JP2003110014A - ウェーハカセット並びに半導体ウェーハの搬入方法及び搬出方法 - Google Patents
ウェーハカセット並びに半導体ウェーハの搬入方法及び搬出方法Info
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 140
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims abstract description 189
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 30
- 238000011068 loading method Methods 0.000 claims description 20
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
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Abstract
搬出入を行う場合において、半導体ウェーハに湾曲があ
る場合でも損傷させることなく確実に搬出入を行う。 【解決手段】 半導体ウェーハの搬出入の際に半導体ウ
ェーハを保持する保持部を進入させるための切り欠き部
22が形成され収容された半導体ウェーハを支持する複
数の支持プレート17と、隣り合う支持プレート17の
間に配設され隣り合う支持プレート17にそれぞれ支持
された半導体ウェーハの間を仕切る隔壁プレート18と
を少なくとも備えたウェーハカセットを提供する。
Description
収容するウェーハカセット及びそのウェーハカセットと
の間で半導体ウェーハの搬出入を行う方法に関する。
いては、通常は図12に示すようにウェーハカセット7
0に複数の半導体ウェーハW1、W2、・・・・・、W
nが収容されており、搬出入装置30によって1枚ずつ
搬出されてから加工が施される。そして、加工後の半導
体ウェーハは、搬出入装置30によってカセット70に
収容され、次の工程に搬送される。
側には支持溝71が形成されており、対向する一組の支
持溝によって1つのスロットが構成され、各スロットに
半導体ウェーハがそれぞれ収容される。
可能な保持部32を備えており、保持部32の上面には
半導体ウェーハを吸着する吸着部31が形成されてい
る。そして、吸着部31において半導体ウェーハを吸着
した状態で保持部32が移動することにより半導体ウェ
ーハを搬送することができる。
する際は、搬出しようとする半導体ウェーハの下側に保
持部32を進入させ、保持部32を若干上昇させて吸着
部31において半導体ウェーハWを吸着する。そして、
保持部32を手前に引き出すことにより、吸着部31に
おいて保持した半導体ウェーハWをカセット70の外部
に搬出することができる。
ウェーハの厚さが研削により100μm以下、50μm
以下と薄くなると、結晶方位及び研削歪みの影響を受け
て湾曲することがある。そして、図13に示すように、
湾曲した半導体ウェーハWnがウェーハカセット70に
収容されていると、上下方向に隣り合う半導体ウェーハ
間に保持部32が進入するためのスペースが狭くなるた
め、保持部32を進入させようとすると保持部32が半
導体ウェーハに接触して損傷させることがある。また、
湾曲の度合いによっては、上下方向に隣り合う半導体ウ
ェーハ同士が接触して破損するおそれもある。
れたウェーハカセットのように、対向する2つの支持溝
の間に支持板を架設させることにより半導体ウェーハの
中央部も支持して上下方向に隣り合う半導体ウェーハ同
士の接触を回避する手法も提案されているが、この場合
も保持部32が半導体ウェーハに接触して損傷させるの
を回避できない。
させることなく進入させることができたとしても、半導
体ウェーハが湾曲していることに起因して保持部32に
形成された吸着部31においてエアーが漏れるために半
導体ウェーハを完全に吸引保持することができず、カセ
ット70から半導体ウェーハを搬出することができない
という問題もある。
入する場合は、湾曲した半導体ウェーハであっても吸着
部31において吸引されているときはその吸引力によっ
て一時的に平面状となるが、カセット70に搬入した後
は、吸引を解除して保持部62を退避させる必要がある
ため、吸引を解除した時点で半導体ウェーハが湾曲状態
に戻ってしまい、退避しようとする保持部32と接触す
るおそれがある。
導体ウェーハの搬出入を行う場合においては、半導体ウ
ェーハに湾曲がある場合でも損傷させることなく確実に
搬出入を行うことに課題を有している。
の具体的手段として本発明は、半導体ウェーハを複数収
容するウェーハカセットであって、半導体ウェーハの搬
出入の際に半導体ウェーハを保持する保持部を進入させ
るための切り欠き部が形成され、収容された半導体ウェ
ーハを支持する複数の支持プレートと、各支持プレート
に隣接して配設され第一のスロットと第二のスロットと
を形成する隔壁プレートとを少なくとも備えたウェーハ
カセットを提供する。
おいては、隣接する半導体ウェーハ同士が隔壁プレート
によって完全に隔離されているため、湾曲した半導体ウ
ェーハであっても互いに接触することがない。
半導体ウェーハを搬入する方法であって、半導体ウェー
ハを吸引保持した保持部を第一のスロットに進入させ、
その後吸引を解除して保持部を第二のスロットに下降さ
せることによりその半導体ウェーハを保持部から離脱さ
せて支持プレートに支持させ、保持部を後退させてその
半導体ウェーハをウェーハカセットに搬入する半導体ウ
ェーハの搬入方法を提供する。
入方法によれば、支持プレートと上部隔壁プレートまた
は上板との間に形成される空間に保持部を進入させるこ
とができるため、すでに湾曲している半導体ウェーハが
収容されている場合であっても、その湾曲した半導体ウ
ェーハに接触することなく新たに半導体ウェーハを搬入
することができ、また、半導体ウェーハを支持プレート
に載置した後にその半導体ウェーハに接触させることな
く保持部を退避させることができる。
収容された半導体ウェーハを搬出する方法であって、保
持部を第二のスロットに進入させ、その後保持部を上昇
させて支持プレートに支持され第一のスロットに収容さ
れた半導体ウェーハを上部の隔壁プレートに押し当てて
保持部においてその半導体ウェーハを吸引保持し、保持
部を後退させてその半導体ウェーハをウェーハカセット
から搬出する半導体ウェーハの搬出方法。
出方法によれば、半導体ウェーハを隔壁プレートまたは
上板に押し当ててから保持部において保持することがで
きるため、湾曲した半導体ウェーハであってもエアーの
漏れがない状態でしっかりと吸着して搬出することがで
きる。
て、図1に示すウェーハカセット10について説明す
る。なお、従来例と同様に構成される部位については同
一の符号を付して説明する。
板11及び第二の側板12と、第一の側板11及び第二
の側板12を上下両端において連結する上板13及び下
板14と、後部側において半導体ウェーハを支持するス
トッパ部材15と、半導体ウェーハの搬出入口となる開
口部16と、内部に挿入される板状部材である支持プレ
ート17及び隔壁プレート18とから概ね構成される。
二の側板12の内側の面には支持溝19が複数形成され
ており、向かい合う支持溝19が支持プレート17a、
17b、・・・・・と隔壁プレート18a、18b、・
・・・・とを交互に支持している。
て配設される隔壁プレートを上部隔壁プレートといい、
支持プレートの下方に隣接して配設される隔壁プレート
を下部隔壁プレートという。例えば、隔壁プレート18
aは、支持プレート17aからみると下部隔壁プレート
であり、支持プレート17bからみると上部隔壁プレー
トである。また、上板13及び下板14も隔壁プレート
に含まれる。
8c、18d)と支持プレート17b(17c、17
d、17e)との間に形成される空間、及び、上板13
と支持プレート17aとの間に形成される空間が、半導
体ウェーハが収容される第一スロット20となる。
c、17d)と隔壁プレート18a(18b、18c、
18d)との間に形成される空間、及び、支持プレート
17eと下板14との間に形成される空間が第二スロッ
ト21となる。
は、後述する図5に示す搬出入装置30の保持部32の
形状に対応してこれを進入させるために形成された切り
欠き部22と、左右2つの支持溝19によって支持され
る外周支持部23と、2つの切り欠き部22の間から手
前側に突出して半導体ウェーハの中心部を支持する中央
支持部24とが形成されており、 第一の側板11及び
第二の側板12に形成された対向する支持部19に外周
支持部23の端部が支持されると共に、後部側がストッ
パ部材15によって支持されている。
直線状に形成され、両端が第一の側板11及び第二の側
板12の対向する支持部19によって支持されると共
に、後部側がストッパ部材15によって支持されてい
る。
0に対する半導体ウェーハの搬出入には、例えば図5に
示す搬出入装置30を用いる。この搬出入装置30は、
フォーク状に形成され吸着部31を備えた保持部32
と、保持部32を進退方向を回転軸として回転させる回
転駆動部33と、旋回動により保持部32を所望の位置
に位置付ける第一アーム34及び第二アーム35と、第
一アーム35を旋回駆動する第一アーム駆動部36と、
第二アーム35を旋回駆動する第二アーム駆動部37
と、これらを上下方向に駆動する上下駆動部38とから
構成され、保持部32は、第一アーム34及び第二アー
ム35の旋回動及び上下動によって所望の位置に位置付
けることができる。
ト10に収容された複数の半導体ウェーハW1、W2、
・・・・がそれぞれ湾曲している場合において、図5に
示した搬出入装置30を用いて例えば半導体ウェーハW
1をウェーハカセット10の外に搬出する場合の動作に
ついて説明する。
1を上に向けた状態で保持部32を第二スロット21に
進入させ、半導体ウェーハWの直下に位置付ける。そし
て、図7(B)に示すように、保持部32を切り欠き部
22を通過させて上昇させていくと、保持部32は、切
り欠き部22を通過して第一スロット20に進入してい
く。
が、半導体ウェーハWを上方に押し上げながら更に上昇
すると、図7(C)に示すように半導体ウェーハWは上
板13に押しつけられるため、上板13と保持部32と
によって強制的に平面状となる。そしてその状態で吸着
部31において半導体ウェーハWの下面を吸着すると、
湾曲した半導体ウェーハW1であっても、湾曲していな
い半導体ウェーハと同様にエアーの漏れがない状態でし
っかりと吸着することができる。
保持部32がウェーハカセット10の外部に後退するこ
とにより、湾曲した半導体ウェーハW1を破損させるこ
となく搬出することができる。
隔壁プレート18aに押し当てて平面状としてから搬出
することができる。その他の半導体ウェーハW3、W
4、・・・・・についても同様である。
壁プレート18a(18b、18c、18d)によって
半導体ウェーハが収容される第一スロット20と保持部
23の出入口となる第二スロット21とを完全に隔離し
て形成したため、半導体ウェーハ同士が接触して破損す
ることがない。
23を最初に半導体ウェーハが存在しない第二スロット
21に進入させてから上昇させて第一スロット20に進
入させることができるため、保持部23の進入スペース
が十分に確保され、保持部23が進入の過程で半導体ウ
ェーハに衝突することがない。
ーハを隔壁プレート18a(18b、18c、18d)
または上板13に押しつけて平面状にした状態で吸着す
ることができるため、エアーの漏れがない状態でしっか
りと吸着することができる。従って、安定的に半導体ウ
ェーハを保持することができ、搬送の過程で離脱するこ
とがない。
0に半導体ウェーハW1を搬入する際は、図8(A)に
示すように、吸着部31において半導体ウェーハW1を
保持した状態で保持部32を第一スロット20に進入さ
せる。このとき、半導体ウェーハW1が湾曲している場
合であっても、吸着部31による吸引力によって平面状
となっているため、上板13や支持プレート17や隔壁
プレート18に衝突しない。
1における吸引を解除して保持部32を下降させていく
と、半導体ウェーハW1は支持プレート17aに載置さ
れる。半導体ウェーハW1が湾曲している場合には、支
持プレート17aに載置されて吸引が解除されると、図
8(C)のように湾曲状態に戻る。
過して第二スロット21に進入していく。そして、保持
部32第二スロット21に進入した後、手前に引き出す
ことによってウェーハカセット10の外部に退避させる
ことができる。
搬入する場合も同様であり、上記のようにして次々と第
一スロット20に半導体ウェーハが収容されると、上下
に隣接する第一スロット20同士は第二スロット21及
び隔壁プレート18によって隔離されているため、それ
ぞれの半導体ウェーハが湾曲している場合でも互いに接
触して破損するようなことがない。
えば図9に示す研削装置40のカセット載置領域10
a、10bに載置される。この研削装置40を用いて板
状物、例えば半導体ウェーハの裏面を研削する場合は、
複数の半導体ウェーハがウェーハカセット10に収容さ
れる。
て中心合わせテーブル41に載置され、ここで一定の位
置に位置合わせされた後、第一の搬送手段42によって
チャックテーブル43に搬送され、裏面を上にして保持
される。
は、ターンテーブル47によって回転可能に支持されて
おり、半導体ウェーハWを保持したチャックテーブル4
3は、ターンテーブル47が左回りに所定角度(図示の
例では90度)回転することにより、粗研削手段50の
直下に位置付けられる。
垂直方向に配設された一対のガイドレール52にガイド
されて駆動源53の駆動により上下動する支持部54に
支持され、支持部54の上下動に伴って上下動する構成
となっている。この粗研削手段50においては、回転可
能に支持されたスピンドル55の先端にマウンタ56を
介して研削ホイール57が装着されており、研削ホイー
ル57の下部には粗研削用の研削砥石が円環状に固着さ
れている。
導体ウェーハWの裏面は、粗研削手段50がスピンドル
55の回転を伴って下方に研削送りされ、回転する研削
砥石が裏面に接触することにより粗研削される。
だけ回転することにより、粗研削された半導体ウェーハ
Wが仕上げ研削手段60の直下に位置付けられる。
向に配設された一対のガイドレール61にガイドされて
駆動源62の駆動により上下動する支持部63に支持さ
れ、支持部63の上下動に伴って上下動する構成となっ
ている。この仕上げ研削手段60においては、回転可能
に支持されたスピンドル64の先端にマウンタ65を介
して研削ホイール66が装着されており、研削ホイール
66の下部には仕上げ研削用の研削砥石が円環状に固着
されており、粗研削手段50とは、研削砥石の種類のみ
が異なる構成となっている。
た半導体ウェーハWの裏面は、仕上げ研削手段60がス
ピンドル64の回転を伴って下方に研削送りされ、回転
する研削砥石が裏面に接触することにより仕上げ研削さ
れる。
導体ウェーハWは、第二の搬送手段67によって洗浄手
段68に搬送され、ここで洗浄により研削屑が除去され
た後に、搬出入装置30によってウェーハカセット10
に収容される。
て、カセット載置領域10aに載置されたウェーハカセ
ット10から研削前の半導体ウェーハを搬出する際は、
上述のように半導体ウェーハを破損させることがなく、
研削後の半導体ウェーハをカセット載置領域10bに載
置したカセット10に搬入する際も、半導体ウェーハを
破損させることがない。
ウェーハカセット10aのように構成されていてもよ
い。このウェーハカセット10aは、支持プレート17
aの形状が図1に示したウェーハカセット10とは異な
っている。この支持プレート17aも、切り欠き部22
aと外周支持部23aと中央支持部24aとから構成さ
れている。
る場合は、図11に示す搬出入装置30aを用いる。こ
の搬出入装置30aを構成する保持部32aは、切り欠
き部22aの形状に対応して形成されており、半導体ウ
ェーハの搬出入時は、切り欠き部22aを介して保持部
32aが上下動する。
ーハカセットにおいては、隣接する半導体ウェーハ同士
が隔壁プレートによって完全に隔離されており、湾曲し
た半導体ウェーハであっても互いに接触することがない
ため、破損することがない。
方法によれば、支持プレートと上部隔壁プレートまたは
上板との間に形成される空間に保持部を進入させること
ができ、すでに湾曲している半導体ウェーハが収容され
ている場合であっても、その湾曲した半導体ウェーハに
接触することなく新たに半導体ウェーハを搬入すること
ができ、また、半導体ウェーハを支持プレートに載置し
た後にその半導体ウェーハに接触させることなく保持部
を退避させることができるため、搬入時において半導体
ウェーハが破損するのを防止することができる。
方法によれば、半導体ウェーハを隔壁プレートまたは上
板に押し当ててから保持部において保持することができ
るため、湾曲した半導体ウェーハであってもエアーの漏
れがない状態でしっかりと吸着して搬出することができ
る。従って、途中で離脱させることなく確実に搬出する
ことができ、衝突による破損も防止することができる。
一例を示す斜視図である。
示す平面図である。
平面図である。
搬出入を行う搬出入装置の一例を示す斜視図である。
れている状態を示す正面図である。
を示す断面図である。
を示す断面図である。
を示す斜視図である。
の第二の例を示す斜視図である。
出入装置を示す斜視図である。
置を示す斜視図である。
ハが収容されている状態を示す正面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体ウェーハを複数収容するウェーハ
カセットであって、 半導体ウェーハの搬出入の際に該半導体ウェーハを保持
する保持部を進入させるための切り欠き部が形成され、
収容された半導体ウェーハを支持する複数の支持プレー
トと、 各支持プレートに隣接して配設され、第一のスロットと
第二のスロットとを形成する隔壁プレートとを少なくと
も備えたウェーハカセット。 - 【請求項2】 請求項1に記載のウェーハカセットに半
導体ウェーハを搬入する方法であって、 半導体ウェーハを吸引保持した保持部を第一のスロット
に進入させ、その後吸引を解除して該保持部を第二のス
ロットに下降させることにより該半導体ウェーハを該保
持部から離脱させて支持プレートに支持させ、該保持部
を後退させて該半導体ウェーハをウェーハカセットに搬
入する半導体ウェーハの搬入方法。 - 【請求項3】 請求項1に記載のウェーハカセットに収
容された半導体ウェーハを搬出する方法であって、 保持部を第二のスロットに進入させ、その後該保持部を
上昇させて支持プレートに支持され第一のスロットに収
容された半導体ウェーハを上部の隔壁プレートに押し当
てて該保持部において該半導体ウェーハを吸引保持し、
該保持部を後退させて該半導体ウェーハをウェーハカセ
ットから搬出する半導体ウェーハの搬出方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001301070A JP4564695B2 (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | ウェーハカセット並びに半導体ウェーハの搬入方法及び搬出方法 |
TW091134837A TWI282138B (en) | 2001-09-28 | 2002-11-29 | Cassette for storing a plurality of semiconductor wafers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001301070A JP4564695B2 (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | ウェーハカセット並びに半導体ウェーハの搬入方法及び搬出方法 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003110014A true JP2003110014A (ja) | 2003-04-11 |
JP4564695B2 JP4564695B2 (ja) | 2010-10-20 |
Family
ID=19121541
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001301070A Expired - Lifetime JP4564695B2 (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | ウェーハカセット並びに半導体ウェーハの搬入方法及び搬出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A977 | Report on retrieval |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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