固定
する支持機構と、前記被研磨部材の研磨を行う研磨具
と、前記被研磨部材と前記研磨具を接触させた状態で相
対的に移動させる手段と、を備えた研磨装置において、
前記支持機構に吸引固定されて、前記研磨具を整形また
は目立てする研磨具加工具を備えることを特徴とする研
磨装置である。
【0012】また、本出願に係る第2の発明は、被研磨
部材を吸引固定する支持機構と、前記被研磨部材の研磨
を行う研磨具と、前記被研磨部材と前記研磨具を接触さ
せた状態で相対的に移動させる手段と、を備えた研磨装
置における前記研磨具を整形または目立てする研磨具加
工具であって、前記支持機構に吸引固定可能な形状を有
することを特徴とする研磨具加工具である。
部材を吸引固定する支持機構と、前記被研磨部材の研磨
を行う研磨具と、前記被研磨部材と前記研磨具を接触さ
せた状態で相対的に移動させる手段と、を備えた研磨装
置における前記研磨具を整形または目立てする研磨具加
工具であって、前記支持機構に吸引固定可能な形状を有
することを特徴とする研磨具加工具である。
【0013】更に、本出願に係る第3の発明は、前記研
磨具加工具は、金属またはセラミックスよりなる円板状
部材の表面に砥粒を固定したもの、若しくは、砥粒を樹
脂やガラスまたは金属でボンディングして円板状に形成
したもの、または、金属よりなる円板状部材、若しく
は、セラミックスよりなる円板状部材、であることを特
徴とする上記第2の発明に記載の研磨具加工具である。
磨具加工具は、金属またはセラミックスよりなる円板状
部材の表面に砥粒を固定したもの、若しくは、砥粒を樹
脂やガラスまたは金属でボンディングして円板状に形成
したもの、または、金属よりなる円板状部材、若しく
は、セラミックスよりなる円板状部材、であることを特
徴とする上記第2の発明に記載の研磨具加工具である。
【0014】また、本出願に係る第4の発明は、被研磨
部材を吸引固定する支持機構と、前記被研磨部材の研磨
を行う研磨具と、前記被研磨部材と前記研磨具を接触さ
せた状態で相対的に移動させる手段と、を備えた研磨装
置における前記研磨具を整形または目立てする方法であ
って、前記研磨具を整形または目立てする研磨具加工具
を、前記支持機構に吸引固定させるステップと、前記研
磨具加工具と前記研磨具を接触させた状態で相対的に移
動させるステップと、を含むことを特徴とする方法であ
る。
部材を吸引固定する支持機構と、前記被研磨部材の研磨
を行う研磨具と、前記被研磨部材と前記研磨具を接触さ
せた状態で相対的に移動させる手段と、を備えた研磨装
置における前記研磨具を整形または目立てする方法であ
って、前記研磨具を整形または目立てする研磨具加工具
を、前記支持機構に吸引固定させるステップと、前記研
磨具加工具と前記研磨具を接触させた状態で相対的に移
動させるステップと、を含むことを特徴とする方法であ
る。
【0015】更に、本出願に係る第5の発明は、被研磨
部材を吸引固定する支持機構と、前記被研磨部材の研磨
を行う研磨具と、前記研磨具を設置する研磨定盤と、前
記被研磨部材と前記研磨具を接触させた状態で相対的に
移動させる手段と、を備えた研磨装置における前記研磨
具を整形する方法であって、前記研磨定盤に前記研磨具
を設置する設置ステップと、前記研磨具を整形するドレ
ッシングプレートを、前記支持機構に吸引固定させる固
定ステップと、前記ドレッシングプレートと前記研磨具
を接触させた状態で相対的に移動させる整形ステップ
と、を含むことを特徴とする方法である。
部材を吸引固定する支持機構と、前記被研磨部材の研磨
を行う研磨具と、前記研磨具を設置する研磨定盤と、前
記被研磨部材と前記研磨具を接触させた状態で相対的に
移動させる手段と、を備えた研磨装置における前記研磨
具を整形する方法であって、前記研磨定盤に前記研磨具
を設置する設置ステップと、前記研磨具を整形するドレ
ッシングプレートを、前記支持機構に吸引固定させる固
定ステップと、前記ドレッシングプレートと前記研磨具
を接触させた状態で相対的に移動させる整形ステップ
と、を含むことを特徴とする方法である。
【0016】また、本出願に係る第6の発明は、前記設
置ステップ、前記固定ステップ、前記整形ステップの後
に、前記研磨具を目立てするシーズニングプレートを、
前記支持機構に吸引固定させるステップと、前記シーズ
ニングプレートと前記研磨具を接触させた状態で相対的
に移動させるステップと、を含むことを特徴とする上記
第5の発明に記載の方法である。
置ステップ、前記固定ステップ、前記整形ステップの後
に、前記研磨具を目立てするシーズニングプレートを、
前記支持機構に吸引固定させるステップと、前記シーズ
ニングプレートと前記研磨具を接触させた状態で相対的
に移動させるステップと、を含むことを特徴とする上記
第5の発明に記載の方法である。
【0017】更に、本出願に係る第7の発明は、少なく
ともシリコンを含む円板状部材を吸引固定する支持機構
と、前記円板状部材の研磨を行う研磨具と、前記円板状
部材と前記研磨具を接触させた状態で相対的に移動させ
る手段と、を備えた研磨装置によりシリコンウェーハを
製造する方法であって、前記研磨具を整形または目立て
する研磨具加工具を、前記支持機構に吸引固定させるス
テップと、前記研磨具加工具と前記研磨具を接触させた
状態で相対的に移動させるステップと、前記円板状部材
と前記研磨具を接触させた状態で相対的に移動させるス
テップと、を含むことを特徴とするシリコンウェーハの
製造方法である。
ともシリコンを含む円板状部材を吸引固定する支持機構
と、前記円板状部材の研磨を行う研磨具と、前記円板状
部材と前記研磨具を接触させた状態で相対的に移動させ
る手段と、を備えた研磨装置によりシリコンウェーハを
製造する方法であって、前記研磨具を整形または目立て
する研磨具加工具を、前記支持機構に吸引固定させるス
テップと、前記研磨具加工具と前記研磨具を接触させた
状態で相対的に移動させるステップと、前記円板状部材
と前記研磨具を接触させた状態で相対的に移動させるス
テップと、を含むことを特徴とするシリコンウェーハの
製造方法である。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本出願に係る発明の一実施
の形態について、図1〜図5に基づいて詳細に説明す
る。図1は、本発明に係る研磨装置の一部を模式的に示
した縦断面図である。この研磨装置は、大別して、研磨
定盤1および研磨ヘッド2と、スラリノズル3から構成
されている。
の形態について、図1〜図5に基づいて詳細に説明す
る。図1は、本発明に係る研磨装置の一部を模式的に示
した縦断面図である。この研磨装置は、大別して、研磨
定盤1および研磨ヘッド2と、スラリノズル3から構成
されている。
【0019】研磨定盤1はステンレスまたはセラミック
スよりなり、外形状は厚手の円板状をなしている。研磨
定盤1の下面中心には、円柱状または円筒状の定盤回転
軸4を固定している。定盤回転軸4は鉛直に立てて配置
され、軸の上端部に固定された研磨定盤1は水平に配置
される。研磨定盤1の上面は平坦面をなし、その平坦面
上に不織布などよりなる研磨具5を設けている。この研
磨具5の材質としては、一般にウレタン樹脂やポリエス
テル樹脂などが用いられる。
スよりなり、外形状は厚手の円板状をなしている。研磨
定盤1の下面中心には、円柱状または円筒状の定盤回転
軸4を固定している。定盤回転軸4は鉛直に立てて配置
され、軸の上端部に固定された研磨定盤1は水平に配置
される。研磨定盤1の上面は平坦面をなし、その平坦面
上に不織布などよりなる研磨具5を設けている。この研
磨具5の材質としては、一般にウレタン樹脂やポリエス
テル樹脂などが用いられる。
【0020】定盤回転軸4は、不図示の回転駆動機構よ
り回転動力を与えられ、軸心を中心として回転動を行
う。この回転駆動機構としては、研磨定盤1の下方に配
置された回転駆動用モータより、ギヤまたはタイミング
ベルトによって定盤回転軸4に駆動力を伝達するもの等
がある。回転駆動用モータより回転動力を伝達された定
盤回転軸4は、軸心を中心として回転動を行う。そし
て、軸の上端部に固定された研磨定盤1が、水平面内に
おいて回転する。ウェーハの研磨においては、研磨定盤
1を一定方向にのみ回転させることが多いが、所定回転
の後に反対方向に回転させるように、回転駆動用モータ
の回転方向を制御してもよい。
り回転動力を与えられ、軸心を中心として回転動を行
う。この回転駆動機構としては、研磨定盤1の下方に配
置された回転駆動用モータより、ギヤまたはタイミング
ベルトによって定盤回転軸4に駆動力を伝達するもの等
がある。回転駆動用モータより回転動力を伝達された定
盤回転軸4は、軸心を中心として回転動を行う。そし
て、軸の上端部に固定された研磨定盤1が、水平面内に
おいて回転する。ウェーハの研磨においては、研磨定盤
1を一定方向にのみ回転させることが多いが、所定回転
の後に反対方向に回転させるように、回転駆動用モータ
の回転方向を制御してもよい。
【0021】図2は、研磨ヘッド2の縦断面を示す拡大
図である。図2に示すように、研磨ヘッド2の上部に
は、回転動自在なヘッド回転軸6を鉛直方向に配置して
いる。ヘッド回転軸6には不図示のヘッド駆動機構より
回転動力が与えられ、軸心を中心に回転動を行う。ヘッ
ド回転軸6の下端部には、ステンレス製の円板よりなる
トップリング7を固定している。
図である。図2に示すように、研磨ヘッド2の上部に
は、回転動自在なヘッド回転軸6を鉛直方向に配置して
いる。ヘッド回転軸6には不図示のヘッド駆動機構より
回転動力が与えられ、軸心を中心に回転動を行う。ヘッ
ド回転軸6の下端部には、ステンレス製の円板よりなる
トップリング7を固定している。
【0022】トップリング7は、円板状部材の下面に、
垂直下方に向けて所定の肉厚を有する円環状突起8が一
体成形されたものであり、円板状部材の上面中心部には
ヘッド回転軸6を固定している。ヘッド駆動機構よりヘ
ッド回転軸6に回転動力が与えられ、この回転動力はト
ップリング7に伝えられてトップリング7が回転する。
トップリング7の中央部には、真空吸引用の吸引管19
を垂直方向に配設している。この吸引管19はトップリ
ング7を貫通し、ヘッド回転軸6の中心部を通り、不図
示の真空吸引ポンプに接続されている。
垂直下方に向けて所定の肉厚を有する円環状突起8が一
体成形されたものであり、円板状部材の上面中心部には
ヘッド回転軸6を固定している。ヘッド駆動機構よりヘ
ッド回転軸6に回転動力が与えられ、この回転動力はト
ップリング7に伝えられてトップリング7が回転する。
トップリング7の中央部には、真空吸引用の吸引管19
を垂直方向に配設している。この吸引管19はトップリ
ング7を貫通し、ヘッド回転軸6の中心部を通り、不図
示の真空吸引ポンプに接続されている。
【0023】トップリング7の下には、チャックプレー
ト9を取り付けている。チャックプレート9はステンレ
スまたはセラミックスよりなり、被研磨物である円板状
のウェーハ10と同等の直径を有する円形平坦面の吸着
面11を有している。本実施の形態においては、ウェー
ハ10として直径200mmのウェーハを研磨する場合
について説明するため、チャックプレート9の吸着面1
1も直径200mm程度のものを用いている。
ト9を取り付けている。チャックプレート9はステンレ
スまたはセラミックスよりなり、被研磨物である円板状
のウェーハ10と同等の直径を有する円形平坦面の吸着
面11を有している。本実施の形態においては、ウェー
ハ10として直径200mmのウェーハを研磨する場合
について説明するため、チャックプレート9の吸着面1
1も直径200mm程度のものを用いている。
【0024】チャックプレート9の上面には円形状の凹
部12を設けており、さらに凹部12の外周に位置する
輪状の上面には複数の雌ねじ13を形成している。トッ
プリング7は、この雌ねじ13に対応する位置に貫通穴
14を有しており、貫通穴14にボルト15を通して雌
ねじ13にねじ込むことにより、トップリング7の下面
にチャックプレート9が固定される。このとき、トップ
リング7の円環状突起8の外周面と凹部12の内周面と
の間には、ゴム製のOリング16を配置しており、チャ
ックプレート9上面の凹部12とトップリング7の下面
によって形成される空間17の気密性を保っている。
部12を設けており、さらに凹部12の外周に位置する
輪状の上面には複数の雌ねじ13を形成している。トッ
プリング7は、この雌ねじ13に対応する位置に貫通穴
14を有しており、貫通穴14にボルト15を通して雌
ねじ13にねじ込むことにより、トップリング7の下面
にチャックプレート9が固定される。このとき、トップ
リング7の円環状突起8の外周面と凹部12の内周面と
の間には、ゴム製のOリング16を配置しており、チャ
ックプレート9上面の凹部12とトップリング7の下面
によって形成される空間17の気密性を保っている。
【0025】チャックプレート9の下面は、ウェーハ研
磨における基準面となるため、高い平坦度を有する平面
をなしている。チャックプレート9は、下面に開口を有
し垂直方向に延びる複数本の直線状の吸引穴18を設け
ている。各吸引穴18は前記空間17に通じており、ト
ップリング7に設けた吸引管19から真空吸引すること
により、前記空間17の気圧が下がり、吸引穴13の下
面においてウェーハ10の吸着固定が行われる。
磨における基準面となるため、高い平坦度を有する平面
をなしている。チャックプレート9は、下面に開口を有
し垂直方向に延びる複数本の直線状の吸引穴18を設け
ている。各吸引穴18は前記空間17に通じており、ト
ップリング7に設けた吸引管19から真空吸引すること
により、前記空間17の気圧が下がり、吸引穴13の下
面においてウェーハ10の吸着固定が行われる。
【0026】チャックプレート9の下には、ポーラスシ
ート20が配置される。ポーラスシート20はセラミッ
クス粉を焼結して形成され、厚さ10mm以下の薄いシ
ートであり、空気が透過可能な構造である。このポーラ
スシート20を、予め穴があいた接着シート(不図示)
によりチャックプレート9の下面に貼り付ける。ポーラ
スシート20の下面は被研磨物を吸着する吸着面11を
なし、この吸着面11にウェーハ10を真空吸着させ
る。本実施の形態においては、ウェーハ10は直径約2
00mm、厚さが約0.75mmのシリコンウェーハを
用いているが、本発明はシリコンウェーハの研磨に限ら
れるものではなく、LCD用ガラス板などの板状部材で
あれば、他の部材の研磨においても適用できることは言
うまでもない。
ート20が配置される。ポーラスシート20はセラミッ
クス粉を焼結して形成され、厚さ10mm以下の薄いシ
ートであり、空気が透過可能な構造である。このポーラ
スシート20を、予め穴があいた接着シート(不図示)
によりチャックプレート9の下面に貼り付ける。ポーラ
スシート20の下面は被研磨物を吸着する吸着面11を
なし、この吸着面11にウェーハ10を真空吸着させ
る。本実施の形態においては、ウェーハ10は直径約2
00mm、厚さが約0.75mmのシリコンウェーハを
用いているが、本発明はシリコンウェーハの研磨に限ら
れるものではなく、LCD用ガラス板などの板状部材で
あれば、他の部材の研磨においても適用できることは言
うまでもない。
【0027】なお、本実施の形態における研磨ヘッド2
においては、チャックプレート9の下面にポーラスシー
ト20を設けているが、ポーラスシート20は必須のも
のではなく、特にポーラスシート20を設けない構造と
しても良い。この場合は、チャックプレート9の下面が
被研磨物を吸着する吸着面11となる。
においては、チャックプレート9の下面にポーラスシー
ト20を設けているが、ポーラスシート20は必須のも
のではなく、特にポーラスシート20を設けない構造と
しても良い。この場合は、チャックプレート9の下面が
被研磨物を吸着する吸着面11となる。
【0028】チャックプレート9の下面周縁部には切り
欠きを形成しており、この切り欠きにリテーナ21を配
設している。リテーナ21はリング状の部材であり、例
えばセラミックス材料や樹脂、さらに金属材料にセラミ
ックス材料・樹脂をコーティングしたもの等がある。こ
のリテーナ21の材質としては、被研磨物であるウェー
ハ10と同等の硬度若しくはウェーハ10よりも高い硬
度を有するものを用いるのが好ましい。ウェーハ10の
外周面とリテーナ21の内周面との隙間は2mm以下が
好ましく、本実施の形態においては、内径が201m
m、外径が241mmのリング状のリテーナ21を使用
している。
欠きを形成しており、この切り欠きにリテーナ21を配
設している。リテーナ21はリング状の部材であり、例
えばセラミックス材料や樹脂、さらに金属材料にセラミ
ックス材料・樹脂をコーティングしたもの等がある。こ
のリテーナ21の材質としては、被研磨物であるウェー
ハ10と同等の硬度若しくはウェーハ10よりも高い硬
度を有するものを用いるのが好ましい。ウェーハ10の
外周面とリテーナ21の内周面との隙間は2mm以下が
好ましく、本実施の形態においては、内径が201m
m、外径が241mmのリング状のリテーナ21を使用
している。
【0029】このように、ウェーハ10の外周にリテー
ナ21を配置することにより、ウェーハの不必要な横方
向の移動を防止することができる。また、リテーナ21
を配置することにより、ウェーハ10にかかる研磨具5
からの圧力を被研磨面全体において均一化することがで
き、特にウェーハ10の外周部における面ダレを防止す
ることができる。
ナ21を配置することにより、ウェーハの不必要な横方
向の移動を防止することができる。また、リテーナ21
を配置することにより、ウェーハ10にかかる研磨具5
からの圧力を被研磨面全体において均一化することがで
き、特にウェーハ10の外周部における面ダレを防止す
ることができる。
【0030】図3(a)および(b)に、研磨具5の形
状を整形するドレッシングプレート22を示す。図3
(a)はドレッシングプレート22の正面図を、図3
(b)はドレッシングプレート22の側面図を表してい
る。ドレッシングプレート22は、ステンレス等の金属
またはセラミックスよりなる円板状の基板部材の表面に
ダイヤモンド粒等の砥粒を電着などの方法で固定したも
の、或いは砥粒を樹脂やガラスまたは鋳鉄等の金属でボ
ンディングして円板状に形成したものである。ここで、
基板部材として金属製のプレートを用いた場合は、メタ
ル汚染防止のために表面をポリテトラフルオロエチレン
などのフッ素系樹脂でコーティングすると良い。砥粒と
しては、被整形物である研磨具5と同等もしくはそれよ
りも硬く、粒径が100〜150μm程度のものを用い
るのが好ましい。特に粒径が100〜150μmのダイ
ヤモンド砥粒を用いるのが望ましい。
状を整形するドレッシングプレート22を示す。図3
(a)はドレッシングプレート22の正面図を、図3
(b)はドレッシングプレート22の側面図を表してい
る。ドレッシングプレート22は、ステンレス等の金属
またはセラミックスよりなる円板状の基板部材の表面に
ダイヤモンド粒等の砥粒を電着などの方法で固定したも
の、或いは砥粒を樹脂やガラスまたは鋳鉄等の金属でボ
ンディングして円板状に形成したものである。ここで、
基板部材として金属製のプレートを用いた場合は、メタ
ル汚染防止のために表面をポリテトラフルオロエチレン
などのフッ素系樹脂でコーティングすると良い。砥粒と
しては、被整形物である研磨具5と同等もしくはそれよ
りも硬く、粒径が100〜150μm程度のものを用い
るのが好ましい。特に粒径が100〜150μmのダイ
ヤモンド砥粒を用いるのが望ましい。
【0031】ドレッシングプレート22は、ウェーハ1
0を吸着させる吸着面11に真空吸着させて、研磨具5
と摺動させることにより研磨具5の表面を整形するもの
である。したがって、ドレッシングプレート22はウェ
ーハ10と同じ軌道を通ることになる。このように、ド
レッシングプレート22は研磨具5に対してウェーハ1
0が描く軌跡と同じ軌道を通って研磨具5を整形するた
め、ドレッシングプレート22の寸法形状としては、被
研磨物であるウェーハ10と同様の寸法形状を有するも
のが好適に使用される。本実施の形態においては、ウェ
ーハ10と同様な形状寸法をなす、直径が約200mm
で、厚さが約2mmの円板状のドレッシングプレート2
2を用いているが、ウェーハ10の直径以上の直径を有
するドレッシングプレートであれば使用可能であること
は言うまでもない。
0を吸着させる吸着面11に真空吸着させて、研磨具5
と摺動させることにより研磨具5の表面を整形するもの
である。したがって、ドレッシングプレート22はウェ
ーハ10と同じ軌道を通ることになる。このように、ド
レッシングプレート22は研磨具5に対してウェーハ1
0が描く軌跡と同じ軌道を通って研磨具5を整形するた
め、ドレッシングプレート22の寸法形状としては、被
研磨物であるウェーハ10と同様の寸法形状を有するも
のが好適に使用される。本実施の形態においては、ウェ
ーハ10と同様な形状寸法をなす、直径が約200mm
で、厚さが約2mmの円板状のドレッシングプレート2
2を用いているが、ウェーハ10の直径以上の直径を有
するドレッシングプレートであれば使用可能であること
は言うまでもない。
【0032】図4は、上記ドレッシングプレート22を
研磨ヘッド2に取り付ける様子を示す、ドレッシングプ
レート22及び研磨ヘッド2の縦断面図である。まず、
研磨ヘッド2の下にドレッシングプレート22を配置す
る。このときドレッシングプレート22は、研磨具5を
研削するための研削面を下に向けた状態で配置する。そ
して、ドレッシングプレート22の背面を吸着面11に
対向させた状態で、ウェーハ10の吸着固定と同様の要
領で不図示の真空吸引ポンプにより吸引管19を真空引
きすることにより、ドレッシングプレート22を吸着面
11に吸着固定させる。
研磨ヘッド2に取り付ける様子を示す、ドレッシングプ
レート22及び研磨ヘッド2の縦断面図である。まず、
研磨ヘッド2の下にドレッシングプレート22を配置す
る。このときドレッシングプレート22は、研磨具5を
研削するための研削面を下に向けた状態で配置する。そ
して、ドレッシングプレート22の背面を吸着面11に
対向させた状態で、ウェーハ10の吸着固定と同様の要
領で不図示の真空吸引ポンプにより吸引管19を真空引
きすることにより、ドレッシングプレート22を吸着面
11に吸着固定させる。
【0033】ドレッシングプレート22が研磨具5を整
形する際に発生する摩擦力は、研磨具5がウェーハ10
を研磨する際に発生する摩擦力よりも大きくなることが
考えられるため、真空吸引ポンプによる吸引力はウェー
ハ研磨時よりも大出力に設定しておくことが好ましい。
形する際に発生する摩擦力は、研磨具5がウェーハ10
を研磨する際に発生する摩擦力よりも大きくなることが
考えられるため、真空吸引ポンプによる吸引力はウェー
ハ研磨時よりも大出力に設定しておくことが好ましい。
【0034】また、研磨具5の整形時にはリテーナ21
は特に必要でないため、リテーナ21をチャックプレー
ト9から取り外して使用してもよい。このようにリテー
ナ21を取り外すことにより、ドレッシングプレート2
2として、ウェーハ10の直径よりも大きな直径を有す
るものが使用可能になる。特に研磨具5は、ウェーハ1
0が接触する範囲およびリテーナ21が接触可能な範囲
が平坦であることが要求されるため、ドレッシングプレ
ート22はリテーナ21の直径と同じまたはそれ以上の
直径を有するものを使用するのが特に望ましい。
は特に必要でないため、リテーナ21をチャックプレー
ト9から取り外して使用してもよい。このようにリテー
ナ21を取り外すことにより、ドレッシングプレート2
2として、ウェーハ10の直径よりも大きな直径を有す
るものが使用可能になる。特に研磨具5は、ウェーハ1
0が接触する範囲およびリテーナ21が接触可能な範囲
が平坦であることが要求されるため、ドレッシングプレ
ート22はリテーナ21の直径と同じまたはそれ以上の
直径を有するものを使用するのが特に望ましい。
【0035】ドレッシングプレート22によって研磨具
5の表面を研削し平坦化を図ることにより、新品の研磨
具5の表面に発生している初期のうねりや、個々の研磨
装置特有の機械的な癖(誤差)による研磨具5とウェー
ハ10の被研磨面との平行バランスのずれ等を除去する
ことができる。その結果、ウェーハ10の被研磨面を高
精度に均一に平坦化することができ、良品のウェーハを
得ることができる。また、ドレッシングプレート22に
よるドレッシングの際には、研磨具5の表面を削り取る
ため、研磨具5表面に詰まった切粉の除去及び砥粒の自
生発刃が行われ、研磨具5の目立ても同時に行われる。
5の表面を研削し平坦化を図ることにより、新品の研磨
具5の表面に発生している初期のうねりや、個々の研磨
装置特有の機械的な癖(誤差)による研磨具5とウェー
ハ10の被研磨面との平行バランスのずれ等を除去する
ことができる。その結果、ウェーハ10の被研磨面を高
精度に均一に平坦化することができ、良品のウェーハを
得ることができる。また、ドレッシングプレート22に
よるドレッシングの際には、研磨具5の表面を削り取る
ため、研磨具5表面に詰まった切粉の除去及び砥粒の自
生発刃が行われ、研磨具5の目立ても同時に行われる。
【0036】次に、図3(c)および(d)に、研磨具
5の表面を目立てするシーズニングプレート23を示
す。図(c)はシーズニングプレート23の正面図を、
図3(d)はシーズニングプレート23の側面図を表し
ている。シーズニングプレート23は、ステンレス等の
金属またはセラミックスよりなる円板状をなす。シーズ
ニングプレート23もドレッシングプレート22と同様
に、吸着面11に真空吸着させて研磨具5と摺動させる
ことにより、研磨具5の表面をならすものである。
5の表面を目立てするシーズニングプレート23を示
す。図(c)はシーズニングプレート23の正面図を、
図3(d)はシーズニングプレート23の側面図を表し
ている。シーズニングプレート23は、ステンレス等の
金属またはセラミックスよりなる円板状をなす。シーズ
ニングプレート23もドレッシングプレート22と同様
に、吸着面11に真空吸着させて研磨具5と摺動させる
ことにより、研磨具5の表面をならすものである。
【0037】このように、シーズニングプレート23も
研磨具5に対してウェーハ10が描く軌跡と同じ軌道を
通って研磨具5表面をならすものであるため、シーズニ
ングプレート23の寸法形状としては、被研磨物である
ウェーハ10と同様の寸法形状を有するものが最も好適
に使用される。本実施の形態においては、ウェーハ10
と同様な形状寸法をなす、直径が約200mmで、厚さ
が約2mmの円板状のシーズニングプレート23を用い
ているが、ウェーハ10の直径以上の直径を有するシー
ズニングプレートであれば使用可能であることは言うま
でもない。
研磨具5に対してウェーハ10が描く軌跡と同じ軌道を
通って研磨具5表面をならすものであるため、シーズニ
ングプレート23の寸法形状としては、被研磨物である
ウェーハ10と同様の寸法形状を有するものが最も好適
に使用される。本実施の形態においては、ウェーハ10
と同様な形状寸法をなす、直径が約200mmで、厚さ
が約2mmの円板状のシーズニングプレート23を用い
ているが、ウェーハ10の直径以上の直径を有するシー
ズニングプレートであれば使用可能であることは言うま
でもない。
【0038】図5は、上記シーズニングプレート23を
研磨ヘッド2に取り付ける様子を示す、シーズニングプ
レート23及び研磨ヘッド2の縦断面図である。まず、
研磨ヘッド2の下にシーズニングプレート23を配置す
る。このときシーズニングプレート23は、研磨具5を
ならすための研削面を下に向けた状態で配置する。そし
て、シーズニングプレート23の背面を吸着面11に対
向させた状態で、ウェーハ10の吸着固定と同様の要領
で不図示の真空吸引ポンプにより吸引管19を真空引き
することにより、シーズニングプレート23を吸着面1
1に吸着固定させる。
研磨ヘッド2に取り付ける様子を示す、シーズニングプ
レート23及び研磨ヘッド2の縦断面図である。まず、
研磨ヘッド2の下にシーズニングプレート23を配置す
る。このときシーズニングプレート23は、研磨具5を
ならすための研削面を下に向けた状態で配置する。そし
て、シーズニングプレート23の背面を吸着面11に対
向させた状態で、ウェーハ10の吸着固定と同様の要領
で不図示の真空吸引ポンプにより吸引管19を真空引き
することにより、シーズニングプレート23を吸着面1
1に吸着固定させる。
【0039】ドレッシングプレート22によって整形さ
れた研磨具5の表面を更にシーズニングプレート23を
用いてならすことにより、研磨具5の表面の平坦度を更
に向上させることができる。その結果、ウェーハ10の
被研磨面を一層高精度に平坦化することができ、良品の
ウェーハを得ることができる。また、シーズニングプレ
ート23によるシーズニングの際には、研磨具5表面に
詰まった切粉の除去及び砥粒の自生発刃が行われ、研磨
具5の目立ても同時に行われる。本発明のシーズニング
プレート23によれば、従来技術のようにウェーハの被
研磨面に傷を付けることなく、研磨具をシーズニングす
ることができる。
れた研磨具5の表面を更にシーズニングプレート23を
用いてならすことにより、研磨具5の表面の平坦度を更
に向上させることができる。その結果、ウェーハ10の
被研磨面を一層高精度に平坦化することができ、良品の
ウェーハを得ることができる。また、シーズニングプレ
ート23によるシーズニングの際には、研磨具5表面に
詰まった切粉の除去及び砥粒の自生発刃が行われ、研磨
具5の目立ても同時に行われる。本発明のシーズニング
プレート23によれば、従来技術のようにウェーハの被
研磨面に傷を付けることなく、研磨具をシーズニングす
ることができる。
【0040】図1に示すように、スラリノズル3は研磨
具5とウェーハ10との接触部に向けて供給口24が向
けられており、研磨具5とウェーハ10の間に研磨液で
あるスラリ25を供給する。
具5とウェーハ10との接触部に向けて供給口24が向
けられており、研磨具5とウェーハ10の間に研磨液で
あるスラリ25を供給する。
【0041】次に、本発明の研磨装置の動作について説
明する。図1に示すように、研磨装置は回転する研磨定
盤1にスラリノズル3よりスラリ25を供給し、ウェー
ハ10を真空吸着した研磨ヘッド2を回転させながら研
磨具5に接触・加圧させることにより、ウェーハ10の
下面を研磨する。研磨条件の一例としては、直径200
mmのウェーハ27を研磨する場合に、研磨定盤1の回
転数を60rpm、研磨ヘッド2の回転数を60rp
m、研磨荷重を300g/cm2、研磨代を約2.5μ
mに設定して研磨することが好ましい。
明する。図1に示すように、研磨装置は回転する研磨定
盤1にスラリノズル3よりスラリ25を供給し、ウェー
ハ10を真空吸着した研磨ヘッド2を回転させながら研
磨具5に接触・加圧させることにより、ウェーハ10の
下面を研磨する。研磨条件の一例としては、直径200
mmのウェーハ27を研磨する場合に、研磨定盤1の回
転数を60rpm、研磨ヘッド2の回転数を60rp
m、研磨荷重を300g/cm2、研磨代を約2.5μ
mに設定して研磨することが好ましい。
【0042】上記のようにして複数枚のウェーハ10の
研磨処理を行ったら、今度は、チャックプレート9の吸
着面11にウェーハ10ではなく、ドレッシングプレー
ト22を吸着固定させる。そして、ウェーハ10を研磨
するときと同様の要領でドレッシングプレート22を自
転させながら回転する研磨具5の表面に接触・加圧させ
ることにより、研磨具5の整形および目立てを行う。こ
のときのドレッシングの条件としては、研磨定盤1の回
転数を60rpm、研磨ヘッド2の回転数を60rp
m、研磨荷重を50g/cm2、研磨代を約50μmに
設定してドレッシングを行うことが好ましい。
研磨処理を行ったら、今度は、チャックプレート9の吸
着面11にウェーハ10ではなく、ドレッシングプレー
ト22を吸着固定させる。そして、ウェーハ10を研磨
するときと同様の要領でドレッシングプレート22を自
転させながら回転する研磨具5の表面に接触・加圧させ
ることにより、研磨具5の整形および目立てを行う。こ
のときのドレッシングの条件としては、研磨定盤1の回
転数を60rpm、研磨ヘッド2の回転数を60rp
m、研磨荷重を50g/cm2、研磨代を約50μmに
設定してドレッシングを行うことが好ましい。
【0043】上記のようにして研磨具5の表面のドレッ
シングが終了したら、ドレッシングプレート22をチャ
ックプレート9から取り外し、今度はシーズニングプレ
ート23を吸着面11に真空吸着させる。そして、ウェ
ーハ10を研磨するときと同様の要領でシーズニングプ
レート23を自転させながら回転する研磨具5の表面に
接触・加圧させることにより、研磨具5のシーズニング
を行う。このときのシーズニングの条件としては、研磨
定盤1の回転数を60rpm、研磨ヘッド2の回転数を
60rpm、研磨荷重を300g/cm2、研磨代を約
5μm以下に設定してシーズニングを行うことが好まし
い。
シングが終了したら、ドレッシングプレート22をチャ
ックプレート9から取り外し、今度はシーズニングプレ
ート23を吸着面11に真空吸着させる。そして、ウェ
ーハ10を研磨するときと同様の要領でシーズニングプ
レート23を自転させながら回転する研磨具5の表面に
接触・加圧させることにより、研磨具5のシーズニング
を行う。このときのシーズニングの条件としては、研磨
定盤1の回転数を60rpm、研磨ヘッド2の回転数を
60rpm、研磨荷重を300g/cm2、研磨代を約
5μm以下に設定してシーズニングを行うことが好まし
い。
【0044】なお、上記の説明では、ドレッシングプレ
ート22により研磨具5を整形した後に連続してシーズ
ニングプレート23によりシーズニングを行う場合につ
いて説明したが、シーズニングは必ずしもドレッシング
と共に行う必要はなく、シーズニング単体でも可能であ
ることは言うまでもない。
ート22により研磨具5を整形した後に連続してシーズ
ニングプレート23によりシーズニングを行う場合につ
いて説明したが、シーズニングは必ずしもドレッシング
と共に行う必要はなく、シーズニング単体でも可能であ
ることは言うまでもない。
【0045】通常、新品の研磨具5は、均一な品質を有
するものとして製造販売されているが、製造元のロット
毎により製品にばらつきが存在することがある。また、
市販されている研磨具5の表面の平坦度が、ウェーハ1
0の研磨に要求される平坦度を満たしていないことが考
えられる。さらに、ユーザ側で使用する研磨装置によっ
ては、研磨具5を研磨定盤1に設置した際に研磨具5の
研磨面にうねりが生じていたり、機械的な癖(誤差)等
によりウェーハと研磨具5の平行度が均一に保てなかっ
たりすることが考えられる。
するものとして製造販売されているが、製造元のロット
毎により製品にばらつきが存在することがある。また、
市販されている研磨具5の表面の平坦度が、ウェーハ1
0の研磨に要求される平坦度を満たしていないことが考
えられる。さらに、ユーザ側で使用する研磨装置によっ
ては、研磨具5を研磨定盤1に設置した際に研磨具5の
研磨面にうねりが生じていたり、機械的な癖(誤差)等
によりウェーハと研磨具5の平行度が均一に保てなかっ
たりすることが考えられる。
【0046】そのため、最も好ましい方法としては、使
用済みの研磨具5を新たな研磨具5に交換したときに、
ドレッシングプレート22によりドレッシングを行う。
新たな研磨具5を研磨定盤1に設置した際に、ドレッシ
ングプレート22を用いて研磨具5の表面をドレッシン
グすることにより、上記のような研磨装置毎の機械的な
誤差等を研磨具5の表面整形で補正することができる。
用済みの研磨具5を新たな研磨具5に交換したときに、
ドレッシングプレート22によりドレッシングを行う。
新たな研磨具5を研磨定盤1に設置した際に、ドレッシ
ングプレート22を用いて研磨具5の表面をドレッシン
グすることにより、上記のような研磨装置毎の機械的な
誤差等を研磨具5の表面整形で補正することができる。
【0047】このように、研磨具5の研磨面のうねり
(研磨定盤1及び研磨具5により生ずるうねり)を除去
することにより、研磨面のうねりに起因する研磨ヘッド
2の揺動を抑えて、ウェーハ10への局所的な偏荷重の
発生を防止することができる。このとき、ドレッシング
プレート22はウェーハ10が研磨具5上を摺動する軌
跡と同じ軌道を描いてドレッシングするため、ウェーハ
10が移動する範囲が適切に平坦化される。
(研磨定盤1及び研磨具5により生ずるうねり)を除去
することにより、研磨面のうねりに起因する研磨ヘッド
2の揺動を抑えて、ウェーハ10への局所的な偏荷重の
発生を防止することができる。このとき、ドレッシング
プレート22はウェーハ10が研磨具5上を摺動する軌
跡と同じ軌道を描いてドレッシングするため、ウェーハ
10が移動する範囲が適切に平坦化される。
【0048】これに対しシーズニングは、所定枚数のウ
ェーハ10を研磨した後、または所定の加工時間が経過
した時点で行う。通常の作業状態においては、研磨装置
を立ち上げた際に1日数回のシーズニングを行えばよ
い。
ェーハ10を研磨した後、または所定の加工時間が経過
した時点で行う。通常の作業状態においては、研磨装置
を立ち上げた際に1日数回のシーズニングを行えばよ
い。
【0049】
【発明の効果】本願発明によれば、ドレッシングプレー
トまたはシーズニングプレートをチャックプレートに真
空吸着させ、研磨具の研磨面のうねり(研磨定盤及び研
磨具により生ずるうねり)を除去することにより、研磨
面のうねりに起因する研磨ヘッドの揺動を抑えて、ウェ
ーハの局所的な偏荷重の発生を防止することができる。
トまたはシーズニングプレートをチャックプレートに真
空吸着させ、研磨具の研磨面のうねり(研磨定盤及び研
磨具により生ずるうねり)を除去することにより、研磨
面のうねりに起因する研磨ヘッドの揺動を抑えて、ウェ
ーハの局所的な偏荷重の発生を防止することができる。
【0050】また本発明よれば、ドレッシングプレート
またはシーズニングプレートはウェーハが研磨具上を摺
動する軌跡と同じ軌道を描くため、ウェーハが移動する
範囲を適切に平坦化することができる。
またはシーズニングプレートはウェーハが研磨具上を摺
動する軌跡と同じ軌道を描くため、ウェーハが移動する
範囲を適切に平坦化することができる。
【図1】本願発明の研磨装置の概略を示す、縦断面図で
ある。
ある。
【図2】本願発明の研磨装置における研磨ヘッドの構造
を示す、縦断面図である。
を示す、縦断面図である。
【図3】図3(a)はドレッシングプレートの正面図、
図3(b)はドレッシングプレートの側面図、図3
(c)はシーズニングプレートの正面図、図3(d)は
シーズニングプレートの側面図である。
図3(b)はドレッシングプレートの側面図、図3
(c)はシーズニングプレートの正面図、図3(d)は
シーズニングプレートの側面図である。
【図4】研磨ヘッドに本願発明のドレッシングプレート
を装着する様子を示す、縦断面図である。
を装着する様子を示す、縦断面図である。
【図5】研磨ヘッドに本願発明のシーズニングプレート
を装着する様子を示す、縦断面図である。
を装着する様子を示す、縦断面図である。
【図6】従来技術の研磨装置を示す縦断面図である。
1…研磨定盤
2…研磨ヘッド
3…スラリノズル
4…定盤回転軸
5…研磨クロス
6…ヘッド回転軸
7…トップリング
8…円環状突起
9…チャックプレート
10…ウェーハ
11…吸着面
12…凹部
13…雌ねじ
14…貫通穴
15…ボルト
16…Oリング
17…空間
18…吸引穴
19…吸引管
20…ポーラスシート
21…リテーナ
22…ドレッシングプレート
23…シーズニングプレート
24…供給口
25…スラリ
50…保持台
51…リテーナ
52…溝
53…吸着部
54…孔
55…真空ライン
56…ウェーハ
57…研磨パッド。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 山本 博昭
神奈川県平塚市四之宮三丁目25番1号 コ
マツ電子金属株式会社内
(72)発明者 石井 明洋
神奈川県平塚市四之宮三丁目25番1号 コ
マツ電子金属株式会社内
Fターム(参考) 3C047 BB01 BB16 EE02 EE11
3C058 AA07 AA14 AA19 AB04 CB02
DA17
Claims (7)
- 【請求項1】被研磨部材を吸引固定する支持機構と、前
記被研磨部材の研磨を行う研磨具と、前記被研磨部材と
前記研磨具を接触させた状態で相対的に移動させる手段
と、を備えた研磨装置において、 前記支持機構に吸引固定されて、前記研磨具を整形また
は目立てする研磨具加工具を備えることを特徴とする研
磨装置。 - 【請求項2】被研磨部材を吸引固定する支持機構と、前
記被研磨部材の研磨を行う研磨具と、前記被研磨部材と
前記研磨具を接触させた状態で相対的に移動させる手段
と、を備えた研磨装置における前記研磨具を整形または
目立てする研磨具加工具であって、 前記支持機構に吸引固定可能な形状を有することを特徴
とする研磨具加工具。 - 【請求項3】前記研磨具加工具は、 金属またはセラミックスよりなる円板状部材の表面に砥
粒を固定したもの、若しくは、砥粒を樹脂やガラスまた
は金属でボンディングして円板状に形成したもの、 または、金属よりなる円板状部材、若しくは、セラミッ
クスよりなる円板状部材、 であることを特徴とする請求項2に記載の研磨具加工
具。 - 【請求項4】被研磨部材を吸引固定する支持機構と、前
記被研磨部材の研磨を行う研磨具と、前記被研磨部材と
前記研磨具を接触させた状態で相対的に移動させる手段
と、を備えた研磨装置における前記研磨具を整形または
目立てする方法であって、 前記研磨具を整形または目立てする研磨具加工具を、前
記支持機構に吸引固定させるステップと、 前記研磨具加工具と前記研磨具を接触させた状態で相対
的に移動させるステップと、 を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項5】被研磨部材を吸引固定する支持機構と、前
記被研磨部材の研磨を行う研磨具と、前記研磨具を設置
する研磨定盤と、前記被研磨部材と前記研磨具を接触さ
せた状態で相対的に移動させる手段と、を備えた研磨装
置における前記研磨具を整形する方法であって、 前記研磨定盤に前記研磨具を設置する設置ステップと、 前記研磨具を整形するドレッシングプレートを、前記支
持機構に吸引固定させる固定ステップと、 前記ドレッシングプレートと前記研磨具を接触させた状
態で相対的に移動させる整形ステップと、 を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項6】前記設置ステップ、前記固定ステップ、前
記整形ステップの後に、 前記研磨具を目立てするシーズニングプレートを、前記
支持機構に吸引固定させるステップと、 前記シーズニングプレートと前記研磨具を接触させた状
態で相対的に移動させるステップと、 を含むことを特徴とする請求項5に記載の方法。 - 【請求項7】少なくともシリコンを含む円板状部材を吸
引固定する支持機構と、前記円板状部材の研磨を行う研
磨具と、前記円板状部材と前記研磨具を接触させた状態
で相対的に移動させる手段と、を備えた研磨装置により
シリコンウェーハを製造する方法であって、 前記研磨具を整形または目立てする研磨具加工具を、前
記支持機構に吸引固定させるステップと、 前記研磨具加工具と前記研磨具を接触させた状態で相対
的に移動させるステップと、 前記円板状部材と前記研磨具を接触させた状態で相対的
に移動させるステップと、 を含むことを特徴とするシリコンウェーハの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001364917A JP2003165048A (ja) | 2001-11-29 | 2001-11-29 | 研磨具の整形方法および研磨装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2001364917A JP2003165048A (ja) | 2001-11-29 | 2001-11-29 | 研磨具の整形方法および研磨装置 |
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---|---|
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ID=19175038
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003165048A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7348276B2 (en) | 2005-03-30 | 2008-03-25 | Fujitsu, Limited | Fabrication process of semiconductor device and polishing method |
KR101383601B1 (ko) * | 2010-01-21 | 2014-04-18 | 주식회사 엘지화학 | 유리판 연마 시스템 |
KR101383602B1 (ko) | 2010-01-21 | 2014-04-18 | 주식회사 엘지화학 | 유리판 연마 시스템 |
KR101477271B1 (ko) * | 2010-01-21 | 2014-12-30 | 주식회사 엘지화학 | 유리판 연마 시스템 및 그 방법 |
CN112975750A (zh) * | 2021-02-08 | 2021-06-18 | 华中科技大学 | 平移式晶圆磨削用砂轮在线修磨装置 |
-
2001
- 2001-11-29 JP JP2001364917A patent/JP2003165048A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7348276B2 (en) | 2005-03-30 | 2008-03-25 | Fujitsu, Limited | Fabrication process of semiconductor device and polishing method |
US7597606B2 (en) | 2005-03-30 | 2009-10-06 | Fujitsu Microelectronics Limited | Fabrication process of semiconductor device and polishing method |
KR101383601B1 (ko) * | 2010-01-21 | 2014-04-18 | 주식회사 엘지화학 | 유리판 연마 시스템 |
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KR101477271B1 (ko) * | 2010-01-21 | 2014-12-30 | 주식회사 엘지화학 | 유리판 연마 시스템 및 그 방법 |
CN112975750A (zh) * | 2021-02-08 | 2021-06-18 | 华中科技大学 | 平移式晶圆磨削用砂轮在线修磨装置 |
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