JP2003107723A - Manufacturing method for metal mask and metal mask - Google Patents

Manufacturing method for metal mask and metal mask

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JP2003107723A
JP2003107723A JP2001290498A JP2001290498A JP2003107723A JP 2003107723 A JP2003107723 A JP 2003107723A JP 2001290498 A JP2001290498 A JP 2001290498A JP 2001290498 A JP2001290498 A JP 2001290498A JP 2003107723 A JP2003107723 A JP 2003107723A
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JP
Japan
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film
mask
metal
mask pattern
conductive film
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Application number
JP2001290498A
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Japanese (ja)
Inventor
Kiyoshi Ogawa
小川  潔
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Eastman Kodak Co
Original Assignee
Eastman Kodak Co
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a metal mask by which dimension management in a manufacturing process is facilitated and many highly accurate metal masks can be manufactured with the same accuracy. SOLUTION: A Cr film 2 having a mask pattern 2a is formed on a surface of a glass substrate 1, then a dry film 4 is formed on the Cr film 2 and then the dry film 4 is exposed from the side of the glass substrate 1 with the Cr film 2 as a mask. Thus, the mask pattern 4a in the same shape as the mask pattern 2a is formed on the dry film 4. For the mask pattern, an end face is tapered. Then, a metal plating layer 6 is formed on the Cr film 2 and the metal plating layer 6 is peeled off and turned to the metal mask 7.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、各種電子デバイス
の製造工程、特に、エレクトロルミネッセンス(EL)
素子の製造工程に用いて好適なメタルマスクの製造方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a manufacturing process of various electronic devices, particularly electroluminescence (EL).
The present invention relates to a metal mask manufacturing method suitable for use in a device manufacturing process.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、エレクトロルミネッセンス(E
L)素子等の電子デバイスの製造工程においては、各種
金属の蒸着膜を形成するために、クロム、ステンレスス
チール等の金属膜に所望のパターンが形成されたメタル
マスクが用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, electroluminescence (E
In the process of manufacturing an electronic device such as L) element, a metal mask in which a desired pattern is formed on a metal film such as chromium or stainless steel is used to form a vapor deposition film of various metals.

【0003】このメタルマスクは次のような方法により
製造される。
This metal mask is manufactured by the following method.

【0004】(1)ステンレス薄板等の薄厚の金属板に
レジスト膜を形成し、このレジスト膜を露光して所望の
マスクパターンとし、このマスクを用いてステンレス薄
板をエッチングし、所望のパターンが形成されたメタル
マスクとする。
(1) A resist film is formed on a thin metal plate such as a stainless thin plate, the resist film is exposed to form a desired mask pattern, and the stainless thin plate is etched using this mask to form a desired pattern. It is used as a metal mask.

【0005】(2)ステンレス等の導電性材料の表面に
レジスト膜を形成し、このレジスト膜を露光して所望の
マスクパターンとし、その後、電気メッキ法により該導
電性材料の上面に金属メッキ層を形成し、該金属メッキ
層を前記導電性材料の上面から剥離し、所望のパターン
が形成されたメタルマスクとする。
(2) A resist film is formed on the surface of a conductive material such as stainless steel, the resist film is exposed to form a desired mask pattern, and then a metal plating layer is formed on the upper surface of the conductive material by electroplating. And the metal plating layer is peeled off from the upper surface of the conductive material to obtain a metal mask having a desired pattern.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のメタ
ルマスクの製造方法においては、露光時のマスクの精度
やエッチングの精度が最終製品であるメタルマスクのパ
ターン精度に大きく影響するために、各工程においても
パターンの寸法精度を高精度で管理する必要がある。し
かしながら、従来の方法では、線膨張係数の大きいクロ
ム、ステンレススチール等の金属上にメタルマスクを形
成しているために、金属材料に生じる僅かな温度差によ
り作製されたメタルマスク毎に寸法精度が異なることと
なり、同一の寸法精度のメタルマスクを得ることがむず
かしいという問題点があった。
By the way, in the conventional metal mask manufacturing method, since the accuracy of the mask at the time of exposure and the accuracy of etching greatly influence the pattern accuracy of the final product, the metal mask, In this case as well, it is necessary to manage the dimensional accuracy of the pattern with high accuracy. However, in the conventional method, since the metal mask is formed on a metal such as chromium or stainless steel having a large linear expansion coefficient, the dimensional accuracy of each metal mask produced by a slight temperature difference generated in the metal material is high. However, there is a problem that it is difficult to obtain metal masks having the same dimensional accuracy.

【0007】また、高精度の寸法精度で、しかも寸法の
ばらつきの小さいメタルマスクが多数枚要求される場
合、メタルマスクを構成する材料や、メタルマスクを作
製する際に母材となるステンレススチール等の金属材料
の寸法の経時変化に影響され易く、同一の寸法精度のメ
タルマスクを安定して作製することが難しいという問題
点があった。
When a large number of metal masks with high dimensional accuracy and small dimensional variation are required, the material forming the metal mask, stainless steel used as a base material when manufacturing the metal mask, etc. However, there is a problem in that it is difficult to stably manufacture a metal mask having the same dimensional accuracy because it is easily affected by changes in dimensions of the metal material.

【0008】例えば、マスクパターンの寸法精度が同じ
メタルマスクを多数枚作製した場合、作製の当初は高精
度でしかも精度の揃ったメタルマスクが得られるが、作
製するにしたがって寸法に経時変化が生じることにより
寸法精度が徐々に低下することとなり、終盤では寸法の
精度が低下するだけでなく寸法のばらつきも大きくな
る。したがって、高精度でしかもばらつきの小さいメタ
ルマスクを多数枚得ることは難しい。
For example, when a large number of metal masks having the same dimensional accuracy of the mask pattern are produced, a highly accurate and uniform metal mask can be obtained at the beginning of production, but the dimensions change with time as they are produced. As a result, the dimensional accuracy gradually decreases, and in the final stage, not only the dimensional accuracy decreases, but also the dimensional variation increases. Therefore, it is difficult to obtain a large number of highly accurate metal masks with small variations.

【0009】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
のであって、製造工程における寸法管理が容易で、高精
度のメタルマスクを多数枚、同一の精度で作製すること
ができるメタルマスクの製造方法を提供することを目的
とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and is a metal mask in which dimensional control is easy in the manufacturing process and a large number of high-precision metal masks can be manufactured with the same accuracy. It is intended to provide a manufacturing method.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の一態様では、透
明板または透明フィルムの一主面にマスクパターンを有
する導電膜を形成し、次いで、該導電膜上に感光膜を形
成し、次いで、前記導電膜をマスクとして前記感光膜を
前記透明板または透明フィルムの側から露光し該感光膜
に前記マスクパターンと同一形状のマスクパターンを形
成し、次いで、前記導電膜上に金属メッキ層を形成し、
この金属メッキ層を剥離してメタルマスクとするメタル
マスクの製造方法であって、前記第2のレジスト膜に形
成されるマスクパターンは、上記導電膜上の空間が導電
膜から離れるに従って狭くなっている開口部を含むこと
を特徴とする。
In one embodiment of the present invention, a conductive film having a mask pattern is formed on one main surface of a transparent plate or transparent film, then a photosensitive film is formed on the conductive film, and then a photosensitive film is formed. Exposing the photosensitive film from the transparent plate or transparent film side using the conductive film as a mask to form a mask pattern having the same shape as the mask pattern on the photosensitive film, and then forming a metal plating layer on the conductive film. Formed,
In the method of manufacturing a metal mask, wherein the metal plating layer is peeled off to form a metal mask, the mask pattern formed on the second resist film becomes narrower as the space on the conductive film becomes more distant from the conductive film. It is characterized by including an opening.

【0011】本発明の他の態様では、透明板または透明
フィルムの一主面に導電膜を形成した基材を用意し、こ
の基材の導電膜上に第1のレジスト膜を形成し、次い
で、該第1のレジスト膜に第1のマスクパターンを形成
し、次いで、このレジスト膜をマスクとして前記導電膜
をエッチングし、その後該第1のレジスト膜を除去し、
次いで、前記導電膜上に第2のレジスト膜を形成し、該
導電膜をマスクとし前記第2のレジスト膜を前記透明板
または透明フィルム側から露光して前記第2のレジスト
膜に第2のマスクパターンを形成し、前記導電膜上にメ
ッキにより金属メッキ層を形成し、この金属メッキ層を
剥離してメタルマスクとするメタルマスクの製造方法で
あって、前記第2のレジスト膜に形成されるマスクパタ
ーンは、上記導電膜上の空間が導電膜から離れるに従っ
て狭くなっている開口部を含むことを特徴とする。
In another aspect of the present invention, a base material having a conductive film formed on one main surface of a transparent plate or a transparent film is prepared, a first resist film is formed on the conductive film of the base material, and then the first resist film is formed. Forming a first mask pattern on the first resist film, etching the conductive film using the resist film as a mask, and then removing the first resist film,
Then, a second resist film is formed on the conductive film, and the second resist film is exposed from the transparent plate or transparent film side using the conductive film as a mask to form a second resist film on the second resist film. A method of manufacturing a metal mask, comprising forming a mask pattern, forming a metal plating layer on the conductive film by plating, and peeling the metal plating layer to obtain a metal mask, which is formed on the second resist film. The mask pattern is characterized in that the space on the conductive film includes an opening that becomes narrower as the space from the conductive film increases.

【0012】また、前記第2のレジスト膜はドライフィ
ルムであることが好適である。
Further, the second resist film is preferably a dry film.

【0013】また、前記第1のレジスト膜へのマスクパ
ターンの形成は、電子ビーム露光法またはレーザビーム
露光法によることが好適である。
Further, it is preferable that the mask pattern is formed on the first resist film by an electron beam exposure method or a laser beam exposure method.

【0014】また、前記第1のレジスト膜へのマスクパ
ターンの形成は、マスタマスクを用いた露光法によるこ
とが好適である。
The mask pattern is preferably formed on the first resist film by an exposure method using a master mask.

【0015】また、前記導電膜は、クロムを主成分とす
る金属膜からなることが好適である。
The conductive film is preferably made of a metal film containing chromium as a main component.

【0016】また、前記導電膜は、ITO膜からなるこ
とが好適である。
The conductive film is preferably made of an ITO film.

【0017】また、本発明の他の態様は、上述のような
製造方法によって製造されたメタルマスクについてのも
のである。
Further, another aspect of the present invention relates to a metal mask manufactured by the above manufacturing method.

【0018】また、本発明の他の態様では、絶縁基板に
形成された所定のマスクパターンを有する導電膜上に形
成された金属メッキ層を剥離して得られたメタルマスク
であって、メタルマスクは、剥離された面から反対側に
向けてテーパ状に広がる開口を有し、最も広い開口部が
剥離された面側にあることを特徴とする。
Further, according to another aspect of the present invention, a metal mask obtained by peeling a metal plating layer formed on a conductive film having a predetermined mask pattern formed on an insulating substrate, Has an opening that expands in a tapered shape from the peeled surface toward the opposite side, and the widest opening is on the peeled surface side.

【0019】本発明によれば、透明板または透明フィル
ムの一主面にマスクパターンを有する導電膜を形成し、
次いで、該導電膜上に感光膜を形成し、次いで、前記導
電膜をマスクとして前記感光膜を前記透明板または透明
フィルムの側から露光し該感光膜に前記マスクパターン
と同一形状のマスクパターンを形成する。これにより、
透明板または透明フィルム上の導電膜がない領域に感光
膜を形成できる。従って、透明板または透明フィルムと
して、ガラスなどの熱膨張率の小さな材質を選択するこ
とが容易であり、マスクパターンの寸法の経時変化が無
くなる。これにより、メタルマスクの製造工程における
マスクパターンの寸法管理が容易になる。
According to the present invention, a conductive film having a mask pattern is formed on one main surface of a transparent plate or transparent film,
Next, a photosensitive film is formed on the conductive film, and then the photosensitive film is exposed from the transparent plate or transparent film side using the conductive film as a mask to form a mask pattern having the same shape as the mask pattern on the photosensitive film. Form. This allows
A photosensitive film can be formed on a transparent plate or a transparent film in a region without a conductive film. Therefore, it is easy to select a material having a small coefficient of thermal expansion, such as glass, as the transparent plate or transparent film, and the dimension of the mask pattern does not change with time. This facilitates dimensional control of the mask pattern in the metal mask manufacturing process.

【0020】また、感光膜をマスクとして導電膜上に金
属メッキ層を形成し、この金属メッキ層を剥離すること
により、感光膜に形成されたマスクパターンと同一形状
のパターンを有するメタルマスクが容易に得られる。
Further, by forming a metal plating layer on the conductive film using the photosensitive film as a mask and peeling off the metal plating layer, a metal mask having the same pattern as the mask pattern formed on the photosensitive film can be easily formed. Can be obtained.

【0021】ここで、導電膜上に金属メッキ層を形成
し、この金属メッキ層を剥離するという工程を繰り返し
実施することにより、高精度のメタルマスクを多数枚、
しかも同一の精度で作製することが可能になる。
Here, by repeating the process of forming a metal plating layer on the conductive film and peeling off the metal plating layer, a large number of high precision metal masks,
In addition, it is possible to manufacture with the same accuracy.

【0022】また、本発明によれば、絶縁基板の一主面
にマスクパターンを有する導電膜を形成し、次いで、該
導電膜上に前記マスクパターンと同一形状のマスクパタ
ーンを有する金属メッキ層を形成し、この金属メッキ層
を剥離してメタルマスクとする。これにより、絶縁基板
として、ガラスやセラミックなど熱膨張率の小さな材料
を用いることができる。そこで、メタルマスクの製造工
程におけるマスクパターンの寸法管理が容易になる。ま
た、この方法によれば、工程が簡略化されるので、製造
コストの低減が可能になる。
Further, according to the present invention, a conductive film having a mask pattern is formed on one main surface of the insulating substrate, and then a metal plating layer having a mask pattern having the same shape as the mask pattern is formed on the conductive film. It is formed and the metal plating layer is peeled off to form a metal mask. As a result, a material having a small coefficient of thermal expansion such as glass or ceramic can be used as the insulating substrate. Therefore, the dimension control of the mask pattern in the metal mask manufacturing process becomes easy. Further, according to this method, the process is simplified, so that the manufacturing cost can be reduced.

【0023】また、メタルマスクの開口部の側面がテー
パ状になっていることで、マスクパターンの精度を向上
することができる。特に、導電膜に近い側において開口
が最も小さくなるようにメタルマスクを構成すること
で、マスクパターンが正確に導電膜と同一になる。
Further, since the side surface of the opening of the metal mask is tapered, the accuracy of the mask pattern can be improved. In particular, by forming the metal mask so that the opening is minimized on the side close to the conductive film, the mask pattern becomes exactly the same as the conductive film.

【0024】また、感光膜をテーパ状に形成すること
で、開口がテーパ状のメタルマスクを容易に得ることが
できる。
By forming the photosensitive film in a tapered shape, a metal mask having a tapered opening can be easily obtained.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】本発明のメタルマスクの製造方法
の各実施の形態について図面に基づき説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of a metal mask manufacturing method of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0026】[第1の実施の形態]本発明の第1の実施
の形態のEL素子用蒸着用メタルマスクの製造方法につ
いて図1に基づき説明する。
[First Embodiment] A method of manufacturing a metal mask for vapor deposition for an EL device according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0027】まず、図1(a)に示すように、蒸着また
はスパッタリングにより、ガラス基板1の表面(一主
面)に導電性材料である、例えば厚みが0.1μmのC
r(クロム)膜(導電膜)2を成膜し、スピンコート法
等により、このCr膜2上に、例えば厚みが0.7μm
の感光材料(第1のレジスト膜)3を形成する。
First, as shown in FIG. 1A, a conductive material, for example, C having a thickness of 0.1 μm is formed on the surface (one main surface) of the glass substrate 1 by vapor deposition or sputtering.
An r (chromium) film (conductive film) 2 is formed, and a thickness of, for example, 0.7 μm is formed on the Cr film 2 by spin coating or the like.
The photosensitive material (first resist film) 3 is formed.

【0028】次いで、電子ビーム露光法、レーザビーム
露光法等により、感光材料3にマスクパターン3aを直
接形成する。次いで、この感光材料3をマスクとしてC
r膜2をエッチングし、図1(b)に示すように、この
Cr膜2に前記マスクパターン3aと同一形状のマスク
パターン2aを形成し、その後、感光材料3を剥離(除
去)する。このプロセスに、一般的に知られているもの
を適宜選択して使用することができる。例えば、上述の
電子ビーム露光法や、レーザビーム露光法では、電子ビ
ームやレーザビームを感光材料3の所定の領域に走査し
て、その領域を感光する。また、マスタマスクを用い
て、所定の領域にのみ光を照射し、感光材料3を感光し
てもよい。
Then, the mask pattern 3a is directly formed on the photosensitive material 3 by an electron beam exposure method, a laser beam exposure method or the like. Next, using this photosensitive material 3 as a mask, C
The r film 2 is etched to form a mask pattern 2a having the same shape as the mask pattern 3a on the Cr film 2 as shown in FIG. 1B, and then the photosensitive material 3 is peeled (removed). For this process, a generally known one can be appropriately selected and used. For example, in the electron beam exposure method and the laser beam exposure method described above, a predetermined area of the photosensitive material 3 is scanned with an electron beam or a laser beam, and the area is exposed. Further, the photosensitive material 3 may be exposed to light by irradiating light only on a predetermined area using a master mask.

【0029】次いで、このCr膜2上に厚みが50μm
のドライフィルム4をラミネート(形成)し、このCr
膜2をマスクとしてドライフィルム4をガラス基板1側
から光5を照射して露光する。この結果、図1(c)に
示すように、ドライフィルム4にマスクパターン2aと
同一形状のマスクパターン4aが形成される。
Then, a thickness of 50 μm is formed on the Cr film 2.
Laminate (form) dry film 4 of
The dry film 4 is exposed by irradiating light 5 from the glass substrate 1 side using the film 2 as a mask. As a result, as shown in FIG. 1C, a mask pattern 4a having the same shape as the mask pattern 2a is formed on the dry film 4.

【0030】次いで、図1(d)に示すように、Cr膜
2に前処理を施した後、該Cr膜2上に電気メッキによ
り、例えば、Ni,Ni−Co合金、Ni−W合金等か
らなる金属メッキ層6を形成する。金属メッキ層6の厚
さは30μm〜50μm程度である。その後、この金属
メッキ層6を剥離し、マスクパターン4aと同一形状の
マスクパターン7aが形成されたメタルマスク7とす
る。
Then, as shown in FIG. 1D, after the Cr film 2 is pretreated, the Cr film 2 is electroplated to form, for example, Ni, Ni-Co alloy, Ni-W alloy, or the like. A metal plating layer 6 made of is formed. The metal plating layer 6 has a thickness of about 30 μm to 50 μm. Then, the metal plating layer 6 is peeled off to obtain a metal mask 7 having a mask pattern 7a having the same shape as the mask pattern 4a.

【0031】なお、図1(c)〜図1(d)の工程を繰
り返し実施すれば、高精度のメタルマスク7を多数枚、
しかも同一の精度で作製することができる。
By repeating the steps of FIGS. 1C to 1D, a large number of high-precision metal masks 7,
Moreover, they can be manufactured with the same accuracy.

【0032】本実施形態のメタルマスクの製造方法によ
れば、ガラス基板1の表面に、マスクパターン2aを有
するCr膜2を形成し、このCr膜2上にドライフィル
ム4をラミネートし、このCr膜2をマスクとしてドラ
イフィルム4をガラス基板1側から光5を照射して露光
し、ドライフィルム4にマスクパターン2aと同一形状
のマスクパターン4aを形成するので、ガラス基板1が
Cr膜2のベース(壁)になることで、マスクパターン
の寸法の経時変化を無くすことができる。その結果、メ
タルマスクの製造工程におけるマスクパターンの寸法管
理を容易に行うことができる。
According to the metal mask manufacturing method of this embodiment, the Cr film 2 having the mask pattern 2a is formed on the surface of the glass substrate 1, the dry film 4 is laminated on the Cr film 2, and the Cr film 2 is laminated. The dry film 4 is exposed by irradiating the dry film 4 with light 5 from the glass substrate 1 side using the film 2 as a mask to form a mask pattern 4a having the same shape as the mask pattern 2a on the dry film 4. By forming the base (wall), it is possible to eliminate the change with time of the dimensions of the mask pattern. As a result, the dimension control of the mask pattern can be easily performed in the metal mask manufacturing process.

【0033】なお、ガラス基板1の熱膨張率は、1μm
/℃程度であり、ステンレスなどの1/8程度であり、
ガラス基板1を用いることによって、熱による精度の悪
化を抑制することができる。また、ガラスの材質も各種
のものが使用可能であるが、ソーダガラスなどが安価で
好ましい。一方、石英ガラスは高価ではあるが、熱膨張
率が小さく、光の透過がよく、傷が付きにくいなどの利
点がある。
The coefficient of thermal expansion of the glass substrate 1 is 1 μm.
/ ° C, about 1/8 of stainless steel,
By using the glass substrate 1, deterioration of accuracy due to heat can be suppressed. Although various glass materials can be used, soda glass or the like is preferable because it is inexpensive. On the other hand, although quartz glass is expensive, it has advantages such as a low coefficient of thermal expansion, good light transmission, and scratch resistance.

【0034】また、Cr膜2上に電気メッキにより金属
メッキ層6を形成し、その後、この金属メッキ層6を剥
離するので、マスクパターン4aと同一形状のマスクパ
ターン7aが形成されたメタルマスク7を容易に得るこ
とができる。
Since the metal plating layer 6 is formed on the Cr film 2 by electroplating and then the metal plating layer 6 is peeled off, the metal mask 7 having the mask pattern 7a having the same shape as the mask pattern 4a is formed. Can be easily obtained.

【0035】また、この工程を繰り返し実施することに
より、高精度のメタルマスク7を多数枚、しかも同一の
精度で作製することができる。
By repeating this process, a large number of highly accurate metal masks 7 can be manufactured with the same accuracy.

【0036】次に、Cr膜2が形成されたガラス基板1
を利用してメタルマスクを製造する際の手順について、
図2を用いてさらに詳細に説明する。
Next, the glass substrate 1 on which the Cr film 2 is formed
About the procedure when manufacturing a metal mask using
This will be described in more detail with reference to FIG.

【0037】まず、Cr膜2が形成されたガラス基板1
について、その表面に残留する金属メッキ層6の残査等
の汚染物を除去するための表面処理を行う(S11)。
この表面処理は、スクラバーにおいて、例えば硝酸(H
NO)の20%溶液に5分間接触させることによって
行う。次に、水のシャワーにより表面を洗浄する(S1
2)。この洗浄は、例えば洗浄機において、30秒程度
のシャワーを2度行うことにより行う。この洗浄後、乾
燥処理を行う(S13)。この乾燥は、例えば乾燥機
(ドライヤー)により60℃の温風を5分間吹き付ける
ことによって行う。この乾燥処理終了後に、予備加熱を
行う(S14)。この予備加熱は、例えば、チャンバ内
において45℃に5分間と維持することにより行う。
First, the glass substrate 1 on which the Cr film 2 is formed
The surface treatment is performed for removing contaminants such as residual metal plating layer 6 remaining on the surface (S11).
This surface treatment is carried out in a scrubber such as nitric acid (H
It is carried out by contacting with a 20% solution of NO 3 ) for 5 minutes. Next, the surface is washed with a shower of water (S1
2). This washing is performed by, for example, performing a shower for about 30 seconds twice in a washing machine. After this washing, a drying process is performed (S13). This drying is performed, for example, by blowing hot air at 60 ° C. for 5 minutes with a dryer (dryer). After the completion of this drying process, preheating is performed (S14). This preheating is performed, for example, by maintaining the temperature at 45 ° C. for 5 minutes in the chamber.

【0038】このようにして、Cr膜2が形成されたガ
ラス基板1について、洗浄および予備加熱を終了した場
合には、Cr膜2上にドライフィルム(ドライフィルム
フォトレジスト)4を積層形成する(S15)。このド
ライフィルムの積層は、例えばドライフィルムラミネー
タによって、100℃において行う。また、ドライフィ
ルム4の厚みは、50μm程度とする。
In this way, when the glass substrate 1 on which the Cr film 2 is formed is cleaned and preheated, a dry film (dry film photoresist) 4 is laminated on the Cr film 2 ( S15). The lamination of the dry film is performed at 100 ° C. by using a dry film laminator, for example. The thickness of the dry film 4 is about 50 μm.

【0039】次に、ドライフィルム4に対し、裏面より
露光を行う(S16)。すなわち、ガラス基板1の裏面
から所定の光(エネルギー80mJ)を照射することに
より、ドライフィルム4をCr膜2をマスクとして感光
する。そして、感光したドライフィルム4を現像して、
感光しなかった部分を除去する(S17)。この現像
は、例えば炭酸ナトリウム(NaCO)の1%溶液
に40秒接触させることで行う。このようにして現像す
ることで、Cr膜2が露出され、その他の部分について
ドライフィルム4が残留する。すなわち、Cr膜2は、
0.1μm程度であり、ドライフィルム4は50μm程
度であり、Cr膜2の周囲にドライフィルム4の壁が形
成される。
Next, the back surface of the dry film 4 is exposed (S16). That is, by irradiating the back surface of the glass substrate 1 with predetermined light (energy 80 mJ), the dry film 4 is exposed using the Cr film 2 as a mask. Then, develop the exposed dry film 4,
The portion not exposed to light is removed (S17). This development is carried out, for example, by contacting it with a 1% solution of sodium carbonate (Na 2 CO 3 ) for 40 seconds. By developing in this manner, the Cr film 2 is exposed, and the dry film 4 remains in other portions. That is, the Cr film 2 is
The dry film 4 has a thickness of about 0.1 μm, and the dry film 4 has a thickness of about 50 μm.

【0040】次に、ドライヤーにより全体を乾燥する
(S18)。この乾燥は、例えば40℃、5分間程度と
する。そして、乾燥後のドライフィルム4の残留してい
る部分が適切であるか否かを顕微鏡によってチェックす
る(S19)。このチェックで、NGであれば、ドライ
フィルム4を除去し(S20)、S11に戻る。
Next, the whole is dried by a dryer (S18). This drying is performed at 40 ° C. for about 5 minutes, for example. Then, it is checked with a microscope whether or not the remaining portion of the dried dry film 4 is appropriate (S19). If the result of this check is NG, the dry film 4 is removed (S20), and the process returns to S11.

【0041】一方、S19の判定でOKであれば、Cr
膜2が露出されるので、予備加熱した(S21)後、C
r膜2を電極として、直流電圧を印加して、Cr膜2上
に金属メッキ層6を電気メッキする(S22)。例え
ば、メッキ浴中において、ニッケル(Ni)を4時間か
けて電気メッキする。
On the other hand, if the determination in S19 is OK, Cr
Since the film 2 is exposed, after preheating (S21), C
A DC voltage is applied using the r film 2 as an electrode to electroplate the metal plating layer 6 on the Cr film 2 (S22). For example, nickel (Ni) is electroplated in a plating bath for 4 hours.

【0042】ここで、Cr膜2の上方以外の部分には、
ドライフィルム4が残留しているため、このドライフィ
ルム4の壁を利用して、金属メッキ層6を形成すること
ができ、金属メッキ層6の形状を正確に規定できる。
Here, in portions other than above the Cr film 2,
Since the dry film 4 remains, the metal plating layer 6 can be formed by using the wall of the dry film 4, and the shape of the metal plating layer 6 can be accurately defined.

【0043】そして、Cr膜2上から、Niの金属メッ
キ層6をシャドウマスク(メタルマスク)として剥離す
る(S23)。メタルマスクが剥離されたCr膜2を有
するガラス基板1は、薬品洗浄してドライフィルム4を
除去し(S24)、S11に戻す。
Then, the Ni metal plating layer 6 is peeled off from the Cr film 2 as a shadow mask (metal mask) (S23). The glass substrate 1 having the Cr film 2 from which the metal mask is peeled off is washed with a chemical to remove the dry film 4 (S24), and the process is returned to S11.

【0044】S23において得られたメタルマスクにつ
いては、洗浄機における水洗浄(S25)、ドライヤー
による乾燥(S26)の後、測定器において各種測定を
行う(S27)。
The metal mask obtained in S23 is washed with water in a washing machine (S25) and dried by a dryer (S26), and then various measurements are performed in a measuring instrument (S27).

【0045】このS27における測定において、NGで
あれば、そのメタルマスクは使用することができないた
め、廃棄する(S28)。一方、S27の判定において
OKの場合には、さらにカラーレーザ顕微鏡などを使用
して、メタルマスクに穴などの欠陥がないかを検査する
(S29)。このS29の判定において、NGであった
場合にも、S28に移行し、そのメタルマスクを廃棄す
る。
If the measurement in S27 is NG, the metal mask cannot be used and is discarded (S28). On the other hand, if the determination in S27 is OK, a color laser microscope or the like is further used to inspect the metal mask for defects such as holes (S29). Even if the determination in S29 is NG, the process proceeds to S28, and the metal mask is discarded.

【0046】一方、S29の判定においても、OKであ
った場合には、そのメタルマスクをパッキングし(S3
0)、出荷する(S31)。
On the other hand, if the judgment in S29 is also OK, the metal mask is packed (S3
0) and ship (S31).

【0047】ここで、S16においてドライフィルム4
を感光する際に、ガラス基板1を移動したりすることに
よって、ガラス基板1の裏面から照射される光により、
感光されるドライフィルム4のエリアが徐々に広がるよ
うに形成することが好適である。すなわち、照射される
光が完全な平行光でなければ、ガラス基板1を移動する
ことにより、照射される光がCr膜2の裏側へ若干回り
込み、感光する領域が広がる。また、照射される光をC
r膜2の近辺で焦点を合わせ、その後若干広がるように
設定しても同様の感光が行える。さらに、ガラス基板1
の裏面側に、照射光を回折板や散乱板を設け、これによ
って平行光線を各種の方向を向く散乱光に変換して露光
してもよい。これによっても、Cr膜2の開口を通過し
た光が開口から広がってドライフィルム4を感光するこ
とができる。
Here, in S16, the dry film 4
By exposing the back surface of the glass substrate 1 by moving the glass substrate 1 when exposing the
It is preferable to form so that the area of the exposed dry film 4 gradually expands. That is, if the irradiated light is not completely parallel light, moving the glass substrate 1 causes the irradiated light to slightly go around to the back side of the Cr film 2 to expand the exposed area. Also, the emitted light is C
The same exposure can be performed by focusing near the r film 2 and then setting it so as to spread slightly. Furthermore, the glass substrate 1
The irradiation light may be provided with a diffractive plate or a scattering plate on the back side thereof to convert parallel rays into scattered light directed in various directions for exposure. This also allows the light passing through the opening of the Cr film 2 to spread from the opening to expose the dry film 4 to light.

【0048】また、露光の際に、図3に示すように、ド
ライフィルム4のガラス基板1とは反対の方向に乱反射
板10を配置し、この乱反射板(拡散ボード)10によ
る反射光をドライフィルム4に対し照射することも好適
である。すなわち、この構成によって、ドライフィルム
4を一旦通り抜けた光が乱反射板10により反射され、
再度ガラス基板1に向けて照射される。従って、ガラス
基板1から離れるに従って、感光される領域が広がる。
Further, at the time of exposure, as shown in FIG. 3, the diffuse reflection plate 10 is arranged in the direction opposite to the glass substrate 1 of the dry film 4, and the light reflected by the diffuse reflection plate (diffusion board) 10 is dried. It is also preferable to irradiate the film 4. That is, with this configuration, the light once passing through the dry film 4 is reflected by the diffuse reflection plate 10,
The glass substrate 1 is irradiated again. Therefore, as the distance from the glass substrate 1 increases, the exposed area expands.

【0049】さらに、ドライフィルム4のエッチングの
方法を適宜選択することで、このようなテーパ状のドラ
イフィルム4のエッチングが行える。
Further, by appropriately selecting the method of etching the dry film 4, such dry etching of the dry film 4 can be performed.

【0050】そして、このようにすると、S17の現像
において、図4(a)に示すように、上方に向けてより
広い面積のドライフィルム4を残留させることができ
る。従って、電気メッキにより形成される金属メッキ層
6は、図4(b)に示すように、Cr膜2上で、最も面
積が広く、上方に向けて面積が小さくなるテーパ状の側
面を有する。このため、剥離された金属メッキ層6から
なるメタルマスク7は、図3に示すように、開口の最も
小さい箇所がCr膜2と同様の形状になり、そこから厚
み方向(図における上方)に向けて開口が大きくなる。
By doing so, in the development of S17, as shown in FIG. 4A, the dry film 4 having a larger area can be left upward. Therefore, as shown in FIG. 4B, the metal plating layer 6 formed by electroplating has a tapered side surface having the largest area on the Cr film 2 and the area decreasing toward the upper side. Therefore, as shown in FIG. 3, the peeled metal mask 7 made of the metal plating layer 6 has the same shape as the Cr film 2 with the smallest opening, and from there, in the thickness direction (upward in the drawing). The opening becomes larger toward you.

【0051】このようなメタルマスクは、使用したとき
に開口を規定するのは、開口の最も小さい場所であり、
この場所はCr膜2と同一に形成されている。従って、
非常に精度の高いメタルマスクが得られる。
When such a metal mask is used, it is the smallest place of the opening that defines the opening.
This place is formed the same as the Cr film 2. Therefore,
A highly accurate metal mask can be obtained.

【0052】さらに、このようなメタルマスクは、蒸着
マスクに利用した場合において、適切な蒸着が行える。
すなわち、ELパネルが大きくなってくると、蒸着を行
う基板も大きくなる。このような大基板に蒸着を行う際
にメタルマスクの開口がまっすぐの孔であると、周辺部
分と中心部分とで、蒸着量に差が生じやすい。しかし、
メタルマスクの開口にテーパが付いていることによっ
て、周辺部において斜め方向から飛来する蒸発物の蒸着
が可能になり、蒸着量の均一化が図れる。なお、メタル
マスクは、開口の小さい側を基板側として、蒸着を行
う。これにより、蒸着を行う面積自体は正確なものに維
持できる。
Furthermore, when such a metal mask is used as a vapor deposition mask, proper vapor deposition can be performed.
That is, as the EL panel becomes larger, the substrate for vapor deposition also becomes larger. If the opening of the metal mask is a straight hole when vapor deposition is performed on such a large substrate, a difference in vapor deposition amount tends to occur between the peripheral portion and the central portion. But,
Since the opening of the metal mask is tapered, it is possible to vaporize vaporized substances that fly obliquely in the peripheral portion, so that the vapor deposition amount can be made uniform. The metal mask is vapor-deposited with the side having the smaller opening as the substrate side. As a result, the deposition area itself can be kept accurate.

【0053】なお、S24は、S23のメタルマスクの
剥離工程に先だって行ってもよい。すなわち、図5に示
すように、S22において電気メッキを行った後に、ド
ライフィルム4を除去する(S24)。そして、ドライ
フィルム4が除去された後で、メタルマスク7を剥離す
る(S23)。そして、ガラス基板1は、S11の表面
処理にそのまま戻す。なお、この場合、S24において
使用する薬品を、メタルマスク7に影響のないものとす
る。
Note that S24 may be performed prior to the metal mask peeling step of S23. That is, as shown in FIG. 5, after the electroplating is performed in S22, the dry film 4 is removed (S24). Then, after the dry film 4 is removed, the metal mask 7 is peeled off (S23). Then, the glass substrate 1 is directly returned to the surface treatment of S11. In this case, the chemical used in S24 does not affect the metal mask 7.

【0054】[第2の実施の形態]本発明の第2の実施
の形態のEL素子用蒸着用メタルマスクの製造方法につ
いて図6に基づき説明する。
[Second Embodiment] A method for manufacturing a vapor deposition metal mask for an EL device according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0055】まず、上述した第1の実施の形態の製造方
法と同様、図6(a)に示すように、例えば厚みが0.
1μmのCr膜2上に、例えば厚みが0.7μmの感光
材料(第1のレジスト膜)3を形成する。
First, as in the case of the manufacturing method of the first embodiment described above, as shown in FIG.
A photosensitive material (first resist film) 3 having a thickness of 0.7 μm, for example, is formed on the Cr film 2 having a thickness of 1 μm.

【0056】次いで、電子ビーム露光法、レーザビーム
露光法等により、感光材料3にマスクパターン3aを直
接形成する。次いで、この感光材料3をマスクとしてC
r膜2をエッチングし、図6(b)に示すように、この
Cr膜2に前記マスクパターン3aと同一形状のマスク
パターン2aを形成し、その後、感光材料3を剥離(除
去)する。
Next, the mask pattern 3a is directly formed on the photosensitive material 3 by an electron beam exposure method, a laser beam exposure method or the like. Next, using this photosensitive material 3 as a mask, C
The r film 2 is etched to form a mask pattern 2a having the same shape as the mask pattern 3a on the Cr film 2 as shown in FIG. 6B, and then the photosensitive material 3 is peeled (removed).

【0057】次いで、図6(c)に示すように、このC
r膜2に前処理を施した後、該Cr膜2上に電気メッキ
により金属メッキ層11を形成する。この金属メッキ層
11は、例えばNi,Ni−Co合金、Ni−W合金等
からなるもので、マスクパターン2aと同一形状のマス
クパターン11aが形成されている。
Then, as shown in FIG. 6C, this C
After subjecting the r film 2 to pretreatment, a metal plating layer 11 is formed on the Cr film 2 by electroplating. The metal plating layer 11 is made of, for example, Ni, Ni-Co alloy, Ni-W alloy, or the like, and the mask pattern 11a having the same shape as the mask pattern 2a is formed.

【0058】その後、図6(d)に示すように、Cr膜
2から金属メッキ層11を剥離し、マスクパターン2a
と同一形状のマスクパターン12aが形成されたメタル
マスク12とする。
After that, as shown in FIG. 6D, the metal plating layer 11 is peeled off from the Cr film 2 and the mask pattern 2a is formed.
The metal mask 12 is formed with a mask pattern 12a having the same shape as the above.

【0059】なお、図6(c)〜図6(d)の工程を繰
り返し実施すれば、簡単な工程で、同一の精度のメタル
マスク12を多数枚作製することができる。
By repeating the steps of FIGS. 6 (c) to 6 (d), a large number of metal masks 12 having the same accuracy can be manufactured by a simple process.

【0060】本実施形態のメタルマスクの製造方法によ
れば、Cr膜2上に電気メッキにより金属メッキ層11
を形成し、その後、前記Cr膜2から金属メッキ層11
を剥離するので、メタルマスクの製造工程におけるマス
クパターンの寸法管理を容易に行うことができる。しか
も、工程が簡略化されるので、製造コストを低減するこ
とができる。
According to the method of manufacturing the metal mask of this embodiment, the metal plating layer 11 is formed on the Cr film 2 by electroplating.
Is formed, and then the metal plating layer 11 is formed from the Cr film 2.
Since the mask is peeled off, the dimension control of the mask pattern can be easily performed in the metal mask manufacturing process. Moreover, since the process is simplified, the manufacturing cost can be reduced.

【0061】この第2実施形態において、Cr膜2が形
成されたガラス基板1を利用してメタルマスクを製造す
る際の手順を図7に示す。
FIG. 7 shows a procedure for manufacturing a metal mask using the glass substrate 1 on which the Cr film 2 is formed in the second embodiment.

【0062】上述のように、本第2実施形態では、ドラ
イフィルム4の積層形成及び露光、現像等の工程がな
い。従って、図2に比較して、S14〜S20の処理が
省略されると共に、S24の処理がない。残りの工程に
ついては、基本的に第1実施形態と同様の条件で行われ
る。
As described above, in the second embodiment, the steps of forming the dry film 4 in layers, exposing, developing, etc. are not provided. Therefore, as compared with FIG. 2, the processes of S14 to S20 are omitted and the process of S24 is not performed. The remaining steps are basically performed under the same conditions as in the first embodiment.

【0063】ここで、S22の電気メッキは、ドライフ
ィルム4がない状態で行われる。従って、金属メッキ層
11は、Cr膜2上に形成されるが、図8に示されるよ
うに、Cr膜2の側方にも伸びる。従って、S23にお
いて得られたメタルマスクの形状は、Cr膜2と正確に
同一の形状にはならない。従って、この第2実施形態に
おいては、Cr膜2を形成する際に、電気メッキにより
開口部が小さくなることを考慮して寸法を決定すること
が好適である。
Here, the electroplating of S22 is performed without the dry film 4. Therefore, the metal plating layer 11 is formed on the Cr film 2, but also extends laterally of the Cr film 2 as shown in FIG. Therefore, the shape of the metal mask obtained in S23 is not exactly the same as that of the Cr film 2. Therefore, in the second embodiment, when forming the Cr film 2, it is preferable to determine the dimensions in consideration of the fact that the opening is reduced by electroplating.

【0064】[第3の実施の形態]上述の第1実施形態
では、ドライフィルム4を用いて金属メッキ層6のガイ
ドになるマスクパターン4aを形成した。これに代え
て、ウェットのレジストを用いることもできる。図9
(a)〜図9(d)に基づいて、このプロセスを説明す
る。
[Third Embodiment] In the above-described first embodiment, the mask pattern 4a serving as a guide for the metal plating layer 6 is formed using the dry film 4. Alternatively, a wet resist can be used. Figure 9
This process will be described based on (a) to FIG. 9 (d).

【0065】まず、図9(a)に示すように、蒸着また
はスパッタリングにより、ガラス基板1の表面、例えば
厚みが0.1μmのCr膜2を成膜し、スピンコート法
等により、このCr膜2上に、例えば厚みが0.7μm
の感光材料3を形成する。
First, as shown in FIG. 9A, a Cr film 2 having a thickness of 0.1 μm, for example, is formed on the surface of the glass substrate 1 by vapor deposition or sputtering, and this Cr film is formed by spin coating or the like. 2 has a thickness of 0.7 μm, for example.
The photosensitive material 3 is formed.

【0066】次いで、電子ビーム露光法、レーザビーム
露光法等により、感光材料3にマスクパターン3aを直
接形成する。次いで、この感光材料3をマスクとしてC
r膜2をエッチングし、図9(b)に示すように、この
Cr膜2に前記マスクパターン3aと同一形状のマスク
パターン2aを形成する。
Next, the mask pattern 3a is directly formed on the photosensitive material 3 by an electron beam exposure method, a laser beam exposure method or the like. Next, using this photosensitive material 3 as a mask, C
The r film 2 is etched to form a mask pattern 2a having the same shape as the mask pattern 3a on the Cr film 2 as shown in FIG. 9B.

【0067】その後、図9(b)に示すように、感光材
料3の上から第2の感光材料8を形成する。この第2の
感光材料8は、液状であり、マスクパターン2a,3a
の開口中にも行き渡る。そして、この状態で、ガラス基
板1の裏面から露光する。これによって、Cr膜2のマ
スクパターン2aに対応する第2の感光材料8が露光さ
れる。
Then, as shown in FIG. 9B, the second photosensitive material 8 is formed on the photosensitive material 3. The second photosensitive material 8 is in a liquid state and has mask patterns 2a and 3a.
Even during the opening of. Then, in this state, the back surface of the glass substrate 1 is exposed. As a result, the second photosensitive material 8 corresponding to the mask pattern 2a of the Cr film 2 is exposed.

【0068】そして、この露光が終わった後、上方より
ドライエッチングを行う。このときに、第2の感光材料
8は、露光していない部分がエッチングされる。また、
感光材料3は、エッチングされる。従って、ドライエッ
チングにより図9(c)に示すように、第2の感光材料
の露光した部分がマスクパターン8aとして形成され
る。
After this exposure is completed, dry etching is performed from above. At this time, the second photosensitive material 8 is etched in the unexposed portion. Also,
The photosensitive material 3 is etched. Therefore, as shown in FIG. 9C, the exposed portion of the second photosensitive material is formed as the mask pattern 8a by dry etching.

【0069】次に、電気メッキを行うことで、Cr膜2
上に金属メッキ層6が形成され、これを剥離させること
で、メタルマスク7が得られる。
Next, the Cr film 2 is formed by electroplating.
The metal plating layer 6 is formed thereon, and the metal mask 7 is obtained by peeling the metal plating layer 6.

【0070】この実施形態によれば、ドライフィルムを
利用することなく、ウェットの感光材料を用いて、メタ
ルマスク7を得ることができる。
According to this embodiment, the metal mask 7 can be obtained by using a wet photosensitive material without using a dry film.

【0071】以上のようにして得られたメタルマスク
は、ELパネルの蒸着マスクとして利用することが好適
である。すなわち、ELパネルは、ガラス基板上に画素
毎にEL素子を有している。このEL素子は、陰極と陽
極間に電子輸送層、発光層、正孔輸送層を有している。
また、アクティブタイプのELパネルでは、各EL素子
における発光を制御するために、各EL素子に対応して
薄膜トランジスタ(TFT)を有している。このような
EL素子を有するELパネルの形成においては、必要な
材料層を順次所定のパターンで積層する。そして、画素
が小さいほど高精細の表示が行えることから、本発明の
メタルマスクが材料積層におけるマスクとして好適に利
用される。
The metal mask obtained as described above is preferably used as a vapor deposition mask for an EL panel. That is, the EL panel has an EL element for each pixel on a glass substrate. This EL device has an electron transport layer, a light emitting layer, and a hole transport layer between a cathode and an anode.
Further, the active type EL panel has a thin film transistor (TFT) corresponding to each EL element in order to control light emission in each EL element. In forming an EL panel having such an EL element, necessary material layers are sequentially laminated in a predetermined pattern. Since the smaller the pixel is, the higher the resolution can be displayed, the metal mask of the present invention is preferably used as the mask in the material stack.

【0072】特に、メタルマスクとして、ニッケルなど
の磁性体を用いることで、メタルマスクを磁力を用いて
固定することができ、材料を積層するための表面にメタ
ルマスクを容易に固定することができる。従って、EL
パネル用の蒸着マスクとして、本発明のメタルマスクが
好適である。
In particular, by using a magnetic material such as nickel as the metal mask, the metal mask can be fixed by using magnetic force, and the metal mask can be easily fixed on the surface on which the materials are laminated. . Therefore, EL
The metal mask of the present invention is suitable as a vapor deposition mask for a panel.

【0073】以上、本発明のメタルマスクの製造方法の
各実施の形態について図面に基づき説明してきたが、具
体的な構成は上述した各実施の形態に限定されるもので
はなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で設計の変更等
が可能である。
Although the respective embodiments of the method for manufacturing a metal mask of the present invention have been described above with reference to the drawings, the specific configuration is not limited to the above-mentioned respective embodiments, and the gist of the present invention The design can be changed without departing from the above.

【0074】例えば、第1及び第2の実施の形態のメタ
ルマスクの製造方法では、ガラス基板1を用いる構成と
したが、このガラス基板1は、Cr等の導電材料を成膜
し得るものであればよく、このガラス基板1以外に、耐
熱性樹脂板、耐熱性樹脂フィルム等も好適に用いられ
る。さらに、第2実施形態においては、ガラス基板1の
裏面から露光は行わない。従って、ガラス基板1に代え
て不透明な基板を用いることも可能である。例えば、セ
ラミック基板などを採用することができる。
For example, in the metal mask manufacturing methods of the first and second embodiments, the glass substrate 1 is used, but the glass substrate 1 can be formed with a conductive material such as Cr. It suffices if it is sufficient, and in addition to the glass substrate 1, a heat resistant resin plate, a heat resistant resin film, or the like is also suitably used. Further, in the second embodiment, exposure is not performed from the back surface of the glass substrate 1. Therefore, an opaque substrate can be used instead of the glass substrate 1. For example, a ceramic substrate or the like can be adopted.

【0075】また、電子ビーム露光法、レーザビーム露
光法等により、感光材料3にマスクパターン3aを直接
形成する替わりに、マスタマスクを用いて感光材料3を
露光し、この感光材料3にマスクパターン3aを形成す
ることとしてもよい。
Further, instead of directly forming the mask pattern 3a on the photosensitive material 3 by an electron beam exposure method, a laser beam exposure method, etc., the photosensitive material 3 is exposed using a master mask, and the photosensitive material 3 is exposed to the mask pattern 3a. 3a may be formed.

【0076】また、ガラス基板1の表面に、Cr膜2及
び感光材料3を順次形成する構成としたが、予め、ガラ
ス基板1の表面にCr膜2が成膜された基材を用意して
おき、この機材のCr膜2上に感光材料3を形成するよ
うにしてもよい。また、Cr膜2の替わりに、Crを主
成分とするCr基合金、あるいはITO膜を形成しても
よい。
Although the Cr film 2 and the photosensitive material 3 are sequentially formed on the surface of the glass substrate 1, a base material having the Cr film 2 formed on the surface of the glass substrate 1 is prepared in advance. Alternatively, the photosensitive material 3 may be formed on the Cr film 2 of this equipment. Further, instead of the Cr film 2, a Cr-based alloy containing Cr as a main component or an ITO film may be formed.

【0077】また、ここではドライフィルム4を用いた
が、このドライフィルム4は感光性を有する材料であれ
ばよく、例えば、液状レジスト等の液状感光樹脂等を用
いてもよい。
Although the dry film 4 is used here, the dry film 4 may be any material having photosensitivity, and for example, a liquid photosensitive resin such as a liquid resist may be used.

【0078】さらに、金属メッキ層6,11を構成する
金属は、電気メッキにより形成することができる金属で
あればよく、Ni,Ni−Co合金、Ni−W合金に限
定されるものではない。例えば、Ta(タンタル)、M
o(モリブデン)、W(タングステン)等を採用するこ
とが可能である。
Further, the metal forming the metal plating layers 6 and 11 may be any metal that can be formed by electroplating, and is not limited to Ni, Ni-Co alloy and Ni-W alloy. For example, Ta (tantalum), M
It is possible to adopt o (molybdenum), W (tungsten), or the like.

【0079】また、上述の実施形態では、電気メッキを
利用したが、無電解メッキを採用することもできる。
Although electroplating is used in the above-mentioned embodiment, electroless plating may be used.

【0080】[0080]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
透明板または透明フィルムの一主面にマスクパターンを
有する導電膜を形成し、次いで、該導電膜上に感光膜を
形成し、次いで、前記導電膜をマスクとして前記感光膜
を前記透明板または透明フィルムの側から露光し該感光
膜に前記マスクパターンと同一形状のマスクパターンを
形成する。これにより、透明板または透明フィルム上の
導電膜がない領域に感光膜を形成できる。従って、透明
板または透明フィルムとして、ガラスなどの熱膨張率の
小さな材質を選択することが容易であり、マスクパター
ンの寸法の経時変化が無くなる。これにより、メタルマ
スクの製造工程におけるマスクパターンの寸法管理が容
易になる。
As described above, according to the present invention,
A conductive film having a mask pattern is formed on one main surface of a transparent plate or transparent film, then a photosensitive film is formed on the conductive film, and then the photosensitive film is used as a mask for the transparent plate or transparent film. Exposure is performed from the film side to form a mask pattern having the same shape as the mask pattern on the photosensitive film. Accordingly, the photosensitive film can be formed on the transparent plate or the transparent film in a region where the conductive film is not provided. Therefore, it is easy to select a material having a small coefficient of thermal expansion, such as glass, as the transparent plate or transparent film, and the dimension of the mask pattern does not change with time. This facilitates dimensional control of the mask pattern in the metal mask manufacturing process.

【0081】また、感光膜をマスクとして導電膜上に金
属メッキ層を形成し、この金属メッキ層を剥離すること
により、感光膜に形成されたマスクパターンと同一形状
のパターンを有するメタルマスクが容易に得られる。
Further, by forming a metal plating layer on the conductive film using the photosensitive film as a mask and peeling off the metal plating layer, a metal mask having the same pattern as the mask pattern formed on the photosensitive film can be easily formed. Can be obtained.

【0082】ここで、導電膜上に金属メッキ層を形成
し、この金属メッキ層を剥離するという工程を繰り返し
実施することにより、高精度のメタルマスクを多数枚、
しかも同一の精度で作製することが可能になる。
By repeating the process of forming a metal plating layer on the conductive film and peeling off the metal plating layer, a large number of high-precision metal masks are obtained.
In addition, it is possible to manufacture with the same accuracy.

【0083】また、本発明によれば、絶縁基板の一主面
にマスクパターンを有する導電膜を形成し、次いで、該
導電膜上に前記マスクパターンと同一形状のマスクパタ
ーンを有する金属メッキ層を形成し、この金属メッキ層
を剥離してメタルマスクとする。これにより、絶縁基板
として、ガラスやセラミックなど熱膨張率の小さな材料
を用いることができる。そこで、メタルマスクの製造工
程におけるマスクパターンの寸法管理が容易になる。ま
た、この方法によれば、工程が簡略化されるので、製造
コストの低減が可能になる。
Further, according to the present invention, a conductive film having a mask pattern is formed on one main surface of an insulating substrate, and then a metal plating layer having a mask pattern having the same shape as the mask pattern is formed on the conductive film. It is formed and the metal plating layer is peeled off to form a metal mask. As a result, a material having a small coefficient of thermal expansion such as glass or ceramic can be used as the insulating substrate. Therefore, the dimension control of the mask pattern in the metal mask manufacturing process becomes easy. Further, according to this method, the process is simplified, so that the manufacturing cost can be reduced.

【0084】また、メタルマスクの開口部の側面がテー
パ状になっていることで、マスクパターンの精度を向上
することができる。特に、導電膜に近い側において開口
が最も小さくなるようにメタルマスクを構成すること
で、マスクパターンが正確に導電膜と同一になる。
Further, since the side surface of the opening of the metal mask is tapered, the accuracy of the mask pattern can be improved. In particular, by forming the metal mask so that the opening is minimized on the side close to the conductive film, the mask pattern becomes exactly the same as the conductive film.

【0085】そして、感光膜をテーパ状に形成すること
で、開口がテーパ状のメタルマスクを容易に得ることが
できる。
By forming the photosensitive film in a tapered shape, a metal mask having a tapered opening can be easily obtained.

【0086】以上により、本発明によれば、製造工程に
おける寸法管理が容易で、高精度のメタルマスクを多数
枚、同一の精度で作製することができ、しかも製造コス
トを低減することができる。
As described above, according to the present invention, the dimensional control in the manufacturing process is easy, a large number of highly accurate metal masks can be manufactured with the same accuracy, and the manufacturing cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の第1の実施の形態のメタルマスクの
製造方法を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a method of manufacturing a metal mask according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 第1の実施形態の詳細なプロセスを示す図で
ある。
FIG. 2 is a diagram showing a detailed process of the first embodiment.

【図3】 拡散ボードを用いたプロセスを説明する図で
ある。
FIG. 3 is a diagram illustrating a process using a diffusion board.

【図4】 開口がテーパ状のメタルマスクを説明する図
である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a metal mask having a tapered opening.

【図5】 第1実施形態の変形例のプロセスを示す図で
ある。
FIG. 5 is a diagram showing a process of a modified example of the first embodiment.

【図6】 本発明の第2の実施の形態のメタルマスクの
製造方法を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a method for manufacturing a metal mask according to a second embodiment of the present invention.

【図7】 第2の実施形態の詳細なプロセスを示す図で
ある。
FIG. 7 shows a detailed process of the second embodiment.

【図8】 第2の実施形態によるメタルマスクの開口部
の形状を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a shape of an opening of a metal mask according to a second embodiment.

【図9】 第3の実施形態のメタルマスクの製造方法を
示す図である。
FIG. 9 is a view showing the method of manufacturing the metal mask according to the third embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基板、2 Cr膜(導電膜)、2a マスク
パターン、3 感光材料(第1のレジスト膜)、3a
マスクパターン、4 ドライフィルム、4aマスクパタ
ーン、5 光、6 金属メッキ層、7 メタルマスク、
7a マスクパターン、11 金属メッキ層、11a
マスクパターン、12 メタルマスク、12a マスク
パターン。
1 glass substrate, 2 Cr film (conductive film), 2a mask pattern, 3 photosensitive material (first resist film), 3a
Mask pattern, 4 dry film, 4a mask pattern, 5 light, 6 metal plating layer, 7 metal mask,
7a mask pattern, 11 metal plating layer, 11a
Mask pattern, 12 metal mask, 12a mask pattern.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透明板または透明フィルムの一主面にマ
スクパターンを有する導電膜を形成し、次いで、該導電
膜上に感光膜を形成し、次いで、前記導電膜をマスクと
して前記感光膜を前記透明板または透明フィルムの側か
ら露光し該感光膜に前記マスクパターンと同一形状のマ
スクパターンを形成し、次いで、前記導電膜上に金属メ
ッキ層を形成し、この金属メッキ層を剥離してメタルマ
スクとするメタルマスクの製造方法であって、 前記第2のレジスト膜に形成されるマスクパターンは、
上記導電膜上の空間が導電膜から離れるに従って狭くな
っている開口部を含むメタルマスクの製造方法。
1. A conductive film having a mask pattern is formed on one main surface of a transparent plate or transparent film, a photosensitive film is formed on the conductive film, and then the photosensitive film is used as a mask. By exposing from the transparent plate or transparent film side, a mask pattern having the same shape as the mask pattern is formed on the photosensitive film, then a metal plating layer is formed on the conductive film, and the metal plating layer is peeled off. A method of manufacturing a metal mask, wherein the mask pattern formed on the second resist film is a metal mask.
A method for manufacturing a metal mask, comprising: an opening portion in which a space on the conductive film is narrowed as the space is separated from the conductive film.
【請求項2】 透明板または透明フィルムの一主面に導
電膜を形成した基材を用意し、 この基材の導電膜上に第1のレジスト膜を形成し、次い
で、該第1のレジスト膜に第1のマスクパターンを形成
し、次いで、このレジスト膜をマスクとして前記導電膜
をエッチングし、その後該第1のレジスト膜を除去し、
次いで、前記導電膜上に第2のレジスト膜を形成し、該
導電膜をマスクとし前記第2のレジスト膜を前記透明板
または透明フィルム側から露光して前記第2のレジスト
膜に第2のマスクパターンを形成し、前記導電膜上にメ
ッキにより金属メッキ層を形成し、この金属メッキ層を
剥離してメタルマスクとするメタルマスクの製造方法で
あって、 前記第2のレジスト膜に形成されるマスクパターンは、
上記導電膜上の空間が導電膜から離れるに従って狭くな
っている開口部を含むメタルマスクの製造方法。
2. A base material having a conductive film formed on a main surface of a transparent plate or a transparent film is prepared, a first resist film is formed on the conductive film of the base material, and then the first resist is formed. Forming a first mask pattern on the film, etching the conductive film using the resist film as a mask, and then removing the first resist film;
Then, a second resist film is formed on the conductive film, and the second resist film is exposed from the transparent plate or transparent film side using the conductive film as a mask to form a second resist film on the second resist film. A method of manufacturing a metal mask, comprising forming a mask pattern, forming a metal plating layer on the conductive film by plating, and peeling the metal plating layer to obtain a metal mask, which is formed on the second resist film. The mask pattern
A method for manufacturing a metal mask, comprising: an opening portion in which a space on the conductive film is narrowed as the space is separated from the conductive film.
【請求項3】 請求項2に記載の方法において、 前記第2のレジスト膜はドライフィルムであるメタルマ
スクの製造方法。
3. The method according to claim 2, wherein the second resist film is a dry film.
【請求項4】 請求項2または3に記載の方法におい
て、 前記第1のレジスト膜へのマスクパターンの形成は、電
子ビーム露光法またはレーザビーム露光法によるメタル
マスクの製造方法。
4. The method according to claim 2, wherein the mask pattern is formed on the first resist film by an electron beam exposure method or a laser beam exposure method.
【請求項5】 請求項2〜4のいずれか1つに記載の方
法において、 前記第1のレジスト膜へのマスクパターンの形成は、マ
スタマスクを用いた露光法によるメタルマスクの製造方
法。
5. The method according to claim 2, wherein the mask pattern is formed on the first resist film by an exposure method using a master mask.
【請求項6】 請求項1〜5のいずれか1つに記載の方
法において、 前記導電膜は、クロムを主成分とする金属膜からなるメ
タルマスクの製造方法。
6. The method of manufacturing a metal mask according to claim 1, wherein the conductive film is a metal film containing chromium as a main component.
【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1つに記載の方
法において、 前記導電膜は、ITO膜からなることを特徴とするメタ
ルマスクの製造方法。
7. The method of manufacturing a metal mask according to claim 1, wherein the conductive film is an ITO film.
【請求項8】 請求項1〜7のいずれか1つに記載され
た製造方法によって製造されたメタルマスク。
8. A metal mask manufactured by the manufacturing method according to claim 1.
【請求項9】 絶縁基板に形成された所定のマスクパタ
ーンを有する導電膜上に形成された金属メッキ層を剥離
して得られたメタルマスクであって、 メタルマスクは、剥離された面から反対側に向けてテー
パ状に広がる開口を有し、最も広い開口部が剥離された
面側にあるメタルマスク。
9. A metal mask obtained by peeling off a metal plating layer formed on a conductive film having a predetermined mask pattern formed on an insulating substrate, wherein the metal mask is opposite to the peeled surface. A metal mask that has an opening that widens in a tapered shape toward the side, and the widest opening is on the surface side where the peeling is performed.
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