JP2003114395A - 分割露光装置 - Google Patents

分割露光装置

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JP2003114395A
JP2003114395A JP2001311037A JP2001311037A JP2003114395A JP 2003114395 A JP2003114395 A JP 2003114395A JP 2001311037 A JP2001311037 A JP 2001311037A JP 2001311037 A JP2001311037 A JP 2001311037A JP 2003114395 A JP2003114395 A JP 2003114395A
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scanning
scanning optical
range
optical system
optical systems
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JP2001311037A
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Teruo Sakai
照男 坂井
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Pentax Corp
Original Assignee
Pentax Corp
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70991Connection with other apparatus, e.g. multiple exposure stations, particular arrangement of exposure apparatus and pre-exposure and/or post-exposure apparatus; Shared apparatus, e.g. having shared radiation source, shared mask or workpiece stage, shared base-plate; Utilities, e.g. cable, pipe or wireless arrangements for data, power, fluids or vacuum

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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 分割露光装置における各走査光学系の露光の
重複範囲で描画濃度が濃くなることを防止する為の構成
をシンプルな構成で実現する。 【解決手段】 複数の走査光学系を有する分割露光装置
において、隣接する走査光学系の間に遮光板を配置す
る。この遮光板は、該隣接するそれぞれの走査光学系に
おいて偏向手段によって偏向されるビームのうち一部の
ビームの光路を偏向手段から集光光学部品に至る光路上
でそれぞれ遮光するものであり、さらに、この遮光部材
は、隣接するそれぞれの走査光学系によって走査線上に
形成されるビームスポットの強度を、それぞれ、重複露
光範囲において、隣接する他の走査光学系の走査範囲の
方向に向かって徐々に減少させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザプリンタ、
プリント基板の直接描画或いはフォトマスクの作成を行
う露光装置等の走査光学系を用いる装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光源からのレーザビームを主走査方向に
走査する走査光学系を用いる露光装置として、装置の小
型・軽量化を図る一方、広範囲の露光領域を確保するた
めに、走査光学系を複数備え、走査光学系毎に走査線方
向の走査範囲を分割し、それぞれの走査光学系による走
査範囲をつないで1つの主走査範囲とし、感光材に露光
を行う分割露光装置が知られている。このような分割露
光装置は、走査光学系毎に走査範囲を分割して露光を行
う為、レーザビームの変調タイミングの変動等の原因か
ら、各走査光学系による走査範囲の隣接部分では描画パ
ターンが途切れるという現象を生じる場合がある。
【0003】そこで、各走査光学系の走査範囲の隣接部
分において無露光となる部分が発生しないように、各走
査光学系の走査範囲の隣接部分を互いに重複させ、重複
範囲内で描画データを各々の走査光学系によって二重に
描画する分割露光装置が提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように各走査光学
系の走査範囲の隣接部分に重複範囲を設けて描画を行う
ことで、無露光の部分が発生する事を防ぐことができる
ものの、重複範囲では感光材が各走査光学系によって2
重に露光されることになる為、重複範囲の描画の濃度が
重複範囲以外の部分と比較して濃くなり、描画品質の低
下を来す場合がある。したがって、重複範囲で描画濃度
が濃くなることを防止することが必要となってくる。
【0005】重複範囲で描画濃度が濃くなることを防止
する為の構成として、例えば、重複範囲においてレーザ
光の変調パルス幅をコントロールし、或いはレーザ光源
のパワーコントロールを行うことによって、重複範囲で
のレーザ光の強度を低下させる方式が提案されている。
しかしながら、これらの方式を実現する為には、パルス
幅変調によるレーザ光の強度制御や、レーザ光源のパワ
ー制御など、複雑な制御を必要とする。
【0006】本発明は以上のような事情に鑑みてなされ
た。すなわち、本発明は、分割露光装置における各走査
光学系の露光の重複範囲で描画濃度が濃くなることを防
止する為の構成を、シンプルな構成で実現することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】そのため請求項1に記載
の発明は、光源からのビームを描画データに基づいて変
調する光変調器と、変調されたビームを感光材上で主走
査方向に偏向させるための偏向手段と、偏向されたビー
ムを露光面上に集光させる集光光学部品とを有する複数
の走査光学系を備え、各走査光学系の露光面上における
主走査範囲の隣接部にそれぞれの走査光学系によって重
複して露光される重複露光範囲を有する分割露光装置で
あって、隣接する走査光学系の間に配置され且つ該隣接
するそれぞれの走査光学系において偏向手段によって偏
向されるビームのうち一部のビームの光路を偏向手段か
ら集光光学部品に至る光路上でそれぞれ遮光する遮光部
材を備える。すなわち、この遮光部材は、各走査光学系
における、偏向手段によって偏向されるビームの偏向角
度範囲のうちの一部の偏向角度にあるビームを遮光する
ものである。さらに、この遮光部材は、隣接するそれぞ
れの走査光学系によって走査線上に形成されるビームス
ポットの強度を、それぞれ、重複露光範囲において、隣
接する他の走査光学系の走査範囲の方向に向かって徐々
に減少させる作用を持つ。重複露光範囲において、それ
ぞれの走査光学系による走査線上でのビームスポットの
強度が、それぞれ他方の走査光学系の走査範囲方向に向
かって徐々に減少するので、重複露光範囲でのビームス
ポットの合成強度を均等にし且つビームスポットの合成
強度を重複範囲以外の範囲と等しくすることができる。
【0008】遮光部材を所定の移動方向で駆動制御する
駆動制御手段をさらに備えることによって、隣接するそ
れぞれの走査光学系において、偏向手段によって偏向さ
れるビームのうち遮光部材によって遮光されるビームの
量が、一方の走査光学系において増加し他方の走査光学
系で減少するように制御することができる(請求項
2)。隣接する走査光学系の一つの走査光学系において
遮光されるビームの量を増加させ、それに隣接する他の
走査光学系において遮光されるビームの量を減少させる
ことで、それぞれの走査光学系で形成される走査線上の
ピームスポットの強度が遮光部材によって変化する位置
をそれぞれ移動させ、走査線上における重複露光範囲の
位置を変化させることができる。
【0009】駆動制御手段が、重複露光範囲の走査線上
における位置が副走査方向において走査線毎に異なるよ
うに、走査線毎に遮光部材を駆動制御するものであれ
ば、感光材全体に亘り露光を行った際に、走査線毎の重
複範囲の位置を主走査方向で分散させることができる
(請求項3)。
【0010】例えば、遮光部材は遮光板から構成するこ
とができる。この場合、駆動制御手段は、該遮光板を偏
向手段で偏向されるビームの偏向角度範囲のうち中心方
向に偏向されるビームの光軸とほぼ直交する方向で進退
駆動させることによって、隣接するそれぞれの走査光学
系において、偏向手段によって偏向されるビームのうち
遮光されるビームの量を、一方の走査光学系において増
加し他方の走査光学系で減少するように制御することが
できる(請求項4)。
【0011】或いは、遮光部材は直径方向の寸法が段階
的に異なった回転円板から構成することもできる。この
場合、駆動制御手段は、該回転円板を、偏向手段で偏向
されるビームの偏向角度範囲のうち中心方向に偏向され
るビームの光軸とほぼ垂直な面内で回転駆動することに
より、隣接するそれぞれの走査光学系において、偏向手
段によって偏向されるビームのうち遮光されるビームの
量を、一方の走査光学系において増加させ他方の走査光
学系において減少させることができる(請求項5)。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施形態として
の、分割露光装置の内部の光走査ユニットの構成を表す
ブロック図である。図1に示すように、この光走査ユニ
ットは、2つの走査光学系A,Bを有し、2つの走査光
学系による主走査方向のビーム走査によって、走査線4
9全体に亘りレーザビームの主走査が行われるように構
成されている。なお、走査線49上の各走査光学系の走
査範囲の隣接部分には(走査線49の中央部分)、2つ
の走査光学系A,Bによって重複して露光される重複範
囲が存在している。
【0013】図1において、レーザビームを射出するレ
ーザ光源2は、一般的なマイコンからなる制御マイコン
60、及びレーザ/AOMコントローラ62によって、
レーザドライバ68を介して動作制御される。レーザ光
源2から射出されたレーザビームは、反射鏡4,5で反
射され、ビーム分割手段であるビームスプリッタ6に入
射する。ビームスプリッタ6で反射したビームは、一方
の走査光学系Aに導かれ、ビームスプリッタ6を透過し
たビームは、もう一方の走査光学系Bに導かれる。2つ
の走査光学系は同型なので、ビームの主走査及び変調に
関して、以下では一方の走査光学系Aについてのみ説明
する。なお、図1において同一の部品には同一の符号を
用いて示している。
【0014】ビームスプリッタ6で反射されたビーム
は、走査光学系Aの例えば音響光学素子より成る光変調
器34に導かれる。光変調器34は、制御マイコン60
によって、レーザ/AOMコントローラ62及びAOM
ドライバ67を介して制御される。制御マイコン60
は、描画データが存在する場合にはビームをONに、描
画データが存在しない空白部分についてはビームをOF
Fするように光変調器34を変調制御する。
【0015】光変調器34によって変調されたビーム
は、反射鏡36、37で反射され、ピエゾスキャナ38
に取り付けられた反射鏡39に導かれる。ピエゾスキャ
ナ38は、ピエゾドライバ66、ピエゾ/AOMコント
ローラ61を介して制御マイコン60と接続されてい
る。制御マイコン60はピエゾスキャナ38を制御し
て、反射鏡39の傾斜を変化させる。それによって、反
射鏡39でのビームの反射角が変化し、ビームの露光面
上での位置が副走査方向(走査線49と直交する方向)
で移動する。つまり、ピエゾスキャナ38を制御するこ
とによって走査線49の副走査方向における位置を補正
することができる。
【0016】走査線49の副走査方向における位置を補
正することは、ビームの位置を検出する手段として、例
えばPSD(Position Sensitive Device)を、走査光学系
通過後のビーム経路中であって、露光面に影響を与えな
い露光面周辺部等に設け、このPSDにより検出される
走査線の位置データに基づき、走査線の副走査方向への
本来の位置からのずれ量を求め、そのずれ量に応じてピ
エゾスキャナ38を駆動するようにフィードバック制御
することで達成可能である。従って、制御マイコン60
での制御により、走査光学系毎に走査線の副走査方向の
位置を補正することができる。
【0017】反射鏡39で反射されたビームは、ビーム
拡張手段であるビームエキスパンダレンズ40,42で
ビーム径を拡張され、モータ45により一定速度で回転
駆動されるホログラムディスク44に入射する。ホログ
ラムディスク44に入射したビームは、ホログラムディ
スク44の回転に伴って、走査線49上を走査するよう
に偏向される。ホログラムディスク44を通過したビー
ムは、第1ミラー46で反射され、さらに、凸型のトー
リック面を有する第2ミラー47及び凹型のトーリック
面を有する第3ミラー48で反射されて走査線49上で
集光される。
【0018】モータ45は、モータドライバ65、モー
タコントローラ63を介して制御マイコン60に接続さ
れており、制御マイコン60及びモータコントローラ6
3によって回転を制御される。また、モータ45の回転
数が、エンコーダ64を介してモータコントローラ63
にフィードバックされており、制御マイコン60及びモ
ータコントローラ63によって、モータ45の回転数が
所定の値で維持されるように制御される。
【0019】ここで図2には、本発明の分割露光装置1
の外観を表す正面図が示され、図3にはその側面図が示
されている。分割露光装置1にはその上部に図1で示し
た光走査ユニットが搭載される。レーザビームは、光走
査ユニットによって走査され、感光材9が載置される露
光面上に集光される。分割露光装置1は、感光材9が載
置される移動ステージ10が上下方向(図3のZ方向)
に移動可能に構成されている。また、移動ステージ10
は一軸テーブル12上に固定されており、一軸テーブル
12が、図3に示すサーボモータ13によって、副走査
方向(図3のX方向)に移動するように構成されてい
る。
【0020】さらに、図1を参照すると、ホログラムデ
ィスク44と第1ミラー46の間には、遮光板50が配
置されている。この遮光板50は、隣接するそれぞれの
走査光学系A及びBにおいて、ホログラムディスク44
によって偏向されるビームのうち一部のビームの光路を
それぞれ遮光する。すなわち遮光板50は、一方の端部
が、走査光学系Aで偏向されるビームのうち最も走査光
学系Bよりに偏向されたビームの光路を遮光し、もう一
方の端部が、走査光学系Bで偏向されるビームのうち最
も走査光学系A側に偏向されたビームの光路を遮光する
状態で配置されている。遮光板50の位置及び作用を詳
細に説明する為の図を図4に示す。図4には、2つの走
査光学系A,Bそれぞれに関し、露光面上でのビームの
スポット径の大きさの変化が線の太さとして模式的に示
されている(符号71,72)。
【0021】図4に示すように、遮光板50は、ホログ
ラムディスク44と第1ミラーの間の、ビームが平行光
となっている光路中に配置される。また、遮光板50
は、一方の端部50aが、走査光学系A側で偏向される
レーザビームのうち図の最も右側に偏向されるビームの
光軸L10’(図5参照)よりも若干左側の光軸L10
上に位置し、且つ、他方の端部50bが、走査光学系B
側で偏向されるレーザビームのうち図の最も左側に偏向
されるビームの光軸L23’(図5参照)よりも若干右
側の光軸L23上に位置する状態で配置される。このこ
とにより、走査光学系Aによって露光面上に形成される
ビームスポットのスポット径は、走査光学系Aのみの走
査範囲HAでは一定のスポット径となるが、2つの走査
光学系の重複範囲Cでは徐々に減少し、光軸L10に対
応する位置では大きく減少する。
【0022】同様に走査光学系Bによって露光面上に形
成されるビームスポットのスポット径は、走査光学系B
のみの走査範囲HBでは一定のスポット径となるが、2
つの走査光学系の重複範囲Cでは徐々に小さくなり、光
軸L23に対応する位置では大きく減少する。
【0023】図5〜7は、重複範囲Cにおいて、それぞ
れの走査光学系によって形成されるビームスポットのス
ポット径が、図4で示したように徐々に変化することを
説明する為の図である。図5には、走査光学系Bによっ
て形成される露光面上のビームスポットの強度分布(D
1)と、走査光学系Aによって形成される露光面上のビ
ームスポットの強度分布(D2)と、走査光学系A及び
走査光学系Bによるビームスポットの合成強度を表す強
度分布(D3)とが模式的に示されている。
【0024】図5において符号B1及び符号B2の円
は、ホログラムディスク44と第1ミラー46の間での
ビームの断面方向の大きさすなわちビーム形状を表して
いる。ビームB1は、走査光学系Bの光軸L22の位置
にあるビームに対応しており、ビームB2は、走査光学
系Aの光軸L10よりもさらに図の右側の光軸L10’
に光軸が位置する場合のビームに対応している。また、
図5には、光軸L22を通過するビームが、第2ミラー
47及び第3ミラー48によって走査線49上で集光さ
れる状態も模式的に示されている。
【0025】走査光学系Bで偏向されるビームのうち、
光軸L21から光軸L22の範囲のビームは、ビームB
1のビーム径の状態で第2ミラーに入射して集光される
ことになる為、光軸L21から光軸L22の偏向範囲で
の露光面上のビーム強度は一定となる(強度分布D1の
斜線部)。一方、ビームB2の位置にあるビームは、遮
光板50によって完全に遮光される。
【0026】図6は、図5の状態から、ビームの光軸が
図のF方向に移動した状態を示している。走査光学系B
のビームは光軸L23上にあり、走査光学系Aのビーム
は光軸L10上にある。走査光学系Bの光軸L23上に
あるビームB3は、図のように遮光板50によってその
ビーム径のほぼ半分に当たる量が遮光され、このことに
より露光面上のビームスポットのスポット径は減少し、
露光面上でのビーム強度は図のように減少し実質的に1/
2になる。すなわち、ビームが光軸L22から光軸L2
3に向かって偏向されて移動するに従い、露光面上での
ビームのスポット径が徐々に減少するとともに、露光面
上でのビーム強度も徐々に減少する(強度分布D1参
照)。
【0027】また、走査光学径Aの光軸L10上にある
ビームB4は、遮光板50によってその量のほぼ半分が
遮光されることになり、それによって露光面上における
スポット径は、遮光板50による遮光が無い場合に比べ
て小さくなり、露光面上でのビーム強度は実質的に1/2
となる。ビームが光軸L10から光軸L11の位置にま
で移動されるとき、遮光板50によって遮光されるビー
ムの量が徐々に減り、それによって露光面上でのスポッ
ト径は徐々に増加し、また、ビーム強度は徐々に増加す
る(強度分布D2参照)。光軸L11から光軸L12に
至る偏向範囲では、ビームが遮光されない為、露光面上
では図のように一定の強度分布となる。したがって、重
複範囲Cにおけるビームの合成強度は、領域HA及び領
域HBに等しく且つ均一なものとなる(強度分布D3参
照)
【0028】図7は、走査光学系Aについては、ビーム
が光軸L11の位置にある場合を示している。この場
合、ビームは遮光板50によって遮光されず、本来のビ
ーム径のビームが第2ミラー47と第3ミラー48によ
って集光される。なお、図7に示すように走査光学系B
のビームが、光軸L23より左側の光軸L23’の位置
にある場合には、遮光板50によって完全に遮光され
る。
【0029】ここで図1を参照すると、遮光板50に
は、図1に示すようにラックが設けられており、モータ
51の回転軸上に設けられたピニオンによって遮光板5
0は、走査線49と平行なW方向で移動できる様に構成
されている。モータ51の回転は、不図示のモータドラ
イバを介して制御マイコン60が制御できるようになっ
ている。遮光板50を図のW方向で移動させることによ
り、重複範囲Cの位置を走査線49方向で変化させるこ
とができる。図8は、このことを説明する為の図であ
る。
【0030】図8に示すように、遮光板50をモータ5
1によって図のW方向に僅かに移動させると、遮光板
50が走査光学系Aのビームの偏向の範囲と重なる量が
増える。この場合、ビームは、光軸L11よりも図の左
側の位置から遮光板50によって遮光され始めることに
なり、したがって、走査光学系Aのビームの強度分布D
2の傾斜部K2を図の左側に移動させることが可能にな
る。
【0031】逆に、このとき遮光版50が走査光学系B
のビームの偏向の範囲と重なる量は減る。この場合、ビ
ームは、光軸L22よりも図の左側の位置から遮光板5
0によって遮光され始めることになり、したがって、走
査光学系Bのビームの強度分布D1の傾斜部K1を図の
左側方向へ移動させることが可能になる。符号D4の強
度分布は、この場合の合成の強度分布を示している。こ
の場合の重複範囲Cは、遮光板50の移動がない場合
の重複範囲Cよりも図の左側に移動している。
【0032】遮光板50をモータ51によって図のW
方向に僅かに移動させると、遮光板50が走査光学系B
のビームの偏向の範囲と重なる量が増え、したがって、
走査光学系Bのビームの強度分布D1の傾斜部K1を図
の右側に移動させることが可能になる。一方、この場
合、遮光版50が走査光学系Aのビームの偏向の範囲と
重なる量は減り、したがって、走査光学系Aのビームの
強度分布D2の傾斜部K2も図の右側方向へ移動させる
ことが可能になる。符号D5の強度分布は、この場合の
合成の強度分布を示している。この場合、重複範囲C
は、遮光板50の移動がない場合の重複範囲Cよりも図
の右側に移動する。
【0033】このように、制御マイコン60から遮光板
50の位置を制御することによって重複範囲の位置を主
走査方向で移動できるので、例えば、露光面を副走査方
向に移動させて感光材に描画を行う際に、1主走査ライ
ン毎に重複範囲を移動させることで、感光材全体として
重複範囲の位置を主走査方向で分散させ、それにより重
複範囲をより目立たなくし、描画品質をより高くするこ
とが可能である。
【0034】図9及び図10は、本発明の第2の実施形
態の構成を表す図である。第2の実施形態は、図1の遮
光板50と同等の作用を、回転円板53によって実現す
るものである。図9は、回転円板53及びこれを回転駆
動するモータ54の配置の状態を示している。回転円板
53は、図9と垂直な面内で回転する。図10は、回転
円板53の回転面内の形状を表す。
【0035】回転円板53が、図9に示す状態にあると
き、回転円板53の一方の端部53aは、走査光学系A
側で偏向されるレーザビームのうち図の最も右側に偏向
されるビームの光軸L10’を遮光するように位置し、
且つ、他方の端部53bも、走査光学系B側で偏向され
るレーザビームのうち図の最も左側に偏向されるビーム
の光軸L23’を遮光する位置に配置される。このこと
により、回転円板53は、図4−7に示す位置に配置さ
れた遮光板50と同一の遮光の効果を示し、図4−7で
示した場合と同一の合成強度分布D3及び重複範囲Cが
得られる。
【0036】また、回転円板53は、図10に示すよう
に直径方向の寸法が段階的に変化する形状と成ってい
る。したがって、回転円板53を回転位置を移動させる
ことで、回転円板53のW方向の寸法を変化させること
ができる。このことは、図8で説明したように遮光板5
0をW方向又はW方向に移動させるのと同等の効果
を、回転円板53を所定の位置に回転移動させることに
よって得ることができることを意味している。したがっ
て、回転円板53を回転移動させ、図8の場合と同じく
強度分布D5或いは強度分布D4を得て、重複範囲を重
複範囲Cまたは重複範囲Cの位置に移動させること
も、重複範囲の位置をさらに変化させることも可能であ
る。
【0037】回転円板53の回転を制御マイコン60か
ら制御することによって、露光面を副走査方向に移動さ
せて感光材に描画を行う際に、1主走査ライン毎に重複
範囲を主走査方向で移動させ、感光材全体として重複範
囲の位置を主走査方向で分散させ、それによって重複範
囲をより目立たなくし、描画品質をより高くすることが
可能である。
【0038】以上で説明した実施形態に関しいくつかの
変形を行なうことができる。例えば、上述の実施形態
は、2つの走査光学系を有する露光装置に関するもので
あったが、走査光学系A,Bに並列に走査光学系を追加
し、さらに遮光板50を同等の位置に追加することで、
3以上の走査光学系を有する光走査ユニット及び分割露
光装置に本発明を適用することができる。
【0039】遮光板50及び回転円板53を配置する位
置は、上述の実施形態で説明した位置に限られることは
なく、ホログラムディスク44から第2ミラー47に至
る、ビームが平行光となっている光路中であれば、いず
れかの位置とすることができる。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、2
つの隣接する走査光学系の間に遮光板を配置することに
よって、走査線上の重複範囲においてビームスポットの
強度を、それぞれ他の走査光学系の方向に向かって徐々
に減少させることができる。したがって、きわめてシン
プルな構成によって、重複範囲におけるビームスポット
の合成強度を均一化し、且つ、重複範囲におけるビーム
スポットの強度を重複範囲以外の走査範囲の強度と等し
くすることができ、描画品質を高めることが可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態としての、分割露光装
置の内部の光走査ユニットの構成を表すブロック図であ
る。
【図2】本発明の分割露光装置の外観を示す正面図であ
る。
【図3】本発明の分割露光装置の外観を示す側面図であ
る。
【図4】遮光板の配置及び作用を説明する為の図であ
る。
【図5】図6及び図7と共に、重複範囲において、それ
ぞれの走査光学系によって形成されるビームスポットの
強度が徐々に変化することを説明する為の図である。
【図6】図5及び図7と共に、重複範囲において、それ
ぞれの走査光学系によって形成されるビームスポットの
強度が徐々に変化することを説明する為の図である。
【図7】図5及び図6と共に、重複範囲において、それ
ぞれの走査光学系によって形成されるビームスポットの
強度が徐々に変化することを説明する為の図である。
【図8】遮光板をモータ51によって図のWまたはW
向に移動させることによって、重複範囲の走査線上に
おける位置が変化することを説明する為の図である。
【図9】第2の実施形態として遮光部材に回転円板を用
いた場合における、重複範囲でビームスポットの強度が
徐々に変化すること、及び重複範囲の走査線上における
位置が変化することを説明する為の図である。
【図10】図9の遮光部材としての回転円盤の回転面内
における形状を示す図である。
【符号の説明】
2 レーザ光源 6 ビームスプリッタ 34 光変調器 38 ピエゾスキャナ 39 反射鏡 40,42 ビームエキスパンダ 44 ホログラムディスク 45 モータ 46 第1ミラー 47 第2ミラー 48 第3ミラー 49 走査線 60 制御マイコン 61 ピエゾ/AOMコントローラ 62 レーザ/AOMコントローラ 63 モータコントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04N 1/036 H01L 21/30 529 5C072 1/113 B41J 3/00 D 5F046 H04N 1/04 104A Fターム(参考) 2C362 AA07 AA48 AA54 AA68 BA23 BA49 BA67 BA71 2H045 AD01 BA02 BA22 BA34 BA36 CA98 CB35 CB65 2H095 BA05 BA06 BB32 BB33 2H097 AA03 AA11 BB01 CA17 GB04 LA09 LA10 5C051 AA02 CA07 DB02 DB22 DB24 DB30 DC04 DC07 DE09 DE26 DE30 5C072 AA03 BA17 HA02 HA13 HA20 HB04 XA05 5F046 AA11 BA07 CA03 CB01 CB05 CB22 CC01 DA01

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源からのビームを描画データに基づい
    て変調する光変調器と、前記変調されたビームを感光材
    上で主走査方向に偏向させるための偏向手段と、前記偏
    向されたビームを前記露光面上に集光させる集光光学部
    品とを有する複数の走査光学系を備え、前記各走査光学
    系の露光面上における主走査範囲の隣接部に前記それぞ
    れの走査光学系によって重複して露光される重複露光範
    囲を有する分割露光装置であって、 隣接する走査光学系の間に配置され且つ該隣接するそれ
    ぞれの走査光学系において前記偏向手段によって偏向さ
    れるビームのうち一部のビームの光路を前記偏向手段か
    ら前記集光光学部品に至る光路上でそれぞれ遮光する遮
    光部材を備え、 前記隣接するそれぞれの走査光学系によって走査線上に
    形成されるビームスポットの強度が、前記遮光部材によ
    って、それぞれ、前記隣接する走査光学系の重複露光範
    囲において隣接する他の走査光学系の走査範囲の方向に
    向かって徐々に減少し、前記隣接する走査光学系の前記
    重複露光範囲におけるビームスポットの合成強度が均等
    であり且つ前記ビームスポットの合成強度が前記隣接す
    る走査光学系の前記重複露光範囲以外の範囲におけるビ
    ームスポットの強度と等しいこと、 を特徴とする分割露光装置。
  2. 【請求項2】 前記隣接するそれぞれの走査光学系にお
    いて、前記偏向手段によって偏向されるビームのうち前
    記遮光部材によって遮光されるビームの量が、一方の走
    査光学系において増加し他方の走査光学系で減少するよ
    うに、前記遮光部材を所定の移動方向で駆動制御する駆
    動制御手段をさらに備えること、を特徴とする請求項1
    に記載の分割露光装置。
  3. 【請求項3】 前記駆動制御手段は、前記重複露光範囲
    の走査線上における位置が副走査方向において走査線毎
    に異なるように、走査線毎に前記遮光部材を駆動制御す
    ること、を特徴とする請求項2に記載の分割露光装置。
  4. 【請求項4】 前記遮光部材は遮光板から成り、前記駆
    動制御手段は、該遮光板を前記偏向手段で偏向されるビ
    ームの偏向角度範囲のうち中心方向に偏向されるビーム
    の光軸とほぼ直交する方向で進退駆動させること、を特
    徴とする請求項2または請求項3に記載の分割露光装
    置。
  5. 【請求項5】 前記遮光部材は直径方向の寸法が段階的
    に異なった回転円板から成り、前記駆動制御手段は、該
    回転円板を前記偏向手段で偏向されるビームの偏向角度
    範囲のうち中心方向に偏向されるビームの光軸とほぼ垂
    直な面内で回転駆動すること、を特徴とする請求項2ま
    たは請求項3に記載の分割露光装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006165548A (ja) * 2004-12-02 2006-06-22 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
JP2020194167A (ja) * 2015-03-20 2020-12-03 株式会社ニコン パターン描画装置

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