JP2003101096A - ホール素子 - Google Patents
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- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
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- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 7
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 外部からの入力に対する感度が高く、温度変
化による感度の変化の少ないホール素子を提供する。 【解決手段】 ホール素子チップ15の表裏両面に感磁
部6、14が形成されているので、感磁部6、14を通
る磁束の数が2倍となり、一つのホール素子チップ15
からの出力が従来のものに比べて2倍になり、外部から
の入力に対する感度が高くなる。また、ホール素子チッ
プの半導体チップ1の材料にGaAsを用いることによ
り、温度変化による感度の変化が少なくなる。
化による感度の変化の少ないホール素子を提供する。 【解決手段】 ホール素子チップ15の表裏両面に感磁
部6、14が形成されているので、感磁部6、14を通
る磁束の数が2倍となり、一つのホール素子チップ15
からの出力が従来のものに比べて2倍になり、外部から
の入力に対する感度が高くなる。また、ホール素子チッ
プの半導体チップ1の材料にGaAsを用いることによ
り、温度変化による感度の変化が少なくなる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ホール素子に関す
る。
る。
【0002】
【従来の技術】モータの回転検出用素子としてホール素
子が用いられている。
子が用いられている。
【0003】図4(a)は従来のホール素子の断面図で
あり、図4(b)は図4(a)に示したホール素子に用
いられるホール素子チップの平面図である。
あり、図4(b)は図4(a)に示したホール素子に用
いられるホール素子チップの平面図である。
【0004】1は半導体チップであり、半導体チップ1
の一方の面(図4(a)では上面)上に略十字形状の導
電層2が形成され、導電層2上の四隅に入力端子3a、
3b、出力端子4a、4bが形成され、残りの導電層が
絶縁層5で覆われた感磁部(図4(b))6が形成され
ている。これら半導体チップ1、導電層2、入出力端子
3a、3b、4a、4b及び絶縁層5でホール素子チッ
プ7が形成されている。
の一方の面(図4(a)では上面)上に略十字形状の導
電層2が形成され、導電層2上の四隅に入力端子3a、
3b、出力端子4a、4bが形成され、残りの導電層が
絶縁層5で覆われた感磁部(図4(b))6が形成され
ている。これら半導体チップ1、導電層2、入出力端子
3a、3b、4a、4b及び絶縁層5でホール素子チッ
プ7が形成されている。
【0005】ホール素子チップ7はリードフレーム8の
各内部リード8aに金属ワイヤ9でボンディングされて
おり、外部リード8bが露出するように樹脂10で封止
されホール素子11が形成される。
各内部リード8aに金属ワイヤ9でボンディングされて
おり、外部リード8bが露出するように樹脂10で封止
されホール素子11が形成される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ホール素子
の最も重要な特性として外部からの入力に対する感度、
すなわち、無負荷ホール電圧は、ホール素子の材料の種
類によりある範囲内の値に決定する。現在使用されてい
るホール素子の代表的な材料としてはInSbが挙げら
れる。InSbを用いたホール素子は、感度が高いが温
度変化に対する感度の変化が比較的大きい。これに対し
てGaAsを用いたホール素子は、温度変化に対する感
度の変化は小さいがInSbよりも感度が低いという問
題があった。
の最も重要な特性として外部からの入力に対する感度、
すなわち、無負荷ホール電圧は、ホール素子の材料の種
類によりある範囲内の値に決定する。現在使用されてい
るホール素子の代表的な材料としてはInSbが挙げら
れる。InSbを用いたホール素子は、感度が高いが温
度変化に対する感度の変化が比較的大きい。これに対し
てGaAsを用いたホール素子は、温度変化に対する感
度の変化は小さいがInSbよりも感度が低いという問
題があった。
【0007】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、外部からの入力に対する感度が高く、温度変化によ
る感度の変化の少ないホール素子を提供することにあ
る。
し、外部からの入力に対する感度が高く、温度変化によ
る感度の変化の少ないホール素子を提供することにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のホール素子は、半導体チップ上に、略十字形
状の導電層、導電層上の四隅に形成された入出力端子及
び残りの導電層を覆う絶縁層からなる感磁部が形成さ
れ、入出端子に接続された電極が露出するように樹脂封
止されたホール素子において、半導体チップの表裏両面
に感磁部が形成されているものである。
に本発明のホール素子は、半導体チップ上に、略十字形
状の導電層、導電層上の四隅に形成された入出力端子及
び残りの導電層を覆う絶縁層からなる感磁部が形成さ
れ、入出端子に接続された電極が露出するように樹脂封
止されたホール素子において、半導体チップの表裏両面
に感磁部が形成されているものである。
【0009】本発明のホール素子は、半導体チップ上
に、略十字形状の導電層、導電層上の四隅に形成された
入出力端子及び残りの導電層を覆う絶縁層からなる感磁
部が形成されたホール素子チップが、表裏の四隅に電極
が形成されそれぞれスルーホールメッキで電気的に接続
された基板上に搭載され、各入出力端子が表面の電極に
それぞれ接続され裏面の電極が露出するように樹脂封止
されたホール素子において、ホール素子チップは、裏面
の入出力端子は金属バンプで、表面の入出力端子は金属
ワイヤで各電極とそれぞれ電気的に接続されているもの
である。
に、略十字形状の導電層、導電層上の四隅に形成された
入出力端子及び残りの導電層を覆う絶縁層からなる感磁
部が形成されたホール素子チップが、表裏の四隅に電極
が形成されそれぞれスルーホールメッキで電気的に接続
された基板上に搭載され、各入出力端子が表面の電極に
それぞれ接続され裏面の電極が露出するように樹脂封止
されたホール素子において、ホール素子チップは、裏面
の入出力端子は金属バンプで、表面の入出力端子は金属
ワイヤで各電極とそれぞれ電気的に接続されているもの
である。
【0010】本発明のホール素子は、半導体チップ上
に、略十字形状の導電層、導電層上の四隅に形成された
入出力端子及び残りの導電層を覆う絶縁層からなる感磁
部が形成されたホール素子チップが、リードフレームの
内部リードに入出力端子がそれぞれ接続されリードピン
が露出するように樹脂封止されたホール素子において、
ホール素子チップは、裏面の入出力端子は金属バンプ
で、表面の入出端子は金属ワイヤでリードフレームの内
部リードとそれぞれ電気的に接続されているものであ
る。
に、略十字形状の導電層、導電層上の四隅に形成された
入出力端子及び残りの導電層を覆う絶縁層からなる感磁
部が形成されたホール素子チップが、リードフレームの
内部リードに入出力端子がそれぞれ接続されリードピン
が露出するように樹脂封止されたホール素子において、
ホール素子チップは、裏面の入出力端子は金属バンプ
で、表面の入出端子は金属ワイヤでリードフレームの内
部リードとそれぞれ電気的に接続されているものであ
る。
【0011】上記構成に加え本発明のホール素子は、ホ
ール素子チップの半導体の材料がGaAsであるのが好
ましい。
ール素子チップの半導体の材料がGaAsであるのが好
ましい。
【0012】本発明によれば、ホール素子チップの表裏
両面に感磁部が形成されているので、感磁部を通る磁束
の数が2倍となり、一つのホール素子チップからの出力
が従来のものに比べて2倍になり、外部からの入力に対
する感度が高くなる。また、ホール素子チップの材料に
GaAsを用いることにより、温度変化による感度の変
化が少なくなる。
両面に感磁部が形成されているので、感磁部を通る磁束
の数が2倍となり、一つのホール素子チップからの出力
が従来のものに比べて2倍になり、外部からの入力に対
する感度が高くなる。また、ホール素子チップの材料に
GaAsを用いることにより、温度変化による感度の変
化が少なくなる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳述する。
図面に基づいて詳述する。
【0014】図1(a)は本発明のホール素子の一実施
の形態を示す平面透視図であり、図1(b)は図1
(a)の側面透視図であり、図1(c)は図1(a)の
1c−1c線断面図である。図2(a)は図1(c)に
示したホール素子チップの矢印A方向の矢視図であり、
図2(b)は図1(c)に示したホール素子チップの矢
印B方向の矢視図である。図3は図1(a)〜(c)に
示したホール素子に用いられる基板の平面図である。
尚、図4(a)、(b)に示した従来例と同様の部材に
は共通の符号を用いた。
の形態を示す平面透視図であり、図1(b)は図1
(a)の側面透視図であり、図1(c)は図1(a)の
1c−1c線断面図である。図2(a)は図1(c)に
示したホール素子チップの矢印A方向の矢視図であり、
図2(b)は図1(c)に示したホール素子チップの矢
印B方向の矢視図である。図3は図1(a)〜(c)に
示したホール素子に用いられる基板の平面図である。
尚、図4(a)、(b)に示した従来例と同様の部材に
は共通の符号を用いた。
【0015】半導体チップ1の一方の面(図1(b)、
(c)では上面)上に、略十字形状の導電層2、導電層
2上の四隅に形成された入力端子3a、3b、出力端子
4a、4b及び残りの導電層2を覆う絶縁層5からなる
感磁部6が形成され、半導体チップ1の他方の面(図1
(b)、(c)では下面)上に、略十字形状の導電層1
2、導電層12の四隅に形成された入力端子3c、3
d、出力端子4c、4d及び残りの導電層を覆う絶縁層
13からなる感磁部14が形成されている。すなわち、
本ホール素子チップ15は、一つの半導体チップ1の表
裏両面に感磁部6、14が形成されたものである。本ホ
ール素子16はこのようなホール素子チップ15が基板
17上に搭載され、樹脂10で封止されたものである。
(c)では上面)上に、略十字形状の導電層2、導電層
2上の四隅に形成された入力端子3a、3b、出力端子
4a、4b及び残りの導電層2を覆う絶縁層5からなる
感磁部6が形成され、半導体チップ1の他方の面(図1
(b)、(c)では下面)上に、略十字形状の導電層1
2、導電層12の四隅に形成された入力端子3c、3
d、出力端子4c、4d及び残りの導電層を覆う絶縁層
13からなる感磁部14が形成されている。すなわち、
本ホール素子チップ15は、一つの半導体チップ1の表
裏両面に感磁部6、14が形成されたものである。本ホ
ール素子16はこのようなホール素子チップ15が基板
17上に搭載され、樹脂10で封止されたものである。
【0016】基板17は絶縁体(例えばガラスエポキシ
樹脂)からなる短冊状部材であり、一方の面(図3に示
す面、図1(b)では上面)の四隅には入出力端子18
a、18b、19a、19bがそれぞれ独立して形成さ
れている。基板17の一方の面(図1(b)では上面)
の四隅の入出力端子18a、18b、19a、19bの
位置には金属バンプ(例えば金バンプ)20を接触させ
るための破線で示す入力用のパッド21a、21b及び
出力用のパッド22a、22bが形成されており、各入
出力端子18a、18b、19a、19bと各パッド2
1a、21b、22a、22bとはスルーホールメッキ
23でそれぞれ電気的に接続されている。
樹脂)からなる短冊状部材であり、一方の面(図3に示
す面、図1(b)では上面)の四隅には入出力端子18
a、18b、19a、19bがそれぞれ独立して形成さ
れている。基板17の一方の面(図1(b)では上面)
の四隅の入出力端子18a、18b、19a、19bの
位置には金属バンプ(例えば金バンプ)20を接触させ
るための破線で示す入力用のパッド21a、21b及び
出力用のパッド22a、22bが形成されており、各入
出力端子18a、18b、19a、19bと各パッド2
1a、21b、22a、22bとはスルーホールメッキ
23でそれぞれ電気的に接続されている。
【0017】ホール素子チップ15は、裏面の入力用端
子3c、3d及び出力用端子4c、4dは金属バンプ2
4で基板17の表面のパッド21a、21b、22a、
22bに接続され、入出力端子3a、3b、4a、4b
は金属ワイヤ(例えば金ワイヤ)25で基板17の表面
のパッド21a、21b、22a、22bに接続されて
いる。
子3c、3d及び出力用端子4c、4dは金属バンプ2
4で基板17の表面のパッド21a、21b、22a、
22bに接続され、入出力端子3a、3b、4a、4b
は金属ワイヤ(例えば金ワイヤ)25で基板17の表面
のパッド21a、21b、22a、22bに接続されて
いる。
【0018】基板17上に搭載されたホール素子チップ
15は樹脂(例えばエポキシ樹脂)10で封止されてい
る。
15は樹脂(例えばエポキシ樹脂)10で封止されてい
る。
【0019】次にホール素子の製造方法について説明す
る。
る。
【0020】位置決め用の切り欠きが形成されたGaA
sウェハの表裏両面にホール素子のパターン(導電膜
2、12、絶縁膜5、13及び入出力端子3a〜3d、
4a〜4dのパターン)を表裏一致するように形成す
る。
sウェハの表裏両面にホール素子のパターン(導電膜
2、12、絶縁膜5、13及び入出力端子3a〜3d、
4a〜4dのパターン)を表裏一致するように形成す
る。
【0021】次にGaAsウェハをダイシングで個々の
ホール素子チップ15に分割する。
ホール素子チップ15に分割する。
【0022】各ホール素子チップ15の裏側の入出力端
子3c、3d、4c、4dと基板17の入出力パッド2
1a、21b、22a、22bとを金属バンプ24を用
いて接続する。
子3c、3d、4c、4dと基板17の入出力パッド2
1a、21b、22a、22bとを金属バンプ24を用
いて接続する。
【0023】各ホール素子チップ15の表側の入出力端
子3a、3b、4a、4bと基板17の入出力パッド2
1a、21b、22a、22bとを金属ワイヤ25でボ
ンディング接続する。各入出力パッド21a、21b、
22a、22bにより、ホール素子チップ15の表裏の
入出力端子3a〜3d、4a〜4dは外部から見て並列
に接続される。ホール素子チップ15をポッティング法
により樹脂10で封止する。基板17と外部回路との接
続は金属バンプ20を用いる。
子3a、3b、4a、4bと基板17の入出力パッド2
1a、21b、22a、22bとを金属ワイヤ25でボ
ンディング接続する。各入出力パッド21a、21b、
22a、22bにより、ホール素子チップ15の表裏の
入出力端子3a〜3d、4a〜4dは外部から見て並列
に接続される。ホール素子チップ15をポッティング法
により樹脂10で封止する。基板17と外部回路との接
続は金属バンプ20を用いる。
【0024】このようにホール素子チップ15の表裏両
面に感磁部6、14を形成することにより、感磁部6、
14を貫通する磁束の数が2倍となるので感度が従来の
ホール素子の2倍になる。また、ホール素子用の半導体
チップ1の材料にGaAsを用いることで温度による感
度の変化の少なさと高い感度とを両立させたホール素子
が得られる。
面に感磁部6、14を形成することにより、感磁部6、
14を貫通する磁束の数が2倍となるので感度が従来の
ホール素子の2倍になる。また、ホール素子用の半導体
チップ1の材料にGaAsを用いることで温度による感
度の変化の少なさと高い感度とを両立させたホール素子
が得られる。
【0025】尚、本実施の形態では配線パターンの形成
された基板上にホール素子チップを搭載した場合で説明
したが、本発明はこれに限定されずリードフレームにホ
ール素子チップを接続して樹脂封止するようにしてもよ
い。
された基板上にホール素子チップを搭載した場合で説明
したが、本発明はこれに限定されずリードフレームにホ
ール素子チップを接続して樹脂封止するようにしてもよ
い。
【0026】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
な優れた効果を発揮する。
【0027】外部からの入力に対する感度が高く、温度
変化による感度の変化の少ないホール素子の提供を実現
することができる。
変化による感度の変化の少ないホール素子の提供を実現
することができる。
【図1】(a)は本発明のホール素子の一実施の形態を
示す平面透視図であり、(b)は(a)の側面透視図で
あり、(c)は(a)の1c−1c線断面図である。
示す平面透視図であり、(b)は(a)の側面透視図で
あり、(c)は(a)の1c−1c線断面図である。
【図2】(a)は図1(c)に示したホール素子チップ
の矢印A方向の矢視図であり、(b)は図1(c)に示
したホール素子チップの矢印B方向の矢視図である。
の矢印A方向の矢視図であり、(b)は図1(c)に示
したホール素子チップの矢印B方向の矢視図である。
【図3】図1(a)〜(c)に示したホール素子に用い
られる基板の平面図である。
られる基板の平面図である。
【図4】(a)は従来のホール素子の断面図であり、
(b)は(a)に示したホール素子に用いられるホール
素子チップの平面図である。
(b)は(a)に示したホール素子に用いられるホール
素子チップの平面図である。
1 半導体チップ
2、12 導電膜
5、13 絶縁膜
3a〜3d 入力端子
4a〜4d 出力端子
6、14 感磁部
10 樹脂
17 基板
18a、18b、21a、21b 入力用パッド
19a、19b、22a、22b 出力用パッド
25 金属ワイヤ
20、24 金属バンプ
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体チップ上に、略十字形状の導電
層、該導電層上の四隅に形成された入出力端子及び残り
の導電層を覆う絶縁層からなる感磁部が形成され、上記
入出端子に接続された電極が露出するように樹脂封止さ
れたホール素子において、上記半導体チップの表裏両面
に上記感磁部が形成されていることを特徴とするホール
素子。 - 【請求項2】 半導体チップ上に、略十字形状の導電
層、該導電層上の四隅に形成された入出力端子及び残り
の導電層を覆う絶縁層からなる感磁部が形成されたホー
ル素子チップが、表裏の四隅に電極が形成されそれぞれ
スルーホールメッキで電気的に接続された基板上に搭載
され、各入出力端子が表面の電極にそれぞれ接続され裏
面の電極が露出するように樹脂封止されたホール素子に
おいて、上記ホール素子チップは、裏面の入出力端子は
金属バンプで、表面の入出力端子は金属ワイヤで各電極
とそれぞれ電気的に接続されていることを特徴とするホ
ール素子。 - 【請求項3】 半導体チップ上に、略十字形状の導電
層、該導電層上の四隅に形成された入出力端子及び残り
の導電層を覆う絶縁層からなる感磁部が形成されたホー
ル素子チップが、リードフレームの内部リードに上記入
出力端子がそれぞれ接続されリードピンが露出するよう
に樹脂封止されたホール素子において、上記ホール素子
チップは、裏面の入出力端子は金属バンプで、表面の入
出端子は金属ワイヤで上記リードフレームの内部リード
とそれぞれ電気的に接続されていることを特徴とするホ
ール素子。 - 【請求項4】 上記ホール素子チップの半導体の材料が
GaAsである請求項1から3のいずれかに記載のホー
ル素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001287433A JP2003101096A (ja) | 2001-09-20 | 2001-09-20 | ホール素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001287433A JP2003101096A (ja) | 2001-09-20 | 2001-09-20 | ホール素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003101096A true JP2003101096A (ja) | 2003-04-04 |
Family
ID=19110244
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001287433A Pending JP2003101096A (ja) | 2001-09-20 | 2001-09-20 | ホール素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003101096A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005111597A1 (ja) * | 2004-05-17 | 2005-11-24 | The Circle For The Promotion Of Science And Engineering | 磁性微粒子の検出装置 |
JP2011128028A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Sensatec Co Ltd | 磁気検出器 |
-
2001
- 2001-09-20 JP JP2001287433A patent/JP2003101096A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005111597A1 (ja) * | 2004-05-17 | 2005-11-24 | The Circle For The Promotion Of Science And Engineering | 磁性微粒子の検出装置 |
JP2011128028A (ja) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Sensatec Co Ltd | 磁気検出器 |
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