WO2005111597A1 - 磁性微粒子の検出装置 - Google Patents

磁性微粒子の検出装置 Download PDF

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WO2005111597A1
WO2005111597A1 PCT/JP2005/006010 JP2005006010W WO2005111597A1 WO 2005111597 A1 WO2005111597 A1 WO 2005111597A1 JP 2005006010 W JP2005006010 W JP 2005006010W WO 2005111597 A1 WO2005111597 A1 WO 2005111597A1
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WO
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hall element
magnetic field
detection device
fine particles
magnetic
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PCT/JP2005/006010
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English (en)
French (fr)
Inventor
Adarsh Sandhu
Hideaki Sanbonsugi
Original Assignee
The Circle For The Promotion Of Science And Engineering
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables

Definitions

  • the present invention relates to an apparatus for detecting magnetic fine particles, and more particularly, to an apparatus for detecting magnetic fine particles using a Hall element as a sensor thereof.
  • Magnetic fine particles for example, commercially available superparamagnetic microphone beads used in the field of biotechnology, are made of ⁇ -FeO or FeO dispersed in a polymer substrate having a diameter of a few micrometer.
  • the beads are covered with a different chemical coating and are configured to bind to the desired target (cells, nucleic acids, nocteria, etc.)
  • bioscreening such as isolation of tumor cells and determination of DNA sequence can be performed.
  • bioscreening development of such a bead having a characteristic and high-speed detection is desired.
  • a magnetic fine particle detection device may be used for research and measurement of fine particles of a material used for a permanent magnet.
  • Such a method for detecting magnetic fine particles is performed by measuring the magnetic porosity.
  • a device that attempts to detect magnetic fine particles using a superconducting quantum interference device (SQUID) as a sensor. This involves applying an alternating magnetic field to the magnetic particles.
  • SQUID superconducting quantum interference device
  • the signal is detected by a SQUID magnetic sensor.
  • Non-Patent Document 1 there is a detection method using a Si Hall element as disclosed in Non-Patent Document 1.
  • Patent Document 1 JP 2001-133458 A
  • Patent Document 2 JP-A-11 101861
  • Non-Patent Reference 1 Pierre—A. Besse et al., “Detection of a single magnetic micro bead using a miniaturized silicon Hall sensorj APPLIED PHYSICS LETTERS, Vol. 80, No. 22, June 3, 2002, p. 4199—4201 Disclosure of the invention
  • the manufacturing process of the GMR element is complicated, miniaturization of several microns or less is difficult, and there has been a problem that the apparatus becomes expensive.
  • the resolution of this sensor was several microns, so it was not possible to detect magnetic fine particles of nanometer size. Further, since the distance between the element and the magnetic fine particles is several microns, the magnetic field of the magnetic fine particles that can be detected at a minimum is considerably limited.
  • the DC magnetic field is about 300 Oe when the diameter of the coil is 100 mm. Therefore, it was difficult to detect nanometer-sized magnetic fine particles with a high saturation magnetic flux density using an apparatus using a magnetic coil.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a detection device capable of reducing noise sources, detecting magnetic fine particles at low cost, with high accuracy, and at high speed.
  • a magnetic fine particle detection device includes a Hall element placed on an XY plane using the Hall effect, a DC power supply for driving the Hall element, and a Hall element.
  • a magnet that is provided in the vicinity and applies a DC magnetic field in the Z-axis direction to the Hall element; an alternating magnetic field generating means that is provided in the vicinity of the Hall element and applies an AC magnetic field to the Hall element; and a voltage output of the Hall element
  • a lock-in amplifier for detecting the fluctuation of the magnetic component of the Z component of the magnetic fine particles placed on the Hall element.
  • the lock-in amplifier may use a frequency that is an integral multiple of the frequency of the AC magnetic field generated by the AC magnetic field generating means as the reference signal frequency.
  • the magnet may be made of a permanent magnet and provided so that ONZOFF control of application of a magnetic field onto the Hall element can be performed.
  • the magnet may be an electromagnet.
  • the AC magnetic field generating means may be provided as long as it is provided on the XY plane and can apply an AC magnetic field in a predetermined direction on the XY plane onto the Hall element. Specifically, it may be in the X-axis direction or the Y-axis direction.
  • the AC magnetic field generating means may be provided in the Z-axis direction of the Hall element, and may apply an AC magnetic field in the Z-axis direction to the Hall element.
  • the AC magnetic field generating means may include an AC power supply and a coil connected thereto.
  • the AC magnetic field generating means may include an AC power supply and an electromagnet connected to the AC power supply.
  • the AC magnetic field generating means may include a permanent magnet and a rotation mechanism for rotating the permanent magnet.
  • the AC magnetic field generating means may include an AC power supply and a conductor connected thereto, and the conductor may apply a magnetic field generated around the conductor to the Hall element.
  • the Hall element may be configured by connecting a plurality of Hall elements in series, and the conducting wire may be provided over the Hall elements connected in series.
  • the Hall element is formed on the substrate, and further, an insulating film and the thin film are formed on the Hall element. What is necessary is just to comprise so that it may be provided with the titanium or chromium base layer on an edge film, and the gold thin film on this base layer.
  • the insulating film may be a silicon nitride film or an oxidized silicon film formed by a dual target magnetron RF sputtering method.
  • the Hall element preferably contains any one of InSb, InAs, AlGaN / GaN, Bi, GaAs / AlGaAs, and Si as a main component.
  • the substrate may have a concave portion immediately below the Hall element.
  • an insulating film, a base layer, and a gold thin film may be provided also on the substrate side surface of the Hall element.
  • a thiol ligated compound may be bonded to a gold thin film.
  • the magnetic fine particle detection device of the present invention has an advantage that it is possible to detect magnetic fine particles with high accuracy because the number of coils reduces the number of noise sources.
  • a Hall element that can be easily subjected to ultrafine processing, even fine magnetic particles of nanometer size can be detected with high sensitivity.
  • the apparatus itself is simplified without using a magnetic coil, and an inexpensive apparatus can be realized. Further, by using a plurality of Hall elements in series, it is possible to measure a plurality of types of magnetic fine particles at once.
  • FIG. 1 is a schematic block diagram for explaining a magnetic fine particle detection device according to a first embodiment of the present invention.
  • a Hall element 1 using the Hall effect is provided on an XY plane, and a DC power supply 2 for driving the Hall element 1 is connected to the Hall element 1.
  • Si or the like as the material of the Hall element.
  • a hole such as InSb, Bi, or InAs, which can be easily micro-processed. It is preferable to use an element.
  • the Hall element 1 In order to apply a DC magnetic field H in the Z-axis direction onto the Hall element 1, the Hall element 1
  • a permanent magnet 3 is provided in the vicinity of the Z axis side.
  • the permanent magnet 3 is provided so that the application of a magnetic field onto the Hall element can be controlled ONZOFF.
  • the Hall element 1 may be provided so as to be movable so as to keep away the force. Further, ONZOFF control may be performed using a magnetic shield or the like. Then, in order to apply an AC magnetic field H in the X-axis direction onto the Hall element 1, the Hall element
  • a coil 4 is provided near the X-axis side of the child 1.
  • the AC power supply 5 is connected to the coil 4, and the AC power supply 5 generates an AC magnetic field from the coil 4.
  • the AC magnetic field H is provided near the X-axis side of the child 1.
  • the magnetic fine particles 50 adsorbed on the Hall element are also subjected to the AC magnetic field H ACx force s.
  • a lock-in amplifier 7 is connected to a voltage output terminal of the Hall element 1 via a preamplifier 6 as necessary.
  • the lock-in amplifier 7 has a function of detecting only a signal synchronized with the reference signal frequency.
  • the frequency of the AC magnetic field generated by the AC power supply 5 and the coil 4 is input to the reference signal input terminal of the lock-in amplifier 7 as the reference signal frequency.
  • the frequency of the AC magnetic field itself may be input, or a double or triple frequency may be input. That is, a frequency that is an integral multiple of the frequency of the AC magnetic field may be input as the reference signal frequency.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the Hall element 1 of the magnetic fine particle detection device of the present invention.
  • the Hall element 1 is formed on a suitable substrate 8, and an insulating film 9 is formed on the Hall element 1.
  • the insulating film 9 has a material strength to absorb a desired target bonded to the magnetic fine particles, and can be formed with a thickness of 200 nm or less. Therefore, the distance between the sensor and the particles can be made very short, and the magnetic fine particles can be detected with high sensitivity.
  • the detection device of the present invention is a device for detecting whether or not the magnetic fine particles 50 are attached to the sensor by using the Hall element 1.
  • the principle of detecting magnetic fine particles will be described in detail.
  • an AC magnetic field H in the X-axis direction is printed on the Hall element 1 by the coil 4.
  • a permanent magnet 3 applies a DC magnetic field H in the Z-axis direction.
  • the state of the change of the magnetization vector of the magnetic fine particles will be described using DC3.
  • the magnetization vector of the magnetic fine particles 50 fluctuates in the X-axis direction.
  • H When H is turned ON, the magnetization vector of the magnetic fine particles 50 follows the entire magnetic field. It fluctuates in the XZ plane.
  • the Hall element 1 detects only the magnetic field in the Z-axis direction and cannot detect the magnetic field in the X-axis direction, so no magnetic field is detected when H is OFF.
  • the output terminal of the Hall element 1 has a DC magnetic field H in the Z-axis direction and a magnetization M of the magnetic fine particles 50.
  • Is output This output is appropriately amplified by the preamplifier 6 if necessary, and then input to the lock-in amplifier 7.
  • the magnetization of the magnetic fine particles fluctuates at twice the frequency of the AC magnetic field. That is, it is sufficient that the reference signal input terminal of the lock-in amplifier 7 is input with a frequency, for example, twice the frequency of the AC magnetic field H.
  • the output of the lock-in amplifier 7 indicates the output V. This indicates that cells, nucleic acids, nocteria, and the like are present.
  • the magnetic fine particles 50 are adsorbed on the Hall element 1
  • the fluctuation of the magnetization of the Z component does not occur, so that the output of the lock-in amplifier 7 becomes 0, indicating that no magnetic fine particles are present. I understand.
  • the magnetic field may be generated in any direction as long as an AC magnetic field in a predetermined direction on the XY plane can be applied to the Hall element 1, so that the AC magnetic field is generated in the Y-axis direction. You may. That is, the AC magnetic field and the DC magnetic field may be applied to the Hall element 1 in such a relation that the lock-in amplifier 7 can detect the fluctuation of the Z component of the magnetic fine particles 50 placed on the Hall element 1. .
  • FIG. 4 is a schematic block diagram for explaining a magnetic particle detecting device according to a second embodiment of the present invention.
  • the parts denoted by the same reference numerals as those in FIG. 1 represent the same parts, and the basic configuration is the same as that of the first embodiment shown in FIG. Fig. 4 shows the relationship between the AC power supply and coil that generated the AC magnetic field H in the X-axis direction as shown in Fig. 4.
  • an AC magnetic field generating mechanism including a permanent magnet and a rotating mechanism for rotating the permanent magnet is used.
  • the other components and principles are basically the same as those of the first embodiment, and a detailed description will be omitted.
  • the AC magnetic field generating mechanism of the second embodiment for example, has a force with the outer peripheral multipolar permanent magnet 10 and the motor 11 for rotating the same, and the outer peripheral multipolar permanent magnet 10 is provided on the XY plane and rotated by the motor 11. As a result, an AC magnetic field H in the X-axis direction is applied to the Hall element 1. Also Rocky
  • the rotation frequency of the motor 11 is used as the reference signal frequency of the amplifier 7.
  • the shape of the permanent magnet is not limited to the multi-periphery, and various permanent magnets can be used as long as they can generate an AC magnetic field.
  • FIG. 5 is a schematic block diagram for explaining a magnetic fine particle detection device according to a third embodiment of the present invention
  • FIG. 6 is a cross-sectional view thereof.
  • the parts denoted by the same reference numerals as those in FIG. 1 represent the same objects, and the basic principle of detection is the same as that of the first embodiment shown in FIG.
  • Fig. 5 instead of the AC power supply and the coil that generated the AC magnetic field H in the X-axis direction,
  • the AC magnetic field generating mechanism of the third embodiment includes an AC power supply 21 and a conductor 22 connected thereto.
  • the conductor 22 is provided on the Hall element 1 in parallel. More specifically, an insulating film 23 is formed on the Hall element 1 formed on the substrate 8, and a conductive wire 22 is formed thereon along the X-axis direction. Then, an insulating film 9 having a material strength for adsorbing a desired target bonded to the magnetic fine particles is formed thereon.
  • an AC magnetic field is generated around the conductor 22.
  • an AC magnetic field H in the Y-axis direction is applied to the Hall element 1.
  • the DC magnetic field H in the Z-axis direction becomes OF
  • the Hall element 1 detects only the magnetic field in the Z-axis direction and cannot detect the magnetic field in the Y-axis direction.When H is OFF, no magnetic field is detected, but H is ON. When it becomes
  • the magnetic field fluctuating on the YZ plane due to the magnetic fine particles 50 can be detected.
  • FIG. 7 is a schematic block diagram for explaining a magnetic particle detecting device according to a fourth embodiment of the present invention.
  • the parts denoted by the same reference numerals as those in FIG. 6 represent the same objects, and the basic principle of detection is the same as that of the third embodiment shown in FIG.
  • the point is that a plurality of Hall elements are connected in series as shown in FIG.
  • Other components and principles are basically the same as those of the third embodiment, and thus illustration and detailed description are omitted.
  • the fourth embodiment has a configuration in which a plurality of the detection devices of the third embodiment are connected in series. This allows a plurality of sensor portions to be formed at once by a semiconductor processing process.
  • a plurality of Hall elements 1 are connected, and a conductive wire 22 is provided thereon in parallel with an insulating film 23 interposed therebetween.
  • an AC magnetic field is applied in the Y-axis direction by flowing an AC current through the conducting wire 22.
  • an insulating film 9 having a material force for adsorbing a desired target bonded to the magnetic fine particles is provided on the sensor.
  • the insulating film 9 on each Hall element is formed of a different material according to the type of the target so that only predetermined magnetic fine particles are absorbed.
  • the presence or absence of the predetermined magnetic fine particles can be independently detected at each sensor portion, so that a plurality of targets can be detected at once in a short time. Screening becomes possible.
  • FIG. 8 is a schematic cross-sectional view for explaining the surface structure of the Hall element used in the detection device according to the present invention.
  • the Hall element 1 according to the present invention is an example For example, an element containing InSb, InAs, AlGaN / GaN, Bi, GaAs / AlGaAs, or Si as a main component is preferable. Such a Hall element 1 is provided on a substrate 8.
  • an insulating film 9 is deposited on the Hall element 1 to a thickness of about 200 nm.
  • the insulating film 9 is provided for waterproofing the Hall element 1.
  • Various methods are available for depositing the insulating film 9 In order to realize a high-sensitivity detection device, it is necessary to form the insulating film as thin and uniform as possible. Sometimes it is preferable to use a method that does not damage the Hall element 1. Specifically, it is preferable to use a dual target magnetron RF sputtering method. What is the dual target magnetron RF sputtering method? "FACING TARGETS TYPE OF SPUTTERING METHOD
  • a substrate is arranged, and a gas such as Ar is provided into the reaction chamber to form a silicon nitride film or an oxidized silicon film on the Hall element 1. Thereby, a thin and uniform insulating film is deposited on the hole element 1.
  • a base layer 30 made of titanium or chromium is deposited to a thickness of about 10 nm.
  • a gold thin film 31 is deposited on the base layer 30 to a thickness of about 100 nm.
  • the base layer 30 is provided for firmly attaching the gold thin film 31 to the insulating film 9.
  • a Hall element used in a magnetic fine particle detection device is formed. After that, if necessary, the entire portion of the Hall element other than the sensor portion may be subjected to a waterproof treatment with a silicon gel or the like.
  • a magnetic fine particle detection device in order to apply the same to a biosensor, the magnetic fine particles must be fixed on a Hall element using a physiologically active substance.
  • a physiologically active substance for this purpose, it is possible to utilize a commonly known bond between gold and thiol.
  • the thiol compound is chemisorbed on the gold thin film surface, the self-assembled thiol A self-assembled monolayer (SAM) is formed.
  • SAM formed by a thiol compound such as DDPA (3, 3'-dithiodipropionic acid) can have various functions by selecting a terminal functional group.
  • thiolrich DNA a thiol group-bonded DNA
  • DNA is chemically more stable than protein and forms a double strand (hybridization), so sensing is performed using this interaction.
  • thiolrich DNA a thiol group-bonded DNA
  • DDPA is used as a thiol conjugate
  • the single-stranded DNA is immobilized on the surface of the gold thin film by modifying the end thereof, and the complementary single-stranded DNA previously immobilized on magnetic fine particles is used.
  • the magnetic fine particles are immobilized on the surface of the gold thin film by hybridization with DNA.
  • the Two Step method after thiolyed DNA is bound to the surface of the gold thin film, the thiolated DNA is bound using a 6-hydroxyl hexanethiol, and a large amount of 6-hydroxy-11-hexanethiol is formed around the thiolated DNA molecule. Surround with molecules. Since the hydrophilic thiol DNA molecule surrounded by the hydrophobic chain exists in a certain direction while maintaining a certain distance, it must exist as a single chain and perform double strand formation predominantly. Is possible.
  • the single-stranded DNA of the magnetic fine particles and the target DNA are hybridized in advance and then bonded to the surface of the gold thin film.
  • the substrate having the surface of the Hall element treated as shown in FIG. 8 is immersed in a dithiodipropionic acid aqueous solution (4 mM) for 30 minutes to 18 hours, and then washed with water (FIG. 9 (A)). Then, EDC (1-ethyl-3- (3-dimethylaminopropyl) carbodiimide hydrochloride) and N-hydroxysuccinimide solution were mixed in equal amounts (100 mgZml) of each solution, and the substrate after the above treatment was added thereto for 20 minutes. Soak and then wash with water (Fig. 9 (B)).
  • the detection device subjected to the surface treatment as described above is immersed in a solution containing magnetic fine particles having complementary DNA immobilized on the surface, left for 24 hours while applying vibration, and then washed twice with 2M NaCl. I do. Then, as shown in FIG. 9 (F), the target DNA forms a double strand, and the magnetic fine particles are fixed on the Hall element.
  • FIG. 10 (A) shows the output waveform of the lock-in amplifier when the magnetic fine particles are not fixed on the Hall element of the detection device of the present invention
  • FIG. 10 (B) shows the lock waveform when the magnetic fine particles are fixed
  • 3 shows an output waveform of an in-amplifier.
  • the left side of each figure is a top view of the Hall element of the detection device of the present invention, and the right side is an output waveform.
  • the lock-in amplifier output was also output in a pulse form. As described above, by observing the output of the lock-in amplifier of the detection device of the present invention, it is possible to detect whether or not the magnetic fine particles to which the target DNA is attached are present.
  • a concave portion may be formed on the substrate 8 immediately below the Hall element 1. This is provided to change the flow of the solution around the Hall element so that the magnetic fine particles can be efficiently and better fixed on the Hall element 1.
  • the magnetic fine particles can be fixed on the sensor more efficiently because they stay in the concave portion or return to the sensor again than when the magnetic fine particles flow on the sensor having a flat surface. Further, the magnetic fine particles are also placed on the back side of the Hall element, that is, on the surface of the Hall element on the substrate side.
  • an insulating film, a base layer, and a gold thin film are formed on the back surface of the Hall element in the same manner as on the front surface.
  • the concave provided on the back side Since the magnetic fine particles existing in the portion can also be bonded to the gold thin film and can be measured on the back surface side, there is an advantage that the measurement speed can be extremely short. It is to be noted that, even when the sensor section is provided on the back side, a configuration in which a plurality of detection devices are connected in series as described with reference to FIG. As a result, the magnetic fine particles can be more efficiently detected at high speed.
  • the magnetic fine particle detection device of the present invention is not limited to the illustrated example described above, but may be variously modified without departing from the gist of the present invention.
  • Electromagnets that need to be considered may be used. With an electromagnet, ONZOFF control of the applied magnetic field by the ONZ OFF operation of the switch is possible.
  • FIG. 1 is a schematic block diagram for explaining a magnetic fine particle detection device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the Hall element 1 of the magnetic fine particle detection device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a magnetic particle when a DC magnetic field is applied in the magnetic fine particle detection device of the present invention.
  • FIG. 4 is a diagram showing a change of a magnetic particle vector of a conductive fine particle and an output of a lock-in amplifier.
  • FIG. 4 is a schematic block diagram for explaining a magnetic fine particle detection device according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a schematic block diagram for explaining a magnetic fine particle detection device according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a cross-sectional view of the Hall element 1 of the magnetic fine particle detection device according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a schematic block diagram for explaining a magnetic fine particle detection device according to a fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view for explaining a surface treatment of a Hall element that is applied to the magnetic fine particle detection device of the present invention.
  • FIG. 9 is a cross-sectional view for more specifically explaining the surface treatment of a Hall element applied to the magnetic fine particle detection device of the present invention.
  • FIG. 10 is a view showing output signals of a lock-in amplifier in a state where the magnetic fine particles are fixed and a state where the magnetic fine particles are not fixed in the magnetic fine particle detection device of the present invention.

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Abstract

 コイルから発生するノイズ源を減らし、簡易な装置にて安価に高精度且つ高速に磁性微粒子を検出可能な検出装置を提供する。  検出装置は、ホール効果を用いるXY平面に置かれるホール素子1を有する。ホール素子は直流電源2で駆動される。ホール素子上にX軸方向の交流磁界を印加した状態で、永久磁石3によりZ軸方向の直流磁界をホール素子上に印加する。これにより変動する磁性微粒子のZ成分の磁化をロックインアンプ7で検出する。X軸方向の交流磁界は、コイル4と交流電源5により発生させても良く、永久磁石10とモータ11や、交流電源21と導線22等により発生させても良い。

Description

明 細 書
磁性微粒子の検出装置
技術分野
[0001] 本発明は磁性微粒子の検出装置に関し、特に、そのセンサとしてホール素子を用 V、る磁性微粒子の検出装置に関する。
背景技術
[0002] 磁性微粒子、例えばバイオテクノロジーの分野で用いられる市販の超常磁性マイク 口ビーズは、直径 2, 3マイクロの高分子基材に拡散された γ— Fe Oや Fe Oのナ
2 3 3 4 ノメートルサイズの多数の粒子力もなる。ビーズは、異なる化学的なコーティングで覆 われ、所望のターゲット (細胞、核酸、ノ クテリア等)に結合するように構成されている
。このような磁性微粒子を検出することで、腫瘍細胞の分離や DNA配列の決定等、 所謂バイオスクリーニングを行うことが可能となる。バイオスクリーニングでは、このよう なビーズの性格且つ高速な検出装置の開発が望まれている。
[0003] また、永久磁石に用いられる材料の微粒子の研究や測定を行うのに、磁性微粒子 の検出装置が用いられることもある。
[0004] このような磁性微粒子の検出法は、磁ィ匕率を測定することで行われる。例えば、特 許文献 1に開示のような、超伝導量子干渉デバイス(SQUID)をセンサとして用い、 磁性微粒子を検出しょうとするものがある。これは、磁性微粒子に交流磁界を印加し
、その信号を SQUID磁気センサにより検出するものである。
[0005] また、例えば特許文献 2に開示のような、巨大磁気抵抗効果素子 (GMR素子)をセ ンサとして用いた検出法もある。
[0006] さらに、非特許文献 1に開示のような、 Siホール素子を用いた検出法もある。
[0007] 特許文献 1 :特開 2001— 133458号公報
特許文献 2 :特開平 11 101861号公報
非特干文献 1 : Pierre— A. Besse等「Detection of a single magnetic micro bead using a miniaturized silicon Hall sensorj APPLIED PHYSICS LETTERS, Vol. 80、 No. 22、 2002年 6月 3日、 p. 4199—4201 発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0008] し力しながら、 SQUIDを用いる場合、低温での測定が必要なため装置が複雑化す る。したがって、装置が高価になってしまう問題があった。また、このセンサの分解能 は数ミクロン程度であるため、ナノメートルサイズの磁性微粒子を検出することはでき なかった。
[0009] また、 GMR素子を用いる場合、 GMR素子の製造工程が複雑であり、数ミクロン以 下の微細化は困難であり、装置が高価になってしまう問題があった。また、このセンサ の分解能も数ミクロンのため、ナノメートルサイズの磁性微粒子の検出はできなカゝつた 。さらに、素子と磁性微粒子間の距離は数ミクロンのため、最小限検出可能な磁性微 粒子の磁界がかなり限られて 、た。
[0010] さらに、 Siホール素子を用いる場合、磁気コイルを使うため装置が複雑ィ匕するので 高価になってしまう問題があった。また、コイルによるノイズも問題となっていた。また 、コイルによる限られた発生磁界量のため、分子量の小さい磁性微粒子を測定でき ないという問題もあった。さらに、 Siの CMOS技術では、ホール素子と磁性微粒子間 の距離は数ミクロン程度開いてしまうため、最小限検出可能な磁性微粒子の磁界が かなり限られていた。
[0011] なお、高感度な検出装置を実現するためには、検出センサと磁性微粒子間の距離 は近いことが望まれる。これは、センサ ·粒子間の距離と磁界との関係が、以下の式 で表わされるためである。
磁界 = l/d3
但し、 dはセンサと粒子間の距離
[0012] また、コイルによる最大磁界量は限られており、例えば交流磁界はコイルの直径が
20mmの場合で 80Oe程度、直流磁界はコイルの直径が 100mmの場合で 300Oe 程度である。したがって、磁気コイルを用いた装置では、飽和磁束密度の大きいナノ メートルサイズの磁性微粒子の検出は困難であった。
[0013] 本発明は、斯かる実情に鑑み、ノイズ源を減らし、安価に高精度に且つ高速に磁性 微粒子を検出可能な検出装置を提供しょうとするものである。 課題を解決するための手段
[0014] 上述した本発明の目的を達成するために、本発明による磁性微粒子の検出装置は 、ホール効果を用いる XY平面に置かれるホール素子と、ホール素子駆動用の直流 電源と、ホール素子の近傍に設けられ、 Z軸方向の直流磁界をホール素子上に印加 する磁石と、ホール素子の近傍に設けられ、交流磁界をホール素子上に印加する交 流磁界発生手段と、ホール素子の電圧出力を入力とし、ホール素子上に置かれる磁 性微粒子の Z成分の磁ィ匕の変動を検出するロックインアンプとを有するものである。
[0015] ここで、ロックインアンプは、交流磁界発生手段により発生させられる交流磁界の周 波数の整数倍の周波数を参照信号周波数とすれば良 、。
[0016] また、磁石は、永久磁石からなり、ホール素子上への磁界の印加を ONZOFF制 御可能に設けられれば良い。
[0017] さらに、磁石は、電磁石であっても良い。
[0018] また、交流磁界発生手段は、 XY平面に設けられ、 XY平面の所定の方向の交流磁 界をホール素子上に印加できるものであれば良い。具体的には、 X軸方向又は Y軸 方向であっても良い。
[0019] また、交流磁界発生手段は、ホール素子の Z軸方向に設けられ、 Z軸方向の交流 磁界をホール素子上に印加するものであっても良い。
[0020] さらに、交流磁界発生手段は、交流電源とそれに接続されるコイルとからなつても良 い。
[0021] またさらに、交流磁界発生手段は、交流電源とそれに接続される電磁石とからなつ ても良い。
[0022] また、交流磁界発生手段は、永久磁石とそれを回転させる回転機構とからなつても 良い。
[0023] さらにまた、交流磁界発生手段は、交流電源とそれに接続される導線とからなり、導 線は、導線の周りに発生する磁界をホール素子上に印加するようにしても良 、。
[0024] ここで、ホール素子は、複数のホール素子を直列に接続して構成され、導線は、直 列に接続されたホール素子に渡って設けられるようにしても良い。
[0025] また、ホール素子は基板上に形成され、さらに、ホール素子上に絶縁膜と、該薄絶 縁膜上のチタン又はクロム力 なる基層と、該基層上の金薄膜とを具備するように構 成すれば良い。
[0026] ここで、絶縁膜は、デュアルターゲットマグネトロン RFスパッタリング法により形成さ れる窒化シリコン膜又は酸ィ匕シリコン膜であれば良い。
[0027] また、ホール素子は、 InSb, InAs, AlGaN/GaN, Bi, GaAs/AlGaAs, Siの 何れかを主成分とすることが好ま 、。
[0028] さらに、基板は、前記ホール素子の直下に凹部を有しても良い。この場合、ホール 素子の基板側表面にも絶縁膜と基層と金薄膜とを有するようにしても良い。
[0029] また、金薄膜にチオールィ匕合物を結合してぉ 、ても良!、。
発明の効果
[0030] 本発明の磁性微粒子の検出装置には、コイルを減らすことでノイズ源が減るので高 精度に磁性微粒子を検出できるようになるという利点がある。また、超微細化工が容 易なホール素子を用いることで、ナノメートルサイズの磁性微粒子であっても高感度 に検出可能となる。また、磁気コイルを使わず装置自体もシンプルとなり、安価な装 置が実現できる。さらに、ホール素子を複数直列に用いることで、一気に複数の種類 の磁性微粒子の測定も可能となる。
発明を実施するための最良の形態
[0031] 以下、本発明を実施するための最良の形態を図示例と共に説明する。図 1は、本発 明の第 1実施例の磁性微粒子の検出装置を説明するための概略ブロック図である。 図示のとおり、ホール効果を用いるホール素子 1が XY平面上に提供され、これを駆 動する直流電源 2がホール素子 1に接続される。ここで、ホール素子の材料には、 Si 等を利用することも勿論可能であるが、高精度な検出装置を実現するためには、微 細加工が容易な InSbや Bi、 InAs等力 なるホール素子を用いることが好まし 、。
[0032] また、 Z軸方向の直流磁界 H をホール素子 1上に印加するために、ホール素子 1
DC
の Z軸側の近傍に永久磁石 3が提供される。この永久磁石 3は、ホール素子上への 磁界の印加を ONZOFF制御可能なように設けられる。具体的には、ホール素子 1 力も遠ざけられるように移動自在に設ければ良い。また、磁気シールド等を用いて O NZOFF制御可能にしても良い。 [0033] そして、 X軸方向の交流磁界 H をホール素子 1上に印加するために、ホール素
ACx
子 1の X軸側の近傍にコイル 4が提供される。コイル 4〖こは、交流電源 5が接続され、 交流電源 5によりコイル 4からは交流磁界が発生する。なお、交流磁界 H をホール
ACx
素子上に印加することで、ホール素子に吸着した磁性微粒子 50にも交流磁界 H ACx 力 s印カロされること〖こなる。
[0034] さらに、ホール素子 1の電圧出力端子には、必要によりプリアンプ 6を介して、ロック インアンプ 7が接続される。ロックインアンプ 7は、参照信号周波数に同期した信号の みを検出できる機能を有するものである。
[0035] ロックインアンプ 7の参照信号入力端子には、交流電源 5とコイル 4により発生する 交流磁界の周波数が参照信号周波数として入力される。なお、交流磁界の周波数 自体を入力しても良いし、 2倍の周波数や 3倍の周波数を入力しても構わない。即ち 、交流磁界の周波数の整数倍の周波数を参照信号周波数として入力すれば良 、。
[0036] このように構成された検出装置において、ホール素子 1上に磁性微粒子 50が提供 される。図 2は、本発明の磁性微粒子の検出装置のホール素子 1の横断面図である 。図示のとおり、ホール素子 1は適当な基板 8上に形成され、ホール素子 1上には絶 縁膜 9が形成されている。絶縁膜 9は、磁性微粒子に結合した所望のターゲットを吸 着する材料力もなるものであり、膜厚は 200nm以下で形成可能である。したがって、 センサ'粒子間の距離を非常に短く構成することが可能となり、高感度に磁性微粒子 を検出することができるようになる。本発明の検出装置は、このセンサ上に磁性微粒 子 50が付着しているか否かを、ホール素子 1により検出する装置である。以下に磁性 微粒子を検出する原理について詳細に説明する。
[0037] 図 1に示すように、ホール素子 1上に、コイル 4により X軸方向の交流磁界 H を印
ACx 加した状態で、永久磁石 3により Z軸方向の直流磁界 H を力ける。永久磁石
DC 3は、 ホール素子 1上への磁界の印加を ONZOFF制御可能に設けられているので、ホー ル素子 1上に直流磁界 H を印加したりしな力つたりすることが可能である。図
DC 3を用 いて磁性微粒子の磁ィ匕ベクトルの変化の様子を説明する。 Z軸方向の直流磁界 H DC が OFFのときには、図示のように、磁性微粒子 50の磁ィ匕ベクトルは X軸方向で変動 する。 H が ONになると、磁性微粒子 50の磁化ベクトルは、全磁場に追随するので XZ平面で変動するようになる。ホール素子 1は、 Z軸方向の磁界のみを検出し、 X軸 方向の磁界は検出できないので、 H が OFFのときは磁界は検出されないが、 H
DC DC
力 SONになったときには、 XZ平面で変動する磁性微粒子 50の磁ィ匕による磁界が検 出されること〖こなる。
[0038] ホール素子 1の出力端子には、 Z軸方向の直流磁界 H と磁性微粒子 50の磁化 M
DC
との合計に対応した信号が出力される。この出力を必要によりプリアンプ 6にて適当 に増幅した後、ロックインアンプ 7に入力する。通常、磁性微粒子の磁化は交流磁界 の 2倍の周波数で変動するので、ホール素子 1の出力をロックインアンプ 7により第 2 高調波成分で検出する。すなわち、ロックインアンプ 7の参照信号入力端子には交流 磁界 H の周波数の例えば 2倍の周波数が入力されれば良ぐこの交流磁界 H
ACx ACx により XZ平面で変動させられる磁性微粒子 50の Z成分の磁ィ匕の変動のみを的確に 検出することが可能となる。このようにロックインアンプ 7により直流成分の信号は無視 されるので、ロックインアンプの出力は図 3に示すようになる。この出力 Vが、磁性微 粒子が存在することを示す信号となる。
[0039] したがって、磁性微粒子に結合した所望のターゲットを吸着する材料力 なる絶縁 膜 9に磁性微粒子 50が吸着されれば、ロックインアンプ 7の出力は出力 Vを示すため 、出力 Vの存在を以つて細胞、核酸、ノクテリア等が存在することが分かる。磁性微 粒子 50がホール素子 1上に吸着して 、な 、場合には、 Z成分の磁化の変動は生じな いため、ロックインアンプ 7の出力は 0となり、磁性微粒子が存在していないことが分か る。
[0040] なお、図 1に示す本発明の第 1実施例の検出装置では、 X軸方向に交流磁界を発 生させるコイル 4とそれに接続される交流電源 5を説明したが、本発明はこれに限定 されず、 XY平面の所定の方向の交流磁界をホール素子 1に印加できるものであれ ば、如何なる方向に磁界を発生しても良いので、 Y軸方向に交流磁界を発生させる ように構成しても良い。即ち、交流磁界と直流磁界はそれぞれ、ホール素子 1上に置 かれる磁性微粒子 50の Z成分の磁ィ匕の変動をロックインアンプ 7で検出できるような 関係で、ホール素子 1に印加すれば良い。
[0041] 次に、本発明の磁性微粒子の検出装置の第 2実施例を、図 4を用いて説明する。 図 4は、本発明の第 2実施例の磁性微粒子の検出装置を説明するための概略ブロッ ク図である。図中、図 1と同一の符号を付した部分は同一物を表わしており、基本的 な構成は図 1に示す第 1実施例のものと同様であるが、本図示例の特徴とするところ は、図 4に示す如ぐ X軸方向の交流磁界 H を発生していた交流電源とコイルの代
ACx
わりに、永久磁石とそれを回転させる回転機構とからなる交流磁界発生機構を用い た点にある。他の構成要素や原理は基本的には第 1実施例と同様のため、詳説は省 略する。
[0042] 第 2実施例の交流磁界発生機構は、例えば外周多極永久磁石 10とそれを回転さ せるモータ 11と力もなり、外周多極永久磁石 10を XY平面に設けてモータ 11で回転 させることで、ホール素子 1上に X軸方向の交流磁界 H を印加する。また、ロックィ
ACx
ンアンプ 7の参照信号周波数には、モータ 11の回転周波数を用いる。
[0043] このような構成により、本発明の磁性微粒子の検出装置では完全にコイルを使わな くすることが可能となる。したがって、コイルによるノイズの影響も除去することが可能 となる。なお、永久磁石の形状は外周多極に限らず、交流磁界を発生可能なもので あれば種々の永久磁石を用いることが可能である。
[0044] 次に、本発明の磁性微粒子の検出装置の第 3実施例を、図 5及び図 6を用いて説 明する。図 5は、本発明の第 3実施例の磁性微粒子の検出装置を説明するための概 略ブロック図であり、図 6はその横断面図である。図中、図 1と同一の符号を付した部 分は同一物を表わしており、基本的な検出の原理は図 1に示す第 1実施例のものと 同様であるが、本図示例の特徴とするところは、図 5に示す如ぐ X軸方向の交流磁 界 H を発生していた交流電源とコイルの代わりに、交流電源とそれに接続される
ACx
導線とからなる交流磁界発生機構を用いた点にある。他の構成要素や原理は基本 的には第 1実施例と同様のため、詳説は省略する。
[0045] 第 3実施例の交流磁界発生機構は、図 5、図 6に示すように、交流電源 21とそれに 接続される導線 22とからなる。導線 22は、ホール素子 1上に平行に設けられる。より 具体的には、基板 8上に形成されたホール素子 1の上に、絶縁膜 23を形成し、その 上に X軸方向に沿って導線 22が形成される。そして、その上に、磁性微粒子に結合 した所望のターゲットを吸着する材料力 なる絶縁膜 9が形成されている。 [0046] このように構成された検出装置にお!、て、交流電源 21により導線 22に交流電流を 流すと、導線 22の周囲に交流磁界が発生する。具体的には、ホール素子 1上に Y軸 方向の交流磁界 H を印加することになる。すると、 Z軸方向の直流磁界 H が OF
ACy DC
Fのときには、磁性微粒子 50の磁ィ匕ベクトルは Y軸方向で変動する。 Η が ONにな
DC
ると、磁性微粒子 50の磁化ベクトルは、 YZ平面で変動する。したがって、第 1実施例 と同様に、ホール素子 1では Z軸方向の磁界のみ検出し、 Y軸方向の磁界は検出で きないので、 H が OFFのときは磁界は検出されないが、 H が ONになったときに
DC DC
は、 YZ平面で変動する磁性微粒子 50の磁ィ匕による磁界を検出できることになる。
[0047] 次に、本発明の磁性微粒子の検出装置の第 4実施例を、図 7を用いて説明する。
図 7は、本発明の第 4実施例の磁性微粒子の検出装置を説明するための概略ブロッ ク図である。図中、図 6と同一の符号を付した部分は同一物を表わしており、基本的 な検出の原理は図 6に示す第 3実施例のものと同様であるが、本図示例の特徴とす るところは、図 7に示す如ぐホール素子を複数直列に接続した点にある。他の構成 要素や原理は基本的には第 3実施例と同様のため、図示及び詳説は省略する。
[0048] 第 4実施例では、第 3実施例の検出装置を複数直列に接続したような構成となって いる。これは半導体処理工程により一度に複数のセンサ部分を作成可能である。図 7 に示すように、ホール素子 1が複数接続され、その上に絶縁膜 23を介して平行に導 線 22が設けられている。第 3実施例と同様に、導線 22に交流電流を流すことで、 Y 軸方向に交流磁界を印加する構成となっている。そして、磁性微粒子に結合した所 望のターゲットを吸着する材料力もなる絶縁膜 9をセンサ上に設ける。各ホール素子 上の絶縁膜 9は、ターゲットの種類に応じて、それぞれ所定の磁性微粒子のみが吸 着するように、それぞれ異なる材料で形成される。
[0049] このように構成された磁性微粒子の検出装置によれば、各センサ部分で独立して 所定の磁性微粒子の存在の有無が検出可能なため、複数のターゲットに対しても短 時間で一気にスクリーニングが可能となる。
[0050] 以下に、上述の磁性微粒子の検出装置に用いられるホール素子及びその表面処 理の詳細を説明する。図 8は、本発明にかかる検出装置に用いられるホール素子の 表面構造を説明するための概略断面図である。本発明にかかるホール素子 1は、例 えば InSb, InAs, AlGaN/GaN, Bi, GaAs/AlGaAs, Siの何れかを主成分とす る素子が好ましい。このようなホール素子 1が、基板 8上に設けられている。
[0051] そして、ホール素子 1上には、絶縁膜 9が約 200nm程度に堆積される。絶縁膜 9は ホール素子 1を防水処理するために設けられる。絶縁膜 9を堆積する方法としては、 種々の方法が利用可能である力 高感度検出装置を実現するためには、なるべく絶 縁膜は薄く均一に形成する必要があり、さらに絶縁膜を堆積するときにホール素子 1 にダメージを与えない方法が好ましぐ具体的にはデュアルターゲットマグネトロン RF スパッタリング法を用いることが好まし 、。デュアルターゲットマグネトロン RFスパッタリ ング法とは、 "FACING TARGETS TYPE OF SPUTTERING METHOD
FOR DEPOSITION OF MAGNETIC METAL FILMS AT LOW T EMPERATURE AND HIGH RATE", Masahiko Naoe, Shun' ichi Ya manaka and Youichi Hoshi, p. p. 646— 648, IEEE TRANSACTIONS
ON MAGNETICS, VOL. MAG— 16, NO. 5, SEPTEMBER 198 0に記載のようなスパッタリング法を、絶縁膜形成に応用したものである。具体的には 、ターゲット(SiNや SiO等)を一対対向させて配置させ、対向面間の外側の位置に
2
基板を配置して、 Ar等のガスを反応室内に提供して窒化シリコン膜又は酸ィ匕シリコン 膜をホール素子 1上に形成するものである。これにより薄く均一な絶縁膜がホール素 子 1上に堆積される。
[0052] このように形成された絶縁膜 9上に、チタン又はクロムカゝらなる基層 30を約 10nm程 度に堆積する。そして、この基層 30上に金薄膜 31を約 lOOnm程度に堆積する。基 層 30は、金薄膜 31を絶縁膜 9に強固に貼付するために設けられるものである。この ような表面処理にて磁性微粒子の検出装置に用いられるホール素子が形成される。 また、その後必要によりシリコンゲル等により、ホール素子のセンサ部以外の部分の 全体を防水処理加工しても良 ヽ。
[0053] 磁性微粒子の検出装置において、これをバイオセンサに応用するためには磁性微 粒子を生理活性物質を用いてホール素子上に固定しなければ 、けな 、。これには、 一般的に知られている金とチオールの結合を利用することが可能である。チオール 化合物が金薄膜表面に化学吸着すると、金薄膜表面上に自己組織化したチオール ィ匕合物の単分子膜 (SAM: Self-Assembled Monolayer)が生成する。 DDPA ( 3, 3' -dithiodipropionic acid)のようなチオール化合物によって形成された SA Mは、末端官能基の選択により多彩な機能を持たせることが可能である。また、金と チオールの結合を利用するためにチオール基を結合した DNA (チオールィヒ DNA) を用いて、金薄膜表面上にチオール基を介して結合する方法もある。このようにセン サ部表面を DNA修飾したものは、 DNAがタンパク質よりも化学的に安定であり、 2本 鎖を形成 (ハイブリダィゼーシヨン)するためこの相互作用を利用してセンシングを行 なえ、さらに長さを容易に調整できる等のメリットがあり、本発明の磁性微粒子の検出 装置に適用するのに好都合である。
[0054] SAM法では、チオールィ匕合物として DDPAを使用し、その末端を修飾することに より 1本鎖 DNAを金薄膜表面に固定し、予め磁性微粒子に固定された相補的な 1本 鎖 DNAとハイブリダィゼーシヨンさせることによって磁性微粒子を金薄膜表面に固定 する。 Two Step法では、チオールィ匕 DN Aを金薄膜表面に結合した後、 6—ヒドロ キシ 1 へキサンチオールを用 、て結合し、チオール化 DN A分子の周りを多くの 6 ヒドロキシー 1一へキサンチオール分子で囲む。疎水性鎖で囲まれた親水性のチ オールィ匕 DNA分子は、一定の距離を保ったまま一定の方向を向いて存在するため 、単独の鎖として存在し、 2本鎖形成を優位に行なうことが可能である。
[0055] 金薄膜 31の表面を上述のような状態として、 DNAをノヽイブリダィゼーシヨンさせるこ とで磁性微粒子のセンサへの固定を行なえば、短時間でより確実な固定が可能とな る。
[0056] なお、予め磁性微粒子の 1本鎖 DNAとターゲットの DNAをハイブリダィゼーシヨン させた後に、金薄膜表面に結合させても勿論構わない。
[0057] ここで、 SAM法にてセンサ表面を修飾する方法について、図 9を用いてより詳細に 説明する。図 8に示したようにホール素子の表面を処理した基板を、ジチォジプロピ オン酸水溶液 (4mM)に 30分間〜 18時間浸し、その後水で洗浄する(図 9 (A) )。そ して、 EDC (1—ェチルー 3—(3 ジメチルァミノプロピル)カルボジイミド塩酸塩)及 び N ヒドロキシスクシンイミド溶液を各液等量(lOOmgZml)混合し、そこに上記処 理後の基板を 20分間浸し、その後水で洗浄する(図 9 (B) )。さらに基板をアビジン水 溶液(lmgZlOml lOmM HEPES (pH8. 0) )に 2時間浸し、その後水で洗浄す る(図 9 (C) )。そして、 1Mエタノールアミン水溶液に基板を 10分間浸し、その後水で 洗浄する(図 9 (D) )。基板はさらにピオチン化 DNA溶液 1670nM (100mM NaCl )に 1時間浸され、その後水で洗浄される(図 9 (E) )。
[0058] このようにして表面処理を行った検出装置を、相補的な DNAを表面に固定した磁 性微粒子を含む溶液に浸し、振動を与えながら 24時間放置し、その後 2M NaClで 2回洗浄する。そうすると、図 9 (F)に示すように、ターゲットとなる DNAが 2本連鎖を 形成し、ホール素子上に磁性微粒子が固定されることになる。
[0059] 上述のように作成したホール素子において、磁性微粒子が固定された状態と固定 されていない状態における、本発明の検出装置のロックインアンプの出力信号を図 1 0を用いて説明する。図 10 (A)は本発明の検出装置のホール素子上に磁性微粒子 が固定されていない状態におけるロックインアンプの出力波形を示し、図 10 (B)は磁 性微粒子が固定された状態におけるロックインアンプの出力波形を示す。各図の左 側は本発明の検出装置のホール素子の上面図であり、右側が出力波形である。直 流磁界をパルス状に ONZOFFさせると、磁性微粒子が固定されていない場合には 特に信号の変化は見られないが、磁性微粒子が固定されている場合には、直流磁 界のパルスに応じてロックインアンプ出力もパルス状に出力された。このように、本発 明の検出装置のロックインアンプの出力を見ることで、ターゲットとなる DNAが付着し た磁性微粒子が存在するカゝ否かを検出可能となる。
[0060] 次に、本発明の検出装置のホール素子 1の周辺の加工について説明する。図 8で は、基板 8上にホール素子 1を形成した力 さらに、基板 8のホール素子 1の直下の部 分に、凹部を形成しても良い。これは、ホール素子 1上に磁性微粒子が効率的により 良く固定させられるように、ホール素子の周辺の溶液の流れに変化をつけるために 設けられる。磁性微粒子は、表面が平坦な状態のセンサ上に流すときよりも、凹部内 に停滞したり再度センサ上に戻ってきたりするため、効率良くセンサ上に固定可能と なる。またさらに、ホール素子の裏面側、すなわちホール素子の基板側の表面にも磁 性微粒子が置かれるようにする。そして、ホール素子の裏面側にも上述の表面側と同 じょうに、絶縁膜、基層及び金薄膜を形成する。これにより、裏面側に設けられた凹 部に存在する磁性微粒子も金薄膜に結合可能となり、裏面側での測定も可能となる ため、測定速度が非常に短くすむというメリットもある。なお、裏面側にもセンサ部を設 けた場合であっても、図 7に示して説明した、検出装置を複数直列に接続したような 構成としても勿論構わない。これにより、さらに効率良く高速に磁性微粒子の検出が 可能となる。
[0061] なお、本発明の磁性微粒子の検出装置は、上述の図示例にのみ限定されるもので はなぐ本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論 である。
[0062] 例えば上述の各実施例の説明では、 X軸方向の交流磁界をホール素子上に印加 する例を説明したが、本発明はこれに限定されず、この代わりに Z軸方向の交流磁界 をホール素子上に印加する構成であっても良 、。原理的には X軸方向に印加する例 と同じであるが、この場合には、寄生誘導信号や印加する Z軸方向の交流磁界の影 響で大きなオフセットが生じるため、この大きなオフセットに重畳された小さな変動を 検出するためには、交流信号の非常に高 、安定性が要求される。
[0063] また、各実施例では、ホール素子に Z軸方向の直流磁界を印加するものとして、永 久磁石を用いる例を説明したが、本発明はこれに限定されず、ノイズの問題は多少 考慮する必要がある力 電磁石を用いても良い。電磁石であれば、スィッチの ONZ OFF動作によって印加する磁界の ONZOFF制御が可能である。
[0064] また、ホール素子に X軸方向の交流磁界を印加するものとして、コイルや回転機構 を設けた永久磁石等の例を説明したが、本発明はこれに限定されず、ノイズの問題 は多少考慮する必要がある力 電磁石を用いても良い。電磁石であれば、スィッチの ONZOFF動作によって交流磁界をホール素子上に印加することが可能である。 図面の簡単な説明
[0065] [図 1]図 1は、本発明の第 1実施例の磁性微粒子の検出装置を説明するための概略 ブロック図である。
[図 2]図 2は、本発明の第 1実施例の磁性微粒子の検出装置のホール素子 1の横断 面図である。
[図 3]図 3は、本発明の磁性微粒子の検出装置において、直流磁界を与えたときの磁 性微粒子の磁ィ匕ベクトルの変化の様子及びロックインアンプの出力を示す図である。
[図 4]図 4は、本発明の第 2実施例の磁性微粒子の検出装置を説明するための概略 ブロック図である。
[図 5]図 5は、本発明の第 3実施例の磁性微粒子の検出装置を説明するための概略 ブロック図である。
[図 6]図 6は、本発明の第 3実施例の磁性微粒子の検出装置のホール素子 1の横断 面図である。
[図 7]図 7は、本発明の第 4実施例の磁性微粒子の検出装置を説明するための概略 ブロック図である。
[図 8]図 8は、本発明の磁性微粒子の検出装置に力かるホール素子の表面処理を説 明するための横断面図である。
[図 9]図 9は、本発明の磁性微粒子の検出装置に力かるホール素子の表面処理をよ り具体的に説明するための横断面図である。
[図 10]図 10は、本発明の磁性微粒子の検出装置において磁性微粒子が固定された 状態と固定されていない状態におけるロックインアンプの出力信号を示す図である。 符号の説明
1 ホール素子
2 直流電源
3 永久磁石
4 コイル
5 交流電源
6 プリアンプ
7 ロックインアンプ
8 基板
9 絶縁膜
10 外周多極永久磁石
11 モータ
21 交流電源 導線 絶縁膜 基層 金薄膜 磁性微粒子

Claims

請求の範囲
[1] 磁性微粒子を検出するための検出装置であって、該装置は、
ホール効果を用いる XY平面に置かれるホール素子と、
前記ホール素子駆動用の直流電源と、
前記ホール素子の近傍に設けられ、 Z軸方向の直流磁界を前記ホール素子上に 印加する磁石と、
前記ホール素子の近傍に設けられ、交流磁界を前記ホール素子上に印加する交 流磁界発生手段と、
前記ホール素子の電圧出力を入力とし、前記ホール素子上に置かれる磁性微粒 子の Z成分の磁化の変動を検出するロックインアンプと、
を有することを特徴とする磁性微粒子の検出装置。
[2] 請求項 1に記載の検出装置において、前記ロックインアンプは、前記交流磁界発生 手段により発生させられる交流磁界の周波数の整数倍の周波数を参照信号周波数 とすることを特徴とする磁性微粒子の検出装置。
[3] 請求項 1又は請求項 2に記載の検出装置において、前記磁石は、永久磁石からな り、前記ホール素子上への磁界の印加を ONZOFF制御可能に設けられることを特 徴とする磁性微粒子の検出装置。
[4] 請求項 1又は請求項 2に記載の検出装置において、前記磁石は、電磁石であること を特徴とする磁性微粒子の検出装置。
[5] 請求項 1乃至請求項 4の何れかに記載の検出装置において、前記交流磁界発生 手段は、 XY平面に設けられ、 XY平面の所定の方向の交流磁界を前記ホール素子 上に印加することを特徴とする磁性微粒子の検出装置。
[6] 請求項 5に記載の検出装置において、前記 XY平面の所定の方向は、 X軸方向又 は Y軸方向であることを特徴とする磁性微粒子の検出装置。
[7] 請求項 1乃至請求項 4の何れかに記載の検出装置において、前記交流磁界発生 手段は、前記ホール素子の Z軸方向に設けられ、 Z軸方向の交流磁界を前記ホール 素子上に印加することを特徴とする磁性微粒子の検出装置。
[8] 請求項 1乃至請求項 7の何れかに記載の検出装置において、前記交流磁界発生 手段は、交流電源とそれに接続されるコイルとからなることを特徴とする磁性微粒子 の検出装置。
請求項 1乃至請求項 7の何れかに記載の検出装置において、前記交流磁界発生 手段は、交流電源とそれに接続される電磁石とからなることを特徴とする磁性微粒子 の検出装置。
請求項 1乃至請求項 7の何れかに記載の検出装置において、前記交流磁界発生 手段は、永久磁石とそれを回転させる回転機構とからなることを特徴とする磁性微粒 子の検出装置。
請求項 1乃至請求項 7の何れかに記載の検出装置において、前記交流磁界発生 手段は、交流電源とそれに接続される導線とからなり、前記導線は、導線の周りに発 生する磁界をホール素子上に印加することを特徴とする磁性微粒子の検出装置。 請求項 11に記載の検出装置において、前記ホール素子は、複数のホール素子を 直列に接続して構成され、前記導線は、前記直列に接続されたホール素子に渡って 設けられることを特徴とする磁性微粒子の検出装置。
請求項 1乃至請求項 12の何れかに記載の検出装置において、前記ホール素子は 基板上に形成され、さらに、ホール素子上に絶縁膜と、該薄絶縁膜上のチタン又はク ロムからなる基層と、該基層上の金薄膜とを具備することを特徴とする磁性微粒子の 検出装置。
請求項 13に記載の検出装置において、前記絶縁膜は、デュアルターゲットマグネト ロン RFスパッタリング法により形成される窒化シリコン膜又は酸ィ匕シリコン膜であるこ とを特徴とする磁性微粒子の検出装置。
請求項 13又は請求項 14に記載の検出装置において、前記ホール素子は、 InSb, InAs, AlGaN/GaN, Bi, GaAs/AlGaAs, Siの何れかを主成分とすることを特 徴とする磁性微粒子の検出装置。
請求項 13乃至請求項 15の何れかに記載の検出装置において、前記基板は、前 記ホール素子の直下に凹部を有することを特徴とする磁性微粒子の検出装置。 請求項 16に記載の検出装置において、前記ホール素子は、ホール素子の基板側 表面にも絶縁膜と基層と金薄膜とを有することを特徴とする磁性微粒子の検出装置。 求項 13乃至請求項 17の何れかに記載の検出装置において、前記金薄膜にチ -ルイ匕合物が結合されることを特徴とする磁性微粒子の検出装置。
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