JP2001162863A - 解像度可変の光走査装置 - Google Patents

解像度可変の光走査装置

Info

Publication number
JP2001162863A
JP2001162863A JP35374199A JP35374199A JP2001162863A JP 2001162863 A JP2001162863 A JP 2001162863A JP 35374199 A JP35374199 A JP 35374199A JP 35374199 A JP35374199 A JP 35374199A JP 2001162863 A JP2001162863 A JP 2001162863A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aperture plate
beam diameter
control means
light source
diameter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP35374199A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruo Sakai
照男 坂井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd filed Critical Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP35374199A priority Critical patent/JP2001162863A/ja
Publication of JP2001162863A publication Critical patent/JP2001162863A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 解像度を変えるために光源、光偏向手段、制
御回路を別々に備えることなく、装置をコンパクトに
し、しかも任意の解像度で描画することのできる光走査
装置及びそれを用いた露光装置を提供することを目的と
する。 【解決手段】 本発明の光走査装置は、一つのレーザビ
ームを射出する光源と、前記レーザビームを複数のビー
ムに分割するビーム分割手段と、描画データに基づいて
複数のレーザビームをそれぞれ変調する光変調器と、前
記変調されたビームを感光材上で主走査方向に偏向させ
るための走査光学系とを備え、前記光源と前記ビーム分
割手段との間に、ビーム径を拡張するビーム拡張手段
と、ビーム径を拡張されたビームのビーム径を絞る為の
絞り板と、前記絞り板を動作させる絞り板制御手段とが
備えられており、この絞り板制御手段によって、前記絞
り板を動作させてビーム径を変更し、描画解像度を変更
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板の直
接描画、フォトマスクの作成等を行うレーザ描画装置又
はレーザプリンタ等のOA機器に用いられ、描画データ
に基づいて変調したビームを主走査方向に偏向させて、
感光材に対して描画を行う光走査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、描画データに基づいて変調し
たビームを主走査方向に偏向させる光走査装置を備えた
装置として、例えば、プリント基板、フォトマスクフィ
ルム等の感光材に対してパターンを描画するために、レ
ーザ光源から射出されたビームを、回路パターンに対応
したラスタデータに応じて変調し、ポリゴンミラー等の
光偏向手段を介して露光面で走査させ、感光材に回路パ
ターンに対応した画像を露光する露光装置が知られてい
る。また、上記の露光装置において、走査方向の露光範
囲を広くし、かつ、装置を小型・軽量化する為に、ポリ
ゴンミラー、fθレンズ、コンデンサレンズ等により構
成される走査光学系を複数備え、走査線上の走査範囲を
各走査光学系毎に分割して露光するようにした分割露光
装置も従来より知られている。
【0003】以上のような露光装置において、1つの感
光材を部分的に異なる解像度で描画し、或いは感光材の
種類に応じて異なる解像度で描画することが要求される
場合がある。例えば、1つの感光材上で、高解像度での
描画が必要でない文字等と、高解像度が必要となる精細
な回路パターン等を、異なる解像度で描画したい場合で
ある。このような要求に対応するために、従来の露光装
置では、ビーム径の異なる2つの光源を備え、それぞれ
のビームを別々の光偏向手段に入射させて偏向させ、そ
れぞれの偏向されたビームを同一の走査線上に集光させ
て走査させることにより、2種類の解像度での描画を実
現していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ように2つの光源を備えて解像度を可変とした装置にお
いては、2つのビームを同一の走査線上に集光しなけれ
ばならない為、光源、レンズ等を精密に調整する必要が
あり、環境温度変化或いは経過時変化によってこれらの
相互位置関係に狂いが生じるという問題があった。ま
た、光源が2つである為、光源の出力の調整、ビームの
ON/OFF変調を別々にコントロールする必要があ
り、制御回路が複雑となりコストアップとなるという問
題もあった。また、解像度の種類をさらに増やすために
は、さらに別の光源と別の光偏向手段が必要となり、そ
れに従って、装置が複雑でかつ大きくなるため、実現が
困難であった。
【0005】本発明は、解像度を変えるために光源、光
偏向手段、制御回路を別々に備えることなく、装置をコ
ンパクトにし、しかも任意の解像度で描画することので
きる解像度可変の光走査装置及びそれを用いた露光装置
を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の光走査
装置は、一つのレーザビームを射出する光源と、描画デ
ータに基づいてレーザビームを変調する光変調器と、前
記変調されたビームを感光材上で主走査方向に偏向させ
るための走査光学系とを備え、前記光源と光変調器との
間に、ビーム径を拡張するビーム拡張手段と、前記ビー
ム径を拡張されたビームのビーム径を絞る為の絞り板と
を備え、また、前記絞り板を動作させる絞り板制御手段
が備えられおり、この絞り板制御手段によって、前記絞
り板を動作させてビーム径を変更し、描画解像度を変更
する。
【0007】また、請求項2に記載の光走査装置は、一
つのレーザビームを射出する光源と、前記レーザビーム
を複数のビームに分割するビーム分割手段と、描画デー
タに基づいて複数のレーザビームをそれぞれ変調する光
変調器と、前記変調されたビームを感光材上で主走査方
向に偏向させるための走査光学系とを備え、前記光源と
前記ビーム分割手段との間に、ビーム径を拡張するビー
ム拡張手段と、ビーム径を拡張されたビームのビーム径
を絞る為の絞り板と、前記絞り板を動作させる絞り板制
御手段とが備えられており、この絞り板制御手段によっ
て、前記絞り板を動作させてビーム径を変更し、描画解
像度を変更する。
【0008】また、請求項7に記載の露光装置は、一つ
のレーザビームを射出する光源と、描画データに基づい
てレーザビームを変調する光変調器と、前記変調された
ビームを感光材上で主走査方向に偏向させるための走査
光学系とを備え、前記光源と光変調器との間には、ビー
ム径を拡張するビーム拡張手段と、前記ビーム径を拡張
されたビームのビーム径を絞る為の絞り板と、前記絞り
板を動作させる絞り板制御手段とを備え、さらに、副走
査方向に移動可能な一軸テーブルと、一軸テーブル上に
取り付けられ上下方向に移動可能な移動ステージとを備
え、前記絞り板制御手段が、前記絞り板を動作させてビ
ーム径を変更することにより、前記移動ステージ上に載
置される感光材を、異なる解像度で描画する。
【0009】また、請求項8に記載の露光装置は、一つ
のレーザビームを射出する光源と、前記レーザビームを
複数のビームに分割するビーム分割手段と、描画データ
に基づいて複数のレーザビームをそれぞれ変調する光変
調器と、前記変調されたビームを感光材上で主走査方向
に偏向させるための走査光学系とを備え、前記光源と前
記ビーム分割手段との間に、ビーム径を拡張するビーム
拡張手段と、ビーム径を拡張されたビームのビーム径を
絞る為の絞り板と、前記絞り板を動作させる絞り板制御
手段とを備え、さらに、副走査方向に移動可能な一軸テ
ーブルと、前記一軸テーブル上に取り付けられ上下方向
に移動可能な移動ステージとを備え、前記絞り板制御手
段が、前記絞り板を動作させてビーム径を変更すること
により、前記移動ステージ上に載置される感光材を、異
なる解像度で描画する。
【0010】なお、請求項1、請求項2、請求項7、及
び請求項8に記載の光走査装置或いは露光装置に備えら
れる絞り板は、段階的に或いは連続的にサイズが変化す
る開口部を有し、絞り板制御手段が、絞り板を平行移動
させるか、或いは回転させることにより、ビームの経路
上にサイズの異なる開口部を配置し、開口部を通過する
ビームのビーム径を変更させる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は本発明の光走査装置を表し
ている。また、図2は、図1の絞り板52周辺を拡大し
た図である。なお、図1の光走査装置は、2つの走査光
学系を備え、それぞれの走査光学系毎に走査範囲を分割
して露光することができるタイプの光走査装置として構
成されている。図1において、光源2から発せられた1
つのレーザビームは、反射鏡4,5で反射され、ビーム
エキスパンダレンズ50,51で構成されるビームエキ
スパンダでビーム径が拡大されると共に平行光とされ、
拡大及び平行光とされたビームがビーム分割手段である
ビームスプリッタ6に入射し、ビームスプリッタ6で反
射したビームは、一方の走査光学系に導かれ、ビームス
プリッタ6を透過したビームは、もう一方の走査光学系
に導かれる。なお、光源2は、レーザドライバ68、レ
ーザ/AOMコントローラ62を介して制御マイコン6
0と接続されており、レーザ/AOMコントローラ62
は、制御マイコン60からの信号を受信すると、レーザ
ビームの出力等を指示する信号をレーザドライバ68に
送信し、光源2を制御する。
【0012】ビームエキスパンダレンズ51とビームス
プリッタ6との間には絞り板52が備えられる。絞り板
52には複数の径の異なる開口が設けられており、絞り
板52の位置を図2に示す矢印A方向で移動させ、径の
異なる開口にビームを通すことにより、絞り板52通過
後のビーム径が変更される。すなわち、ビームスプリッ
タ6には、ビーム径を変更された後のビームが入射する
ように構成されているので、図1のように2つの走査光
学系を備る光走査装置であっても、レーザ光源及び絞り
板は一組備えていれば、解像度を変更した描画が実現で
きる。
【0013】図2に示すように絞り板52は、絞り板制
御手段であるアクチュエータ53に接続されており、ア
クチュエータ53によって図2の矢印Aの方向に移動制
御される。アクチュエータ53は、図1のようにアクチ
ュエータドライバ69、アクチュエータコントローラ7
0を介して制御マイコン60に接続されており、制御マ
イコン60からの指示によってアクチュエータ53が作
動し、絞り板52の位置が定められる。
【0014】図1に示すように、ビームスプリッタ6で
2つに分割されたビームは、例えば音響光学素子より成
る光変調器34に導かれる。光変調器34は、制御マイ
コン60がレーザ/AOMコントローラ62、AOMド
ライバ67を介して制御可能に構成されている。制御マ
イコン60は、描画データが存在する場合にはビームを
ONに、描画データが存在しない空白部分についてはビ
ームをOFFするように光変調器34を変調制御する。
【0015】光変調器34によって変調されたビーム
は、反射鏡36、37で反射され、ピエゾスキャナ38
上に取り付けられた反射鏡39に導かれる。ピエゾスキ
ャナ38は、ピエゾドライバ66、ピエゾ/AOMコン
トローラ61を介して制御マイコン60と接続される。
制御マイコン60はピエゾスキャナ38を制御して、反
射鏡39を傾斜させる。それによって、反射鏡39での
ビームの反射角が変化し、露光面上で走査される走査線
49の位置が副走査方向に移動する。この場合、図示は
していないが、ビームの位置を検出するPSD(Pos
ition Sensitive Device)を、
ビーム偏向手段通過後(すなわち、非球面鏡48で反射
された後)のビーム経路中であって、感光材の露光範囲
に影響を与えない位置に備え付けて、PSDによって走
査線の位置を検出させ、さらに、制御マイコン60とP
SDを接続してPSDの検出した位置データを制御マイ
コン60が読み取り可能に構成することで、制御マイコ
ン60によって、PSDの検出した走査線の位置データ
に基づいて、走査線の副走査方向へのずれ量を求めるこ
とが可能となる。また、求められたずれ量に応じて、そ
のずれを打ち消すように、制御マイコン60が、ピエゾ
スキャナ38にフィードバックをかけることで、走査線
の副走査方向のずれを補正することが可能である。
【0016】反射鏡39で反射されたビームは、さらに
反射鏡41で反射され、モータ45により回転駆動され
るホログラムディスク44に入射する。さらに、ホログ
ラムディスク44に入射するビームは、ホログラムディ
スク44の回転に伴って偏向され、ビームベンダ46で
反射され、ビームを集光する非球面鏡47、48で反射
され、走査線49の位置を走査する。なお、モータ45
は、モータコントローラ63,モータドライバ65を介
して制御マイコン60に接続されており、制御マイコン
60が指示する回転数で回転駆動される。また、モータ
45の回転速度を示す信号が、モータ45からエンコー
ダドライバ64を介してモータコントローラ63にフィ
ードバックされており、モータコントローラ63は、モ
ータ45の回転数が常に制御マイコン60の指示した値
となるようにモータドライバ65へ送る信号を制御す
る。
【0017】図3は、図1の光走査装置を用いた露光装
置の外観を表す正面図であり、図4はその側面図であ
る。図3の露光装置にはその上部に図1で示した光走査
装置が搭載されている。光走査装置によって走査される
ビームは、感光材9が載置される露光面に集光される。
露光装置1は、感光材9が載置される移動ステージ10
が図の上下方向(図4のZ方向)に移動可能に構成され
ており、感光材9の種類に応じて、ビームが感光材の露
光面上に適正に集光するように調節することができる。
また、移動ステージ10は一軸テーブル12上に固定さ
れており、一軸テーブル12が、図4に示すサーボモー
タ13によって、レーザビームの走査方向と直交する副
走査方向(図4のX方向)に移動するように構成されて
いる。
【0018】露光装置1で2種類の解像度で描画を行う
場合には、所望の第1の解像度となる開口部をビームが
通過するように、制御マイコン60がアクチュエータ5
3を制御して絞り板52を移動させる。次に、一軸テー
ブル12が描画開始位置に移動する。そして、ビームの
変調及び走査が開始されると共に、一軸テーブル12が
副走査方向に移動して、感光材の第1の解像度で描画す
べき部分全てについて描画が行われる。さらに、第2の
解像度で描画を行う場合、制御マイコン60がアクチュ
エータ53を制御し、第2の解像度となる開口部をビー
ムが通過するように、絞り板52を移動させる。次に、
一軸テーブル12が描画開始位置まで移動する。そし
て、ビームの変調及び走査が開始されると共に、一軸テ
ーブル12が副走査方向に移動して、感光材の第2の解
像度で描画すべき部分全てについて描画が行われる。
【0019】図1のような光走査装置において、走査線
上のビームの集光径は、一般に次式で表される。 d=2.44・λ・f/D (但し、dは集光径、Dはレーザビーム径、fは集光鏡
の焦点距離、λはレーザ光の波長である。) ここで、レーザ光の波長λ=532nm、集光鏡の焦点
距離f=200mm、絞り板52で作ることのできるビ
ーム径の一つをD=20mmとすると、集光径は0.
013mmとなり、これは約2000DPIに相当す
る。また、絞り板52で作ることのできる別のビーム径
をD=5mmとすると、集光径は0.052mmとな
り、これは約490DPIに相当する。従って、絞り板
52によってビーム径を、20mmと5mmで切り替え
て描画することで、一つの感光材に対して、約2000
DPIと約490DPIの2種類の解像度で描画するこ
とができる。
【0020】図1で示した絞り板52は、長方形の形状
でその長手方向に径の異なる円形の開口部がくり抜かれ
て形成された物であるが、絞り板は、ビーム径を変える
ことのできるものであれば、これに限定されるものでは
ない。図5には、絞り板の他の例が示されている。絞り
板は、図5の絞り板82のように、長方形の長手方向に
沿って段階的に大きさが変化する1つの開口部を有する
ものであってもよく、段階的に変化する代わりに連続的
に変化するテーパー状の開口部を有するものであっても
よい。また、くり抜かれた開口を有するものでなく、平
行平面ガラス上に必要部分のみ光が透過するようにコー
ティングした物であっても良い。絞り板81は、平行平
面ガラスより成り、複数の円形の透過部分以外の部分
(図の灰色部分)にコーティングを行い不透過領域とし
たものである。同様に、絞り板83も、平行平面ガラス
により成り、階段状の透過部分以外の部分(図の灰色部
分)にコーティングを行い、不透過領域としたものであ
る。
【0021】さらに、図6は絞り板の他の例を示してい
る。図6に示すように絞り板の形状は円形であって、そ
の同心円上に開口部分を有する物であっても良い。この
ように、絞り板が円形である場合には、図1のようにア
クチュエータで絞り板を平行移動させる代わりに、モー
タによって絞り板を回転制御して、絞り板を通過するビ
ームのビーム径を変更させる。絞り板84は、その同心
円上に径の異なる円形の開口部を複数備えて構成されて
いる。また、絞り板85は平行平面ガラスより成り、円
形の透過部分以外の部分(図の灰色部分)がコーティン
グされ、不透過領域となっている。絞り板86は、その
同心円上に大きさが段階的に変化する1つの開口部を備
えて構成されている。また、絞り板87は平行平面ガラ
スより成り、大きさが段階的に変化する透過部分以外の
部分(図の灰色部分)がコーティングされ、不透過領域
となっている。
【0022】以上で説明した、本発明の光走査装置及び
露光装置は、2つの走査光学系を有するものであった
が、図1から一つの走査光学系を削除することで、走査
光学系が1つの場合の光走査装置が実現される。また、
図1の光走査装置の走査光学系に並列に走査光学系を追
加することで、3以上の数の走査光学系を有する光走査
装置が実現される。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ビーム径の異なるレーザ光源を複数備えることなく、一
つの光源によって、任意の解像度で描画を行うことが可
能である。したがって、複数の光源を備えて複数の解像
度を実現する従来の装置と比較すると、装置を小型・軽
量化することができ、また、光源の出力の調整、ビーム
のON/OFF変調を別々にコントロールする必要がな
く制御が簡潔になる。
【0024】さらに、走査光学系を複数備える分割露光
装置を構成する場合にも、本発明においては、ビームス
プリッタの前でビーム径を変える為、各走査光学系毎に
光源及びその制御回路を備える必要はなく、光源、絞り
板及び制御回路は一組で良い。従って、この場合にも装
置を小型・軽量化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光走査装置を示すブロック図である。
【図2】図1の絞り板付近の拡大図である。
【図3】図1の光走査装置を搭載した分割露光装置の正
面図である。
【図4】図3の分割露光装置の側面図である。
【図5】長方形の絞り板の例を示す図である。
【図6】円盤状の絞り板の例を示す図である。
【符号の説明】
1 分割露光装置 2 レーザ光源 3 レーザビーム 4 反射鏡 5 反射鏡 6 ビームスプリッタ 7 走査ユニット 8 反射鏡 9 感光材 10 移動ステージ 11 基台 12 一軸テーブル 13 サーボモータ 34 光変調器 38 光偏光器 39 反射鏡 44 ホログラムディスク 45 モータ 46 ベンダー 47,48 非球面鏡 50,51 ビームエキスパンダレンズ 52 絞り板 53 アクチュエータ 60 制御マイコン 61 ピエゾ/AOMコントローラ 62 レーザ/AOMコントローラ 63 モータコントローラ 64 エンコーダドライバ 65 モータドライバ 66 ピエゾドライバ 67 AOMドライバ 68 レーザドライバ 69 アクチュエータドライバ 70 アクチュエータコントローラ

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一つのレーザビームを射出する光源と、 描画データに基づいてレーザビームを変調する光変調器
    と、 前記変調されたビームを感光材上で主走査方向に偏向さ
    せるための走査光学系とを備え、 前記光源と光変調器との間に、 ビーム径を拡張するビーム拡張手段と、 前記ビーム径を拡張されたビームのビーム径を絞る為の
    絞り板と、 前記絞り板を動作させる絞り板制御手段とを備え、 前記絞り板制御手段により、前記絞り板を動作させてビ
    ーム径を変更し、描画解像度を変更すること、 を特徴とする光走査装置。
  2. 【請求項2】 一つのレーザビームを射出する光源と、 前記レーザビームを複数のビームに分割するビーム分割
    手段と、 描画データに基づいて複数のレーザビームをそれぞれ変
    調する光変調器と、 前記変調されたビームを感光材上で主走査方向に偏向さ
    せるための走査光学系とを備え、 前記光源と前記ビーム分割手段との間に、 ビーム径を拡張するビーム拡張手段と、 前記ビーム径を拡張されたビームのビーム径を絞る為の
    絞り板と、 前記絞り板を動作させる絞り板制御手段とを備え、 前記絞り板制御手段により、前記絞り板を動作させてビ
    ーム径を変更し、描画解像度を変更すること、 を特徴とする光走査装置。
  3. 【請求項3】 前記絞り板は、段階的にサイズが変更す
    る開口部を有すること、 を特徴とする請求項1又は2に記載の光走査装置。
  4. 【請求項4】 前記絞り板は、連続的にサイズが変化す
    る開口部を有すること、 を特徴とする請求項1又は2に記載の光走査装置。
  5. 【請求項5】 前記絞り板制御手段が、前記絞り板を平
    行移動させ、ビームの経路上にサイズの異なる開口部を
    配置し、ビーム径を変更すること、 を特徴とする請求項3又は4に記載の光走査装置。
  6. 【請求項6】 前記絞り板制御手段が、前記絞り板を回
    転させ、ビームの経路上にサイズの異なる開口部を配置
    し、ビーム径を変更すること、 を特徴とする請求項3又は4に記載の光走査装置。
  7. 【請求項7】 一つのレーザビームを射出する光源と、 描画データに基づいてレーザビームを変調する光変調器
    と、 前記変調されたビームを感光材上で主走査方向に偏向さ
    せるための走査光学系とを備え、 前記光源と前記光変調器との間に、 ビーム径を拡張するビーム拡張手段と、 前記ビーム径を拡張されたビームのビーム径を絞る為の
    絞り板と、 前記絞り板を動作させる絞り板制御手段とを備え、 さらに、副走査方向に移動可能な一軸テーブルと、 前記一軸テーブル上に取り付けられ、上下方向に移動可
    能な移動ステージとを備え、 前記絞り板制御手段が、前記絞り板を動作させてビーム
    径を変更することにより、前記移動ステージ上に載置さ
    れる感光材を、異なる解像度で描画すること、 を特徴とする露光装置。
  8. 【請求項8】 一つのレーザビームを射出する光源と、 前記レーザビームを複数のビームに分割するビーム分割
    手段と、 描画データに基づいて複数のレーザビームをそれぞれ変
    調する光変調器と、 前記変調されたビームを感光材上で主走査方向に偏向さ
    せるための走査光学系とを備え、 前記光源と前記ビーム分割手段との間に、 ビーム径を拡張するビーム拡張手段と、 前記ビーム径を拡張されたビームのビーム径を絞る為の
    絞り板と、 前記絞り板を動作させる絞り板制御手段とを備え、 さらに、副走査方向に移動可能な一軸テーブルと、 前記一軸テーブル上に取り付けられ、上下方向に移動可
    能な移動ステージとを備え、 前記絞り板制御手段が、前記絞り板を動作させてビーム
    径を変更することにより、前記移動ステージ上に載置さ
    れる感光材を、異なる解像度で描画すること、 を特徴とする露光装置。
  9. 【請求項9】 前記絞り板は、段階的にサイズが変更す
    る開口部を有すること、 を特徴とする請求項7又は8に記載の露光装置。
  10. 【請求項10】 前記絞り板は、連続的にサイズが変化
    する開口部を有すること、 を特徴とする請求項7又は8に記載の露光装置。
  11. 【請求項11】 前記絞り板制御手段が、前記絞り板を
    平行移動させ、ビームの経路上にサイズの異なる開口部
    を配置し、ビーム径を変更すること、 を特徴とする請求項9又は10に記載の露光装置。
  12. 【請求項12】 前記絞り板制御手段が、前記絞り板を
    回転させ、ビームの経路上にサイズの異なる開口部を配
    置し、ビーム径を変更すること、 を特徴とする請求項9又は10に記載の露光装置。
JP35374199A 1999-12-13 1999-12-13 解像度可変の光走査装置 Pending JP2001162863A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35374199A JP2001162863A (ja) 1999-12-13 1999-12-13 解像度可変の光走査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35374199A JP2001162863A (ja) 1999-12-13 1999-12-13 解像度可変の光走査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001162863A true JP2001162863A (ja) 2001-06-19

Family

ID=18432916

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35374199A Pending JP2001162863A (ja) 1999-12-13 1999-12-13 解像度可変の光走査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001162863A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003195511A (ja) * 2001-12-27 2003-07-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 露光方法及び露光装置
EP1519232A2 (en) * 2003-09-29 2005-03-30 Fuji Photo Film Co., Ltd. Optical device and exposure device equipped with said optical device
JP2007101592A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Nikon Corp 走査型露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2020064306A (ja) * 2015-06-17 2020-04-23 株式会社ニコン パターン描画装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003195511A (ja) * 2001-12-27 2003-07-09 Shinko Electric Ind Co Ltd 露光方法及び露光装置
EP1519232A2 (en) * 2003-09-29 2005-03-30 Fuji Photo Film Co., Ltd. Optical device and exposure device equipped with said optical device
EP1519232A3 (en) * 2003-09-29 2006-12-20 Fuji Photo Film Co., Ltd. Optical device and exposure device equipped with said optical device
JP2007101592A (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Nikon Corp 走査型露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2020064306A (ja) * 2015-06-17 2020-04-23 株式会社ニコン パターン描画装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8792081B2 (en) Controller for optical device, exposure method and apparatus, and method for manufacturing device
KR100993625B1 (ko) 멀티 스캐너 유닛을 구비한 레이저 다이렉트 이미징 시스템
JP5101106B2 (ja) 位置、形態および/または光学特性の変更可能な、特に顕微鏡など光学機器用の絞り装置および/またはフィルタ装置
US6975443B2 (en) Multi-beam pattern generator
US5835249A (en) Apparatus and method for exposing a liquid crystal panel by beam scanning
JP3365388B2 (ja) レーザ加工光学装置
US5995130A (en) Laser beam scanning apparatus and method providing controllable print density
JP2001162863A (ja) 解像度可変の光走査装置
JP4318525B2 (ja) 光学装置及びレーザ照射装置
JP2002144054A (ja) ビームスキャン式レーザマーキング装置
JP2000206703A (ja) 感光性基板上に高精度のパタ―ンをマイクロリソグラフィック書き込みする装置
JPH10221618A (ja) マルチビーム光学装置
JPH1071741A (ja) 画像作成システムにおいて使用される光ビームを発生する方法及び装置
KR100378628B1 (ko) 기록트랙을가지는기록매체에대한기록및/또는재생동안정보를비접촉광학주사하기위한장치
JP2017186004A (ja) 光パターンを投影するための装置及び方法
KR101925301B1 (ko) 멀티 라인 이미징 시스템
KR100904039B1 (ko) 멀티헤드 레이저 다이렉트 이미징 시스템
JPH0378722A (ja) 光走査装置及び画像形成装置
TWI827384B (zh) 光學裝置、曝光裝置及曝光方法
US6249307B1 (en) Image forming apparatus using plural beam scanning
JPH10325929A (ja) 走査光学装置
JP2001159742A (ja) ホログラム走査系を用いた分割露光装置
JP2004054101A (ja) 自動分解能設定機能を有するレーザ直描装置
CN115268236A (zh) 光扫描式激光干涉直写设备及直写方法
US20030025979A1 (en) Surface distortion compensated photolithography