JP2003133664A - 配線基板およびそれを用いた電子装置 - Google Patents

配線基板およびそれを用いた電子装置

Info

Publication number
JP2003133664A
JP2003133664A JP2001331489A JP2001331489A JP2003133664A JP 2003133664 A JP2003133664 A JP 2003133664A JP 2001331489 A JP2001331489 A JP 2001331489A JP 2001331489 A JP2001331489 A JP 2001331489A JP 2003133664 A JP2003133664 A JP 2003133664A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating layer
conductor layer
insulating
wiring
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001331489A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideki Ito
英樹 伊藤
Isamu Kirikihira
勇 桐木平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2001331489A priority Critical patent/JP2003133664A/ja
Publication of JP2003133664A publication Critical patent/JP2003133664A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • H01L2924/15192Resurf arrangement of the internal vias
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 絶縁層と配線導体層との間に膨れや剥れが発
生することがなく、かつ信号配線の高周波領域における
特性インピーダンスの不整合が小さく、実装する電子部
品を常に正常に作動させることが可能な配線基板および
それを用いた電子装置を提供すること。 【解決手段】 絶縁基体1の主面に複数の絶縁層2を積
層して成る絶縁基板と、絶縁層2の表面に形成された配
線導体層3とを具備して成る配線基板5において、絶縁
層2は、多官能エポキシ樹脂と2官能エポキシ樹脂とか
ら成るエポキシ樹脂混合物と、質量平均分子量が10000
〜500000であって粗化液に溶解する熱可塑性樹脂と、ガ
ラス転移温度が−60〜−20℃のエラストマーと、平均粒
径が0.1〜2μmの無機絶縁性フィラーと、チタン系カ
ップリング剤とから成り、JIS−K7120の熱分解開始温度
が300℃以上である。絶縁層2と配線導体層3との密着
性に優れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁基体の表面に
耐熱性・耐湿性に優れた複数の絶縁層と信号導体層・電
源導体層・接地導体層とを多層に積層して成る配線基板
およびこの配線基板に半導体素子等の電子部品を実装し
て成る電子装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、現在の電子機器は、移動体通信
機器に代表されるように、小型・薄型・軽量・高性能・
高機能・高品質・高信頼性が要求されてきており、この
ような電子機器に搭載される電子装置も小型・高密度化
が要求されるようになってきている。そのため、電子装
置に使用される配線基板にも小型化・薄型化・多端子化
が求められてきており、それを実現するために配線基板
中に配設される信号配線の幅を細くするとともに信号配
線の間隔を狭くし、さらに信号配線や電源導体・接地導
体等を形成する配線導体層を絶縁層を介して多層に配置
し、これらの配線導体層間を絶縁層に設けた貫通導体に
より接続することにより配線の多層化・高密度化が図ら
れている。
【0003】このような高密度配線が可能な配線基板と
して、ビルドアップ法を採用して製作された多層配線基
板が知られている。ビルドアップ法とは、例えば、ガラ
スクロスやアラミド不布織等の補強材に耐熱性や耐薬品
性を有するエポキシ樹脂に代表される熱硬化性樹脂を含
浸させて複合化した絶縁基体上に銅箔から成る配線導体
層を被着させるとともに、その上にエポキシ樹脂等の熱
硬化性樹脂から成る絶縁層を被着させた後、この絶縁層
に下層の配線導体層を露出させる直径が30〜200μm程
度の貫通孔をレーザ加工により形成し、しかる後、絶縁
層の表面を例えばアクリル酸エステル等の粗化液で化学
的に粗化し、さらにこの粗化された絶縁層の表面および
貫通孔内に露出した下層の配線導体層上に無電解銅めっ
き法および電解銅めっき法を採用して銅めっき層を被着
させた後、この銅めっき層を所定のパターンにエッチン
グすることにより絶縁層の上面に上層の配線導体層を形
成するとともに貫通孔内壁に下層の配線導体層と上層の
配線導体層とを電気的に接続する貫通導体を形成し、さ
らに、その上に同様にして次層の絶縁層や貫通導体・配
線導体層の形成を複数回繰り返すことにより多層配線構
造の配線基板を製作する方法である。
【0004】このような多層化した配線基板において
は、各絶縁層上に被着された配線導体層はその機能によ
って電源導体層・接地導体層・信号導体層に分けて使用
されている。このうち電源導体層および接地導体層は、
配線基板に実装される半導体素子等の電子部品に電源電
位・接地電位を供給する機能を有し、絶縁層上の略全面
に被着された、いわゆるベタパターンにより形成されて
いる。また、信号導体層は、半導体素子等の電子部品に
入出力する電気信号を伝播させる機能を有し、電源導体
層や接地導体層との間でストリップラインやマイクロス
トリップライン・コプレナーライン等を形成する細長い
線状のパターンに形成されている。
【0005】また、配線基板の表面には、その上面に電
子部品の電極が接続される複数の電子部品接続パッドが
形成されており、各電子部品接続パッドは、各絶縁層に
形成された貫通導体を介して電源導体層や接地導体層あ
るいは信号導体層に電気的に接続されている。そして、
電子部品の各電極をそれぞれの電極と対応する電子部品
接続パッドに例えば半田バンプ等を介して接合すること
によって、電子部品が配線基板に実装され、それにより
配線基板に電子部品が実装されて成る電子装置が完成す
る。
【0006】なお、電源導体層や接地導体層には、その
上層の絶縁層を硬化させる際や配線基板に電子部品を実
装する際等に印加される熱によって下層の絶縁層から発
生する樹脂の分解ガスを外部に逃すため、およびこれら
の電源導体層や接地導体層を挟む上下の絶縁層間の密着
性を向上させるために、開口径が0.1〜0.15mmの方形
または円形の開口部を絶縁層の面積に対して開口部の面
積の割合が20〜50%となるように略均等な配置に配列し
て設けている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
配線基板においては、電源導体層または接地導体層に設
けられた開口部の面積の割合が絶縁層の面積に対して20
〜50%と大きいことから、電源導体層または接地導体層
の開口部と信号配線とが絶縁層を介して重なる部分で信
号配線の特性インピーダンスが大きく変化しまい、信号
配線に高周波信号を伝達させた場合に、信号配線の特性
インピーダンスの不整合による大きな反射ノイズが発生
し、搭載する電子部品がそのノイズによって誤作動して
しまうという問題点を有していた。
【0008】また、反射ノイズの発生を抑制するため
に、電源導体層または接地導体層に設けた開口部の面積
の割合を絶縁層の面積に対して例えば20%未満として、
信号配線の特性インピーダンスが大きく変化することを
防止すると、下層の絶縁層から発生する樹脂の分解ガス
により電源導体層や接地導体層と絶縁層との間で膨れや
剥れが発生しまうという問題点を有していた。
【0009】本発明は、かかる従来技術の問題点に鑑み
完成されたものであり、その目的は、電源導体層や接地
導体層と絶縁層との間に膨れや剥れが発生することがな
く、しかも信号配線における高周波領域での特性インピ
ーダンスの不整合が小さく、高周波領域であっても実装
する電子部品を正常に作動させることが可能な、高信頼
性の配線基板およびそれを用いた電子装置を提供するも
のである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の配線基板は、絶
縁基体の主面に複数の絶縁層を積層して成る絶縁基板
と、前記絶縁層上に被着された配線導体層とを具備して
成る配線基板において、前記絶縁層は、多官能エポキシ
樹脂と2官能エポキシ樹脂とから成るエポキシ樹脂混合
物と、質量平均分子量が10000〜500000であって、粗化
液に溶解する熱可塑性樹脂と、ガラス転移温度が−60〜
−20℃のエラストマーと、平均粒径が0.1〜2μmの無
機絶縁性フィラーと、チタン系カップリング剤とから成
り、JIS−K7120に規定の熱分解開始温度が300℃以
上であることを特徴とすものである。
【0011】また、本発明の配線基板は、上記の配線基
板において、前記配線導体層は、電源導体層および/ま
たは接地導体層と信号導体層とを具備し、前記電源導体
層および/または前記接地導体層に、開口径が0.1〜0.1
5mmの多数の開口部を、該開口部の面積の割合が前記
絶縁層の面積に対して1〜12%となるように、かつ前記
開口部同士の間隔が0.3〜0.6mmとなるようにして形成
して成ることを特徴とするものである。
【0012】本発明の電子装置は、上記の配線基板に電
子部品を実装して成ることを特徴とするものである。
【0013】本発明の配線基板によれば、絶縁層に含有
されるエポキシ樹脂混合物が多官能エポキシ樹脂と2官
能エポキシ樹脂とから成ることから絶縁層の架橋密度を
高くすることができ、その結果、熱による樹脂の分子切
断や樹脂中への水分の浸入を抑制することができ、耐湿
性に優れた絶縁層とすることができる。また、絶縁層中
に質量平均分子量が10000〜500000であって、粗化液に
溶解する熱可塑性樹脂を含有していることから、絶縁層
の表面を粗化液で化学的に粗化した際に絶縁層表面に微
細な凹凸が形成され、その結果、絶縁層の表面に形成さ
れた微細な凹凸によるアンカー効果により絶縁層と配線
導体層との密着性に優れた高信頼性の配線基板とするこ
とができる。さらに、絶縁層中にガラス転移温度が−60
〜−20℃のエラストマーを含有していることから、この
エラストマーにより絶縁層に適度な可撓性が付与され、
それにより電子部品の実装の際等に生じる熱応力を吸収
緩和することができ、絶縁層と配線導体層との間に剥離
が発生することを絶縁層で有効に防止することができ
る。また、絶縁層中に平均粒径が0.1〜2μmの無機絶
縁性フィラーを含有していることから、絶縁層に適度な
剛性と絶縁性を付与することができる。さらに、絶縁層
中にチタン系カップリング剤を含有していることから、
このチタン系カップリング剤を介して配線導体層と絶縁
層とを化学的に強固に結合することができ、絶縁層と配
線導体層との間に膨れや剥れのない信頼性に優れた配線
基板とすることができる。さらに、絶縁層のJIS-K7120
に規定の熱分解開始温度を300℃以上としたことから、
電子部品の実装時に印加される熱によっても、絶縁層が
熱劣化せず、樹脂の分解ガスの発生が極めて少ないの
で、配線導体層と絶縁層との間に膨れや剥離のない高信
頼性の配線基板とすることができる。
【0014】さらに、本発明の配線基板によれば、配線
導体層を構成する電源導体層および接地導体層に開口径
が0.1〜0.15mmの開口部を、その面積の割合が絶縁層
の面積に対して1〜12%となるように、かつ開口部同士
の間隔が0.3〜0.6mmとなるようにして形成したことか
ら、信号配線の特性インピーダンスの変化を高周波領域
でも小さいものとすることができ、それにより配線基板
に実装する電子部品に誤作動を発生させることがない配
線基板とすることができる。
【0015】また、本発明の電子装置によれば、上記の
配線基板に電子部品を実装したことから、配線導体層と
絶縁層との間に膨れや剥がれが発生することがなく、耐
熱・耐湿性に優れた電子装置とすることができる。さら
に、高周波領域においても電子部品に誤動作が発生する
ことのない高速作動が可能な電子装置とすることができ
る。
【0016】
【発明の実施の形態】次に、本発明の配線基板および電
子装置を添付の図面に基づいて詳細に説明する。
【0017】図1は、本発明の配線基板およびそれを用
いた電子装置の実施の形態の一例を示す断面図である。
この図において、1は絶縁基体、2は絶縁層であり、こ
れらで本発明の配線基板における絶縁基板が形成され
る。また、3は配線導体層、4は貫通導体であり、主と
して絶縁基体1と絶縁層2とから成る絶縁基板と配線導
体層3および貫通導体4とから本発明の配線基板5が形
成される。また、6は電子部品であり、配線基板5に電
子部品6を実装することにより本発明の電子装置7が形
成される。
【0018】本発明の配線基板5は、例えばガラス−エ
ポキシ板から成る絶縁基体1の表面に複数の絶縁層2お
よび配線導体層3が交互に積層されているとともに上下
の配線導体層3間を絶縁層2に形成された貫通孔8の内
壁に被着された貫通導体4により電気的に接続して成
る。
【0019】絶縁層2は、多官能エポキシ樹脂と2官能
エポキシ樹脂との混合物から成るエポキシ樹脂混合物
と、重量平均分子量が10000〜500000であって、アクリ
ル酸エステル等の粗化液に溶解する熱可塑性樹脂と、ガ
ラス転移温度が−60〜−20℃のエラストマーと、平均粒
径が0.1〜2μmの無機絶縁性フィラーと、チタン系カ
ップリング剤とから成り、JIS−K3120に規定の熱分
解開始温度が300℃以上である。
【0020】このような絶縁層2を構成する多官能エポ
キシ樹脂と2官能エポキシ樹脂との混合物から成るエポ
キシ樹脂混合物は、カルボン酸や水酸基を有することか
ら、絶縁層2と配線導体層3との密着性を良好とする機
能を有するとともに絶縁層2の架橋密度を高くし、熱に
よる絶縁層2中の樹脂の分子切断および絶縁層2中への
水分の浸入を抑制する機能を有する。このようなエポキ
シ樹脂混合物における多官能エポキシ樹脂と2官能エポ
キシ樹脂との比率は、多官能エポキシ樹脂が20〜80質量
%、2官能エポキシ樹脂が20〜80質量%の範囲とするこ
とが好ましい。
【0021】エポキシ樹脂混合物中における2官能エポ
キシ樹脂の含有量が20質量%より少ないと、絶縁層2の
架橋密度が低くなり絶縁層2の耐熱性・耐薬品性が低下
してしまう傾向があり、また、80質量%を超えると絶縁
層2の架橋密度が高くなり絶縁層2の可撓性が低下し
て、絶縁層2に硬化後の取り扱いで破断が発生し易くな
る傾向がある。したがって、絶縁層2に含有されるエポ
キシ樹脂混合物中における多官能エポキシ樹脂と2官能
エポキシ樹脂との比率は多官能エポキシ樹脂が20〜80質
量%で、2官能エポキシ樹脂が20〜80質量%の範囲とす
ることが好ましい。
【0022】なお、絶縁層2に含有される多官能エポキ
シ樹脂としては、フェノールノボラック型エポシキ樹脂
やオルソクレゾールノボラック型エポシキ樹脂・ナフタ
レン型エポキシ樹脂・ジシクロペンタジエン型エポキシ
樹脂・トリグリシジルイソシアヌレート・脂環式エポキ
シ樹脂等が用いられ、また、2官能エポキシ樹脂として
は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂やビスフェノール
F型エポキシ樹脂・ビスフェノールS型エポキシ樹脂・
ビフェノール型エポキシ樹脂等が用いられる。また、こ
れらのエポキシ樹脂混合物中に難燃性を付与するために
臭素化したエポキシ樹脂を添加することも可能である。
【0023】さらに、このようなエポキシ樹脂混合物に
は100〜200℃の温度で反応が開始する硬化剤を2〜10質
量%程度を添加しても良い。このような硬化剤として
は、エポキシ樹脂混合物との反応温度が130〜150℃であ
るメタフェニレンジアミンやエポキシ樹脂混合物との反
応温度が120〜180℃のジアミノジフェニルメタン、エポ
キシ樹脂混合物との反応温度が110〜200℃のジアミノジ
フェニルスルフォン等の芳香族アミン類、エポキシ樹脂
混合物との反応温度が160〜180℃のジシアンジアミド、
エポキシ樹脂混合物との反応温度が160〜180℃の2,4−
ジアミノ−6−(2−メチル−1−イミダゾリルエチル)
−1,3,5−トリアジン、エポキシ樹脂混合物との反応
温度が115〜155℃の2,2,4−ジアミノ−6−(2−ウン
デシル−1−イミダゾリルエチル)−1,3,5−トリアジ
ン等のトリアジン類に代表される構造が剛直な芳香族ア
ミン類やトリアジン類を有する融点の高いものが好まし
い。また、エポキシ樹脂混合物との反応温度が適合すれ
ばフェノール系硬化剤および硬化促進剤を併用しても良
く、例えばフェノール系硬化剤としてはフェノールノボ
ラック樹脂やオルソノボラック樹脂等、また、硬化促進
剤としてはイミダゾール系化合物や有機スルフォン系化
合物等のエポキシ樹脂混合物との反応温度が100〜200℃
の硬化材および硬化促進剤を使用しても良い。
【0024】また、本発明の配線基板5においては、絶
縁層2中に質量平均分子量が10000〜500000であって、
アクリル酸エステル等の粗化液に溶解する熱可塑性樹脂
をエポキシ樹脂混合物100質量%に対して5〜30質量%
含有している。このように、絶縁層2中に質量平均分子
量が10000〜500000であって、アクリル酸エステル等の
粗化液に溶解する熱可塑性樹脂をエポキシ樹脂混合物10
0質量%に対して5〜30質量%含有していることから、
後述するように、絶縁層2の表面を例えばアクリル酸エ
ステル等の粗化液で粗化した際に、この熱可塑性樹脂の
一部が溶解して絶縁層2の表面に微細な凹凸が形成され
る。その結果、絶縁層2の表面に形成された微小な凹凸
によるアンカー効果により絶縁層2と配線導体層3との
密着が極めて強固なものとなる。なお、絶縁層2に含有
される熱可塑性樹脂は、その質量平均分子量が10000よ
り小さいと、絶縁層2の可撓性が低くなる傾向があり、
また、500000を超えると硬化前の絶縁層2の粘性が高く
なりすぎるために絶縁基板1上に絶縁層2を均一な厚み
に形成することが困難となる傾向がある。従って、絶縁
層2に含有される熱可塑性樹脂の質量平均分子量は1000
0〜500000の範囲に特定される。さらに、絶縁層2に含
有される熱可塑性樹脂の含有量がエポキシ樹脂混合物10
0質量%に対して5質量%よりも少ないと、絶縁層2の
可撓性が低くなり絶縁層2に破断が発生しやすくなる傾
向にあり、また、30質量%を超えると、絶縁層2の耐熱
性が低いものとなってしまう傾向にある。したがって、
絶縁層2に含有される熱可塑性樹脂の添加量はエポキシ
樹脂混合物100質量%に対して5〜30質量%の範囲であ
ることが好ましい。
【0025】このような熱可塑性樹脂としては、ポリエ
チレンテレフタレート(PET)やポリブチレンテレフ
タレート(PBT)・アジピン酸アルキルエステル等の
ポリエステル類、ポリメチルメタクリレート(PMM
A)・ポリブチルメタクリレート(PBMA)等の熱可
塑性樹脂が適用され得る。これらの熱可塑性樹脂は、例
えばアクリル酸エステル類等の粗化液に可溶である。
【0026】また、本発明の配線基板5は、絶縁層2中
にガラス転移温度が−60〜−20℃のエラストマーをエポ
キシ樹脂混合物100質量%に対して10〜40質量%含有し
ている。このように絶縁層2中にガラス転移温度が−60
〜−20℃のエラストマーをエポキシ樹脂混合物100質量
%に対して10〜40質量%含有していることから、本発明
の配線基板5に電子部品6を実装する際の熱により生じ
る熱応力を絶縁層2で良好に吸収緩和することができ
る。絶縁層2に含有されるエラストマーのガラス転移温
度が−60℃よりも低いと、硬化前の絶縁層2のべとつき
が大きなものとなり配線基板5を製作する際の取り扱い
が困難となる傾向があり、また、−20℃よりも高いと、
硬化後の絶縁層2の可撓性が小さなものとなる傾向があ
る。したがって、絶縁層2に含有されるエラストマーの
ガラス転移温度は−60〜−20℃の範囲に特定される。さ
らに、絶縁層2に含有されるエラストマーの含有量がエ
ポキシ樹脂混合物100質量%に対して10質量%よりも少
ないと、絶縁層2の可撓性が低いものとなる傾向があ
り、また、40質量%を超えると絶縁層2の架橋密度が低
いものとなり、絶縁層2の耐熱性・耐湿性が低下してし
まう傾向がある。したがって、絶縁層2に含有されるエ
ラストマーの含有量は、エポキシ樹脂混合物100質量%
に対して10〜40質量%の範囲であることが好ましい。
【0027】このようなエラストマーとしては、アクリ
ルゴム(ACM)やアクリロニトリル−ブタジエンゴム
(NBR)・スチレン−ブタジエン−スチレントリブロ
ックエラストマー(SBS)・スチレン−イソプレン−
スチレントリブロックエラストマー(SIS)等が用い
られる。
【0028】さらに、本発明の配線基板5は、絶縁層2
中に平均粒径が0.1〜2μmの無機絶縁性フィラーを3
〜10質量%含有している。無機絶縁性フィラーは絶縁層
2の強度を高めるとともに絶縁層2の熱膨張係数と配線
導体層3や貫通導体4の熱膨張係数とを整合させる機能
を有する。このような無機絶縁性フィラーは、その平均
粒径が0.1μmより小さいと、絶縁層2の嵩密度が高く
なり絶縁層2の成形時に未硬化の絶縁層2の粘度が高く
なり、そのため絶縁層2の厚みの制御が困難となる傾向
にあり、また、平均粒径が2μmを超えると、無機絶縁
性フィラーと樹脂との界面に沿ってイオンマイグレーシ
ョンが発生しやすくなり、絶縁層2の絶縁抵抗を低下さ
せてしまい易くなる傾向にある。したがって、絶縁層2
に含有される無機絶縁性フィラーの平均粒径は0.1〜2
μmの範囲に特定される。また、絶縁層2に含有される
無機絶縁性フィラーの含有量は、絶縁層2の平坦性を確
保するという観点からはエポキシ樹脂混合物100質量%
に対して5質量%以上とすることが好ましく、たとえば
レーザで貫通孔8を形成する場合に貫通孔8内への無機
絶縁性フィラーの残渣を生じ難くするという観点からは
20質量%以下とすることが好ましい。
【0029】このような無機絶縁性フィラーとしては、
酸化珪素や酸化アルミニウム・窒化アルミニウム・炭化
珪素・チタン酸カルシウム・酸化チタン・ゼオライト等
の無機絶縁性粒子が用いられ、絶縁層2の熱膨張係数を
制御するという観点からは酸化珪素が好ましい。また、
絶縁層2中の樹脂との濡れ性を向上させるために無機絶
縁性フィラーの表面をシラン系カップリング剤で処理し
て用いてもよい。
【0030】さらに、本発明の配線基板5は、絶縁層2
中にチタン系カップリング剤をエポキシ樹脂混合物100
質量%に対して1〜5質量%含有している。このよう
に、絶縁層2にチタン系カップリング剤をエポキシ樹脂
混合物100質量%に対して1〜5質量%含有しているこ
とから、配線導体層3と絶縁層2とがチタン系カップリ
ング剤を介して化学的に結合し、配線導体層3と絶縁層
2との密着性の優れた配線基板とすることができる。こ
のようなチタン系カップリング剤としては、トリヒドロ
キシエチルドデシルチタネート・トリヒドロキシメチル
オクチルチタネート・ヒドロキシプロピルトリドデシル
ベンゼンスルホニルチタネート等が用いられる。
【0031】さらに、本発明の配線基板5においては、
絶縁層2の熱分解開始温度をJIS−K7120に規定の熱
分解開始温度で300℃以上としている。このように、絶
縁層2の熱分解開始温度をJIS−K7120に規定の熱分
解開始温度で300℃以上としたことから、配線基板5に
電子部品6を実装する際に高温が印加されたとしても、
絶縁層2の樹脂が熱分解されにくく、したがって樹脂の
分解ガスの発生が極めて少なく、絶縁層2と配線導体層
3との間に膨れや剥離のない高信頼性の配線基板5とす
ることができる。
【0032】なお、JIS−K7120で規定の熱分析法
は、熱天秤TG/DTAを用い、窒素中で室温から10℃
/分間で昇温した時、絶縁層2の質量減少が5%の時を
熱分解の開始温度とした。
【0033】このような絶縁層2は、例えば、多官能エ
ポキシ樹脂としてオルソクレゾールノボラック型エポシ
キ樹脂60質量%と、2官能エポキシ樹脂としてビスフェ
ノールA型エポキシ40質量%とから成るエポキシ樹脂混
合物に、熱可塑性樹脂としてアジピン酸アルキルエステ
ルを20質量%と、エラストマーとしてSEBSを20質量
%と、無機絶縁性フィラーとして平均粒径が1μmの酸
化珪素を10質量%と、チタン系カップリング剤として、
トリヒドロキシエチルドデシルチタネートを1質量%
と、有機溶剤とを添加して混練することにより液状のワ
ニスを作成し、このワニスをスクリーン印刷法またはロ
ールコート法を採用することにより絶縁基体1の表面に
均一の厚みに塗布した後、このワニスを乾燥して有機溶
剤を除去するとともに熱硬化させ、しかる後、レーザ光
を照射することにより貫通孔8を形成することによって
形成される。あるいは、上記の液状のワニスを離型フィ
ルム上に塗布した後、これを乾燥させてフィルム状と
し、このフィルムを絶縁基体1の表面に貼着した後、熱
硬化させ、これにレーザ光を照射することにより貫通孔
8を形成することによって形成される。
【0034】また、絶縁層2の表面には、配線導体層3
が形成されており、この配線導体層3は半導体素子等の
電子部品6を外部電気回路基板(図示せず)に電気的に
接続するための導電路として機能する。配線導体層3
は、その配線基板5の上面に露出した部位に電子部品6
の電極が半田バンプ9を介して電気的に接続される電子
部品接続パッド10を形成しており、この電子部品接続パ
ッド10には電子部品6の電極が半田バンプ9を介して接
合され、それにより電子部品6の電極が配線導体層3に
電気的に接続されるとともに、電子部品6が配線基板5
に実装されて本発明の電子装置が完成する。また、配線
導体層3は、配線基板5の下面に導出した部位に外部電
気回路基板に電気的に接続される外部接続用パッド11が
形成されており、この外部接続パッド11を外部電気回路
基板の配線導体に半田等の導電性接合材を介して接合す
ることによって、本発明の電子装置が外部電気回路基板
に実装される。
【0035】このような配線導体層3は、サブトラクテ
ィブ法やアディティブ法等により形成され、例えば貫通
孔8が形成された絶縁層2の表面をアクリル酸エステル
等の粗化液で粗化した後、この粗化された絶縁層2の表
面に、例えば、無電解めっき法で無電解銅めっき層を被
着させ、その上にドライフィルムフォトレジストで所定
パターンのめっきレジスト層を被着させた後、このめっ
きレジスト層から露出した無電解銅めっき層上に電解め
っき法により電解銅めっき層を所定の厚さに被着形成
し、その後、めっきレジスト層を剥離するとともに無電
解銅めっき層および電解銅めっき層をエッチング処理し
て電解銅めっき層から露出する無電解銅めっき層を除去
することにより所定の配線パターンに形成される。
【0036】なお、配線導体層3は、この配線導体層3
に高速の電気信号を伝達させるという観点からは、その
厚さが3μm以上であることが好ましく、配線導体層3
を絶縁層2に被着形成させる際に配線導体層3に大きな
応力を残留させず、配線導体層3が絶縁層2から剥離し
難いものとするためには、その厚みを50μm以下として
おくことが好ましい。
【0037】このような絶縁層2および配線導体層3を
絶縁基体1上に複数層形成する場合は、絶縁層2と配線
導体層3との形成を繰り返し行なえばよい。
【0038】また、絶縁層2を挟んで上下に位置する配
線導体層3同士は、絶縁層2に設けた貫通孔8の内壁に
被着された貫通導体4により電気的に接続されている。
このように、絶縁層2を挟んで上下に位置する配線導体
層3同士が絶縁層2に設けた貫通導体4を介して電気的
に接続されることにより立体的な高密度配線が可能とな
っている。なお、貫通孔8は絶縁層3に炭酸ガスレーザ
やYAGレーザ・UVレーザ等のレーザ光を照射するこ
とにより穿孔する方法や、フォトリソグラフィー技術を
採用して穿孔する方法等が用いられる。しかしながら、
絶縁層2の材料に依存せず、しかも微細加工ができ、か
つ加工スピードが速いという点では炭酸ガスレーザを用
いて穿孔することが最も好ましい。例えば炭酸ガスレー
ザを用いて貫通孔8を形成する場合であれば、絶縁層2
に、出力が5〜7Aで、パルス幅を50〜100μsに設定
した炭酸ガスレーザ光を各貫通孔8の形成位置に対して
2〜5回程度照射することにより形成でき、その孔径は
通常、配線基板5の小型化および上下の配線導体層3同
士の電気的接続の信頼性という観点からは30〜300μm
であることが好ましい。
【0039】また、各絶縁層2上に形成された配線導体
層3は、各層毎に、あるいは各層に混在して電源導体層
・接地導体層・信号導体層を形成しており、電源導体層
は電子部品6に電源電位を、接地導体層は電子部品6に
接地電位を供給する機能を有し、信号導体層は電子部品
に信号の出し入れを行なう機能を有している。なお、電
源導体層および接地導体層には、絶縁層2からの樹脂の
分解ガスを逃がすとともに、これらの電源導体層や接地
導体層を挟む上下の絶縁層2同士の密着性をより強固な
ものとするために、開口径が0.1〜0.15mmの方形また
は円形の開口部を、その開口部の面積の比率が絶縁層2
の面積に対して1〜12%となるように、かつ開口部同士
の間隔が0.3〜0.6mmとなるようにして形成されてい
る。
【0040】そして、本発明の配線基板5によれば、上
述したように、絶縁層2と配線導体層3との密着性が良
好であり、かつ絶縁層2からの樹脂の分解ガスの発生が
極めて少ないことから、電源導体層や接地導体層に設け
る開口部の面積の比率を絶縁層2の面積に対して1〜12
%と小さいものとすることができる。したがって、電源
導体層や接地導体層に形成した開口部に起因して発生す
る信号配線の特性インピーダンスの不整合を小さくする
ことができ、その結果、配線基板5上に実装する電子部
品6を正確に作動させることができる。
【0041】なお、電源導体層や接地導体層に形成され
た開口部の開口径が0.1mm未満の場合には、絶縁層2
からの樹脂の分解ガスを外部に良好に逃がすことが困難
となる傾向にあり、0.15mmを超えると、電源導体層や
接地導体層に設けた開口部に起因して発生する信号配線
の特性インピーダンスの不整合が大きなものとなり、配
線基板5上に実装する電子部品6に誤動作を発生させる
危険性が大きなものとなる。したがって、電源導体層や
接地導体層に形成された開口部の開口径は0.1〜0.15m
mの範囲が好ましい。
【0042】さらに、電源導体層や接地導体層に形成さ
れた開口部の面積の割合が絶縁層2の面積に対して1パ
ーセント未満であると、絶縁層2からの樹脂の分解ガス
を外部に良好に逃がすことが困難となるとともに、電源
導体層や接地導体層を挟む絶縁層2同士の接合を強固な
ものすることが困難となる傾向にあり、他方、12%を超
えると、電源導体層や接地導体層に設けた開口部に起因
して発生する信号配線の特性インピーダンスの不整合が
大きなものとなり、配線基板5上に実装する電子部品6
に誤動作を発生させる危険性が大きなものとなる。した
がって、電源導体層や接地導体層に形成された開口部の
面積の割合は絶縁層2の面積に対して1〜12%の範囲が
好ましい。
【0043】さらにまた、電源導体層や接地導体層に形
成された開口部同士の間隔が0.3mm未満では、電源導
体層や接地導体層に設けた開口部に起因して発生する信
号配線の特性インピーダンスの不整合が大きなものとな
り、配線基板5上に実装する電子部品6に誤動作を発生
させる危険性が大きなものとなり、他方、0.6mmを超
えると、絶縁層2からの樹脂の分解ガスを外部に良好に
逃がすことが困難となる傾向にある。したがって、電源
導体層や接地導体層に形成された開口部同士の間隔は0.
3〜0.6mmの範囲が好ましい。
【0044】さらに、最表層の絶縁層2の表面には、電
子部品接続パッド10や外部接続パッド11の中央部を露出
させる開口部を有する耐半田樹脂層12が被着形成されて
いる。
【0045】耐半田樹脂層12は、配線基板5に電子部品
6を実装する際の熱等から絶縁層2を保護するととも
に、配線導体層3や電子部品接続パッド10および外部接
続パッド11を湿気による酸化や腐蝕から保護する機能を
有する。
【0046】このような耐半田樹脂層12は、例えば、感
光性の熱硬化性樹脂を含有する液状のワニスをスクリー
ン印刷法またはロールコート法を採用することにより最
表層の絶縁層2上に均一の厚みに塗布した後、これを所
定のパターンに露光・現像して電子部品接続パッド10や
外部接続パッド11上に開口部を形成し、最後に紫外線硬
化処理および熱硬化処理を行なうことにより形成され
る。なお、耐半田樹脂層12は熱硬化樹脂を含有する未硬
化の樹脂フィルムを最表層の絶縁層2の表面に貼着する
とともに、これを硬化させることによって形成されても
よい。この場合、耐半田樹脂層12に形成された開口部は
レーザ加工により形成されてもよい。
【0047】なお、耐半田樹脂層12に形成された開口部
は、その開口径が通常30〜300μmである。耐半田樹脂
層12に形成された開口部の開口径が300μmより大きい
と高密度配線が困難となって配線基板5が大きなものと
なる傾向があり、また、30μmより小さいと電子部品接
続パッド10と電子部6の電極との接続や外部接続パッド
11と外部電気回路基板の配線導体との電気的な接続信頼
性が低下する傾向がある。したがって、耐半田樹脂層12
に形成した開口部の開口径は30〜300μmの大きさにす
ることが好ましい。
【0048】なお、通常であれば、耐半田樹脂層12の開
口部から露出する電子部品接続パッド10や外部接続パッ
ド11の露出する表面には、電子部品接続パッド10や外部
接続パッド11が酸化腐蝕するのを防止するとともに電子
部品接続パッド10と電子部品6の電極との接続および外
部接続パッド11と外部電気回路基板の配線導体との接続
を良好なものとするためにニッケルや金等の良導電性で
耐腐蝕性に優れた金属をめっき法により1〜20μmの厚
さに被着することが好ましい。
【0049】また、電子部品接続パッド10と電子部品6
の各電極とを接続する半田バンプ9は、金や鉛−錫、錫
−亜鉛、錫−銀−ビスマス等の導電性材料から成り、例
えば、導電性材料が鉛−錫から成る半田の場合、鉛−錫
合金粉末を含有する半田ペーストを電子部品接続パッド
10上にスクリーン印刷法で印刷するか、あるいは鉛−錫
合金から成る半田ボールを電子部品接続パッド10上に載
置した後、これをリフロー炉を通して半田を溶融させる
ことにより電子部品接続パッド10に固着され、電子部品
6の各電極を電子部品接続パッド10に固着させた半田バ
ンプ9上に載置するとともに、これらをリフロー炉を通
して半田バンプ9を溶融させることによって電子部品6
の各電極と電子部品接続パッド10とが半田バンプ9を介
して電気的に接続され、それにより、本発明の電子装置
7が完成する。なお、半田バンプ9の保護と電子部品6
および配線基板5を互いに強固に固着するために、電子
部品6と配線基板5の表層との間に、熱硬化性樹脂とフ
ィラーとから成るアンダーフィル材13を注入しても良
い。
【0050】かくして、本発明の配線基板5およびこれ
を用いた電子装置7によれば、絶縁層2と配線導体層3
との密着性に優れ、絶縁層2と配線導体層3との間に膨
れや剥離が発生することがなく、かつ信号配線の特性イ
ンピーダンスの不整合が小さな、信頼性が高くかつ実装
する電子部品6を高速で作動させることが可能な配線基
板および電子装置を提供することができる。
【0051】なお、本発明の電子装置は、上記の実施の
形態例に限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱し
ない範囲であれば、種々の変更は可能である。例えば、
上述の実施の形態例では配線基板5に実装される電子部
品6として半導体素子を実装した例を示したが、電子部
品6として抵抗器・キャパシタ・圧電素子等の他の種類
の電子部品6を実装しても良い。さらに、電子部品6が
作動時に発生する熱を放散するためにスティフナー等の
放熱板を配線基板5に被着しても良い。
【0052】
【発明の効果】本発明の配線基板によれば、絶縁層に含
有されるエポキシ樹脂混合物が多官能エポキシ樹脂と2
官能エポキシ樹脂とから成ることから、絶縁層の架橋密
度を高くすることができ、その結果、樹脂層における熱
による樹脂の分子切断や樹脂中への水分の侵入を抑制す
ることができ、耐湿性に優れた絶縁層とすることができ
る。また、絶縁層中に質量平均分子量が10000〜500000
であって、粗化液に溶解する熱可塑性樹脂を含有してい
ることから、絶縁層の表面を粗化液で化学的に粗化した
際に絶縁層の表面に微細な凹凸が形成され、その結果、
絶縁層の表面に形成された微細な凹凸によるアンカー効
果により絶縁層と配線導体層との密着性に優れる配線基
板とすることができる。さらに、絶縁層中にガラス転移
温度が−60〜−20℃のエラストマーを含有していること
から、このエラストマーにより絶縁層に適度な可撓性が
付与され、それにより電子部品の実装の際等に生じる熱
応力を絶縁層で吸収緩和することができ、絶縁層と配線
導体層との間に剥離が発生することを有効に防止するこ
とができる。また、絶縁層中に平均粒径が0.1〜2μm
の無機絶縁性フィラーを含有していることから、絶縁層
に適度な剛性と高い絶縁性を付与することができる。さ
らに、絶縁層中にチタン系カップリング剤を含有してい
ることから、このチタン系カップリング剤を介して絶縁
層と配線導体層とを化学的に強固に結合することがで
き、絶縁層と配線導体層との間に膨れや剥れのない信頼
性の優れた配線基板とすることができる。さらに、絶縁
層のJIS−K7120に規定の熱分解開始温度を300℃以
上としたことから、電子部品の実装時に印加される高温
でも、絶縁層が熱劣化せず、絶縁層からの樹脂の分解ガ
スの発生が極めて少なく、絶縁層と配線導体層との間に
膨れや剥離のない高信頼性の配線基板とすることができ
る。
【0053】さらに、本発明の配線基板によれば、電源
導体層および接地導体層に開口径が0.1〜0.15mmの開
口部を、その面積の割合が絶縁層の面積に対して1〜12
%となるように、かつ開口部同士の間隔が0.3〜0.6mm
となるようにして形成したことから、信号配線の特性イ
ンピーダンスの不整合を小さなものとすることができ、
その結果、搭載する電子部品に誤作動を発生することな
く、正常に作動させることができる。
【0054】また、本発明の電子装置によれば、本発明
の配線基板に電子部品を実装したことから、絶縁層と配
線導体層との間に膨れや剥離の発生がなく、耐熱・耐湿
性に優れた電子装置とすることができる。さらに、高周
波領域においても実装する電子部品に誤動作が発生する
ことのない高信頼性の電子装置を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の配線基板およびそれを用いた本発明の
電子装置の実施の形態の一例を示す断面図である。
【符号の説明】
1・・・・・・絶縁基体 2・・・・・・絶縁層 3・・・・・・配線導体層 5・・・・・・配線基板 6・・・・・・電子部品 7・・・・・・電子装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/46 H05K 3/46 Z H01L 23/14 R

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基体の主面に複数の絶縁層を積層し
    て成る絶縁基板と、前記絶縁層上に被着された配線導体
    層とを具備して成る配線基板において、前記絶縁層は、
    多官能エポキシ樹脂と2官能エポキシ樹脂とから成るエ
    ポキシ樹脂混合物と、質量平均分子量が10000〜5
    00000であって、粗化液に溶解する熱可塑性樹脂
    と、ガラス転移温度が−60〜−20℃のエラストマー
    と、平均粒径が0.1〜2μmの無機絶縁性フィラー
    と、チタン系カップリング剤とから成り、JIS−K7
    120に規定の熱分解開始温度が300℃以上であるこ
    とを特徴とする配線基板。
  2. 【請求項2】 前記配線導体層は、電源導体層および/
    または接地導体層と信号導体層とを具備し、前記電源導
    体層および/または前記接地導体層に、開口径が0.1
    〜0.15mmの多数の開口部を、該開口部の面積の割
    合が前記絶縁層の面積に対して1〜12%となるよう
    に、かつ前記開口部同士の間隔が0.3〜0.6mmと
    なるようにして形成して成ることを特徴とする請求項1
    記載の配線基板。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の配線基板
    に電子部品を実装して成ることを特徴とする電子装置。
JP2001331489A 2001-10-29 2001-10-29 配線基板およびそれを用いた電子装置 Pending JP2003133664A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001331489A JP2003133664A (ja) 2001-10-29 2001-10-29 配線基板およびそれを用いた電子装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001331489A JP2003133664A (ja) 2001-10-29 2001-10-29 配線基板およびそれを用いた電子装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003133664A true JP2003133664A (ja) 2003-05-09

Family

ID=19147058

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001331489A Pending JP2003133664A (ja) 2001-10-29 2001-10-29 配線基板およびそれを用いた電子装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003133664A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014021427A1 (ja) * 2012-08-02 2014-02-06 学校法人早稲田大学 金属ベースプリント配線板
WO2024009853A1 (ja) * 2022-07-04 2024-01-11 東洋紡株式会社 積層体、及び、積層体の製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014021427A1 (ja) * 2012-08-02 2014-02-06 学校法人早稲田大学 金属ベースプリント配線板
US9554464B2 (en) 2012-08-02 2017-01-24 Waseda University Metal-base printed circuit board
US10681808B2 (en) 2012-08-02 2020-06-09 Waseda University Metal-base printed circuit board
WO2024009853A1 (ja) * 2022-07-04 2024-01-11 東洋紡株式会社 積層体、及び、積層体の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4392157B2 (ja) 配線板用シート材及びその製造方法、並びに多層板及びその製造方法
JP3051700B2 (ja) 素子内蔵多層配線基板の製造方法
KR100763692B1 (ko) 다층 회로기판 및 반도체 장치
KR100656751B1 (ko) 전자소자 내장 인쇄회로기판 및 그 제조방법
JP3236818B2 (ja) 素子内蔵多層配線基板の製造方法
JPH11126978A (ja) 多層配線基板
JP3853219B2 (ja) 半導体素子内蔵基板および多層回路基板
JP2010283396A (ja) 多層プリント配線板
JP5505433B2 (ja) プリント配線板
JP2002100875A (ja) プリント配線板およびコンデンサ
JP2002290022A (ja) 配線基板およびその製造方法ならびに電子装置
JP2001352141A (ja) プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP4606685B2 (ja) 回路部品内蔵モジュール
JP3441368B2 (ja) 多層配線基板およびその製造方法
JP2004007006A (ja) 多層配線基板
JP2002100870A (ja) プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP4863546B2 (ja) コンデンサ内蔵プリント配線板及びコンデンサ内蔵プリント配線板の製造方法
JP2002271032A (ja) プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP4315580B2 (ja) プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP2002270991A (ja) プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP2002271040A (ja) 多層プリント配線板の製造方法
JP2002100874A (ja) プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP2003133664A (ja) 配線基板およびそれを用いた電子装置
JP2007081423A (ja) 配線板用シート材及びその製造方法、並びに多層板及びその製造方法
JP4437361B2 (ja) プリント配線板及びプリント配線板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040415

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061107

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070309