JP2003098210A

JP2003098210A - 品質管理方法及び品質管理システム

Info

Publication number: JP2003098210A
Application number: JP2001292246A
Authority: JP
Inventors: Akira Kono; 明河野
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 2001-09-25
Filing date: 2001-09-25
Publication date: 2003-04-03

Abstract

(57)【要約】【課題】製造ラインなどで製品を測定した結果が、迅
速かつ簡単に、各部署にフィードバックできるようにす
る。【解決手段】複数の被測定物の特性を測定し、その測
定したそれぞれの特性の良否を判定し、判定したそれぞ
れの良否のデータを蓄積し、蓄積した特性及び良否のデ
ータを、所定の伝送路を介して伝送し、伝送された特性
及び良否のデータに基づいて、複数の被測定物の特性又
は良否に関する統計データ又はヒストグラムを作成し
て、作成した統計データ又はヒストグラムを表示又は印
刷させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば製品を製造
する工場で、製造された製品の品質管理に適用して好適
な品質管理方法及び品質管理システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】工場で電子機器などの製品を製造する際
には、その製造された製品の特性を測定して、不良がな
いか否かチェックを行う必要がある。電子機器の電気的
な特性の測定としては、例えば、測定用のプログラムが
実装されたコンピュータ装置に、実際に測定を行う測定
装置を接続して、そのコンピュータ装置が接続された測
定装置を、製品の製造ラインの適当な位置に配置する。
そして、製造ラインで搬送される製品の各部の電気的な
特性の測定を測定装置で行い、その結果を、接続された
コンピュータ装置で解析して、例えばコンピュータ装置
に接続されたモニタ装置の画面に、そのとき測定した製
品の良否を表示するようにしていた。

【０００３】このようにすることで、測定装置に接続さ
れたコンピュータ装置のモニタ画面を監視していれば、
製造された製品が良品か不良品かが判り、良品だけを出
荷させることができる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、電子機器な
どの製品の製造を管理する上では、不良品の発生率を低
減させることが重要であり、上述した従来の製品の特性
測定処理で単に不良品を見つけるだけでは不十分であ
る。即ち、不良があった製品の特性の傾向などを解析し
て、製造工程や製品の設計部署にその解析結果をフィー
ドバックして、不良を少なくする処理が必要である。

【０００５】このような製品の特性の測定を行って、そ
の測定結果をフィードバックさせる処理については、製
造ライン上の測定装置に接続されたコンピュータ装置で
得られたデータを、その工場内の作業者が判断して、そ
の場ですぐに製造工程の途中などを修正できる場合に
は、修正を行い、製品の設計変更などが必要な場合に
は、設計部署に該当する事項を伝達する必要がある。

【０００６】一方、近年、製品の製造工場は、各地に分
散させる傾向にあり、複数の国で製品が製造されること
も多々ある。このような場合、１つの工場で製造された
製品の特性測定を行って、その工場内だけで、測定され
た特性に基づいて製造工程の修正を行うようにしていて
は、それぞれの工場で個別に同じ処理が行われることに
なり、効率が悪い問題があった。

【０００７】また、製造工場が１つの場合であっても、
その工場が、製品の設計を行う部署と遠く離れている場
合には、工場側の測定装置で得られたデータを、例えば
磁気ディスク等の記憶媒体に記憶させて、その記憶媒体
を設計部署に送る手間が必要であり、設計部署側で設計
変更などの対処がとれるまで、ある程度時間が必要であ
り、迅速な対処が困難であった。

【０００８】本発明は、かかる点に鑑み、製造ラインな
どで製品を測定した結果が、迅速かつ簡単に、各部署に
フィードバックできるようにすることを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は、複数の被測定
物の特性を測定し、その測定したそれぞれの特性の良否
を判定し、判定したそれぞれの良否のデータを蓄積し、
蓄積した特性及び良否のデータを、所定の伝送路を介し
て伝送し、伝送された特性及び良否のデータに基づい
て、複数の被測定物の特性又は良否に関する統計データ
又はヒストグラムを作成して、作成した統計データ又は
ヒストグラムを表示又は印刷させるようにしたものであ
る。

【００１０】本発明によると、被測定物の特性を測定し
た結果を、離れた任意の場所に送って、その特性や良否
の結果としての統計データ又はヒストグラムを見ること
が可能になる。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の一実施の形態を説明する。

【００１２】本例においては、電子機器に使用する部品
を製造する工場で、その製造された部品の特性を測定し
て、その測定結果を、工場とは離れた場所のセンタで、
集中管理するシステムに適用したものである。

【００１３】図１は、そのシステム全体の構成を示した
図である。工場１００には、電子部品を製造する複数の
製造ライン１０１，１０２，１０３，１０４が用意され
て、それぞれのライン１０１〜１０４で、製造された部
品が搬送されるようにしてある。それぞれの製造ライン
１０１〜１０４で組み立てられた部品が搬送される箇所
には、それぞれ測定装置１１１，１１２，１１３，１１
４が配置してある。各測定装置１１１〜１１４による測
定としては、例えば、各測定装置１１１〜１１４に取付
けられたケーブルのプラグ等を、ライン上の部品の回路
基板の所定箇所に接続し、測定装置から部品に基準とな
る信号を供給することで、その部品を作動させて、その
作動結果として出力させる信号の値を、測定装置１１１
〜１１４が取り込む。

【００１４】各測定装置１１１〜１１４には、測定用コ
ンピュータ装置１２１，１２２が接続させてあり、それ
ぞれの測定装置での測定が、このコンピュータ装置１２
１，１２２の制御で実行させるようにしてある。本例の
場合には、２台の測定装置を１台の測定用コンピュータ
装置が同時に制御するようにしてある。即ち、例えば、
測定装置１１１及び１１２での測定動作を、測定用コン
ピュータ装置１２１が制御し、測定装置１１３及び１１
４での測定動作を、測定用コンピュータ装置１２２が制
御する。

【００１５】それぞれの測定用コンピュータ装置１２
１，１２２には、製造ライン上の部品の特性を測定する
ために必要なプログラムが実装させてあり、どのような
項目の測定を行うのかのデータが、このプログラムによ
り設定される。測定の結果の良否の判定についても、実
装されたプログラムに基づいて、測定用コンピュータ装
置１２１，１２２が行う。

【００１６】また、本例の測定用コンピュータ装置１２
１，１２２は、測定を行った部品の形式番号，シリアル
番号及び製造年月日のデータについても収集して、各部
品の測定データに付加するようにしてある。この形式番
号，シリアル番号及び製造年月日のデータについては、
例えば測定を行う部品内にこれらのデータが保持されて
いる場合には、その保持されたデータを取り込むこと
で、収集できる。また、部品に張り付けられたラベル
（又は部品そのもの）に印刷されたバーコードや数字な
どを、読取り装置で読み取って、形式番号，シリアル番
号，製造年月日などのデータを、コンピュータ装置１２
１，１２２が取り込むようにしても良い。

【００１７】また、これらのデータの読取りができない
場合には、作業を行う者がコンピュータ装置１２１，１
２２に接続されたキーボードなどを使用して入力させて
も良い。なお、製造年月日については、この製造ライン
での測定装置が、部品が製造された直後に行われる場合
には、測定した日を、製造日としても良い。

【００１８】各測定用コンピュータ装置１２１，１２２
が測定したデータは、工場１００内に設置されたサーバ
１３０に送られる。サーバ１３０には、各コンピュータ
装置１２１，１２２から供給される測定データと測定デ
ータに付随するデータを記憶するデータベース１３０
が、ハードディスクなどの大容量記憶手段を使用して構
築させてある。また、サーバ１３０には、モニタ１３２
が接続させてあり、このモニタ１３２で、測定結果など
を表示させることもできる。

【００１９】本例のサーバ１３０には、ルータ１３３が
接続させてあり、このルータ１３３を介してインターネ
ット１による通信が行える。本例の場合には、このイン
ターネット１を介して、センタ２００側と随時通信を行
うようにしてある。

【００２０】センタ２００は、例えば工場１００で製造
される部品の設計を行う部署に設置されて、監視用コン
ピュータ装置２０１を備える。この監視用コンピュータ
装置２０１は、ルータ２０２を介してインターネット１
による通信が行える。この監視用コンピュータ装置２０
１には、部品の特性を測定したデータを解析するプログ
ラムが実装させてある。この解析処理としては、例え
ば、各測定項目毎の、測定値の平均値，標準偏差，中央
値などを算出する統計処理や、各測定項目毎の測定値の
ヒストグラムを表として作成する処理などがある。ま
た、監視用コンピュータ装置２０１には、モニタ２０
２，プリンタ２０３，キーボード２０４などの周辺機器
が接続してある。

【００２１】監視用コンピュータ装置２０１内には、例
えば、工場１００側のサーバ１３０が備えるデータベー
ス１３１と同様の大容量記憶手段を備えて、データベー
ス１３１に保持されたデータを、インターネット１を介
して随時転送させて、監視用コンピュータ装置２０１に
データベース１３１と同様のデータを保持させる。な
お、インターネット１を介して監視用コンピュータ装置
２０１が工場１００側と常時通信が可能な場合には、コ
ンピュータ装置２０１がデータベースを持たず、コンピ
ュータ装置２０１が工場１００側のサーバ１３０から必
要なデータを取り出すようにしても良い。

【００２２】本例の監視用コンピュータ装置２０１で
は、工場１００側の製造ライン１０１１０４で製造され
た部品の測定結果を処理できるようにしてある。この測
定結果の処理について説明すると、まず、工場１００側
の測定用コンピュータ装置１２１，１２２が測定したデ
ータの一例を、図２に示す。

【００２３】この図２の例では、各シリアル番号の部品
に対して、テスト番号１〜１９までの１９項目の特性の
測定を実行させて、その結果の値と、各測定項目毎の良
否の判定結果（ＯＫ又はＮＧ）と、測定日時と、最終的
な良否の判定結果（ＯＫ又はＮＧ）と、測定装置１１１
〜１１４を識別する番号と、形式名とを、データとして
集めてある。測定装置１１１〜１１４を識別する番号の
他に、測定用コンピュータ装置１２１，１２２を識別す
るデータを付加しても良い。

【００２４】テスト番号１〜１９の各測定項目毎の良否
の判定結果については、それぞれの測定項目毎に予め決
めた範囲内に測定値が入っているとき、良（ＯＫ）と判
定し、測定値が範囲外であるとき、不良（ＮＧ）と判定
する。最終的な良否の判定結果については、テスト番号
１〜１９までの１９項目の特性測定の中で、１つでも不
良（ＮＧ）があるとき、該当する部品を不良（ＮＧ）と
判定する。また、シリアル番号などの付随するデータの
取得に失敗した場合にも、最終的な良否の判定結果で、
不良と判断するようにしてある。

【００２５】このようにして得られた測定結果のデータ
は、工場１００側では、サーバ１３０内のデータベース
１３１に蓄積される。そして、センタ２００側では、監
視用コンピュータ装置２０１が、このデータベース１３
１に蓄積されたデータ（又はコンピュータ装置２０１に
転送されたデータ）を使用して、監視処理を行うように
してある。図３は、監視用コンピュータ装置２０１での
監視処理の一例を示したフローチャートである。

【００２６】図３のフローチャートに従って説明する
と、まず、監視用コンピュータ装置２０１の操作者（監
視者）は、監視を行うデータが格納されたファイルを、
データベースに保持されたデータの中から選択する（ス
テップＳ１１）。このファイル選択は、例えば、製造日
時の指定，製造ラインの指定などから、必要な測定デー
タが格納されたファイルを選択する。このファイル選択
が行われると、そのファイルのデータ表を出力させる操
作が行われたか否か判断する（ステップＳ１２）。ここ
で、データ出力を選択したときには、該当するデータ表
を出力させる（ステップＳ１３）。このときのデータ表
としては、例えば図２に示すようなデータを、そのまま
出力させる。データ表の出力としては、モニタ２０３に
一覧表を表示させ、また必要によりプリンタ２０４で紙
などにプリントアウトさせて、出力させる。

【００２７】さらに、選択されたファイルのデータのヒ
ストグラムを作成する操作が行われたか否か判断する
（ステップＳ１４）。ここで、ヒストグラムを作成させ
る操作が行われたときには、選択されたファイルの選択
された項目に関するヒストグラムを、監視用コンピュー
タ装置２０１での演算処理で作成して、そのヒストグラ
ムを、モニタ２０３に表示させ、また必要によりプリン
タ２０４で紙などにプリントアウトさせて、出力させる
（ステップＳ１５）。

【００２８】このヒストグラムは、測定された値を、複
数の区間に分けて、各区間に入るデータの度数を図にし
た度数分布表であり、横軸をそれぞれの区間、縦軸を度
数として示すものである。このヒストグラムを表示又は
印刷することで、製造された部品の精度などの分布が、
簡単に判るようになる。

【００２９】また、ヒストグラムとは別に（又は同時
に）、統計処理を行う指定がある場合には、指定した測
定値を、コンピュータ装置２０１内での演算で統計処理
して、出力させることもできる。この統計処理として
は、測定値の平均値、標準偏差、中央値、不良品の発生
率などを算出して、表示などを行う処理である。

【００３０】図４は、このような監視処理を行うための
操作画面を、モニタ２０３に表示させたときの例を示し
た図である。まず、図４Ａに示すような監視処理のスタ
ート画面を表示させる。このスタート画面では、「スタ
ート」，「エンド」の２つの表示箇所があり、「スター
ト」の表示箇所を選択する操作を行うことで、図４Ｂに
示したように、ファイル名の一覧が表示される。このフ
ァイル名の一覧表示は、データベースに蓄積された測定
データが格納されたファイル名の一覧が表示されるもの
である。

【００３１】そして、この図４Ｂに示すファイル名の一
覧表示の中から、内容を調べたいファイルを選択するこ
とで、その選択したファイルに関する詳細の表示画面
が、例えば図４Ｃに示すように表示される。この例で
は、測定装置毎のテスト項目（又は全てのテスト項目）
を選択する表示と、その選択された項目に関する統計デ
ータとヒストグラムの作成を指定する表示とがある。

【００３２】図５は、この図４Ｃに示す画面から、特定
のテスト項目に関する統計データとヒストグラムを表示
させた場合の例である。統計データとしては、平均値，
標準偏差，中央値などが表示されている。

【００３３】このようにして、監視用コンピュータ装置
２０１を使用して、工場１００での各製造ライン１０１
〜１０４で製造された部品の測定結果をセンタ２００側
で確認することで、その確認した監視者は、各ラインで
の製造状態を迅速に監視することができる。特に、測定
装置を特定する番号や、製造日時を特定するデータにつ
いても、測定データに付加するようにしたので、それぞ
れの製造ラインでの状態を、細かく遠隔監視できること
になり、工場などでの品質管理が良好に行えるようにな
る。

【００３４】この場合、例えばセンタ２００を、製造す
る部品の設計部署に設けることで、設計技術者が、製造
状況を直接的に監視できるので、部品の改良などに直ち
にフィードバックさせることができる。

【００３５】また、例えばヒストグラムや統計データか
ら、特定の製造ラインで製造された部品に、不良が多く
発生するようなことがあったとき、例えば、監視用コン
ピュータ装置２０１に接続されたキーボード２０５を使
用して、工場１００に対して改善を指示する文書を入力
させて、その指示文書を、インターネット１を経由し
て、工場１００側のサーバ１３０に電子メールなどで送
ることで、サーバ１３０に接続されたモニタ１３２など
でその指示を確認することができ、工場１００側で直接
ラインの監視をしてなくても、迅速に対処できるように
なる。なお、このような指示の伝送については、図１に
示したシステム（即ちコンピュータ装置２０１やサーバ
１３０など）を使用しないで、別のシステムや伝送路を
使用して送るようにしても良い。

【００３６】なお、ここまで説明した例では、１つの工
場１００での製造状況を、１つのセンタ２００で監視す
るようにしたが、例えば複数の工場での製造状況を、１
つのセンタ２００で同様に監視することも可能である。
この場合、例えば、工場毎の測定値の違いを比較するよ
うな処理を行うことで、工場毎の製造状況の違いなどを
細かく監視できるようになり、より良好な品質管理が行
えることになる。

【００３７】また、上述した実施の形態では、工場１０
０とセンタ２００との間でデータを伝送する手段とし
て、インターネットを使用したが、その他のデータ伝送
手段を使用しても良い。例えば、電話回線で工場１００
側のサーバ１３０と、センタ２００側の監視用コンピュ
ータ装置２０１とを直接接続させて、その直接接続され
た回線を使用して、データ伝送できるようにしても良
い。

【００３８】

【発明の効果】本発明によると、被測定物の特性を測定
した結果を、離れた任意の場所に送って、その特性や良
否の結果としての統計データ又はヒストグラムを見るこ
とが可能になる。従って、例えば複数の工場で測定した
結果を、特定のセンタで集中して管理したり、或いは、
設計部署の所在地とは離れた場所の工場で測定した結果
を、設計部署で管理することが可能になり、品質管理を
離れた場所で迅速かつ良好に行うことが可能になる。

【００３９】この場合、特性の測定は、複数の項目につ
いて測定を行い、その測定を行うそれぞれの項目の１つ
でも良否判定で不良と判定された被測定物については、
不良品であると扱うようにしたことで、不良品の判定を
良好に行うことができる。

【００４０】また、統計データ又はヒストグラムに基づ
いて、被測定物の製造又は調整に関する指示を、伝送路
を介して、被測定物の測定を行う側に伝送するようにし
たことで、測定した結果を製品などにフィードバックさ
せることも容易にできるようになる。

【００４１】また、伝送路を介して伝送するデータに
は、測定を行った装置を特定するデータを付加するよう
にしたことで、測定を行った特定の装置や特定の製造ラ
インに特有の不良発生なども良好に解析できるようにな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態によるシステム構成例を
示した説明図である。

【図２】本発明の一実施の形態による測定データの例を
示した説明図である。

【図３】本発明の一実施の形態によるセンタ側での処理
例を示したフローチャートである。

【図４】本発明の一実施の形態による操作画面の例を示
した説明図である。

【図５】本発明の一実施の形態による結果の表示例を示
した説明図である。

【符号の説明】

１…インターネット、１００…工場、１０１，１０２，
１０３，１０４…製造ライン、１１１，１１２，１１
３，１１４…測定装置、１２１，１２２…測定用コンピ
ュータ装置、１３０…サーバ、１３１…データベース、
１３２…モニタ、１３３…ルータ、２００…センタ、２
０１…監視用コンピュータ装置、２０２…ルータ、２０
３…モニタ、２０４…プリンタ、２０５…キーボード

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の被測定物の特性を測定し、上記測定したそれぞれの特性の良否を判定し、判定したそれぞれの良否のデータを蓄積し、上記蓄積した特性及び良否のデータを、所定の伝送路を
介して伝送し、上記伝送された特性及び良否のデータに基づいて、上記
複数の被測定物の特性又は良否に関する統計データ又は
ヒストグラムを作成して、作成した統計データ又はヒス
トグラムを表示又は印刷させる品質管理方法。
【請求項２】請求項１記載の品質管理方法において、上記特性の測定は、複数の項目について測定を行い、そ
の測定を行うそれぞれの項目の１つでも良否判定で不良
と判定された被測定物については、不良品であると扱う
品質管理方法。
【請求項３】請求項１記載の品質管理方法において、上記統計データ又はヒストグラムに基づいて、上記被測
定物の製造又は調整に関する指示を、上記伝送路を介し
て、上記被測定物の測定を行う側に伝送する品質管理方
法。
【請求項４】請求項１記載の品質管理方法において、伝送路を介して伝送するデータには、測定を行った装置
を特定するデータを付加するようにした品質管理方法。
【請求項５】複数の被測定物の特性を測定する測定手
段と、上記測定手段が測定したそれぞれの特性の良否を判定す
る判定手段と、上記判定手段が判定したそれぞれの良否のデータを蓄積
するデータ蓄積手段と、上記データ蓄積手段が蓄積した特性及び良否のデータ
を、センタからの指示で所定の伝送路を介してセンタに
伝送する通信手段を備えた製造設備と、上記製造設備側の蓄積手段が蓄積したデータの送信を指
示し、その指示により伝送された特性及び良否のデータ
に基づいて、上記複数の被測定物の特性又は良否に関す
る統計データ又はヒストグラムを作成する制御手段と、上記制御手段が作成した統計データ又はヒストグラムを
表示又は印刷させる提示手段とをセンタが備える品質管
理システム。
【請求項６】請求項５記載の品質管理システムにおい
て、上記測定手段での特性の測定は、複数の項目について測
定を行い、上記判定手段は、測定手段が測定を行うそれぞれの項目
の１つでも良否判定で不良と判定された被測定物につい
ては、不良品であると判断する品質管理システム。
【請求項７】請求項５記載の品質管理システムにおい
て、上記センタ側の制御手段は、作成した統計データ又はヒ
ストグラムに基づいて、上記被測定物の製造又は調整に
関する指示を上記製造設備側に送る品質管理システム。
【請求項８】請求項５記載の品質管理システムにおい
て、上記製造設備側の通信手段が伝送路を介して伝送するデ
ータには、上記測定手段を特定するデータを付加するよ
うにした品質管理システム。