JP2003139709A - ホルダ装置 - Google Patents

ホルダ装置

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JP2003139709A
JP2003139709A JP2001339821A JP2001339821A JP2003139709A JP 2003139709 A JP2003139709 A JP 2003139709A JP 2001339821 A JP2001339821 A JP 2001339821A JP 2001339821 A JP2001339821 A JP 2001339821A JP 2003139709 A JP2003139709 A JP 2003139709A
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暢夫 藤崎
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Abstract

(57)【要約】 【課題】マクロ照明付き基板検査装置のサイズの拡大を
最小限に抑え、かつ装置本体内でガラス基板を回転す
る。 【解決手段】水平方向に固定配置されたホルダ本体部1
0と、このホルダ本体部10に対して分離可能で、かつ
ホルダ本体部10に対して収納可能な形状の回転支持部
材14と、ホルダ本体部10からチャック部18が待避
して設けられ、かつホルダ本体部10に収納されている
回転支持部材14に結合してホルダ本体部10から分離
し、この分離した回転支持部材14を回転させる基板回
転機構部16とからなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶ディス
プレイなどのフラットパネルディスプレイ(FPD)の
ガラス基板を保持するホルダ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶ディスプレイのガラス基板に対して
は、マクロ照明を用いてマクロ検査が行われる。このマ
クロ検査は、ガラス基板の面上に観察用照明光を照射
し、ガラス基板面上からの反射光の変化から傷、欠け、
汚れ、ダストの付着などの欠陥部分を目視検出する。
【0003】ガラス基板面上には、例えばライン状や長
方形状のパターンが規則性を持って形成されている。液
晶ディスプレイのガラス基板には、長方形TFTを構成
するパターンとしてリブが形成されている。
【0004】本出願人は、ガラス基板の上方から所定の
角度でマクロ照明光を照射したときに格子状に規則正し
く並んだTFTパターンに対して照明光の入射角度を変
えてガラス基板上の欠陥を観察したところ欠陥の見え方
が変わることを見出した。すなわち、マクロ照明光の入
射方向に対してガラス基板の載置角度を90°に変えて
欠陥の見え方を検討したところ、パターンの法孝が90
°回転することから細長いパターン上の欠陥からの反射
条件が変わることが判った。
【0005】例えば、ガラス基板の配置が、観察用照明
光の照射方向に対して長方形パターンの長辺が垂直の位
置関係にあると、長辺のリブに対して照明方向が直交
し、短辺のリブに対して照明方向が平行になる。
【0006】又、マクロ照明光の照射方向に対して長方
形パターンの短辺が垂直の位置関係にあると、短辺のリ
ブに対して照明方向が直交し、長辺のリブに対して照明
方向が平行になる。
【0007】このように縦横比の異なる短形パターンに
対して照明光の照射方向を90°に変えると、散乱光や
回折光の発生条件が変わるため、このような格子パター
ンに対して照明方向を変えると、見えなかった欠陥が見
えるようになることを本出願人は完証した。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、マクロ
照明付き基板検査装置では、ガラス基板を装置本体内で
90°回転させることは次の理由により実現されていな
い。
【0009】ガラス基板は、ホルダ上に載置されて固定
されている。このホルダにガラス基板を固定したまま、
ガラス基板を回転させるためには、ガラス基板より一回
り大きなホルダとその固定部とを一体に回転させること
が考えられる。
【0010】このため、ホルダの対角線方向の長さが回
転する円周の直径になるため、ガラス基板とホルダとを
回転させたときの旋回径が大きくなり、これに比例して
検査装置本体のサイズも大きくなる。
【0011】又、ホルダ下部からガラス基板を上昇、回
転させる回転装置を設ける場合、回転支持部を透過照明
が可能な枠状のホルダに設けられたガラス基板を水平に
保持するため、支持用桟や、ガラスプレートを装備させ
る必要がある。
【0012】このようにガラス基板を載置して回転させ
る第2の回転支持部を支持用桟やガラスプレートの下方
から昇降させる方式では、第2の回転支持部を装備させ
なければならず、これにより支持用桟やガラスプレート
が分離され、強度が著しく低下する。
【0013】又、ホルダ下部には、透過照明装置が設け
られているため、回転装置のような機構は設けることは
困難であった。
【0014】従って、以上の理由により基板検査装置の
基板ホルダに回転装置を組み込むことは実現されていな
い。
【0015】他の考えとして、基板検査装置に並設され
たガラス基板搬送装置によりガラス基板を90°回転さ
せて再搬送させる方式が考えられる。この場合には、ガ
ラス基板搬送装置のロボットにより検査中のガラス基板
を一旦取り出して基板検査装置外でガラス基板を回転さ
せて後に、再びガラス基板1をマクロ照明付き検査顕微
鏡内に戻すことになり、検査タクトタイムの大きな損失
になる。
【0016】そこで本発明は、マクロ照明付き検査装置
のサイズの拡大を最小限に抑え、かつ装置本体内でガラ
ス基板を回転できるホルダ装置を提供することを目的と
する。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は、水平方向に固
定配置され、標本を載置するホルダ本体と、このホルダ
本体に対して分離可能で、かつホルダ本体に対して収納
可能な回転支持部材と、ホルダ本体から待避して設けら
れ、かつホルダ本体に収納されている回転支持部材に結
合して当該回転支持部材をホルダ本体から分離し、この
分離した回転支持部材を回転させる回転機構とを具備し
たことを特徴とするホルダ装置である。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
【0019】図1はマクロ照明付き基板検査装置に設け
られるホルダ装置の分解構成図である。ホルダ本体部1
0は、四辺形状で、ガラス基板1の寸法よりも大きい寸
法の枠状に形成されている。
【0020】このホルダ本体部10の開口部には、ガラ
ス基板1を支持するための複数の支持片12、13が設
けられている。このうち支持片12は、ホルダ本体部1
0の対向する2辺間に中央部を除いて所定間隔毎に設け
られている。支持片13は、中央部で2本の支持片12
の間に所定間隔毎に設けられている。これら支持片1
2、13の上面には、基板支持ピンが設けられている。
【0021】これら支持片12、13には、それぞれ後
述する回転支持部材14をホルダ本体部10内に収納す
るための各切欠溝15が形成されている。これら切欠溝
15aは、各支持片12においてX方向に沿って配列さ
れている。又、切欠溝15bは、各支持片13において
Y方向に沿って配列されている。従って、これら収納溝
15a、15bは、互いに直交するX方向とY方向とに
配列されている。
【0022】このX方向とY方向が交差するホルダ本体
部10の中央部には、後述する基板回転機構部16のチ
ャック部18が昇降する開口部17が形成されている。
この開口部17は、例えば円形、四辺形でよく、チャッ
ク部18が通過可能な寸法に形成されている。
【0023】ホルダ本体部10の上面には、図示しない
が複数の吸着孔が形成されている。これら吸着孔には、
吸引機構が連通している。
【0024】回転支持部材14は、各切欠溝15a、1
5bに沿って上方より挿入され、ホルダ本体部10に対
して分離可能に収納され、回転中心cを通る互いに直交
する2方向を軸として対称な形状(同形状)に形成され
ている。すなわち、この回転支持部材14は、90°回
転しても同形状に形成されている。
【0025】具体的に回転支持部材14は、2つの支持
部材片141、142が互いに直交している。これら支
持部材片141、142の最大高さ寸法は、各切欠溝1
5a、15bの深さ寸法よりも小さく形成されている。
【0026】2つの支持部材片141、142の各先端
部には、それぞれ先端支持片143、144及び14
5、146が設けられている。各先端支持片143、1
44は、それぞれ支持部材片141の軸方向に対して直
角に設けられている。各先端支持片145、146は、
それぞれ支持部材片142の方向に対して直角に設けら
れている。
【0027】これら先端支持片143、144及び14
5、146は、ガラス基板1が振動や揺らぎなく安定し
て保持するために設けられている。
【0028】この回転支持部材14の各支持部材片14
1、142及び先端支持片143〜146の上面には、
図示しない複数の基板支持ピンと吸着孔が設けられてい
る。
【0029】基板回転機構部16は、チャック部18と
回転機構本体19とからなる。回転機構本体19は、チ
ャック部18を上下方向(Z方向)に昇降する。
【0030】この基板回転機構部16は、通常、チャッ
ク部18をホルダ本体部10の下方に待避させ、ガラス
基板1の配置方向を例えば90°回転させるときに、チ
ャック部18を上昇させて開口部17を通して回転支持
部材14に結合させ、さらに上昇させて回転支持部材1
4をホルダ本体部10から分離し、この分離した回転支
持部材14をホルダ本体部10の上方で回転機構本体1
9により360°又は90°回転させる。
【0031】この後、基板回転機構部16は、チャック
部18を下降させて再び開口部17を通して回転支持部
材14をホルダ本体部10に収納させ、さらにチャック
部18を下降させて回転支持部材14から分離させてホ
ルダ本体部10の下方の元の場所に待避させる。
【0032】チャック部18の待避場所は、ホルダ本体
部10の下方に配置される透過照明装置を含む各種装置
と干渉しない透過照明装置の下方である。
【0033】チャック部18は、円柱状に形成され、そ
の上面には、互いに直交する2本の結合溝161、16
2が形成されている。
【0034】これら結合溝161、162の幅(隙間)
は、回転支持部材14の各支持部材片141、142の
厚さよりも若干大きく形成され、かつその溝深さは各支
持部材片141、142の高さと同等又は若干深く形成
されている。
【0035】なお、この基板回転機構部16には、回転
支持部材14との結合度を高くするために、吸着孔を形
成し、回転支持部材14を吸着保持するようにしてもよ
い。
【0036】このような構成のホルダ装置を設けたマク
ロ照明付き基板検査装置には、ホルダ装置の上方にマク
ロ照明装置が設けられると共に、ホルダ装置の下方に透
過照明装置が設けられる。
【0037】次に、上記の如く構成された装置の作用に
ついて説明する。
【0038】図2に示すようにホルダ本体部10には、
回転支持部14が離脱可能に収納されている。なお、同
図では回転支持部14が分かり易いように斜線を付して
ある。このとき、回転支持部14は、一方の支持部材片
141が各切欠溝15a内に収納(嵌合)され、他方の
支持部材片142が各切欠溝15b内に収納(嵌合)さ
れ、かつ各先端支持片143、144が各支持片12の
間に形成される空間に収納され、各先端支持片145、
146が各支持片13とホルダ本体部10の内壁との間
に形成される空間に収納される。
【0039】ガラス基板1のマクロ観察では、ホルダ本
体部10上にガラス基板1が載置される。このとき、ホ
ルダ本体部10は、複数の吸着孔によってガラス基板1
を吸着固定する。
【0040】ホルダ本体部10内に回転支持部14が収
納されている場合、回転支持部材14における支持面
(基板支持ピンの頂点)の高さ位置は、ホルダ本体10
におけるガラス基板1との接触面の高さ位置よりも低く
なっている。これにより、ホルダ本体部10上に載置さ
れているガラス基板1に対して回転支持部14の基板支
持ピンと接触しない。
【0041】従って、ホルダ本体部10上に載置されて
いるガラス基板1は、各支持片12、13の各基板支持
ピンにより水平に保持され変形せず、かつ回転支持部1
4との接触による振動の誘発を避けることができる。
【0042】ホルダ装置の上方に設けられたマクロ照明
装置から照明光がガラス基板1の表面上に照射される
と、観察者は、ガラス基板1からの反射光の変化を観察
して、例えばガラス基板面上の傷、欠け、汚れ、ダスト
の付着などの欠陥部分を検査する。
【0043】ガラス基板1に照明光3を照射したときの
ガラス基板1上のパターン形状状態や微小な凹凸からの
散乱光ゆ回折光などの反射条件は、照明光3の入射角に
より変わることを本願出願人は実験により確証した。
又、照明光3の入射方向とパターンの方向性との相対的
な関係、又は欠け傷、クラックなどの線形欠陥の方向性
との相対的な関係によってもガラス基板1からの反射条
件が異なることも実験により確証した。
【0044】このようにガラス基板1面上の傷、欠け、
ダスト、クラックなどの各種を確実に検出したい場合に
は、ガラス基板1の配置方向を例えば90°回転させる
か、又はガラス基板1を360°回転させてマクロ観察
する必要がある。
【0045】すなわち、基板回転機構部16は、ホルダ
本体部10の下方からチャック部18を上昇させ、開口
部17を通して回転支持部材14に結合させる。このと
きホルダ本体部10の吸着を解除した後に回転支持部材
14の複数の吸着孔によってガラス基板1を吸着固定す
る。
【0046】次に、基板回転機構部16は、図3に示す
ようにチャック部18をさらに上昇させて回転支持部材
14をホルダ本体部10から分離し、ガラス基板1をホ
ルダ本体部10の上方に持ち上げる。
【0047】ガラス基板1を保持した回転支持部材14
を上昇される高さは、ガラス基板1が回転しても安全な
位置、すなわちガラス基板1がホルダ本体部10と干渉
しない高さ位置であればよい。
【0048】次に、基板回転機構部16は、ホルダ本体
部10の上方で回転機構本体19によりチャック部18
を例えば90°回転させる。
【0049】この後、基板回転機構部16は、チャック
部18を下降させて再び開口部17を通して回転支持部
材14をホルダ本体部10に収納させる。
【0050】この場合、回転支持部材14は、90°回
転しても同形状に形成されているので、90°回転する
前と同様な状態でホルダ本体部10に収納される。すな
わち、図3に示すように例えば左回り(矢印イ方向)に
90°回転すれば、回転支持部14は、一方の支持部材
片141が各収納溝15b内に収納され、他方の支持部
材片142が各切欠溝15a内に収納され、かつ各先端
支持片143、144が各支持片13とホルダ本体部1
0の内壁との間に形成される空間に収納され、各先端支
持片145、146が各支持片12の間に形成される空
間に収納される。
【0051】さらに基板回転機構部16は、チャック部
18を下降させてホルダ本体部10の下方の元の場所、
すなわちホルダ本体部10の下方に配置される透過照明
装置を含む各種装置と干渉しない透過照明装置の下方に
待避させる。
【0052】再び、マクロ照明装置から照明光が90°
回転されたガラス基板1の表面上に照射されると、観察
者は、ガラス基板1からの反射光の変化を観察して、例
えばガラス基板面上の傷、欠け、汚れ、ダストの付着な
どの欠陥部分を検査する。
【0053】以上のマクロ観察では、ガラス基板1の方
向を90°回転させてから再び回転支持部材14をホル
ダ本体部10内に収納させて後にマクロ観察を行なって
いるが、次の方法でもガラス基板1のマクロ観察が可能
である。
【0054】基板回転機構部16は、ホルダ本体部10
の下方に待避させているチャック部18を上昇させ、開
口部17を通して回転支持部材14に結合させ、さらに
図3に示すように上昇させて回転支持部材14をホルダ
本体部10から分離し、この分離した回転支持部材14
をホルダ本体部10の上方に配置する。
【0055】この状態で、基板回転機構部16は、ホル
ダ本体部10の上方で回転機構本体19によりチャック
部18を任意の角度だけ回転させる。これによりガラス
基板1が任意の角度だけ回転するので、このガラス基板
1の表面に対する照明光を照射方向を自由に設定し、あ
らゆる方向からの照明光によるガラス基板1からの反射
光の変化を観察して、例えばガラス基板面上の傷、欠
け、汚れ、ダストの付着などの欠陥部分を検査してもよ
い。
【0056】又、回転支持部材14をホルダ本体部10
の上方に配置した状態で、チャック部18を360°連
続的に回転させる。この回転しているガラス基板1の表
面に対してマクロ照明装置からガラス基板1の全周から
照明光を照射し、ガラス基板1からの反射光の変化を観
察して、例えばガラス基板面上の傷、欠け、汚れ、ダス
トの付着などの欠陥部分を検査してもよい。
【0057】このように上記一実施の形態においては、
水平方向に固定配置されたホルダ本体部10と、このホ
ルダ本体部10に対して分離可能で、かつ任意の角度だ
け回転してもホルダ本体部10に対して収納可能な形状
の回転支持部材14と、ホルダ本体部10からチャック
部18が待避して設けられ、かつホルダ本体部10に収
納されている回転支持部材14に結合してホルダ本体部
10から分離し、この分離した回転支持部材14を任意
の角度だけ回転させる基板回転機構部16とからなるの
で、マクロ照明付き検査顕微鏡本体のサイズを大きくす
ることなく、かつホルダ本体部10の下方に設けられて
いる透過照明装置等の移動体に影響を与えることなく、
マクロ照明付き検査顕微鏡本体内に基板回転機構部16
を備えて、ガラス基板1を任意の角度、例えば90°回
転させることができる。
【0058】このガラス基板1の回転は、ホルダ本体部
10の上方で行なうので、このガラス基板1の回転する
ときのスペースは、ホルダ本体部10の設置スペースと
ほぼ同一であり、ガラス基板1を回転させるのに余計な
スペースをとらない。
【0059】又、ガラス基板1を回転支持部材14上に
保持させて当該回転支持部材14をホルダ本体部10か
ら分離し、この回転支持部材14を任意の角度だけ回転
させた後に、再びホルダ本体部10内に収納するので、
一旦搬送装置により検査装置外に搬送し、90°回転し
て再搬送する方式に比べて、ガラス基板1の検査のタク
トタイムを短縮できる。
【0060】又、回転支持部材14における支持面の高
さ位置は、ホルダ本体10におけるガラス基板1との接
触面の高さ位置よりも低いので、ホルダ本体部10上に
載置されているガラス基板1に対して回転支持部14と
接触しない。従って、ホルダ本体部10上に載置されて
いるガラス基板1は、支持片12、13の基板支持ピン
により水平に保持され、かつ回転支持部14との接触に
よる振動を避けることができる。
【0061】チャック部18は、任意の角度だけ回転さ
せたり、連続的に回転させることができるので、任意の
方向から観察用照明光をガラス基板1の表面に照射し
て、ガラス基板1のマクロ検査ができる。
【0062】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない
範囲で種々に変形することが可能である。
【0063】さらに、上記実施形態には、種々の段階の
発明が含まれており、開示されている複数の構成要件に
おける適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施形態に示されている全構成要件から幾
つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとす
る課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で
述べられている効果が得られる場合には、この構成要件
が削除された構成が発明として抽出できる。
【0064】例えば、上記一実施の形態では、標本とし
て液晶ディスプレイのガラス基板1のマクロ検査に適用
した場合について説明したが、これに限らず、プラズマ
ディスプレイ、ELディスプレイなどのフラットパネル
ディスプレイに用いられる透明基板の検査にも適用でき
る。
【0065】又、ホルダ本体部10及び回転支持部材1
4の形状は、上記一実施の形態に限るものでなく、回転
支持部材14が任意の角度だけ回転しても、その角度で
ホルダ本体部10内に収納可能な形状であればよい。例
えば、2本の支持部材片141と142とを直交させる
のに限らず、図4に示すようにガラス基板1に形成され
たパターン形状を観察するに必要な角度毎に複数本の支
持部材片20〜27を回転中心cを中心として交差させ
てもよい。この場合、ホルダ本体部10には、回転中心
cを中心として放射状に配置された複数の支持片を設け
れば、任意の角度で回転支持部材14を収納する空間が
形成できる。
【0066】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、マ
クロ照明付き検査装置のサイズの拡大を最小限に抑え、
かつ装置本体内でガラス基板を回転できるホルダ装置を
提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わるホルダ装置の一実施の形態の分
解構成図。
【図2】本発明に係わるホルダ装置の一実施の形態にお
ける回転支持部材をホルダ本体部に収納した状態を示す
図。
【図3】本発明に係わるホルダ装置の一実施の形態にお
けるチャック部の上昇により回転支持部材をホルダ本体
部から分離した状態を示す図。
【図4】本発明に係わるホルダ装置の一実施の形態にお
ける回転支持部材の変形例を示す図。
【符号の説明】
1:ガラス基板 10:ホルダ本体部 11:載置面 12,13:支持片 14:回転支持部材 15:切欠溝 16:基板回転機構部 17:開口部 18:チャック部 19:回転機構本体 141,142:支持部材片 143,144,145,146:先端支持片 161,162:結合溝
フロントページの続き Fターム(参考) 2G051 AA42 AB01 AB02 AB03 BB01 CB01 2H088 FA11 FA17 FA30 HA01 MA20 5F031 CA05 HA05 HA13 HA58 HA59 MA33 5G435 AA17 AA18 BB12 KK05 KK10

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 水平方向に固定配置され、標本を載置す
    るホルダ本体と、 このホルダ本体に対して分離可能で、かつ前記ホルダ本
    体に対して収納可能な回転支持部材と、 前記ホルダ本体から待避して設けられ、かつ前記ホルダ
    本体に収納されている前記回転支持部材に結合して当該
    回転支持部材を前記ホルダ本体から分離し、この分離し
    た前記回転支持部材を回転させる回転機構と、を具備し
    たことを特徴とするホルダ装置。
  2. 【請求項2】 前記ホルダ本体は、中心部に前記回転機
    構が昇降する開口部が形成されていることを特徴とする
    請求項1記載のホルダ装置。
  3. 【請求項3】 前記回転支持部材は、少なくとも互いに
    直交する2方向を軸としてそれぞれ同形状に形成されて
    いることを特徴とする請求項1記載のホルダ装置。
  4. 【請求項4】 前記回転機構は、チャック部を有し、こ
    のチャック部が、前記ホルダ本体の下方に配置される透
    過照明装置を含む各種装置と干渉しない場所に待避し、
    前記ホルダ本体の中心部に形成された開口部を通して上
    昇して前記回転支持部材に結合し、さらに前記回転支持
    部材を前記ホルダ本体から分離して当該ホルダ本体の上
    方に配置して任意の角度だけ回転させ、この後、前記開
    口部を通して下降して前記回転支持部材を前記ホルダ本
    体に収納し、前記回転支持部材から分離して前記ホルダ
    本体の下方の元の位置に待避することを特徴とする請求
    項1記載のホルダ装置。
JP2001339821A 2001-11-05 2001-11-05 ホルダ装置 Pending JP2003139709A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006064387A (ja) * 2004-08-24 2006-03-09 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネルの外観検査装置
JP2010266685A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Hitachi Plant Technologies Ltd ペースト塗布装置及び塗布方法
KR101362329B1 (ko) 2013-09-12 2014-02-12 한동희 디스플레이용 패널의 검사장치
KR102218961B1 (ko) * 2020-09-16 2021-02-22 김숙향 Pcb 제조용 스텐실 검사 장치

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