KR102218961B1 - Pcb 제조용 스텐실 검사 장치 - Google Patents
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Abstract
이와 같은 목적을 해결하기 위해 본 발명은; 스텐실(10)이 구비된 지그(20)가 안착되고, 상기 지그(20)를 검사대(200)의 검사 위치로 공급되게 하는 지그 부재(100)와; 상기 지그 부재(100)를 통해 지그(20)가 공급되는데, 상기 공급된 지그(20)를 고정한 상태에서 상기 지그(20)의 스텐실(10)을 본체 부재(300)의 검사 위치에서 검사 중 수평회전, 상하이동 작동 및 상기 스텐실(10)의 수평을 맞추는 검사대(200)와; 상기 검사대(200)에 공급된 스텐실(10)을 비전(360)을 이용해 검사하는 본체 부재(300)를 포함하여 구성된다.
Description
도 5는 본 발명에 따른 PCB 제조용 스텐실 검사 장치의 작동 상태를 나타낸 도면.
110; 가이드프레임 120; 지그프레임
130; 지그 140; 스토퍼
200; 검사대 210; 검사프레임
220; 백라이트 230; 제1작동부
240; 제2작동부 250; 제3작동부
300; 본체 부재 310; 베이스프레임
320; 메인다이 330; 제1이송부
340; 제2이송부 350; 제3이송부
360; 비전
Claims (5)
- 스텐실(10)이 구비된 지그(20)가 안착되고, 상기 지그(20)를 검사대(200)의 검사 위치로 공급되게 하는 지그 부재(100)와;
상기 지그 부재(100)를 통해 지그(20)가 공급되는데, 상기 공급된 지그(20)를 고정한 상태에서 상기 지그(20)의 스텐실(10)을 본체 부재(300)의 검사 위치에서 검사 중 수평회전, 상하이동 작동 및 상기 스텐실(10)의 수평을 맞추는 검사대(200)와;
상기 검사대(200)에 공급된 스텐실(10)을 비전(360)을 이용해 검사하는 본체 부재(300)를 포함하여 구성되고,
상기 검사대(200)는 상하 이격된 상판(211) 및 하판(212) 사이로 지그 부재(100)가 직선 왕복 이동하는 공간을 제공하는 검사프레임(210)을 더 포함하며,
상기 검사대(200)는 상기 검사프레임(210)의 내부공간에 공급된 지그(20)의 좌우 및 전후 측단부를 각각 압박시켜 상기 지그(20)를 고정하는 제1작동부(230);
상기 검사프레임(210)의 내부공간에 공급된 지그(20)를 상하 이동되게 하는 제2작동부(240); 및
상기 검사프레임(210)의 내부공간에서 검사 중인 스텐실(10)이 안착되는데, 상기 안착된 스텐실(10)의 각 모서리에서 각각 상하로 움직여 상기 스텐실(10)의 수평을 맞추는 제3작동부(250);를 더 포함한 PCB 제조용 스텐실 검사 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 지그 부재(100)는 검사대(200)의 검사 위치까지 직선 왕복 이동할 수 있는 가이드 공간을 제공하고, 상기 가이드 공간에 직선 왕복 이동을 안내하는 지지체(113)가 마련된 가이드프레임(110); 및,
상기 가이드프레임(110)의 지지체(113)에 가이드(122)를 이용해 결합되어 직선 왕복 이동하고, 상부에 지그(20)가 안착되는 안착부(124)가 마련되며, 상기 가이드프레임(110)과 결합으로 직선 왕복 이동하는 구조를 통해 상기 안착부(124)에 안착되는 지그(20)를 상기 검사대(200)에 공급시키고, 검사가 완료된 지그(20)를 검사대(200) 바깥쪽으로 이동하는 작업을 선택적 수행되게 하는 지그프레임(120);을 더 포함한 PCB 제조용 스텐실 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 본체 부재(300)는 메인프레임(310)의 상부에 완충부(321)를 사이에 두고 장착되며, 상기 완충부(321)를 이용해 검사 중 진동을 흡수하는 메인다이(320)를 더 포함한 PCB 제조용 스텐실 검사 장치. - 제1항에 있어서,
상기 검사대(200)는 검사프레임(210)의 하부에 결합되는데, 상기 검사프레임(210)에 공급된 스텐실(10)의 검사 중 상기 스텐실(10)의 저부로 빛을 조사하는 백라이트(220)를 더 포함한 PCB 제조용 스텐실 검사 장치. - 삭제
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