JP2000260859A - 基板収納装置 - Google Patents
基板収納装置Info
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- JP2000260859A JP2000260859A JP11062410A JP6241099A JP2000260859A JP 2000260859 A JP2000260859 A JP 2000260859A JP 11062410 A JP11062410 A JP 11062410A JP 6241099 A JP6241099 A JP 6241099A JP 2000260859 A JP2000260859 A JP 2000260859A
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 収納した基板の撓みを抑えて基板搬送時の事
故を防止する。 【解決手段】 基板Pをほぼ水平方向に沿って収納す
る。基板Pの所定方向の略中央部分を支持する支持部材
17と、支持部材17の近傍に設けられ、基板収納装置
13との間で基板Pを搬送する搬送装置14と協働する
協働部18とを備える。
故を防止する。 【解決手段】 基板Pをほぼ水平方向に沿って収納す
る。基板Pの所定方向の略中央部分を支持する支持部材
17と、支持部材17の近傍に設けられ、基板収納装置
13との間で基板Pを搬送する搬送装置14と協働する
協働部18とを備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス基板等の基
板を収納する基板収納装置に関し、例えば、液晶表示素
子製造装置工程において、露光装置で露光される大型の
基板を、搬送装置によって該基板を搬出および搬入する
際に用いて好適な基板収納装置に関するものである。
板を収納する基板収納装置に関し、例えば、液晶表示素
子製造装置工程において、露光装置で露光される大型の
基板を、搬送装置によって該基板を搬出および搬入する
際に用いて好適な基板収納装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、液晶表示素子を製造するための
フォトリソグラフィ工程で使用されている露光装置で
は、フォトマスクまたはレチクルのパターンを効率的に
1ロットのガラス基板上に露光するために、ガラス基板
の搬入および搬出を行うための基板搬送装置が備えられ
ている。さらに、上記露光装置には、多数のレチクルを
選択して露光装置に設定するためのレチクル搬送装置も
備えられている。
フォトリソグラフィ工程で使用されている露光装置で
は、フォトマスクまたはレチクルのパターンを効率的に
1ロットのガラス基板上に露光するために、ガラス基板
の搬入および搬出を行うための基板搬送装置が備えられ
ている。さらに、上記露光装置には、多数のレチクルを
選択して露光装置に設定するためのレチクル搬送装置も
備えられている。
【0003】この種の搬送装置は、例えば、ガラス基板
が収納された基板収納カセットからロボットアーム等に
よりガラス基板を一枚毎取り出して、基板ステージ上に
搬送すると共に、その基板ステージから基板カセットへ
搬入するものである。
が収納された基板収納カセットからロボットアーム等に
よりガラス基板を一枚毎取り出して、基板ステージ上に
搬送すると共に、その基板ステージから基板カセットへ
搬入するものである。
【0004】図8および図9に、従来の基板収納カセッ
トの一例を示す。図8は、ガラス基板Pを収納した基板
収納カセット1の平面図であり、図9は図8の正面図で
ある。図8に示すように、基板収納カセット1は、一面
が開口部2とされる略立方体形状の筐体3内に複数の支
持部材4…4を有するものである。図9に示すように、
支持部材4…4は、ガラス基板(基板)Pの両端を対で
支持するものであって、鉛直方向に複数段(図では7
段)並列して設けられている。また、各段において支持
部材4…4は、奥行き方向に沿って互いに離間するよう
に三ヶ所ずつ設けられている。
トの一例を示す。図8は、ガラス基板Pを収納した基板
収納カセット1の平面図であり、図9は図8の正面図で
ある。図8に示すように、基板収納カセット1は、一面
が開口部2とされる略立方体形状の筐体3内に複数の支
持部材4…4を有するものである。図9に示すように、
支持部材4…4は、ガラス基板(基板)Pの両端を対で
支持するものであって、鉛直方向に複数段(図では7
段)並列して設けられている。また、各段において支持
部材4…4は、奥行き方向に沿って互いに離間するよう
に三ヶ所ずつ設けられている。
【0005】したがって、各ガラス基板Pは、両端を支
持部材4,4によって下方から支持された状態で基板収
納カセット1内に収納される。そして、不図示の基板搬
送装置は、開口部2を介して基板収納カセット1内に搬
送アームを挿入して所定のガラス基板Pを吸着保持し所
定量持ち上げた後に後退することにより、ガラス基板P
を基板収納カセット1から取り出し、搬送することがで
きる。
持部材4,4によって下方から支持された状態で基板収
納カセット1内に収納される。そして、不図示の基板搬
送装置は、開口部2を介して基板収納カセット1内に搬
送アームを挿入して所定のガラス基板Pを吸着保持し所
定量持ち上げた後に後退することにより、ガラス基板P
を基板収納カセット1から取り出し、搬送することがで
きる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来の基板収納装置には、以下のような問題が
存在する。近年、パソコンやテレビ等の表示デバイスと
しては、薄型化を可能とする液晶ディスプレイやプラズ
マディスプレイが多用されるようになってきた。同時
に、これらのディスプレイは、画面の見やすさ等の理由
から大型化が進んでいる。そのため、露光装置で使用さ
れるガラス基板Pは、大型化に伴う重量の増大を軽減す
るために薄型化が進んでいる。
たような従来の基板収納装置には、以下のような問題が
存在する。近年、パソコンやテレビ等の表示デバイスと
しては、薄型化を可能とする液晶ディスプレイやプラズ
マディスプレイが多用されるようになってきた。同時
に、これらのディスプレイは、画面の見やすさ等の理由
から大型化が進んでいる。そのため、露光装置で使用さ
れるガラス基板Pは、大型化に伴う重量の増大を軽減す
るために薄型化が進んでいる。
【0007】ところが、基板収納カセット1においてガ
ラス基板Pは、両端が支持されているに過ぎないため、
図9に示すように大きく撓んでしまう。そのため、上記
搬送アームは、この撓みを考慮して、ガラス基板Pとの
間に隙間ができる高さで基板収納カセット1内に挿入さ
れるが、隣り合う下段に収納されたガラス基板Pとの干
渉を避けながら搬送アームを挿入しなければならず、ま
た搬送アーム挿入後、ガラス基板Pを持ち上げる量は上
段のガラス基板Pに干渉しないように決定しなければな
らないため、搬送アームに対する制御は非常に困難なも
のになってしまう。
ラス基板Pは、両端が支持されているに過ぎないため、
図9に示すように大きく撓んでしまう。そのため、上記
搬送アームは、この撓みを考慮して、ガラス基板Pとの
間に隙間ができる高さで基板収納カセット1内に挿入さ
れるが、隣り合う下段に収納されたガラス基板Pとの干
渉を避けながら搬送アームを挿入しなければならず、ま
た搬送アーム挿入後、ガラス基板Pを持ち上げる量は上
段のガラス基板Pに干渉しないように決定しなければな
らないため、搬送アームに対する制御は非常に困難なも
のになってしまう。
【0008】また、ガラス基板Pの厚さ、温度、処理プ
ロセス等の違いによって当初見込んだ以上にガラス基板
Pが撓んだ場合、進入した搬送アームとガラス基板Pと
が干渉する虞がある。この場合、ガラス基板Pを破損さ
せたり、ときには搬送アームまでも破損させてしまう可
能性がある。
ロセス等の違いによって当初見込んだ以上にガラス基板
Pが撓んだ場合、進入した搬送アームとガラス基板Pと
が干渉する虞がある。この場合、ガラス基板Pを破損さ
せたり、ときには搬送アームまでも破損させてしまう可
能性がある。
【0009】このような事故を防止するために、例え
ば、図10に示すように、基板収納カセット1の各段の
奥側に支持部材4aを設け、ガラス基板Pの撓みを抑制
することも考えられるが、この場合、ガラス基板Pの奥
側における撓みは抑えられるが、搬送アームが挿入され
る開口部2側の撓みを抑えることはできず、根本的な解
決手段には到らない。
ば、図10に示すように、基板収納カセット1の各段の
奥側に支持部材4aを設け、ガラス基板Pの撓みを抑制
することも考えられるが、この場合、ガラス基板Pの奥
側における撓みは抑えられるが、搬送アームが挿入され
る開口部2側の撓みを抑えることはできず、根本的な解
決手段には到らない。
【0010】他方、上記の事故防止のために、基板収納
カセット1のガラス基板P間の間隔(スロット間隔)を
非常に大きく取ると、基板収納カセット1が大型化して
しまうという問題が発生する。一方、基板収納カセット
1の大きさを変えない場合は、基板収納カセット1内に
収納できるガラス基板Pの枚数が極端に少なくなり、さ
らに別の基板収納カセットが必要になるなど不要なコス
トの増加を発生させてしまうという問題があった。
カセット1のガラス基板P間の間隔(スロット間隔)を
非常に大きく取ると、基板収納カセット1が大型化して
しまうという問題が発生する。一方、基板収納カセット
1の大きさを変えない場合は、基板収納カセット1内に
収納できるガラス基板Pの枚数が極端に少なくなり、さ
らに別の基板収納カセットが必要になるなど不要なコス
トの増加を発生させてしまうという問題があった。
【0011】本発明は、以上のような点を考慮してなさ
れたもので、収納した基板の撓みを抑えることによっ
て、基板搬送時の事故を防止する基板収納装置を提供す
ることを目的とする。
れたもので、収納した基板の撓みを抑えることによっ
て、基板搬送時の事故を防止する基板収納装置を提供す
ることを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、実施の形態を示す図1ないし図6に対応
付けした以下の構成を採用している。本発明の基板収納
装置は、基板(P)をほぼ水平方向に沿って収納する基
板収納装置(13)であって、基板(P)の所定方向の
略中央部分を支持する支持部材(17)と、支持部材
(17)の近傍に設けられ、基板収納装置(13)との
間で基板(P)を搬送する搬送装置(14)と協働する
協働部(18)とを備えたことを特徴とするものであ
る。
めに本発明は、実施の形態を示す図1ないし図6に対応
付けした以下の構成を採用している。本発明の基板収納
装置は、基板(P)をほぼ水平方向に沿って収納する基
板収納装置(13)であって、基板(P)の所定方向の
略中央部分を支持する支持部材(17)と、支持部材
(17)の近傍に設けられ、基板収納装置(13)との
間で基板(P)を搬送する搬送装置(14)と協働する
協働部(18)とを備えたことを特徴とするものであ
る。
【0013】従って、本発明の基板収納装置では、支持
部材(17)が基板(P)の略中央部分を支持している
ので、撓ませることなく基板(P)を収納できる。そし
て、搬送装置(14)は、協働部(18)と協働するこ
とで基板収納装置(13)との間で、上記撓んでいない
基板(P)を支障なく搬送することができる。
部材(17)が基板(P)の略中央部分を支持している
ので、撓ませることなく基板(P)を収納できる。そし
て、搬送装置(14)は、協働部(18)と協働するこ
とで基板収納装置(13)との間で、上記撓んでいない
基板(P)を支障なく搬送することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の基板収納装置の第
1の実施の形態を、図1ないし図3を参照して説明す
る。これらの図において、従来例として示した図8ない
し図10と同一の構成要素には同一符号を付し、その説
明を省略する。ここでは、基板をガラス基板とし、基板
収納装置をガラス基板を収納するための基板収納カセッ
ト、露光装置をマルチレンズスキャン方式とする場合の
例を用いて説明する。また、これらマスクおよびガラス
基板はXY平面に沿って配置され、XY平面のうち走査
方向をX方向、X方向と直交するクロススキャン方向を
Y方向とし、XY平面に直交する方向をZ方向として説
明する。
1の実施の形態を、図1ないし図3を参照して説明す
る。これらの図において、従来例として示した図8ない
し図10と同一の構成要素には同一符号を付し、その説
明を省略する。ここでは、基板をガラス基板とし、基板
収納装置をガラス基板を収納するための基板収納カセッ
ト、露光装置をマルチレンズスキャン方式とする場合の
例を用いて説明する。また、これらマスクおよびガラス
基板はXY平面に沿って配置され、XY平面のうち走査
方向をX方向、X方向と直交するクロススキャン方向を
Y方向とし、XY平面に直交する方向をZ方向として説
明する。
【0015】図1は、露光装置5内部の外観斜視図であ
る。露光装置5は、露光装置本体6とマスク搬送部(不
図示)と基板搬送部7とを主体として構成されている。
これら露光装置本体6、マスク搬送部および基板搬送部
7は、恒温且つ高清浄度に維持されたチャンバ(不図
示)内に配設されている。
る。露光装置5は、露光装置本体6とマスク搬送部(不
図示)と基板搬送部7とを主体として構成されている。
これら露光装置本体6、マスク搬送部および基板搬送部
7は、恒温且つ高清浄度に維持されたチャンバ(不図
示)内に配設されている。
【0016】露光装置本体6は、平面視矩形のマスク
(レチクル)Mとガラス基板Pとを同期移動して、マス
クMに形成された回路パターンをガラス基板Pに露光す
るものであって、複数(図1では五つ)の照明光学系8
と、マスクMを保持するマスクステージ9と、複数(図
1では五つ)の投影光学系10と、ガラス基板Pを保持
する基板ステージ11とを主体として構成されている。
マスクステージ9と基板ステージ11とは、投影光学系
10を挟むようにキャリッジ12によって、それぞれ下
方から一体的に支持されている。
(レチクル)Mとガラス基板Pとを同期移動して、マス
クMに形成された回路パターンをガラス基板Pに露光す
るものであって、複数(図1では五つ)の照明光学系8
と、マスクMを保持するマスクステージ9と、複数(図
1では五つ)の投影光学系10と、ガラス基板Pを保持
する基板ステージ11とを主体として構成されている。
マスクステージ9と基板ステージ11とは、投影光学系
10を挟むようにキャリッジ12によって、それぞれ下
方から一体的に支持されている。
【0017】各照明光学系8は、不図示の光源からの露
光光により、並列する複数の光路に位置するマスクM上
の異なる照明領域を照明するものである。各投影光学系
10は、マスクMを透過した露光光をそれぞれガラス基
板P上の異なる転写領域に、マスクMの照明領域のパタ
ーン像を結像するようになっている。
光光により、並列する複数の光路に位置するマスクM上
の異なる照明領域を照明するものである。各投影光学系
10は、マスクMを透過した露光光をそれぞれガラス基
板P上の異なる転写領域に、マスクMの照明領域のパタ
ーン像を結像するようになっている。
【0018】マスク搬送部は、露光処理で使用するマス
クMを収納するマスク収納装置、および該マスク収納装
置とマスクステージ9との間でマスクMを搬送する搬送
装置とから概略構成されている。
クMを収納するマスク収納装置、および該マスク収納装
置とマスクステージ9との間でマスクMを搬送する搬送
装置とから概略構成されている。
【0019】基板搬送部7は、基板収納カセット(基板
収納装置)13と基板搬送装置(搬送装置)14とから
概略構成されている。基板収納カセット13は、露光処
理で使用するガラス基板Pを収納するものであって、基
板搬送装置14に向けて−X方向に開口する開口部15
を有する略直方体形状の筐体16と、該筐体16内に配
置された複数の支持部材17とを主体として構成されて
いる。これら筐体16および支持部材17は、軽量化を
図るためにいずれもが合成樹脂材で形成されている。
収納装置)13と基板搬送装置(搬送装置)14とから
概略構成されている。基板収納カセット13は、露光処
理で使用するガラス基板Pを収納するものであって、基
板搬送装置14に向けて−X方向に開口する開口部15
を有する略直方体形状の筐体16と、該筐体16内に配
置された複数の支持部材17とを主体として構成されて
いる。これら筐体16および支持部材17は、軽量化を
図るためにいずれもが合成樹脂材で形成されている。
【0020】図2に示すように、支持部材17は、各段
(各スロット)でガラス基板Pを下方から支持するもの
であって、Z方向に複数段配置されている。各段におい
て、支持部材17は、それぞれY方向(所定方向)に延
在するように、且つX方向(直交する方向)に所定間隔
をあけて三つ一組で配置されている。中央に配置された
支持部材17は、ガラス基板Pに対してX方向の略中央
に配置されている。そして、これら一組の支持部材17
…17で形成される上面17a(第1支持部、第2支持
部)は、Y方向では連続的にガラス基板Pを支持し、X
方向では選択的にガラス基板Pをそれぞれ支持するよう
に、略水平面に沿って面一に形成されている。
(各スロット)でガラス基板Pを下方から支持するもの
であって、Z方向に複数段配置されている。各段におい
て、支持部材17は、それぞれY方向(所定方向)に延
在するように、且つX方向(直交する方向)に所定間隔
をあけて三つ一組で配置されている。中央に配置された
支持部材17は、ガラス基板Pに対してX方向の略中央
に配置されている。そして、これら一組の支持部材17
…17で形成される上面17a(第1支持部、第2支持
部)は、Y方向では連続的にガラス基板Pを支持し、X
方向では選択的にガラス基板Pをそれぞれ支持するよう
に、略水平面に沿って面一に形成されている。
【0021】また、各支持部材17の上面17aには、
X方向に延在する断面視矩形の連通溝(協動部)18が
後述する搬送アーム25に対応するようにY方向に所定
の間隔をあけて、且つ隣り合う支持部材17の連通溝1
8と互いに連通するように形成されている。これらの連
通溝18は、ガラス基板Pの搬送時に基板搬送装置14
と協動するものである。
X方向に延在する断面視矩形の連通溝(協動部)18が
後述する搬送アーム25に対応するようにY方向に所定
の間隔をあけて、且つ隣り合う支持部材17の連通溝1
8と互いに連通するように形成されている。これらの連
通溝18は、ガラス基板Pの搬送時に基板搬送装置14
と協動するものである。
【0022】また、この基板収納カセット13には、図
1に示すように、イオナイザー(帯電防止機構)19
と、図3に示すように、温度調整装置(温度調整機構)
20と、図4に示すように、基板検知装置21とが付設
されている。イオナイザー19は、基板搬送装置14に
より搬送されるガラス基板Pに対して、陽イオンおよび
陰イオンを含む静電気中和エアを噴出することで、該ガ
ラス基板Pに帯電した電荷(静電気)を中和するもので
あって、図1に示すように、基板搬送装置14と基板収
納カセット13との間の上方に配設されている。
1に示すように、イオナイザー(帯電防止機構)19
と、図3に示すように、温度調整装置(温度調整機構)
20と、図4に示すように、基板検知装置21とが付設
されている。イオナイザー19は、基板搬送装置14に
より搬送されるガラス基板Pに対して、陽イオンおよび
陰イオンを含む静電気中和エアを噴出することで、該ガ
ラス基板Pに帯電した電荷(静電気)を中和するもので
あって、図1に示すように、基板搬送装置14と基板収
納カセット13との間の上方に配設されている。
【0023】温度調整装置20は、支持部材17を介し
てガラス基板Pの温度を調整するものであって、図3に
示すように、各支持部材17の内部に形成された循環路
(不図示)と、該循環路に熱媒体を供給して循環させる
循環装置22とから構成されている。この熱媒体として
は、フロリナートや水等が用いられる。
てガラス基板Pの温度を調整するものであって、図3に
示すように、各支持部材17の内部に形成された循環路
(不図示)と、該循環路に熱媒体を供給して循環させる
循環装置22とから構成されている。この熱媒体として
は、フロリナートや水等が用いられる。
【0024】基板検知装置21は、基板収納カセット1
3内において支持部材17上のガラス基板Pの有無をス
ロット毎に検知するものであって、図4に示すように、
基板収納カセット13の開口部15に対向配置されたセ
ンサ23と移動部24とから構成されている。センサ2
3には、開口部15を介して筐体16内に検知光を射出
して、その反射光を受光することでガラス基板Pの有無
を検知する反射型センサが用いられている。
3内において支持部材17上のガラス基板Pの有無をス
ロット毎に検知するものであって、図4に示すように、
基板収納カセット13の開口部15に対向配置されたセ
ンサ23と移動部24とから構成されている。センサ2
3には、開口部15を介して筐体16内に検知光を射出
して、その反射光を受光することでガラス基板Pの有無
を検知する反射型センサが用いられている。
【0025】移動部24は、センサ23を一体的に保持
してZ方向に移動自在とされている。また、移動部24
は、Z軸線周りに回転してセンサ23をガラス基板Pの
搬送経路から退避させることで、基板搬送装置14によ
るガラス基板Pの搬送の際にセンサ23とガラス基板P
とが干渉することを防止する構成になっている。
してZ方向に移動自在とされている。また、移動部24
は、Z軸線周りに回転してセンサ23をガラス基板Pの
搬送経路から退避させることで、基板搬送装置14によ
るガラス基板Pの搬送の際にセンサ23とガラス基板P
とが干渉することを防止する構成になっている。
【0026】基板搬送装置14は、露光装置5とコータ
・デベロッパとの間のインラインポート(不図示)、露
光装置本体2の基板ステージ11および基板収納カセッ
ト13の間でガラスプレートPを搬送するものであっ
て、基板収納カセット13の近傍に、開口部15と対向
するように配設されている。この基板搬送装置14に
は、一定の間隔をあけてガラス基板Pを吸着保持するた
めの搬送アーム25が平行状態で設けられている。搬送
アーム25は、互いに平行XY平面に沿った水平方向お
よびZ方向に沿った鉛直方向に移動自在、且つZ軸周り
に回転自在とされている。
・デベロッパとの間のインラインポート(不図示)、露
光装置本体2の基板ステージ11および基板収納カセッ
ト13の間でガラスプレートPを搬送するものであっ
て、基板収納カセット13の近傍に、開口部15と対向
するように配設されている。この基板搬送装置14に
は、一定の間隔をあけてガラス基板Pを吸着保持するた
めの搬送アーム25が平行状態で設けられている。搬送
アーム25は、互いに平行XY平面に沿った水平方向お
よびZ方向に沿った鉛直方向に移動自在、且つZ軸周り
に回転自在とされている。
【0027】また、搬送アーム25の上面には、ガラス
基板Pを真空吸着するための空気穴(不図示)が設けら
れている。この空気穴は、不図示の電磁弁を介して露光
装置本体6の真空系統に接続されている。そして、この
電磁弁を制御して、搬送アーム25上に移載したガラス
基板Pを吸着することにより、搬送中のガラス基板Pの
脱落を回避することができるようになっている。なお、
この搬送アーム25の駆動、ガラス基板Pに対する真空
吸着、イオナイザー19の駆動、温度調整装置20およ
び基板検知装置21の駆動は、不図示の制御装置によっ
て統括制御されている。
基板Pを真空吸着するための空気穴(不図示)が設けら
れている。この空気穴は、不図示の電磁弁を介して露光
装置本体6の真空系統に接続されている。そして、この
電磁弁を制御して、搬送アーム25上に移載したガラス
基板Pを吸着することにより、搬送中のガラス基板Pの
脱落を回避することができるようになっている。なお、
この搬送アーム25の駆動、ガラス基板Pに対する真空
吸着、イオナイザー19の駆動、温度調整装置20およ
び基板検知装置21の駆動は、不図示の制御装置によっ
て統括制御されている。
【0028】上記の構成の基板収納カセットに対してガ
ラス基板を搬送する動作について説明する。最初に、コ
ータ・デベロッパ側から基板収納カセット13にガラス
基板Pを搬送する動作を説明する。
ラス基板を搬送する動作について説明する。最初に、コ
ータ・デベロッパ側から基板収納カセット13にガラス
基板Pを搬送する動作を説明する。
【0029】コータ・デベロッパで表面にレジストが塗
布されてインラインポートに載置されたガラス基板P
は、基板搬送装置14の搬送アーム25に下面を吸着保
持される。搬送アーム25は、制御装置の指示に基づい
て、Z軸周りに回転するとともに鉛直方向に昇降して、
ガラス基板Pを基板収納カセット13の所定のスロット
に対向させる。このとき、搬送アーム25は、ガラス基
板Pの下面が支持部材17の上面17aとの間に若干の
隙間を形成すると同時に、搬送アーム25自体が支持部
材17の連通溝18に対向するように移動する。
布されてインラインポートに載置されたガラス基板P
は、基板搬送装置14の搬送アーム25に下面を吸着保
持される。搬送アーム25は、制御装置の指示に基づい
て、Z軸周りに回転するとともに鉛直方向に昇降して、
ガラス基板Pを基板収納カセット13の所定のスロット
に対向させる。このとき、搬送アーム25は、ガラス基
板Pの下面が支持部材17の上面17aとの間に若干の
隙間を形成すると同時に、搬送アーム25自体が支持部
材17の連通溝18に対向するように移動する。
【0030】次に、搬送アーム25は、水平方向に沿っ
て+X方向に移動し、ガラス基板Pを伴って基板収納カ
セット13の筐体16内に進入する。ここで、搬送アー
ム25は、支持部材17の連通溝18と協動して、すな
わち、連通溝18に沿って挿入されるので、支持部材1
7と干渉することなく移動する。また、進入時、ガラス
基板Pに対しては、イオナイザー19から静電気中和エ
アが噴出されるので、ガラス基板P上の静電気を中和す
ることができる。また、基板検知装置21においては、
移動部24が回転してセンサ21をガラス基板Pの搬送
経路から退避させるので、搬送に支障を来すことはな
い。
て+X方向に移動し、ガラス基板Pを伴って基板収納カ
セット13の筐体16内に進入する。ここで、搬送アー
ム25は、支持部材17の連通溝18と協動して、すな
わち、連通溝18に沿って挿入されるので、支持部材1
7と干渉することなく移動する。また、進入時、ガラス
基板Pに対しては、イオナイザー19から静電気中和エ
アが噴出されるので、ガラス基板P上の静電気を中和す
ることができる。また、基板検知装置21においては、
移動部24が回転してセンサ21をガラス基板Pの搬送
経路から退避させるので、搬送に支障を来すことはな
い。
【0031】そして、搬送アーム25は、筐体16内で
X方向の所定位置まで進入すると下降してガラス基板P
を支持部材17上に載置すると同時に、ガラス基板Pに
対する真空吸着を解除する。これにより、ガラス基板P
は、支持部材17の上面17aに略水平面に沿って載置
される。搬送アーム25は、その上面がガラス基板Pの
下面と当接せず、且つその下面が支持部材17と当接し
ない位置まで下降した後、−X方向に移動して筐体16
から離脱する。以上の動作により、ガラス基板Pは、基
板収納カセット13に収納される。
X方向の所定位置まで進入すると下降してガラス基板P
を支持部材17上に載置すると同時に、ガラス基板Pに
対する真空吸着を解除する。これにより、ガラス基板P
は、支持部材17の上面17aに略水平面に沿って載置
される。搬送アーム25は、その上面がガラス基板Pの
下面と当接せず、且つその下面が支持部材17と当接し
ない位置まで下降した後、−X方向に移動して筐体16
から離脱する。以上の動作により、ガラス基板Pは、基
板収納カセット13に収納される。
【0032】搬送アーム25が基板収納カセット13か
ら離脱すると、基板検知装置21の移動部24が回転し
てセンサ23を筐体16の開口部15に対向させる。そ
して、図4に示すように、移動部24は、センサ23が
最上部のスロットから最下部のスロットに対向するよう
にZ方向に移動する。センサ23は、移動部24ととも
にZ方向に移動しながらスロットへ向けて検知光を射出
し、ガラス基板Pによって反射する反射光を受光するこ
とでガラス基板Pの有無をスロット毎に検知する。制御
装置は、センサ23が検知したガラス基板Pの収納状況
が所定通りかどうかを確認する。
ら離脱すると、基板検知装置21の移動部24が回転し
てセンサ23を筐体16の開口部15に対向させる。そ
して、図4に示すように、移動部24は、センサ23が
最上部のスロットから最下部のスロットに対向するよう
にZ方向に移動する。センサ23は、移動部24ととも
にZ方向に移動しながらスロットへ向けて検知光を射出
し、ガラス基板Pによって反射する反射光を受光するこ
とでガラス基板Pの有無をスロット毎に検知する。制御
装置は、センサ23が検知したガラス基板Pの収納状況
が所定通りかどうかを確認する。
【0033】一方、基板収納カセット13に収納された
ガラス基板Pは、コータ・デベロッパにおける処理によ
り蓄熱し、露光装置本体6で露光処理が施される温度よ
りも高くなっているが、支持部材17が温度調整装置2
0によって露光処理温度に調整されているため、支持部
材17に当接しているガラス基板Pは支持部材17を介
して放熱し、所定温度に調整される。
ガラス基板Pは、コータ・デベロッパにおける処理によ
り蓄熱し、露光装置本体6で露光処理が施される温度よ
りも高くなっているが、支持部材17が温度調整装置2
0によって露光処理温度に調整されているため、支持部
材17に当接しているガラス基板Pは支持部材17を介
して放熱し、所定温度に調整される。
【0034】続いて、基板収納カセット13から露光装
置本体6にガラス基板Pを搬送する動作を説明する。基
板搬送装置14は、制御装置の指示に基づいて、搬送ア
ーム25を所定のスロットに対向させる。ここでは、搬
送アーム25をその上面がガラス基板Pの下面との間に
隙間を形成し、且つその下面が支持部材17との間に隙
間を形成する高さに移動させる。同時に、搬送アーム2
5を支持部材17の連通溝18に対向させる。
置本体6にガラス基板Pを搬送する動作を説明する。基
板搬送装置14は、制御装置の指示に基づいて、搬送ア
ーム25を所定のスロットに対向させる。ここでは、搬
送アーム25をその上面がガラス基板Pの下面との間に
隙間を形成し、且つその下面が支持部材17との間に隙
間を形成する高さに移動させる。同時に、搬送アーム2
5を支持部材17の連通溝18に対向させる。
【0035】ここで、ガラス基板Pは、支持部材17に
Y方向の中央部分を支持されているので、この方向での
撓みはほとんどない。そのため、搬送アーム25の高さ
は、ガラス基板Pの撓み量を考慮することなく支持部材
17の上面17aの位置および搬送アーム25自体の厚
さのみで決定される。
Y方向の中央部分を支持されているので、この方向での
撓みはほとんどない。そのため、搬送アーム25の高さ
は、ガラス基板Pの撓み量を考慮することなく支持部材
17の上面17aの位置および搬送アーム25自体の厚
さのみで決定される。
【0036】そして、搬送アーム25は、筐体16内で
X方向の所定位置まで進入するとともに、上昇してガラ
ス基板Pを支持部材17からすくい上げる。同時に、搬
送アーム25は、真空吸着によってガラス基板Pを保持
する。搬送アーム25は、ガラス基板Pが上段の支持部
材17の当接しない所定位置まで上昇した後に、−X方
向に後退してガラス基板Pを基板収納カセット13から
取り出す。この際、イオナイザー19からは静電気中和
エアが噴出され、ガラス基板P上の静電気が中和され
る。
X方向の所定位置まで進入するとともに、上昇してガラ
ス基板Pを支持部材17からすくい上げる。同時に、搬
送アーム25は、真空吸着によってガラス基板Pを保持
する。搬送アーム25は、ガラス基板Pが上段の支持部
材17の当接しない所定位置まで上昇した後に、−X方
向に後退してガラス基板Pを基板収納カセット13から
取り出す。この際、イオナイザー19からは静電気中和
エアが噴出され、ガラス基板P上の静電気が中和され
る。
【0037】次に、搬送アーム25は、Z軸周りに回転
することで、吸着保持したガラス基板Pを露光装置本体
6へ対向させる。そして、搬送アーム25は、+Y方向
に移動して、ガラス基板Pが基板ステージ11の上方に
到達したところで−Z方向に下降する。ガラス基板Pが
基板ステージ11上に載置されると、搬送アーム25は
ガラス基板Pに対する真空吸着を解除し、基板ステージ
11上から退避する。以上の動作により、ガラス基板P
は、基板収納カセット13から露光装置本体6へと搬送
される。
することで、吸着保持したガラス基板Pを露光装置本体
6へ対向させる。そして、搬送アーム25は、+Y方向
に移動して、ガラス基板Pが基板ステージ11の上方に
到達したところで−Z方向に下降する。ガラス基板Pが
基板ステージ11上に載置されると、搬送アーム25は
ガラス基板Pに対する真空吸着を解除し、基板ステージ
11上から退避する。以上の動作により、ガラス基板P
は、基板収納カセット13から露光装置本体6へと搬送
される。
【0038】露光装置本体6からガラス基板Pを回収し
て基板収納カセット13へ収納する動作、および基板収
納カセット13からガラス基板Pを取り出してインライ
ンポートへ搬送する動作は、上記と逆の動作により行わ
れる。
て基板収納カセット13へ収納する動作、および基板収
納カセット13からガラス基板Pを取り出してインライ
ンポートへ搬送する動作は、上記と逆の動作により行わ
れる。
【0039】なお、ガラス基板Pが露光装置本体6の基
板ステージ11へ搬送され、マスクMとガラス基板Pと
のアライメントが行われると露光処理が実施される。す
なわち、キャリッジ12がX方向に移動することによ
り、マスクステージ9と基板ステージ11とが投影光学
系10に対して一体的に移動する。これにより、照明光
学系8によって露光光を照明されたマスクM上の照明領
域のパターンが、投影光学系10を介して逐次、ガラス
基板P上の転写領域に投影転写される。
板ステージ11へ搬送され、マスクMとガラス基板Pと
のアライメントが行われると露光処理が実施される。す
なわち、キャリッジ12がX方向に移動することによ
り、マスクステージ9と基板ステージ11とが投影光学
系10に対して一体的に移動する。これにより、照明光
学系8によって露光光を照明されたマスクM上の照明領
域のパターンが、投影光学系10を介して逐次、ガラス
基板P上の転写領域に投影転写される。
【0040】本実施の形態の基板収納装置では、支持部
材17がガラス基板PのY方向の中央部分を支持してい
るので、ガラス基板Pが大型で薄い場合でも撓みの発生
をほぼ抑えることが可能となる。そのため、搬送アーム
25を筐体16内に進入させる際にも、搬送アーム25
とガラス基板Pとの干渉を確実に防止することができ
る。また、ガラス基板Pが撓まないので、スロット間の
距離を設定する際にもガラス基板Pの撓みを見込む必要
がなく、ガラス基板P、搬送アーム25、支持部材17
の厚さおよび搬送時に必要な若干の隙間に基づいて必要
最小限の距離を設定することができ、基板収納カセット
13の小型化、あるいは一台の基板収納カセット13で
より多くのガラス基板Pを収納することが可能になると
ともに、不要なコストアップも防止できる。
材17がガラス基板PのY方向の中央部分を支持してい
るので、ガラス基板Pが大型で薄い場合でも撓みの発生
をほぼ抑えることが可能となる。そのため、搬送アーム
25を筐体16内に進入させる際にも、搬送アーム25
とガラス基板Pとの干渉を確実に防止することができ
る。また、ガラス基板Pが撓まないので、スロット間の
距離を設定する際にもガラス基板Pの撓みを見込む必要
がなく、ガラス基板P、搬送アーム25、支持部材17
の厚さおよび搬送時に必要な若干の隙間に基づいて必要
最小限の距離を設定することができ、基板収納カセット
13の小型化、あるいは一台の基板収納カセット13で
より多くのガラス基板Pを収納することが可能になると
ともに、不要なコストアップも防止できる。
【0041】また、本実施の形態の基板収納装置では、
支持部材17はガラス基板PをY方向では連続的に支持
しているものの、X方向では選択的に支持しているの
で、ガラス基板Pに発生する撓みを抑えつつ、支持部材
17の軽量化ひいては基板収納カセット13の軽量化も
実現している。
支持部材17はガラス基板PをY方向では連続的に支持
しているものの、X方向では選択的に支持しているの
で、ガラス基板Pに発生する撓みを抑えつつ、支持部材
17の軽量化ひいては基板収納カセット13の軽量化も
実現している。
【0042】さらに、本実施の形態の基板収納装置で
は、温度調整装置20によって予めガラス基板Pの温度
を露光処理温度に調整しているので、ガラス基板Pに対
する放熱工程を削除、若しくは短縮することができ、ス
ループットの向上を実現することができる。また、この
温度調整は、支持部材17との間の面接触によって行わ
れるので、熱伝導が向上し、ガラス基板Pの放熱を効果
的に実施することができる。
は、温度調整装置20によって予めガラス基板Pの温度
を露光処理温度に調整しているので、ガラス基板Pに対
する放熱工程を削除、若しくは短縮することができ、ス
ループットの向上を実現することができる。また、この
温度調整は、支持部材17との間の面接触によって行わ
れるので、熱伝導が向上し、ガラス基板Pの放熱を効果
的に実施することができる。
【0043】また、本実施の形態の基板収納装置では、
搬送されるガラス基板Pに対してイオナイザー19によ
って静電気を中和しているので、露光処理が行われる際
にガラス基板Pが帯電していることを確実に防止でき、
帯電に起因する露光不良を未然に回避することができ
る。
搬送されるガラス基板Pに対してイオナイザー19によ
って静電気を中和しているので、露光処理が行われる際
にガラス基板Pが帯電していることを確実に防止でき、
帯電に起因する露光不良を未然に回避することができ
る。
【0044】そして、本実施の形態の基板収納装置で
は、基板検知装置21によって支持部材17上のガラス
基板Pの有無を検知しているので、基板収納カセット1
3内のガラス基板Pの収納状況を容易に把握することが
でき、取り出すべきガラス基板Pの有無、あるいは回収
したガラス基板Pを収納するべきスロットのガラス基板
Pの有無等を確認することで、搬入ミスや搬出ミスの発
生を未然に防ぐことができる。
は、基板検知装置21によって支持部材17上のガラス
基板Pの有無を検知しているので、基板収納カセット1
3内のガラス基板Pの収納状況を容易に把握することが
でき、取り出すべきガラス基板Pの有無、あるいは回収
したガラス基板Pを収納するべきスロットのガラス基板
Pの有無等を確認することで、搬入ミスや搬出ミスの発
生を未然に防ぐことができる。
【0045】なお、上記実施の形態において、ガラス基
板Pに対する帯電防止をイオナイザー19で行う構成と
したが、これに限られることなく、例えば、支持部材1
7を金属等の導電性材料で形成し、支持部材17を接地
することにより、支持部材17上に収納されたガラス基
板Pに帯電した電荷を容易に除去することができる。
板Pに対する帯電防止をイオナイザー19で行う構成と
したが、これに限られることなく、例えば、支持部材1
7を金属等の導電性材料で形成し、支持部材17を接地
することにより、支持部材17上に収納されたガラス基
板Pに帯電した電荷を容易に除去することができる。
【0046】また、上記実施の形態において、センサ2
3をZ方向に移動させて基板収納カセット13内のガラ
ス基板Pを検知する構成としたが、これに限られるもの
ではなく、例えば、各支持部材17の上面17a側に近
接センサ等を埋設し、これらの複数の近接センサにより
支持部材17上のガラス基板Pの有無を検知するような
構成であってもよい。この場合、複数の近接センサの検
知結果が同一でないときにはガラス基板Pが収納されて
いるものの、所定位置からずれて収納されていることを
検知することができる。さらに、各支持部材17の上面
17aに対して出没自在な検出軸を設け、支持部材17
上にガラス基板Pがないときには検出軸が突出し、支持
部材17上にガラス基板Pが収納されたときに該ガラス
基板Pの自重で突出軸が没入するよう構成し、検出軸の
突出、没入状態でガラス基板Pの有無を検知してもよ
い。
3をZ方向に移動させて基板収納カセット13内のガラ
ス基板Pを検知する構成としたが、これに限られるもの
ではなく、例えば、各支持部材17の上面17a側に近
接センサ等を埋設し、これらの複数の近接センサにより
支持部材17上のガラス基板Pの有無を検知するような
構成であってもよい。この場合、複数の近接センサの検
知結果が同一でないときにはガラス基板Pが収納されて
いるものの、所定位置からずれて収納されていることを
検知することができる。さらに、各支持部材17の上面
17aに対して出没自在な検出軸を設け、支持部材17
上にガラス基板Pがないときには検出軸が突出し、支持
部材17上にガラス基板Pが収納されたときに該ガラス
基板Pの自重で突出軸が没入するよう構成し、検出軸の
突出、没入状態でガラス基板Pの有無を検知してもよ
い。
【0047】また、上記実施の形態では、センサ23を
Z方向に移動させる構成としたが、これに限られず、例
えば、基板収納カセット13をZ方向に移動させたり、
双方をZ方向に移動させる構成であってもよい。センサ
23を反射型センサとしたが、これに限定されず、例え
ば、透過型センサや近接センサとする構成であってもよ
い。さらに、上記の実施の形態では、熱媒体が循環する
循環路を支持部材17の内部に形成する構成としたが、
例えば、支持部材17の外部に沿わせるような構成でも
よい。
Z方向に移動させる構成としたが、これに限られず、例
えば、基板収納カセット13をZ方向に移動させたり、
双方をZ方向に移動させる構成であってもよい。センサ
23を反射型センサとしたが、これに限定されず、例え
ば、透過型センサや近接センサとする構成であってもよ
い。さらに、上記の実施の形態では、熱媒体が循環する
循環路を支持部材17の内部に形成する構成としたが、
例えば、支持部材17の外部に沿わせるような構成でも
よい。
【0048】図5は、本発明の基板収納装置の第2の実
施の形態を示す図である。この図において、図1ないし
図4に示す第1の実施の形態の構成要素と同一の要素に
ついては同一符号を付し、その説明を省略する。第2の
実施の形態と上記の第1の実施の形態とが異なる点は、
温度調整機構の構成である。
施の形態を示す図である。この図において、図1ないし
図4に示す第1の実施の形態の構成要素と同一の要素に
ついては同一符号を付し、その説明を省略する。第2の
実施の形態と上記の第1の実施の形態とが異なる点は、
温度調整機構の構成である。
【0049】この図に示すように、各支持部材17の下
面には、温度調整機構として連続的な凹凸形状からなる
フィン26が支持部材17の長さ方向に亙って形成され
ている。他の構成は、上記第1の実施の形態と同様であ
る。
面には、温度調整機構として連続的な凹凸形状からなる
フィン26が支持部材17の長さ方向に亙って形成され
ている。他の構成は、上記第1の実施の形態と同様であ
る。
【0050】本実施の形態の基板収納装置では、表面積
が大きいフィン26によって支持部材17上に載置され
たガラス基板Pの放熱を促進することができるため、循
環装置22等の装置を別途設けることなく、簡単な構成
で上記第1の実施の形態と同様の作用・効果が得ること
ができる。加えて、フィン26の存在により、支持部材
17の軽量化が図られており、基板収納カセット13と
しても一層の軽量化を実現することができる。
が大きいフィン26によって支持部材17上に載置され
たガラス基板Pの放熱を促進することができるため、循
環装置22等の装置を別途設けることなく、簡単な構成
で上記第1の実施の形態と同様の作用・効果が得ること
ができる。加えて、フィン26の存在により、支持部材
17の軽量化が図られており、基板収納カセット13と
しても一層の軽量化を実現することができる。
【0051】なお、上記実施の形態では、支持部材17
にフィン26でガラス基板Pの放熱を促進させる構成と
したが、第1の実施の形態のように、熱媒体を循環させ
る循環装置22をさらに設けてもよい。この場合、ガラ
ス基板Pの温度をより迅速に、且つより精密に調整する
ことが可能になる。
にフィン26でガラス基板Pの放熱を促進させる構成と
したが、第1の実施の形態のように、熱媒体を循環させ
る循環装置22をさらに設けてもよい。この場合、ガラ
ス基板Pの温度をより迅速に、且つより精密に調整する
ことが可能になる。
【0052】図6は、本発明の基板収納装置の第3の実
施の形態を示す図である。この図において、図1ないし
図4に示す第1の実施の形態の構成要素と同一の要素に
ついては同一符号を付し、その説明を省略する。第3の
実施の形態と上記の第1の実施の形態とが異なる点は、
帯電防止機構および支持部材の構成である。
施の形態を示す図である。この図において、図1ないし
図4に示す第1の実施の形態の構成要素と同一の要素に
ついては同一符号を付し、その説明を省略する。第3の
実施の形態と上記の第1の実施の形態とが異なる点は、
帯電防止機構および支持部材の構成である。
【0053】すなわち、この図に示すように、ガラス基
板Pを下方から支持する支持部材27は、略水平面に沿
って配置された平板状に形成され、Z方向に間隔をあけ
て複数段配列されている。各支持部材27の上面27a
には、搬送アーム25に対応するようにY方向に所定間
隔をあけて、X方向に延在する断面視矩形の溝(協動
部)28が開口部15に開口するようにそれぞれ形成さ
れている。
板Pを下方から支持する支持部材27は、略水平面に沿
って配置された平板状に形成され、Z方向に間隔をあけ
て複数段配列されている。各支持部材27の上面27a
には、搬送アーム25に対応するようにY方向に所定間
隔をあけて、X方向に延在する断面視矩形の溝(協動
部)28が開口部15に開口するようにそれぞれ形成さ
れている。
【0054】これらの溝28は、ガラス基板Pの搬送時
に基板搬送装置14と協動し、具体的には筐体16内に
進入する搬送アーム25が溝28に沿って挿入される構
成になっている。そのため、溝18の+X方向の長さ
は、挿入された搬送アーム25が溝18の端面に接触し
ない値に設定されている。
に基板搬送装置14と協動し、具体的には筐体16内に
進入する搬送アーム25が溝28に沿って挿入される構
成になっている。そのため、溝18の+X方向の長さ
は、挿入された搬送アーム25が溝18の端面に接触し
ない値に設定されている。
【0055】一方、本実施の形態の基板収納カセット1
3には、帯電防止機構29が付設されている。帯電防止
機構29は、支持部材27の上面27aに開口する複数
のエア送出孔(送出孔)30と、このエア送出孔30に
静電気中和エアを供給するエア供給装置31とから構成
されている。エア送出孔30は、図6に示すように、溝
28以外の上面27a全面に亙って満遍なく一様に配置
されている。他の構成は、上記第1の実施の形態と同様
である。
3には、帯電防止機構29が付設されている。帯電防止
機構29は、支持部材27の上面27aに開口する複数
のエア送出孔(送出孔)30と、このエア送出孔30に
静電気中和エアを供給するエア供給装置31とから構成
されている。エア送出孔30は、図6に示すように、溝
28以外の上面27a全面に亙って満遍なく一様に配置
されている。他の構成は、上記第1の実施の形態と同様
である。
【0056】本実施の形態の基板収納装置では、上記第
1の実施の形態と同様の作用・効果が得られることに加
えて、支持部材27上にガラス基板Pを載置するとき
や、支持部材27上からガラス基板Pをすくい上げる際
に、静電気中和エアを上面27aから噴出することで、
ガラス基板P上の静電気を中和することができる。特
に、コータ・デベロッパにおける処理で帯電した場合は
もちろんのこと、ガラス基板Pを支持部材27と離間さ
せる際に発生する剥離帯電も効果的に防止することがで
きる。
1の実施の形態と同様の作用・効果が得られることに加
えて、支持部材27上にガラス基板Pを載置するとき
や、支持部材27上からガラス基板Pをすくい上げる際
に、静電気中和エアを上面27aから噴出することで、
ガラス基板P上の静電気を中和することができる。特
に、コータ・デベロッパにおける処理で帯電した場合は
もちろんのこと、ガラス基板Pを支持部材27と離間さ
せる際に発生する剥離帯電も効果的に防止することがで
きる。
【0057】図7は、本発明の基板収納装置の第4の実
施の形態を示す図である。この図において、図6に示す
第3の実施の形態の構成要素と同一の要素については同
一符号を付し、その説明を省略する。第4の実施の形態
と上記の第3の実施の形態とが異なる点は、支持部材2
7の構成である。
施の形態を示す図である。この図において、図6に示す
第3の実施の形態の構成要素と同一の要素については同
一符号を付し、その説明を省略する。第4の実施の形態
と上記の第3の実施の形態とが異なる点は、支持部材2
7の構成である。
【0058】すなわち、この図に示すように、支持部材
27には、筐体16の奥側(+X側)で溝28の延長方
向に位置して位置決め部材32が上面27aに突設され
ている。位置決め部材32は、筐体16内にガラス基板
Pが搬入された際に、該ガラス基板Pに当接すること
で、搬入方向(+X方向)の位置決めをなすものであ
る。位置決め部材32の上部には斜面32aが形成され
ており、搬入されたガラス基板Pが斜面32aに沿って
支持部材27の上面27aに案内されるようになってい
る。
27には、筐体16の奥側(+X側)で溝28の延長方
向に位置して位置決め部材32が上面27aに突設され
ている。位置決め部材32は、筐体16内にガラス基板
Pが搬入された際に、該ガラス基板Pに当接すること
で、搬入方向(+X方向)の位置決めをなすものであ
る。位置決め部材32の上部には斜面32aが形成され
ており、搬入されたガラス基板Pが斜面32aに沿って
支持部材27の上面27aに案内されるようになってい
る。
【0059】また、支持部材27の開口部15側(−X
側)の端縁(一端縁)33には、上方へ向けて突出する
突壁部34がY方向に沿って設けられている。突壁部3
4と位置決め部材32との間の距離は、ガラス基板Pの
長さよりも若干大きめに設定されている。他の構成は、
上記第3の実施の形態と同様である。
側)の端縁(一端縁)33には、上方へ向けて突出する
突壁部34がY方向に沿って設けられている。突壁部3
4と位置決め部材32との間の距離は、ガラス基板Pの
長さよりも若干大きめに設定されている。他の構成は、
上記第3の実施の形態と同様である。
【0060】本実施の形態の基板収納装置では、上記第
3の実施の形態と同様の作用・効果が得られることに加
えて、ガラス基板Pの基板収納カセット13に対する位
置決めが可能になるので、ガラス基板Pを露光装置本体
6へ搬送する際のプリアライメントが基板収納カセット
13において実施することができる。加えて、本実施の
形態の基板収納装置では、突壁部34によってガラス基
板Pが開口部15から脱落してしまうことを防止でき
る。なお、ガラス基板Pの搬送時には、搬送アーム25
が突壁部34よりも高くガラス基板Pをすくい上げるこ
とにより、ガラス基板Pと突壁部34との干渉を防止で
きる。これは、ガラス基板Pを搬入するときも同様であ
る。
3の実施の形態と同様の作用・効果が得られることに加
えて、ガラス基板Pの基板収納カセット13に対する位
置決めが可能になるので、ガラス基板Pを露光装置本体
6へ搬送する際のプリアライメントが基板収納カセット
13において実施することができる。加えて、本実施の
形態の基板収納装置では、突壁部34によってガラス基
板Pが開口部15から脱落してしまうことを防止でき
る。なお、ガラス基板Pの搬送時には、搬送アーム25
が突壁部34よりも高くガラス基板Pをすくい上げるこ
とにより、ガラス基板Pと突壁部34との干渉を防止で
きる。これは、ガラス基板Pを搬入するときも同様であ
る。
【0061】なお、上記実施の形態では、基板収納カセ
ット13を露光装置5のチャンバ内に配設する構成とし
たが、チャンバの外側に配置してもよい。この場合、基
板収納カセット13内に空気清浄化手段を設けることが
好ましい。また、基板収納カセット13を露光装置5で
はなく、コータ・デベロッパ等に配設する構成としても
よい。また、本実施の形態の基板収納カセット13は、
ガラス基板Pにロット番号等の数字を露光するタイトラ
ーなどにも適用することができる。さらに、基板を自動
搬送するAGVと組み合わせて適用することもできる。
ット13を露光装置5のチャンバ内に配設する構成とし
たが、チャンバの外側に配置してもよい。この場合、基
板収納カセット13内に空気清浄化手段を設けることが
好ましい。また、基板収納カセット13を露光装置5で
はなく、コータ・デベロッパ等に配設する構成としても
よい。また、本実施の形態の基板収納カセット13は、
ガラス基板Pにロット番号等の数字を露光するタイトラ
ーなどにも適用することができる。さらに、基板を自動
搬送するAGVと組み合わせて適用することもできる。
【0062】なお、基板としては、液晶表示デバイス用
のガラス基板Pのみならず、マスクM、半導体デバイス
用の半導体ウエハ、薄膜磁気ヘッド用のセラミックウエ
ハ、あるいは露光装置5で用いられるマスクまたはレチ
クルの原版(合成石英、シリコンウエハ)等が適用され
る。
のガラス基板Pのみならず、マスクM、半導体デバイス
用の半導体ウエハ、薄膜磁気ヘッド用のセラミックウエ
ハ、あるいは露光装置5で用いられるマスクまたはレチ
クルの原版(合成石英、シリコンウエハ)等が適用され
る。
【0063】露光装置5としては、マスクMとガラス基
板Pとを同期移動してマスクMのパターンをガラス基板
Pに露光するステップ・アンド・スキャン方式の走査型
露光装置(スキャニング・ステッパー)に限らず、マス
クMとガラス基板Pとを静止した状態でマスクMのパタ
ーンを露光し、ガラス基板Pを順次ステップ移動させる
ステップ・アンド・リピート方式の露光装置(ステッパ
ー)にも適用することができる。
板Pとを同期移動してマスクMのパターンをガラス基板
Pに露光するステップ・アンド・スキャン方式の走査型
露光装置(スキャニング・ステッパー)に限らず、マス
クMとガラス基板Pとを静止した状態でマスクMのパタ
ーンを露光し、ガラス基板Pを順次ステップ移動させる
ステップ・アンド・リピート方式の露光装置(ステッパ
ー)にも適用することができる。
【0064】露光装置5の種類としては、上記液晶表示
デバイス製造用のみならず、半導体製造用の露光装置
や、薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD)あるいはマス
クMなどを製造するための露光装置などにも広く適用で
きる。
デバイス製造用のみならず、半導体製造用の露光装置
や、薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD)あるいはマス
クMなどを製造するための露光装置などにも広く適用で
きる。
【0065】また、照明光学系8の光源として、水銀ラ
ンプから発生する輝線(g線(436nm)、i線(3
65nm))、KrFエキシマレーザ(248nm)、
ArFエキシマレーザ(193nm)、F2レーザ(1
57nm)のみならず、X線や電子線などの荷電粒子線
などを用いることができる。例えば、電子線を用いる場
合には、電子銃として熱電子放射型のランタンヘキサボ
ライト(LaB6)、タンタル(Ta)を用いることが
できる。また、YAGレーザや半導体レーザ等の高周波
などを用いてもよい。
ンプから発生する輝線(g線(436nm)、i線(3
65nm))、KrFエキシマレーザ(248nm)、
ArFエキシマレーザ(193nm)、F2レーザ(1
57nm)のみならず、X線や電子線などの荷電粒子線
などを用いることができる。例えば、電子線を用いる場
合には、電子銃として熱電子放射型のランタンヘキサボ
ライト(LaB6)、タンタル(Ta)を用いることが
できる。また、YAGレーザや半導体レーザ等の高周波
などを用いてもよい。
【0066】投影光学系10の倍率は、等倍系のみなら
ず、縮小系および拡大系のいずれでもよい。また、投影
光学系10としては、エキシマレーザなどの遠紫外線を
用いる場合は硝材として石英や蛍石などの遠紫外線を透
過する材料を用い、F2レーザを用いる場合は反射屈折
系または屈折系の光学系にし(マスクMも反射型タイプ
のものを用いる)、また電子銃を用いる場合には光学系
として電子レンズおよび偏向器からなる電子光学系を用
いればよい。なお、電子線が通過する光路は、真空状態
にすることはいうまでもない。また、投影光学系10を
用いることなく、マスクMとガラス基板Pとを密接させ
てマスクMのパターンを露光するプロキシミティ露光装
置にも適用することができる。
ず、縮小系および拡大系のいずれでもよい。また、投影
光学系10としては、エキシマレーザなどの遠紫外線を
用いる場合は硝材として石英や蛍石などの遠紫外線を透
過する材料を用い、F2レーザを用いる場合は反射屈折
系または屈折系の光学系にし(マスクMも反射型タイプ
のものを用いる)、また電子銃を用いる場合には光学系
として電子レンズおよび偏向器からなる電子光学系を用
いればよい。なお、電子線が通過する光路は、真空状態
にすることはいうまでもない。また、投影光学系10を
用いることなく、マスクMとガラス基板Pとを密接させ
てマスクMのパターンを露光するプロキシミティ露光装
置にも適用することができる。
【0067】基板ステージ11やマスクステージ9にリ
ニアモータを用いる場合は、エアベアリングを用いたエ
ア浮上型およびローレンツ力またはリアクタンス力を用
いた磁気浮上型のどちらを用いてもよい。また、各ステ
ージ9,11は、ガイドに沿って移動するタイプでもよ
く、ガイドを設けないガイドレスタイプであってもよ
い。
ニアモータを用いる場合は、エアベアリングを用いたエ
ア浮上型およびローレンツ力またはリアクタンス力を用
いた磁気浮上型のどちらを用いてもよい。また、各ステ
ージ9,11は、ガイドに沿って移動するタイプでもよ
く、ガイドを設けないガイドレスタイプであってもよ
い。
【0068】基板ステージ11の移動により発生する反
力は、フレーム部材を用いて機械的に床(大地)に逃が
してもよい。マスクステージ9の移動により発生する反
力は、フレーム部材を用いて機械的に床(大地)に逃が
してもよい。
力は、フレーム部材を用いて機械的に床(大地)に逃が
してもよい。マスクステージ9の移動により発生する反
力は、フレーム部材を用いて機械的に床(大地)に逃が
してもよい。
【0069】複数の光学素子から構成される照明光学系
8および投影光学系10をそれぞれ露光装置本体6に組
み込んでその光学調整をするとともに、多数の機械部品
からなるマスクステージ9や基板ステージ11を露光装
置本体6に取り付けて配線や配管を接続し、更に総合調
整(電気調整、動作確認等)をすることにより本実施の
形態の露光装置5を製造することができる。なお、露光
装置5の製造は、温度およびクリーン度等が管理された
クリーンルームで行うことが望ましい。
8および投影光学系10をそれぞれ露光装置本体6に組
み込んでその光学調整をするとともに、多数の機械部品
からなるマスクステージ9や基板ステージ11を露光装
置本体6に取り付けて配線や配管を接続し、更に総合調
整(電気調整、動作確認等)をすることにより本実施の
形態の露光装置5を製造することができる。なお、露光
装置5の製造は、温度およびクリーン度等が管理された
クリーンルームで行うことが望ましい。
【0070】液晶表示素子や半導体デバイス等のデバイ
スは、各デバイスの機能・性能設計を行うステップ、こ
の設計ステップに基づいたマスクMを製作するステッ
プ、ガラス基板P、ウエハ等を製作するステップ、前述
した実施の形態の露光装置5によりマスクMのパターン
をガラス基板P、ウエハに露光するステップ、各デバイ
スを組み立てるステップ、検査ステップ等を経て製造さ
れる。
スは、各デバイスの機能・性能設計を行うステップ、こ
の設計ステップに基づいたマスクMを製作するステッ
プ、ガラス基板P、ウエハ等を製作するステップ、前述
した実施の形態の露光装置5によりマスクMのパターン
をガラス基板P、ウエハに露光するステップ、各デバイ
スを組み立てるステップ、検査ステップ等を経て製造さ
れる。
【0071】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に係る基
板収納装置は、支持部材が基板の所定方向の略中央部分
を支持し、搬送装置が基板を搬送する際に協動部と協動
する構成となっている。これにより、この基板収納装置
では、基板が大型で薄い場合でも撓みの発生をほぼ抑え
ることが可能となるため、基板搬送時に搬送装置と基板
との干渉を確実に防止できるという効果が得られる。ま
た、基板が撓まないので、スロット間の距離を設定する
際にも基板の撓みを見込む必要がなく、基板搬送時に関
する必要最小限の距離を設定することができ、基板収納
装置および露光装置の小型化、あるいは一台の基板収納
装置でより多くの基板を収納することが可能になるとと
もに、不要なコストアップも防止できるという優れた効
果を奏する。
板収納装置は、支持部材が基板の所定方向の略中央部分
を支持し、搬送装置が基板を搬送する際に協動部と協動
する構成となっている。これにより、この基板収納装置
では、基板が大型で薄い場合でも撓みの発生をほぼ抑え
ることが可能となるため、基板搬送時に搬送装置と基板
との干渉を確実に防止できるという効果が得られる。ま
た、基板が撓まないので、スロット間の距離を設定する
際にも基板の撓みを見込む必要がなく、基板搬送時に関
する必要最小限の距離を設定することができ、基板収納
装置および露光装置の小型化、あるいは一台の基板収納
装置でより多くの基板を収納することが可能になるとと
もに、不要なコストアップも防止できるという優れた効
果を奏する。
【0072】請求項2に係る基板収納装置は、支持部材
の第1支持部が所定方向では連続的に基板を支持し、所
定方向とほぼ直交する方向では選択的に基板を支持する
構成となっている。これにより、この基板収納装置で
は、基板に発生する撓みを抑えつつ、支持部材の軽量化
ひいては基板収納装置、露光装置の軽量化も実現できる
という優れた効果が得られる。
の第1支持部が所定方向では連続的に基板を支持し、所
定方向とほぼ直交する方向では選択的に基板を支持する
構成となっている。これにより、この基板収納装置で
は、基板に発生する撓みを抑えつつ、支持部材の軽量化
ひいては基板収納装置、露光装置の軽量化も実現できる
という優れた効果が得られる。
【0073】請求項3に係る基板収納装置は、支持部材
が温度調整機構を備える構成となっている。これによ
り、この基板収納装置では、基板に対する放熱工程を削
除、若しくは短縮することができ、スループットの向上
を実現できるという効果が得られる。
が温度調整機構を備える構成となっている。これによ
り、この基板収納装置では、基板に対する放熱工程を削
除、若しくは短縮することができ、スループットの向上
を実現できるという効果が得られる。
【0074】請求項4に係る基板収納装置は、温度調整
機構がフィンを備える構成となっている。これにより、
この基板収納装置では、簡単な構成で基板の放熱を促進
することができるため、小型化および低価格化を実現で
きる。また、支持部材の軽量化が図られることで、基板
収納装置や露光装置としても一層の軽量化を実現するこ
とができる。
機構がフィンを備える構成となっている。これにより、
この基板収納装置では、簡単な構成で基板の放熱を促進
することができるため、小型化および低価格化を実現で
きる。また、支持部材の軽量化が図られることで、基板
収納装置や露光装置としても一層の軽量化を実現するこ
とができる。
【0075】請求項5に係る基板収納装置は、温度調整
機構が熱媒体を循環させる循環機構を備える構成となっ
ている。これにより、この基板収納装置では、熱媒体を
介して基板の温度を調整することで基板に対する放熱工
程を削除、若しくは短縮することができ、スループット
の向上を実現できるという効果が得られる。
機構が熱媒体を循環させる循環機構を備える構成となっ
ている。これにより、この基板収納装置では、熱媒体を
介して基板の温度を調整することで基板に対する放熱工
程を削除、若しくは短縮することができ、スループット
の向上を実現できるという効果が得られる。
【0076】請求項6に係る基板収納装置は、帯電防止
機構が基板の帯電を防止する構成となっている。これに
より、この基板収納装置では、露光処理が行われる際に
基板が帯電していることを確実に防止でき、帯電に起因
する露光不良を未然に回避できるという効果が得られ
る。
機構が基板の帯電を防止する構成となっている。これに
より、この基板収納装置では、露光処理が行われる際に
基板が帯電していることを確実に防止でき、帯電に起因
する露光不良を未然に回避できるという効果が得られ
る。
【0077】請求項7に係る基板収納装置は、帯電防止
機構が送出孔と、該送出孔に静電気中和エアを供給する
エア供給装置を備える構成となっている。これにより、
この基板収納装置では、特に、基板を支持部材と離間さ
せる際に発生する剥離帯電を効果的に防止できるという
効果が得られる。
機構が送出孔と、該送出孔に静電気中和エアを供給する
エア供給装置を備える構成となっている。これにより、
この基板収納装置では、特に、基板を支持部材と離間さ
せる際に発生する剥離帯電を効果的に防止できるという
効果が得られる。
【0078】請求項8に係る基板収納装置は、基板検知
装置が支持部材上の基板の有無を検知する構成となって
いる。これにより、この基板収納装置では、取り出すべ
き基板の有無、あるいは回収した基板を収納するべきス
ロットの基板の有無等を確認することで、搬入ミスや搬
出ミスの発生を未然に防ぐことができる。
装置が支持部材上の基板の有無を検知する構成となって
いる。これにより、この基板収納装置では、取り出すべ
き基板の有無、あるいは回収した基板を収納するべきス
ロットの基板の有無等を確認することで、搬入ミスや搬
出ミスの発生を未然に防ぐことができる。
【0079】請求項9に係る基板収納装置は、上方へ向
けて突出する突壁部が支持部材に設けられる構成となっ
ている。これにより、この基板収納装置では、基板が開
口部から脱落してしまうことを防止できるという効果が
得られる。
けて突出する突壁部が支持部材に設けられる構成となっ
ている。これにより、この基板収納装置では、基板が開
口部から脱落してしまうことを防止できるという効果が
得られる。
【図1】 本発明の第1の実施の形態を示す図であっ
て、基板収納カセットを備える露光装置の外観斜視図で
ある。
て、基板収納カセットを備える露光装置の外観斜視図で
ある。
【図2】 同基板収納カセットにガラス基板が複数枚収
納された外観斜視図である。
納された外観斜視図である。
【図3】 本発明の第1の実施の形態を示す図であっ
て、温度調整装置が付設された基板収納カセットの正面
図である。
て、温度調整装置が付設された基板収納カセットの正面
図である。
【図4】 本発明の第1の実施の形態を示す図であっ
て、基板検知装置が付設された基板収納カセットの側断
面図である。
て、基板検知装置が付設された基板収納カセットの側断
面図である。
【図5】 本発明の第2の実施の形態を示す図であっ
て、支持部材にフィンが形成された基板収納カセットの
正面図である。
て、支持部材にフィンが形成された基板収納カセットの
正面図である。
【図6】 本発明の第3の実施の形態を示す図であっ
て、支持部材に帯電防止装置が付設された基板収納カセ
ットの正面図である。
て、支持部材に帯電防止装置が付設された基板収納カセ
ットの正面図である。
【図7】 本発明の第4の実施の形態を示す図であっ
て、支持部材に位置決め部材と突壁部が設けられた基板
収納カセットの部分断面図である。
て、支持部材に位置決め部材と突壁部が設けられた基板
収納カセットの部分断面図である。
【図8】 従来技術の基板収納カセットにガラス基板が
収納される平面図である。
収納される平面図である。
【図9】 図8における正面図である。
【図10】 従来技術の基板収納カセットにガラス基板
が収納される平面図である。
が収納される平面図である。
P ガラス基板(基板) 5 露光装置 13 基板収納カセット(基板収納装置) 14 基板搬送装置(搬送装置) 17、27 支持部材 17a 上面(第1支持部、第2支持部) 18 連通溝(協動部) 19 イオナイザー(帯電防止機構) 20 温度調整装置(温度調整機構) 21 基板検知装置 22 循環装置 26 フィン 28 溝(協動部) 29 帯電防止機構 30 エア送出孔(送出孔) 31 エア供給装置 33 端縁(一端縁)
Claims (9)
- 【請求項1】 基板をほぼ水平方向に沿って収納する基
板収納装置であって、 前記基板の所定方向の略中央部分を支持する支持部材
と、 前記支持部材の近傍に設けられ、前記基板収納装置との
間で前記基板を搬送する搬送装置と協働する協働部とを
備えたことを特徴とする基板収納装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の基板収納装置において、 前記支持部材は、前記所定方向では連続的に前記基板を
支持する第1支持部と、前記所定方向とほぼ直交する方
向では選択的に前記基板を支持する第2支持部とを備え
ていることを特徴とする基板収納装置。 - 【請求項3】 請求項1または2記載の基板収納装置に
おいて、 前記支持部材は、前記基板の温度を調整する温度調整機
構を備えることを特徴とする基板収納装置。 - 【請求項4】 請求項3記載の基板収納装置において、 前記温度調整機構は、前記支持部材の長さ方向に亙って
形成されたフィンを備えることを特徴とする基板収納装
置。 - 【請求項5】 請求項3または4記載の基板収納装置に
おいて、 前記温度調整機構は、前記支持部材に熱媒体を循環させ
る循環装置を備えることを特徴とする基板収納装置。 - 【請求項6】 請求項1から5のいずれかに記載の基板
収納装置において、 前記基板の帯電を防止する帯電防止機構を備えることを
特徴とする基板収納装置。 - 【請求項7】 請求項6記載の基板収納装置において、 前記帯電防止機構は、前記支持部材の上面に開口する送
出孔と、 該送出孔に接続され、該送出孔に静電気中和エアを供給
するエア供給装置とを備えることを特徴とする基板収納
装置。 - 【請求項8】 請求項1から7のいずれかに記載の基板
収納装置において、 前記支持部材上の前記基板の有無を検知する基板検知装
置を備えることを特徴とする基板収納装置。 - 【請求項9】 請求項1から8のいずれかに記載の基板
収納装置において、 前記支持部材の一端縁側には、上方へ向けて突出する突
壁部が設けられていることを特徴とする基板収納装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11062410A JP2000260859A (ja) | 1999-03-09 | 1999-03-09 | 基板収納装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11062410A JP2000260859A (ja) | 1999-03-09 | 1999-03-09 | 基板収納装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000260859A true JP2000260859A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13199361
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11062410A Withdrawn JP2000260859A (ja) | 1999-03-09 | 1999-03-09 | 基板収納装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000260859A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002045137A2 (en) * | 2000-11-29 | 2002-06-06 | Tokyo Electron Limited | Reduced edge contact wafer handling system and method of retrofitting and using same |
JP2003110014A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウェーハカセット並びに半導体ウェーハの搬入方法及び搬出方法 |
-
1999
- 1999-03-09 JP JP11062410A patent/JP2000260859A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002045137A2 (en) * | 2000-11-29 | 2002-06-06 | Tokyo Electron Limited | Reduced edge contact wafer handling system and method of retrofitting and using same |
WO2002045137A3 (en) * | 2000-11-29 | 2003-03-20 | Tokyo Electron Ltd | Reduced edge contact wafer handling system and method of retrofitting and using same |
US6692219B2 (en) | 2000-11-29 | 2004-02-17 | Tokyo Electron Limited | Reduced edge contact wafer handling system and method of retrofitting and using same |
JP2003110014A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウェーハカセット並びに半導体ウェーハの搬入方法及び搬出方法 |
JP4564695B2 (ja) * | 2001-09-28 | 2010-10-20 | 株式会社ディスコ | ウェーハカセット並びに半導体ウェーハの搬入方法及び搬出方法 |
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