JP2003149784A - パターンデータ検証装置、パターンデータ検証方法、プログラム及び記録媒体 - Google Patents
パターンデータ検証装置、パターンデータ検証方法、プログラム及び記録媒体Info
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- JP2003149784A JP2003149784A JP2001343560A JP2001343560A JP2003149784A JP 2003149784 A JP2003149784 A JP 2003149784A JP 2001343560 A JP2001343560 A JP 2001343560A JP 2001343560 A JP2001343560 A JP 2001343560A JP 2003149784 A JP2003149784 A JP 2003149784A
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Abstract
理モデルに従って高精度に行うとともに、計算量を最小
限に抑える。 【解決手段】 リソグラフィーに用いるパターンの設計
データを加工して得られた描画データのパターン精度を
検証する装置であって、前記設計データ及び前記描画デ
ータが入力される入力手段20と、前記設計データの縁
に複数の評価点を発生させる評価点発生手段21と、前
記評価点のそれぞれにおいて前記描画データへの露光か
ら生じる蓄積エネルギーの強度を含む所定の値を計算す
る強度計算手段22と、評価点のそれぞれにおいて蓄積
エネルギーの強度を含む所定の値が許容範囲内にあるか
否かを判定する判定手段24と、蓄積エネルギーの強度
を含む所定の値が許容範囲内にない場合には警告データ
を出力する警告データ出力手段26とを備える。
Description
置及びパターン検証方法に関し、特に近接効果補正など
の方法によって補正された半導体回路パターンなどの微
細パターンを検証する方法に関する。
晶表示素子)等の高精度かつ微細なデバイスの製造に
は、光、電子ビーム等を用いたパターン描画技術(リソ
グラフィー技術)が必須とされている。このような描画
技術を用いて微細パターンを描画する場合、描画後の転
写パターンを設計データ上の所望のパターンと同等の精
度で形成するため、物理的なモデルに従った近接効果補
正が行われている。
画後の転写パターンが設計パターンと同等の精度となる
ように、設計パターンデータに対して光の回折、干渉等
の現象を考慮した光近接効果補正により図形変形を行
う。そして、図形変形処理後のパターンデータを元にレ
チクルマスクを作成し、レジストへのパターン転写を行
う。
ビームなどを用いた方式では、電子ビームの広がりの物
理モデルを考慮した近接効果補正処理により、露光量補
正、図形変更を行い、補正、変更を行ったパターンデー
タを用いて試料に直接パターンを焼き付ける方法が採ら
れている。また、電子ビームリソグラフィーのうち一括
転写法などマスクを使用する方法では、近接効果補正に
より図形変更を行ったパターンを用いてマスクを作成
し、電子ビーム露光によって試料上にマスクパターンを
一括転写している。
が用いられる。この露光強度関数はエッチングパラメー
タ、装置パラメータ等のパラメータを含む場合もある。
の検査、検証は、最終的にパターン形成を行った状態で
SEM観察により行うことができる。しかし、チップ全
体の検査のためには膨大な時間を要すること、補正が適
正でない場合にマスクを再作成すると膨大なコストがか
かること等を考慮すると、補正処理を行ったデータの段
階で補正の効果を確認することが望ましい。
ールベースの検査ツールにより元データと図形変更後の
データを比較し、図形の変更量があらかじめパターン毎
に決められた範囲を逸脱していないか検証することによ
って補正の適否を判断していた。
ション技術においては、図12(a)に示すように設計
データ(元データ)101の局所的な領域を小さなメッ
シュ、若しくはピクセルと呼ばれる領域に分割し、それ
ぞれのピクセルにおける蓄積エネルギーを物理モデルに
基くシミュレーションにより計算していた。そして、図
12(b)に示すように蓄積エネルギーの等高線102
と設計データ101の図形とを比較することにより、補
正が正しく行われているか否かを判断していた。
たルールベースの検証方法は、計算量が比較的少ないた
めチップ全体の検査が可能であるが、正確な検証を行う
ことができなかった。また、蓄積エネルギーを物理モデ
ルに基づいて計算する方法は、正確な検証が可能である
が、その反面、計算量が膨大になるという問題があっ
た。
プ全体を検査して違反領域を抽出した後、蓄積エネルギ
ーを計算する方法を用いて違反領域に対してより正確な
シミュレーションを行うことで、それぞれの方法の欠点
を補うようにしていた。
タ検証の効率が検査を行う技術者の習熟度に依存するこ
ととなり、検証の精度、確実性を維持することが困難と
なっていた。また、シミュレーション結果を加工して結
果を判断する際にも多数の工数を要するという問題が生
じていた。
ータ全体をシミュレーションしてデータ検証を行うこと
も原理的には可能であるが、膨大な時間を要するために
現実的な方法ではなかった。
めになされたものであり、チップ全体のパターン精度の
検証を物理モデルに従って高精度に行うとともに、計算
量を最小限に抑えることを目的とする。
タ検証装置は、リソグラフィーに用いるパターンの設計
データを加工して得られた描画データのパターン精度を
検証する装置であって、前記設計データ及び前記描画デ
ータが入力される入力手段と、前記設計データの縁に複
数の評価点を発生させる評価点発生手段と、前記評価点
のそれぞれにおいて、前記描画データへの露光から生じ
る蓄積エネルギーの強度を含む所定の値を計算する蓄積
エネルギー計算手段と、前記評価点のそれぞれにおいて
前記蓄積エネルギーの強度を含む所定の値が許容範囲内
にあるか否かを判定する判定手段と、前記蓄積エネルギ
ーの強度を含む所定の値が前記許容範囲内にない場合に
は警告データを出力する警告データ出力手段とを備えた
ものである。
定の値は、前記評価点における前記蓄積エネルギーの変
化率を含むものである。
記評価点における前記蓄積エネルギーの強度と前記評価
点の近傍における前記蓄積エネルギーの強度との差分か
ら前記変化率を求めるものである。
記評価点での蓄積エネルギー変化率関数から前記変化率
を求めるものである。
記評価点における蓄積エネルギーと基準エネルギーとの
差分及び前記評価点における前記蓄積エネルギーの変化
率から、前記蓄積エネルギーの強度の分布の予測頂点を
求めるものである。
容範囲を逸脱する評価点及び前記許容範囲を逸脱する評
価点と隣接し前記許容範囲を満たす評価点によって囲ま
れる図形からなる警告図形を出力するものである。
告図形が三角形であり一定の面積以下である場合には当
該警告図形を出力しないものである。
は、リソグラフィーに用いるパターンの設計データを加
工して得られた描画データのパターン精度を検証する方
法であって、前記設計データ及び前記描画データを入力
するステップと、前記設計データの縁に複数の評価点を
発生させるステップと、前記評価点のそれぞれにおい
て、前記描画データへの露光から生じる蓄積エネルギー
の強度を含む所定の値を計算するステップと、前記評価
点のそれぞれにおいて前記蓄積エネルギーの強度を含む
所定の値が前記許容範囲内にあるか否かを判定するステ
ップと、前記蓄積エネルギーの強度を含む所定の値が許
容範囲内にない場合には警告データを出力するステップ
とを備えたものである。
定の値は、前記評価点における前記蓄積エネルギーの変
化率を含むものである。
定の値を計算するステップにおいて、前記評価点におけ
る前記蓄積エネルギーの強度と前記評価点の近傍におけ
る前記蓄積エネルギーの強度との差分から前記変化率を
求めるものである。
定の値を計算するステップにおいて、前記評価点での蓄
積エネルギー変化率関数から前記変化率を求めるもので
ある。
定の値を計算するステップにおいて、前記評価点におけ
る蓄積エネルギーと基準エネルギーとの差分及び前記評
価点における前記蓄積エネルギーの変化率から、前記蓄
積エネルギーの強度の分布の予測頂点を求めるものであ
る。
において、前記許容範囲を逸脱する評価点及び前記許容
範囲を逸脱する評価点と隣接し前記許容範囲を満たす評
価点によって囲まれる図形からなる警告図形を出力する
ものである。
において、前記警告図形が三角形であり一定の面積以下
である場合には当該警告図形を出力しないものである。
フィーに用いるパターンの設計データを加工して得られ
た描画データのパターン精度を検証するプログラムであ
って、コンピュータを、前記設計データ及び前記描画デ
ータが入力される入力手段、前記設計データの縁に複数
の評価点を発生させる評価点発生手段、前記評価点のそ
れぞれにおいて、前記描画データへの露光から生じる蓄
積エネルギーの強度を含む所定の値を計算する蓄積エネ
ルギー計算手段、前記評価点のそれぞれにおいて前記蓄
積エネルギーの強度を含む所定の値が許容範囲内にある
か否かを判定する判定手段、前記蓄積エネルギーの強度
を含む所定の値が前記許容範囲内にない場合には警告デ
ータを出力する警告データ出力手段、として機能させる
ものである。
フィーに用いるパターンの設計データを加工して得られ
た描画データのパターン精度を検証するプログラムであ
って、コンピュータを、前記設計データ及び前記描画デ
ータが入力される入力手段、前記設計データの縁に複数
の評価点を発生させる評価点発生手段、前記評価点のそ
れぞれにおいて前記描画データへの露光から生じる蓄積
エネルギーの強度を含む所定の値を計算する蓄積エネル
ギー計算手段、として機能させるものである。
フィーに用いるパターンの設計データを加工して得られ
た描画データのパターン精度を検証するプログラムであ
って、コンピュータを、前記設計データの縁に発生させ
た複数の評価点のそれぞれにおいて前記描画データへの
露光から生じる蓄積エネルギーの強度を含む所定の値が
許容範囲内にあるか否かを判定する判定手段、前記蓄積
エネルギーの強度を含む値が前記許容範囲内にない場合
には警告データを出力する警告データ出力手段、として
機能させるものである。
グラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
である。
かかるパターン検証方法の概要を示す模式図である。こ
の実施の形態の検証方法は、パターン外周上およびその
近傍に複数設けた評価点における蓄積エネルギー強度と
その変化率を用いることで、高精度な描画データ検証を
行うものである。この検証は、設計データ1と、設計デ
ータ1から近接効果補正などの方法によって求めた描画
データ2を比較することによって行う。検証の処理は例
えば図1に示すようなデータ検証プログラム5によって
行う。検証の際には、ユーザから与えられた検索条件が
格納された検証条件ファイル4が用いられる。
ように、データ検証プログラム5を用いて、ステップS
1で設計データ1内のパターン外周上に評価点を発生さ
せる。次のステップS2では、評価点上での蓄積エネル
ギーの強度、エネルギー強度変化率の計算を行う。強度
計算は、描画データ2のパターン情報を参照して行う。
そして、ステップS3では、蓄積エネルギーが判定条件
を満たしているか否かを判定し、判定条件を満たしてい
ない評価点に関して警告データ3を発生させる。
納をGDS2データ6に格納した例を示す模式図であ
る。元となる設計データ1から、図形の結合分割や、図
形補正や露光量補正などの処理を経て、描画データ2が
作成される。そして、図2に示すように描画データ2は
元の設計データ1と同じGDS2データ6の未使用層に
格納される。
2データは、例えばデータ検証プログラム5によって動
作するコンピュータに入力される。そして、ステップS
1で設計データ1内の図形の外周上に評価点を発生させ
る。ステップS2では、評価点での蓄積エネルギー強
度、変化率を計算する。そして、ステップS3では、蓄
積エネルギーが判定条件を満たしているか否かを判定
し、判定条件を逸脱する部分について警告データ3(警
告図形)を発生させる。警告データ3はGDS2データ
6の未使用層に書き込まれる。
せる間隔、蓄積エネルギー計算のモデルパラメータ、判
定条件等が、あらかじめ検証者によって記述されてい
る。警告データ3の警告図形は後にレイアウトエディタ
等を用いて閲覧することができ、違反個所の特定が可能
である。
を処理するためのパターン検証装置の機能構成を示すブ
ロック図である。図1及び図2に示す設計データ1、描
画データ2、GDS2データ、検索条件ファイル4など
の入力データは、図3の入力手段20へ入力される。評
価点発生手段21では、設計データ1上に評価点を発生
させる。強度計算手段22は各評価点において蓄積エネ
ルギーの強度及び変化率を計算する。蓄積エネルギーな
どの計算の際にはメモリ23に格納された所定のデータ
が使用される。
度、変化率に基づいて、各評価点のそれぞれが所定の判
定条件を満たしているか否かを判定する。判定の際に
は、メモリ25に格納された所定のデータが使用され
る。
よって判定された結果に基づいて、判定条件を満たして
いない場合に警告データを出力する。
ン検証の処理手順を示すフローチャートである。先ず、
ステップS11では、設計データ1、描画データ2がデ
ータ検証プログラムによって動作するコンピュータなど
の端末へ入力される。次のステップS12では、設計デ
ータに評価点を発生させる。次のステップS13では、
各評価点毎に蓄積エネルギー強度、蓄積エネルギー変化
率の計算を行う。
ルギー強度、変化率が判定条件を満たしているか否かを
判定する。判定条件を満たしている場合にはステップS
15へ進み、警告データ3は出力しない。一方、判定条
件を満たしていない場合にはステップS16へ進み、警
告データ3を出力する。
生方法の手順の一例を示す模式図である。図5(a)に
示す元の設計データ1の図形に評価点7を発生させる場
合、先ず、図5(b)に示すように元の設計データ1の
図形の各辺の中点に評価点7を発生させる。次に、評価
点7を発生させた中点を起点として、図5(c)に示す
ように検証条件ファイル4おいて指定された間隔Δで評
価点7を発生させる。そして、図5(d)に示すよう
に、評価点7が未だに発生されていない角(頂点)上に
評価点7を発生させる。評価点7を発生させる間隔Δは
検証者が任意に決定できるが、例えば、100nmルー
ルで設計されたデータに関しては、その1/10以下の
値である10nm以下にデルタの値を設定することが望
ましい。これにより、各評価点7での検証を高精度に行
うことができる。
れにおいて蓄積エネルギーを計算する。図6及び図7
は、図4のステップS13において各評価点7の蓄積エ
ネルギー強度を計算する方法の一例を示す模式図であ
る。ここでは、電子ビームリソグラフィーの場合につい
て説明する。シリコン基板上に塗布したレジストのある
一点(x’,y’)に入射した電子ビームによる、別の
点(x,y)における露光強度は、次式(1)に示すよ
うなダブルガウス型の分布関数で近似される。
主に電子のレジスト中での散乱に起因する電子の広がり
によるもので前方散乱項と呼ばれる。前方散乱項の係数
を除いた指数関数の項が1/eとなるのは(x−x’)
2+(y−y’)2=βfのときであり、前方散乱項は
中心からの径(距離)βfにより影響の及ぶ範囲が特徴
付けられる。第2項目のガウス分布関数は、主にレジス
トからシリコン基板に入射した電子が基板中での散乱を
経て再びレジストに戻ってきたことに起因する電子の広
がりであって後方散乱項と呼ばれる。後方散乱項の係数
を除いた指数関数の項が1/eとなるのは(x−x’)
2+(y−y’)2=βbのときであり、後方散乱項は
中心からの径(距離)βbにより影響の及ぶ範囲が特徴
付けられる。
の比率であり、1/(1+η)により全体が規格化され
ている。エネルギー100keVの電子ビーム場合、例
えばβf=5nm、βb=30μm、η=0.5程度の
値を用いる。また、βfの代わりにビームボケの影響を
含んだ以下のβf’を用いてもよい。
差、クーロン効果等に起因するビームボケを示してい
る。クーロン効果は装置で設定するビーム電流、電流密
度に依存し、パターン配置にも依存するので、これらを
考慮に入れて、ビームボケδ、βf’を適宜見積もりな
がら、強度計算に式(1)の関数を用いる。βf’の値
としては例えば50nm程度の値が適当である。
を計算する方法を示す模式図である。このように、近接
効果補正済みの描画データ2を参照し、式(1)を用い
て描画データ2へ入射した電子ビームによる設計データ
1上の評価点7上の蓄積エネルギー強度を計算する。
ための式であり、一般には近似の精度を向上させるため
に、さらに多くのガウス分布関数の線形和を用いること
もある。この場合の一般化された露光強度分布関数は以
下の式(2)で表される。
囲を特徴付ける量であり、giはそれぞれの項の比率を
示している。ここで、図7に示すように、評価点7(座
標(x,y))における、ある矩形パターンPからの影
響は,式(2)の各項を、以下の式(3)に示されるよ
うに、x’,y’について(x1,p,y1,p)から
(x2,p,y2,p)まで積分して和をとればよい。
全ての描画パターン2について先に和を計算した後に、
各項の和を計算すると、次式(4)のようなる。
量補正が行われている場合の露光量係数であり、露光量
が全てのパターンに対して均一の場合はdp=1であ
る。iについての和は、近似に用いたガウス分布関数の
項数だけ計算する。pについての和は、例えば、描画パ
ターン2の頂点の少なくとも一点と評価点との距離が3
βi以内であるもの、または、少なくとも一つの頂点の
x,y座標と評価点のx,y座標の差が3βi以内であ
るものについて計算する。
影響の範囲を考慮し和を取り込む範囲を決めることで計
算量を減らすことができる。例えば上述したダブルガウ
ス型の露光強度関数を用いる場合、βbを30nmとす
ると後方散乱項の和の取り込み範囲は3×βb=90μ
mであるのに対し、βf’を50nmとすると前方散乱
項に対する取り込み範囲は150nmである。ここで
は、取り込み範囲を3β i以内としたが、それ以上、例
えば5βi程度まで拡げてもよい。ただし、5β i程度
以上の範囲、例えば10βiまで拡げても精度向上の度
合いは小さい。評価点7は元の設計パターン1の辺上に
存在し、影響の取り込みは近接効果補正済みの描画パタ
ーン2に対して行う。
の計算方法を示す模式図である。この実施の形態では、
上述の計算から求めた評価点7での蓄積エネルギー強度
E(x,y)と、そこでの強度変化率dE(x,y)/
dx、dE(x,y)/dyを用いて、以下の式
(5),(6),(7)に基づいて第1の判定を行う。
で、式(1),(2)が規格化された関数であるから、
0<Eth<1であり、例えばEthは0.4程度の値
である。δx,δyは評価点7での強度ずれと変化率か
ら見積もった予測頂点ずれである。第1の判定では、こ
の予測頂点ずれδx,δyが許容誤差以下であるか否か
に基づいて判定を行う。δx,δyがδ1以下であれば
第1の判定条件は満たされる。δ1は評価者が指定した
許容誤差であり、例えば2nm程度の値である。
の他に、予め評価者が指定した露光強度変動パラメータ
kと強度変化率dE(x,y)/dx、dE(x,y)
/dyを用いて、以下の式(8),(9),(10)に
より第2の判定を行う。
δyは、強度変化率と露光量変動量から見積もった予測
頂点ずれである。k・Ethは露光量変動量であって、
例えばワーストケースで±5%の露光量変動が予測され
る場合、k=0.05とする。δ2は評価者が指定した
許容誤差であり、例えば10nm等である。
ー強度変化率dE(x,y)/dx、dE(x,y)/
dyは、図8に示すように評価点7からΔx、Δyだけ
離れた4つの点15のエネルギーを用いて求める。この
Δx、Δyの値は、データ検証者によって検証条件ファ
イル4から指定されるものであるが、Δx、Δyの大き
さを評価点の発生間隔Δと同じ大きさにし、隣の評価点
7と変化率を計算する点とを重複させることにより計算
量を格段に低減させることが可能である。
(x,y)/dx、dE(x,y)/dyは、蓄積エネ
ルギー変化率関数から求めることができる。蓄積エネル
ギー変化率関数は式(3),(4)を微分することによ
って求めることができる。
る2点のエネルギーから蓄積エネルギー強度変化率を求
める方法を示す模式図である。このように、(E(x+
Δx,y)−E(x,y))/Δx、又は(E(x+Δ
x,y)−E(x−Δx,y))/Δxから蓄積エネル
ギー強度変化率dE(x,y)/dxを求めることがで
きる。そして、図9に示すように、式(5),(6)の
基準エネルギーEthと(x,y)における蓄積エネル
ギーとの差、変化率dE(x,y)/dxからδxを求
めることができる。
えても良いし、設計データ1内の最小孤立パターンが設
計寸法通りになるような強度を用いても良い。
における違反部分を検出して警告する方法について説明
する。式(5)〜(10)の判定条件を満たさなかった
評価点7と、判定条件を満たした評価点7のうち判定条
件を満たさなかった評価点7と隣接する評価点7を用い
て警告図形を発生させる。そして、発生させた警告図形
は警告データ3としてGDS2データ6の未使用層に書
き込まれる。図10(a)に示すように、警告データ3
では判定を満たさなかった(NG)評価点7を白丸
(○)で示し、NGである評価点7と隣接する評価点7
のうち判定条件を満たした評価点7を黒丸(●)で示し
ている。そして、これらの白丸の評価点7と黒丸の評価
点7で囲まれた図形が警告データ3の警告図形13とな
る。
て、三角形の面積が評価者によりあらかじめ指定された
許容面積より小さい場合は、例外処理として、図形の出
力を抑止することが望ましい。これは、パターンの角の
部分において、転写されるパターンの丸まりは起こり得
ることであり、描画データチェックの段階で警告を発す
るまでもないことに鑑みたものである。このような、角
部でのわずかな丸まりはデバイス特性に影響を及ぼすこ
とは少なく、許容される場合が多い。
接する評価点7で囲まれる図形8が、四角形以上の多角
形の場合には警告データとしてそのまま出力する。黒丸
の評価点7と白丸の評価点7で囲まれる領域が直線状で
ある場合には、式(5),(6),(8),(9)を用
いて予測頂点座標を求め、図10(a)の警告図形13
aのように、予測頂点で囲まれる図形を出力しても良
い。また、図10(b)に示すように、式(5),
(6)から求めた予測頂点により、描画後のパターン形
状に類似した警告図形14を出力しても良い。
標位置だけを警告データ3のファイルに記録してもよ
い。この場合、後で改めてピクセルベースのシミュレー
ションを行うことも可能である。
の例を示す模式図である。図11の方法は、蓄積エネル
ギーを計算するための強度計算プログラム8と判定プロ
グラム9とを分割したものである。そして、強度計算プ
ログラム8によって計算された蓄積エネルギー強度、変
化率を蓄積エネルギーデータ10のファイルに格納して
いる。これは、強度計算プログラムによる処理結果は描
画データ2、モデルパラメータが変更されない限り再計
算が必要でないのに対し、判定は判定プログラム9によ
る処理結果はEth,kなどの判定パラメータを頻繁に
変更して再度計算することが予測されるからである。こ
れによって、判定条件のみをかえて、再検証する際の計
算時間を大幅に削減することが可能になる。
したようにデータ検証プログラム5、強度計算プログラ
ム8、判定プログラム9により行うことができる。ま
た、DSP等のLSIを用いて実装されたデータ検証処
理ボードなどのハードウェアにより図3の機能ブロック
を構成することもできる。
示のCPUあるいはMPU、ROMおよびRAM等から
なるマイクロコンピュータシステムによって各機能ブロ
ックおよび処理手順を構成し、その動作をROMやRA
Mに格納されたデータ検証プログラム5、強度計算プロ
グラム8、判定プログラム9に従って実現するようにし
てもよい。また、これらのプログラムをコンピュータと
別体とし、コンピュータに設けた装着部にこれらのプロ
グラムが格納されたものを装着することによって実現し
てもよい。
るように当該機能を実現するためのソフトウェアのデー
タ検証プログラム5、強度計算プログラム8、判定プロ
グラム9をシミュレータのRAMに供給し、そのプログ
ラムに従って上記各機能ブロックを動作させることによ
って実施したものもこの発明に含まれる。この場合、上
記ソフトウェアのプログラム自体が上述した各実施形態
の機能を実現することになり、そのプログラム自体、及
びそのプログラムをコンピュータに供給するための手
段、例えばかかるプログラムを格納した記録媒体はこの
発明を構成する。
ば、設計データ1のパターンの外周上に評価点7を発生
させ、各評価点7において蓄積エネルギー強度、変化率
を計算するようにしたため、ピクセルベースのシミュレ
ーションを用いる場合に比べて、大幅に計算時間を短縮
することができる。また、蓄積エネルギーの強度に加え
て、蓄積エネルギーの変化率を用いてシミュレーション
を行うため、評価点7の数が少ない場合であっても、高
精度に検証を行うことが可能である。
ンの欠落、補正処理の精度不足、アルゴリズム欠陥、プ
ログラムバグなどの問題が、パターン転写以前、あるい
は、マスク作成以前に自動的に検査、検証することが可
能となる。
れているので、以下に示すような効果を奏する。
せ、各評価点において蓄積エネルギーの強度などの所定
の値を計算するようにしたため、検証に要する計算時間
を大幅に短縮することができる。
ルギーの変化率を計算するようにしたため、評価点の数
が少ない場合であっても、高精度に検証を行うことが可
能となる。
価点の近傍における蓄積エネルギーの強度との差分を求
めることにより、評価点における蓄積エネルギーの変化
率を求めることが可能となる。
めることにより、蓄積エネルギー変化率関数から蓄積エ
ネルギーの変化率を求めることが可能となる。
ルギーとの差分及び評価点における蓄積エネルギーの変
化率から蓄積エネルギーの予測頂点を求めることによ
り、実際の露光で描かれるパターンの外形を求めること
が可能となる。
と隣接し許容範囲を満たす評価点によって囲まれる警告
図形を出力することにより、設計パターンの不良箇所を
即座に判別することが可能となる。
ある場合には警告図形として出力しないことにより、パ
ターン精度に影響を与えることが少ない角部における警
告図形の出力を抑えて計算時間を短縮することが可能と
なる。
方法の概要を示す模式図である。
ータに格納した例を示す模式図である。
するためのパターン検証装置の機能構成を示すブロック
図である。
理手順を示すフローチャートである。
ある。
法の一例を示す模式図である。
法の一例を示す模式図である。
方法の一例を示す模式図である。
方法の一例を示す模式図である。
である。
模式図である。
である。
タ、 4 検証条件ファイル、 5 データ検証プログ
ラム、 6 GDS2データ、 7 評価点、13,1
4 警告図形、 15 評価点近傍の点、 20 入力
手段、 21 評価点発生手段、 22 強度計算手
段、 23 ,25 メモリ、 24 判定手段、 2
6 警告データ出力手段。
Claims (18)
- 【請求項1】 リソグラフィーに用いるパターンの設計
データを加工して得られた描画データのパターン精度を
検証する装置であって、 前記設計データ及び前記描画データが入力される入力手
段と、 前記設計データの縁に複数の評価点を発生させる評価点
発生手段と、 前記評価点のそれぞれにおいて、前記描画データへの露
光から生じる蓄積エネルギーの強度を含む所定の値を計
算する蓄積エネルギー計算手段と、 前記評価点のそれぞれにおいて前記蓄積エネルギーの強
度を含む所定の値が許容範囲内にあるか否かを判定する
判定手段と、 前記蓄積エネルギーの強度を含む所定の値が前記許容範
囲内にない場合には警告データを出力する警告データ出
力手段とを備えたことを特徴とするパターンデータ検証
装置。 - 【請求項2】 前記蓄積エネルギーの強度を含む所定の
値は、前記評価点における前記蓄積エネルギーの変化率
を含むことを特徴とする請求項1記載のパターンデータ
検証装置。 - 【請求項3】 前記蓄積エネルギー計算手段は、前記評
価点における前記蓄積エネルギーの強度と前記評価点の
近傍における前記蓄積エネルギーの強度との差分から前
記変化率を求めることを特徴とする請求項2記載のパタ
ーンデータ検証装置。 - 【請求項4】 前記蓄積エネルギー計算手段は、前記評
価点での蓄積エネルギー変化率関数から前記変化率を求
めることを特徴とする請求項2記載のパターンデータ検
証装置。 - 【請求項5】 前記蓄積エネルギー計算手段は、前記評
価点における蓄積エネルギーと基準エネルギーとの差分
及び前記評価点における前記蓄積エネルギーの変化率か
ら、前記蓄積エネルギーの強度の分布の予測頂点を求め
ることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のパ
ターンデータ検証装置。 - 【請求項6】 前記警告データ出力手段は、前記許容範
囲を逸脱する評価点及び前記許容範囲を逸脱する評価点
と隣接し前記許容範囲を満たす評価点によって囲まれる
図形からなる警告図形を出力することを特徴とする請求
項1〜5のいずれかに記載のパターンデータ検証装置。 - 【請求項7】 前記警告データ出力手段は、前記警告図
形が三角形であり一定の面積以下である場合には当該警
告図形を出力しないことを特徴とする請求項6記載のパ
ターンデータ検証装置。 - 【請求項8】 リソグラフィーに用いるパターンの設計
データを加工して得られた描画データのパターン精度を
検証する方法であって、 前記設計データ及び前記描画データを入力するステップ
と、 前記設計データの縁に複数の評価点を発生させるステッ
プと、 前記評価点のそれぞれにおいて前記描画データへの露光
から生じる蓄積エネルギーの強度を含む所定の値を計算
するステップと、 前記評価点のそれぞれにおいて前記蓄積エネルギーの強
度を含む所定の値が許容範囲内にあるか否かを判定する
ステップと、 前記蓄積エネルギーの強度を含む所定の値が前記許容範
囲内にない場合には警告データを出力するステップとを
備えたことを特徴とするパターンデータ検証方法。 - 【請求項9】 前記蓄積エネルギーの強度を含む所定の
値は、前記評価点における前記蓄積エネルギーの変化率
を含むことを特徴とする請求項8記載のパターンデータ
検証方法。 - 【請求項10】 前記蓄積エネルギーの強度を含む所定
の値を計算するステップにおいて、前記評価点における
前記蓄積エネルギーの強度と前記評価点の近傍における
前記蓄積エネルギーの強度との差分から前記変化率を求
めることを特徴とする請求項9記載のパターンデータ検
証方法。 - 【請求項11】 前記蓄積エネルギーの強度を含む所定
の値を計算するステップにおいて、前記評価点での蓄積
エネルギー変化率関数から前記変化率を求めることを特
徴とする請求項9記載のパターンデータ検証方法。 - 【請求項12】 前記蓄積エネルギーの強度を含む所定
の値を計算するステップにおいて、前記評価点における
蓄積エネルギーと基準エネルギーとの差分及び前記評価
点における前記蓄積エネルギーの変化率から、前記蓄積
エネルギーの強度の分布の予測頂点を求めることを特徴
とする請求項8〜11のいずれかに記載のパターンデー
タ検証方法。 - 【請求項13】 前記警告データを出力するステップに
おいて、前記許容範囲を逸脱する評価点及び前記許容範
囲を逸脱する評価点と隣接し前記許容範囲を満たす評価
点によって囲まれる図形からなる警告図形を出力するこ
とを特徴とする請求項8〜12のいずれかに記載のパタ
ーンデータ検証方法。 - 【請求項14】 前記警告データを出力するステップに
おいて、前記警告図形が三角形であり一定の面積以下で
ある場合には当該警告図形を出力しないことを特徴とす
る請求項13記載のパターンデータ検証方法。 - 【請求項15】 リソグラフィーに用いるパターンの設
計データを加工して得られた描画データのパターン精度
を検証するプログラムであって、コンピュータを、 前記設計データ及び前記描画データが入力される入力手
段、 前記設計データの縁に複数の評価点を発生させる評価点
発生手段、 前記評価点のそれぞれにおいて、前記描画データへの露
光から生じる蓄積エネルギーの強度を含む所定の値を計
算する蓄積エネルギー計算手段、 前記評価点のそれぞれにおいて、前記蓄積エネルギーの
強度を含む所定の値が許容範囲内にあるか否かを判定す
る判定手段、 前記蓄積エネルギーの強度を含む所定の値が前記許容範
囲内にない場合には警告データを出力する警告データ出
力手段、として機能させるためのプログラム。 - 【請求項16】 リソグラフィーに用いるパターンの設
計データを加工して得られた描画データのパターン精度
を検証するプログラムであって、コンピュータを、 前記設計データ及び前記描画データが入力される入力手
段、 前記設計データの縁に複数の評価点を発生させる評価点
発生手段、 前記評価点のそれぞれにおいて前記描画データへの露光
から生じる蓄積エネルギーの強度を含む所定の値を計算
する蓄積エネルギー計算手段、として機能させるための
プログラム。 - 【請求項17】 リソグラフィーに用いるパターンの設
計データを加工して得られた描画データのパターン精度
を検証するプログラムであって、コンピュータを、 前記設計データの縁に発生させた複数の評価点のそれぞ
れにおいて前記描画データへの露光から生じる蓄積エネ
ルギーの強度を含む所定の値が許容範囲内にあるか否か
を判定する判定手段、 前記蓄積エネルギーの強度を含む値が前記許容範囲内に
ない場合には警告データを出力する警告データ出力手
段、として機能させるためのプログラム。 - 【請求項18】 請求項15〜17のいずれかに記載の
プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録
媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001343560A JP2003149784A (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | パターンデータ検証装置、パターンデータ検証方法、プログラム及び記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001343560A JP2003149784A (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | パターンデータ検証装置、パターンデータ検証方法、プログラム及び記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003149784A true JP2003149784A (ja) | 2003-05-21 |
Family
ID=19157228
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001343560A Pending JP2003149784A (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | パターンデータ検証装置、パターンデータ検証方法、プログラム及び記録媒体 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003149784A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2001
- 2001-11-08 JP JP2001343560A patent/JP2003149784A/ja active Pending
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